JPH0262931A - レンズの最良像面位置探査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

［産業上の利用分野］ この発明は、レンズの最良像面位置探査方法に関し、さ
らに詳しくは、検査される被検レンズにおいてディフォ
ーカスに応じて変化するコントラストのピーク探査に関
する。 ［従来の技術］ 一般に、写真レンズ等の光学レンズは、その量産時にお
いては投影テストにより最終検査（性能検査）される。 この投影テストとは、検査対象レンズ（被検レンズ）に
よって投影されたチャート像を作業者か目視によりチエ
ツクして当該被検レンズの解像力を確認検査するもので
ある。 第３１図は投影テストの概要を示しており、１′は光源
としてのハロゲンランプ等のランプ、２′はランプ１′
からの光線を集光するコンデンサレンズ、３′は透過型
チャート、４′は被検レンズ、５′は投影板である。 透過型チャート３′は、透明なガラス板の表面に、大小
様々なピッチの縦線列と横線列を組合せた所定のパター
ンを、クロム等の蒸着によって光線不透過として複数描
いたものである。このパターンの線列の大小（線の輻及
びピッチ）か解像力と対応し、投影板５′上に投影され
たチャート像中で分離して見える最小ピッチの線列から
例えば１００木／■■の如く解像力か評価される。 ランプ１′からの光線は、コンデンサレンズ２′により
集光されて透過型チャート３′を背面から照光して透過
する。この透過光により形成される透過型チャート３′
の像を、被検レンズ４′によって該被検レンズ４′の焦
点距離の４０〜５０倍の位置に置かれた投影板５′上に
拡大投影する。なお、この時、被検レンズ４′によるチ
ャート像の光束の入射角度ＯＩに対してコンデンサレン
ズ２′からのチャート３′へ照光の入射角度θ２か図の
様に小さいと、被検レンズ４′が絞られた結果となるた
め、入射角θ２は充分大きくなければならない。 作業者は、被検レンズ４′の位置を光軸方向に微動調節
して上記チャート像の中心のピントを投影板５′上に合
わせた後、この投影板５′上に投影されたチャート像内
の所定位置に於る所定ピッチのチャートが分離されてい
るかどうか（換言すればチャート像内の所定位置におい
て所定の解像力を有するかどうか）を目視によって確認
し、被検レンズの良否を検査する。 しかしながら、こうした投影テストは、その作業を暗室
内て行なわなければならないため作業性か悪く、また、
被検レンズの焦点距離か長い場合には大きな暗室か必要
となり多大な設備費を要するものて、さらにはコンデン
サレンズに大口径かつ明るいものか必要てあり、チャー
ト像を目視によりチエツクするため熟練した作業者であ
っても一定以上の精度ての安定した検査は望めない、と
いった数々の不具合かあった。 このため、本出願人は先に、被検レンズを回転駆動可能
に保持するレンズ保持部と、該レンズ保持部に保持され
た被検レンズに軸上と軸外から所定ピッチの格子状チャ
ートを透過した光を入射させる光学系と、該光学系によ
る軸上および軸外光のそれぞれの光路前方に配置される
と共に被検レンズの光軸方向に移動駆動可能な検知手段
により検知されたチャート像に基づいてコントラストを
算出するコントラスト測定手段と、被検レンズの像の所
定位置におけるコントラストを測定するために上記レン
ズ保持部の回転駆動および上記コントラスト測定手段の
作動を制御する作動制御手段と、コントラスト測定手段
により測定されたコントラストを予め定められた判定基
準と比較することにより被検レンズの良否を判定する判
定部と、該判定部による判定結果を表示する表示部とに
より構成されるレンズテスタを提案した。 ［発明か解決しようとする課１１］ しかしながら、上記のようなレンズテスタにおいて、被
検レンズを高精度に定量検査するためには、当該被検レ
ンズにおけるディフォーカスに対するコントラストのピ
ーク位置すなわち最良像面位置を求める必要かあり、上
記判定部による被検レンズの良否判定を総合的なものと
するためには、この最良像面位置についても判定判断す
る必要かあった。 ［発明の目的］ この発明は、上記のような背景に鑑みてなされたもので
あり、光学レンズの最良像面位置つまり当該光学レンズ
におけるディフォーカスに対するコントラストのピーク
位置の探査を高精度かつ効率良く行なえるレンズの最良
像面位置探査方法の提供、をその目的とする。 ［課題を解決するための手段］ そのため、この発明によるレンズの最良像面位置探査方
法は、被検レンズか形成した格子チャートのチャート像
を当該被検レンズの光軸方向へステップ移動可部な検知
手段により検知し、該検知手段のステップ移動に連動し
て作動するコントラスト測定手段により上記格子チャー
トの像のコントラストを上記検知手段によるチャート像
検知結果に基づいて連続的に多数得るレンズテスタにお
いて、上記検知手段を検知作動させつつ所定量ステップ
移動させ、これに伴ない上記コントラスト測定手段から
連続的に多数得られるコントラストを当該被検レンズに
おけるディフォーカスに対するコントラストとしてそれ
らコントラストの大小比較からそのピーク位置を算出す
ると共に、該ピーク位置に応じて上記検知手段のステッ
プ移動量を減少更新して上記ディフォーカスに対するコ
ントラストの測定およびそのピーク位置の算出を複数回
行ない、これにより得た複数のピーク位置の平均を最良
像面位ｌとするものである。 なお、被検レンズか形成した格子チャートの像のコント
ラストを測定するということは、格子チャートの格子か
所定ピッチであることから、そのチャートピッチの空間
周波数における被検レンズのＭＴＦを測定していること
になる。 すなわち、ＭＴＦとは、 （ＭＴＦの概要） カメラレンズ等の光学系に光（像光）を通過させると、
その光学系の出力光（出力像）のコントラストは入力光
（入力像）のコントラストより悪くなる。このコントラ
ストの変化量は像の空間周波数に密接な関係かあり、こ
の入力像と出力像のコントラストの比を変調伝達関数（
ＭｏｄｕｌａｔｉｏｎＴｒａｎｓｆｅｒ　Ｆｕｎｃｔｉ
ｏｎ、これを略してＭＴＦと記す）という。 ＭＴＦは、ある特定の空間周波数に於て、と定義され、
コントラスト劣化関数と考えてよく、光学系の結像特性
を示すのに用いられる。 コントラストｍは、正弦波の格子を用いて測定した場合
、光像の最大光量をＩ□１．最少光量をＩ　ｓｉｎとす
ると、 １、、ｌＩ　＋１□。 と定義される。 被検レンズに入力される正弦波的に変化するチャート透
過光の最大光量１．、つと最少光量■、、、。から、上
記（２）式により被検レンズへの入力像のコントラスト
を求めることがてきるが、入力光の最少光ｉｒ−＋−は
０（零）と考えてよく、このためＭＴＦの定義式である
（１）式における入力像のコントラストはｌとなる。 従って、被検レンズにより形成される正弦波チャート像
（出力像）のコントラストを測定すれば、これは即ちチ
ャートピッチの空間周波数に於る被検レンズのＭＴＦの
値となるものである。 ＭＴＦは光学系に固有な関数であり、縦軸にコントラス
トの劣化率、横軸に空間周波数を取った直交座標上に表
すと、例えば第３２図の如く表わされる。 カメラレンズ等の光学系ては、その光学設計の時点てＭ
ＴＦは計算されて（又は製造後実測されて）把握されて
おり、又、結像面の湾曲、倒れ。 等の発生と光学系の不具合原因との因果関係も解析でき
る。 そこで、被検レンズの最も不良の出易い部位又は不良判
定の行ない易い部位に於て単一空間周波数（ｎ木ＺＩｌ
■）に於けるＭＴＦの値を調べることで当該被検レンズ
のＭＴＦを予想することかできる。即ち、例えば第３３
図に示す実線か理想（設計）ＭＴＦ曲線であって空間周
波数１本／ａｍに於るコントラストがａである時、被検
レンズにより形成される同じ空間周波数のチャート像の
コントラストがＸてあった場合、当該被検レンズのＭＴ
Ｆは想像線の如くであろうと推察できる。 又、軸上及び軸外の複数箇所に於て最大のコントラスト
の値を示す光軸方向の位置（即ち結像位置）を調べるこ
とにより、第３０図（ａ）図示の如き結像面の倒れや、
同図（ｂ）図示の如き結像面の湾曲（図はアンダー側の
湾曲を示す）等を察知できる。 従って、所定空間周波数に於る被検レンズのコントラス
トの許容値と、結像面の湾曲、倒れ１等の許容量から判
定基準値と判定基準量を適当に設定すれば、被検レンズ
の測定結果をこれら判定基準値乃至判定基準量と比較す
ることによって当該被検レンズの良否判定が可能となる
。又、結像而の湾曲、倒れ９等の発生状況から、構成レ
ンズの偏心９面形状および間隔誤差等光学系の不具合の
原因を解析できる。 なお、チャートとして正弦波チャートではなく矩形波チ
ャートを用いた場合には、測定空間周波数に高調波が含
まれてｊＩＩ数の空間周波数か混在することとなるが、
量産時等被検レンズのＭＴＦが解っている場合では高調
波分を考慮して判定基準を設定すれば良いものであり、
逆に高調波を含めた状態て像面位置検出かできるという
効果を有する。 更に、上記各測定点のコントラスト又は最大のコントラ
ストを示す軸上と軸外の各測定点の光軸方向の相互のズ
レの状態から、予め定められた解析演算方法によってそ
の不良内容を導出することも可能となる。 以下余白 ［発明の実施例］ 以下、この発明の実施例を添付図面を参照しながら説明
する。 第１図は５本発明によるレンズの最良像面位置探査方法
の好適な一実施例を適用したレンズテスタの概略ａ成を
示すブロック図である。 「レンズテスタＬＴの概略」 （構　成） レンズテスタＬＴは、レンズ保持部としてのレンズマウ
ント部１０．光学系２、センサ部３１と演算回路３２と
により構成されるコントラスト測定手段としてのコント
ラスト測定部３１作動制御手段としてのＭ御Ｍ４１判定
部５、表示部６、とにより構成されている。なお、制御
部４と判定部５は一つのマイクロコンピュータにより構
成されている。 なお、本実施例において、レンズテスタＬＴは第２６図
の如くコンピュータと接続されてレンズテスタシステム
を構成しているが、これについては後に詳説する。 （作　用） レンズマウント部ｌＯは、被検レンズｌを、該被検レン
ズｌの光軸を中心として回転駆動可能に所定位置に保持
する。 光学系２は、レンズマウント部ＩＯに保持された被検レ
ンズｌに、該被検レンズｌの光軸に沿う。 軸上から所定格子ピッチのチャートＣＡを透過した光（
軸上光ＬＡ）を入射させると共に、光軸と所定の角度を
有する軸外から所定格子ピッチのチャートＣＺを透過し
た光（軸上光ＬＺ）を入射させる。 コントラスト測定部３では、光学系２からの軸上及び軸
外光ＬＡ−ＬＺがレンズマウント部ＩＯに保持された被
検レンズｌを通過することにより形成されるチャートＣ
Ａ−ＣＺの像を、ＣＣＤセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ
（軸上センサ３１Ａ及び軸外センサ３１Ｚ）がチャート
像のピッチ方向に走査して該チャート像の明暗を電気信
号に変換し、この電気信号を演算回路３２（軸上演算回
路３２Ａ及び軸外演算回路３２Ｂ）により演算して軸上
及び軸外に於るチャート像のコントラストを算出（即ち
測定）する。 制御部４は、ＣＣＤセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ３１
Ａ・３１Ｚを被検レンズ１の光軸方向に移動させて被検
レンズｌの光軸方向の複数箇所に於いて軸上及び軸外に
於るチャート像のコントラストを測定すると共に、レン
ズマウント部ｌＯを駆動することにより被検レンズｌを
その光軸を中心に回転させて軸外の測定点を変更すると
共に軸上に於る被検レンズｌに対するチャート像のピッ
チ方向を変更し、上記被検レンズｌの光軸方向の複数箇
所に於けるチャート像のコントラストの測定を所定の複
数の軸外位置について行ない、更に、上記測定により得
られた軸上のコントラスト測定結果から、各測定点に於
るコントラストか最大値を示す光軸上の位置の平均位置
に軸上及び軸外のＣＣＤセンサ３１Ａ・３１２を固定し
く即ち、軸上の各測定点に於るコントラストが最大値を
示す被検レンズｌと軸上センサ３１Ａとの平均距離、と
等しい被検レンズｌからの距離に軸外センサ３１Ｚも固
定し）、被検レンズｌを回転させて軸外の各測定点に於
るチャート像のコントラストを測定するよう、コントラ
スト測定部３のセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１Ｚの移動駆動とコントラストの測定、及びレンズマ
ウント部ｌＯの駆動（被検レンズｌの回転）を制御する
ものである。 判定部５は、上記作動制御部４に制御されてコントラス
ト測定部３により得られたチャート像のコントラストの
値を予め定められた判定基準値と比較すると共に、最大
のコントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方
