JPH0256869B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0256869B2 JPH0256869B2 JP17644183A JP17644183A JPH0256869B2 JP H0256869 B2 JPH0256869 B2 JP H0256869B2 JP 17644183 A JP17644183 A JP 17644183A JP 17644183 A JP17644183 A JP 17644183A JP H0256869 B2 JPH0256869 B2 JP H0256869B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- tester
- control device
- central processing
- processing unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、音声あるいはデータ交換システムの
保守試験系における試験器に障害が見出された場
合に、その障害試験器を自動閉塞する方式に関す
るものである。
保守試験系における試験器に障害が見出された場
合に、その障害試験器を自動閉塞する方式に関す
るものである。
第１図はこの種の試験器閉塞方式の従来例を示
すブロツク図である。同図において、１１〜１ｎ
はそれぞれ試験器、２は試験制御装置、３は交換
システムの中央処理装置、４は入出力装置、であ
る。
すブロツク図である。同図において、１１〜１ｎ
はそれぞれ試験器、２は試験制御装置、３は交換
システムの中央処理装置、４は入出力装置、であ
る。
第２図は、第１図に示した閉塞方式の動作シー
ケンスを示す説明図である。
ケンスを示す説明図である。
第１図、第２図から明らかなように、従来の音
声あるいはデータ交換システムでは、該システム
の中央処理装置３が入出力装置４からの試験要求
コマンドに基いて試験器１ｋを決定すると共に、
試験オーダを試験制御装置２に出力する。試験制
御装置２は、受信した試験オーダを解析して試験
実行コマンドを試験器１ｋに送る。
声あるいはデータ交換システムでは、該システム
の中央処理装置３が入出力装置４からの試験要求
コマンドに基いて試験器１ｋを決定すると共に、
試験オーダを試験制御装置２に出力する。試験制
御装置２は、受信した試験オーダを解析して試験
実行コマンドを試験器１ｋに送る。
他方、中央処理装置３は、試験器１ｋが正常で
あれば該試験器１ｋから試験結果が送られてくる
までに要する時間を見込んで或る時限を設定して
おく。試験器１ｋに障害が発生していると、所定
の時限をすぎても試験結果は送られてこないの
で、中央処理装置３はタイムアウトを検出するこ
とになる。
あれば該試験器１ｋから試験結果が送られてくる
までに要する時間を見込んで或る時限を設定して
おく。試験器１ｋに障害が発生していると、所定
の時限をすぎても試験結果は送られてこないの
で、中央処理装置３はタイムアウトを検出するこ
とになる。
その結果、中央処理装置３は入出力装置４へ試
験異常終了信号を送出して保守者に障害を通知す
る。それにより保守者は、試験器閉塞コマンドあ
るいは試験系切離しコマンドを入出力装置４を介
して中央処理装置３へ送る。それにより、以後、
第２図に見られる如き手順で試験器１ｋの閉塞ま
たは試験系の切離しが行なわれていた。
験異常終了信号を送出して保守者に障害を通知す
る。それにより保守者は、試験器閉塞コマンドあ
るいは試験系切離しコマンドを入出力装置４を介
して中央処理装置３へ送る。それにより、以後、
第２図に見られる如き手順で試験器１ｋの閉塞ま
たは試験系の切離しが行なわれていた。
以上説明した如き、従来の閉塞方式では、(i)保
守者が障害試験器を閉塞するためのコマンドまた
は保守試験系全体を交換システムから切離すため
のコマンドを送出して実際に閉塞または切離しが
行なわれるまでは、障害を発生している試験器が
再び選択される可能性があること、(ii)閉塞に際し
保守者が誤つて正常な試験器を閉塞してしまう可
能性があること、(iii)試験系全体が切離される場
