JPH0223172B2 - - Google Patents
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- JPH0223172B2 JPH0223172B2 JP56114933A JP11493381A JPH0223172B2 JP H0223172 B2 JPH0223172 B2 JP H0223172B2 JP 56114933 A JP56114933 A JP 56114933A JP 11493381 A JP11493381 A JP 11493381A JP H0223172 B2 JPH0223172 B2 JP H0223172B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eye
- measurement target
- light
- measurement
- examined
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- Expired - Lifetime
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- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は眼の屈折力を他覚的に測定する眼屈折
力測定装置に関する。
力測定装置に関する。
従来の眼屈折力測定装置の例として、光軸を中
心に対称に配置された2光源からの光束により測
定ターゲツトを投影し、眼底上で2光束による測
定ターゲツト像が合致する位置まで測定ターゲツ
トを移動して、この移動量から眼屈折力を測定す
る方式の装置が知られている。上記装置におい
て、眼底上に投影した測定ターゲツトの合焦状態
を検出するために、眼底上に投影したターゲツト
像を検出光学系によつて結像させ、該結像面に光
軸を挾んで対称に2個の受光素子を配置する。上
記測定ターゲツトは、上記2個の受光素子の受光
量が一致する位置まで移動させられることにより
上記測定を行う。しかし、上記装定装置において
は、測定ターゲツト像を形成する2光束を含む平
面内での屈折力のみ測定されるから、光軸を含む
他の平面内の屈折力を測定するために、次の構造
が加えられる。第1の測定面回転構造としては、
上記2光源を光軸を中心に回転するように構成
し、該回転に連動して上記受光素子を同一角度回
転する構成である。この構造においては、可動部
が多く、複雑な構成で、精度も高くできない欠点
を有す。第2の測定面回転構造としては、上記測
定ターゲツト等を含む測定ターゲツト投影系と上
記受光素子等を含む検出光学系の共通光路内に像
回転反射部材(イメージローテータ)を配置す
る。該イメージローテータを回転させると、測定
ターゲツト投影系と検出光学系とを同時に同一方
向に同一角度回転したのと同じ効果を得ることが
できる。この構造においては、イメージローテー
タが大型とならざるを得ず、また測定ターゲツト
投影系と検出光学系とに該イメージローテータを
共通に挿入することは光路長、ゴースト等に関す
る設計上の困難を伴い、ひいては測定精度にも悪
影響を及ぼすものである。
心に対称に配置された2光源からの光束により測
定ターゲツトを投影し、眼底上で2光束による測
定ターゲツト像が合致する位置まで測定ターゲツ
トを移動して、この移動量から眼屈折力を測定す
る方式の装置が知られている。上記装置におい
て、眼底上に投影した測定ターゲツトの合焦状態
を検出するために、眼底上に投影したターゲツト
像を検出光学系によつて結像させ、該結像面に光
軸を挾んで対称に2個の受光素子を配置する。上
記測定ターゲツトは、上記2個の受光素子の受光
量が一致する位置まで移動させられることにより
上記測定を行う。しかし、上記装定装置において
は、測定ターゲツト像を形成する2光束を含む平
面内での屈折力のみ測定されるから、光軸を含む
他の平面内の屈折力を測定するために、次の構造
が加えられる。第1の測定面回転構造としては、
上記2光源を光軸を中心に回転するように構成
し、該回転に連動して上記受光素子を同一角度回
転する構成である。この構造においては、可動部
が多く、複雑な構成で、精度も高くできない欠点
を有す。第2の測定面回転構造としては、上記測
定ターゲツト等を含む測定ターゲツト投影系と上
記受光素子等を含む検出光学系の共通光路内に像
回転反射部材(イメージローテータ)を配置す
る。該イメージローテータを回転させると、測定
ターゲツト投影系と検出光学系とを同時に同一方
向に同一角度回転したのと同じ効果を得ることが
できる。この構造においては、イメージローテー
タが大型とならざるを得ず、また測定ターゲツト
投影系と検出光学系とに該イメージローテータを
共通に挿入することは光路長、ゴースト等に関す
る設計上の困難を伴い、ひいては測定精度にも悪
影響を及ぼすものである。
本発明は、上記従来の欠点を解消した眼屈折力
測定装置を提供することを目的とするものであつ
て、その構成上の特徴とするところは、測定ター
ゲツトからの一対の光束を選択的に被検眼眼底へ
投影するための測定ターゲツト投影光学系と、前
記一対の光束を光軸回りに回転させる手段と、眼
底に投影された測定ターゲツト像からの光束を結
像させる測定ターゲツト結像光学系と、被検眼眼
底と共役に前記結像光学系内に形成された検出面
における、測定ターゲツト像を形成する前記一対
の光束の中心の間隔を検出する検出装置と、前記
検出装置からの信号を前記一対の光束の中心を含
む経線方向での被検眼の屈折度に変換する演算部
を有することである。
測定装置を提供することを目的とするものであつ
て、その構成上の特徴とするところは、測定ター
ゲツトからの一対の光束を選択的に被検眼眼底へ
投影するための測定ターゲツト投影光学系と、前
記一対の光束を光軸回りに回転させる手段と、眼
底に投影された測定ターゲツト像からの光束を結
像させる測定ターゲツト結像光学系と、被検眼眼
底と共役に前記結像光学系内に形成された検出面
における、測定ターゲツト像を形成する前記一対
の光束の中心の間隔を検出する検出装置と、前記
検出装置からの信号を前記一対の光束の中心を含
む経線方向での被検眼の屈折度に変換する演算部
を有することである。
本発明は以上のように構成されるから、構造が
簡易で、測定ターゲツトを固定した状態で測定す
ることにより測定速度を高める効果を有する。
簡易で、測定ターゲツトを固定した状態で測定す
ることにより測定速度を高める効果を有する。
以下本発明の実施例を図に基いて説明する。最
初に、実施例の装置における測定手順を、第1図
