JPH0255731B2 - - Google Patents
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- JPH0255731B2 JPH0255731B2 JP60130972A JP13097285A JPH0255731B2 JP H0255731 B2 JPH0255731 B2 JP H0255731B2 JP 60130972 A JP60130972 A JP 60130972A JP 13097285 A JP13097285 A JP 13097285A JP H0255731 B2 JPH0255731 B2 JP H0255731B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Stereophonic System (AREA)
- Circuit For Audible Band Transducer (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、結像光学系およびレーザ光学系の領
域に係わりかつ光束、例えばレーザビーム束にお
ける強度分布が光束の光軸に横断する方向にあつ
て、光路内に設けられた基準面に関して調整され
なければならない光学装置に関する。
域に係わりかつ光束、例えばレーザビーム束にお
ける強度分布が光束の光軸に横断する方向にあつ
て、光路内に設けられた基準面に関して調整され
なければならない光学装置に関する。
従来の技術
光束の強度分布、位置または方向は、鏡、方向
変換プリズム、光学透明平板および光学透明楔、
ライン格子、ホログラフイツク偏向絞り、音響的
な多重周波数変調器または音響光学リフレクタの
ような光学要素によつて影響を受ける。光源自体
が移動することもある。光束の、強度分布、位置
または方向に関しての調整は、鏡保持体のような
機械的な位置調整の形態またはピエゾ駆動装置の
ような電子機械的な位置調整の形態における適当
な調整部材によつて行なわれる。
変換プリズム、光学透明平板および光学透明楔、
ライン格子、ホログラフイツク偏向絞り、音響的
な多重周波数変調器または音響光学リフレクタの
ような光学要素によつて影響を受ける。光源自体
が移動することもある。光束の、強度分布、位置
または方向に関しての調整は、鏡保持体のような
機械的な位置調整の形態またはピエゾ駆動装置の
ような電子機械的な位置調整の形態における適当
な調整部材によつて行なわれる。
光束の調整の監視のために、調整過程の期間中
ターゲツトデイスク、スクリーンまたは孔絞りの
ようなゲージを観察するかまたは適当なホト検出
器からの信号を例えばオシログラフに可視表示可
能とすることが公知である。
ターゲツトデイスク、スクリーンまたは孔絞りの
ようなゲージを観察するかまたは適当なホト検出
器からの信号を例えばオシログラフに可視表示可
能とすることが公知である。
発明が解決しようとする問題点
しかし公知の調整補助手段は数多くの場合にお
いて十分には精確でなく、最適な調整についての
一義的な情報を示していないことも多く、場合に
よつては取扱いにくゝもある。さらに例えば調整
部材のさらされる位置に基いてまたは光学装置の
構造がコンパクトであるため、調整過程の際同時
に、行なわれる調整の精確な観察または監視を行
なうことができないことも多い。
いて十分には精確でなく、最適な調整についての
一義的な情報を示していないことも多く、場合に
よつては取扱いにくゝもある。さらに例えば調整
部材のさらされる位置に基いてまたは光学装置の
構造がコンパクトであるため、調整過程の際同時
に、行なわれる調整の精確な観察または監視を行
なうことができないことも多い。
したがつて発明の課題は、調整を一層容易かつ
精確に実施することができかつさらに最適な調整
に対して必要なステツプを量および方向について
信号化する、光束の光軸を横断する方向にあつ
て、光路内に設けられた基準面に関して光束にお
ける強度分布を音響的に監視するための方法およ
び装置を提供することである。
精確に実施することができかつさらに最適な調整
に対して必要なステツプを量および方向について
信号化する、光束の光軸を横断する方向にあつ
て、光路内に設けられた基準面に関して光束にお
ける強度分布を音響的に監視するための方法およ
び装置を提供することである。
問題点を解決するための手段
この課題は本発明によれば方法に関しては特許
請求の範囲第1項の特徴部分に記載の構成および
装置に関しては特許請求の範囲第6項の特徴部分
に記載の構成によつて解決される。本発明の有利
な実施例は、特許請求の範囲の実施態様項に記載
されている。
請求の範囲第1項の特徴部分に記載の構成および
装置に関しては特許請求の範囲第6項の特徴部分
に記載の構成によつて解決される。本発明の有利
な実施例は、特許請求の範囲の実施態様項に記載
されている。
実施例
次に本発明を図示の実施例につき図面を用いて
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第1図は、光束、例えばレーザビーム束の、光
束の光軸を横断する方向にある前以つて決められ
た基準面における強度分布に関する調整の音響監
視装置の実施例を示す。
