JPH0262932A - レンズテスタのデータ平均化処理方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

［産業上の利用分野］ この発明は、レンズテスタのデータ平均化処理方法に関
し、さらに詳しくは、ノイズ等のためにハラついて連続
的に多数得られるコントラストデータのｆ均化処理つま
り丸め処理に関する。 ［従来の技術］ 一般に、写真レンズ等の光学レンズは、その量産時にお
いては投影テストにより最終検査（性能検査）される。 この投影テストとは、検査対象レンズ（被検レンズ）に
よって投影されたチャート像を作業者か目視によりチエ
ツクして当該被検レンズの解像力を確認検査するもので
ある。 第３１図は投影テストのｌ！要を示しており、１′は光
源としてのハロゲンランプ等のランプ、２′はランプｌ
′からの光線を集光するコンデンサレンズ、３゛は透過
型チャート４′は被検レンズ、５″は投影板である。 透過型チャート３′は、透明なガラス板の表面に、大小
様々なピッチの縦線列と横線列を組合せた所定のパター
ンを、クロム等の蒸着によって光線不透過として複数描
いたものである。このパターンの線列の大小（線の幅及
びピッチ）が解像力と対応し、投影板５′上に投影され
たチャート像中て分離して見える最小ピッチの線列から
例えば１００木／Ｉ１１の如く解像力が評価される。 ランプ１′からの光線は、コンデンサレンズ２′により
集光されて透過型チャート３′を背面から照光して透過
する。この透過光により形成される透過型チャート３′
の像を、被検レンズ４′によって該被検レンズ４′の焦
点距離の４０〜５０倍の位置に置かれた投影板５′上に
拡大投影する。なお、この時、被検レンズ４′によるチ
ャート像の光束の入射角度θ１に対してコンデンサレン
ズ２′からのチャート３′へ照光の入射角度θ２か図の
様に小さいと、被検レンズ４′が絞られた結果となるた
め、入射角０□は充分大きくなければならない。 作業者は、被検レンズ４′の位置を光軸方向に微動調節
して」二足チャート像の中心のピントな投影板５′上に
合わせた後、この投影板５′上に投影されたチャート像
内の所定位置に於る所定ピッチのチャートが分離されて
いるかどうか（換言すればチャート像内の所定位とにお
いて所定の解像力を有するかどうか）を目視によって確
認し、被検レンズの良否を検査する。 しかしながら、こうした投影テストは、その作業を暗室
内て行なわなければならないため作業性か悪く、また、
被検レンズの焦点距離か長い場合には大きて画室を必要
として多大な設備費を要するものて、さらにはコンデン
サレンズに大口径かつ明るいものか必要であり、チャー
ト像を目視によりチエツクするため熟練した作業者てあ
っても一定以」二の精度ての安定した検査は望めない、
といった数々の不具合かあった。 このため、本出願人は先に、被検レンズを回転駆動可俺
に保持するレンズ保持部と、該レンズ保持部に保持され
た被検レンズに軸上と軸外から所定ピッチの格子状チャ
ートを透過した光を入射させる光学系と、該光学系によ
る軸上および軸外光のそれぞれの光路前方に被検レンズ
の光軸方向に移動駆動回走に配置された検知手段により
検知されたチャート像に基づいてコントラストを算出す
るコントラスト測定手段と、被検レンズの像の所定位置
におけるコントラストを測定するために上記レンズ保持
部の回転駆動および上記コントラスト測定手段の作動を
制御する作動制御手段と、コントラスト測定手段により
測定されたコントラストを予め定められた判定基準と比
較することにより被検レンズの良否を判定する判定部と
、該判定部による判定結果を表示する表示部とにより構
成されるレンズテスタを提案した。 ［発明が解決しようとする課題］ しかしなから、上記のようなレンズテスタては、それを
ｍ戒する検知手段すなわち被検レンズが形成した格子チ
ャートのチャート像を検知する検知手段にＣＣＤセンサ
等の受光素子か利用されており、そうしたＣＣＤセンサ
等により得られる測定データはノイズ等の影響でバラつ
いたものつまりノイズ等が乗ったものとなるため、これ
をそのままコントラストとして上記判定部の有する判定
基準と比較したのでは当該被検レンズの良否判定か不正
確なものとなるという間断があった。 ［発１１の目的］ この発明は、上記のような背景に鑑みてなされたもので
あり、ノイズ成分等によるデータのハラつきを減少させ
て安定したデータに丸めることが可能なレンズテスタの
データ平均化処理方法の提供、をその目的とする。 ［課題を解決するための手段］ そのため、この発明によるレンズテスタのデータ平均化
処理方法は、被検レンズが形成した格子チャートのチャ
ート像を当該被検レンズの光軸方向へステップ移動され
る検知手段により検知し、該検知手段のステ・ンプ移動
に連動して作動するコントラスト測定手段により上記格
子チャートの像のコントラストを上記検知手段によるチ
ャート像検知結果に基づいて連続的に多数得るレンズテ
スタにおいて、上記コントラスト測定手段からコントラ
ストを連続的に多数得る際、そのコントラストを所定数
取りまとめて平均値を算出してこれを真の測定データと
すると共に、その所定数の取りまとめを上記検知手段の
移動ステップ毎にそのステップで新たに得たコントラス
トを取り込む方向に所定数ずつシフトさせるものである
。 以下余白 ［発明の実施例］ 以下、この発１１の実施例を添付図面を参照しながら説
明する。 第１図は、本発明によるデータ平均化処理方法の好適な
一実施例を適用したレンズテスタの概略構成を示すブロ
ック図である。 「レンズテスタＬＴの概略」 （構　成ン レンズテスタＬＴは、レンズ保持部としてのレンズマウ
ント部ｌＯ１光学系２．センサ部３１と演算回路３２と
により構成されるコントラスト測定手段としてのコント
ラスト測定部３、作動制御手段としての制御部４、判定
部５、表示部６、と・により構成されている。なお、制
御部４と判定部５は一つのマイクロコンピュータにより
構成されている。 なお１本実施例において、レンズテスタＬＴは第２６図
の如くコンピュータとｖｃ続されてレンズテスタシステ
ムを構成しているか、これについては後に詳説する。 （作　用） レンズマウント部１０は、被検レンズｌを、該被検レン
ズｌの光軸を中心として回転駆動可能に所定位置に保持
する。 光学系２は、レンズマウント部ｌＯに保持された被検レ
ンズ１に、該被検レンズｌの光軸に沿う軸上から所定格
子ピッチのチャートＣＡを透過した光（軸上光ＬＡ）を
入射させると共に、光軸と所定の角度を有する軸外から
所定格子ピッチのチャートＣＺを透過した光（軸上光Ｌ
Ｚ）を入射させる。 コントラスト測定部３ては、光学系２からの軸上及び軸
外光ＬＡ−ＬＺかレンズマウント部ｌＯに保持された被
検レンズ１を通過することにより形成されるチャートＣ
Ａ−ＣＺの像を、ＣＣＤセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ
（軸上センサ３１Ａ及び軸外センサ３１Ｚ）がチャート
像のピッチ方向に走査して該チャート像の明暗を電気信
号に変換し、この電気信号を演算回路３２（軸上演算回
路３２Ａ及び軸外演算回路３２Ｂ）により演算して軸上
及び軸外に於るチャート像のコントラストを算出（即ち
測定）する。 制御部４は、ＣＣＤセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ３１
Ａ・３１２を被検レンズｌの光軸方向に移動させて被検
レンズｌの光軸方向の複数箇所に於いて軸上及び軸外に
於るチャート像のコントラストを測定すると共に、レン
ズマウント部ｌＯを駆動することにより被検レンズ１を
その先軸を中心に回転させて軸外の測定点を変更すると
共に軸上に於る被検レンズｌに対するチャート像のピッ
チ方向を変更し、上記被検レンズｌの光軸方向の複数箇
所に於けるチャート像のコントラストの測定を所定の複
数の軸外位置について行ない、更に、上記測定により得
られた軸上のコントラスト測定結果から、各測定点に於
るコントラストが最大値を示す光軸−ヒの位置の平均位
置に軸上及び軸外のＣＣＤセンサ３１Ａ・３１Ｚを固定
しく１！ＩＩち、軸上の各測定点に於るコントラストか
最大値を示す被検レンズｌと軸上センサ３１Ａとの平均
距離、と等しい被検レンズｌからの距離に軸外センサ３
１Ｚも固定し）、被検レンズｌを回転させて軸外の各測
定点に於るチャート像のコントラストを測定するよう、
コントラスト測定部３のセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ
３１Ａ・３１Ｚの移動駆動とコントラストの測定、及び
レンズマウント部ｌＯの駆動（被検レンズｌの回転）を
制御するものである。 判定部５は、上記作動制御部４に制御されてコントラス
ト測定部３により得られたチャート像のコントラストの
値を予め定められた判定基準値と比較すると共に、最大
のコントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方
向の相互のズレ量を予め定められた判定基ｉ量と比較し
１判定基準を越えているものかあれば不良として被検レ
ンズ１の良否を判定する。更に、被検レンズｌか不良の
場合には、上記各測定点のコントラスト値又は最大のコ
ントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方向の
相互のズレの状態から、予め定められた解析演算方法に
よってその不良内容を導出する。 表示部６は、判定部５による判定結果と、導出された不
良内容を配置されたＬＥＤの点灯により表示するもので
ある。 次に、上記各構成部の構成及び作用を、順を追って詳細
に説明する。 「レンズマウント部ｌＯ」 （構　成） 第２図は、レンズマウント部１０の平面図、第３図は　
その■−■断面図である。 図において、１００はレンズテスタＬＴのシャーシ（第
２図には示してない）、１１は被検レンズｌか位置決め
保持されるマウント、１０１はマウント１１を回転自在
に支持するシャーシ１００に固定された軸受ボス、１５
は被検レンズｌをマウント１１上に固定するロック機構
、１７はロック機構１５を駆動するエアシリンダ、１８
はマウント１１を回転駆動するＤＣモータである。 マウント１１は、円板状の基板１２の中心部に検査光通
過の為の開口部を形成すると共に、この基板１２の上面
に被検レンズ１を位置決め載遣可能なレンズ載置部１３
．下面に軸受ボス１０１との嵌合部１４、をそれぞれ突
出形成した略円板状の外観を呈している。基板１２の外
周端部面には全周に亘ってギア１２Ａが形成されており
、又、基板１２の上面のレンズａ置部１３を中心とした
対向する三箇所に、被検レンズ１をレンズ載置部１３に
固定する為のロック機構１５か設けられている。 そして、嵌合部１４がベアリング１０２を介してシャー
シｌＯＯに固定された軸受ボスｌｏｔに嵌合し、シャー
シ１００に回転自在に設置されている。 レンズ載置部１３は、その上面が基準面１３Ａとなって
いると共に図示しない前後・左右方向の位置決めが形成
されており、該基準面１３Ａ上に被検レンズｌの鏡筒の
フランジＩＡ（当該レンズをカメラ本体へ取付ける為の
フランジ）を当接させてｔ詮すると、マウント１１に対
して被検レンズ１の上下・前後・左右の位置か決った（
