JPH0258028A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
- Publication number
- JPH0258028A JPH0258028A JP63208301A JP20830188A JPH0258028A JP H0258028 A JPH0258028 A JP H0258028A JP 63208301 A JP63208301 A JP 63208301A JP 20830188 A JP20830188 A JP 20830188A JP H0258028 A JPH0258028 A JP H0258028A
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- JP
- Japan
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- thin film
- signal line
- liquid crystal
- electrode
- drain electrode
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、液晶表示装置、特に、アクティブ・マトリッ
クス方式で構成される液晶表示装置に適用して有効な技
術に関するものである。
クス方式で構成される液晶表示装置に適用して有効な技
術に関するものである。
アクティブ・マトリックス方式の液晶表示装置はマトリ
ックス状に複数の画素を配置している。
ックス状に複数の画素を配置している。
各画素は、水平方向に延在する複数の走査信号線(ゲー
ト信号線)とそれと交差する垂直方向に延在する複数の
映像信号線(ドレイン信号線)とで周囲を囲まれた領域
内に配置されている。
ト信号線)とそれと交差する垂直方向に延在する複数の
映像信号線(ドレイン信号線)とで周囲を囲まれた領域
内に配置されている。
前記各画素は特開昭60−261173号公報に記載さ
れるように縦型薄膜トランジスタ(TPT)と画素電極
との直列回路で構成されている。
れるように縦型薄膜トランジスタ(TPT)と画素電極
との直列回路で構成されている。
縦型薄膜トランジスタは、ドレイン電極上に半導体層、
ソース電極を順次積層し、前記半導体層の周囲を取り囲
むようにゲート絶縁膜を介してリング状のゲート電極が
設けられている。ドレイン電極は映像信号線に接続され
ている。ソース電極は画素電極に接続されている。ゲー
ト電極は走査信号線に接続されている。
ソース電極を順次積層し、前記半導体層の周囲を取り囲
むようにゲート絶縁膜を介してリング状のゲート電極が
設けられている。ドレイン電極は映像信号線に接続され
ている。ソース電極は画素電極に接続されている。ゲー
ト電極は走査信号線に接続されている。
この縦型薄膜トランジスタは、リング状のゲート電極に
沿ってチャネル領域が形成されるので、チャネル幅を増
加し、駆動能力を向上することができる。したがって、
縦型薄膜トランジスタは小型化することができるので、
液晶表示装置は開口率を向上できる特徴がある。
沿ってチャネル領域が形成されるので、チャネル幅を増
加し、駆動能力を向上することができる。したがって、
縦型薄膜トランジスタは小型化することができるので、
液晶表示装置は開口率を向上できる特徴がある。
前記液晶表示装置の各画素の縦型薄膜トランジスタは、
チャネル長(ゲート長)を規定するゲート電極の膜厚や
半導体層の膜厚が製造プロセスによってばらつきを生じ
易い。このため、縦型薄膜トランジスタは均一なトラン
ジスタ特性を得ることができないという問題点があった
。
チャネル長(ゲート長)を規定するゲート電極の膜厚や
半導体層の膜厚が製造プロセスによってばらつきを生じ
易い。このため、縦型薄膜トランジスタは均一なトラン
ジスタ特性を得ることができないという問題点があった
。
また、前述の液晶表示装置は、縦型薄膜トランジスタの
ドレイン電極−ゲート電極間或は映像信号線−走査信号
線間が短絡し易く、短絡した場合には線欠陥が生じるの
で1表示品質が低下するという問題点があった。さらに
、前記縦型薄膜トランジスタのドレイン電極−ゲート電
極間が短絡した場合、この画素を映像信号線から切断し
て線欠陥を回避することが可能であるが、点欠陥は回避
することができないので、やはり表示品質が低下すると
いう問題点があった。
ドレイン電極−ゲート電極間或は映像信号線−走査信号
線間が短絡し易く、短絡した場合には線欠陥が生じるの
で1表示品質が低下するという問題点があった。さらに
、前記縦型薄膜トランジスタのドレイン電極−ゲート電
極間が短絡した場合、この画素を映像信号線から切断し