向の相互のズレ量を予め定められた判定基準量と比較し
１判定基準を越えているものかあれば不良として被検レ
ンズ１の良否を判定する。更に、被検レンズｌか不良の
場合には、上記各測定点のコントラスト値又は最大のコ
ントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方向の
相互のズレの状態から、予め定められた解析演算方法に
よってその不良内容を導出する。 表示部６は、判定部５による判定結果と、導出された不
良内容を配こされたＬＥＤの点灯により表示するもので
ある。 次に、上記各構成部の構成及び作用を、順を追って詳細
に説明する。 ［レンズマウント部１０Ｊ （構　成） 第２図は、レンズマウント部１０の平面図、第３図は　
その■−■断面図である。 図において、１００はレンズテスタＬＴのシャーシ（第
２図には示してない）、ｌｌは被検レンズｌが位こ決め
保持されるマウント。 １０１はマウント１１を回転自在に支持するシャーシ１
００に固定された軸受ボス、１５は被検レンズ１をマウ
ント１１上に固定するロック機構、１７はロック機構１
５を駆動するエアシリンダ、１８はマウント１１を回転
駆動するＤＣモータである。 マウント１１は、円板状の基板１２の中心部に検査光通
過の為の開口部を形成すると共に、この基板１２の上面
に被検レンズｌを位置決め載置可能なレンズ載置部１３
、下面に軸受ボス１０１との嵌合部１４、をそれぞれ突
出形成した略円板状の外観を呈している。基板１２の外
周端部面には全周に亘ってギア１２Ａか形成されており
、又、基板１２の上面のレンズ載置部１３を中心とした
対向する二箇所に、被検レンズｌをレンズ載置部１３に
固定する為のロック機構１５か設けられている。 そして、嵌合部１４かベアリング１０２を介してシャー
シｌＯＯに固定された軸受ボス１０１に嵌合し、シャー
シ１００に回転自在に設置されている。 レンズ載置部１３は、その上面か基準面１３Ａとなって
いると共に図示しない前後・左右方向の位置決めか形成
されており、該基準面１３Ａ上に被検レンズｌの鏡筒の
フランジＩＡ（当該レンズをカメラ本体へ取付ける為の
フランジ）を８接させて載置すると、マウント１１に対
して被検レンズｌの上下・前後・左右の位置か決った（
即ち位置決めされた）状態となるよう構成されているも
のである。 ＤＣモータ１８は、マウント１１配置位置の側方である
シャーシ１００の下側の面にそのスピンドル１８Ａを上
向きとして固定されている。 シャーシ１００を貫通して上側に突出するスピンドル１
８Ａの上端にはギア１８１か嵌合固定され、該ギア１８
１がアイドルギア１６と噛合すると共に該アイドルギア
１６かマウント１１の基板１２の外周のギア１２Ａと噛
合しており、ＤＣモータ１８の回転によりマウント１１
か回転駆動されるようになっている。 ロック機構１５は、基板１２の上面に立設されたボスト
１５１の側面に、リンクプレート１５２がその略中央部
で回動可能に軸支されると共に、該リンクプレート１５
２の先端に固定さられたビン１５２Ａがロックプレート
１５３の切り欠き１５３Ａに嵌合しており、リンクプレ
ート１５２の回動によりロックプレート１５３も回動す
るよう構成されている。ロックプレート１５３は、所定
厚さの板状で、上端部に切り欠き１５３Ａか開放形成さ
れると共に一方側端にツメ１５３Ｂか突出形成されてお
り、該ツメ１５３Ｂをレンズ載置部１３偏としてその下
端側でボスト１５１に回動自在に軸支されているもので
ある。 又、リンクプレート１５２とロックプレート１５３とは
、その夫々の軸支位置の外側（レンズ載置部１３とは反
対の側）に於てスプリング１５４によって連結されてお
り、該スプリング１５４かロックプレート１５３をリン
クプレート１５２に対してそのツメ１５３Ｂをレンズ載
置部１３偏に回動させる方向に引っ張り付勢している。 このロックプレート１５３の回動はツメ１５３Ｂがレン
ズＦ！ｉ１．置部１３の上面（基準面１３Ａ）に当接す
ることで規制されるが、この時ツメ１５３Ｂが基準面１
３Ａを押圧する力は、被検レンズ１を保持するに充分な
所定の押圧力となるよう設定されているものである。 エアシリンダ１７は、そのロッド１７Ａの位置をリンク
プレート１５２の軸支点より上側に対応させてリンクプ
レート１５２より外側のシャーシ１００上に設置されて
おり、該エアシリンダ１７を駆動してロッド１７Ａを伸
張させると、該ロッド１７Ａの先端がリンクプレート１
５２の上端を押圧して回動（上端がレンズ載置部１３偏
に、下端がレンズ蔵置部１３と反対の側に移動するよう
回動）させ、ビン１５２Ａを介してロックプレート１５
３をそのツメ１５３Ｂがレンズａ置部１３から離れる方
向（図中矢印で示す）に回動させるようになっている。 尚２図中エアシリンダ１７は一方のロック機構１５に対
するものしか記載してないが、他方のロック機構１５に
対しても同様に配置するか、又は双方のロック機構１５
をリンク機構等により連結して同期作動するよう構成す
れば良いものである。 （作　用） そして、エアシリンダ１７を駆動してロックプレート１
５３をそのツメ１５３Ｂかレンズ蔵置部１３から離れる
方向に回動させると、レンズ載置部１３の基準面１３Ａ
上への被検レンズ１の載置（又は取り外し）が可能とな
る。この状態で、基準面１３Ａ上に被検レンズ１を位置
決め！置し。 エアシリンダ１７を逆方向に駆動してリンクプレート１
５２の押圧を解除すると、スプリング１５４の引っ張り
力てロックプレート１５３が回動し、ツメ１５３Ｂが被
検レンズｌのフランジＩＡをレンズ載１ｆｆｉｌａ上に
押圧して被検レンズｌを基準面１３Ａ上に（即ちマウン
ト１１上に）固定するものである。 又、ＤＣモータ１８を回転させてマウント１１を回転駆
動することにより、マウント１１上に固定された被検レ
ンズｌをその先軸を中心として回転させることかでき、
且つ任意の位置（角度）で停止させることかできるもの
である。 尚、上記エアシリンダ１７及びＤＣモータ１８の駆動制
御は、後述する制御部４により行なわれるものである。 「光学系２」 （構　成） 光学系２は、第１図に示す如く、軸上光及び軸外光の二
本の光束を形成する光源部２１と、該光源部からのそれ
ぞれの光束か透過する位置に配置された所定ピッチの透
過型格子であるそれぞれのチャートＣＡ−Ｃ２、該チャ
ートＣＡ−ＣＺ及び被検レンズｌを介したそれぞれの光
束（軸上光ＬＡ及び軸外光ＬＺ）の光路を反射屈折させ
て後述するコントラスト測定部３に導くミラー２２・２
３、それぞれの光束光路上に配置されたコリメータレン
ズ２４・２４、により構成されている。 光源部２１は、その概念構成図を第４図に示す如く、光
源としてのハロゲンランプ２１１、該ハロゲンランプ２
１１からの光を所定の分光特性に整える為の二枚のフィ
ルタ２１２・２１３、コンデンサレンズ２１４、拡散板
２１５、軸上用固定ハーフミラ−２１６，軸外用可動ミ
ラー２１７、を上記記述順に配置して構成されている。 ハロゲンランプ２１１の背面側（光線出射側とは反対の
側）には、パラボラ状の反射板２１１Ａか設けられ、ハ
ロゲンランプ２１１からの光を所定の位置（図中ｆで示
す）に集光するようになっている。そして、その焦光位
置ｆより光路前方に赤外吸収フィルタ２１２及び色補正
フィルタ２１３の二枚のフィルタが、次にコンデンサレ
ンズ２１４、拡散板２１５の順で配置されている。 拡散板２１５より光路前方には、軸上用固定ハーフミラ
−２１６か光路に対して４５″の傾きて固定配置され、
次に軸外用可動ミラー２１７か配置されている。軸外用
可動ミラー２１７は、その角度か調整回部となっている
と共に、ハロゲンランプ２１１からの光束と平行する方
向に前後に移動可能となっており、被検レンズｌの光軸
に対する軸外光の角度を調整可能に構成されている。 光源部２１から出射される軸上及び軸外光ＬＡ−ＬＺの
光路上の被検レンズｌの前（即ちマウント１１の光源部
２１側）に、別々のチャートＣＡ−ＣＺかシャーシ１０
０に固定されて配置されている。 チャートＣＡ−ＣＺは、第６図に示す如く、光線透過可
１ｔな平坦なガラス基板上に一方方向に所定ピッチ（Ｐ
）で光線不透過の複数の線部なりロムを蒸若して形成し
た矩形波格子である。 そして、軸上光ＬＡが透過する位置（即ち被検レンズｌ
の光軸上）にはＰ　＝　１／２０■膳の軸上チャートＣ
Ａか、軸外光ＬＺが透過する位置にはＰ　＝　１／１０
　ｓ＋ｅの軸外チャートＣＺが、それぞれ配置されてい
る。尚、各チャートＣＡ−ＣＺの配置方向は、軸外チャ
ートＣＺに於て、そのピッチ方向（刻線と直交する方向
）か被検レンズｌの中心から放射状となる方向とし、軸
上チャートＣＡもこの軸外チャートＣＺと同じ向きとし
て配とされている。 ミラー２２・２３は、軸上チャートＣＡ及び被検レンズ
ｌを介した軸上光ＬＡの光路延長上の所定位置に軸上ミ
ラー２２を固定すると共に、軸外チャートＣＺ及び被検
レンズｌを介した軸外光ＬＺの光路延長上の所定位置に
軸外ミラー２３を配ｔして構成される。 軸上ミラー２２は、被検レンズｌの光軸に沿う軸上光Ｌ
Ａを後述するコントラスト測定部３の軸上センサ３１Ａ
に向けて直角に反射するよう、被検レンズｌの光軸上の
所定位置に、該被検レンズ１の光軸に対して４５°傾け
て固定設置されている。 軸外ミラー２３は、第７図乃至第８図に示す如く、シャ
ーシ１００に固定されたガイトレール２３１に、スライ
ドベース２３２及びミラーホルダ２３３を介して被検レ
ンズｌの光軸からの距離及び設置角度を調整可俺として
設置されているものである。 ガイトレール２３１は、その長手方向を後述するコント
ラスト測定部３の軸外センサ３１Ｚに向けて水平にシャ
ーシ１００に固定されている。 スライドベース２３２は、その下面に於てガイトレール
２３１に摺動可艶且つ離脱不能に嵌合し、ガイトレール
２３１の長手方向に沿って摺動移動方向であると共に、
図示しないロック機構によって所定位置に固定可能とな
っている。 ミラーホルタ２３３は、スライドベース２３２に離脱不
能に嵌合して一体となっており、その嵌合部２３４に於
て摺動回転可能となっている。このスライドベース２３
２に対するミラーホルタ２３３の回転位置も１図示しな
い固定機構によって任意の角度で固定可能となっている
。ミラーホルダ２３３の回転軸方向は、当該軸外ミラー
２３の摺動移動方向（即ちガイドレール２３１の長手方
向）と直交する水平方向となっているものである。又、
ミラーホルダ２３３の上面にはミラー保持部２３３Ａが
立設されており、該ミラー保持部２３３Ａの上端近傍に
は、取付孔２３３Ｂが貫通形成されている。 軸外ミラー２３の裏面には１円柱状の取付バー２３Ａか
その端面て接着剤により接着固定されており、該取付バ
ー２３Ａをミラーホルダ２３３の取付孔２３３Ｂに嵌合
すると共にこの取付バー２３Ａを二本の止めネジ２３３
Ｃで直交する方向から締付けることて、ミラーホルダ２
３３に軸外ミラー２３か固定されている。本構成により
軸外ミラー２３を歪ませることなく固定することがてき
るものである。 尚、第７図及び第８図では、軸該ミラー２３か光軸方向
と直交する角度となっているか、実際は：１ＴＪ１図示
の如く所定の角度に傾けて設置されるものである。 コリメータレンズ２４は、上記軸上ミラー２２及び軸外
ミラー２３により屈折されてコントラスト測定部３に向
う光路上に、それぞれ後述するコントラスト測定部３の
センサ部３１のユニットベース３１３を介してシャーシ
１００に固定されて配置されている。 （作　用） そして、光源部２１ては、ハロゲンランプ２１１からの
光を赤外吸収フィルタ２１２及び色補正フィルタ２１３
によって第ＦＩＩ（ｄ）に示す如き所定の分光特性の光
とすると共に、軸上及び軸外光ＬＡ−ＬＺとして被検レ
ンズｌに向けて出射する。 第５図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、は光源部２１を構成す
る各構成要素の放射分光特性又は透過分光特性を示すグ
ラフであり、各図とも横軸が波長、縦軸か放射率あるい
は透過率となっている。それぞれのグラフを説明すると
。 （ａ）は、ハロゲンランプ２１１単体の放射分光特性で
ある。 （ｂ）は、色補正フィルタ２１２単体の透過分光特性で
あり、該色補正フィルタ２１２は中心透過波長４６０　
ｎｍとなっている。 （ｃ）は、赤外吸収フィルタ２１３単体の透過分光特性
であり、５０％カット波長７５００ｍとなっている。 （ｄ）は、ハロゲンランプ２１１．赤外吸収フィルタ２
１３９色補正フィルタ２１２を第３図の如く組み合わせ
た場合の透過光の分光特性である。即ち、当該光源部か
ら出射される光は、この（ｄ）に示す如き分光特性を有
する光となっているものである。この分光特性の光は、
後述するコントラスト測定部３のＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１Ｚの受光分光特性（第５図（ｅ））との組合わせに