合、正常な試験器を用いて行なわれるべき試験に
ついてもこれの実行が不可能となること、などの
欠点があつた。
守者が障害試験器を閉塞するためのコマンドまた
は保守試験系全体を交換システムから切離すため
のコマンドを送出して実際に閉塞または切離しが
行なわれるまでは、障害を発生している試験器が
再び選択される可能性があること、(ii)閉塞に際し
保守者が誤つて正常な試験器を閉塞してしまう可
能性があること、(iii)試験系全体が切離される場
合、正常な試験器を用いて行なわれるべき試験に
ついてもこれの実行が不可能となること、などの
欠点があつた。
本発明は、上述の如き従来技術の欠点を除去す
るためになされたものであり、従つて本発明の目
的は、保守者に依存せず、障害発生中の試験器は
可及的速やかにかつ限りなくこれを閉塞出来、し
かも試験系全体の切離しは行なわないようにした
試験器自動閉塞方式を提供することにある。
るためになされたものであり、従つて本発明の目
的は、保守者に依存せず、障害発生中の試験器は
可及的速やかにかつ限りなくこれを閉塞出来、し
かも試験系全体の切離しは行なわないようにした
試験器自動閉塞方式を提供することにある。
本発明の要点は、交換システム側から試験オー
ダを与えられると、該オーダに基いて対象試験器
を決定して該試験器に試験実行コマンドを送出す
るようにした試験制御装置において、前記コマン
ドの送出後、一定の時限を設定し、該時限内に試
験結果が前記試験器から受信されないときは、そ
のことに基いて前記試験器を自動閉塞するように
した点にある。
ダを与えられると、該オーダに基いて対象試験器
を決定して該試験器に試験実行コマンドを送出す
るようにした試験制御装置において、前記コマン
ドの送出後、一定の時限を設定し、該時限内に試
験結果が前記試験器から受信されないときは、そ
のことに基いて前記試験器を自動閉塞するように
した点にある。
次に図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。第３図は本発明の一実施例を示すブロツク図
である。同図において、１１〜１ｎはそれぞれプ
ロセツサを有する試験器、２Ａは試験制御装置、
３は交換システムの中央処理装置、４は中央処理
装置３の入出力装置を示す。試験制御装置２Ａ
は、試験器１１〜１ｎとの間の通信インタフエー
ス装置２１１〜２１ｎ、中央処理装置３との間の
バスインタフエース装置２３および試験器１１〜
１ｎの試験制御や実行管理等を行なうプロセツサ
２２などから成つている。また中央処理装置３は
バス制御装置３１、入出力制御装置３３および交
換制御等を行なうプロセツサ３２などから成つて
いる。
る。第３図は本発明の一実施例を示すブロツク図
である。同図において、１１〜１ｎはそれぞれプ
ロセツサを有する試験器、２Ａは試験制御装置、
３は交換システムの中央処理装置、４は中央処理
装置３の入出力装置を示す。試験制御装置２Ａ
は、試験器１１〜１ｎとの間の通信インタフエー
ス装置２１１〜２１ｎ、中央処理装置３との間の
バスインタフエース装置２３および試験器１１〜
１ｎの試験制御や実行管理等を行なうプロセツサ
２２などから成つている。また中央処理装置３は
バス制御装置３１、入出力制御装置３３および交
換制御等を行なうプロセツサ３２などから成つて
いる。
保守者が入出力装置４から試験要求コマンドを
入力すると、中央処理装置３はその試験コマンド
に対応する試験オーダをバスルート等を通して試
験制御装置２Ａへ送出する。その試験オーダを受
信すると試験制御装置２Ａにおけるプロセツサ２
２は、それを解析し、その試験を実行すべき試験
器１ｋ（１ｋｎ）を決定すると共に、該試験
器１ｋが障害中または使用中でないことを自らの
有する試験器実行管理テーブルにより確認する。
入力すると、中央処理装置３はその試験コマンド
に対応する試験オーダをバスルート等を通して試
験制御装置２Ａへ送出する。その試験オーダを受
信すると試験制御装置２Ａにおけるプロセツサ２
２は、それを解析し、その試験を実行すべき試験
器１ｋ（１ｋｎ）を決定すると共に、該試験
器１ｋが障害中または使用中でないことを自らの