て線欠陥を回避することが可能であるが、点欠陥は回避
することができないので、やはり表示品質が低下すると
いう問題点があった。
本発明の目的は、液晶表示装置において、画素の薄膜ト
ランジスタのトランジスタ特性を均一化すると共に、薄
膜トランジスタを小型化して開口率を向上することが可
能な技術を提供することにある。
ランジスタのトランジスタ特性を均一化すると共に、薄
膜トランジスタを小型化して開口率を向上することが可
能な技術を提供することにある。
本発明の他の目的は、前記液晶表示装置において、前記
目的に加えて1点欠陥及び線欠陥を低減し1表示品質を
向上することが可能な技術を提供することにある。
目的に加えて1点欠陥及び線欠陥を低減し1表示品質を
向上することが可能な技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は1本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
(1)液晶表示装置において、薄膜トランジスタを横型
で構成し、この横型薄膜トランジスタのドレイン電極(
又はソース電極)の周囲を取り囲むようにソース電極(
又はドレイン電極)を構成する。
で構成し、この横型薄膜トランジスタのドレイン電極(
又はソース電極)の周囲を取り囲むようにソース電極(
又はドレイン電極)を構成する。
(2)前記横型薄膜トランジスタの映像信号線に接続さ
れるドレイン電極を複数に分割する。
れるドレイン電極を複数に分割する。
(3)前記横型薄膜トランジスタのドレイン電極、ソー
ス電極の夫々は走査信号線と映像信号線との間に設けら
れた導電層で形成し、かつ前記ドレイン電極は映像信号
線と電気的に接続する。
ス電極の夫々は走査信号線と映像信号線との間に設けら
れた導電層で形成し、かつ前記ドレイン電極は映像信号
線と電気的に接続する。
上述した手段(1)によれば、前記薄膜トランジスタの
チャネル長はばらつきの小さいエツチング加工で規定さ
れるので、トランジスタ特性を均一化することができる
と共に、前記薄膜トランジスタのチャネル幅を大きくし
駆動能力を増加し。
チャネル長はばらつきの小さいエツチング加工で規定さ
れるので、トランジスタ特性を均一化することができる
と共に、前記薄膜トランジスタのチャネル幅を大きくし
駆動能力を増加し。
薄膜トランジスタを小型化することができるので、画素
電極の平面サイズを増加し、開口率を向上する柔とがで
きる。
電極の平面サイズを増加し、開口率を向上する柔とがで
きる。
上述した手段(2)によれば、前記薄膜トランジスタの
複数のうちの1つのドレイン電極又はソース電極とゲー
ト電極との間が短絡した場合、その短絡個所のドレイン
電極又はソース電極と映像信号線との間を切断してもそ
の他の部分が正常に機能するので、液晶表示装置の線欠
陥及び点欠陥を低減し、表示品質を向上することができ
る。
複数のうちの1つのドレイン電極又はソース電極とゲー
ト電極との間が短絡した場合、その短絡個所のドレイン
電極又はソース電極と映像信号線との間を切断してもそ
の他の部分が正常に機能するので、液晶表示装置の線欠
陥及び点欠陥を低減し、表示品質を向上することができ
る。
上述した手段(3)によれば、前記走査信号線と映像信
号線との間に少なくとも2層の絶縁膜を介在させ、両者
の交差部分での短絡する確率を低減することができるの
で、液晶表示装置の線欠陥を低減し1表示品質を向上す
ることができる。また、走査信号線と映像信号線との間
に形成される静電容量を低減することができる。
号線との間に少なくとも2層の絶縁膜を介在させ、両者
の交差部分での短絡する確率を低減することができるの
で、液晶表示装置の線欠陥を低減し1表示品質を向上す
ることができる。また、走査信号線と映像信号線との間
に形成される静電容量を低減することができる。
以下1本発明の構成について、アクティブ・マトリック
ス方式を採用する液晶表示装置に本発明を適用した一実
施例とともに説明する。
ス方式を採用する液晶表示装置に本発明を適用した一実
施例とともに説明する。
なお、実施例を説明するための全図において、同−機能
を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は
省略する。
を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は
省略する。
(実施例I)
本発明の実施例Iである液晶表示装置の液晶表示部の一
画素を第2図(要部平面図)で示し、第2図の1−1切
断線で切った断面を第1図で示す。
画素を第2図(要部平面図)で示し、第2図の1−1切
断線で切った断面を第1図で示す。
第1図及び第2図に示すように、液晶表示装置は、1.