即ち位置決めされた）状態となるよう構成されているも
のである。 ＤＣモータ１８は、マウント１１配置位置の側方である
シャーシ１００の下側の面にそのスピンドル１８Ａを上
向きとして固定されている。 シャーシｌＯＯを貫通して上側に突出するスピンドル１
８Ａの上端にはギア１８１か嵌合固定され、該ギア１８
１かアイドルギア１６と噛合すると共に該アイドルギア
１６かマウント１１の基板１２の外周のギア１２Ａと噛
合しており、ＤＣモータ１８の回転によりマウント１１
か回転駆動されるようになっている。 ロック機構１５は、基板１２の上面に立設されたボスト
１５１の側面に、リンクプレート１５２かその略中央部
で回動可１Ｅに軸支されると共に、該リンクプレート１
５２の先端に固定さられたピン１５２Ａがロックプレー
ト１５３の切り欠き１５３Ａに嵌合しており、リンクプ
レート１５２の回動によりロックプレート１５３も回動
するよう構成されている。ロックプレート１５３は、所
定厚さの板状て、上端部に切り欠き１５３Ａか開放形成
されると共に一方側端にツメ１５３Ｂか突出形成されて
おり、該ツメ１５３Ｂをレンズ載置部１３側としてその
下端側でボスト１５１に回動自在に軸支されているもの
である。 又、リンクプレート１５２とロックプレート１５３とは
、その夫々の軸支位りの外側（レンズ蔵置部１３とは反
対の側）に於てスプリング１５４によって連結されてお
り、該スプリング１５４かロックプレート１５３をリン
クプレート１５２に対してそのツメ１５３Ｂをレンズ載
置部１３側に回動させる方向に引っ張り付勢している。 このロックプレート１５３の回動はツメ１５３Ｂかレン
ズ載置部１３の上面（基準面１３Ａ）に当接することで
規制されるか、この時ツメ１５３Ｂか基準面１３Ａを押
圧する力は、被検レンズｌを保持するに充分な所定の押
圧力となるよう設定されているものである。 エアシリンダ１７は、そのロッド１７Ａの位置をリンク
プレート１５２の軸支点より上側に対応させてリンクプ
レート１５２より外側のシャーシ１００上に設置されて
おり、該エアシリンダ１７を駆動してロット１７Ａを伸
張させると、該ロッド１７Ａの先端がリンクプレート１
５２の上端を押圧して回動（上端かレンズ載置部１３側
に、下端がレンズ蔵置部１３と反対の側に移動するよう
回動）させ、ピン１５２Ａを介してロックプレート１５
３をそのツメ１５３Ｂがレンズ載置部１３から離れる方
向（図中矢印で示す）に回動させるようになっている。 尚、図中エアシリンダ１７は一方のロック機構１５に対
するものしか記載してないか、他方のロック機構１５に
対しても同様に配置するか、又は双方のロック機構１５
をリンク機構等により連結して同期作動するよう構成す
れば良いものである。 （作　用） そして、エアシリンダ１７を駆動してロックプレート１
５３をそのツメ１５３Ｂがレンズ載置部１３から離れる
方向に回動させると、レンズ載置部１３の基準面１３Ａ
上への被検レンズｌのａｍ（又は取り外し）か可能とな
る。この状態て、基準面１３Ａ上に被検レンズ１を位置
決め佐ａし、エアシリンダ１７を逆方向に駆動してリン
クプレート１５２の押圧を解除すると、スプリング１５
４の引っ張り力でロックプレート１５３か回動し、ツメ
１５３Ｂか被検レンズｌのフランジＬＡをレンズ載置部
１３上に押圧して被検レンズｌを基準面１３Ａ上に（即
ちマウント１１上に）固定するものである。 又、ＤＣモータ１８を回転させてマウント１１を回転駆
動することにより、マウント１１上に固定された被検レ
ンズｌをその光軸な中心として回転させることかてき、
且つ任意の位置（角度）て停止させることかできるもの
である。 尚、上記エアシリンダ１７及びＤＣモータ１８の駆動制
御は、後述する制御部４により行なわれるものである。 「光学系２」 （構　成） 光学系２は、第１１２１に示す如く、軸上光及び軸外光
の二本の光束を形成する光源部２１と、該光源部からの
それぞれの光束か透過する位置に配置された所定ピッチ
の透過型格子であるそれぞれのチャートＣＡ−ＣＺ、該
チャートＣＡ−ＣＺ及び被検レンズ１を介したそれぞれ
の光束（軸上光ＬＡ及び軸外光ＬＺ）の光路を反射屈折
させて後述するコントラスト測定部３に導くミラー２２
・２３、それぞれの光束光路上に配置されたコリメータ
レンズ２４・２４、により構成されている。 光源部２１は、その概念構成図を第４図に示す如く、光
源としてのハロゲンランプ２１１．該ハロゲンランプ２
１１からの光を所定の分光特性に整える為の二枚のフィ
ルタ２１２・２１３、コンデンサレンズ２１４、拡散板
２１５、軸上用固定ハーフミラ−２１６，軸外用可動ミ
ラー２１７、を上記記述順に配置して構成されている。 ハロゲンランプ２１１の背面側（光線出射側とは反対の
側）には、パラボラ状の反射板２１１Ａか設けられ、ハ
ロゲンランプ２１１からの光を所定の位置（図中ｆで示
す）に集光するようになっている。そして、その焦光位
２？ｆより光路前方に赤外吸収フィルタ２１２及び色補
正フィルタ２１３の二枚のフィルタが１次にコンデンサ
レンズ２１４、拡散板２１５の順で配置されている。 拡散板２１５より光路前方には、軸上用固定ハーフミラ
−２１６か光路に対して４５°の傾きで固定配置され１
次に軸外用可動ミラー２１７が配置されている。軸外用
可動ミラー２１７は、その角度か調整同面となっている
と共に、ハロゲンランプ２１１からの光束と乎行する方
向に前後に移動可能となっており、被検レンズｌの光軸
に対する軸外光の角度を調整可能に構成されている。 光源部２１から出射される軸上及び軸外光ＬＡ−ＬＺの
光路上の被検レンズｌの前（即ちマウント１１の光源部
２１側）に、別々のチャートＣＡ−ＣＺかシャーシ１０
０に固定されて配置されている。 チャートＣＡ−ＣＺは、第６図に示す如く、光線透過可
能な平坦なガラス基板上に一方方向に所定ピッチ（Ｐ）
で光線不透過の複数の線部なりロムを蒸着して形成した
矩形波格子である。 そして、軸上光ＬＡが透過する位置（即ち被検レンズｌ
の光軸上）にはＰ　＝　１／２０　ｍ−の軸上チャート
ＣＡが、軸外光ＬＺが透過する位置にはＰ＝１／ＩＯ＋
ｓ會の軸外チャートＣＺが、それぞれ配置されている。 尚、各チャートＣＡ−ＣＺの配置方向は、軸外チャート
ＣＺに於て、そのピッチ方向（刻線と直交する方向）が
被検レンズｌの中心から放射状となる方向とし、軸上チ
ャートＣＡもこの軸外チャートＣＺと同じ向きとして配
置されている。 ミラー２２・２３は、軸上チャートＣＡ及び被検レンズ
１を介した軸上光ＬＡの光路延長上の所定位置に軸上ミ
ラー２２を固定すると共に、軸外チャートＣＺ及び被検
レンズｌを介した軸外光ＬＺの光路延長上の所定位置に
軸外ミラー２３を配置して構成される。 軸上ミラー２２は、被検レンズｌの光軸に沿う軸上光Ｌ
Ａ？後述するコントラスト測定部３の軸上センサ３１Ａ
に向けて直角に反射するよう、被検レンズ１の光軸上の
所定位置に、該被検レンズｌの光軸に対して４５°傾け
て固定設置されている。 軸外ミラー２３は、第７図乃至第８図に示す如く、シャ
ーシ１００に固定されたガイドレール２３１に、スライ
ドベース２３２及びミラーホルダ２３３を介して被検レ
ンズｌの光軸からの距離及び設置角度を調整可能として
設置されているものである。 ガイドレール２３１は、その長手方向を後述するコント
ラスト測定部３の軸外センサ３１Ｚに向けて水平にシャ
ーシ１００に固定されている。 スライドベース２３２は、その下面に於てガイトレール
２３１に摺動可簡且つ離脱不能に嵌合し、ガイトレール
２３１の長手方向に沿って摺動移動可能であると共に、
図示しないロック機構によって所定位ａに固定可能とな
っている。 ミラーホルダ２３３は、スライドベース２３２に離脱不
能に嵌合して一体となっており、その嵌合部２３４に於
て摺動回転可能となっている。このスライドベース２３
２に対するミラーホルダ２３３の回転位置も、図示しな
い固定機構によって任意の角度て固定可能となっている
。ミラーホルダ２３３の回転軸方向は、当該軸外ミラー
２３の摺動移動方向（即ちガイドレール２３１の長手方
向）と直交する水平方向となっているものである。又、
ミラーホルダ２３３の上面にはミラー保持部２３３Ａか
立設されており、該ミラー保持部２３３Ａの上端近傍に
は、取付孔２３３Ｂが貫通形成されている。 軸外ミラー２３の裏面には、円柱状の取付バー２３Ａか
その端面て接着剤により接着固定されており、該取付バ
ー２３Ａをミラーホルタ２３３の取付孔２３３Ｂに嵌合
すると共にこの取付バー２３Ａを二本の止めネジ２３３
Ｃで直交する方向から締付けることで、ミラーホルダ２
３３に軸外ミラー２３か固定されている。本構成により
軸外ミラー２３を歪ませることなく固定することかてき
るものである。 尚、第７図及び第８図ては、軸該ミラー２３か光軸方向
と直交する角度となっているか、実際は第１図示の如く
所定の角度に傾けて設置されるものである。 コリメータレンズ２４は、−ｈ足輪上ミラー２２及び軸
外ミラー２３により屈折されてコントラスト測定部３に
向う光路上に、それぞれ後述するコントラスト測定部３
のセンサ部３１のユニットベース３１３を介してシャー
シ１００に固定されて配置されている。 （作　用） そして、光源部２１ては、ハロゲンランプ２１１からの
光を赤外吸収フィルタ２１２及び色補正フィルタ２１３
によって第５図（ｄ）に示す如き所定の分光特性の光と
すると共に、軸上及び軸外光ＬＡ　−ＬＺとして被検レ
ンズｌに向りて出射する。 第５図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、は光源部２１を４１１
成する各構成要素の放射分光特性又は透過分光特性を示
すグラフてあり、各図とも横軸が波長、縦軸か放射率あ
るいは透過率となっている。それぞれのグラフを説明す
ると、 （ａ）は、ハロゲンランプ２１１単体の放射分光特性で
ある。 （ｂ）は、色補正フィルタ２１２単体の透過分光特性で
あり、該色補正フィルタ２１２は中心透過波長４６０　
ｎ＋ｓとなっている。 （ｃ）は、赤外吸収フィルタ２１３単体の透過分光特性
てあり、５０％カット波長７５０ｎ−となっている。 （ｄ）は、ハロゲンランプ２１１．赤外吸収フィルタ２
１３１色補正フィルタ２１２を第３図の如く組み合わせ
た場合の透過光の分光特性である。即ち、当該光源部か
ら出射される光は、この（ｄ）に示す如き分光特性を有
する光となっているものである。この分光特性の光は、
後述するコントラスト測定部３のＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１Ｚの受光分光特性（第５図（ｅ））との組合わせに
より視感度と略一致した分光特性となるものである。 このような分光特性に加工された光は、ハロゲンランプ
２１１のフィラメント像をボヵす為に拡散板２１５によ
って拡散され、軸上用固定ハーフミラ−２１６によって
略５ｏ％の光か軸上光ＬＡとして」三方に向けて直角に
反射される。軸上用固定ハーフミラ−２１６を透過した
光は軸外用可動ミラー２１７によって路上方に向けて所
定の角度で反射され、軸外光ＬＺとなる。軸外用可動ミ
ラー２１７は、前述の如く光束と平行な方向に前後に移
動回旋であると共に角度を変更調整することにより光軸
に対する軸外光ＬＺの角度を変更調整可濠となっており
、軸外の測定位置を変更てきると共に被検レンズｌの種