束の光軸を横断する方向にある前以つて決められ
た基準面における強度分布に関する調整の音響監
視装置の実施例を示す。
光源および調整手段は図示されていないが光束
1は、前以つて決められた、光束1の光軸2を横
断する方向に位置する基準面3において所定の、
位置に依存する強度分布Is=f(x、y)を有す
るものとする。基準面3における所望の強度に対
する例が第2図に示されている。第2図には空間
関数として、基準面3の座標値xおよびyによつ
て規定される個別面要素に対する目標強度値Isが
図示されている。所望の強度分布に対して必要な
目標強度値s=f(x、y)は、監視装置の目標
値メモリ5に正規化された形態において、基準面
3の個別面要素4に対して呼び出し可能に記憶さ
れている。
1は、前以つて決められた、光束1の光軸2を横
断する方向に位置する基準面3において所定の、
位置に依存する強度分布Is=f(x、y)を有す
るものとする。基準面3における所望の強度に対
する例が第2図に示されている。第2図には空間
関数として、基準面3の座標値xおよびyによつ
て規定される個別面要素に対する目標強度値Isが
図示されている。所望の強度分布に対して必要な
目標強度値s=f(x、y)は、監視装置の目標
値メモリ5に正規化された形態において、基準面
3の個別面要素4に対して呼び出し可能に記憶さ
れている。
ビーム束1における強度分布の変化は例えば光
束1の光路にあるレンズまたはプリズムの移動に
よつて生じる可能性がある。
束1の光路にあるレンズまたはプリズムの移動に
よつて生じる可能性がある。
調整過程の開始前またはその期間中にその都度
の強度分布Ii=f(x、y)を測定するために光
束1の光路に半透明の平面鏡6(ビームスピリツ
タ)が設けられている。この鏡によつて部分光束
1′が分割されかつ監視装置の光測定面7に投射
される。光測定面7および基準面3は平面鏡6に
対して同じ間隔を有する。光測定面7は例えば面
状に配置されたn個のホトダイオードを有するホ
トダイオードマトリクスであり、その際基準面3
内のおのおのの面要素4にホトダイオードマトリ
クス内の位置的に一致するホトダイオードが対応
付けられ、その結果ホトダイオードの個別出力信
号は、基準面3の面要素4に対する測定された、
場所に依存する実際強度値Ii=f(x、y)に相
当する。光測定面7は勿論光束1の光路に配置す
ることもできる。
の強度分布Ii=f(x、y)を測定するために光
束1の光路に半透明の平面鏡6(ビームスピリツ
タ)が設けられている。この鏡によつて部分光束
1′が分割されかつ監視装置の光測定面7に投射
される。光測定面7および基準面3は平面鏡6に
対して同じ間隔を有する。光測定面7は例えば面
状に配置されたn個のホトダイオードを有するホ
トダイオードマトリクスであり、その際基準面3
内のおのおのの面要素4にホトダイオードマトリ
クス内の位置的に一致するホトダイオードが対応
付けられ、その結果ホトダイオードの個別出力信
号は、基準面3の面要素4に対する測定された、
場所に依存する実際強度値Ii=f(x、y)に相
当する。光測定面7は勿論光束1の光路に配置す
ることもできる。
光測定面7において測定されたn個の実際強度
値Iiは、アナログマルチプレクサ9の入力側8に
供給され、マルチプレクサが個別実際強度値Iiを
順次サイクリツクにその出力側10を介して後置
接続されたAD変換器11に通し接続する。
値Iiは、アナログマルチプレクサ9の入力側8に
供給され、マルチプレクサが個別実際強度値Iiを
順次サイクリツクにその出力側10を介して後置
接続されたAD変換器11に通し接続する。
アナログマルチプレクサ9の制御のためにクロ
ツク発生器12はクロツクパルス列Tpを発生し、
クロツクパルス列はクロツク入力側13を介して
高速の循環計数器14において計数される。この
計数器14のデータ出力側15に、n個の種々異
なつたビツト組合せを有するデジタル制御信号S1
が生じる。この組合せは、個別測定サイクルにお
けクロツクパルス列Tpのn個の計数されたクロ
ツク後その都度繰返される。同時に計数器14の
信号出力側16に測定サイクルの終了時にその都
度制御信号S2“測定サイクル終了”が生じる。デ
ジタル制御信号S1は、個別測定サイクルにおいて
測定された実際強度値Iiを通し接続するためにア
ナログマルチプレクサ9の制御入力側に供給さ
れ、その際制御信号S1のおのおののビツト組合せ
によつて基準面3の所定の面要素4の実際強度値
IiがAD変換器11に通し接続される。
ツク発生器12はクロツクパルス列Tpを発生し、
クロツクパルス列はクロツク入力側13を介して
高速の循環計数器14において計数される。この
計数器14のデータ出力側15に、n個の種々異
なつたビツト組合せを有するデジタル制御信号S1
が生じる。この組合せは、個別測定サイクルにお
けクロツクパルス列Tpのn個の計数されたクロ
ツク後その都度繰返される。同時に計数器14の
信号出力側16に測定サイクルの終了時にその都
度制御信号S2“測定サイクル終了”が生じる。デ
ジタル制御信号S1は、個別測定サイクルにおいて
測定された実際強度値Iiを通し接続するためにア
ナログマルチプレクサ9の制御入力側に供給さ
れ、その際制御信号S1のおのおののビツト組合せ
によつて基準面3の所定の面要素4の実際強度値