に基いて説明する。電源スイツチをONにし、こ
れにより測定ターゲツト、固視標ターゲツトが所
定の位置に固定され、また測定ターゲツト投影用
光学系の光源も一定の回転位置に固定される。こ
の状態で予備測定が行われ、概略的な球面度数が
測定される。次に、予備測定の測定値に基いて、
測定ターゲツトは略被検眼眼底と共役な位置に移
動されて固定され、また固視標ターゲツトは測定
ターゲツトより遠方の位置に置かれ被検眼を雲霧
させる。この状態で本測定が行われる。本測定は
測定ターゲツト投影用光学系の光源を光軸中心に
回転させ少なくとも3径線方向で測定する。次
に、この測定値から球面度数、乱視度数、乱視軸
を算出し、これを表示して測定を終了する。
初に、実施例の装置における測定手順を、第1図
に基いて説明する。電源スイツチをONにし、こ
れにより測定ターゲツト、固視標ターゲツトが所
定の位置に固定され、また測定ターゲツト投影用
光学系の光源も一定の回転位置に固定される。こ
の状態で予備測定が行われ、概略的な球面度数が
測定される。次に、予備測定の測定値に基いて、
測定ターゲツトは略被検眼眼底と共役な位置に移
動されて固定され、また固視標ターゲツトは測定
ターゲツトより遠方の位置に置かれ被検眼を雲霧
させる。この状態で本測定が行われる。本測定は
測定ターゲツト投影用光学系の光源を光軸中心に
回転させ少なくとも3径線方向で測定する。次
に、この測定値から球面度数、乱視度数、乱視軸
を算出し、これを表示して測定を終了する。
次に、本発明の測定原理、詳しくは所定径線方
向における屈折力を算出する原理について説明す
る。第2図において、測定ターゲツトTより送光
用対物レンズ1を通つて被検眼Eの瞳の任意径線
方向θへ分離して投射され、被検眼眼底に到達し
た2光束の偏位置δ〓は、被検眼の水晶体の屈折異
常である屈折性異常であるか、水晶体から眼底ま
での距離の異常である眼軸性異常であるかによつ
て異なるが、上記2光束によつて生じる被検眼眼
底における偏位した2点を被検眼瞳孔中心より結
ぶ線のつくる角度β〓は、屈折性異常および眼軸性
異常のいずれの場合においても、 tanβ〓=X(D〓−DT) …(1) X:被検眼の瞳孔における2光束の間隔 D〓:被検眼の瞳孔における径線方向θの被検
眼屈折力 DT:測定ターゲツト位置のデイオプター換算
値 である。
向における屈折力を算出する原理について説明す
る。第2図において、測定ターゲツトTより送光
用対物レンズ1を通つて被検眼Eの瞳の任意径線
方向θへ分離して投射され、被検眼眼底に到達し
た2光束の偏位置δ〓は、被検眼の水晶体の屈折異
常である屈折性異常であるか、水晶体から眼底ま
での距離の異常である眼軸性異常であるかによつ
て異なるが、上記2光束によつて生じる被検眼眼
底における偏位した2点を被検眼瞳孔中心より結
ぶ線のつくる角度β〓は、屈折性異常および眼軸性
異常のいずれの場合においても、 tanβ〓=X(D〓−DT) …(1) X:被検眼の瞳孔における2光束の間隔 D〓:被検眼の瞳孔における径線方向θの被検
眼屈折力 DT:測定ターゲツト位置のデイオプター換算
値 である。
従つて、第3図に示す光学系において、受光用
対物レンズ2による被検眼Eの瞳孔Pと共役とな
る位置に絞りSを配置し、リレーレンズ3の前側
焦点位置に絞りSを配置すると、被検眼眼底上の
偏位した2点O1,O2からの反射光は、被検眼瞳
孔中心Pを主光線が通過する光束として取出すこ
とができ、この光束のつくる射出角度が被検眼瞳
孔中心Pと眼底のO1,O2とを結ぶ線のなす角度
βに相当する。ここで、被検眼Pに対する絞りS
の結像倍率をm、リレーレンズ3の焦点距離をf3
とするとき、被検眼眼底のO1およびO2からの反
射光はリレーレンズ3のつくる光軸外の像として
結像し、光軸からの像高△は、 △=f3tanmβ …(2) となる。なお、この像高△はリレーレンズ3に
関し絞りSがテレセン絞りの関係となるので、リ
レーレンズ3の結像位置の前後においても像高△
は変らない。式(2)はβが小さくまたはm=1であ
る時、 △=mf3tanβ …(3) とおくことができ、式(1),(3)より、 △=mf3×(D〓−DT) …(4) となり、リレーレンズ3の像高△を計測すれ
ば、径線方向θでの被検眼屈折力D〓を算出する
ことができる。
対物レンズ2による被検眼Eの瞳孔Pと共役とな
る位置に絞りSを配置し、リレーレンズ3の前側
焦点位置に絞りSを配置すると、被検眼眼底上の
偏位した2点O1,O2からの反射光は、被検眼瞳
孔中心Pを主光線が通過する光束として取出すこ
とができ、この光束のつくる射出角度が被検眼瞳
孔中心Pと眼底のO1,O2とを結ぶ線のなす角度
βに相当する。ここで、被検眼Pに対する絞りS
の結像倍率をm、リレーレンズ3の焦点距離をf3
とするとき、被検眼眼底のO1およびO2からの反
射光はリレーレンズ3のつくる光軸外の像として
結像し、光軸からの像高△は、 △=f3tanmβ …(2) となる。なお、この像高△はリレーレンズ3に
関し絞りSがテレセン絞りの関係となるので、リ
レーレンズ3の結像位置の前後においても像高△
は変らない。式(2)はβが小さくまたはm=1であ
る時、 △=mf3tanβ …(3) とおくことができ、式(1),(3)より、 △=mf3×(D〓−DT) …(4) となり、リレーレンズ3の像高△を計測すれ
ば、径線方向θでの被検眼屈折力D〓を算出する
ことができる。
上記原理に基く本装置は、第4図に示すよう
に、測定ターゲツトを被検眼眼底に投影するター
ゲツト投影光学系50、被検眼眼底の測定ターゲ
ツト像を測定光学系51に投影するターゲツト受
光光学系52、測定ターゲツト像から屈折力を検
出する測定光学系51、被検眼の視準線を固定す
る固視目標系53及び被検眼と本装置との位置関
係を示す照準光学系54から構成され、以下各光
学系について詳説する。
に、測定ターゲツトを被検眼眼底に投影するター
ゲツト投影光学系50、被検眼眼底の測定ターゲ
ツト像を測定光学系51に投影するターゲツト受
光光学系52、測定ターゲツト像から屈折力を検
出する測定光学系51、被検眼の視準線を固定す
る固視目標系53及び被検眼と本装置との位置関
係を示す照準光学系54から構成され、以下各光
学系について詳説する。
ターゲツト投影用光学系50は、第4図に示す
ように、光軸を中心に配置された一対の赤外線光
源1a,1b、赤外線光源1a,1bからの光を
それぞれ集光する集光レンズ2a,2b、平行光
を作るコリメータレンズ3、円形開口絞り4を有
する測定ターゲツト5、結像レンズ6、投影用結
像レンズ7、赤外光に関するハーフミラー8及び