より視感度と略一致した分光特性となるものである。 このような分光特性に加工された光は、ハロゲンランプ
２１１のフィラメント像をボヵす為に拡散板２１５によ
って拡散され、軸上用固定ハーフミラ−２１６によって
略５ｏ％の光か軸上光ＬＡとして上方に向けて直角に反
射される。軸上用固定ハーフミラ−２１６を透過した光
は軸外用可動ミラー２１７によって路上方に向けて所定
の角度て反射され、軸外光ＬＺとなる。軸外用可動ミラ
ー２１７は、前述の如く光束と平行な方向に前後に移動
可能であると共に角度を変更調整することにより光軸に
対する軸外光ＬＺの角度を変更調整可能となっており、
軸外の測定位置を変更できると共に被検レンズｌの種類
に対応できるようになっているものである。 光源部２１からの軸上及び軸外の光束ＬＡ・ＬＺは、そ
れぞれ軸上チャートＣＡ及び軸外チャートＣＺを透過し
て被検レンズｌに入射す被検レンズ１を通過した軸上及
び軸外の光束ＬＡ−ＬＺは、それぞれ軸上ミラー２２及
び軸外ミラニ２３によって反射され、コリメータレンズ
２４により結像位置を短縮させられて後述するコントラ
スト測定部３に入射する。 尚、軸外ミラー２３の移動及び回転は、前述の光源部２
１に於る軸外用可動ミラー２１７の調整によって軸外光
ＬＺの光軸に対する角度を変更した際に、該軸外光ＬＺ
かコントラスト測定部３のセンサ３１Ｚに入射するよう
調節するものである。 以下余白 「コントラスト測定部３」 （構　成） コンＩ・ラス）Ａｌｌ定部３は、輛」二元ＬＡ及び軸外
光ＬＺの光路上のそれぞれにＣＣＤセンサ３１Ａ−３１
Ｚを配したセンサ部３１と、該センサ部３１からの軸上
及び軸外二つの信号を演算処理する演算部３２とにより
構成されている。 センサ部３１は、軸上及び軸外のＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１２を光線方向に移動可能として構成されるが、その
構成は、軸上と軸外では同一であり、軸上側を説明する
ことで軸外側の説ＩＪＩは省略する。 演算部３２は、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａから
の軸上側の信号を演算処理する演算回路３２Ａと、セン
サ部３１のＣＣＤセンサ３１２からの軸外側の信号をｒ
Ａ算処理するｒＡ算回路３２Ｚとにより構成される。そ
して、その構成は、」二記センサ部３１と同様に軸上と
軸外では回−・であり、軸」二側を説明することで軸外
側の説１５１は省略する。 センサ部３１は、第９図、該第９図のＸ−Ｘ断面図であ
るｆｔ５ＩＯ図及び刈−刈断面図である第１１図に示す
如く、光学系２によって当該コントラスト測定部３に導
入される軸上光ＬＡを受光するＣＣＤセンサ３１Ａ、該
ＣＣＤセンサ３１Ａを保持するセンサボード３１１．該
センサボード３１１が固定されたスライドベース３１２
１等をユニットベース３１３に所定の位置関係に配置し
て一体化したユニットとなっている。 ユニットベース３１３には、リニアベアリング３１４の
スライドシャフト３１４Ａが二本、軸」二元ＬＡの光路
（光軸）と１１行に固定されており。 該スライドシャフト３１４Ａには夫々二個のスライドピ
ース３１４Ｂが摺動移動自在に嵌合されている。 スライドベース３１２は、その下面に夫々のスライドピ
ース３１４Ｂが嵌合固定されることによってユニットベ
ース３１３に設置され、軸上光ＬＡの光路方向に移動自
在となっている。 又、下面の略中央に、酸ネジ３１５が固定されており、
該酸ネジ３１５には、ユニットベース３１３の輔」二光
ＬＡ入射側とは反対の側の端面に固定されたパルスモー
タ３１６のスピンドルと連結されたスクリュウシャツ）
３１７が螺合している。 センサボード３１１は、被検レンズｌを通過した軸上光
ＬＡによる軸上チャー）ＣＡの像の光端をアナログ信号
として検出（測定）する電気回路基板であり、軸上光Ｌ
Ａを感知してその光量に対応した′屯気信壮を出力する
ＣＣＤセンサ３１Ａと、図示しない該ＣＣＤセンサ３１
Ａの駆動回路およびサンプル＆ホールド回路等の周辺回
路とにより構成される。 ＣＣＤセンサ３１Ａは、画素を一行に並べたラインセン
サであり、センサボード３１１の前面側に固定されるが
、軸上光ＬＡに対して受光面が直角となり１１つそのラ
イン方向を軸上チャートＣＡのピッチ方向に一致させて
スライドベース３１２に垂立固定される。つまり、その
画素配列方向を軸上光ＬＡによる軸上チャー）ＣＡの像
の格子方向と直交させてセンサポート３１１前面に設け
られる。 尚、ユニットベース３１３の前端部には、前述の光学系
２のコリメータレンズ２４が固定されている。 演算回路３２Ａは、第１２図に示すブロック図の如く構
成されており、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａが感
知した光像信号Ｓｏつまり被検レンズｌを透過した軸Ｌ
−チャートＣＡの光像の感知信号３０を演算処理して、
軸」ニチャー）ＣＡの像のコントラストを出力する。 つまり、この演算回路３２Ａでは、ＣＣＤセンサ３１Ａ
が前述した図示しないサンプル＆ホールド回路を介して
バイパスフィルタ３２１および積分回路３２２に接続さ
れており、バイパスフィルタ３２１は絶対値回路３２３
に接続される。そして、絶対値回路３２３は積分回路３
２４に接続され、積分回路３２４はサンプル＆ホールド
回路３２５に接続される。さらに、一方の積分回路３２
２はサンプル＆ホールド回路３２６に接続されており、
これらのサンプル＆ボールド回路３２５・３２６は共に
除算回路３２７に接続される。 （作　用） センサ部３１は、パルスモータ３１６の回転によりスラ
ートベース３１２がスライドシャフト３１４Ａに沿って
スライド移動する。即ち、ＣＣＤセンサ３１Ａは軸上光
ＬＡの光軸方向に移動駆動されるものである。 演算回路３２Ａは、センサ部３１のＣＣＤ−ｔ！７す３
１Ａから送られる光像信号ｓｏを交流成分と直流成分に
分解し、その両者を各々所定時間積分して、それら交流
成分とＩｔｃＩｉＪ＆分の互いのる１分値の比を被検レ
ンズ！のコントラストとして出力する。 バイパスフィルタ３２１は、上記光像信すｓ。 内の交流成分を取り出す。 絶対値回路３２３は、バイパスフィ）Ｌｔ９３２１によ
る上記交流成分の絶対値、つまり負側の交流成分をｉＥ
側に整流したイ〆Ｉを出力する。 積分回路３２４は、絶対値回路３２３から送られる上記
絶対値を所定の時間について積分する。 つまり、積分回路３２４では、光像信号５０内の交流成
分が積分される。 −・方、もラ一つの積分回路３２２は、センサ部３１の
ＣＣＤセンサ３１Ａから送られた光像信号Ｓｏをそのま
ま所定の時間について積分しており、該積分回路３２２
では、光像信号ＳＱの直流成分が積分される。 なお、積分回路３２２−３２４の各々は、リセット信号
Ｔｏによってリセットされ、積分信号Ｔ１によってその
積分時間が制御される。 サンプル＆ホールド回路３２５は積分回路３２４の積分
値をサンプリングして除算回路３２７に送出しており、
同様に、サンプル＆ホールド回路３２６は積分回路３２
２の積分値をサンプリングして除算回路３２７に送出し
ている。そして、そのサンプリングのタイミングは、サ
ンプル信号Ｔ２によって制御される。 除算回路３２７は、積分回路３２４による光像信号Ｓｏ
内の交流成分の積分イ〆ｉを、積分回路３２２による光
像信号Ｓｏの直流成分の積分値で：Ｉ渭る除算を実行し
、その除算結果を被検レンズｌのコントラストとして出
力する。 光像信号Ｓｏは、軸」ニチャートｃＡが矩形格子なので
矩形波信号となっている（該矩形波信号は直流成分を含
んでげた」二げされている）、シかし、フーリｚｆ換す
れば、上記矩形波信号は、周波数が互いに異なるいくつ
かの正弦波を複数合成したものとして表現できる。そこ
で、演算回路３２Ａによる上記演算出力が被検レンズｌ
のコントラストとなる旨、光像信号Ｓｏを第１３図に示
す正弦波信号Ｓｌに置き種えて説Ｉｌｌする。 同図において、ａは正弦波信号Ｓ１の最大値つまり最大
光ノ迂、ｂは正弦波信号Ｓｌの最小値つまり最小光値、
Ｔはは正弦波信号Ｓ１の周期である。 この正弦波信号Ｓ１の交流成分は、角速度をωとすれば
、 と表わされる。 また、その直流成分は。 と表わされる。 ここで、上記交流成分の一周期に注目して、交流成分と
直流成分を積分し、互いの積分値の比をとれば となり、上記（５）式は、前述した（２）式と違って２
／πという定数が乗ぜられているものの、コントラスト
そのものとなる。 すなわち、演算回路３２Ａでは、センサ部３１のＣＣＤ
センサ３１Ａから送られる光像信号Ｓｏは、バイパスフ
ィルタ３２１．絶対値回路３２３を介してその交流成分
が積分回路３２４により所定の時間について積分され、
他方の積分回路３２２によりその直流成分が積分される
。そして、除算回路３２７により交流成分の植分値が直
流成分の積分イ４で割られ、すなわち（５）式に示す除
算が実行されて該除′Ｑ結果が被検レンズ１のコントラ
ストとなる。 以上、演算回路３２Ａによる演算出力が被検レンズｌの
コントラストとなる旨、光像信号Ｓｏを第１３図に示す
正弦波信号Ｓ１に置き替えて説明したが、上記コントラ
ストの演算が積分回路３２２・３２４を用いた光像信号
Ｓｏの交１ｉ、成分対直流成分の面積比計算となってい
るため、光像信号Ｓｏが高調正弦波を多数含んだ矩形波
信じであっても同様であり、何らかまわないものである
。 なお、上記センサ部３１の駆動Ｊ制御及び演算回路３２
Ａの演算制御は後述する制御部により行なわれる。 「制御部４」 （構　成） 制御部４は、後述する判定部５と共にＣＰＵおよびメモ
リとによるマイクロコンピュータによって構成される。 この制御部４は、」二記メモリ内の所定の制御プａグラ
ム４Ａ（第１７図に示す）に従ってレンズテスタＬＴの
各部（レンズマウント部１０及びコントラスト測定部３
）を作動制御するものであり、コントラス）Ｊｉｌｔ定
動作全ての動作を制御するものである。 （作　用） 該制御部４は、コントラスト測定部３のＣＣＤセンサ３
１Ａを駆動制御して被検レンズｌの光軸方向に移動させ
、軸上及び軸外について被検レンズｌの光軸方向の複数
箇所に於いてチャート像のコントラストを測定すると共
に、レンズ保持部ｌＯを駆動して被検レンズをその光軸
を中心として回転させて軸外の測定点を変更して上記被
検レンズの光軸方向の複数箇所に於けるチャート像のコ
ントラストの測定を所定の複数の軸外位置で行なう、（
測定１） 該測定ｌの測定結果からは、下記の如き被検レンズｌの
光学特性を知ることができる。（これらの測定結果を基
準値と比較しての良否判定は後述する判定部５により行
なう） （１）軸上の各測定点に於るコントラストが最大値を示
す光軸上の位置、の変化から、軸上に於るＪｌ’点収差
の程度を検知できる。 （２）軸上の各測定点に於てコントラストが最大（（ｉ
を示す光軸上の位置の平均位置（平均像面位置）を、当
該被検レンズｌの基準像面位置と比較することにより被
検レンズ１のパックフォーカスのオーバー乃至アンダー
を察知できる。 （３）軸外の各測定点に於てコントラストが最大（＋７
ｉを示す光軸方向の位置の変化により軸外に於る非点収
差の程度を検知できる。 （４）軸外の測定点に於いてコントラストが最大値を示
す位置（即ち像面位置）と軸上の像面位置とを比較する
ことにより像面の湾曲・倒れを察知できる。 （５）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸Ｌコマ収差の程度を検知できる。 （６）軸上の各測定点に於るコントラストの最大イＩｉ
の平均値から、輔−１ニコントラスト不足を判断できる
。 （７）軸上の各測定点に於るコントラストの最大イ〆１
のうちで最小のものの値から、輔−Ｌに於る一部のコン
トラスト不足を判断でさる。 （８）軸外の各１！一定点に於るコントラストの最大値
の平均値から、軸外コントラスト不足を判断できる。 （９）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸外コマ収差の程度を検知できる。 このような検知を可俺とする測定点は、例えば被検レン
ズ１が３５ｍｍフィルム使用のカメラ用のレンズの場合
、像面位置に於て３５厘層フィルムの写角（３６ｓｓＸ
２４＋ｕｉ）の対角線角度の４方位（第１４図に於る■
、■、■、■）とし、軸外位置は軸」二位置から判定に
必要な所定の距離りの位置（本実施例ではｈ−１５ｍ＋
ｗ）に於て測定すれば良い、尚、軸外の測定点に於ける
像面位置と軸上の像面位置との比較により湾曲−倒れを
察知することのみを目的とするのであれば、軸外の測定
点は三箇所で良いものである。 次に、上記測定により得られた軸上のコントラスト測定
結果から、各測定点に於るコントラストが最大値を示す
光軸上の位置の平均位置にＣＣＤセンサ３１Ａを固定し