IiがAD変換器11に通し接続される。
AD変換器11においてデジタル化された、個
別面要素4の実際強度値Iiは図示の実施例におい
ては正規化段18において正規化される。その理
由は大抵の場合絶対ではなくて、相対的な強度分
布が重要だからである。正規化段18は、機械ス
イツチによつて略示されている電子切換スイツチ
19と、加算装置および一時和メモリを有する加
算段20と、割算段21とから成る。電子スイツ
チ19は測定サイクルの終了時においてその都度
計数器14において発生される制御信号S2“測定
サイクル−終了”によつて切換られる。これによ
つて例えば偶数番目の測定サイクルにおいてその
都度、個別の実際強度値Iiが加算段20に供給さ
れ、加算装置において加算され、和値ΣIiが内部
レジスタに格納されかつ加算装置の一時和メモリ
がリセツトされ、一方奇数番目の測定サイクルに
おいてその都度、正規化された実際強度値iが
割算段21において個別実際強度値Iiを記憶され
た和値ΣIiによつて割算することによつて形成さ
れる。正規化された実際強度値iは、おのおの
の面要素4に対して順次送出されかつ差形成段2
2に供給される。その際計数器14において計数
されるクロツクパルス列Tpの周波数は、2つの
連続する測定サイクルの測定された強度値Iiが光
束1の調整過程の期間中ほんの僅かしか変化しな
い程度の大きさに選択されている。
別面要素4の実際強度値Iiは図示の実施例におい
ては正規化段18において正規化される。その理
由は大抵の場合絶対ではなくて、相対的な強度分
布が重要だからである。正規化段18は、機械ス
イツチによつて略示されている電子切換スイツチ
19と、加算装置および一時和メモリを有する加
算段20と、割算段21とから成る。電子スイツ
チ19は測定サイクルの終了時においてその都度
計数器14において発生される制御信号S2“測定
サイクル−終了”によつて切換られる。これによ
つて例えば偶数番目の測定サイクルにおいてその
都度、個別の実際強度値Iiが加算段20に供給さ
れ、加算装置において加算され、和値ΣIiが内部
レジスタに格納されかつ加算装置の一時和メモリ
がリセツトされ、一方奇数番目の測定サイクルに
おいてその都度、正規化された実際強度値iが
割算段21において個別実際強度値Iiを記憶され
た和値ΣIiによつて割算することによつて形成さ
れる。正規化された実際強度値iは、おのおの
の面要素4に対して順次送出されかつ差形成段2
2に供給される。その際計数器14において計数
されるクロツクパルス列Tpの周波数は、2つの
連続する測定サイクルの測定された強度値Iiが光
束1の調整過程の期間中ほんの僅かしか変化しな
い程度の大きさに選択されている。
クロツク発生器12において発生されるクロツ
クパルス列Tpは同時にクロツク入力側24を介
してアドレス計数器25において計数される。ア
ドレス計数器25は、おのおのの偶数番目の測定
サイクルにおいてのみそのアドレス出力側と目標
値メモリ5のアドレス入力側27とを介して正規
化された個別目標値強度値sに対する相応のア
ドレスを呼出すように設定されており、その際目
標値メモリ5の読出し命令入力側28に導かれる
クロツクパルス列Tpが読出しクロツク列として
使用される。
クパルス列Tpは同時にクロツク入力側24を介
してアドレス計数器25において計数される。ア
ドレス計数器25は、おのおのの偶数番目の測定
サイクルにおいてのみそのアドレス出力側と目標
値メモリ5のアドレス入力側27とを介して正規
化された個別目標値強度値sに対する相応のア
ドレスを呼出すように設定されており、その際目
標値メモリ5の読出し命令入力側28に導かれる
クロツクパルス列Tpが読出しクロツク列として
使用される。
このようにして奇数番目の測定サイクル内にお
いて個別面要素4に対する実際強度値iの形成
と同期して、当該の面要素4に対応する正規化さ
れた目標強度値sが目標値メモリ5から読出さ
れかつ基準面3の個別面要素に対して強度偏差、
実施例においては目標強度値と実際強度値との間
の強度差値△=∫(x、y)が検出される。
いて個別面要素4に対する実際強度値iの形成
と同期して、当該の面要素4に対応する正規化さ
れた目標強度値sが目標値メモリ5から読出さ
れかつ基準面3の個別面要素に対して強度偏差、
実施例においては目標強度値と実際強度値との間
の強度差値△=∫(x、y)が検出される。
そのために目標値メモリ5および正規化段18
は、強度差値△が形成される差形成段22に接
続されている。強度差値△は有利には関数に応
じて変形され、実施例において後置接続された自
乗段29において自乗され、これにより差値の正
負記号が生じなくなりかつ偏差の評価が一層有利
になる。
は、強度差値△が形成される差形成段22に接
続されている。強度差値△は有利には関数に応
じて変形され、実施例において後置接続された自
乗段29において自乗され、これにより差値の正
負記号が生じなくなりかつ偏差の評価が一層有利
になる。
自乗された差偏値(△)2は、データ入力側3
0を介してバツフアメモリ31に書込まれかつそ
こで一時記憶される。自乗された差値(△)2を
書込むためにアドレス計数器25は同時にバツフ
アメモリ31のアドレスを書込みアドレス入力側
32を介して呼出し、一方クロツクパルス列Tp