1 [1mm1程度の厚さを有する下部透明ガラス基板
SUB 1の内側(液晶側)の表面上に、横型薄膜トラ
ンジスタTPTを有している。横型薄膜トランジスタT
PTは、主に、ゲート電極GT、ゲート絶縁膜として使
用される絶縁膜(JI、チャネル形成領域として使用さ
れるi型半導体層AS、ソース電極(又はドレイン電1
)SDI、ドレイン電極(又はソース電極)SD2で構
成されている。
1 [1mm1程度の厚さを有する下部透明ガラス基板
SUB 1の内側(液晶側)の表面上に、横型薄膜トラ
ンジスタTPTを有している。横型薄膜トランジスタT
PTは、主に、ゲート電極GT、ゲート絶縁膜として使
用される絶縁膜(JI、チャネル形成領域として使用さ
れるi型半導体層AS、ソース電極(又はドレイン電1
)SDI、ドレイン電極(又はソース電極)SD2で構
成されている。
前記グー1〜電極GTは、例えばスパッタ法で堆積した
Cr膜g1.を用い、約1000[人]程度の膜厚で形
成されている。ゲート電極GTは、走査信号線(ゲート
信号線又は水平信号線)GLと同一製造工程(同一導電
層)で形成され、走査信号線GLに一体化されている。
Cr膜g1.を用い、約1000[人]程度の膜厚で形
成されている。ゲート電極GTは、走査信号線(ゲート
信号線又は水平信号線)GLと同一製造工程(同一導電
層)で形成され、走査信号線GLに一体化されている。
走査信号線GLは前記CP膜gl上にA Q (A n
−S i )膜g2を積層した複合膜で形成されてい
る。Aff膜g2は、スパッタ法で堆積し、約1000
[人]程度の膜厚で形成する。このAI2膜g2は走査
信号線GLの抵抗値を低減するように構成されている。
−S i )膜g2を積層した複合膜で形成されてい
る。Aff膜g2は、スパッタ法で堆積し、約1000
[人]程度の膜厚で形成する。このAI2膜g2は走査
信号線GLの抵抗値を低減するように構成されている。
走査信号線GLは、第1図に示すように水平方向に延在
しており1図示していないが垂直方向に複数本配置され
ている。
しており1図示していないが垂直方向に複数本配置され
ている。
絶縁膜GIはゲート電極GT及び走査信号線GLの上層
に形成されている。絶縁膜GIは、例えばプラズマCV
D法で堆積させた窒化珪素膜を用い、約3000[人]
程度の膜厚で形成されている。
に形成されている。絶縁膜GIは、例えばプラズマCV
D法で堆積させた窒化珪素膜を用い、約3000[人]
程度の膜厚で形成されている。
i型半導体層Asはゲート絶縁膜G1の上層に鳥形状で
構成されている。i型半導体層ASは、CVD法で堆積
させた非晶質珪素膜又は多結晶珪素膜で形成し、約25
00[人コ程度の膜厚で形成されている。i型半導体層
ASは主に横型薄膜トランジスタTPTのチャネル形成
領域として使用されている。
構成されている。i型半導体層ASは、CVD法で堆積
させた非晶質珪素膜又は多結晶珪素膜で形成し、約25
00[人コ程度の膜厚で形成されている。i型半導体層
ASは主に横型薄膜トランジスタTPTのチャネル形成
領域として使用されている。
ソース電極SD1. ドレイン電極SD2の夫々はi
型半導体層As上に夫々離隔して設けられている。ソー
ス電極SDIとドレイン電極SD2とは回路のバイアス
極性が変ると動作上ソースとドレインが入れ替わる。つ
まり、横型薄膜トランジスタTPTは絶縁ゲート型電界
効果トランジスタFETと同様に双方向性で構成されて
いる。
型半導体層As上に夫々離隔して設けられている。ソー
ス電極SDIとドレイン電極SD2とは回路のバイアス
極性が変ると動作上ソースとドレインが入れ替わる。つ
まり、横型薄膜トランジスタTPTは絶縁ゲート型電界
効果トランジスタFETと同様に双方向性で構成されて
いる。
ソース電極SD1. ドレイン電極SD2の夫々は、
同一製造工程で形成されており、例えばi型半導体層A
Sに接触する下層側から、n゛゛半導体層(図示しない
)、Cr膜を順次積層した複合膜で構成されている。n
゛゛半導体層は、非晶質珪素膜又は多結晶珪素膜で形成
され、約500[人]程度の膜厚で形成されている。n
゛型型半体体層、i型半導体層ASとCr膜との接触抵
抗値を低減するように構成されている。Cr膜は1例え
ばスパッタ法で堆積し、600[人]程度の膜厚で形成
する。
同一製造工程で形成されており、例えばi型半導体層A
Sに接触する下層側から、n゛゛半導体層(図示しない
)、Cr膜を順次積層した複合膜で構成されている。n
゛゛半導体層は、非晶質珪素膜又は多結晶珪素膜で形成
され、約500[人]程度の膜厚で形成されている。n
゛型型半体体層、i型半導体層ASとCr膜との接触抵
抗値を低減するように構成されている。Cr膜は1例え
ばスパッタ法で堆積し、600[人]程度の膜厚で形成
する。
ソース電極SDI、ドレイン電極SD2の夫々は前述の