、レンズ保持部１０を駆動することにより被検レンズ１
をその光軸を中心として回転させて軸外の所定測定点に
於るチャート像のコントラストを測定するよう、コント
ラスト測定手段３のＣＣＤセンサ３１Ａの移動駆動とチ
ャート像のコントラストの測定、及びレンズ保持部１０
の駆動（被検レンズ１の回転）を制御する。（測定２） 該測定２の測定結果からは、 （１）軸上の各測定点に於るコントラストの値の差から
、軸」−に於る非点収差を検知できる。 （２）軸上の各測定点に於るコントラストの平均値から
軸上コントラスト不足を検知できる。 （３）軸上の各測定点に於るコントラストの最小値から
軸上コントラストの一部不足を検知できる。 （４）軸外の各測定点に於るコントラストの平均値から
、軸外コントラスト不足を判断できる。 （５）軸外の各測定点に於るコントラスト値の差から、
軸外コントラストの変動不良を判定できる。 この検知に於る軸外の測定点は１例えば被検レンズｌが
３５層■フィルム使用のカメラ用のレンズで直進へリコ
イド等フォーカシングに伴なってレンズが回転しないタ
イプである場合、像面位置に於て第１４図示の如＜、３
５１１１１フイルムの写角（３６ｍ膳Ｘ２４ｍｍ）の対
角線と軸上位置（光軸中心）を中心とした水平線及び垂
直線上の８方位（第１４図に於る■〜■）で、軸上位置
から所定の距ａｈの位置（本実施例では前述の測定１の
際と同じｈ＝１５ｍｍの位置）に於て測定すれば良い、
但し、３５ｍ厘フィルムの場合で垂直線上の測定点（図
中［株］及び■）が軸上位置から１５ｍ＋ｗの位置では
写角から外れるが、像面の湾曲等のデータを１’Ｊるに
はイｉ効なものである。又１回転へリコイド等フォーカ
シングに伴なってレンズが回転してレンズの方位が一定
しない被検レンズｌの場合には、第１５図示の如く３０
°間隔で１２方位（■〜＠）測定すれば良い、尚、像面
に於る軸上位置から測定位置迄の距離は、当該被検レン
ズ１の写角に応じて適宜１没定すれば良いものである。 次に、フローチャートに２１（づいて具体的な作動制御
を説明する。 第１６図は２制御部４の制御プログラム４Ａおよび後述
する゛Ｉ定定日ログラム５Ａフローチャートである。 この制御プログラム４Ａは、前述の如く制御部４を構成
するメモリ内に記憶されており、複数のサブプログラム
（サブルーチン）から成る。 つまり、この制御プログラム４Ａは、初期設定サブルー
チン４１．０定準備サブルーチン４２゜コントラスト測
定サブルーチン４３．コントラスト測定サブルーチン４
４．各部復帰＆データ転送サブルーチン４５により構成
される。 以下、同図の流れに従って各サブルーチンを説明する。 初期設定サブルーチン４１は、光学系２およびコントラ
スト測定部３の各駆動機構部１表示部６、制御ｆｆ＆４
が構成されるマイクロコンピュータ内のメモリ等を夫々
の初期状態にセットする。なお、この初期設定サブルー
チン４１は電源投入時にのみ一回実行される。 測定準備サブルーチン４２は、各空圧機構部の空圧をチ
エツクし、被検レンズｌのレンズマウント部１０へのセ
ットを確認し、不良および不良項目を表示する表示部を
クリヤし、センサ部３１のセンサボード３１１をイニシ
ャルセ−／　トつ７まりその走査開始位置（基準位２１
）に移動、停止させ被検レンズの透過光量を測定して各
チャートＣＡ、ＣＺのよごれおよび光学系の大きな異常
（例えば、絞り込まれている）等をチｘ−／りする。 コントラスト測定サブルーチン４３は、センサ部３１の
センサボード３１１を上記走査開始位置（基ヘリ位置）
から所定距薄イｒｉにコントラストを測定しながら被検
レンズ１に接近して光路を短縮する方向に走査（移動）
させる、尚、本実施例ではｌ走査ステップの走査幅（移
動距ｇＩ）はＩ／１２　ＩＩｍに設定されており、その
走査スピードは約２４０Ｓｔｅｐ／Ｓｅｃ　　となって
いる、また、この走査の動力源はパルスモータ３１６を
用いているが、エンコーダ付きのモータ等を利用しても
良い。 この結果、第１７図に示すようなディフォーカス量に対
するコントラスト値の特性曲線が得られ、数値計算によ
りコントラストのピーク値とその位置が軸上、軸外共に
得られる。さらに、該コントラスト測定サブルーチン４
３では、被検レンズを回転させてその測定点を変更して
コントラスト測定を４同突行する。　　（＋ｉｉｆ述の
測定ｌ）コントラスト１１１定サブルーチン４４は、）
Ｌ均軸」−像面位置に軸上、軸外の各センサボードをセ
ットさせる。これは、中心にピントの合ったフィルム面
（設計値）に輔１−９輔外の各ＣＣＤセンサをセットす
ることに相当する。 そして、軸−に、軸外のコントラストを数方位の所定方
位について測定（前述の測定？）する、つまり、直線へ
リコイド等レンズが回転しないタイプの被検レンズでは
ｉ１４図に示す８方位について１回転ヘリコイド等レン
ズの方位が一定しないタイプの被検レンズでは第１５図
に示す１２方位について測定する。測定方位は、上記被
検レンズｌのタイプに応じてレンズマウント部１０の回
転を制御して変更する。 各部復帰＆データ転送サブルーチン４５は、レンズマウ
ント部１０の停止位置を所定の初期位首に復帰させ、そ
のロック機構１５を解除して被検レンズｌをレンズテス
タＩ、Ｔから取り外せる状ｊムにすると共に、コントラ
ストの測定値を後述するパソコン部ＰＣに出力し、更に
、測定したコントラストが曲回測定した値よりも低い場
合、チャー）ＣＡ　、ＣＺに空気を−・方から吹きつけ
かつ他方より吸引して該チャー）ＣＡ、ＣＺを清掃する
。 つぎに、主要な各サブルーチンについて詳細に説明する
。 コントラストＡｌｌ定サブルーチン４３は軸上と軸外の
ピント位置（像面位置）を探しだすサブルーチンである
。コントラストの測定は、第１図に示すように被検レン
ズｌに対して軸上、軸外の二つの光路ＬＡ−ＬＺにそれ
ぞれについて軸上、軸外の各センサボード（ＣＣＤセン
サ３１Ａ。 ３１Ｚ）により行なわれる。各ＣＣＤセンサ３１Ａ・３
１Ｚはコントラストを−・度計測する毎にｌ走査ステッ
プ移動する。これにより、第１８図に示すコントラスト
１〜コントラストｗｓｓ（ディフォーカス量に対するコ
ントラスト値の１．ν性曲線）が得られる。このコント
ラスト値は全てメモリ内に記憶され、所定の走査幅ｗＳ
Ｓ　　走査終了後、コントラストのピーク値とその像面
位置が後述する゛Ｉ定陥部５て計算される。 さらに、被検レンズｌを回転させて軸外光束ＬＺに対す
るレンズの方位を変更して上記測定が第１４図に示す４
方位について行なわれる。これにより、所定方位につい
てコントラストのピーク値とその最良像面位置が求めら
れる。 第１８図は、第１６図に示すコントラスト１１１サブル
ーチン４３のフローチャートである。以下、同図フロー
チャートの流れに従って各処理（Ｔ−順）を説１１する
。 処理［１１では、センサ部３１および演算部３２によっ
て軸１−および軸外のコントラストを計測する。 処理［２１では、処理［＋］　で計測したコントラスト
を演算部３２の後段に配した図示しないＡ／Ｄコン八−
へでディジタルｈ）に変換する。 処理

【３】では、制御部４内に設けられた走査平均レジ
スタ群のＤｏに処理［２］でディジタルＦ５に変換した
コントラストを転送する。 処理［４１では、制御部４内の走査モ均しジスタ群にて
走査−＋ｉ均を計算し、計算結果をメモリ内の所定場所
に記憶させる。 処理［５１では、走査平均レジスタ群にて、各走査平均
レジスタ上の各データを夫々となりのレジスタにシフト
させる。 処理［６］では、各ＣＣＤセンサを１走査ステツプ移動
させる。 処理［７］では、各ＣＣＤセンサの走査（移動）量を検
査する。つまり、走査量（走査による移動量）が設定し
た走査ステップ数に達したかどうか検査し、走査終了の
場合は次の処理［８１に移り、走査未終了の場合は処理
［１］に戻る。 処理［８］では、所定走査幅分のコントラストから、コ
ントラストのピークイ直とその位置を＆ｌ算する。 処理［９］では、レンズマウントを所定角度回転させて
被検レンズの測定方位を変更する。 処理

【１０１では、設定方位（４方位）の全てについて
コントラストを測定終了したかどうか検査する。測定終
了の場合は該コントラスト測定サブルーチン４３から抜
は出してメインの制御プロゲラｔ、４Ａに復帰する。測
定未締了の場合は処理［１１］を実行する。 処理［１１１では、走査ステップ数を条件により変更設
定し、処理［１１に戻る。これは所定の条件が成立した
ときに走査ステップ数を減少させて、走査時間の短縮化
を図るものである。 なお、処理［＋３から処理［７１までで構成されるルー
プが１走査ステツプとなり１本実施例ではｌ走査ステッ
プの処理時間は４．０９６　ｍ、９に設定されている。 当該制御部４では、コントラスＨ１１定に際して走査モ
均しジスタ群を利用して走査平均計算が行なわれるよう
になっており、次に、この走査１１均の動作について説
１月する。 （走査平均の動作について） 第１９図は、走査平均レジスタ群の概念図である。 走査平均レジスタ群は、８個の所定ビー／　）数のレジ
スタＤｏ”Ｄ＋で構成され、制御部４内に設けられる。 その動作は、まず、前述したディジタル信号が制Ｗ部４
内の走査平均レジスタ群のＤｏに転送されてレジスタＤ
Ｏ〜Ｄ７の平均が計算される。そして、このｌｌｉ均値
がコントラストとしてメモリに転送、記憶される。その
後、走査平均レジスタ群の各データが人々隣りのレジス
タにシフトされる。つまり、Ｄｏ　−ｍｌ）１　　、　
ＤＩ＋Ｄ２　、、、。 Ｄ６→Ｄｒとシフトされるのである。すなわち。 ２進法で８で−１，するロジックが簡単なため、こうし
た処理により高速演算が可能となる。さらに、レジスタ
内のデータシフトは、制御部４を構成したマイクロコン
ピュータでは容易である。などの理由により走査（’均
計算は、容易かつ高速に処理できる。なお、に記方法で
は、レジスタ　ＤＯ〜ＤＩの和が最大となるコントラス
トのピーク位置はＤｏにデータを取り込むＩＩＩｆ点の
センサボード位置と４走査ステー２プのズレを生ずる。 しかし、このズレは常に一定なので４走査ステツプズレ
だ位置をピーク位置とすればよい。 レジスタＤＯに取り込むデータの最初の１個から７個目
まで、つまり、走査モ均しジスタ群Ｄｇ−ＤＩが全てＦ
ＵＬＬになるまでは、走査平均を取ったコントラストは
実際に測定したコントラストよりもかなり低くでる。し
かし、この部分の測定値は、第１７図に示すコントラス
ト曲線の裾野の部分に相当するので問題ない。また、走
査平均を取ったコントラストは、実際の測定値より必ず
低い値となり誤差を生ずる。しかし、この実際の測定値
との誤差は、走査ステップのステップ数を多くすること
により減少させることができ、これによりその影響を無
視できる。 実際には、走査幅ＷＳＳ　　における走査ステップ数は
３００〜１０００ステツプに達する。ｌ走査ステップは
４．０９６　＋ｓｓなので約１秒強〜４秒を必要とする
。 コントラストのピーク値とその位置は、メモリ内に記憶
させた各ステップ毎のコントラストデータ全てについて
コントラストの大小比較をくり返し行なうことで捜しだ
す、走査ステップのステップ数にもよるが、最大約１０
００回比較をくり返すことになり、木実施例では制御部
４が２　Ｍ）ｌｚクロー、りで作動しているので該大小
比較の処理時間に約１００　ｍｓ必要となる。 （走査時間の短縮化について） コントラス）ｆｌＮ定サブルーチン４３では、第１４図
に於る■、■、■、■に示す所定の４方位についてコン
トラストを測定し、コントラストのピーク値とその位置
を演算するものであるが、下記の条件を満足する場合に
は走査幅ｗＳＳ全幅の走査を行なわずに、所定手順に基
いて走査幅を減少させる。これにより走査時間の短縮化
を図るものである。 その条件とは、 （１）複数の被検レンズを検査する時のｆｂのバラツキ
と個々の被検レンズ内の像面の測定点の変化による変化
量に大差があり、曲名の方が大きい場合。 （２）被検レンズの軸外像面の倒れが小さいか、または
調へる必要がない場合。 （３）被検レンズの中心像面の方位による変化を調べ、
平均軸上像面のみを測定すればよい場合、である。 第２０図は、走査時間の短縮化を説ＩＩＩする概念図で
ある。同図において、横軸はセンサポートの走査方向を
示し、縦軸は下方に向って走査時間の経過を示している
。 センサボードの走査は所定の４方位について４回行なわ
れるが、まず−回目の方位のでセンサボードの走査を例
えば８００走査ステツプで行なったとすると、つぎの方
位■では方位■で見つけたピーク位置プラス所定走査幅
ＷＳＨ（これを例えば２００走査ステツプとする）走査
する。−回目の方位■でのピーク位置が４００走査ステ
ツプ目であったとすると、二回目の方位■での走査は６
００走査ステツプで済むことになる。同様に三回１１の
方位■では４００走査ステツプ、四回目の方位■でも４
００走査ステツプとなる。こうすると４方位４回の走査
は合計２２００走査ステツプとなり、こうした方法を取