類に対応てきるようになっているものである。 光源部２１からの軸上及び軸外の光束ＬＡ・ＬＺは、そ
れぞれ軸上チャートＣＡ及び軸外チャートＣＺを透過し
て被検レンズ１に入射す被検レンズｌを通過した軸上及
び軸外の光束ＬＡ−ＬＺは、それぞれ軸上ミラー２２及
び軸外ミラー２３によりて反射され、コリメータレンズ
２４により結像位置を短縮させられて後述するコント・
ラスト測定部３に入射する。 尚、軸外ミラー２３の移動及び回転は、前述の光源部２
１に於る軸外用可動ミラー２１７の調整によって軸外光
ＬＺの光軸に対する角度を変更した際に、該軸外光ＬＺ
がコントラスト測定部３のセンサ３１Ｚに入射するよう
調節するものである。 以下余白 「コントラストａｌｌ定部３」 （構　成） コントラス）ＸＫ定部３は、軸上光ＬＡ及び軸外光ＬＺ
の光路上のそれぞれにＣＣＤセンサ３１Ａ・３１２を配
したセンサ４３１と、１核センサ部３１からの輔」：及
び軸外二つの信号を演算処理する演算部３２とにより構
成されている。 センサ部３１は、軸り及び軸外のＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１２を光線方向に移動”ｒ　ｆｉとして構成されるが
、その構成は、軸上と軸外では同一であり、軸上側を説
ＩＪＪすることで軸外側の説ＩＪ１は省略する。 演算８１３２は、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａか
らの軸上側の信号を演算処理する演算回路３２Ａと、セ
ンサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ｚからの軸外側の信号を
演算処理する演算回路３２Ｚとにより構成される。そし
て、その構成は、上記センサ部３１と同様に４１１上と
軸外では同一であり、軸上側を説明することで軸外側の
説明は省略する。 センサ部３１は、第９図、該第９図のＸ−Ｘ断面図であ
る第１０図及びＸＩ−ＸＩ断面図である第１１１閾に示
す如く、光′−″７：系２によって当該コントラスト測
定部３に導入される軸上光ＬＡを受光するＣＣＤセンサ
３１Ａ、該ＣＣＤセンサ３１Ａを保持するセンサポート
３１１．ｉｔセンサボード３１１が固定されたスライド
ベース３１２．％ｒをユニットベース３１３に所定の位
置関係に配置して一体化したユニットとなっている。 ユニットベース３１３には、リニアベアリング３１４の
スライドシャフト３１４Ａが二本、軸」；光ＬＡの光路
（光軸）と平行に固定されており、該スライドシャツ）
３１４Ａには夫々二個のスライドピース３１４Ｂが摺動
移動自在に嵌合されている。 スライドベース３１２は、その下面に人々のスライドピ
ース３１４Ｂが嵌合固定されることによってユニットベ
ース３１３に設置され、軸ＪＺ　光ＬＡの光路方向に移
動自在となっている。 又、下面の略中火に、酸ネジ３１５が固定されており、
該酸ネジ３１５には、ユニットベース３１３の輔」−光
ＬＡ入射側とは反対の側の端面に固定されたパルスモー
タ３１６のスピンドルと連結されたスクリュウシャツ）
３１７が螺合している。 センサボード３１１は、被検レンズｌを通過した軸上光
ＬＡによる軸上チャー）ＣＡの像の光脣をアナログ信号
として検１すＪ（測定）する電気回路基板であり、軸上
光ＬＡを感知してその光値に対応した電気信号を出力す
るＣＣＤセンサ３１Ａと、図示しない該ＣＣＤセンサ３
１Ａの駆動回路およびサンプル及ホール１回路等の周辺
回路とにより構成される。 ＣＣＤセンサ３１Ａは１画素を一行に並べたラインセン
サであり、センサボード３１１の１１０面側に固定され
るが、軸上光ＬＡに対して受光面が直角となりｌＬつそ
のライン方向を軸上チャートＣＡのピッチ方向に一致さ
せてスライドベース３１２に垂立固定される。つまり、
その画素配列方向を軸」二元ＬＡによる軸上チャー）Ｃ
Ａの像の格子方向と直交させてセンサボード３１　ｌ　
ｉｉＱ血に設けられる。 尚、ユニットベース３１３の前端部には、前述の光学系
２のコリメータレンズ２４が固定されている。 演算回路３２Ａは、第１２図に示すブロック図の如く構
成されており、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａが感
知した光像信号Ｓｏっまり被検レンズ１を透過した軸上
チャートＣＡの光像の感知信号Ｓｏを演算処理して、軸
上チャー）ＣＡの像のコントラストを出力する。 つまり、この演算回路３２Ａでは、ＣＣＤセンサ３１Ａ
が前述した図示しないサンプル及ホール１回路を介して
バイパスフィルタ３２１および積分回路３２２に接続さ
れており、バイパスフィルタ３２１は絶対１１１回路３
２３に接続される。そして、絶対値回路３２３は積分回
路３２４に接続され、積分回路３２４はサンプル及ホー
ル１回路３２５に接続される。さらに、一方の積分回路
３２２はサンプル及ホール１回路３２６に接続されてお
り、これらのサンプル及ホール１回路３２５・３２６は
共に除算回路３２７に接続される。 （作　用） センサｆ’ｆ３１は、パルスモータ３１６の回転により
スラートベース３１２がスライドシャフト３１４Ａに沿
ってスライド移動する。即ち、ＣＣＤセンサ３１Ａは軸
上光ＬＡの光軸方向に移動駆動されるものである。 演算回路３２Ａは、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａ
から送られる光像信号Ｓｏを交流成分と直流成分に分解
し、その両名を各々所定時間積分して、それら交流成分
と直流成分の互いの積分（（ｉの比を被検レンズｌのコ
ントラストとして出力する。 バイパスフィルタ３２１は、上記光像信号Ｓ。 内の交流成分を取り出す。 絶対値回路３２３は、バイパスフィルタ３２１による上
記交流成分の絶対値、つまり負側の交流成分を正側に整
流したイｉｉを出力する。 積分回路３２４は、絶対値回路３２３から送られる１：
配給対ｆＩＩを所定の時間について積分する。 つまり、積分回路３２４では、光像信号Ｓｏ内の交流成
分が積分される。 一方、もう一つの積分回路３２２は、センサ部３１のＣ
ＣＤセンサ３１Ａから送られた光像信号Ｓｏをそのまま
所定の時間について積分しており、該積分回路３２２で
は、光像信号Ｓｏの直流成分が積分される。 なお、漬方回路３２２・３２４の各々は、リセット信号
Ｔｏによってリセットされ、積分信号Ｔ１によってその
積分時間が制御される。 サンプル及ホール１回路３２５は積分回路３２４の積分
（ｐ’ｉをサンプリングして除算回路３２７に送出して
おり、同様に、サンプル及ホール１回路３２６は積分回
路３２２の積分値をサンプリングして除算回路３２７に
送出している。そして、そのサンプリングのタイミング
は、サンプル信号Ｔ２によって制御される。 除算回路３２７は、積分回路３２４による光像信号Ｓｏ
内の交流成分の積分値を、ｖ１分回路３２２による光像
信号Ｓｏの直流成分の積分子〆１で割る除算を実行し、
その除算結果を被検レンズ１のコントラストとして出力
する。 光像信号Ｓｏは、軸上チャー）ＣＡが矩形格子なので矩
形波釘シ）となっている（該矩形波信号は直流成分を含
んでげた］二げされている）。しかし、フーリエ変換す
れば、上記矩形波信号は、周波数が〃いに異なるいくつ
かの正弦波を複数合成したものとして表現できる。そこ
で、演算回路３２Ａに、Ｊ：る−１；記演算出力が被検
レンズ１ｃ７）＝＋ントラストとなる旨、光像信号Ｓｏ
を第１３図に示す正弦波信号Ｓ１に置き舛え・て説明す
る。 同図において、ａは正弦波信号Ｓ１の最大値つまり最大
光量、ｂは正弦波信号Ｓ１の最小値つまり最小光量、Ｔ
はは正弦波信号Ｓ１の周期である。 この正弦波信号Ｓ１の交流成分は、角速度をωとすれば
、 と表わされる。 また、その直流成分は。 と表わされる。 ここで、上記交流成分の一周期に注［Ｉ　して、交流成
分と直流成分を積分し、互いの積分値の比をとれば。 となり、上記（５）式は、前述した（２）式と違って２
／πという定数が乗ぜられているものの、コントラスト
そのものとなる。 すなわち、演算回路３２Ａでは、センサ部３１のＣＣＤ
センサ３１Ａから送られる光像信号Ｓｏは、バイパスフ
ィルタ３２１．絶対値回路３２３を介してその交流成分
が積分回路３２４により所定の時間について積分され、
他方の積分回路３２２によりその直！ｉ、成分が積分さ
れる。そして、除ｒｉ回路３２７により交流成分の私分
値が直流成分の積分イ〆１で割られ、すなわち（５）式
に示す除算が実行されて該除算結果が被検レンズｌのコ
ントラストとなる。 以上、演算回路３２Ａによる演算出力が被検レンズｌの
コントラストとなる旨、光像信号ＳＯを第１３図に示す
正弦波信号Ｓ１に置き任えて説明したが、上記コントテ
ストの演算が積分回路３２２・３２４を用いた光像信号
３０の交流成分対直流成分の面積比計算となっているた
め、光像信号Ｓｏが高調正弦波を多数含んだ矩形波信号
であっても同様であり、何らかまわないものである。 なお、上記センサ部３１の駆動制御及び演算回路３２Ａ
のａｒｔ算制鍵制御述する制ｇ＃部により行なわれる。 「制御部４」 （構　成） 制御部４は、後述する判定部５と共にＣＰＵおよびメモ
リとによるマイクロコンピュータによって構成される。 この制御部４は、上記メモリ内の所定の制御プログラム
４Ａ（第１７図に示す）に従ってレンズテスタＬＴの各
部（レンズマウント部１０及びコントラスＩＮ定部３）
を作動制御するものであり、コントラストＪＩＩＪ定動
作全ての動作を制御するものである。 （作　用） 該制御部４は、コントラスト測定部３のＣＣＤセンサ３
１Ａを駆動制御して被検レンズ１の光軸方向に移動させ
、軸」二及び軸外について被検レンズｌの光軸方向の複
数箇所に於いてチャート像のコントラストを測定すると
ノ（に、レンズ保持部１０を駆動して被検レンズをその
先軸を中心として回転させて軸外の測定点を変更して上
記被検レンズの光軸方向の複数箇所に於けるチャート像
のコントラストの測定を所定の複数の軸外位置で行なう
、（測定１） 該測定１の測定結果からは、下記の如き被検レンズｌの
光学特性を知ることができる。（これらの測夏結果を基
準値と比較しての良否判定は後述する゛Ｉ定郡部５より
行なう） （１）軸上の各測定点に於るコントラストが最大値を示
す光軸上の位置、の変化から、軸上に於る非点収差の程
度を検知できる。 （２）軸上の各測定点に於てコントラストが最大値を示
す光軸上の位置の平均位置（Ｖ胸像面位置）を、当該被
検レンズ１の基や像面位置と比較することにより被検レ
ンズ１のバックフォーカスのオーバー乃至アンダーを察
知できる。 （３）　＊ｌ＋外の各測定点に於てコントラストが最大
イ〆ｉを示す光軸方向の位置の変化により軸外に於る非
点収差の程度を検知できる。 （４）軸外の測定点に於いてコントラストが最大値を示
す位置（即ち像面位置）と軸上の像面位置とを比較する
ことにより像面の湾曲・倒れを察知でさる。 （５）軸−ヒの各測定点に於るコントラストのｔｆｋ大
値の差から、軸１−コマ収差の程度を検知できる。 （６）軸りの各測定点に於るコントラストの最大イ〆１
の平均値から、軸」ニコントラスト不足を判断できる。 （７）　＋ｂ上の各測定点に於るコントラストの最大値
のうちで最小のものの値から、軸上に於る一部のコント
ラスト不足を判断できる。 （８）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値の平