ようにi型半導体層As上に平面的に配置され、映像信
号はl型半導体層ASの表面を横方向(水平方向)に流
れるので、この薄膜トランジスタTPTは横型で構成さ
れている。横型薄膜トランジスタTPTはソース電極S
DI、ドレイン電極SD2の夫々をエツチング加工でパ
ターンニングしチャネル長(ゲート長)を高精度で規定
することができるので、この加工精度は縦型薄膜トラン
ジスタのそれに比べて高く、又製造上容易に得ることが
できる。つまり、横型薄膜トランジスタTPTは、縦型
薄膜トランジスタに比べてトランジスタ特性を均一化す
ることができる。
ようにi型半導体層As上に平面的に配置され、映像信
号はl型半導体層ASの表面を横方向(水平方向)に流
れるので、この薄膜トランジスタTPTは横型で構成さ
れている。横型薄膜トランジスタTPTはソース電極S
DI、ドレイン電極SD2の夫々をエツチング加工でパ
ターンニングしチャネル長(ゲート長)を高精度で規定
することができるので、この加工精度は縦型薄膜トラン
ジスタのそれに比べて高く、又製造上容易に得ることが
できる。つまり、横型薄膜トランジスタTPTは、縦型
薄膜トランジスタに比べてトランジスタ特性を均一化す
ることができる。
前記ソース電極SDIは、第1図及び第2図に示すよう
に、ドレイン電極SD2の周囲を取り囲むように配置さ
れている。具体的には、ソース電極SDIは、平面形状
が方形状に形成されたドレイン電極SD2の周囲と所定
の寸法(チャネル長)を持って離隔し、ドレイン電極S
D2の周囲に沿って構成されている。このように構成さ
れる横型薄膜トランジスタTPTは、ドレイン電極SD
2の周囲に沿った長さでチャネル幅を形成することがで
きるので、チャネル幅を長くすることができる。
に、ドレイン電極SD2の周囲を取り囲むように配置さ
れている。具体的には、ソース電極SDIは、平面形状
が方形状に形成されたドレイン電極SD2の周囲と所定
の寸法(チャネル長)を持って離隔し、ドレイン電極S
D2の周囲に沿って構成されている。このように構成さ
れる横型薄膜トランジスタTPTは、ドレイン電極SD
2の周囲に沿った長さでチャネル幅を形成することがで
きるので、チャネル幅を長くすることができる。
また、前記ドレイン電極SD2は1つの画素内において
複数に分割され、分割された夫々のドレイン電極SD2
は夫々独立に同一の映像信号線DLに接続されている。
複数に分割され、分割された夫々のドレイン電極SD2
は夫々独立に同一の映像信号線DLに接続されている。
映像信号線DLはソース電極SDI及びドレイン電極S
D2の上部に層間絶縁膜ILを介在させて延在している
。映像信号線DLはMO膜dり上1cA11!(An−
Si)膜d2を積層した複合膜で形成されている。MO
膜膜上1、スパッタ法で堆積させ、約1000[人コ程
度の膜厚で形成されている。A4膜d2は、スパッタ法
で堆積させ、3500[入コ程度の膜厚で形成されてい
る。AQ膜d2は映像信号線DLの抵抗値を低減するよ
うに構成されている。映像信号線DLは第1図に示すよ
うに走査信号線GLと交差する垂直方向に延在し、図示
していないが水平方向に複数本配置されている。前記ド
レイン電極SD2には、層間絶縁膜ILに形成された接
続孔THを通して映像信号線DLのMO膜膜上1接続さ
れている。前記層間絶縁膜ILは、例えばプラズマCV
D法で堆積させた窒化珪素膜を用い、約100oOロ人
コ程度の膜厚で形成されている。
D2の上部に層間絶縁膜ILを介在させて延在している
。映像信号線DLはMO膜dり上1cA11!(An−
Si)膜d2を積層した複合膜で形成されている。MO
膜膜上1、スパッタ法で堆積させ、約1000[人コ程
度の膜厚で形成されている。A4膜d2は、スパッタ法
で堆積させ、3500[入コ程度の膜厚で形成されてい
る。AQ膜d2は映像信号線DLの抵抗値を低減するよ
うに構成されている。映像信号線DLは第1図に示すよ
うに走査信号線GLと交差する垂直方向に延在し、図示
していないが水平方向に複数本配置されている。前記ド
レイン電極SD2には、層間絶縁膜ILに形成された接
続孔THを通して映像信号線DLのMO膜膜上1接続さ
れている。前記層間絶縁膜ILは、例えばプラズマCV
D法で堆積させた窒化珪素膜を用い、約100oOロ人
コ程度の膜厚で形成されている。
前記ソース電極SDIには、画素毎に設けられた透明電
極(画素電極)IrO2が接続されている。
極(画素電極)IrO2が接続されている。
透明電極I’TOIは、液晶表示部の画素電極の一方を
構成する。透明電極IT○1は、絶縁膜GI上に設けら
れており、例えばスパッタ法で堆積され、1200[人
]程度の膜厚で形成されている。
構成する。透明電極IT○1は、絶縁膜GI上に設けら
れており、例えばスパッタ法で堆積され、1200[人
]程度の膜厚で形成されている。
前記横型薄膜トランジスタTPT及び透明電極ITOI