らずに４方位４回全てについて所定の８００走査ステツ
プ走査した場合の合計３２００走査ステツプと比較して
、１０００走査ステツプ、つまり時間にして約４秒短縮
される。 「判定部５Ｊ （構　成） 判定部５は、前述の制御部４と共にＣＰＵおよびメモリ
とによるマイクロコンピュータによって構成される。又
、該判定８１１１ｓ内にＪよ、゛Ｉ判定果を一時格納す
るための各々８ビツトで構成された二つの′Ｉ′４定レ
ジスタＯ８ＯおよびＯ５１（図示しない）が設けられて
いる。尚、判定レジスタをＤＳＯおよびＤＳＩの二つと
したのは、一つでは処理データ数に対応しきれないこと
による。 更に、制御部４と共に該判定部５を構成するマイクロコ
ンピュータのメモリを、後述する表示部６を制御する為
の表示制御メモリとして使用するようになっている。 （作　用） 該１４定部５では、前述の制御部４により作動制御され
て測定された被検レンズｌの各測定点に於るコントラス
トの値を、第１６図に示す制御プログラム５Ａに従って
予め定められた判定基準と比較することにより良否判定
を行なう、ｆｌｊｌｉｍプログラム５Ａは、判定８１１
５を構成するメモリ内に記憶されており、複数のサブプ
ログラム（サブルーチン）から成る。つまり、この制御
プログラム５Ａは、二つの判定サブルーチン５１．５２
により構成される。 ここでは。 １、測定ｌ（コントラストＤ定寸ブルーチン４３）の測
定結果を判定基準と比較することにより、 （１）軸上に於る非点収差不良（軸上ピークの異常変化
による不良（Ａ−ＡＳＵ　）　） （２）バックフォーカスのオーバー乃至アンダー不良（
機械的なバックフォーカスの不良、過大不良（ｒｂ大）
及び不足不良（ｆｂ小）） （３）軸外に於る非点収差不良（軸外像面かたおれてい
る不良（Ｚ−ＡＳＵ　）　） （４）像面の湾曲・倒れ不良（アンダー不良つまり軸外
像面が軸上像面よりもレンズ側に寄りすぎている不良（
ＵＮＤ）　、及びオーバー不良つまり軸外像面が軸上像
面よりもレンズ側から離れている不良（０ＶＥＲ）） （５）軸上コマ収差不良（最良軸上コントラストの異常
変化による不良（Ａ−ＣＯＮ　）　）（６）軸上コント
ラスト不足不良（平均軸上コントラスト伯が小さすぎる
不良（Ａ−ＭＴＦＬｏ　）　）（７）軸上一部コントラ
スト不足不良（（Ａ−ＮＴＦＰＬ（８）軸外コントラス
ト不足不良（平均軸外コントラストリ１が小さすぎる不
良（Ｚ−ＭＴＦＬＤ　）　）（９）軸外コマ収差不良（
最良軸外コントラストの異常変化（Ｚ−ＣＯＮ　）　） を判定する。 ２．１Ｎｇ２（コントラス）Ａｌｌ定サブルーチン４４
）の測定結果を判定基準と比較することにより （１）軸」−に於る非点収差不良（Ａ−ＡＳＵ　）（２
）軸上コントラスト不足不良（＾−ＭＴＦＬＯ）（３）
軸上コントラストの一部不足不良（軸外コントラストの
一部が小さく、かつアンダー不良である場合（Ｕ−Ｕ　
）の不良、軸外コントラストの一部が小さく、かつオー
バー不良である場合（０＋Ｈ（４）軸外コントラスト不
足不良（Ｚ−ＭＴＦＬＯ）（５）軸外コントラストの変
動不良（軸外のＭＴＦが激しく変化している不良（Ｚ−
ＨＥＮ　）　）を判定する。 上記項［Ｉ別の判定の結果は、それぞれ判定レジスタＤ
ＳＯおよびＤＳＬの予め定められたビット１〜８の状態
を変化（良の場合二〇、不良の場合＝１）することによ
り記録され、該判定レジスタＤｓｏ　−ｏｓｔに記録さ
れた判定結果は各判定サブルーチン５１・５２毎に表示
制御メモリに転送される。 そして、この表示制御メモリに転送記憶された判定結果
にノ、シ）て、後述する表示部６に設けられた各ＬＥＤ
が点滅制御されるようになっている。 即ち１表示部６の各ＬＥＤは、表示制御メモリの内容、
つまり判定レジスタＤＳＯおよびＤＳｌの各ビットの状
ｊ、ｉ、（Ｑまたはｌ）に対応じて点滅制御される構成
となっており、各ＬＥＤは、その各々と対応するヒント
の状態がＯの場合は消灯され、ｌの場合には点灯される
ようになっている。又、上記判定に用いられたデータは
、後述するパソコン部ＰＣにも送られるようになってい
る。 以下、フローチャートに基づいて具体的に説明する。 まず、制御プログラム５Ａを構成する二つの判定サブル
ーチン５１．５２を第１６図の流れに従って説明する。 判定サブルーチン５１は、前述したコントラスト測定サ
ブルーチン４３の結果から軸上アス（非点収差）、コマ
、軸外アス（偏心）、コマの程度を計算する。さらに、
軸上の＋ｉ均像面位置（ＨＫＮＰＰＭ）と、軸外の４Ｉ
均像面位置（ＨＫＮＰＰＺ　）との差から像面湾曲を、
−１算する。そして、これらの５１算結果と後述する各
ノ、（べれ値との比較から被検レンズｌの良否および不
良内容を判定し、その判定結果を判定レジスタＤＳＯお
よびＤＳＩに記録する。 判定サブルーチン５２は、輔」二、軸外のコントラスト
およびコントラストの変化の様子を３１算し、判定サブ
ルーチン５１と同様に、これらの計算結果と後述する各
基べ０イば（どの比較から被検レンズ１の良否および不
良内容を判定し、その判定結果を判定レジスタＤＳＯお
よび［１Ｓ１に記録する。 判定レジスタＤＳＯおよびＤＳｌに記録された判定結果
は、前述の如くその都度（判定サブルーチン５１・５２
イσに）表示制御メモリに転送記憶され、該表示制御メ
モリの記憶内容に基づいて後述する表示部６の各ＬＥＤ
を点滅制御するものである。 （判定）＾準について） 被検レンズの種類によってレンズ良否の判定基準が異な
るため、レンズテスタＬＴでは、制御プログラム５Ａ−
１−に多くの判定ノ、い１を持っている。 これらの判定基準には、その全てに制御プログラム５Ａ
Ｊ二でＳＴＤを冠した基へり４１６名が付けられている
。 像面についての基亭値には。 ５ＴＤＰＰＡ　　：　′）、いＩｉ軸上像面５ＴＤＰＰ
Ｚ　　：　、！＋’；べわ軸外像面５ＴＯＰＰＡυ　：
軸上アンダー側リミット５ＴＤＰＰＡＯ：輔ロオーバー
側リミット５ＴＩＩＰＰＧＵ　　ｎ軸外アングー側リミ
ット５ＴＯＰＰＧＯ：軸外オーへ−側リミツトがあり、
」二記各リミットから外れる被検レンズ１は、パックフ
ォーカスｆｂ　　（機械的なピント位置）不良と判定さ
れる。 像面変化についての基べれ値には、 ５ＴＤＰＰＳＡ　：軸上像面変化リミット５ＴＤＰＰＳ
Ｚ　：軸外像面変化リミットがあり、上記各像面変化リ
ミットをオーバーする被検レンズは、アス（非点収差）
不良と判定される。 コントラストの変化についての基準値には、ＳＴＤＭＭ
ＳＡ　：最良軸上コントラストの変化リミットＳＴＤＭ
ＭＳＺ　：最良軸外コントラストの変化リミットがあり
、上記各変化リミットをオーバーする被検レンズは、コ
マ収差不良と判定される。 コントラストの最小値についての基準値には。 ＳＴＤＭＴＮＡ　：最良軸］−コントラストリミットＳ
ＴＤＭＩＮＺ　−最良軸外コントラストリミットＳＴＤ
ＭＮＬＡ　二平均軸１−像面における軸上コントラスト
リミット ＳＴＤＭＮＬＺ　：　甲均軸上像面における軸外コント
ラストリミット ５ＴｒＪＨＮＨｚ　：　”ｌＬ均軸−に像面における軸
外コントラストの１１均値のリミット があり、上記各リミットに満たない被検レンズは、コン
トラストアンダー不良と判定される。なお、平均軸上像
面における軸外コントラストの平均イ１のリミッ）　（
ＳＴＤＭＮＨ２）に満たない被検レンズは、特定方位の
みの不良ではなく、平均値も不良な不良の程度の大きい
レンズと判定される。 （判定動作について） 第２１図１　／　４−４７４　ハ、第１６図ニ示ｔ　ｆ
ｌｌササブルーチン５１フローチャートである。以下、
同図に示す各処理（手１狛）の流れに従って説す１する
。 処理［１１では、４方位について測定した４個の軸上像
面位置（ＰＰＡ　）から、 ＰＰＡ阿Ａｘ＝最大値 ＰＰＡＭＩＮ　：最小値 １−ＩＫＮＰＰＡ　、平均イに（ ＳＡＰＰＡ　　：最大値と最小値との差を求める。 処理［２１では、軸上像面変化リミット（５ＴＯＰρＳ
Ａ）と処理［１］で計算した最大値と最小値との差（５
ＡＰＰＡ　）とを比較する。軸」二像面変化すミント（
５ＴＤＰＰＳＡ　）よりも最大値と最小値との差（５Ａ
ＰＰＡ）の力が大きい場合は、輔」ニアス（非点収差）
イぐ良とｌ’ｌ定し、判定レジスタの所定ビット（判定
レジスタＤＳＯの３ビツト［１）を１とする。 ＋！Ｑ　＋Ｓ　Ｉ’　、１回転対称になっているカメラ
レンズは、一般°に光軸−Ｌに非点収差を発生しない。 しかし、カメラレンズが心取り不良の玉により組み立て
られた場合等には、光軸−１−に非点収差が現われるの
で、＝！−記処理［２１にて軸り像面位置が所定量具」
二変動している被検レンズを軸上アス不良とするもので
ある。 ここで、該処理［２１に於て軸上アス（非点収差）不良
と判定された場合を例として不良表示を説明する。 処理［２］に於て輔１−アス（非点収差）不良と判定さ
れると、判定レジスタのそれと対応するピント（判定レ
ジスタＤＳＯの３ビフＨ１）が１となる。そして、当該
判定サブルーチン５１の終了時に判定レジスタの内容が
表示制御メモリに転送記憶される（後述の処理［２３］
　）と、該表示制御メモリに記憶された軸上アス不良を
示すデータにノ、（づいて、表示部６（第２５図示）の
当該不良の表示であるＬＥＤ６４Ａ　（Ａ−ＡＳＵ）を
点灯させるものである。 処理［３］　では、軸上アンダー側すミッ）　（５ＴＤ
ｐｐ＾■）と処理［１１で工１算した」ｌ均イブｉ（）
ＩＫＮＰＰＡ）とを比較する。軸１ニアンダー側リミッ
）　（５ＴＤＰＰＡυ）よりも１１均値（）ＩＫＮＰＰ
Ｍ）の方が大きい場合は、機械的なパックフォーカスｒ
ｂのアンター側異常と判定し１判定レジスタの対応ビッ
ト（判定レジスタＤＳＯの１ビツト１１）を１とする。 これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の人力ζである表示部
６のＬＥＤ６３Ａ　（ｆｂ大）を点灯させる。 処理（４１では、軸上オーバー側異常ッ）　（５ＴＤＰ
ＰＡＯ）と処理［１１で計算した平均値（）ＨＫＮＰＰ
Ａ）とを比較する。そして、輔北オーバー側リミット（
５ＴＤＰＰＡＯ）よりも−ト均値（ＨＫＮＰＰＡ）の方
が小さい場合は、機械的なバックフォーカスｒｂのオー
バー側異常と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定
レジスタＤＳＯの２ビツトＩ＋）を１とする。 これにより、−上記判定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部
６のＬＥＤ６３Ｂ　（ｆｂ小）を点灯させる。 処理［５］では、ノ、（半軸」二像面（ＳＴＤＰＰＡ）
つまり軸」−像面位置の設計値と、処理［１１で計算し
た平均イ〆ｉ（ＨＫＮＰＰＡ）つまり平均軸上像面位置
との像面位置の差（５ＡＨＫＮＡ　）を求める。すなわ
ち、（５ＴＤＰＰＡ　）　−（ＨＸＮＰＰＡ）　＝　（
５ＡＨＫＮ＾）という計算が行なわれる。 処理［６］　では　４ｉ均軸上像面（ＨＫＮＰＰＡ）に
相当（−・致）する軸外像面（５ＫＰＰＺ）を求める。 これは、軸外フントラストの測定を（ｉ均輔」二像面（
ＨＫＮＰＰＡ）に相当（一致）する軸外像面（５ＫＰＰ
Ｚ）で行なう必要があるためである。 第２２図は、　）、Ｉ！ｉ準となる像面位置と、処理［
１１で；；１算した一９７均の像面位置との関係を示す
説ＩＪＩＪ図である。同図に示すように軸外像面の設計
値からのズレ量は、処理［５］で計算した像面位置の差
（５ＡＨＫＮＡ　）から（５ＡＨＫＮＡ　）　／　Ｃｏ
ｏｓ　θとなる。 すなわち、基準軸外像面（５Ｔｎｐｐｚ　）からと、求
められる。 なお、上記のような巳角関数の計算は、判定部５を構成
したマイクロコンピュータでは計算プログラムが繁雑と
なり、いたずらにプログラムステップ数が増大する傾向
にある。そこで、本実施例では上記計算をまるめ計算と
しである。 処理［７］では、軸外像面のアンタ一方向リミット（５
ＫＰＰＺＵ　）　、！＝、オーバ一方向’Ｊ　ミｙ　）
　（５ＫＰｐｚｏ　）を求める。すなわち、処理［６１
で５１ｍした軸外像面（５ＫＰＰＺ）　　、軸外像面の
アンダー力向許容量（５ＴＤＷＵ）　　、軸外像面のオ
ーバ一方向許容量（５ＴＤＷＯ）から （５ＫＰＰＺＵ　）　＝　（５ＫＰＰＺ）　＋　（５Ｔ
ＤＷＵ）（５ＫＰＰＺＯ）　＝　（５ＫＰＰＺ）　−（
５ＴＤＷＯ）と、求められる。 ％理１８１　テハ、処Ｐｌ！（７３−ｃ計算Ｌ　タ４：
ｂ外像＋６ｉ　（７）オーバ一方向すミッ）　（５ＫＰ
ＰＺＯ）を検査してその値が負の場合に（５ＫＰＰＺＯ
）　＝　Ｏとする。これは、負のイ〆（をなくして判定
部５での演算処理を容易にするためのものである。 処理［９Ｊでは、４方位についてａ１１定した４個の＋
ｉｌｔ外像面位だ（ＰＰＺ　）から ＰＰＺＭＡＸ　：最大ｆ〆ｉ ＰＰＺＭＩＮ　　二　最小（直 ＨＫＮＰＰＺ：１１’均イ六 ５ＡＰＰＺ　：　Ｉｒ大値と最小値との差を求める。 処理［１０１では、軸外像面変化リミット（５ＴＤＰＰ
ＳＺ）と処理［９］で、−１算した最大値と最小値との