均イダ１から、軸外コントラスト不足をＩ断できる。 （９）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸外コマ収差の程度を検知できる。 このような検知を可能とする測定点は、例えば被検レン
ズ１が３５ｍｍフィルム使用のカメラ用のレンズの場合
、像面位置に於て３５■ｌフイルムの写角（３６ｍ■Ｘ
２４＋ｓ■）の対角線角度の４方位（第１４図に於る■
、■、■、■）とし、軸外位置は軸上位置から判定に必
要な所定の距＃ｈの位置（本実施例ではｈ＝１５ｍｍ）
に於て測定すれば良い。尚、軸外の測定点に於ける像面
位置と輔」二の像面位置との比較により湾曲・倒れを察
知することのみを［１的とするのであれば、軸外の測定
点は三箇所で良いものである。 次に、上記測定により１′）られた軸上のコントラスト
測定結果から、各測定点に於るコントラストが最大値を
示す光軸上の位置の平均位置にＣＣＤセンサ３１Ａを固
定し、レンズ保持部１０を駆動することにより被検レン
ズｌをその光軸を中心として回転させて軸外の所定測定
点に於るチャート像のコントラストを測定するよう、コ
ントラスト測定り段３のＣＣＤセンナ３１Ａの移動駆動
とチャート像のコントラストの測定、及びレンズ保持部
ｌＯの駆動（被検レンズｌの回転）を制御する。（δ１
１定２） 該測定２の測定結果からは、 （１）輔」二の各測定点に於るコントラストの値の差か
ら、軸」二に於る非点収差を検知できる。 （２）軸上の各測定点に於るコントラストの平均値から
軸」ニコントラスト不足を検知できる。 （３）軸上の各測定点に於るコントラストの最小値から
軸上コントラストの一部不足を検知できる。 （４）軸外の各測定点に於るコントラストの平均値から
、軸外コントラスト不足を判断できる。 （５）軸外の各測定点に於るコントラスト値の差から、
軸外コントラストの変動不良を判定できる。 この検知に於る軸外の測定点は、例えば被検レンズｌが
３５ｍ−フィルム使用のカメラ用のレンズで直進へリコ
イド等フォーカシングに伴なってレンズが回転しないタ
イプである場合、像面位置に於て第１４図示の如＜、３
５１１１１フイルムの写角（３６１ｍ鳳Ｘ２４＋ｕ＋）
の対角線と軸上位２（光軸中心）を中心とした水）Ｌ線
及び垂直線上の８方位（第１４図に於る■〜■）で、軸
上位置から所定の距離りの位置（未実施例では前述の測
定１の際と同じｈ＝１５ｍｍの位置）に於て測定すれば
良い、但し、３５ｍ膳フィルムの場合で垂直線上の測定
点（図中（４）及び（６））が輔」二位置から１５ｍ−
の位置では写角から外れるが、像面の湾曲等のデータを
得るには有効なものである。又、回転ヘリコイド等フォ
ーカシングに伴なってレンズが回転してレンズの方位が
一部しない被検レンズｌの場合には、第１５図示の如く
３０°間隔で１２方位（■〜＠）測定すれば良い、尚、
像面に於る軸」召装置から測定位置迄の距離は、当該被
検レンズ１の写角に応じて適宜１没定すれば良いもので
ある。 次に、フローチャートに基づいて具体的な作動Ｍ制御を
説明する。 第１６図は、制御８１１４の制御プログラム４Ａおよび
後述する判定プログラム５Ａのフローチャトである。 この制御プログラム４Ａは、前述の如く制御部４を構成
するメモリ内に記憶されており、複数のサブプログラム
（サブルーチン）から成る。 つまり、この制御プログラム４Ａは、初期設定サブルー
チン４１．１１定準備サブルーチン４２゜コントラスト
測定サブルーチン４３．コントラスト測定サブルーチン
４４．各部復帰＆データ転送サブルーチン４５により構
成される。 以ド、同図の流れに従って各サブルーチンを説りｊする
。 初期１没定サブルーチン４１は、光学系２およびコント
ラスト測定部３の各駆動機構部１表示部６、制御部４が
構成されるマイクロコンピュータ内のメモリ等を夫々の
初期状態にセットする。なお、この初期設定サブルーチ
ン４１は′屯源投入時にのみ一回実行される。 測定準備サブルーチン４２は、各空圧機構部の空圧をチ
エツクし、被検レンズｌのレンズマウント部ｌＯへのセ
ットを確１塁し、不良および不良用１］を表示する表示
部をクリヤし、センサ部３１のセンサボード３１１をイ
ニンヤルセットつまりその走査開始位置（基準位置）に
移動、停止ｌ二させ、被検レンズの透過光量を測定して
各チャートＣＡ、ＣＺのよごれおよび光学系の大きな異
常（例えば、絞り込まれている）等をチエツクすス コントラスト測定サブルーチン４３は、センサ部３１の
センサポート３１１を上記走査開始位置（基べり位７１
）から所定圧＃毎にコントラストを測定しながら被検（
／ンズＩに接近して光路を短縮する方向に走査（移動）
させる、尚、本実施例ではｌ走査ステップの走査幅（移
動距離）はＩ／＋２　ｔｘ■に設定されており、その走
査スピードは約２４０Ｓｔｅｐ／Ｓｅｃ　　となってい
る。また、この走査の動力源はパルヌモータ３１６を用
いているが、エンコーダ付きのモータ等を利用しても良
い。 この結果、第１７図に示すようなデイフォーカス量に対
するコントラスト値の特性曲線が得られ、数値１；１算
によりコントラストのピークイ４とその位置が軸」二、
軸外用にＩＵられる。さらに、該コントラス）Ａｌｌ定
サブルーチン４３では、被検レンズを回転させてその測
定点を変更してコントラスト測定を４回実行する。（前
述の設定ｌ）コントラスト測定サブルーチン４４は、平
均軸上像面位置に軸上、軸外の各センサボードをセット
させる。これは、中心にピントの合ったフィルム而（設
計値）に軸」−９軸外の各ＣＣＤセンサをセットするこ
とに相当する。 そして、軸上、軸外のコントラストを数方位の所定方位
について測定（前述の測定２）する、つまり、直線へリ
コイド等レンズが回転しないタイプの被検レンズでは第
１４図に示す８方位について、回転ヘリコイド笠レンズ
の方位が一定しないタイプの被検レンズでは第１５図に
示す１２方位について測定する。測定方位は、上記被検
レンズｌのタイプに応じてレンズマウント部ｌＯの回転
を制御して変更する。 各部復帰＆データ転送サブルーチン４５は、レンズマウ
ントｓｉｏの停止位置を所定の初期位置に復帰させ、そ
のロック機構１５を解除して被検レンズｌをレンズテス
タＬＴから取り外せる状ｙ８にすると共に、コントラス
トの測定値を後述するパソコン部ＰＣに出力し、更に、
測定したコントラストが前回測定した値よりも低い場合
、チャー）ＣＡ、ＣＺに空気を一方から吹きつけかつ他
方より吸引して該チャー）ＣＡ　、ＣＺを清掃する。 つぎに、主要な各サブルーチンについて詳細に説明する
。 コンＩ・ラストｕ定サブルーチン４３は軸」−と軸外の
ピント位置（像面位置）を探しだすサブルーチンである
。コントラストの１Ｉｌｉ定は、第１図に示すように被
検レンズ１に対して軸上、軸外の二つの光路ＬＡ−ＬＺ
にそれぞれについて輔に、軸外の各センサボード（ＣＣ
Ｄセンサ３１Ａ。 ３１　Ｚ）により行なわれる。各ＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１２はコントラストを−・度計測する毎にｌ走査ステ
ップ移動する。これにより、第１８図に示すコントラス
トＩ〜コントラスト１ｌｓｓ（デイフォーカス・′１１
：に対するコントラスト（直の特性曲線）が得られる。 このコントラストイｌ／１は全てメモリ内に記憶され、
所定の走査幅ｗＳＳ　　走査終了後、コントラストのピ
ークイ４とその像面位置が後述するｒ１定部５にて計算
される。 さらに、被検レンズｌを回転させて軸外光束ＬＺに対す
るレンズの方位を変更して上記測定が：ｆＳｌ　４図に
示す４力位について行なわれる。これにより、所定方位
についてコントラストのピーク値とその岐良像面位置が
求められる。 第１８図は、第１６図に示すコントラスト測定サブルー
チン４３のフローチャートである。以下、同図フローチ
ャートの流れに従って各処理（手順）を説明する。 処理［＋、　］　では、センサ部３１および演算部３２
によって軸上および軸外のコントラストを計測する。 処理

【２１では、処理［１１で計測したコントラストを
ｎ：を算出３２の後段に配した図示しないＡ／Ｄコンバ
ータでディジタル量に変換する。 処理【３１では、制御部４内に設けられた走査平均レジ
スタ群のＤｏに処理［２］でディジタル量に変換したコ
ントラストを転送する。 処理［４１では、制御ＪＬｆｆｉＡ内の走査平均レジス
タ群にて走査４１均を計算し、計算結果をメモリ内の所
定場所に記憶させる。 処理［５１では、走査平均レジスタ群にて、各走査平均
レジスタ上の各データを夫々となりのレジスタにシフト
させる。 処理【６１では、各ＣＣＤセンサを１走査ステツプ移動
させる。 処理［７１では、各ＣＣＤセンサの走査（移動）緘を検
査する。つまり、走査量（走査による移動■）が設定し
た走査ステップ数に達したかどうか検査し、走査終了の
場合は次の処理［８］に移り。 走査未終了の場合は処理［１１に戻る。 処理［８１では、所定走査幅分のコントラストから、コ
ントラストのピーク値とその位置を演算する。 処理【９１では、レンズマウントを所定角度回転させて
被検レンズの測定方位を変更する。 処理［１０１では、設定方位（４方位）の全てについて
コントラストを測定終了したかどうか検査する。測定終
了の場合は該コントラスト測定サブルーチン４３から抜
は出してメインの制御プログラム４Ａに復帰する。測定
未絆了の場合は処理［１１１を実行する。 処理［＋１１では、走査ステップ数を条件により変更設
定し、処理［１］に戻る。これは所定の条件が成翫ｊし
たときに走査ステップ数を減少させて、走査時間の短縮
化を図るものである。 なお、処理［＋１から処理［７］　までで構成されるル
ープが１走査ステツプとなり１本実施例では１走査ステ
ツプの処理時間は４．０９６　ｍｓに設定されている。 当該制御部４では、コントラスト測定に際して走査平均
レジスタ群を利用して走査平均計算が行なわれるように
なっており、次に、この走査平均の動作について説明す
る。 （走査平均の動作について） 第１９図は、走査平均レジスタ群の概念図である。 走査１１均レジスタ群は、８個の所定ビット数のレジス
タＤ。−Ｄｒで構成され、制御部４内に１没けられる。 その動作は、まず、前述したディジタル信号が制御部４
内の走査１Ｌ均レジスタ群のＤＯに転送されてレジスタ
Ｄｏ＝Ｄ＋の平均が計算される。そして、この＋１均イ
メｉがコントラストとしてメモリに転送、記憶される。 その後、走査１１均レジスタ群の各データが人々隣りの
レジスタにシフトされる。つまり、Ｄｏ　４０１　　、
ＤＩ　４Ｄ７　、−Ｄ６→Ｄ＋とシフトされるのである
。すなわち、２進法で８で１１′Ａるロジックが筒中な
ため、こうした処理により高速演算が回走となる。さら
に、レジスタ内のデータシフトは、制御部４を構成した
マイクロコンピュータでは容易である。などの理由によ
り走査平均計算は、容易かつ高速に処理できる。なお、
１，２方法では、レジスタ　Ｄｏ〜ＤＩの和が最大とな
るコントラストのピーク位置はＤＯにデータを取り込む
時点のセンサボード位置と４走査ステツプのズレを生ず
る。しかし、このズレは常に一’Ｍなので４走査ステツ
プズした位置をピーク位置とすればよい。 レジスタＤＯに取り込むデータの最初の１個から７個］
１まで、つまり、走査平均レジスタ群Ｄｏ＝ＤＩが仝て