上には保護膜PSVIが設けられている。
上には保護膜PSVIが設けられている。
保護膜PSVIは、主に横型薄膜トランジスタTPTを
湿気等から保護するために形成されており、透明性が高
くしかも耐湿性の良いものを使用する。
湿気等から保護するために形成されており、透明性が高
くしかも耐湿性の良いものを使用する。
保護膜PSVIは、例えばプラズマCVD法で堆積した
酸化珪素膜や窒化珪素膜で形成され、8000[人]程
度の膜厚で形成されている。
酸化珪素膜や窒化珪素膜で形成され、8000[人]程
度の膜厚で形成されている。
薄膜トランジスタTFT上の保護膜PSVIの上部には
、外部光がチャネル形成領域として使用されるl型半導
体層ASに入射されないように、遮光膜LSが設けられ
ている。遮光膜LSは、光に対する遮光性が高くしかも
導電性を有するように例えばAQ膜(或はA fl −
S i 、 A Q −Cu 。
、外部光がチャネル形成領域として使用されるl型半導
体層ASに入射されないように、遮光膜LSが設けられ
ている。遮光膜LSは、光に対する遮光性が高くしかも
導電性を有するように例えばAQ膜(或はA fl −
S i 、 A Q −Cu 。
Cr膜等)で形成されており、スパッタ法で堆積し10
00〜4000[人]程度の膜厚で形成されている。
00〜4000[人]程度の膜厚で形成されている。
液晶LCは、下部透明ガラス基板SUB 1と上部透明
ガラス基板5UB2との間に形成された空間内に、液晶
分子の向きを設定する下部配向膜○RII及び上部配向
11iJORI2に規定され、封入されている。
ガラス基板5UB2との間に形成された空間内に、液晶
分子の向きを設定する下部配向膜○RII及び上部配向
11iJORI2に規定され、封入されている。
下部配向膜0RIIは下部透明ガラス基板5UBl側の
保護膜psviの上部に形成される。
保護膜psviの上部に形成される。
上部透明ガラス基板5UB2の内側(液晶側)の表面に
は、カラーフィルタFIL、保護[PSV2、共通透明
電極(共通画素電極)IrO2及び前記上部配向膜○R
I2が順次積層して設けられている。
は、カラーフィルタFIL、保護[PSV2、共通透明
電極(共通画素電極)IrO2及び前記上部配向膜○R
I2が順次積層して設けられている。
重訳共通透明電極IT○2は、下部透明ガラス基板SU
B i側に画素毎に設けられた透明電極ITOIに対向
し、隣接する他の共通透明電極IT○2と一体に構成さ
れている。
B i側に画素毎に設けられた透明電極ITOIに対向
し、隣接する他の共通透明電極IT○2と一体に構成さ
れている。
カラーフィルタFILは、アクリル樹脂等の樹脂材料で
形成される染色基材を各画素毎に染料で染め分けること
により形成されている。染料の染め分けは、フォトリソ
グラフィ技術を用いて行っている。
形成される染色基材を各画素毎に染料で染め分けること
により形成されている。染料の染め分けは、フォトリソ
グラフィ技術を用いて行っている。
保護膜PSV2は、前記カラーフィルタFILを異なる
色に染め分けた染料が液晶LCに漏れることを防止する
ために設けられている。保護膜PSV2は、例えば、ア
クリル樹脂、エポキシ樹脂等の透明樹脂材料で形成され
ている。
色に染め分けた染料が液晶LCに漏れることを防止する
ために設けられている。保護膜PSV2は、例えば、ア
クリル樹脂、エポキシ樹脂等の透明樹脂材料で形成され
ている。
この液晶表示装置は、下部透明ガラス基板5UBl側、
上部透明ガラス基板5UB2側の夫々の層を別々に形成
し、その後、上下透明ガラス基板SUB 1及び5UB
2を重ね合せ、両者間に液晶LCを封入することによっ
て組み立てられる。
上部透明ガラス基板5UB2側の夫々の層を別々に形成
し、その後、上下透明ガラス基板SUB 1及び5UB
2を重ね合せ、両者間に液晶LCを封入することによっ
て組み立てられる。
下部透明ガラス基板SUB 1、上部透明ガラス基板5
UB2の夫々の外側の表面には偏光板P○Lが形成され
ている。
UB2の夫々の外側の表面には偏光板P○Lが形成され
ている。
このように、液晶表示装置において、薄膜トランジスタ
TPTを横型で構成し、この横型薄膜トランジスタのド
レイン電極SD2の周囲を取り囲むようにソース電極S
DIを構成することにより、前記横型薄膜トランジスタ
TPTのチャネル長はばらつきの小さいエツチング加工
で規定されるので、トランジスタ特性を均一化すること
ができると共に、前記横型薄膜トランジスタTPTのチ
ャネル幅を大きくし駆動能力を増加し、横型薄膜トラン
ジスタを小型化することができるので、透明電極IT○
1の平面サイズを増加し、開口率を向上することができ
る。
TPTを横型で構成し、この横型薄膜トランジスタのド
レイン電極SD2の周囲を取り囲むようにソース電極S