差（５ＡＰＰＺ　）とを比較する。軸外像面変化リミッ
ト（５ＴＤＰＰＳＺ　）　ヨりも最大値と最小値との差
（５ＡＰＰＺ）の方が大きい場合は、軸外アス（非点収
差）不良と判定し１判定レジスタの対応ビー／　）　Ｃ
’ｒ４定レジスレジスタロＳ１ッ）ｇ）を１とする。こ
れにより、」−記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６５Ｃ（Ｚ−ＡＳＵ）を点灯させる。 処理［１１１では、処理［７］で計算した軸外像面のア
ンダ一方向リミッ）　（５ＫＰＰＺＵ　）と処理［９］
で計算したｔｌｉ均（〆ｉ（ＨＫＮＰＰＺ）とを比較す
る。軸外像面のアンタ一方向リミット（５ＫＰｐｚｕ　
）よりも１ｉ均値（ＨＫＮＰＰＺ）の方が大きい場合は
、像Ｗｉがアンター側に湾曲したアンダー異常と判定し
、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＯの７
ビツト１］）を１とする。これにより、上記判定レジス
タの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該
不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ａ　（ＵＮＤ）
を点灯させる。 処理［１２１では、処理Ｉ７］で計算した軸外像面のオ
ーバ一方向すミ、ト（５ＫＰＰＺＯ）と処理【９１で計
算したモ均（ｔｌｆｆ（ＨＫＮＰＰＺ）とを比較する。 ＋４ｈ外像面のオーバ一方向リミット（５ＫＰＰＺＯ）
よりも１１均値（ＨＫＮＰＰＺ）の方が小さい場合は、
像面がオーバー側に湾曲したオーバー異常と’ｒＪｌ定
し、判定レジスタの対応ピッ）　（’ｒ４定レジしタＤ
ＳＯの８ヒツ）［１）を１とする。これにより、上記判
定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたと
き、火該不良の表示である表示部６のＬＥＤ　６５Ｂ　
（ＯＶＥＲ）を点灯させる。 処理［１３ｊでは、処理［９１で９１′Ｏシた平均イダ
ｉ（ＨＫＮＰＰＺ）つまり！ｉ均軸外像面位置と、処理
［６１で計算した軸外像面位置（５ＫＰＰＺ）との像面
位置の差（５Ａ）ＩＫ）ＩＺ　）を求める。すなわち、
（ＨＫＮＰＰＺ）　−（５ＫＰＰＺ）　＝　（５ＡＩＩ
ＫＮＺ　）という計算が行なわれる。 処理［１４］では、処理［１３］で計算した軸外像面の
差（５ＡＨＫＮＺ　）を検査する。つまり、軸外像面の
差（５ＡＨＫＮＺ　）　ノミＥ負を検査する。 軸外像面の差（５Ａ）ＩＫＮＺ　）が正の値の場合は。 軸外像面が軸に像面よりもアンダー側にあると考えられ
る。この場合、軸外アンダー量（ＰＰＺＧＵ）は、 （ＰＰＺＧＵ）　＝　　（５Ａ）ＩＫＮＺ　）　Ｘ　２
　＋　（５ＡＰＰＺ　）と、；１算される。この軸外ア
ンダー量（ＰＰＺＧＵ）は、平均軸上像面（ＨＫＮＰＰ
Ａ）からの軸外像面のディフォーカス量の２倍に相当し
、該軸外アンダー量が大きいほどコントラスト低下の原
因となる０次に、この軸外アンダーＦｉ　（ＰＰＺＧＵ
）と軸外アンダー側リミット（５ＴＤＰＰＺＵ）とを比
較する。 そして、軸外アンダー側リミット（５ＴＤＰＰＺＵ）よ
りも軸外アンダー量（ＰＰＺＧＵ）の方が大きい場合は
、像面のアンダー側への湾曲とり（に偏心も考えられる
ため、アンター異常と偏心異常の合成不良と判定し、゛
Ｉ判定レジスタ対応ビット（判定レジスタΩＳｌの５ビ
ツト１１）を１とする。これにより、上記判定レジスタ
の内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不
良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｇ　（Ｕ＋Ｈ）を
点灯させる。 一方、軸外像面の差（５ＡＨＫＮＺ　）が負の値の場合
は、軸外像面が輔ト像面よりもオーバー側にあると考え
られる。この場合、軸外オーバー呈（ＰＰＺＧＯ）は （ＰＰＺＧＯ）　−（５ＡＨＫＮＺ　）　Ｘ　２　＋　
（５ＡＰＰＺ　）と計算される。この軸外オーバー量（
ＰＰＺＧＯ）は、前記軸外アンダー埴の場合と同様、４
ｉ均軸上像面（）ＩＫＮＰＰＡ）からの軸外像面のディ
フォーカス量の２倍に相当し１．該軸外オーバーにｌが
大きいほどコントラスト低下の原因となる６次に、この
軸外オーバー；：：　（ＰＰＺＧＯ）と軸外オーバー側
リミット（５ＴＤＰＰＺＤ）とを比較する。そして、軸
外オーバｍ個すミッｌ−（ＳＴ！ＩＰＰＺＯ）よりも軸
外オーバー量（ＰＰＺに０）の方が大きい場合は、像面
のオーバー側への湾曲と共に偏心も考えられるため、オ
ーバー異常と偏心異常の合成不良と判定し、判定レジス
タの対応ビット（判定レジスタＤＳＩの６ビアトＩＩ）
を１とする。これにより、上記悶定レジスタの内容が表
示制御メモリに転送記憶されたとき、″／Ｉ該不良不良
、１、である表示部６のＬＥＤ６５Ｈ（０＋Ｈ）を点灯
させる。 処理［１５］では、４方位について測定した軸上像面位
置における４個の軸Ｌコントラス）　（ＭＴＦＡ）から
、 ＭＴＦＭＡＸ＾：最大値 ＭＴＦＭＩＩＩＡ二最小イメ１ ）ＩＫＮＭＴＦ＾：平均値 ５ＡＮＴＦＡ　：最大値と最小値との差を求める。 処理［１６］では、最良軸−ヒコントラストの変化リミ
ット（ＳＴＤＭＭＳＡ　）と、処理［１５Ｊで計算した
最大値と最小イｆｉとの差（ＳＡＭＴＦＡ）とを比較す
る。ここで、最良軸上コントラストの変化リミット（Ｓ
ＴＤＭＭＳＡ　）よりも最大値と最小値との差（ＳＡＭ
ＴＦＡ）の方が大きい場合は、輛」ニコントラストのコ
マ不良と判定し、判定レジスタの対応ビー、ト（判定レ
ジスタＤＳＯの４ビツト［１）を１とする。これにより
、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶
されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥ０６
４Ｂ　（Ａ−ＣＯＭ）を点灯させる。 処理［１７１では、最良軸上コントラストリミット（Ｓ
Ｔ［１ＮＩＮＡ）と処理［１５ｊで、；１算した平均値
（ｔＩＫＮＭＴＦＡ　）とを比較する５ここで、最良軸
上コントラストリミット　（Ｓ丁ＤＭＩＮＡ）よりも平
均（（ｉ（ＨＫ朋ＴＦＡ）の方が小さい場合は、軸」ニ
コントラストの値不足と判定し、判定レジスタの対応ビ
ット（判定レジスタ０５０の５ヒツト１１）を１とする
。これにより、上記Ｆ１定レジスタの内容が表示制御メ
モリに転送記憶されたとき、当＋ｔＡ不良の表示である
表示部６のＬＥＤ６４Ｃ（Ａ−ＭＴＦ＠ＬＯＷ）を点灯
させる。 処理［１８１では、最良軸上コントラストリミット（Ｓ
ＴＤＭＩＮＡ）と処理［１５１で計算した最小イ＋Ｉ’
＋（にＴＦＭＩＮＡ　）とを比較する。ここで、最良軸
上コントラストリミット（ＳＴＤＭＩＮＡ）よりも最小
値（にＴＦＭＩＮＡ）の方が小さい場合は、ｉ上コント
テストの一部のｉＩｉ不足と判定し１判定レジスタの対
応ビット（ｒｌ判定レジスタＳＯの６ビツト目）を１と
する。 これにより、１．記判定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部
６のＬＥＤ６４Ｄ　（Ａ−ＭＴＦ・ＰＬ）を点灯させる
。 処理［１９］では、４方位についてΔ１１定した軸外像
面位置における４個の軸外コントラス）　（ＭＴＦＺ）
から、 ＭＴＦＭＡＸＺ　：最大値 にＴＦＭＩＮＺ　：最小値 ＨＫＮＭＴＦＺ　：帽を均値 ５ＡＮＴＦＺ　：最大イブ（と最小イ〆ｊとの差を求め
る。 処理１２０１では、最良軸外コントラストリミット（Ｓ
ＴＤＭＩＮＺ）と処理［１９１で計算した平均値（ＨＫ
ＮＭＴＦＺ　）とを比較する。ここで、最良軸外コント
ラストリミｙ　ト（ＳＴＤＭＩＮＺ）よりもモ均イブｊ
（ＨＫＮＭＴＦＺ）の方が小さい場合は、軸外コントラ
ストの値不足と判定し１判定レジスタの対応ビット（判
定レジスタ口Ｓ１の３ビツト１］）を１とする。これに
より、上記判定レジスタの内容が表示ル制御メモリに転
送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬ
ＥＤ６５Ｅ　（Ｚ−ＭＴＦ拳ＬＯＷ）を点灯させる。 処理［２１１では、最良軸外コントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤＭＭＳＺ　）と、処理［１９１で計算した最
大値と最小イブ（との差（ＳＡＭＴＦＺ）とを比較する
。ここで、最良軸外コントラストの変化リミット（５Ｔ
ＯＷＮＳＺ　）よりも最大値と最小値との差（５Ａ）Ｉ
ＴＦＺ）の方が人まい場合は、ｈＩＩ外のコマ不良と判
定し、　’Ｉ′ｌＪ定レジスタの対応ピッ）　（’ｒ−
１定レジスタＤＳｌの２ビツト目）を１とする。これに
より、上記判定レジスタＯ５＋の内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６５Ｄ　（Ｚ−ＣＯＭ）を点灯させる。 処理【２２Ｉでは、当該判定サブルーチン５１に於る偶
々の判定に基づいて総合判定を行なうものであり、１１
定レジスタＤＳＯおよび［］Ｓｌの全てのビットを検査
する。つまり、被検レンズｌに何らかの不良がある場合
は、上記処理［２１］までの各処理が実行されることで
、判定レジスタＤＳＯあるいはＤＳｌの何れかのビット
が１になっているはずである。このため１判定レジスタ
ＤＳＯおよび［ｌＳｌの全てのヒツトについて、その状
ｊＳを検査すれば被検レンズ１の各不良の有無を知るこ
とができる。 すなわち、判定レジスタＤＳＯおよびＤＳｌの全てのビ
ットがＯの場合は、被検レンズ１を良品と判定し、゛ｌ
′４定サブルーチン５１の総合良判定対応レジスタ（’
ｒｇ定レジしタＤＳＩの８ビツト［１）を１とする。こ
れにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに
転送記憶されたとき、良品の表示となる表示部６のＬＥ
Ｄ６２Ｂ　（良）を点灯させる。一方、判定レジスタＤ
ＳＯおよびＤＳＩの全てのビットを検査して、ｌのビッ
トが一つでもある場合には、被検レンズｌには当該ビッ
トに対応した何らかの不良があるということなので、被
検レンズｌを不良品と判定し、判定サブルーチン５１の
総合不良゛１定対応レジスタ（判定レジスタＤＳＩの７
ビｙ）［１）を１とする。これにより、上記判定レジス
タＤＳ１の内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき
、不良品の表示である表示部６のＬＥＤ６２Ａ　（不良
）を点灯させる６処理【２３Ｊでは、判定レジスタＤＳ
ＯおよびＤＳＩの内容をメモリ内の表示制御メモリに記
ｔ２ξせる。すなわち、該処理［２３１を実行すること
で、判定結果である各不良内容が表示制御メモリに記憶
され、その内容が表示部６の各ＬＥＩ）に点灯表示され
る。この処理は、゛Ｎ定レしスタＤＳＯおよびＤＳｌが
判定部５内の演算処理用のレジスタであって、後述する
判定サブルーチン５２等でも使用するなどの取り扱い上
の理！１１による処理である。 判定サブルーチン５１は、以１−の２３項目の処理を記
述前に実行するものである。 次に、判定サブルーチン５２について説明する。 この同定サブルーチン５２では、前述したコントラスト
４１４疋サブルーチン４４で測定したコントラストによ
る被検レンズｌの判定、つまり平均軸り像面にて測定し
たコントラストによる被検レンズｌの判定が行なわれる
。ここでの判定基準は、判定サブルーチン５１で用いた
前述したＳＴＤを冠した基準値が用いられる。 第２４図１／２〜２／２は、第１６図に示す判定サブル
ーチン５２のフローチャートである。以ド、同図に示す
各処理（−ｒ順）の波れに従って説＋５３する。 処理［１］では、＋ｌ均軸−Ｌ像面位置において測定し
た、所定の８方位または１２方位における８個または１
２個の軸」ニコントラストから、ＭＴＦＭＸＬＡ　：最
大値 ＭＴＦＭＮＬＡ　：最小値 ）ＩＫＮ＞ＩＦＬＡ：１Ｌ均イ自 ＳＡＭＴＦＬＡ　：最大イ〆Ｉと最小値との差を求める
。 処理［２］では、最良軸」ニコントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤＭＭＳＡ　）と、処理［１１で計算した最大
イＣｔｉ　、！：最小イダ（どの差（ＳＡにＴＦＬ、Ａ
）とを比較する。ここで、最良軸」ニコントラストの変
化リミット（ＳＴＤにＭＳＡ　）よりも最大値と最小値
との差（ＳＡＭＴＦＡ）の力が大きい場合は軸上コント
ラストのアス不良と判定し、１定しノスタの対応ビット
（判定レジスタ　ＤＳＯの３ヒント［１）を１とする。 これにより、に記゛ｒｌ！定レジスタの内容が表示制御
メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表
示部６のＬＥＤ６４Ａ　（Ａ−ＡＳＵ）を点灯させる。 処理〔３１では、平均軸」−像面における軸上コントラ