長波長部の赤外光を反射し可視部とこれに近接し
た赤外光を透過する特性を有するダイクロイツク
ミラー9とから構成される。上記一対の赤外線光
源1a,1bは高速度で交互に点灯し、また該両
源1a,1bは一体となつて光軸を中心に回転可
能に構成され、かつ測定ターゲツト5は光軸方向
へ移動可能に構成される。
ように、光軸を中心に配置された一対の赤外線光
源1a,1b、赤外線光源1a,1bからの光を
それぞれ集光する集光レンズ2a,2b、平行光
を作るコリメータレンズ3、円形開口絞り4を有
する測定ターゲツト5、結像レンズ6、投影用結
像レンズ7、赤外光に関するハーフミラー8及び
長波長部の赤外光を反射し可視部とこれに近接し
た赤外光を透過する特性を有するダイクロイツク
ミラー9とから構成される。上記一対の赤外線光
源1a,1bは高速度で交互に点灯し、また該両
源1a,1bは一体となつて光軸を中心に回転可
能に構成され、かつ測定ターゲツト5は光軸方向
へ移動可能に構成される。
上記構成において、一対の赤外線光源1a・1
bからの光は、それぞれ集光レンズ2a,2bに
よつて集光され、さらにコリメータレンズ3によ
り平行光にされて円形開口絞り4に斜に入射す
る。円形開口絞り4を通過した光は、結像レンズ
6により点P1の位置に結像した後、投影用結像
レンズ7、ハーフミラー8及びダイクロイツクミ
ラー9を介して被検眼Eに入射する。ここで、赤
外線光源1a,1bの像は被検眼Eの瞳孔位置に
結像し、また測定ターゲツト5の円形開口絞り4
の像は被検眼の眼底P2に結像する。そして、測
定ターゲツト5と被検眼Eの眼底P2とが共役な
位置関係にあるときには、赤外線光源1aからの
光によつて照明された円形開口絞り4の像と、赤
外線光源1bからの光によつて照明された円形開
口絞り4の像とが、眼底P2の同一位置に結像さ
れる。他方、測定ターゲツト5と被検眼Eの眼底
P2とが共役な位置関係にないときには、上記各
赤外線光源からの光によつて照明された円形開口
絞り4の像が眼底P2の分離した2ケ所にそれぞ
れ結像する。本発明においては、光軸上に固定さ
れた測定ターゲツト5の円形開口絞り4の眼底
P2における像が、赤外線光源11a及び1bの
交互点灯によつて合致するか分離するかを弁別
し、分離している時にはその分離距離を測定し、
その測定置及びその時の測定ターゲツトの位置か
ら被検眼の屈折力を算出する。
bからの光は、それぞれ集光レンズ2a,2bに
よつて集光され、さらにコリメータレンズ3によ
り平行光にされて円形開口絞り4に斜に入射す
る。円形開口絞り4を通過した光は、結像レンズ
6により点P1の位置に結像した後、投影用結像
レンズ7、ハーフミラー8及びダイクロイツクミ
ラー9を介して被検眼Eに入射する。ここで、赤
外線光源1a,1bの像は被検眼Eの瞳孔位置に
結像し、また測定ターゲツト5の円形開口絞り4
の像は被検眼の眼底P2に結像する。そして、測
定ターゲツト5と被検眼Eの眼底P2とが共役な
位置関係にあるときには、赤外線光源1aからの
光によつて照明された円形開口絞り4の像と、赤
外線光源1bからの光によつて照明された円形開
口絞り4の像とが、眼底P2の同一位置に結像さ
れる。他方、測定ターゲツト5と被検眼Eの眼底
P2とが共役な位置関係にないときには、上記各
赤外線光源からの光によつて照明された円形開口
絞り4の像が眼底P2の分離した2ケ所にそれぞ
れ結像する。本発明においては、光軸上に固定さ
れた測定ターゲツト5の円形開口絞り4の眼底
P2における像が、赤外線光源11a及び1bの
交互点灯によつて合致するか分離するかを弁別
し、分離している時にはその分離距離を測定し、
その測定置及びその時の測定ターゲツトの位置か
ら被検眼の屈折力を算出する。
ターゲツト受光光学系52は、第4図に示すよ
うに、ダイクロイツクミラー9、ハーフミラー
8、受光用対物レンズ10、ミラー11、受光用
対物レンズ10に関し被検眼角膜と共役な位置に
配置された角膜反射光遮断絞り12及びリレーレ
ンズ13によつて構成される。上記角膜反射光遮
断絞り12は、第5図に示すように、ほぼ円孔で
あつて光軸通過位置に関し対称な2個所に突出遮
光部12a,12bを有する絞り板である。ま
た、上記角膜反射光遮断絞り12は、赤外線光源
1a,1bが光軸回りに回転するとき、この回転
運動に連動して回転するように構成されている。
さらに、上記角膜反射光遮断絞り12は、リレー
レンズ13の前側焦点位置に配置されて、リレー
レンズ13による投影光学系はテレセン光学系に
構成する。リレーレンズ13は、測定ターゲツト
に連動して光軸方向に移動可能に構成する。
うに、ダイクロイツクミラー9、ハーフミラー
8、受光用対物レンズ10、ミラー11、受光用
対物レンズ10に関し被検眼角膜と共役な位置に
配置された角膜反射光遮断絞り12及びリレーレ
ンズ13によつて構成される。上記角膜反射光遮
断絞り12は、第5図に示すように、ほぼ円孔で
あつて光軸通過位置に関し対称な2個所に突出遮
光部12a,12bを有する絞り板である。ま
た、上記角膜反射光遮断絞り12は、赤外線光源
1a,1bが光軸回りに回転するとき、この回転
運動に連動して回転するように構成されている。
さらに、上記角膜反射光遮断絞り12は、リレー
レンズ13の前側焦点位置に配置されて、リレー
レンズ13による投影光学系はテレセン光学系に
構成する。リレーレンズ13は、測定ターゲツト
に連動して光軸方向に移動可能に構成する。
以上の構成において、被検眼眼底P2の測定タ
ーゲツト像は、ダイクロイツクミラー9、ハーフ
ミラー8、受光用対物レンズ10、ミラー11、
リレーレンズ13によつて、後に詳説する測定光
学系51内に投影される。この時、被検眼角膜か
らの有害反射光は、反射光遮断絞り12の突出遮
光部12a,12bによつて除去される。また、
角膜反射光遮断絞り12とリレーレンズ13とは
テレセン光学系を構成しているから、測定光学系
51に結像される測定ターゲツト像は、光軸に平
行な主光線からなる光束によつて構成され、結像
位置の前後においても測定ターゲツト像である円
孔像の中心位置が変位しない性質を有する。
ーゲツト像は、ダイクロイツクミラー9、ハーフ
ミラー8、受光用対物レンズ10、ミラー11、
リレーレンズ13によつて、後に詳説する測定光
学系51内に投影される。この時、被検眼角膜か
らの有害反射光は、反射光遮断絞り12の突出遮
光部12a,12bによつて除去される。また、
角膜反射光遮断絞り12とリレーレンズ13とは
テレセン光学系を構成しているから、測定光学系
51に結像される測定ターゲツト像は、光軸に平
行な主光線からなる光束によつて構成され、結像