DIを構成することにより、前記横型薄膜トランジスタ
TPTのチャネル長はばらつきの小さいエツチング加工
で規定されるので、トランジスタ特性を均一化すること
ができると共に、前記横型薄膜トランジスタTPTのチ
ャネル幅を大きくし駆動能力を増加し、横型薄膜トラン
ジスタを小型化することができるので、透明電極IT○
1の平面サイズを増加し、開口率を向上することができ
る。
また、前記横型薄膜トランジスタTPTの映像信号線D
Lに接続されるドレイン電極SD2を複数に分割(本
実施例では3つだがこれに限定されない)することによ
り、前記横型薄膜トランジスタTPTの複数のうちの1
つのドレイン准極SD2とゲート電極GTとの間が短絡
した場合、その短絡個所のドレイン電極SD2と映像信
号線DLとの間を切断してもその他の部分が正常に機能
する(SD2−GTが絶縁分離されている)ので、液晶
表示装置の線欠陥及び点欠陥を低減し、表示品質を向上
することができる。前記ドレイン電極SD2と映像信号
線DLとの切断は、フォトリソグラフィ技術を用いたエ
ツチング、レーザビームを用いた溶断等によって行う。
Lに接続されるドレイン電極SD2を複数に分割(本
実施例では3つだがこれに限定されない)することによ
り、前記横型薄膜トランジスタTPTの複数のうちの1
つのドレイン准極SD2とゲート電極GTとの間が短絡
した場合、その短絡個所のドレイン電極SD2と映像信
号線DLとの間を切断してもその他の部分が正常に機能
する(SD2−GTが絶縁分離されている)ので、液晶
表示装置の線欠陥及び点欠陥を低減し、表示品質を向上
することができる。前記ドレイン電極SD2と映像信号
線DLとの切断は、フォトリソグラフィ技術を用いたエ
ツチング、レーザビームを用いた溶断等によって行う。
また、前記横型薄膜トランジスタTPTのドレイン電極
SD2、ソース電極SDIの夫々を走査信号線GLと映
像信号線DLとの間に設けられた導電層で形成し、かつ
前記ドレイン電極SD2を映像信号線DLと電気的に接
続することにより、前記走査信号線OLと映像信号線D
Lとの間に少なくとも2層の絶縁膜GT及びILを介在
させ。
SD2、ソース電極SDIの夫々を走査信号線GLと映
像信号線DLとの間に設けられた導電層で形成し、かつ
前記ドレイン電極SD2を映像信号線DLと電気的に接
続することにより、前記走査信号線OLと映像信号線D
Lとの間に少なくとも2層の絶縁膜GT及びILを介在
させ。
走査信号線GLと映像信号線DLとの交差部(クロスオ
ーバ部)での短絡する確率を低減することができるので
、液晶表示装置の線欠陥を低減し。
ーバ部)での短絡する確率を低減することができるので
、液晶表示装置の線欠陥を低減し。
表示品質を向上することができる。また、走査信号線G
Lと映像信号線DLとの間に形成される静電容量を低減
することができる。
Lと映像信号線DLとの間に形成される静電容量を低減
することができる。
(実施例■)
本実施例■は、前記液晶表示装置において、横型薄膜ト
ランジスタのソース電極、ドレイン電極の夫々と映像信
号線とを同一製造工程で形成した。
ランジスタのソース電極、ドレイン電極の夫々と映像信
号線とを同一製造工程で形成した。
本発明の第2実施例である。
本発明の実施例Hである液晶表示装置の液晶表示部の一
画素を第3図(要部平面図)で示し、第3図のrV−m
V切断線で切った断面を第4図で示す。
画素を第3図(要部平面図)で示し、第3図のrV−m
V切断線で切った断面を第4図で示す。
本実施例Hの液晶表示装置は、各画素の横型薄膜トラン
ジスタTPTのソース電極SDI、ドレイン電極SD2
の夫々と映像信号線DLとが同一製造工程で形成されて
いる。つまり、ソース電極SDI、ドレイン電極SD2
の夫々はMO膜d1で形成されている。映像信号線DL
はMO膜d1及びその上部に積層されたAQ膜d2から
なる複合膜で形成されている。したがって、横型薄膜ト
ランジスタTPTのソース電極SDIは、ドレイン領域
SD2の周囲の一部を除きその大半を取り囲むように構
成されている。
ジスタTPTのソース電極SDI、ドレイン電極SD2
の夫々と映像信号線DLとが同一製造工程で形成されて
いる。つまり、ソース電極SDI、ドレイン電極SD2
の夫々はMO膜d1で形成されている。映像信号線DL
はMO膜d1及びその上部に積層されたAQ膜d2から
なる複合膜で形成されている。したがって、横型薄膜ト
ランジスタTPTのソース電極SDIは、ドレイン領域
SD2の周囲の一部を除きその大半を取り囲むように構
成されている。
このように構成される液晶表示装置は、前記実施例■と
同様の効果を奏することができると共に。
同様の効果を奏することができると共に。
製造工程数を低減することができる効果を奏することが
できる。
できる。
(実施例■)
本実施例■は、前記液晶表示装置の横型薄膜1−ランジ