は書込みクロツクパルス列としてバツフアメモリ
31の書込み命令入力側33に供給される。
0を介してバツフアメモリ31に書込まれかつそ
こで一時記憶される。自乗された差値(△)2を
書込むためにアドレス計数器25は同時にバツフ
アメモリ31のアドレスを書込みアドレス入力側
32を介して呼出し、一方クロツクパルス列Tp
は書込みクロツクパルス列としてバツフアメモリ
31の書込み命令入力側33に供給される。
バツフアメモリ31に一時記憶された自乗され
た差値(△)2は、緩慢なサイクルにおいて、例
えば1Sのサイクル時間において、バツフアメモ
リ31から読出される。このためにクロツク発生
器34が、緩慢な循環アドレス計数器36のクロ
ツク入力側35に供給されるクロツクパルス列
T1を発生する。アドレス計数器36はバツフア
メモリ31の読出しアドレス入力側37に供給さ
れる読出しアドレスを発生する。読出しクロツク
パルス列として使用されるクロツクパルス列T1
はバツフアメモリ31に読出し命令入力側38を
介して供給される。
た差値(△)2は、緩慢なサイクルにおいて、例
えば1Sのサイクル時間において、バツフアメモ
リ31から読出される。このためにクロツク発生
器34が、緩慢な循環アドレス計数器36のクロ
ツク入力側35に供給されるクロツクパルス列
T1を発生する。アドレス計数器36はバツフア
メモリ31の読出しアドレス入力側37に供給さ
れる読出しアドレスを発生する。読出しクロツク
パルス列として使用されるクロツクパルス列T1
はバツフアメモリ31に読出し命令入力側38を
介して供給される。
読出されたデジタル自乗強度差値(△)2は、
後置接続されたDA変換器39においてアナログ
電圧値に変換され、この電圧値は、実際強度分布
と目標強度分布との偏差の自乗値に対する尺度で
ある。
後置接続されたDA変換器39においてアナログ
電圧値に変換され、この電圧値は、実際強度分布
と目標強度分布との偏差の自乗値に対する尺度で
ある。
次のステツプにおいて周期的な振動が発生さ
れ、その周波数、振幅、キーイング周波数または
キーイング比が自乗強度差値(△)2によつて変
調される。それから変調された振動は相応の測定
音に変換される。測定音の音の高さ、音の強さ、
断続周波数または遮断持続時間はその都度の自乗
強度差値(△)2に依存する。選択された実施例
において検出された自乗強度差値(△)2に依存
して振動の周波数、したがつて測定音の音の高さ
が変化する。そのために電圧制御発振器40
(VCO)が設けられている。この発振器には自乗
強度差値(△)2が制御信号として供給される。
電圧制御発振器40は正弦波状の出力振動を発生
し、その際その周波数は供給された制御信号に依
存する。電圧制御発振器40の出力振動はこの場
合も機械的な切換スイツチとして略示されている
電子切換スイツチ41を介して増幅器42に供給
され、そこで増幅されかつ例えばスピーカ43の
形式の電子音響変換器を用いて測定音として聴取
できるようになる。その際自乗強度差値(△)2
と音の高さとの間の関係は例えば、自乗強度差値
が小さくなるにしたがつて測定音の高さが低くな
るようになつている。個別自乗強度差値(△)2
は例えば1秒間隔をおいてバツフアメモリ31か
ら読出されるので、基準面3の面要素4に対する
個別の測定音も1秒間隔をおいて発生される。し
たがつて光束1の調整の音響監視の際、大きな強
度偏差を有する面要素4において高い測定音が発
生され、僅かな強度偏差を有する面要素4におい
て低い測定音が発生され、その際すべての面要素
4に対して強度の一致が増えてくるにしたがつて
低い測定音が優勢になる。
れ、その周波数、振幅、キーイング周波数または
キーイング比が自乗強度差値(△)2によつて変
調される。それから変調された振動は相応の測定
音に変換される。測定音の音の高さ、音の強さ、
断続周波数または遮断持続時間はその都度の自乗
強度差値(△)2に依存する。選択された実施例
において検出された自乗強度差値(△)2に依存
して振動の周波数、したがつて測定音の音の高さ
が変化する。そのために電圧制御発振器40
(VCO)が設けられている。この発振器には自乗
強度差値(△)2が制御信号として供給される。
電圧制御発振器40は正弦波状の出力振動を発生
し、その際その周波数は供給された制御信号に依
存する。電圧制御発振器40の出力振動はこの場
合も機械的な切換スイツチとして略示されている
電子切換スイツチ41を介して増幅器42に供給
され、そこで増幅されかつ例えばスピーカ43の
形式の電子音響変換器を用いて測定音として聴取
できるようになる。その際自乗強度差値(△)2
と音の高さとの間の関係は例えば、自乗強度差値
が小さくなるにしたがつて測定音の高さが低くな
るようになつている。個別自乗強度差値(△)2
は例えば1秒間隔をおいてバツフアメモリ31か
ら読出されるので、基準面3の面要素4に対する
個別の測定音も1秒間隔をおいて発生される。し
たがつて光束1の調整の音響監視の際、大きな強
度偏差を有する面要素4において高い測定音が発
生され、僅かな強度偏差を有する面要素4におい
て低い測定音が発生され、その際すべての面要素
4に対して強度の一致が増えてくるにしたがつて
低い測定音が優勢になる。
大抵の場合強度偏差値零への調整は必要でな