位置の前後においても測定ターゲツト像である円
孔像の中心位置が変位しない性質を有する。
測定光学系51は、第6図に示すごとくハーフ
ミラー15、ミラー16、リレーレンズ17、ミ
ラー18、チユツパー19、集光レンズ20及び
受光素子21からなるX方向検出系56と、ハー
フミラー15、ミラー22、リレーレンズ23、
チヨツパー19、集光レンズ24及び受光素子2
5からなるY方向検出系57と、発光素子26、
集光レンズ27,28、受光素子29からなる基
準信号発生系58とから構成される。チヨツパー
19は円周方向に連続したスリツト群を有し、光
軸を中心に回転する。
ミラー15、ミラー16、リレーレンズ17、ミ
ラー18、チユツパー19、集光レンズ20及び
受光素子21からなるX方向検出系56と、ハー
フミラー15、ミラー22、リレーレンズ23、
チヨツパー19、集光レンズ24及び受光素子2
5からなるY方向検出系57と、発光素子26、
集光レンズ27,28、受光素子29からなる基
準信号発生系58とから構成される。チヨツパー
19は円周方向に連続したスリツト群を有し、光
軸を中心に回転する。
以上の構成において、上記ターゲツト受光光学
系52及びX方向検出系56とによつて、被検眼
眼底P2の測定ターゲツト像がチヨツパー19の
上部19aの近傍に投影される。同時に、上記タ
ーゲツト受光光学系52及びY方向検出系57と
によつて、被検眼眼底P2の測定ターゲツト像が
チヨツパー19の側部19bの近傍に投影され
る。ここで、測定ターゲツト5と被検眼眼底P2
とが共役関係にない場合、第7図に示すごとく赤
外線光源1a,1bからの光によつて形成される
円形絞り像30a,30b,30a′,30b′は、
X方向に△X,Y方向に△yだけ分離してスリツ
ト群上に投影される。
系52及びX方向検出系56とによつて、被検眼
眼底P2の測定ターゲツト像がチヨツパー19の
上部19aの近傍に投影される。同時に、上記タ
ーゲツト受光光学系52及びY方向検出系57と
によつて、被検眼眼底P2の測定ターゲツト像が
チヨツパー19の側部19bの近傍に投影され
る。ここで、測定ターゲツト5と被検眼眼底P2
とが共役関係にない場合、第7図に示すごとく赤
外線光源1a,1bからの光によつて形成される
円形絞り像30a,30b,30a′,30b′は、
X方向に△X,Y方向に△yだけ分離してスリツ
ト群上に投影される。
以上の構成において、赤外線光源1aを点灯
し、その光による円形絞り像30aをチヨツパー
19によつて走査したときの受光素子21からの
信号と、赤外線光源1bを点灯し、その光による
円形絞り像30bをチヨツパー19によつて走査
したときの受光素子21からの信号との位相差か
ら△Xを算出する。同様に、円形絞り像30a′と
30b′とをチヨツパー19によつて走査したとき
の受光素子25からの信号の位相差から△yを算
出する。ここで、上記測定ターゲツト5と被検眼
眼底P2との共役関係、被検眼Eの乱視度及びチ
ヨツパー19上における円形絞り像30a,30
bの関係を説明する。光源1a,1bは垂直方向
からθだけ回転した位置に並んで配置されている
ものとする。すなわち測定径線方向は垂直方向か
らθだけ回転した方向であるとする。
し、その光による円形絞り像30aをチヨツパー
19によつて走査したときの受光素子21からの
信号と、赤外線光源1bを点灯し、その光による
円形絞り像30bをチヨツパー19によつて走査
したときの受光素子21からの信号との位相差か
ら△Xを算出する。同様に、円形絞り像30a′と
30b′とをチヨツパー19によつて走査したとき
の受光素子25からの信号の位相差から△yを算
出する。ここで、上記測定ターゲツト5と被検眼
眼底P2との共役関係、被検眼Eの乱視度及びチ
ヨツパー19上における円形絞り像30a,30
bの関係を説明する。光源1a,1bは垂直方向
からθだけ回転した位置に並んで配置されている
ものとする。すなわち測定径線方向は垂直方向か
らθだけ回転した方向であるとする。
(1) 上記測定ターゲツト5と被検眼眼底P2とが
共役関係にあり、被検眼Eが乱視を含まない場
合、第8図Aに示すように、チヨツパー19上
において円形絞り像30a,30bが光軸通過
位置に重なつて投影される。すなわち、△x=
△y=0である。
共役関係にあり、被検眼Eが乱視を含まない場
合、第8図Aに示すように、チヨツパー19上
において円形絞り像30a,30bが光軸通過
位置に重なつて投影される。すなわち、△x=
△y=0である。
(2) 上記測定ターゲツト5と被検眼眼底P2とが
共役関係になく、被検眼Eが乱視を含まない場
合あるいは乱視を含む場合で被検眼Eの主径線
と光源1a,1bによる測定径線方向が一致す
る場合には、第8図Bに示すように、チヨツパ
ー19上において円形絞り像30a,30bは
測定径線方向に分離して投影される。
共役関係になく、被検眼Eが乱視を含まない場
合あるいは乱視を含む場合で被検眼Eの主径線
と光源1a,1bによる測定径線方向が一致す
る場合には、第8図Bに示すように、チヨツパ
ー19上において円形絞り像30a,30bは
測定径線方向に分離して投影される。
(3) 上記測定ターゲツト5と被検眼眼底P2とが
共役関係になく、被検眼Eが乱視を含み、かつ
被検眼Eの主径線と光源1a,1bからなる測
定径線方向が異なる場合には、第8図Cに示す
ように、チヨツパー19上において円形絞り像
30a,30bが測定径線方向及びそれに直角
な方向に分離して投影される。
共役関係になく、被検眼Eが乱視を含み、かつ
被検眼Eの主径線と光源1a,1bからなる測
定径線方向が異なる場合には、第8図Cに示す
ように、チヨツパー19上において円形絞り像
30a,30bが測定径線方向及びそれに直角
な方向に分離して投影される。
本実施例においては、第8図に示すように水平
方向、垂直方向の分離量△x,△yを検出し、こ
の検出結果より測定径線方向の分離量に変換し、
測定径線方向の眼屈折力を検出するものである。
方向、垂直方向の分離量△x,△yを検出し、こ
の検出結果より測定径線方向の分離量に変換し、
測定径線方向の眼屈折力を検出するものである。
前述の変換をすることにより、光源1a,1b
だけを回転するだけで、各測定径線方向での眼屈
折力を求めることができる。
だけを回転するだけで、各測定径線方向での眼屈
折力を求めることができる。
固視目標系53は、第4図に示すように、可視
光光源31、集光レンズ32、光軸方向に移動可
能な固視ターゲツト33、ミラー34、投影レン
ズ35、可視光を反射し赤外光を透過するダイク
ロイツクミラー36により構成される。