スタのソース電極、ドレイン電極の夫々を他の形状で構
成した1本発明の第3実施例である。
スタのソース電極、ドレイン電極の夫々を他の形状で構
成した1本発明の第3実施例である。
本発明の実施例■である液晶表示装置の各画素の簿膜ト
ランジスタのソース電極及びドレイン電極を第5図乃至
第7図(要部概略平面図)で示す。
ランジスタのソース電極及びドレイン電極を第5図乃至
第7図(要部概略平面図)で示す。
第5図に示す横型薄膜トランジスタT P Tのソース
電極SDI、ドレイン電極SD2の夫々は平面形状を円
形状で構成している。
電極SDI、ドレイン電極SD2の夫々は平面形状を円
形状で構成している。
第6図に示す横型薄膜トランジスタTPTのソース電極
SD1、ドレイン電極SD2の夫々は平面形状を海星形
状で構成している。
SD1、ドレイン電極SD2の夫々は平面形状を海星形
状で構成している。
第7図に示す横型薄膜トランジスタTPTのソース電極
SDI、ドレイン電極SD2の夫々は平面形状を渦巻形
状で構成している。
SDI、ドレイン電極SD2の夫々は平面形状を渦巻形
状で構成している。
いずれの場合においても横型薄膜トランジスタTPTの
チャネル幅を増大することができるので、前記実施例■
と同様の効果を奏することができる。
チャネル幅を増大することができるので、前記実施例■
と同様の効果を奏することができる。
以上、本発明者によってなされた発明を、前記実施例に
基づき具体的に説明したが、本発明は、前記実施例に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲にお
いて種々変更可能であることは勿論である。
基づき具体的に説明したが、本発明は、前記実施例に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲にお
いて種々変更可能であることは勿論である。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。
液晶表示装置において、画素の薄膜トランジスタのトラ
ンジスタ特性を均一化すると共に、薄膜トランジスタを
小型化して開口率を向上することができる。
ンジスタ特性を均一化すると共に、薄膜トランジスタを
小型化して開口率を向上することができる。
また、前記液晶表示装置において、点欠陥及び線欠陥を
低減し、表示品質を向上することができる。
低減し、表示品質を向上することができる。
第1図は、本発明の実施例Iである液晶表示装置の液晶
表示部の一画素を示す要部断面図、第2図は、前記画素
の平面図、 第3図は、本発明の実施例■である液晶表示装置の液晶
表示部の一画素を示す要部平面図、第4図は、前記画素
の要部断面図、 第5図乃至第7図は、本発明の実施例■である液晶表示
装置の各画素の薄膜トランジスタのソース電極及びドレ
イン電極を示す要部概略平面図である。 図中、SUB・・・透明ガラス基板、GL・・・走査信
号線、DL・・・映像信号線、GI・・・絶縁膜、GT
・・・ゲート電極、AS・・・i型半導体層、SDI・
・・ソース電極、SD2・・・ドレイン電極、psv・
・・保護膜、LS・・遮光膜、TH・・・接続孔、LC
・・・液晶、TPT・・横型薄膜トランジスタである。 第2図 第3図
表示部の一画素を示す要部断面図、第2図は、前記画素
の平面図、 第3図は、本発明の実施例■である液晶表示装置の液晶
表示部の一画素を示す要部平面図、第4図は、前記画素
の要部断面図、 第5図乃至第7図は、本発明の実施例■である液晶表示
装置の各画素の薄膜トランジスタのソース電極及びドレ
イン電極を示す要部概略平面図である。 図中、SUB・・・透明ガラス基板、GL・・・走査信
号線、DL・・・映像信号線、GI・・・絶縁膜、GT
・・・ゲート電極、AS・・・i型半導体層、SDI・
・・ソース電極、SD2・・・ドレイン電極、psv・
・・保護膜、LS・・遮光膜、TH・・・接続孔、LC
・・・液晶、TPT・・横型薄膜トランジスタである。 第2図 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、走査信号線と映像信号線との交差部に、薄膜トラン
ジスタと画素電極との直列回路で形成された画素を配置
する液晶表示装置において、前記薄膜トランジスタを横
型で構成し、該薄膜トランジスタのドレイン電極又はソ
ース電極の周囲を取り囲むようにソース電極又はドレイ
ン電極を構成したことを特徴とする液晶表示装置。 2、前記薄膜トランジスタの映像信号線に接続されるド
レイン電極又はソース電極は複数に分割されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の液晶表示装
置。 3、前記薄膜トランジスタのドレイン電極、ソース電極
の夫々は前記走査信号線と映像信号線との間に設けられ
た導電層で形成され、かつ前記ドレイン電極又はソース