ストリミット（ＳＴＤＭＮＬＡ）と、処理［１で計算し
たモ均萌（）ＩＫＮ）ＩＦＬＡ）とを比較する。平均軸
上像面における軸１ニコントラストリＥ　ｙ　）　（Ｓ
ＴＤＭＮＬＡ）よりもＶＩｌ均幼（ＨＫＮＭＦＬＡ　）
の方が小さい場合は、軸上コントラストの値不足と判定
し、判定レジスタの対応ピント（判定レジスタＤＳＯの
５ビットｒ、ｌ）を１とする。これにより、」二足゛Ｉ
定レジスタの内容が大小制御メモリに転送記憶されたと
き、当該不良の表示である表示部６のＬＥ０６４Ｃ（Ａ
−ＭＴＦ−ＬＯＷ）を点灯させる。 処理［４１では、平均軸上像面における軸−１−コント
ラストリミン）　（ＳＴＤＭＮＬＡ）と、処理［１］で
計算した最小値（ＭＴＦＭＮＬＡ）とを比較する。平均
軸」−像面における軸−１ニコントラストリミツト（’
ＳＴＤＭＮＬＡ）よりも最小イｌ’ｉ　（ＭＴＦＭＮＬ
Ａ）の方が小さい場合は、軸上コントラストの一部の値
不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジス
タＯ８Ｏの６ビツト１１）を１とする。これにより、」
二足判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶さ
れたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６４
Ｄ　（Ａ−ＭＴＦ・ＰＬ）を点灯させる。 処理【５】　では、軸外コントラストの測定値（データ
）を一部移し換えて、データの退避を実行する。８個ま
たは１２個の軸外コントラストの測定イダ１は、各々専
用の退避レジスタ（ＭＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ７または
訂ＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ１１）に格納される。そこで、
８方位について軸外コントラストを測定した場合は、第
４方位の測定イダ１．つまり退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ
３　）の内容を第８方位の退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ７
　）に転送する。その後、第７方位の測定値、つまり退
避レジスタ（ＭＴＦＺＬ６）の内容を第４方位の退避レ
ジスタ（ＭＴＦＺＬ３）に転送する。この測定値の移し
換えは、つぎの処理［６］での計算処理を筒中するため
のべｌｉ備であり、第４方位の測定イｒＩｉが後述する
パソコン部ＰＣへの転送データとなっていることによる
データ退避作業である。また、１２方位について軸外コ
ントラストを測定した場合は、測定データ全てを利用す
るので該処理［５］は行なわずに、そのままつざの処理
［６１に移る６ 処理［６１では、軸外コントラストの測定値から ＭＴＦＭＸＬＺ　：最大値 ＫＴＦＭＮＬＺ：Ｇ小イｆＩ ＨＫＮＭＦＬＺ：ｉ’均イｊｌｉ ＳＡとＴＦＬＺ　：最大値と最小値との差を求める。な
お、８方位について軸外コントラストを４１１定した場
合は、退避レジスタ（Ｍ丁ＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ５　）
の内容から上記各イ〆

【を求める。また、１２方位につ
いて軸外コントラストを測定した場合は、退避レジスタ
ＣＭＴＦＺＬＯ−ＭＴＦＺＬｌｌ　　）の内容から上記
各イ〆１を求める。 処Ｊ！ｌ！Ｈ）では、処Ｊ’ｌＩ［５］　テ’Ａ避すセ
タ＋１＋外コントラストの測定値を元に戻す。つまり、
８方位について軸外コントラストを４１１定した場合は
退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ７　）に！！避させた第４方
位の測定イ〆」を本来の退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ３）
に転送し、元の状態に戻す。さて、第８方位の測定値は
、前記処理［５］のデータ退避作業で消滅しているが。 これと対称な位置の第４方位の測定値が確保されている
ので聞届はない。また、１２方位について軸外コントラ
ストを測定した場合は、該処理［７」を実行する必要は
なく、処理［６１を実行後直ちにつぎの処理［８Ｊ　に
移る。 処理［８１では、４１均輔Ｌ：、像面における軸外コン
トラストリミット（ＳＴＤＭＮＬＺ）と処理［６１で計
算した最小値（ＮＴＦ）ＩＩＩＩＬＺ）とを比較する。 平均軸上像面における軸外コントラストリミット（ＳＴ
ＤＭＮＬＺ）よりも最小（ｄｒｃ　ＭＴＦＭＮＬＺ　）
の力が小さい場合は、像面の湾曲と偏心の合成不良が考
えられるので像面湾曲の方向を検査する。また、平均軸
」二像面における軸外コントラストリミント（ＳＴＩＩ
ＭＮＬＺ）よりも最小イ〆ｆ（ＭＴＦＭＮＬＺ　）の方
が小さくない場合は、直ちに処理［ｌＯ］の処理に移る
。 像面湾曲の方向は、判定サブルーチン５１によりすでに
検査されている。つまり、　（ＰＰＺＧＯ）　＞（ｐｐ
ｚｃｕ）ならばオーバ一方向、（ＰＰＺＧＯ）　＜　（
ＰＰＺＧＵ）ならばアンダ一方向である。したがって、
被検レンズの像面がアンダ一方向に湾曲している場合は
、アンターと偏心の合成による軸外コントラストの異常
と判定し１判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＯ
５１の５ビツトｌコ）を１とする。 これにより、−１−記判定レジスタの内容が表示制御メ
モリに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示
部６のＬＥＤ６５Ｇ　（Ｕ＋Ｈ）を点灯させる。 一方、被検レンズ１（７）像面がオーバ一方向に湾曲し
ている場合は、オーバーと偏心の合成による軸外コント
ラストの異常と判定し１判定レジスタの対応ビット（判
定レジスタＤＳＩの６ビツトＩりを１とする。これによ
り、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記
憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ
６５Ｈ（０＋Ｈ）を点灯させる。 処理［９１では、１を均軸に像面における軸外コントラ
ストの１１均値のリミット（ＳＴＤＭＮ）１２）と処理
［＋；Ｉ　テ、ｉｔＵした＋ｉ均値（ＨＫＮＭＦｔ、Ｚ
）　ト’ｉ−比Ｖする。そして、１１均軸上像面におけ
る軸外コントラストの１１均値のリミッｌ−（ＳＴＤＭ
ＮＨ２）よりも平均イ〆ｉ　（ＨＫＮＭＦＬＺ）の方が
小さい場合は、軸外コントラストの値不足と判定し、判
定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＩの３ビツ
ト［１）を１とする。これにより、上記判定レジスタの
内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良
の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｅ　（Ｚ−ＭＴＦ・
ＬＯＷ）を点灯させる。 処理［１０１では、最良軸外コントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤＭＭＳＺ）と処理［６１で１−１算した最大
値と最小ｉｆｆとの差（５ＡＮＴＦＬＺ）とを比較する
。ここで、最良軸外コントラストの変化リミッ）（、Ｓ
ＴＤＭＭＳＺ）よりも最大値と最小値との差（ＳＡＭＴ
ＦＬＺ）の方が大きい場合は、軸外コントラストの変動
異常と判定し、′ｒ１定レジスタの対応ビット（’Ｉ’
ｌｌ定ジスクＤＳ１の４ヒツト（］）を１とする。これ
により、−１−記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６５Ｆ　（Ｚ−ＨＥＮ）を点灯させる。 処理［１１１では１判定レジスタＤＳＯ５よび［］Ｓ＋
の全てのピントを検査する。これは、゛１ｇ定サブす−
チン５１に於る処理［２２１の場合と同様に、′Ｉ定サ
サブルーチン５２於る個々の判定に）、（づいて総合判
定を行なうものであり、１定レジスタＤＳＯおよびＤＳ
Ｉの各ビットの全てのビットを検査する。すなわち、判
定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの全てのビア）がＯの場
合は、被検レンズｌを良品と■定し、判定サブルーチン
５２の総合良判定対応レジスタ（’ｔ’Ｊ！　Ｎレジス
タＤＳｌの８ビツト［］）を１とする。これにより、上
記′ｌ′４定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記
憶されたとき、良品の表示である表示部６のＬＥ０６２
Ｂ　（良）を点灯させる。一方、判定レジスタＤＳＯお
よび［］Ｓｌの全てのピントを検査して、ｌのヒフ）が
一つでもある場合には、被検レンズｌにチ該ビットに対
応した何らかの不良があるということなので、被検レン
ズｌを不良品とＩ定し、被検レンズＩを不良品と判定し
、判定サブルーチン５１の総合不良判定対応レジスタ（
判定レジスタＤＳＩの７ビツト１］）を１とする。これ
により、−に記判定レジスタの内容が表示制御メモリに
転送記憶されたとき。 不良品の表示である表示部６のＬＥＥ）６２Ａ　（不良
）を点灯させる。 処理［１２］では、１定レジスタｏｓｏ　　オよびＤＳ
Ｉの内容をメモリ内の表示制御メモリに記憶させる。す
なわち、該処理］Ｉ２】を実行することで、判定結果で
ある各不良内容が表示制御メモリに記憶され、その内容
が表示部６の各ＬＥＤに点灯表示される。この処理も、
＋ｉｉｉ　述した判定サブルーチン５１の処理［２３１
と同様、取り扱い上の理由による処理である。 判定サブルーチン５２は、以」二の１２項［１の処理を
記述順に実行するものである。 「表示部６」 （構　成） 表示部６は、第２５図示の如く、前記判定部５によるｒ
１定結果を表示パネル６１に配置された発光タイオー１
”（ＬＥＤ）の点灯により表示するものである。 表示パネル６１には、総合ｒ１定（７）ＬＥＤ６２Ａ・
６２Ｂと１判定部５によるｔ’ｌ　’ＡＩと対応する各
判定部［ｊ別のＬＥＤ　（６３Ａ・６３Ｂ・６４Ａ・６
４Ｂ−６４Ｃ・６４Ｄφ６５Ａ−６５Ｂ・６５Ｃ・６５
Ｄ・６５Ｅ・６５Ｆ−６５Ｇ−６５Ｈ）か、第２６図示
の如く所定の位置に配置されている。尚、該表示パネル
６１内にはレンズテスタＬＴの電源スィッチ６６および
ａｌｌｌ疋動作の起動スイッチ等も一緒に配置されるも
のである。 （作　用） 表示パネル６１に配置された各ＬＥＤは、前述の判定部
５の所で説明した如く、制御部４とノ（にｒｌＩ定部定
電５成するマイクロコンピュータ内に設けられた表示制
御メモリにより１！、＜城制御される。 すなわち、表示制御メモリには、ｌ′ｌＩ定部５による
判定結果か−・時格納される前述した判定レジスタＯ５
ＯおよびＤＳＩの内容が記憶される。そして、表示パネ
ル６１の各ＬＥＤは、表示制御メモリの内容、つまり判
定部５内の判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの各ビット
と各々対応じており、各ビットの状＋！；　（０または
ｌ）に対応じて点滅制御される構成となっている。つま
り、各ＬＥＤは、その各々と対応するビットの状態がＯ
の場合は消灯され。 ■の場合には点灯される。 この各ＬＥＤと゛ｒＩＩ定レジスしＤＳＯおよびＤＳＩ
の各ビットとの対応、つまりどのＬＥＤが判定レジスタ
Ｏ５ＯおよびＤＳＬの何れのビットに対応じているかに
ついては１判定サブルーチン５１および５２の説り１の
ダ１にてその都度説１５１シであるので、ここでは省略
する。 次に、各ＬＥＤによるｊＬ体的な表示内容を説明する。 総合判定のＬＥＤ６２Ａ・６２Ｂは、６２Ａが被検レン
ズ１が不良品の時（即ち種々の判定基準の一つでも外れ
た〃１ｆ、この場合後述する各検査項ＩＩ別ＬＥＤの何
れかが必ず点灯する）に点灯し、６２Ｂが被検レンズ１
が良品の場合（種／／の判定）１い１Ｘすへてを満足し
た場合）に点灯する。 各判定ｚｒｔｎ別のＬＥＤは、６３Ａ・６３Ｂ７５＜機
械的なパンクフォーカスの不良、６４Ａ〜６４Ｄがレン
ズ輔−１一つまり中心部の不良、６５Ａ〜６５Ｈがレン
ズ軸外つまり周辺部の不良を示すものであり、点灯した
場合が当該不良を表わすものである。 以下、各ｒ４定項ＨＭ’ｌのＬＥＤによる表示（点灯）
を個々に説明する。 被検レンズｌが判定ノ、（僧を全てクリアすると、良品
表示である６２Ｂが点灯。 不良の場合は不良品であることを示す６２Ａが点灯し、
その不良内容（理由）が６３Ａから６５Ｈまでの閂定ゲ
１１１別のＬＥＤの点灯によって表示される。 ６３Ａは、機械的なバックフォーカスの過大不良（ｆｂ
大〕時に点灯。 ６３Ｂは、機械的なフォーカスバックの不足不良（ｆｂ