く、目標強度分布と実際強度分布との間の確実な
一致が前以つて決められた限界値内で行なわれさ
れすればよいので、自乗段29において得られる
自乗強度差値(△)2は同時にスイツチ44を介
して閾値回路46の加算段45に供給される。加
算段45においてその都度測定サイクルの自乗強
度差値(△)2の累算によつて和値Σ(△)2が
形成されかつ加算段45の内部レジスタに格納さ
れる。閾値回路46のレジスタ47に、実際強度
分布と所望の目標強度分布との許容偏差を表わす
正規化された限界値gがロードされる。和値Σ
(△)2が前以つて決められた限界値gを下回つ
ていれば、比較器48は、制御信号S3を送出し、
これにより切換スイツチ41は破線で図示された
位置に切換られる。この場合電圧制御発振器40
とスピーカ43との間の接続が遮断されかつ自乗
差値に依存する測定音が遮断される。その代わり
にスピーカ43は切換スイツチ41および断続器
49を介して発振器50に供給される。発振器5
0は、例えば500Hzの振動を発生する。この振動
は断続器49によつて例えば5Hzの周波数によつ
て周期的に断続されかつスピーカ43において周
期的に断続される連続測定音として聴こえるよう
になる。この周期的に断続される連続測定音は、
目標および実際強度分布の所望の一致が達せられ
たことを信号として知らせる。レジスタ47に瞬
時的に入力される限界値gによつて前以つて決
められた調整より一層精確な調整が所望される場
合、それに相応してより小さな限界値gがレジ
スタ47にロードされる。この限界値を用いた調
整は、この種の光学装置の製造業者またはユーザ
によつて前以つて決めることができるという利点
を有する。
く、目標強度分布と実際強度分布との間の確実な
一致が前以つて決められた限界値内で行なわれさ
れすればよいので、自乗段29において得られる
自乗強度差値(△)2は同時にスイツチ44を介
して閾値回路46の加算段45に供給される。加
算段45においてその都度測定サイクルの自乗強
度差値(△)2の累算によつて和値Σ(△)2が
形成されかつ加算段45の内部レジスタに格納さ
れる。閾値回路46のレジスタ47に、実際強度
分布と所望の目標強度分布との許容偏差を表わす
正規化された限界値gがロードされる。和値Σ
(△)2が前以つて決められた限界値gを下回つ
ていれば、比較器48は、制御信号S3を送出し、
これにより切換スイツチ41は破線で図示された
位置に切換られる。この場合電圧制御発振器40
とスピーカ43との間の接続が遮断されかつ自乗
差値に依存する測定音が遮断される。その代わり
にスピーカ43は切換スイツチ41および断続器
49を介して発振器50に供給される。発振器5
0は、例えば500Hzの振動を発生する。この振動
は断続器49によつて例えば5Hzの周波数によつ
て周期的に断続されかつスピーカ43において周
期的に断続される連続測定音として聴こえるよう
になる。この周期的に断続される連続測定音は、
目標および実際強度分布の所望の一致が達せられ
たことを信号として知らせる。レジスタ47に瞬
時的に入力される限界値gによつて前以つて決
められた調整より一層精確な調整が所望される場
合、それに相応してより小さな限界値gがレジ
スタ47にロードされる。この限界値を用いた調
整は、この種の光学装置の製造業者またはユーザ
によつて前以つて決めることができるという利点
を有する。
光束1の完全な一致までの調整が所望される場
合、閾値回路46は有利にはスイツチ44の操作
によつて作動しなくなり、その結果切換スイツチ
41は図示の位置にとゞまる。この場合更に発生
される測定音は自乗差値(△)2に依存し、その
際スピーカ43は目標および実際強度値分布間に
一致をみた場合低い連続測定音を送出する。測定
音発生の形式は説明した実施例に限定されない。
合、閾値回路46は有利にはスイツチ44の操作
によつて作動しなくなり、その結果切換スイツチ
41は図示の位置にとゞまる。この場合更に発生
される測定音は自乗差値(△)2に依存し、その
際スピーカ43は目標および実際強度値分布間に
一致をみた場合低い連続測定音を送出する。測定
音発生の形式は説明した実施例に限定されない。
しかし相対強度分布に代わつて絶対強度分布に
関心があれば、正規化段18は橋絡されるか、ま
たは全く省略され、その際AD変換器11の出力
側は直接差形成段22の入力側に接続される。そ
れから目標値メモリ5およびレジスタ47は正規
化された目標値ないし限界値ではなく、絶対目標
値ないし限界値によつてロードされる。これまで
説明してきた監視装置を用いて、例えば基準面3
の、光束1の横断面を所望の位置において形成す
る面要素4のみを目標強度値Isを対応させること
によつて有利にも光束1の位置調整が行なわれ
る。このことに対して選択的に、光束1の位置調
整のために面要素4の別の従属量を所定の順序で
読出すことができる。
関心があれば、正規化段18は橋絡されるか、ま
たは全く省略され、その際AD変換器11の出力
側は直接差形成段22の入力側に接続される。そ
れから目標値メモリ5およびレジスタ47は正規
化された目標値ないし限界値ではなく、絶対目標
値ないし限界値によつてロードされる。これまで
説明してきた監視装置を用いて、例えば基準面3
の、光束1の横断面を所望の位置において形成す