光光源31、集光レンズ32、光軸方向に移動可
能な固視ターゲツト33、ミラー34、投影レン
ズ35、可視光を反射し赤外光を透過するダイク
ロイツクミラー36により構成される。
以上の構成において、可視光光源31からの光
は、集光レンズ32を介して固視ターゲツト33
を照明する。固視ターゲツト33からの光は、ミ
ラー34、投影レンズ35、ダイクロイツクミラ
ー36を介し、さらに前記ダイクロイツクミラー
9を通過して被検眼Eに投影される。被検者は、
固視ターゲツト33を注視することにより視準方
向を固定する。また、被検眼は常に遠方視の状態
であることを要し、固視ターゲツト33は光軸方
向に移動可能とし視検眼が遠方視となる位置に調
節される。
は、集光レンズ32を介して固視ターゲツト33
を照明する。固視ターゲツト33からの光は、ミ
ラー34、投影レンズ35、ダイクロイツクミラ
ー36を介し、さらに前記ダイクロイツクミラー
9を通過して被検眼Eに投影される。被検者は、
固視ターゲツト33を注視することにより視準方
向を固定する。また、被検眼は常に遠方視の状態
であることを要し、固視ターゲツト33は光軸方
向に移動可能とし視検眼が遠方視となる位置に調
節される。
照準光学系54は、ハーフミラー9、ダイクロ
イツクミラー36、投影レンズ36′、ハーフミ
ラー37及び撮像管38を同一光軸上に配置し、
またハーフミラー37の反射光軸上に光源40、
集光レンズ41、視準板42、ミラー44及び投
影レンズ45を配置して構成される。撮像管38
はモニターテレビ39に連結されている。視準板
42は、第9図に示すように、中央に円、その周
辺に放射線をもつた視準スケール43を有する。
イツクミラー36、投影レンズ36′、ハーフミ
ラー37及び撮像管38を同一光軸上に配置し、
またハーフミラー37の反射光軸上に光源40、
集光レンズ41、視準板42、ミラー44及び投
影レンズ45を配置して構成される。撮像管38
はモニターテレビ39に連結されている。視準板
42は、第9図に示すように、中央に円、その周
辺に放射線をもつた視準スケール43を有する。
上記のように構成された照準光学系において、
撮像管38には、投影レンズ36′による被検眼
Eの前眼部像と、投影レンズ45による視準スケ
ール43の像が重ねて投影される。検者はモニタ
ーテレビ39に見て、被検眼の瞳孔像の中心と視
準スケール43の像とが一致して被検眼の光軸と
ターゲツト投影用光学系50、ターゲツト受光光
学系52の光軸とが一致するように、被検眼に対
し本装置を上下左右に移動させる。
撮像管38には、投影レンズ36′による被検眼
Eの前眼部像と、投影レンズ45による視準スケ
ール43の像が重ねて投影される。検者はモニタ
ーテレビ39に見て、被検眼の瞳孔像の中心と視
準スケール43の像とが一致して被検眼の光軸と
ターゲツト投影用光学系50、ターゲツト受光光
学系52の光軸とが一致するように、被検眼に対
し本装置を上下左右に移動させる。
次に、本装置の電気回路の構成を第10図のブ
ロツク図に基いて説明する。制御回路101は、
電源スイツチ102、測定スイイツチ103、チ
ヨツパー駆動回路104、光源駆動回路105、
測定ターゲツト駆動回路106、固視ターゲツト
駆動回路107、測定ターゲツト光源回転駆動回
路108、測定検出部109及び演算処理部11
0に連結され、所定プログラムによりこれらを制
御する。
ロツク図に基いて説明する。制御回路101は、
電源スイツチ102、測定スイイツチ103、チ
ヨツパー駆動回路104、光源駆動回路105、
測定ターゲツト駆動回路106、固視ターゲツト
駆動回路107、測定ターゲツト光源回転駆動回
路108、測定検出部109及び演算処理部11
0に連結され、所定プログラムによりこれらを制
御する。
チヨツパー駆動回路104はチヨツパー19を
回転するモーター112に連結され、これを駆動
する。光源駆動回路105は基準信号用発光素子
26及び測定ターゲツト光源1a,1bに連結さ
れ、これを点灯する。測定ターゲツト駆動回路1
06は測定ターゲツト5を光軸上で移動させるモ
ーター114に連結され、これを駆動する。固視
ターゲツト駆動回路107は固視ターゲツトを光
軸上で移動させるモーター116に連結され、こ
れを駆動する。測定ターゲツト光源回転駆動回路
108は測定ターゲツト5を光軸中心に回転駆動
するモーター118に連結され、これを回転駆動
する。受光素子29は基準信号用発光素子26で
発光されチヨツパー19を通過した光を受光し、
基準信号を増幅回路120に入力する。増幅回路
120は波形整形回路122に、波形整形回路1
22は第1位相差検出回路124及び第2位相差
検出回路126に連結されている。測定ターゲツ
ト光源1a,1bで発光されチヨツパー19の上
部19aを通過した光を受光する受光素子21
は、増幅回路127に連結され、さらに、増幅回
路127はAGC回路128に、AGC回路128
は波形整形回路130に、波形整形回路130は
第1位相差検出回路124に連結されている。同
様に、測定ターゲツト光源1a,1bで発光され
チヨツパー19の側部19bを通過した光を受光
する受光素子25は、増幅回路132に連結さ
れ、さらに、増幅回路132はAGC回路134
に、AGC回路134は波形整形回路136に、
波形整形回路136は第2位相差検出回路126
に連結されている。第1位相差検出回路124は
波形整形回路122の出力する基準矩形波と波形
整形回路130の出力する矩形波との位相差を検
出し、位相差信号Xaとして出力する。同様に、
第2位相差検出回路126は波形整形回路122
の出力する基準矩形波と波形整形回路136の出
力する矩形波との位相差を検出し、位相差信号
Yaとして出力する。第1位相差検出回路124
と第2位相差検出回路126とは比較回路138
に連結され、さらに、比較回路138は演算処理
部110に連結されている。
回転するモーター112に連結され、これを駆動
する。光源駆動回路105は基準信号用発光素子
26及び測定ターゲツト光源1a,1bに連結さ
れ、これを点灯する。測定ターゲツト駆動回路1
06は測定ターゲツト5を光軸上で移動させるモ
ーター114に連結され、これを駆動する。固視
ターゲツト駆動回路107は固視ターゲツトを光
軸上で移動させるモーター116に連結され、こ
れを駆動する。測定ターゲツト光源回転駆動回路
108は測定ターゲツト5を光軸中心に回転駆動
するモーター118に連結され、これを回転駆動
する。受光素子29は基準信号用発光素子26で
発光されチヨツパー19を通過した光を受光し、
基準信号を増幅回路120に入力する。増幅回路