ＦＵＩ、Ｌになるまでは、走査）ｌ均を取ったコントラ
ストは実際に測定したコントラストよりもかなり低くで
る。しかし、この部分の測定値は、第１７図に示すコン
トラスト曲線の裾野の部分に相当するので問題ない、ま
た、走査平均を取ったコントラストは、実際の測定値よ
り必ず低い値となり誤差を生ずる。しかし、この実際の
測定イｌ電との誤差は、走査ステップのステップ数を多
くすることにより減少させることができ、これによりそ
の影響を無視できる。 実際には、走査幅ｗＳＳ　　における走査ステップ数は
３００〜１０００ステツプに達する。ｌ走査ステップは
４．０９６　Ｉｌｓなので約１秒強〜４秒を必要とする
。 コントラストのピーク値とその位置は、メモリ内に記憶
させた各ステップ毎のコントラストデータ全テについて
コントラストの大小比較をくり返し行なうことで捜しだ
す、走査ステップのステップ数にもよるが、最大約１０
００回比較をくり返すことになり、本実施例では制御ｆ
ｆ＆４が２　ＭＨｚクロックで作動しているので該大小
比較の処理時間に約１００　ＩＩｓ必要となる。 （走査時間の短縮化について） コントラストＡ１１ｌ定サブルーチン４３では、第１４
図に於る（Ｏ２０，■、■に示す所定の々方位について
コントラストを測定し、コントラストのピーク値とその
位置を演算するものであるが、下記の条件を満足する場
合には走査幅ｗＳＳ全幅の走査を行なわずに、所定手順
に基いて走査幅を減少させる。これにより走査時間の短
縮化を図るものである。 その条ヂ１．とは。 （１）複数の被検レンズを検査する時のｆｂのバラツキ
と個々の被検レンズ内の像面の測定点の変化による変化
Ｈ，Ｈ，に大差があり、曲名の方が大きい場合。 （２）被検レンズの軸外像面の倒れが小さいか、または
調べる必要がない場合。 （３）被検レンズの中心像面の方位による変化を調べ、
ｆ−均軸上像面のみを測定すればよい場合、である。 第２０図は、走査時間の短縮化を説明する概念図である
。同図において、横軸はセンサボードの走査方向を示し
、縦軸は下方に向って走査時間の経過を示している。 センサボードの走査は所定の４方位について４回行なわ
れるが、まず−回１］の方位■でセンサボードの走査を
例えば８００走査ステツプで行なったとすると、つぎの
方位■では方位■で見つけたピーク位置プラス所定走査
幅−ＳＨ（これを例えば２００走査ステツプとする）走
査する。−回ＩＩの方位■でのピーク位置が４００走査
ステツプ１１であったとすると、二回［１の方位■での
走査は６００走査ステツプで済むことになる。同様に三
回［４の方位■では４００走査ステツプ、四回目の方位
■でも４００走査ステツプとなる。こうすると４方位４
回の走査は合計２２００走査ステツプどなり、こうした
方法を取らずに４方位４回全てについて所定の８００走
査ステツプ走査した場合の合計３２００走査ステツプと
比較して、１０００走査ステツプ、つまり時間にして約
４秒Ｎ縮される。 「判定部５Ｊ （構　成） 判定部５は、前述の制御部４と共にＣＰＵおよびメモリ
とによるマイクロコンピュータによって構成される。又
、該判定部５内には２判定結果を一時格納するための各
々８ビツトで構成された二つの判定レジスタＤＳＯおよ
びＤＳＩ　（図示しない）が設けられている。尚、と４
定レジスタをｏｓｏ５よびＤＳＩの二つとしたのは、〜
つでは処理データ数に対応しきれないことによる。 更に、制御部４と共に該判定部５を構成するマイクロコ
ンピュータのメモリを、後述する表示部６を制御する為
の表示制御メモリとして使用するようになっている。 （作　用〕 該判定部５では、前述の制御部４により作動制御されて
測定された被検レンズ１の各測定点に於るコントラスト
の値を、ｔ５１６図に示す制御プログラム５Ａに従って
予め定められた゛Ｉ定基憎と比較することにより良否判
定を行なう、制御プログラム５Ａは、　’ｉｎ定部５を
構成するメモリ内に記憶されており、複数のサブプログ
ラム（サブルーチン）から成る。つまり、このＶＪｍプ
ログラム５Ａは、二つの判定サブルーチン５１．５２に
より構成される。 ここでは、 １、測定ｌ（コントラスト測定サブルーチン４３）の測
定結果を判定基準と比較することにより。 （＋）軸上に於る非点収差不良（軸上ピークの異常変化
による不良（Ａ−ＡＳＵ　）　） （２）パックフォーカスのオーバー乃至アンター不良（
機械的なパックフォーカスの不良、過大不良（ｆｂ大）
及び不足不良（ｆｂ小）） （３）軸外に於る非点収差不良（軸外像面かたおれてい
る不良（Ｚ−ＡＳＵ　）　） （４）像面の湾曲・倒れ不良（アンダー不良つまり軸外
像面が軸上像面よりもレンズ側に寄りすぎている不良（
ＵＮＤ）　、及びオーバー不良つまり軸外像面が軸北像
面よりもレンズ側から離れている不良（０ＶＥＲ）） （５）軸上コマ収差不良（最良軸上コントラストの異常
変化による不良（Ａ−ＣＯＮ　）　）（６）軸上コント
ラスト不足不良（平均軸上コントラスト値が小さすぎる
不良（Ａ−ＭＴＦＬＯ）　）（７）軸上一部コントラス
ト不足不良（（Ａ−にＴＦＰＬ（８）軸外コントラスト
不足不良（平均軸外コントラスト値が小さすぎる不良（
Ｚ−ＭＴＦＬＯ））（９）軸外コマ収差不良（最良軸外
コントラストの異常変化（Ｚ−ＣＯＷ　）　） を判定する。 ２、測定２（コントラスト測定サブルーチン４４）の測
定結果を判定ノ、（僧と比較することにより （＋）　＋ｉｈ、にに於る非点収差不良（Ａ−ＡＳＵ　
）（２）輔−１−コントラスト不足不良（Ａ−ＭＴＦＬ
Ｏ）（３）軸上コントラストの一部不足不良（軸外コン
トラストの一部が小さく、かつアンダー不良である場合
（Ｕ＋Ｈ）の不良、軸外コントラストの一部が小さく、
かつオーバー不良である場合（０＋Ｈ（４）軸外コント
ラスト不足不良（Ｚ−ＭＴＦＬＯ）（５）軸外コントラ
ストの変動不良（軸外のＭＴＦが激しく変化している不
良（Ｚ−）ＩＥＮ　）　）を判定する。 一１二足項［１別の′ｒ４定の結果は、それぞれ判定レ
ジスタＤＳＯおよび０Ｓ１の予め定められたビット１〜
８の状態を変化（良の場合二〇、不良の場合：ｌ）する
ことにより記録され、該判定レジにりＤＳＯ・ＯＳ＋に
記録された判定結果は各判定サブルーチン５１・５２毎
に表示制御メモリに転送される。 そして、この表示制御メモリに転送記憶された１′４定
結果にノ、（いて、後述する表示部６に設けられた各Ｌ
ＥＤが点滅制御されるようになっている。 即ち、表示部６の各ＬＥＤは、表示制御メモリの内容、
つまり゛ｌ’ｌ定レジスしＤＳＯおよびＯ５１の各ビッ
トの状７ｉ；（Ｑまたは１）に対応して点滅制御される
構成となっており、各ＬＥＤは、その各々と対応するピ
ントの状！小がＯの場合は消灯され、■の場合には点灯
されるように、なっている。又上記判定に用いられたデ
ータは、後述するパソコン部ＰＣにも送られるようにな
っている。 以ド、フローチャートにハづいて具体的に説ＩＪＩする
。 まず、制御プログラム５Ａを構成する二つの゛Ｙ４定サ
ブルーチン５１．５２を第１６図の流れに従って、説明
する。 判定サブルーチン５１は、前述したコントラスト測定サ
ブルーチン４３の結果から軸上アス（非点収差）、コマ
、軸外アス（偏心）、コマの程度を１１１算する。さら
に、軸上のイｌ均像面位”ｔ”ｔ　（）ＩＫＮＰＰＡ）
と、軸外の平均像面（ぜｌ置（）ＩＫＮＰＰＺ　）との
差から像面湾曲を１１１算する。そして、これらの計算
結果と後述する各ノ、（べ（イ〆ｊとの比較から被検レ
ンズｌの良否および不良内容を判定し、その判定結果を
■定しンスタ［ｌＳＱ　　および口Ｓｌに記録する。 ｒ４冗サブルーチン５２は、軸上、軸外のコントラスト
およびコントラストの変化の様子を訂算し、ｒｌ判定サ
ブルーチン１と同様に、これらの３１算結果と後述する
各）、（準ず−１との比較から被検レンズ１の良否およ
び不良内容をｒｌＩ定し、その判定結果を閂定レジスタ
ＤＳＯおよびＯ３＋に記録する。 ’ｒＩｌ疋レジスしＤＳＯおよびＤＳ＋に記録された′
ｒ１足ふ１１果は、前述の如くその都度（判定サブルー
チン５１・５２毎に）表示制御メモリに転送記憶され、
該表示制御メモリの記憶内容にノ、（づいて後述する表
示部６の各ＬＥＤを点滅制御するものである。 （判定〕１（準について） 被検レンズの種類によってレンズ良否の判定基牛か異な
るため、し／ズテスタＬＴでは、制御プログラム５Ａ」
、に多くの判定基準を持っている。 これらの判足り、（準には、その全てに制御プログラム
５　Ａ　、１−でＳＴＤを冠した）、％　準（１白名が
４−１けられている。 像面についての）、（べ’ｉ　４＋（ｉには５ＴＤＰＰ
Ａ　　　　：　　〕、しぺれ＋ｉｂ　　ｌｘ像而面ＴＤ
ＰＰＺ　　、−〇（べＣ軸外像面５ＴＯＰＰＡＵ　　二
軸」、アンター側リミット５ＴＤＰＰＡＯ＋翁１１１ニ
オーノ人−側リミント５ＴＯＰＰＧＵ　＋軸外アングー
側リミット５ＴＯＰＰＧＯ＋　１１ｉ＋１外オー八−側
リミツトがあり、」二足各リミットから外れる被検レン
ズ１は、パックフォーカスｒｂ　　（ｍ械的なピント位
置）不良とｒ１定される。 像面変化についてのノ１（帖値には ５ＴＤＰＰＳＡ　　：輔１．像面変化リミット５ＴＤＰ
ＰＳＺ　：　＋Ｉｌｌ外像Ｆ（ｊ変化りビットがあり、
」二足各像面変化リミットをオーバーする被検レンズは
、アン（非点収Ｘ：）不良と判定される。 コントラストの変化についてのノふベロ僅にはＳＴＩ］
ＭＩＩＳ＾　：最良軸上コントラストの変化リミットＳ
ＴＤＭＭＳＺ　：最良軸外コントラストの変化リミット
があり、上記各変化リミットをオーバーする被検レンズ
は、コマ収差不良と判定される。 コントラストの最小イｆ蓋についての基準値には、ＳＴ
ＤＭＩＮＡ　：最良軸」−コントラストリミット５ＴＤ
ＮＩＮＺ　＋最良軸外コントラストリミットＳＴＤＭＮ
［、Ａ　：平均軸上像面における輛−ｌニコントラスト
リミソト ＳＴＤＭＮＬＺ　：　１’均軸上像面における軸外コン
トラストリミー２ト ＳＴＤＭＮＦＩＺ　：平均軸１；像面における軸外コン
トテストの平均イブ１のリミット があり、上記各リミー２トに満たない被検レンズは、コ
ントラストアンダー不良と判定される。なお、平均軸上
像面における軸外コントラストの平均イ〆ｌのリミット
（ＳＴＤＭＮＨ２）に満たない被検レンズは、４￥定方
位のみの不良ではなく、平均値も不良な不良の程度の大
きいレンズと判定される。 （判定動作について） ＥＴ’Ｓ　２１　ｆ；４１　／　４−４　／　４　ハ、
第１６図ニ示ｔ　７１定サブルーチン５１のフローチャ
ートである。以ド、同図に示す各処理（手順）の流れに
従って説ＩＪＩする。 処理［ＩＪでは、４方位について測定した４個の軸上像
面位置（ＰＰＡ　）から、 ＰＰＡＭＡＸ　　最大値 ＰＰＡＭＩＮ：Ｉゎシイ］召直 ）ＩＫＮＰＰＡ　：　＝ｌ’均値 ５ＡＰＰＡ　　：最大値と最小値との差を求める。 処ＰＰ、［２］では、軸上像面変化リミット（５ＴＤＰ
Ｐ、ＳＡ）と処Ｊ’ｌ！［１３で計算した最大値と最小
ｈ／ｉとの差（５ＡＰＰＡ　）とを比較する。輔−１−
像面変化リミット（５ＴＤＰＰＳＡ　）よりも最大イ１
６と最小値との差（５ＡＰＰＡ）の方が大きい場合は、
軸」−アン（非点収差）不良と判定し、１定レジスタの
所シｉ：ビット（判定レジスタＤＳＯの３ヒ＞トｒｌ）
を１とする。 １１ジ計上回転文、を称になっているカメラレンズは。 一般に光軸」−に非点収差を発生しない、しかし。 カメラレンズが心取り不良のπ１゛により組み立てられ