有する試験器実行管理テーブルにより確認する。
試験器１ｋが障害中でなく、かつ使用中でなけ
れば、試験制御装置２Ａは試験器実行管理テーブ
ルにおける試験器１ｋに使用中表示を立てると共
に試験器１ｋに試験実行コマンドを送出する。試
験器１ｋが障害中または使用中であれば、試験制
御装置２Ａは中央処理装置３へ試験実行不可の旨
のアンサを返す。中央処理装置３は入出力装置４
を通してその旨のメツセージを出力することによ
り保守者に通知する。
れば、試験制御装置２Ａは試験器実行管理テーブ
ルにおける試験器１ｋに使用中表示を立てると共
に試験器１ｋに試験実行コマンドを送出する。試
験器１ｋが障害中または使用中であれば、試験制
御装置２Ａは中央処理装置３へ試験実行不可の旨
のアンサを返す。中央処理装置３は入出力装置４
を通してその旨のメツセージを出力することによ
り保守者に通知する。
試験器１ｋは試験を終了すると、試験制御装置
２Ａへ試験結果コマンドを送信する。これを受信
すると試験制御装置２Ａは実行管理テーブルにお
ける試験器１ｋを空表示とすると共に試験結果を
編集して、アンサとして中央処理装置３へ返す。
中央処理装置３は、入出力装置４を通して受信し
た試験結果を出力する。このシーケンスを第４図
に示す。
２Ａへ試験結果コマンドを送信する。これを受信
すると試験制御装置２Ａは実行管理テーブルにお
ける試験器１ｋを空表示とすると共に試験結果を
編集して、アンサとして中央処理装置３へ返す。
中央処理装置３は、入出力装置４を通して受信し
た試験結果を出力する。このシーケンスを第４図
に示す。
試験制御装置２Ａは試験器１ｋに試験実行コマ
ンドを送出すると同時に、試験器１ｋの試験所要
時間をもとにしたタイムアウト時間を設定する。
そしてタイムアウト時間を過ぎても試験器１ｋか
らの試験結果コマンドを受信しない場合、または
受信した試験結果コマンド等が異常と判断された
場合、試験制御装置２Ａはリトライ処理として、
再度、試験器１ｋに試験実行コマンドを送出し同
様の処理を行なう。
ンドを送出すると同時に、試験器１ｋの試験所要
時間をもとにしたタイムアウト時間を設定する。
そしてタイムアウト時間を過ぎても試験器１ｋか
らの試験結果コマンドを受信しない場合、または
受信した試験結果コマンド等が異常と判断された
場合、試験制御装置２Ａはリトライ処理として、
再度、試験器１ｋに試験実行コマンドを送出し同
様の処理を行なう。
あらかじめ設定した回数だけリトライを行なつ
ても試験異常となる場合、試験制御装置２Ａは自
らの試験器実行管理テーブルにおいて試験器１ｋ
の障害中表示を立てると共に、中央処理装置３に
その旨を通知する。これにより、中央処理装置３
は入出力装置４を通して保守者に障害を通知す
る。
ても試験異常となる場合、試験制御装置２Ａは自
らの試験器実行管理テーブルにおいて試験器１ｋ
の障害中表示を立てると共に、中央処理装置３に
その旨を通知する。これにより、中央処理装置３
は入出力装置４を通して保守者に障害を通知す
る。
なお、障害中表示を持たない試験器実行管理テ
ーブルの場合には、試験中表示を立てたままにす
ることにより代替することも可能である。試験器
障害時のシーケンスを第５図に、また、試験制御
装置２Ａの試験器制御手順を第６図に示す。
ーブルの場合には、試験中表示を立てたままにす
ることにより代替することも可能である。試験器
障害時のシーケンスを第５図に、また、試験制御
装置２Ａの試験器制御手順を第６図に示す。
試験制御装置２Ａはこの後、試験器１ｋ以外の
使用可能な試験器を検索、捕捉して再度試験実施
コマンドを送出することも、中央処理装置３から
の次のオーダを待つようにすることも可能であ
る。
使用可能な試験器を検索、捕捉して再度試験実施
コマンドを送出することも、中央処理装置３から
の次のオーダを待つようにすることも可能であ
る。
このように、試験制御装置２Ａに試験器の実行
管理機能を持たせることにより、試験器の障害発
見時、保守者を煩わせることなく速やかにそれを
自動閉塞することが可能となる。
管理機能を持たせることにより、試験器の障害発
見時、保守者を煩わせることなく速やかにそれを