る面要素4のみを目標強度値Isを対応させること
によつて有利にも光束1の位置調整が行なわれ
る。このことに対して選択的に、光束1の位置調
整のために面要素4の別の従属量を所定の順序で
読出すことができる。
発明の効果
本発明によれば光束の光軸を横断する方向にあ
る基準面における強度分布の調整を音響的に監視
しながら正確にかつ容易に実施できる。
る基準面における強度分布の調整を音響的に監視
しながら正確にかつ容易に実施できる。
第1図は、前以つて決められた基準面における
強度分布に関しての光束調整の音響監視装置の実
施例のブロツク図であり、第2図は、基準面にお
ける所望の強度分布をグラフイツク表示する図で
ある。 1,1′……光束、2……光軸、3……基準面、
4……面要素、5……目標値メモリ、7……光電
測定装置、9……マルチプレクサ、11……AD
変換器、12,14……第1制御発生器、22…
…偏差検出段、31……バツフアメモリ、34,
36……第2制御発生器、39……DA変換器、
40……振動発生器、43……電気音響変換器、
Ii……強度実際値、Is……強度目標値、△I……
強度偏差。
強度分布に関しての光束調整の音響監視装置の実
施例のブロツク図であり、第2図は、基準面にお
ける所望の強度分布をグラフイツク表示する図で
ある。 1,1′……光束、2……光軸、3……基準面、
4……面要素、5……目標値メモリ、7……光電
測定装置、9……マルチプレクサ、11……AD
変換器、12,14……第1制御発生器、22…
…偏差検出段、31……バツフアメモリ、34,
36……第2制御発生器、39……DA変換器、
40……振動発生器、43……電気音響変換器、
Ii……強度実際値、Is……強度目標値、△I……
強度偏差。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 光束の光軸を横断する方向にある基準面にお
ける強度分布に関する光束の調整を音響的に監視
する方法において、 (a) 基準面3を面要素4に分割しかつおのおのの
面要素4に対して所望の強度値Isを前以つて決
めかつ固定保持し、 (b) 調整の際その都度生じる、光束1の強度値Ii
を個別面要素4において順次サイクリツクに高
速で測定し、 (c) 個別面要素4に対して所望の強度値と実際の
強度値との間の偏差△Iを検出しかつ一時記憶
し、 (d) 前記強度偏差△Iを順次サイクリツクに緩慢
に読出し、かつ (e) 振動を発生し、個別面要素4におけるそれぞ
れの強度偏差△Iに依存して該振動の少なくと
も1つのパラメータを変調しかつ該変調された
振動を基準面3のおのおのの面要素4に対する
相応の測定音として可聴とすることを特徴とす
る光束の強度分布調整の音響監視方法。 2 パラメータとして、強度偏差△Iに依存して
振動の周波数、振幅、キーイング周波数またはキ
ーイング比を変調しかつこれにより音の高さ、強
さ、測定音の断続周波数または遮断持続時間を変
える特許請求の範囲第1項記載の交束の強度分布
調整の音響監視方法。 3 (a) 基準面3の個別面要素における検出され
たまたは変調された強度偏差△Iを、所望の強
度分布からの許容偏差を表わす所定の限界値Ig
と比較し、かつ (b) 所定の限界値Igの方が面要素4における全体
の強度偏差△Iより下回つていれば測定音とし
て可聴可能にする特許請求の範囲第1項または
第2項記載の光束の強度分布調整の監視方法。 4 (a) おのおのの測定サイクルにおいてすべて
の強度偏差の和Σ△Iを形成しかつ該和値Σ△
Iを、所望の強度分布からの許容偏差を表わす
所定の限界値Igと比較し、かつ (b) 前記所定の限界値Igの方が前記和値Σ△Iよ
り下回つている際測定音を可聴可能にする特許
請求の範囲第1項または第2項記載の光束の強
度分布調整の音響監視方法。 5 限界値を下回つている際強度偏差△Iに依存
する測定音を遮断する特許請求の範囲第3項また
は第4項記載の光束の強度分布調整の音響監視方
法。 6 光束の光軸を横断する方向にある、面要素に
分割されている基準面における光束の強度分布に
関する調整を音響的に監視する装置において、 (a) 基準面の面要素における強度値Iiを測定する
ための光電測定装置7と、 (b) 該測定装置7に接続されている、前記測定さ
れた強度値Iiをサイクリツクに、連続的に通し
接続するためのマルチプレクサ9と、 (c) 該マルチプレクサ9に接続されている、前記
強度値Iiをデジタル化するためのAD変換器1
1と、 (d) 基準面の個別面要素に対して前以つて決めら
れた強度値Isを格納するための目標値メモリ5
と、 (e) 該目標値メモリ5と前記AD変換器11に接
続されている、個別面要素に対する前記前以つ
て決められた強度値Isと前記測定された強度値
Iiとの間の強度偏差△Iを検出するための段2
2と、 (f) 該段22に接続されている、前記検出された
強度偏差△Iを一時記憶するためのバツフアメ
モリ31と、 (g) 該バツフアメモリ31に接続されている、ア
ナログ強度偏差△Iを形成するためのDA変換
器39と、 (h) 該DA変換器39に接続されている、前記強
度偏差△Iに依存して少なくとも1つのパラメ
ータが変調される振動を発生するための、前記
強度偏差△Iによつて制御される振動発生器4