た場合等には、光軸−Ｆ、に非点収差が現われるので、
」−２処理［２］　にて軸上像面イぜｌ置が所定が以上
変動している被検レンズを軸上アン不良とするものであ
る。 ここで、１：Ａ′処ＪＩ＋！［２］　に於て軸Ｉニアン
（非点収差）不良と同定された場合を例として不良表示
を説明する。 処理［２］に於て軸］ニアン（非点収差）不良と判定さ
れると、判定レジスタのそれと対応するビット（’ｒｌ
定レシしタロＳＯの３ビツト１１）が１となる。そして
、ち該’ｒＪＩ定サブルーチン５１の終了時に″１１定
レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶される（後
述の処理［２３］　）と、該表示制御メモリに記憶され
た輔３１−アス不良を示すデータに基づいて１表示部６
（第２５１４示）の当該不良の表示であるＬＥＤ６４Ａ
　（Ａ−ＡＳＵ）を点灯させるものである。 処理［３］　では、軸−にアンダー側すミッ）　（５Ｔ
ＤＰＰＡｔｌ）と処理［＋３　で、１１算した平均１ｆ
ｔ（ＨＫＮＰＰＡ）−とを比較する。輔とアンダー側リ
ミット（５ＴＤＰＰＡＵ）よりも平均値（ＨＫＮＰＰＡ
）の方が大きい場合は、ａ械的なパックフォーカスｒｂ
のアンダー側異常と判定し、判定レジスタの対応ピント
（判定レジスタＤＳＯの１ヒツト１−１）を１とする。 これにより、に２了す定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶ｙれたとき、゛屯該不良の表示である表示
部６のＬＥＤ６３Ａ　（ｆｂ大）を点灯させる。 処理［４Ｊでは、Ｉｈ１＋　Ｌオーバー側リミット（８
ＴＤＰＰＡＯ）と処理日］で計算した平均（１／ｉ（Ｈ
ＫＮＰＰＡ）とを比較する。そして、輔１．−オー八−
側リミツト（５ＴＤＰＰＡＯ）よりも平均値（）ＩＫＮ
ＰＰＡ）の方が小さい場合は１機械的なパックフォーカ
スｆｂのオーバー側異常と判定し、■定しジスタの対応
ピント（判定レジスタＤＳＯの２ビツト［１）を１とす
る。 これにより、ＩＺ記判定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶されたとき、甲１該不良の表示である表示
部６のＬＥ０６３Ｂ　（ｆｂ小）を点灯させる。 処理［５１では、基準軸−に像面（ＳＴＤＰＰＡ）つま
り袖１−像面位置の、没工１イ〆（と、処理［１］　で
計算した４Ｌ均伯（ＨＫＮＰＰＡ）つまり平均軸上像面
位置との像面位置の差（５ＡＨＫＮＡ　）を求める。す
なわち、（５ＴＯＰＰＡ　）　−（ＨＫＮＰＰＡ）　＝
　（５ＡＨＫＮＡ　）という計算が行なわれる。 処理１６１では、平均軸」−像面（ＨＫＮＰＰＡ）に相
当（−ｆｉ）する軸外像）（＋ｉ　＜　５ＫＰＰＺ）を
求める。これは、軸外コントラストの測定を平均軸上像
面（ＨＫＮＰｐＡ）に相当（一致）する軸外像面（５Ｋ
ＰＰＺ）で行なう心安があるためである。 ｆＪＳ２２図は、ノ、（べわとなる像面位置と、処理【
１１で計算した平均の像面位置との関係を示す説’ＪＪ
図である。同図に示すように軸外像面の１７Ｑ　ｉｉ　
ｌ値からのズレｊｉｉは、処理［５１で計算した像面位
置の差（５Ａ）ＩＫＮＡ　）から（５ＡＨＫＮＡ　）　
／　Ｃｏｓ　Ｏとなる。 すなわち、基準軸外像面（５ＴＤＰＰＺ　）からＣｏｓ
　　θ と、求められる。 なお、−１−記のような−７：、角関数の計算は、１１
定部５を構成したマイクロコンピュータでは計算プログ
ラムが繁雑となり、いたずらにプログラムステップ数が
増大する傾向にある。そこで１本実施例ではに記計算を
まるめ、】１算としである。 処理［７］では、軸外像面のアンタ一方向リミッ）　　
（５ＫＰＰＺＵ　）　ト、　　ｔ−７＜一方向’）　Ｅ
　ン）　　（５ＫＰｐｚｏ　）を求める。すなわち、処
理［６］で、、１算した軸外像面（５ＫＰＰＺ）　　、
軸外像面のアンタ一方向詐Ｗ　ｉ＋ｉ：　（５ＴＤＷ［
Ｉ）　　、　軸外Ｑ　面（７）　オー　／’　一方向許
容：Ｉ’＋（５ＴＤＷＯ）から （５ＫＰＰＺＵ　）　”　（５ＫＰＰＺ）　＋　（５Ｔ
ＤＷＵ）（５ＫＰＰＺＯ）　＝（５ＫＰＰＺ）　　　（
５ＴＤＷＯ）と、求められる。 処理［８１では、処理［７１で２二１算した軸外像面の
オーバーカ向すミ、　）　（５ＫＰＰＺＯ）を検査して
その値が負の場合に（５ＫＰＰＺＯ）　＝　Ｏとする。 これは、負の（ｌ／ｉをなくして゛ＩＪｌ定部５での演
算処理を容易にするためのものである。 処理［９］では、４方位について測定した４個の軸外像
面位置（ＰρＺ）から、 ＰＰＺＭＡＸ　：最大値 ＰＰＺＭＩＮ　：最小イｆ１ ｔｌＫＮＰＰＺ　：　ｆｊ’、ＪｆｆｉＳＡＰＰＺ　：
最大値と最小値との差 を求める。 処理日Ｏ１では、軸外像面変化リミッ）　（５ＴＤＰＰ
ＳＺ）と処理［９１で１，１算した最大イ１１：と最小
値との差（５ＡＰＰＺ　）とを比較する。軸外像面変化
リミフト（Ｓ丁ｏｐｐｓｚ　）よりも最大値と最小値と
の差（５ＡＰＰＺ）の方が大きい場合は、軸外アン（非
点収差）不良と′Ｎ定し、判定レジスタの対応ビットＣ
−ｒ４定レジスタＤＳＩの１ビツト［１）を１とする。 これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６５Ｃ（Ｚ−ＡＳＵ）を点灯させる。 処理ｆｌｌＪでは、処理［７１で計算した軸外像面のア
ンタ一方向リミット（５ＫＰＰＺＵ　）　　と処理［９
１で、：１算した１１均ｆ〆ｉ（ＨＫＮＰＰＺ）とを比
較する。軸外像面のアンタ一方向リミット（５ＫＰＰＺ
ｔ＋　）よりも平均（／ｉ（ＨＫＮＰＰＺ）の方が大き
い場合は、像面がアンター側に湾曲した７ノター異常と
判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳ
Ｏの７ビツト１１）を１とする。これにより、Ｌ記判定
レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき
、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ａ　（Ｕ
ＮＤ）を点灯させる。 処理［１２１では、処理［７］　で１；１算した軸外像
面のオー７へ一方面リミツト（５ＫＰＰＺＯ）と処理［
９］でＡｉ算した平均１１ｉ（ＨＫＮＰＰＺ）とを比較
する。軸外像面のオーバ一方向リミット（５ＫＰＰＺＯ
）よりも平均値（ＨＫＮＰＰＺ）の方が小さい場合は、
像面がオーバー側に湾曲したオーバー異常と判定し、判
定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＯの８ビツ
ト１］）を１とする。これにより１．１；記判定レジス
タの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該
不良の表示である表示部６のＬＥ０６５Ｂ　（ＯＶＥＲ
）を点灯させる。 処理「１３１では、処理［９］で工１算した１１均値（
）ＩＫＮＰＰＺ）つまり］を均軸外像面位置と、処理［
６］で計算した軸外像面位置（５ＫＰＰＺ）との像面位
２の差（５Ａ）ＩＫＮＺ　）を求める。すなわち、（Ｈ
ＫＮＰＰＺ）　−（５ＫＰＰＺ）　＝　（５ＡＨＫＮＺ
　）という計算が行なわれる。 処理［１４）では、処理［１３１で計算した軸外像面の
差（５ＡＨＫＮＺ　）を検査する。つまり、軸外像面の
差（５ＡＨＫＮＺ　）の」１負を検査する。 軸外像面の差（５ＡＨＫＮＺ　）が正の値の場合は、軸
外像面が輔１：像面よりもアンダー側にあると考えられ
る。この場合、軸外アンダー量（ＰＰＺＧＵ）は。 （ＰＰＺＧＵ）　＝　（５Ａ）ＩＫＮＺ　）　Ｘ　２　
＋　（５ＡＰＰＺ　）と工１算される。この軸外アンダ
ーｇｌ　（ＰＰＺＧＵ）は、平均軸上像面（ＨＫＮＰＰ
Ｍ）からの軸外像面のデイフォーカス量の２イΔに相当
し、該軸外アンダー量が大きいほどコントラスト低下の
原因となる０次に、この軸外アンダーｌｉｔ　（ＰＰＺ
ＧＵ）と軸外アンダー側すミー７　）　（５ＴＤＰＰＺ
Ｕ）とを比較する。 そして、軸外アンダー側すミッ）　（５ＴＤＰＰＺＵ）
よりも軸外アンダーＥｔ　（ＰＰＺＧＵ）の方が大きい
場合は、像面のアンダー側への湾曲と共に偏心も考えら
れるため、アンダー異常と偏心異常の合成不良と判定し
、ｌ’−１１定レジスタの対応ビット（判定レジスタＯ
Ｓ＋の５ピツトロ）を１とする。これにより、上記判定
レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき
、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｇ　（Ｕ
＋Ｈ）を点灯させる。 −力、軸外像面の差（５Ａ）ｌＫＮＺ）が負の値の場合
は、軸外像面が軸」二像面よりもオーバー側にあると考
えられる。この場合、軸外オーバー量（ＰＰＺＧＯ）は （ＰＰＺＧＯ）　＝　（５ＡＨＫＮＺ　）　ｘ　２　＋
　（５ＡＰＰＺ　）と、；１算される。この軸外オーバ
ーＱｉｌ　（ＰＰＺＧＯ）は、前記軸外アンター星の場
合と同様、１を均軸」−像面（）ＩＫＮＰＰＡ）からの
軸外像面のデイフォーカス量の２ｆｒτに相当し、該軸
外オーバー１−１が大きいほどコントラス）・低下の原
因となる。次に、この軸外オーバーｊ１１（ＰＰＺＧＯ
）と軸外オーバｍ個すミン）　（５ＴＤＰＰＺＯ）とを
比較する。そして、軸外オーバー側リミット（５ＴＤＰ
ＰＺＯ）よりも軸外オーバーｆｉｔ　（ＰＰＺＧＯ）の
方が大きい場合は、像面のオー／九−側への湾曲と共に
偏心も考えられるためオーバー異常と偏心異常の合成不
良と判定し、　’ｒｌＩ定レジスタの対応ビット（判定
レジスタＤＳＩの６ビツト］１）を１とする。これによ
り、」二足ｒ１定レジスタの内容が表示制御メモリに転
送記憶されたとき　＞ｌ／＋該不良不良示である表示部
６のＬＥＤ６５Ｈ（０＋Ｈ）を点灯させる。 処理［１５Ｊでは、４力位についてＪｉｌｔ：Ｉｉ！し
た軸−に像面位置における４個の軸１ニコ／トラス）　
（ＭＴＦＡ）から、 ＭＴＦＭＡＸＡ　：数人イ〆Ｉ ＭＴＦＭＩＮＡ　：最小イ〆Ｉ ）ＩＫＮＭＴＦ＾・ＩＩｔ均イメ１ ＳＡＭＴＦＡ　：最大値と最小値との差を求める。 処理（１６１では、最良軸−１−コントラストの変化リ
ミット（ＳＴＤＭＭＳＡ　）と、処理１１５１で計算し
た最大値と最小値との差（ＳＡにＴＦ＾）とを比較する
。ここで、最良軸上コントラストの変化リミット（ＳＴ
ＤＭにＳＡ　）よりも最大値と最小値との差（ＳＡＭＴ
Ｆ＾）の方が大きい場合は、軸上コントラストのコマ不
良と間室し、判定レジスタの対応ビー／　ト（’ｌ’ｌ
定レジスしＤＳＯの４ビツト［１）を１とする。これに
より、上記゛ｒ１定レジスタの内容が表示制御メモリに
転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６の
ＬＥＤ６４Ｂ　（Ａ−ＣＯＭ）を点灯させる。 処理［１７１では、最良軸上コントラストリミント（Ｓ
ＴＤにＩＮＡ）と処理［＋５］で計算した平均値（ＨＫ
ＮＭＴＦＡ　）とを比較する。ここで、最良軸１ニコン
トラストリミント（ＳＴＤＭＩＮＡ）よりも平均値（Ｈ
ＫＮＭＴＦＡ）の方が小さい場合は、軸）−コントラス
トのイタ１不足と判定し、ｒ１定レジスタの対応ピント
（判定レジスタＤＳＯの５ピント［１）を１とする。こ
れにより、に記’Ｐ１定レンスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部