電極は映像信号線と電気的に接続されていることを特徴
とする特許請求の範囲第1項又は第2項に記載の液晶表
示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63208301A JPH0258028A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63208301A JPH0258028A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0258028A true JPH0258028A (ja) | 1990-02-27 |
Family
ID=16553985
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63208301A Pending JPH0258028A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0258028A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09501509A (ja) * | 1993-07-29 | 1997-02-10 | ハネウエル・インコーポレーテッド | シリコン・ピクセル電極 |
| JP2002215065A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-07-31 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
| JP2008005716A (ja) * | 2006-06-27 | 2008-01-17 | Nishimuragumi:Kk | 匍匐性動物の移動制御施設用部材及びこれを用いた移動制御施設 |
| JP4768078B1 (ja) * | 2010-10-29 | 2011-09-07 | ヤマト発動機株式会社 | 浮遊型消波装置 |
| JP2018157078A (ja) * | 2017-03-17 | 2018-10-04 | Necライティング株式会社 | 電界効果トランジスタおよび電子装置 |
-
1988
- 1988-08-24 JP JP63208301A patent/JPH0258028A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09501509A (ja) * | 1993-07-29 | 1997-02-10 | ハネウエル・インコーポレーテッド | シリコン・ピクセル電極 |
| JP2002215065A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-07-31 | Seiko Epson Corp | 有機エレクトロルミネッセンス装置及びその製造方法、並びに電子機器 |
| US7253433B2 (en) | 2000-11-02 | 2007-08-07 | Seiko Epson Corporation | Organic electroluminescent device, method of manufacturing the same, and electronic apparatus |
| US7718453B2 (en) | 2000-11-02 | 2010-05-18 | Seiko Epson Corporation | Organic electroluminescent device, method of manufacturing the same, and electronic apparatus |
| US7951627B2 (en) | 2000-11-02 | 2011-05-31 | Seiko Epson Corporation | Organic electroluminescent device, method of manufacturing the same, and electronic apparatus |
| JP2008005716A (ja) * | 2006-06-27 | 2008-01-17 | Nishimuragumi:Kk | 匍匐性動物の移動制御施設用部材及びこれを用いた移動制御施設 |
| JP4768078B1 (ja) * | 2010-10-29 | 2011-09-07 | ヤマト発動機株式会社 | 浮遊型消波装置 |
| JP2018157078A (ja) * | 2017-03-17 | 2018-10-04 | Necライティング株式会社 | 電界効果トランジスタおよび電子装置 |
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