0,42と、 (i) 該振動発生器に接続されている、前記変調さ
れた振動を測定音に変換するための電気音響変
換器43と、 (j) 測定された強度値Iiを通し接続し、所望の強
度値Isを目標値メモリ5から読出しかつ検出さ
れた強度偏差△Iをバツフアメモリ31に書込
むための、前記マルチプレクサ9、目標値メモ
リ5およびバツフアメモリ31に接続されてい
る第1制御発生器12,14,15と、 (k) 一時記憶された強度偏差△Iを読出すため
の、前記バツフアメモリ31に接続されている
第2制御発生器34,36とを具備しているこ
とを特徴とする光束の強度分布調整の音響監視
装置。 7 振動発生器40,42は電圧制御発振器40
を有し、該発振器によつて発生された振動の周波
数が強度偏差△Iに依存して変調される特許請求
の範囲第6項記載の光束の強度分布調整の音響監
視装置。 8 強度偏差△Iを検出するための段22は差形
成段として構成されている特許請求の範囲第6項
または第7項記載の光束の強度分布調整の音響監
視装置。 9 強度偏差△Iを検出するための段22とバツ
フアメモリ31との間に前以つて決められた関数
にしたがつて強度偏差を修正するための段29が
介挿されている特許請求の範囲第6項〜第8項の
いずれかの項に記載の光速の強度分布調整の音響
監視装置。 10 AD変換器11と強度偏差△Iを検出する
ための段22との間に、測定された強度値Iiを正
規化するための正規化段18が設けられている特
許請求の範囲第6項から第9項までのいづれか1
項に記載の光束の強度分布調整の音響監視装置。 11 (a) 強度偏差値△Iを検出するための段2
2ないし強度偏差を修正するための段29およ
び振動発生器40に接続されている閾値回路4
6が設けられており、該閾値回路は強度偏差△
Iが前以つて決められた限界値Igを下回つてい
る際制御信号S3を発生し、かつ (b) 振動発生器40は付加的に第2振動の発生手
段49,50および制御信号S3によつて操作可
能な、前記第2振動を電気音響変換器43に通
し接続するための切換素子41を有し、これに
より限界値を下回つている際第2測定音が聴こ
えるようにした特許請求の範囲第6項から第1
0項までのいづれか1項記載の光束の強度分布
調整の音響監視装置。 12 強度偏差△Iを加算するための加算段4
5、限界値Igを記憶するためのレジスタ47と、
前記加算段45およびレジスタ47に接続されて
いる、制御信号S3を形成するための比較器48と
から成る閾値回路46を具備している特許請求の
範囲第11項記載の光束の強度分布調整の音響監
視装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE84106945.3 | 1984-06-18 | ||
| EP84106945A EP0165325B1 (de) | 1984-06-18 | 1984-06-18 | Verfahren und Einrichtung zur akustischen Kontrolle von Justiervorgängen an optischen Vorrichtungen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6140532A JPS6140532A (ja) | 1986-02-26 |
| JPH0255731B2 true JPH0255731B2 (ja) | 1990-11-28 |
Family
ID=8191998
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13097285A Granted JPS6140532A (ja) | 1984-06-18 | 1985-06-18 | 光束の強度分布調整の音響監視方法および装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4694150A (ja) |
| EP (1) | EP0165325B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6140532A (ja) |
| AT (1) | ATE36756T1 (ja) |
| CA (1) | CA1220554A (ja) |
| DE (1) | DE3473649D1 (ja) |
| SU (1) | SU1755719A3 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110023U (ja) * | 1991-03-06 | 1992-09-24 | 株式会社村田製作所 | 圧電共振子 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4945221A (en) * | 1987-04-24 | 1990-07-31 | Laser Alignment, Inc. | Apparatus and method for controlling a hydraulic excavator |
| JPS6415632A (en) * | 1987-07-09 | 1989-01-19 | Sonoike Mfg | Laser beam analyzer |