６のＬＥＤ６４Ｃ（Ａ−ＭＴＦ−ＬＯＷ）を点灯させる
。 処理［１８］では、最良軸］ニコ、／トラストリミント
（ＳＴＤＭＩＮＡ）と処理１１５］で４１算した最小イ
ｐ’ｉ（ＭＴＦ阿ＩＮＡ　）とを比較する。ここで、最
良軸」−コントラストリミン）　（ＳＴＤＭＩＮＡ）よ
りも最小値（ＭＴＦＭＩＮＡ）の方が小さい場合は、軸
」ニコントラストの一部の値不足と判定し、判定レジス
タの対応ビット（間室レジスタＤＳＯの６ビツＮ、Ｉ）
を１とする。 これにより、Ｌ記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６４Ｄ　（Ａ−ＭＴＦ・ＰＬ）を点灯させる。 処理［＋９］では、４万位について測定した軸外像面位
置における４個の軸外コントラス）　（ＭＴＦＺ）から
、 ＭＴＦＭＡＸＺ　：最大値 ＭＴＦＭＩＮＺ二最小値 ＨＫＮＭＴＦＺ　：平均値 ＳＡＭＴＦＺ　：最大値と最小値との差を求める。 処理［２０１では、最良軸外コントラストリミット（Ｓ
ＴＤＭＩＮＺ）と処理［１９１で計算した平均イＩｌ’
ｉ（ＨＫＮＭＴＦＺ　）とを比較する。ここで、最良軸
外コントラストリミット（ＳＴＤＭＩＮＺ）よりも平均
（Ｉ／ｉ（ＨＫＮＭＴＦＺ）の力が小ざい場合は、軸外
コントラストのイ１不足と判定し、判定レジスタの対応
ビット（判定レジスタＤＳＩの３ビット１−１）を１と
する。これにより、上記′ｒ１定レジスタの内容が表示
制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示であ
る表示部６のＬＥ０６５Ｅ　（Ｚ−ＭＴＦ−ＬＯＷ）を
点灯させる。 処理［２１１では、最良軸外コントラストの変化リミフ
ト（ＳＴＤＭＭＳＺ　）と、処理［１９１で計算した最
大値と最小値との差（ＳＡＭＴＦＺ）とを比較する。こ
こで、最良軸外コントラストの変化リミッ）　（ＳＴＤ
ＭＭＳＺ　）よりも最大イ〆１と最小値との差（ＳＡＭ
ＴＦＺ）の方が大きい場合は、軸外のコマ不良と判定し
、　’ｌ’１定レジスタの対応ヒント（判定レジスタＤ
ＳＬの２ピント１１）を１とする。これにより　−［、
記判定レジスタＤＳＬの内容が表示制御メモリに転送記
憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ
６５Ｄ　（Ｚ−ＣＯＭ）を点灯させる。 処理［２２１では、当該判定サブルーチン５１に於る個
々の判定に）、（づいて総合判定を行なうものであり、
゛ｒ１定レジしタＤＳＯおよびＤＳＩの全てのピントを
検査する。つまり、被検レンズｌに何らかの不良がある
場合は、上記処理［２１］までの各処理が実行されるこ
とで、判定レジスタＤＳＯあるいはＤＳＩの何れかのビ
ットが１になっているはずである。このため、′閂ルシ
スタＤＳＯおよびＤＳＩの全てのビットについて、その
状態を検査すれば被検レンズｌの各不良の有無を知るこ
とができる。 すなわち１判定レジスタＤＳＯおよび［］Ｓ＋の全ての
ビットがＯの場合は、被検レンズｌを良品と判定し、′
ｒ１定サフサブルーチン５１Ｉフ合良判定対応レジスタ
（判定レジスタＯＳ＋の８ビツト「１）を１とする。こ
れにより、上記ｉ＋＋定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶されたとさ、良品の表示となる表示部６の
ＬＥ０６２Ｂ　（良）を点灯させる。一方、判定レジス
タＤＳＯおよびＤＳＩの全てのビットを検査して、ｌの
ビットが一つでもある場合には、被検レンズ１には当、
該ビットに対応した何らかの不良があるということなの
で、被検レンズ１を不良品と判定し、判定サブルーチン
５１の総合不良判定対応レジスタ（判定レジスタＤＳＩ
の７ビツト［１）を１とする。これにより、」二足判定
レジスタＤＳＩの内容が表示制御メモリに転送記憶され
たとき、不良品の表示である表示部６のＬＥＤ６２Ａ　
（不良）を点灯させる。 処理［２３］−ｃは、ｒ４定レジスタＤＳＯオヨヒＤＳ
ｌの内容をメモリ内の表示制御メモリに記憶させる。す
なわち、該処理１２３Ｊを実行することで１判定結果で
ある各不良内容が表示制御メモリに記憶され、その内容
が表示部６の各ＬＥＤに点灯表示される。この処理は、
判定レジスタＤＳＯおよびＤＳｌが判定部５内の演算処
理用のレジスタであって１後述する判′）１１サブルー
チン５２等でも使用するなどの取り扱い上の理由による
処理である。 ｒ１定サブルーチン５１は、以」二の２３項１］の処理
を記述順に実行するものである。 次に、同定サブルーチン５２について説明する。 この判定サブルーチン５２では、前述したコントラス）
Ａｉｄ疋サブルーチン４４で３１１定したコントラスト
による被検レンズｌの判定、つまりモ均軸上像面にてＪ
１１定したコントラストによる被検レンズｌの同定が行
なわれる。ここでの判定基準は゛ｒ１定サフサブルーチ
ン５１いた前述したＳＴ［］を冠した基準値が用いられ
る。 第２４図１／２〜２／２は、第１６図に示す判定サブル
ーチン５２のフローチャートである。以下、同図に示す
各処理（手順）の流れに従って説明する。 処理［＋１では、ｆｌ′、Ｉ軸上像面位置において側冗
した、所定の８方位または１２方位における８個または
１２個の軸」；コントラストから、ＭＴＦＭＸＬＡ　：
岐大値 ＭＴＦＭＮＬＡ　：最小値 ）ＩＫＮＭＦＬＡ　：平・均値 ＳＡＭＴＦＬＡ　：　ｈａｔ大イダイ−１小値との差を
求める。 処理［２］では、最良軸」ニコントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤＭＭＳＡ　）と、処理［１］　で計算した最
大イｆｌと最小イ〆１との差（ＳＡＭＴＦＬＡ）とを比
較する。ここで、最良軸上コントラストの変化リミット
（ＳＴＤＭＭＳＡ　）よりも最大イ〆ｆと最小値との差
（ＳＡＭＴＦ＾）の方が大きい場合は軸上コントラスト
のアン不良と判定し、ＰＩＩ定レジスタの対ｊεビット
（閏疋しンスタＤＳＯの３ヒツトロ）を１とする。これ
により、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転
送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬ
ＥＤ６４Ａ　（Ａ−ＡＳＵ）を点灯させる。 処理［３］　では、１１均輔−に像面における軸上コン
トラストリミツ）　（ＳＴＤにＮＬＡ）と、処理［１１
で計算したｆＬＪ値（ＨＫＮＭＦＬＡ）とを比較する。 　１’：均輔−１−像面における軸↓−コントラストリ
ミット（ＳＴＤＭＮＬＡ）よりも１１均イ１（ｉ（ＨＫ
ＮＭＦＬＡ　）の方が小さい場合は、軸上コントラスト
の値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レ
ジスタＤＳＯの５ビ。 ト［Ｉ）を１とする。これにより、上記′ｌ′１定レジ
スタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当
該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６４Ｃ（Ａ−ＭＴ
Ｆ中ＬＯＷ）を点灯させる。 処理

【４］　では、平均軸を像面における軸−ｌニコン
トラストリミッ、）　（ＳＴＤＭＮＬＡ）と、処理［１
］　で、−１算した最小値（ＭＴＦＭＮＬＡ　）　　と
を比較する。１１均軸」、像面における軸上コントラス
トリミツ）　（ＳＴＤＭＮＬＡ）よりも最小イ〆ｉ　（
ＭＴＦＭＮＬＡ）の方が小さい場合は、軸上コントラス
トの一部の値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット
（判定レジスタＤＳＯの６ヒント＋１）を１とする。こ
れにより、」二足判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６４Ｄ　（Ａ−ＭＴＦ−ＰＬ）を点灯させる。 処Ｊｕｌ！［５］　では、軸外コントラストの測定値（
データ）を一部移し換えて、データの退避を実行する。 ８個または１２個の軸外コントラストの測定値は、各々
専用の退避レジスタ（ＭＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ７また
はＭＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＩ、１１　　）に格納される
。そこで、８方位について軸外コントラストを測定した
場合は、第４方位の測定イ１１′１、つまり退避レジス
タ（ＭＴＦＺＬ３　）の内容を第８方位の！！避レジス
タ（ＭＴＦＺＬ７　）に転送する。その後、第７カ位の
測定値、つまり退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ６）の内容を
第４方位の退避レジスタ（にＴＦＺＬ３）に転送する。 この測定イ〆１の移し換えは、つぎの処理［６１での５
１算処理を１！’Ｉｔ屯するための準備であり、第４方
位の測定値が後述するパソコン部ＰＣへの転送データと
なっていることによるデータ退避作業である。また、１
２方位について軸外コントラストをＪｌｌｌ定した場合
は、測定データ全てを利用するので、該処理［５１は行
なわずに、そのままつぎの処理［６］　に移る。 処理１６１　では、軸外コントラストのＪｌｌ定（／ｉ
から ＭＴＦＭＸＬＺ　：　最大価 ＭＴＦＭＮＬＺ　：最小イーＩＩＩ ）ＩＫＮＭＦＬＺ　：　（’均値 ＳＡＭＴＦＬＺ　：最大イ〆（と最小値との差を求める
。なお、８方位について軸外コントラストを測定した場
合は、退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ’Ｏ〜ＭＴＦＺＬ５　
）の内容から上記６値を求める。また、１２方位につい
て軸外コントラストを測定した場合は、ｉＪ！避レジス
タ（ＭＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ１１　　）の内容から上
記６値を求める。 処理［７３では、処理［５］　で退避させた軸外コント
ラストの７１１１１定植を元に戻す。つまり、８方位に
ついて軸外コントラストを測定した場合はｉ！！避レジ
スタ（ＭＴＦＺＬ７　）に退避させた第４方位の測定値
を本来の退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ３　）に転送し、元
の状態に戻す、さて、第８方位の測定値は、前記処理［
５］のデータ退避作業で消滅しているが、これと対称な
位置の第４方位の測定値が確保されているので問題はな
い。また、１２方位について軸外コントラストをΔＩＩ
Ｉ定した場合は、該処理［７］を実行する必要はなく、
処理（６１を実行後直ちにつぎの処理１８１　に移る。 処理［８］　では、ｑｉ均軸上像像面おける軸外コント
ラストリミット（ＳＴＤＭＮＬＺ）と処理［６１で計算
した最小イ＋／ｉ　（ＭＴＦＭＮＬＺ）とを比較する。 −（ｉ均輔−１−像面における軸外コントラストリミッ
ト（ＳＴＤＭＮＬＺ）よりも最小値（にＴＦＭＮＬＺ　
）の方が小さい場合は、像面の湾曲と偏心の合成不良が
考えられるので像面湾曲の方向を検査する。また、平均
軸−ヒ像面における軸外コントラストリミット（Ｓ丁Ｄ
ＭＮＬＺ）よりも最小値（ＭＴＦＭＮＬＺ　）の方が小