／ｊ１）時に点灯。 ６４Ａは、軸」こアス不良、つまり軸上ピークの異常変
化による不良（Ａ−ＡＳＵ　）時に点灯する。この不良
の原因としては、被検レンズ１ｔｌ−構成する構成レン
ズの偏心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｂは、輔」−コマ不良つまり最良軸上コントラスト
の異常変化による不良（Ａ−ＣＯＮ　）時に点灯する。 この不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成
レンズの偏心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｃは、軸上コントラストの不足不良つまり平均軸］
二ＭＴＦイ〆ｌが小さすぎる不良（Ａ−ＭＴＦＬＯ）時
に点灯する。この不良の原因としては、被検レンズｌを
構成する構成し／ズの研磨不良が考えられる。 ６４Ｄは、軸上コントラストの一部が値不足な不良（Ａ
−ＮＴＦＰＬ　）時に点灯する。これは６４Ｃより示さ
れる不良の中で不良程度が軽いものである。従って、６
４Ｃが点灯すれば必ず６４Ｄも点灯する。 ６５Ａは、アンダー不良つまり軸外像面が軸１゜像面よ
りもレンズ側に′んりすぎている不良（ＵＮＤ）時に点
灯する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構成
する構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えら
れる。 ６５Ｂは、オーへ−不良つまり軸外像面が輔」−像面よ
りもレンズ側から離れている不良（０ＶＥＲ）時に点灯
する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構成す
る構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられ
る。 ６５Ｇは、軸外アス不良つまり軸外像面が倒れている不
良（Ｚ、−ＡＳＵ　）時に点灯する。この不良のｊ！；
（因としては、被検レンズ１を構成する構成レンズの偏
心が考えられる。 ６５Ｄは、軸外コマ不良つまり最良軸外コントラストの
異常変化（Ｚ−ＣＯＭ　）時に点灯する。この不良のＤ
；〔因としては、被検レンズ１を構成する構成レンズの
研磨不良、Ａしい偏心が考えられる。 ６５Ｅは、軸外コントラストの値不足つまりｑｉ均１ｈ
１１外コ／トテストイ〆（が小さすぎる不良（Ｚ−ＭＴ
ＦＬＯ）時に点灯する。このイ・良の原因としては、被
検レンズｌを構成する構成レンズの偏心、■間隔の変化
等の調心不良が考えられる。 ６５Ｆは、軸外コントラスト変動つまり軸外のコントラ
ストか激しく変化している不良（Ｚ−ＨＥＮ）時に点灯
する。 ６５Ｇは、軸外コントラストの一部が小さくかつアンダ
ー不良である場合（ｌＪ、）ｌ　）の不良時に点灯する
。この不良のＤ；（因としては、被検レンズ１を構成す
る構成レンズの調心不良が考えられる。 ６５Ｈは、軸外コントラストの−１が小さく、かつオー
バー不良である場合（０＋Ｈ）の不良１１１ｒに点灯す
る。この不良のＤ；（因としては、被検レンズ１を構成
する構成レンズの調心不良が考えられる。 以にの不良利足を表示することにより、被検レンズｌの
不良１４定と共に不良原因別の分別も併せて行なうこと
が可能となり、検査作業の効率化を図ることができるも
のである。 ［レンズテスタＬＴのシステム化１ 本実施例では、レンズテスタＬＴに後述するパソコン部
ＰＣを第２６図示の如く接続してレンズテスタシステ１
、を構成し、レンズテスタＬＴからの情報（δＩＩＩ定
及び判定データ）の加工処理を可能としている。 （構　成） パソコン部ＰＣは、所謂パーンナルコンピュータであり
、コンピュータ７１、キーボード７２、ＣＲＴデイスプ
レィ７３及びプリンタ７４により構成される。 パソコン部ＰＣのコンピュータ７１はレンズテスタＬＴ
の制御部４及び′ｒ１疋部５を構成するマイクロコンピ
ュータとデータバスＤＢにより接続されており、レンズ
テスタＬＴかもの測定値及びパソコン部ＰＣからのコマ
ンドが！Ｉ°いに受は渡されるようになっている。 （作　用） そして、パソコンＩＰｃでは、レンズテスタＬＴから人
力されるデータを統、１１処理して被検レンズｌに対す
る不良対策１品′ｆｉ管理等に有用な二次データを作る
ことができ、このデータはプリンタ７４によりプリント
アウトすることもできる。 又、測定データ及び二次データをＣＲＴデイスプレィ７
３−１−にグラフ表示できると共にプリンタ７４により
プリントアウトすることができる。これにより測定デー
タを視覚化することができ、レンズテストＬＴの表示部
６による判定表示では解らないより詳細な像面状態等を
−ｌ二ｌで把握できるようになるものである。 第２７図は測定データのＣＲＴデイスプレィ７・３１；
へのグラフ表示の−・例である。 図示表示は、−・画面中に４種のグラフ（画面左１−の
グラフをＧ１．画面左下のグラフを６２、画面右りのグ
ラフを６３、画面右下のグラフを６４、とｏｆ称する）
が同時に表示され、これらが被検レンズｌの特性を如実
に表わすものである。 各グラフの座標は、グラフＧｌ、Ｇ２の縦軸はコントラ
ストと像面位置を、グラフＧ３．Ｇ４の縦軸はコントラ
ストを表わすとＪ（に、横軸は各グラフとも方位を表わ
す、但し、横軸の１１盛は、グラフＧｌ、Ｇ２ではコン
トラストＪ１１定サブルーチン４３における４方イ１シ
を、グラフＧ３．Ｇ４ではコントラストＪｌｌｌ定サブ
ルーチン４４における８方（Ｘ？または１２力位を表わ
すようになっている。 次に、各グラフについて個々に説明する。 グラフＧｌは、コントラス）　＋！ｌｌｌ定サブルーチ
ン４３で測定された各方位における軸上コントラストの
ピーク（（ｉとその像面位置（最良軸外像面位置）を示
し、輔−１、各測定点のコノトラストのピーク値を実線
で、その位置（最良像面位置）を−・点鎖線で示してい
る。なお、設計像面位置も併せて表示してあり、被検レ
ンズの像面状態の変化を把握しやすいようになっている
。 グラフＧ２は、コントラスト測定サブルーチン４３でａ
ｌｌ定された各方位における軸外コントラストのピーク
値とその像面位応（最良軸外像面位置）を、軸外の各測
定点コントラストのピーク値を実線で、その位置（Ａ＆
良電像面位置を−点鎖線で示す。なお、グラフＧｌと同
様に、没計像面位置も（７１せて表示しである。 グラフＧ３は、コントラス）　Ｊ１１定サブルーチン４
４で１１１１１定した１・均軸−１−像面イ）７置にお
ける各方イＱについての輔にのコントラストをグラフ化
したものであり、軸−１−コントラストを実線で示し、
併せて当該被検レンズに対する良：”ｉ　’ｔ！１定の
ノ、（へれ値を一点鎖線で示している。従って、”＋＋
Ｊグラフ３Ｇにおいて、実線で示されるコントラストが
良否判定の）、（べ１１値を越えていれば、軸上コント
ラストに関しては良品レンズと判定されているものであ
る。 グラフＧ４は、コントラストＪｌｌｌ定サブルーチン４
４で測定した１１均軸に像面位置における各方位につい
ての軸外のコントラストをグラフ化したものであり、軸
外コントラストを実線で示し、併せて゛′Ｉ該被検レン
ズに対する良否判定の）、（準ｆダ１を一点鎖線で示し
ている。従って、グラフ３Ｇと同様に当該グラフ４Ｇに
おいて、実線で示されるコントラストが良否判定の）、
（べ’ｉ　（／ｉを越えていれば、軸外コントラストに
関しては良品レンズとｌ’ｌ定されているものである。 」二足のグラフ表示から５例えば下記の如く被検レンズ
の光学時ｆ’ｌの不具合及びその原因を読み取ることが
できる。 （１）グラフＧ２に於て、第２８図の如く各測定点の軸
外の像面位置のグラフが設計像面位置と交差して表わさ
れる場合には、第３０図（ａ）に示すように像面に倒れ
を生じていることが解る。このような状５Ｌは、被検レ
ンズｌの構成レンズが偏心している場合に発生するもの
である。 （２）第２９図の如く、グラフＧｌでは各測定点の軸−
１−の像面位置のグラフは設計像面位置付近にあるが、
グラフＧ２では各測定点の軸外の像面位置のグラフが設
計像面位置から上下何れか一方側（１Δではド方１！す
もレンズに近づくＯわに略１１行に離れている場合には
、第３０図（ｂ）に示すように像面が湾曲（図ではアン
ター側に湾曲）していることが解る。このような状ｊ１
３は、被検レンズｌの構成レンズの玉間隔に変化がある
場合に発生する。 ［発ＩＪＪの効＋Ｊ！、］ 以上説明したように、この発明によれば、当該被検レン
ズにおけるディフォーカスに対するコントラストからそ
のピーク位置か算出されると共に、該ピーク位置に応じ
て検知手段のステップ移動量を減少更新してディフォー
カスに対するコントラストの測定およびそのピーク位置
の算出か複数回行なわれ、これにより得た複数のピーク
位ｌの平均か最良像面位置とされるため、光学レンズ（
被検レンズ）の最良像面位置の探査を高精度かつ効率良
くてきる。したかって、レンズテスタな構成する判定部
において上記の最良像面位置についても判定判断するこ
とで該判定部による光学レンズの良否判定を総合的なも
のとでき、これにより粘度良く光学レンズをテストでき
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるレンズの最良像面位置探査方法の
好適な一実施例を適用したレンズテスタの概略構成を示
すブロック図、第２図はレンズマウントの平面図、第３
図はその■−■断面図、第４図は光源部の構成図、第５
図は光源部の各構成要素の放射又は透過分光特性を示す
グラフ、第６図はチャートの平面図、第７図は軸外ミラ
一部のモ面図、第８図はその左側面図、第９図はセンサ
部の平面図、第１０図はそのＸ−Ｘ断面図、第１１図は
第９図のＸＩ−ＸＩ断面図、第１２図は演算回路のフロ
ック図、第１３図は演算回路におけるコントラスト演算
にかかる正弦波信号の説明図第１４図および第１５図は
軸外測定点位置を示す区、第１６図は制御部および判定
部のフローチャート、第１７図は測定により得られるデ
ィフォーカス量に対するコントラスト値の特性曲線、第
１８図はコントラスト測定のサブルーチンのフローチャ
ート、第１９図は走査平均レジスタ群の概念図、第２０
図は走査時間短縮化を説明する概念［Ａ、第２１１ｎは
判定サブルーチンのフローチャート、：５２２図は基準
像面位置と平均像面位置との関係を示す説明図、第２４
図は判定サブルーチンのフローチャート、第２５ＵＡは
表示パネルの平面図、第２６図は本発明にかかるレンズ
テスタＬＴを適用したレンズテスタシステムの構成ブロ
ック図、第２７図はパソコン部による測定結果の表示の
一例を示す図、第２８図および第２９図は第２７図の表
示の説明図、第３θ図は第２８図および第２９［］と対
応した像面変化の説明図、第３１図は従来例である投影
テストの説明図、第３２図はＭ　Ｔ　Ｆ　ｔｌｈ線を示
すグラフ、第３３図は単一空間周波数に於るＭＴＦの値
から被検レンズの固有ＭＴＦの推察を説明する図である
。 ｌ・・・被検レンズ ＣＡ、ＣＺ・・・チャート（格子チャート）３１Ａ・３
１Ｚ・・・ＣＣＤセンサ（検知手段）３・・・コントラ
スト測定手段 しＴ・・・レンズテスタ 第 図 第 （％） （ａ） （′／１） （ｂ） 波長（ｎｍ） 波長 （ｎｍ） 波長 （ｎｍ） 波長　（ｎｍ） 第 図 第 図 第 第 第 第 ↓ ！ （１６ｂけ） 図 図 図 図 り 第 図 第 図 ＣＣＤセンサの光軸上の動き 第 図 箪 図 第 図 方位 第 図 方位 第 図 第 図 空間周波数 手続補正書（方式） ％式％ 発明の名称 レンズの最良像面位置探査方法 補正をする者 事件との関係　特許出願人 （０５２）　　旭光学工業株式会社

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被検レンズが形成した格子チャートのチャート像を当該
   被検レンズの光軸方向へステップ移動可能な検知手段に
   より検知し、該検知手段のステップ移動に連動して作動
   するコントラスト測定手段により前記格子チャートの像
   のコントラストを前記検知手段によるチャート像検知結
   果に基づいて連続的に多数得るレンズテスタにおいて、
   前記検知手段を検知作動させつつ所定量ステップ移動さ
   せ、これに伴ない前記コントラスト測定手段から連続的
   に多数得られるコントラストを当該被検レンズにおける
   ディフォーカスに対するコントラストとしてそれらコン
   トラストの大小比較からそのピーク位置を算出すると共
   に、該ピーク位置に応じて前記検知手段のステップ移動
   量を減少更新して前記ディフォーカスに対するコントラ
   ストの測定およびそのピーク位置の算出を複数回行ない
   、これにより得た複数のピーク位置の平均を最良像面位
   置とすること、を特徴とするレンズの最良像面位置探査
   方法。