自動閉塞することが可能となる。
以上説明したように本発明によれば、試験器が
障害発生中であると判断した時点で速やかに保守
者の手を煩わすことなく、その試験器だけを障害
中または試験中という形で自動的に閉塞できるの
で、従来技術の欠点を全て解消できるという利点
がある。
障害発生中であると判断した時点で速やかに保守
者の手を煩わすことなく、その試験器だけを障害
中または試験中という形で自動的に閉塞できるの
で、従来技術の欠点を全て解消できるという利点
がある。
第１図は試験器閉塞方式の従来例を示すブロツ
ク図、第２図は第１図に示した閉塞方式の動作シ
ーケンスを示す説明図、第３図は本発明の一実施
例を示すブロツク図、第４図は本発明の一実施例
の試験器の正常時の動作シーケンスを示す説明
図、第５図は同じく試験器障害時の動作シーケン
スを示す説明図、第６図は本発明の実施例におけ
る試験制御装置の試験器制御手順を示す流れ図、
である。 符号説明、１１〜１ｎ……試験器、２，２Ａ…
…試験制御装置、２１１〜２１ｎ……試験器イン
タフエース装置、２２……プロセツサ、２３……
バスインタフエース装置、３……中央処理装置、
３１……バス制御装置、３２……プロセツサ、３
３……入出力制御装置、４……入出力装置。
ク図、第２図は第１図に示した閉塞方式の動作シ
ーケンスを示す説明図、第３図は本発明の一実施
例を示すブロツク図、第４図は本発明の一実施例
の試験器の正常時の動作シーケンスを示す説明
図、第５図は同じく試験器障害時の動作シーケン
スを示す説明図、第６図は本発明の実施例におけ
る試験制御装置の試験器制御手順を示す流れ図、
である。 符号説明、１１〜１ｎ……試験器、２，２Ａ…
…試験制御装置、２１１〜２１ｎ……試験器イン
タフエース装置、２２……プロセツサ、２３……
バスインタフエース装置、３……中央処理装置、
３１……バス制御装置、３２……プロセツサ、３
３……入出力制御装置、４……入出力装置。
Claims (1)
- １ 交換システム側から試験オーダを与えられる
と、該オーダに基いて対象試験器を決定して該試
験器に試験実行コマンドを送出するようにした試
験制御装置において、前記コマンドの送出後、一
定の時限を設定し、該時限内に試験結果が前記試
験器から受信されないときは、そのことに基いて
前記試験器を自動閉塞するようにしたことを特徴
とする試験器自動閉塞方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17644183A JPS6068754A (ja) | 1983-09-26 | 1983-09-26 | 試験器自動閉塞方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17644183A JPS6068754A (ja) | 1983-09-26 | 1983-09-26 | 試験器自動閉塞方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6068754A JPS6068754A (ja) | 1985-04-19 |
| JPH0256869B2 true JPH0256869B2 (ja) | 1990-12-03 |
Family
ID=16013756
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17644183A Granted JPS6068754A (ja) | 1983-09-26 | 1983-09-26 | 試験器自動閉塞方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6068754A (ja) |
-
1983
- 1983-09-26 JP JP17644183A patent/JPS6068754A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6068754A (ja) | 1985-04-19 |
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