120は波形整形回路122に、波形整形回路1
22は第1位相差検出回路124及び第2位相差
検出回路126に連結されている。測定ターゲツ
ト光源1a,1bで発光されチヨツパー19の上
部19aを通過した光を受光する受光素子21
は、増幅回路127に連結され、さらに、増幅回
路127はAGC回路128に、AGC回路128
は波形整形回路130に、波形整形回路130は
第1位相差検出回路124に連結されている。同
様に、測定ターゲツト光源1a,1bで発光され
チヨツパー19の側部19bを通過した光を受光
する受光素子25は、増幅回路132に連結さ
れ、さらに、増幅回路132はAGC回路134
に、AGC回路134は波形整形回路136に、
波形整形回路136は第2位相差検出回路126
に連結されている。第1位相差検出回路124は
波形整形回路122の出力する基準矩形波と波形
整形回路130の出力する矩形波との位相差を検
出し、位相差信号Xaとして出力する。同様に、
第2位相差検出回路126は波形整形回路122
の出力する基準矩形波と波形整形回路136の出
力する矩形波との位相差を検出し、位相差信号
Yaとして出力する。第1位相差検出回路124
と第2位相差検出回路126とは比較回路138
に連結され、さらに、比較回路138は演算処理
部110に連結されている。
上記比較回路138は、発光素子1a及び1b
を点灯したときに第1位相差検出回路124が出
力する位相差信号XaとXbとの位相差△Xと、同
じく発光素子1a及び1bを点灯したときに第2
位相差検出回路126が出力する位相差信号Ya
とYbとの位相差△Yとを演算する。
を点灯したときに第1位相差検出回路124が出
力する位相差信号XaとXbとの位相差△Xと、同
じく発光素子1a及び1bを点灯したときに第2
位相差検出回路126が出力する位相差信号Ya
とYbとの位相差△Yとを演算する。
この位相差△X,△Yが第8図における、円形
絞り像30a,30bのX方向及びY方向での分
離量△x,△yに対応する。演算処理部110
は、下記の式(5)を使用して、ターゲツト光源駆動
回路からの信号である測定ターゲツト光源の回転
位置角度θiと上記位相差△xi,△yiとから測定経
線方向の分離量に対応する位相差△P〓iを以下の
(5)式に従い算出する。
絞り像30a,30bのX方向及びY方向での分
離量△x,△yに対応する。演算処理部110
は、下記の式(5)を使用して、ターゲツト光源駆動
回路からの信号である測定ターゲツト光源の回転
位置角度θiと上記位相差△xi,△yiとから測定経
線方向の分離量に対応する位相差△P〓iを以下の
(5)式に従い算出する。
△P〓i=△Xicps〓i+△YiS〓 (5)
この位相差△P〓iは、測定経線方向での円孔絞
り像の分離量△に変換され、この分離量△から屈
折力を算出する原理で前述した(4)式に従い測定経
線方向θでの被検眼屈折力D〓を算出する。本測
定の場合には、少なくとも3経線方向でのD〓
(D〓i,D〓2,D〓3)を算出する。このD〓i,D〓2,D
〓3
は球面度数をA、乱視度数をB、乱視軸をαとす
ると、以下の(6)式で表わされる。
り像の分離量△に変換され、この分離量△から屈
折力を算出する原理で前述した(4)式に従い測定経
線方向θでの被検眼屈折力D〓を算出する。本測
定の場合には、少なくとも3経線方向でのD〓
(D〓i,D〓2,D〓3)を算出する。このD〓i,D〓2,D
〓3
は球面度数をA、乱視度数をB、乱視軸をαとす
ると、以下の(6)式で表わされる。
D〓1=A+Bcos2(θ1−α)
D〓2=A+Bcos2(θ2−α)
D〓3=A+Bcos2(θ3−α) (6)
この結果より、球面度数A、乱視度数B、乱視
軸αを求め表示器142に出力する。
軸αを求め表示器142に出力する。
上述の方法では、測定経線方向の分離量に対応
する位相差△P〓iのみから球面度数A、乱視度数
B、乱視軸αを算出しているが、乱視度数B、乱
視軸αに関しては、以下の算出方法が有効であ
る。すなわち、位相差△Xi,△Yiから(5)式に従
い測定経線方向の分離量に対応する位相差△P〓i
を算出するとは別に、以下の(7)式に従い、測定経
線方向とは直角な方向の分離量に対応する位相差
△P⊥iを算出する。
する位相差△P〓iのみから球面度数A、乱視度数
B、乱視軸αを算出しているが、乱視度数B、乱
視軸αに関しては、以下の算出方法が有効であ
る。すなわち、位相差△Xi,△Yiから(5)式に従
い測定経線方向の分離量に対応する位相差△P〓i
を算出するとは別に、以下の(7)式に従い、測定経
線方向とは直角な方向の分離量に対応する位相差
△P⊥iを算出する。
△P⊥i=−△Xisθi+△Yicosαi (7)
この結果算出された△P⊥iは(6)式と同様に下記
の(8)式で表わされる。
の(8)式で表わされる。
△P⊥1=Bcos2(α1−α)
△P⊥2=Bcos2(α2−α)
△P⊥3=Bcos2(θ3−α) (8)
すなわち、この算出で求めた△P⊥iは球面度数
Aには影響を受けない。このことは、測定期間中
の被検眼の調節、すなわち球面度数Aの変動に影
響されないことを意味するものである。(8)式から
乱視度B、乱視軸αを求めると、測定期間中の被
検者の測定に影響されずに高精度な乱視度数B及
び乱視軸αの検出結果を得ることが可能である。
なお、この場合においても、球面度数Aを算出す
るには、(5),(6)式を用いる点に関しては同様であ
る。
Aには影響を受けない。このことは、測定期間中
の被検眼の調節、すなわち球面度数Aの変動に影
響されないことを意味するものである。(8)式から
乱視度B、乱視軸αを求めると、測定期間中の被
検者の測定に影響されずに高精度な乱視度数B及
び乱視軸αの検出結果を得ることが可能である。
なお、この場合においても、球面度数Aを算出す
るには、(5),(6)式を用いる点に関しては同様であ
る。
上記のように構成された電気回路の作動は以下
の通りである。電源スイツチ102がONにさ
れ、照準光学系54を使用して被検者の光軸とタ
ーゲツト投影用光学系50、ターゲツト受光光学
系52の光軸とが一致させられる。また制御回路
101により、チヨツパー19が回転し、基準発
光素子26が点灯し、またターゲツト投影用光学
系の光源1a,1bが交互に点灯する。これらの
回転と点灯は測定が終了するまで継続される。さ
らに制御回路101の制御により、測定ターゲツ
ト駆動回路106がモーター114を駆動して測
定ターゲツト5を所定位置例えば+6デイオプタ
ーの位置に移動し、また固視ターゲツト駆動回路
107がモーター116を駆動して固視ターゲツ