| JPH0243511A (ja) * | 1988-08-04 | 1990-02-14 | Fuji Electric Co Ltd | イメージセンサ対の光学系との位置合わせ方法 |
| US5264905A (en) * | 1992-04-27 | 1993-11-23 | Grumman Aerospace Corporation | Electro-optic automated test equipment |
| JP2007000316A (ja) * | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
| US10883702B2 (en) | 2010-08-31 | 2021-01-05 | Ideal Industries Lighting Llc | Troffer-style fixture |
| JP5628103B2 (ja) * | 2011-06-30 | 2014-11-19 | 富士フイルム株式会社 | 放射線検出器、放射線画像撮影システム、断線検出プログラム、及び断線検出方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3907435A (en) * | 1972-09-29 | 1975-09-23 | Laser Alignment | Light beam alignment target and method |
| US3972622A (en) * | 1974-09-19 | 1976-08-03 | New Hampshire Ball Bearings, Inc. | Electronic survey target |
| US4081216A (en) * | 1976-06-25 | 1978-03-28 | The United States Of America As Represented By The Department Of Health, Education And Welfare | Ultrasonic transducer calibration |
| US4126834A (en) * | 1977-06-27 | 1978-11-21 | Gte Sylvania Incorporated | Bulk wave bragg cell |
| DE2850743C3 (de) * | 1978-11-23 | 1981-10-01 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Abweichung des Sendestrahls von der optischen Achse des Empfangsteleskops bei einem Lidargerät |
| JPS57113428A (en) * | 1980-12-29 | 1982-07-14 | Pioneer Video Corp | Focus servo device |
-
1984
- 1984-06-18 EP EP84106945A patent/EP0165325B1/de not_active Expired
- 1984-06-18 DE DE8484106945T patent/DE3473649D1/de not_active Expired
- 1984-06-18 AT AT84106945T patent/ATE36756T1/de not_active IP Right Cessation
-
1985
- 1985-06-11 US US06/743,516 patent/US4694150A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-06-17 CA CA000484159A patent/CA1220554A/en not_active Expired
- 1985-06-17 SU SU853911197A patent/SU1755719A3/ru active
- 1985-06-18 JP JP13097285A patent/JPS6140532A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110023U (ja) * | 1991-03-06 | 1992-09-24 | 株式会社村田製作所 | 圧電共振子 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6140532A (ja) | 1986-02-26 |
| ATE36756T1 (de) | 1988-09-15 |
| DE3473649D1 (en) | 1988-09-29 |
| EP0165325B1 (de) | 1988-08-24 |
| SU1755719A3 (ru) | 1992-08-15 |
| CA1220554A (en) | 1987-04-14 |
| EP0165325A1 (de) | 1985-12-27 |
| US4694150A (en) | 1987-09-15 |
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