ト23を所定位置例えば+20デイオプターの位置
に移動し、さらに測定ターゲツト光源回転駆動回
路108がモーター118を駆動して測定ターゲ
ツト5の光源1a,1bの並び方向を鉛直(回転
軸θ=0゜)の位置に回転移動する。以上で予備測
定の準備が終了した。
の通りである。電源スイツチ102がONにさ
れ、照準光学系54を使用して被検者の光軸とタ
ーゲツト投影用光学系50、ターゲツト受光光学
系52の光軸とが一致させられる。また制御回路
101により、チヨツパー19が回転し、基準発
光素子26が点灯し、またターゲツト投影用光学
系の光源1a,1bが交互に点灯する。これらの
回転と点灯は測定が終了するまで継続される。さ
らに制御回路101の制御により、測定ターゲツ
ト駆動回路106がモーター114を駆動して測
定ターゲツト5を所定位置例えば+6デイオプタ
ーの位置に移動し、また固視ターゲツト駆動回路
107がモーター116を駆動して固視ターゲツ
ト23を所定位置例えば+20デイオプターの位置
に移動し、さらに測定ターゲツト光源回転駆動回
路108がモーター118を駆動して測定ターゲ
ツト5の光源1a,1bの並び方向を鉛直(回転
軸θ=0゜)の位置に回転移動する。以上で予備測
定の準備が終了した。
次に制御回路101の制御により、受光素子2
1,25,29がそれぞれの信号光を受光して、
前述の回路構成に従い、演算処理部110は該子
午面(θ=0゜)における円孔絞り像の分離量に相
当する位相差△P〓0を算出する。この△P〓0は円孔
開口像の分離量に変換され、その時の測定ターゲ
ツト5の位置により該子午面(θ=0゜)における
被検眼の屈折力を算出する。この算出結果は、測
定ターゲツト5の移動量に変換され制御回路10
1に入力される。この信号により、制御回路10
1は測定ターゲツト駆動回路106を制御し、モ
ーター114によりθ=0゜における測定経線方向
の被検眼屈折力に対応した位置すなわち測定ター
ゲツト5と被検眼眼底とがほぼ共役な関係となる
位置まで測定ターゲツト5の位置より遠方に移動
される。この状態で測定ターゲツト5、固視ター
ゲツト23を固定し、以下の本測定に入いる。こ
のように予備測定の結果移動固定された測定ター
ゲツト5の位置は本測定の間変化させない。
1,25,29がそれぞれの信号光を受光して、
前述の回路構成に従い、演算処理部110は該子
午面(θ=0゜)における円孔絞り像の分離量に相
当する位相差△P〓0を算出する。この△P〓0は円孔
開口像の分離量に変換され、その時の測定ターゲ
ツト5の位置により該子午面(θ=0゜)における
被検眼の屈折力を算出する。この算出結果は、測
定ターゲツト5の移動量に変換され制御回路10
1に入力される。この信号により、制御回路10
1は測定ターゲツト駆動回路106を制御し、モ
ーター114によりθ=0゜における測定経線方向
の被検眼屈折力に対応した位置すなわち測定ター
ゲツト5と被検眼眼底とがほぼ共役な関係となる
位置まで測定ターゲツト5の位置より遠方に移動
される。この状態で測定ターゲツト5、固視ター
ゲツト23を固定し、以下の本測定に入いる。こ
のように予備測定の結果移動固定された測定ター
ゲツト5の位置は本測定の間変化させない。
上記予備測定は、測定ターゲツト5の位置を被
検眼眼底とほぼ共役な位置に設定することによ
り、以下の本測定の精度をより向上させるために
有効である。
検眼眼底とほぼ共役な位置に設定することによ
り、以下の本測定の精度をより向上させるために
有効である。
本測定においては、予備測定において述べた検
出を同様に行なう。本測定においては、制御回路
101の信号により測定ターゲツト光源回転駆動
回路108はモーター118を駆動し、測定ター
ゲツト光源1a,1bを光軸を中心として順次回
転し、測定経線方向での被検眼屈折力Dθを算出
する。この測定は、少なくとも3経線方向で行な
いその時の被検眼屈折力をD〓i,D〓2,D〓3とする
と、前述の(6)式で表わされこの結果より球面度数
A、乱視度数B、乱視軸αを算出し、表示器14
2で最終測定結果を表示する。測定経線方向は、
多いほど測定精度が上がり、最少2乗法により
A,B,Cを算出する。本実施例においては、予
備測定を1経線方向で行なつたが、3経線方向で
の測定を行なつてもよいことは云うまでもない。
また、1経線方向で予備測定を行つた後、3経線
方向で再度予備測定を行ない、より本測定の精度
も高めることも可能である。さらに、本実施例に
おいては、本測定の前に予備測定を行つている
が、予備測定を行わず直接本測定を行うように構
成しても、本発明を有効に実施して本発明の効果
を得ることができることはもちろんである。
出を同様に行なう。本測定においては、制御回路
101の信号により測定ターゲツト光源回転駆動
回路108はモーター118を駆動し、測定ター
ゲツト光源1a,1bを光軸を中心として順次回
転し、測定経線方向での被検眼屈折力Dθを算出
する。この測定は、少なくとも3経線方向で行な
いその時の被検眼屈折力をD〓i,D〓2,D〓3とする
と、前述の(6)式で表わされこの結果より球面度数
A、乱視度数B、乱視軸αを算出し、表示器14
2で最終測定結果を表示する。測定経線方向は、
多いほど測定精度が上がり、最少2乗法により
A,B,Cを算出する。本実施例においては、予
備測定を1経線方向で行なつたが、3経線方向で
の測定を行なつてもよいことは云うまでもない。
また、1経線方向で予備測定を行つた後、3経線
方向で再度予備測定を行ない、より本測定の精度
も高めることも可能である。さらに、本実施例に
おいては、本測定の前に予備測定を行つている
が、予備測定を行わず直接本測定を行うように構
成しても、本発明を有効に実施して本発明の効果
を得ることができることはもちろんである。
第1図は本発明の実施例の測定手順を示す図
表、第2図及び第3図は実施例の測定原理の説明
図、第4図は実施例の光学図、第5図は実施例の
角膜反射光遮断絞りの正面図、第6図は実施例の
測定光学系の光学図、第7図は第6図に示す測定
光学系の測定原理の説明図、第8図は同じく測定
光学系の測定原理の説明図、第9図は実施例の固
視ターゲツトの正面図、第10図は実施例の電気
回路のブロツク図である。 1a,1b……赤外線光源、4……円形開口絞
り、7……投影用結像レンズ、8……赤外光に関
するハーフミラー、9……ダイクロイツクミラ
ー、21……受光素子、29……受光素子、50
……ターゲツト投影光学系、51……測定光学
系、52……ターゲツト受光光学系、53……固
視目標系、54……照準光学系、101……制御
回路、102……電源スイツチ、103……測定
スイツチ、104……チヨツパー駆動回路、10
5……光源駆動回路、106……測定ターゲツト
駆動回路、107……固視ターゲツト駆動回路、
108……測定ターゲツト光源回転駆動回路、1
09……測定検出部、110……演算処理部、1
42……表示器。
表、第2図及び第3図は実施例の測定原理の説明
図、第4図は実施例の光学図、第5図は実施例の
角膜反射光遮断絞りの正面図、第6図は実施例の
測定光学系の光学図、第7図は第6図に示す測定
光学系の測定原理の説明図、第8図は同じく測定
光学系の測定原理の説明図、第9図は実施例の固
視ターゲツトの正面図、第10図は実施例の電気
回路のブロツク図である。 1a,1b……赤外線光源、4……円形開口絞
り、7……投影用結像レンズ、8……赤外光に関
するハーフミラー、9……ダイクロイツクミラ
ー、21……受光素子、29……受光素子、50
……ターゲツト投影光学系、51……測定光学
系、52……ターゲツト受光光学系、53……固
視目標系、54……照準光学系、101……制御
回路、102……電源スイツチ、103……測定
スイツチ、104……チヨツパー駆動回路、10
5……光源駆動回路、106……測定ターゲツト
駆動回路、107……固視ターゲツト駆動回路、
108……測定ターゲツト光源回転駆動回路、1
09……測定検出部、110……演算処理部、1
42……表示器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 測定ターゲツトからの一対の光束を選択的に
被検眼眼底へ投影するための測定ターゲツト投影
光学系と、前記一対の光束を光軸回りに回転させ
る手段と、眼底に投影された測定ターゲツト像か
らの光束を結像させる測定ターゲツト結像光学系
と、被検眼眼底と共役に前記結像光学系内に形成
された検出面における、測定ターゲツト像を形成
する前記一対の光束の中心の間隔を検出する検出
装置と、前記検出装置からの信号を前記一対の光
束の中心を含む径線方向での被検眼の屈折度に変
換する演算部を有することを特徴とする眼屈折力
測定装置。 2 上記測定ターゲツト投影光学系は、光源を中
心として対称に配置され高速で交互点滅する一対
の光源からなる光源装置と、該光源装置によつて
照明される測定ターゲツトとを包含する特許請求
の範囲第1項記載の眼屈折力測定装置。 3 上記測定ターゲツト結像光学系は、眼底上の
ターゲツト像からの反射光束を集光させる対物レ
ンズ系と、該対物レンズ系の後方で被検眼瞳と共
役な位置に配置される開口絞りと、該開口絞りを
透過した光束によりターゲツト像を結像させるた
めの結像レンズ系とを有し、上記開口絞りが上記
結像レンズの前側焦点位置に配置された特許請求
の範囲第1項記載の眼屈折力測定装置。 4 上記測定ターゲツト結像光学系は、光束を二
分割するための光束分割部材を有し、また、上記
検出装置は、上記光束分割部材により分割された
2つの光束を光軸と垂直な平面内で走査するため
の1つの走査部材と、該走査部材を透過した光束
を受光するために上記走査部材後方に配置された
2つの受光手段とを有する特許請求の範囲第1項
記載の眼屈折力測定装置。 5 上記走査部材が回転円盤であつて、該回転円
盤がその半径方向に平行なスリツト群を有する特
許請求の範囲第4項記載の眼屈折力測定装置。 6 上記2つの受光手段が、上記回転円盤の回転
面と平行で、かつ該回転円盤の回転軸を中心とし
て90゜の角度をなすように配置された特許請求の
範囲第4項記載の眼屈折力測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56114933A JPS5815839A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 眼屈折力測定装置 |
| US06/384,338 US4591247A (en) | 1981-06-03 | 1982-06-02 | Eye refractometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56114933A JPS5815839A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 眼屈折力測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5815839A JPS5815839A (ja) | 1983-01-29 |
| JPH0223172B2 true JPH0223172B2 (ja) | 1990-05-23 |
Family
ID=14650250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56114933A Granted JPS5815839A (ja) | 1981-06-03 | 1981-07-22 | 眼屈折力測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5815839A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60179036A (ja) * | 1984-02-28 | 1985-09-12 | 株式会社トプコン | 自覚式検眼装置 |
| JPS62122629A (ja) * | 1985-11-25 | 1987-06-03 | キヤノン株式会社 | 眼屈折計 |
| JPH0542559Y2 (ja) * | 1987-11-28 | 1993-10-26 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS565532A (en) * | 1979-06-27 | 1981-01-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | Photographic film unit |
| JPS5618836A (en) * | 1979-07-23 | 1981-02-23 | Canon Kk | Refraction method |
-
1981
- 1981-07-22 JP JP56114933A patent/JPS5815839A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5815839A (ja) | 1983-01-29 |
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