さくない場合は、直ちに処理［ＩＯ］の処理に移る。 像面湾曲の方向は、ｒｌＩ定サブルーチン５１によりす
でに検査されている。つまり、（ＰＰＺＧｏ）　＞（Ｐ
ＰＺＧＵ）ならばオーバ一方向、（ＰｐＺＧＯ）　＜　
（ＰＰＺＧＵ）ならばアンダ一方向である。したがって
、被検レンズの像面がアンダ一方向に湾曲している場合
は、アンダーと偏心の合成による軸外コントラストの異
畠と同定し、判定レジスタの対応ビット（’ｉｌｌ定し
’；’７．夕［］Ｓ１＋７）５ビツト［１）を１とする
。 これにより、」−゛記判定レジスタの内容が表示制御メ
モリに転送記憶〇されたとき、当１該不良の表示である
表示部６のＬＥＤ６５Ｇ　（Ｕ＋Ｈ）を点灯させる。 一方、被検レンズｌの像面がオーバ一方向に湾曲してい
る場合は、オーバーと偏心の合成による軸外コントラス
トの異常と判定し、’ｔ’ｌ　定レジスタの対応ヒント
（判定レジスタＤＳＬの６ビツトＬりを１とする。これ
により、上記゛Ｉ閂定ジスタの内容が表示制御メモリに
転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６の
ＬＥＤ６５Ｈ（ｏ＋Ｈ）を点灯させる。 処理１９】では、平均軸に像面における軸外コントラス
トの平均値のりミツｌ−（ＳＴ［１ＭＮＨ２）と処理［
６１で計算した可り均仙（ＨＫＮＭＦＬＺ）とを比較す
る。そして、平均軸］、像面における軸外コントラスト
（７）　’ｔ’ＥＪ値ノ１，１　ミ、７　）　　（ＳＴ
ＩＩＭＮＨ２）　ヨりも平均値（ＨＫＮＭＦＬＺ）の方
が小さい場合は、軸外コントラストの値不足と判定し、
判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳ１の３ビ
ツト「１）を１とする。これにより、」−記判定レジス
タの内容が表示１ノ制御メモリに転送記憶されたとき、
当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｅ　（Ｚ−
ＭＴＦ拳ＬＯＷ）を点灯させる。 処理［１０Ｉでは、岐良軸外コントラストの変化リミッ
ト（ＳＴ［］ＭＭＳＺ）と処理［６１で計算した最大（
ｄｉと最小値との差（ＳＡにＴＦＬＺ）とを比較する。 ここで、最良軸外コントラストの変化リミタ）　（ＳＴ
ＤＭＭＳＺ）よりも最大イ〆１と最小値との差（ＳＡＭ
ＴＦＬＺ）の方が大きい場合は、軸外コントラストの変
動異常と判定し、判定レジスタの対応ヒツト（判定ジス
タＤＳＬの４ビツト１］）を１とする。これにより、上
記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶され
たとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｆ
　（Ｚ−ＨＥＮ）を点灯させる。 処理［１１ｊでは２判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの
全てのビットを検査する。これは、判定サブルーチン５
１に於る処理［２２Ｊの場合と同様に１判定サブルーチ
ン５２に於る偶々の判定に基づいて総合判定を行なうも
のであり、判定レジスタＯ５ＯおよびＯ３＋の各ヒツト
の全てのビットを検査する。すなわち、間室レジスタＤ
ＳＯおよび［ｌＳＩの全てのビットがＯの場合は、被検
レンズ１を良品と判定し１判定サブルーチン５２の総合
良間室対応レジスタ（判定レジスタＯ５＋の８ビツト］
１）を１とする。これにより、」二足判定レジスタの内
容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、良品の表示
である表示部６のＬＥ０６２Ｂ　（良）を点灯させる。 一方、判定レジスタＤＳＯおよび［ｌＳＩの全てのビッ
トを検査して、１のビットが一つでもある場合には、被
検レンズ１に当該ヒツトに対応した何らかの不良がある
ということなので、被検レンズ１を不良品と判定し、被
検レンズ１を不良品と判定し１判定サブルーチン５１の
総合不良判定対応レジスタ（’ｒｌ定レジしタＯ３＋の
７ビツト［１）を１とする。これにより、上記判定レジ
スタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、不
良品の表示である表示部６のＬＥＤ６２Ａ　（不良）を
点灯させる。 処理［］２１では、判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの
内容をメモリ内の表示制御メモリに記憶させる。すなわ
ち、該処理

【Ｉ２］を実行することで、判定ｔｋ１ｉ果
である各不良内容が表示制御メモリに記憶され、その内
容が表示部６の各ＬＥＤに点灯表示される。この処理も
、　ｎ：ｊ述した判定サブルーチン５１の処理［２３Ｊ
と同様、取り扱い−にの理由による処理である。 判定サブルーチン５２は、以上の１２項目の処理を記述
順に実行するものである。 「表示部６」 （構　成） 表示部６は、第２５図示の如く、前記判定部５による判
定結果を表示パネル６１に配ｈηされた発光タイオート
（ＬＥＤ）の点灯により表示するものである。 表示パネル６１には、総合判定のＬＥＤ６２Ａ・６２Ｂ
と、判定部５による判定と対応する各判定ダ１目別のＬ
ＥＤ　（６３Ａ・６３Ｂ−６４Ａ・６４８・６４Ｃ・６
４Ｄ・６５Ａ−６５Ｂφ６５Ｃ・６５Ｄ−６５Ｅ・６５
Ｆ−６５Ｇ・６５Ｈ）が、第２６図示の如く所定の位置
に配置されている。尚、該表示パネル６１内にはレンズ
テスタＬＴの電源スィッチ６６および測定動作の起動ス
イッチ等も−Ｘに配置されるものである。 （作　用） 表示パネル６１に配置された各ＬＥＤは、前述の判定部
５の所で説明した如く、制御部４と共に判定部５を構成
するマイクロコンピュータ内に設けられた表示制御メモ
リにより点滅制御される６すなわち、表示制御メモリに
は１判定部５による判定結果が−・時格納される前述し
たｆｌ判定レジスタＳＯおよびＤＳＩの内容が記憶され
る。そして、表示パネル６１の各ＬＥＤは、表示制御メ
モリの内容、つまり同定部５内の判定レジスタＤＳＯお
よびＯ３＋の各ビットと各々対応しており、各ヒツトの
状態（Ｏまたは工）に対応して点滅制御される構成とな
っている。つまり、各ＬＥＤは、その各々と対応するヒ
ツトの状ｙ！１がＯの場合は消灯され】の場合には点灯
される。 この各ＬＥＤと判定レジスタＤＳＯおよびＯ５＋の各ビ
ットとの対応、つまりどのＬＥＤが判定レジスタＤＳＯ
およびＤＳＬの何れのビン）に対応しているかについて
は１判定サブルーチン５１および５２の説明のイ１にて
その都度説明しであるのでここでは省略する。 次に、各ＬＥＤによる具体的な表示内容を説明する。 総合ｆＪｌ定のＬＥＤ６２Ａ拳６２Ｂは、６２Ａが被検
レンズ１が不良品の時（即ち種々の゛■定基準の一つで
も外れた時、この場合後述する各検査項目別ＬＥＤの何
れかが必ず点灯する）に点灯し。 ６２Ｂが被検レンズｌが良品の場合（種々の判定基準す
べてを満足した場合）に点灯する。 各判定項目別のＬＥＤは、６３Ａ−６３Ｂが機械的なパ
ックフォーカスの不良、６４Ａ〜６４Ｄがレンズ軸」二
つまり中心部の不良。 ６５Ａ〜６５Ｈがレンズ軸外つまり周辺部の不良を示す
ものであり、点灯した場合が当該不良を表わすものであ
る。 以下、各判定項ＬＩ別のＬＥＤによる表示（点灯）を個
々に説明する。 被検レンズ１がｎ定基準を全てクリアすると。 良品表示である６２Ｂが点灯。 不良の場合は不良品であることを示す６２Ａが点灯し、
その不良内容（理由）が６３Ａから６５Ｈまでの判定用
１１別のＬＥＤの点灯によって表示される。 ６３Ａは、機械的なパックフォーカスの過大不良（ｒｂ
大）時に点灯。 ６３Ｂは１機械的なフォーカスパックの不足不良（ｒｂ
小）時に点灯。 ６４Ａは、−１１上アス不良、つまり軸−ヒビークの異
常変化による不良（Ａ−ＡＳＵ　）時に点灯する。この
不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成レン
ズの偏心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｂは、軸」−コマ不良つまり最良軸上コントラスト
の異常変化による不良（Ａ−ＣＯＭ）時に点灯する。こ
の不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成レ
ンズの偏心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｃは、　Ｉｈｈ上コントラストの不足不良つまり４
ｉ均軸上ＭＴＦイメｉが小さすぎる不良（Ａ−ＭＴＦＬ
Ｏ）時に点灯する。この不良の原因としては、被検レン
ズｌを構成する構成レンズの研磨不良が考えられる。 ６４Ｄは、軸１−コントラストの一部が値不足な不良（
Ａ−ＭＴＦＰＬ　）時に点灯する。これは６４Ｇより示
される不良の中で不良程度が軒いものである。従って、
６４Ｃが点灯すれば必ず６４Ｄも点灯する。 ６５Ａは、アンダー不良つまり軸外像面が軸上像面より
もレンズ側に寄りすぎている不良（ＵＮ［ｌ）時に点灯
する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構成す
る構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられ
る。 ６５Ｂは、オーへ−不良つまり軸外像面が軸上像面より
もレンズ側から離れている不良（０ＶＥＲ）時に点灯す
る。この不良の原因としては、被検レンズ１を構成する
構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられる
。 ６５Ｃは、軸外アン不良つまり軸外像面が倒れている不
良（Ｚ−ＡＳＵ　）時に点灯する。この不良の原因とし
ては、被検レンズｌを構成する構成レンズの偏心が考え
られる。 ６５Ｄは、軸外コマ不良つまり最良軸外コントラストの
異常変化（Ｚ−ＣＯＮ　）時に点灯する。この不良の原
因としては、被検レンズｌを構成する構成レンズの研磨
不良、著しい偏心が考えられる。 ６５Ｅは、軸外コントラストの値不足つまりｆ均軸外コ
ントラスト値が小さすぎる不良（Ｚ−ＭＴＦＬＯ）時に
点灯する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構
成する構成レンズの偏心、工間隔の変化等の調心不良が
考えられる。 ６５Ｆは、軸外コントラスト変動つまり軸外のコントラ
ストが激しく変化している不良（Ｚ−）ＩＥＮ）時に点
灯する− ６５Ｇは、軸外コントラストの一部が小さく、かつアン
ダー不良である場合（Ｕ−Ｈ）の不良時に点灯する。こ
の不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成レ
ンズの調心不良が考えられる。 ６５Ｈは、軸外コントラストの一部が小さく、かつオー
バー不良である場合（０＋）Ｉ　）の不良時に点灯する
。この不良の原因としては、被検レンズｌをａ成する構
成レンズの調心不良か考えられる。 以上の不良判定を表示することにより、被検レンズｌの
不良’ｌ’ｌ定と共に不良原因別の分別も併せて行なう
ことが可能となり、検査作業の効・Ｖ化を図ることがで
きるものである。 ［レンズテスクＬＴのシステム化１ 本実施例では、レンズテスタＬＴに後述するパソコン部
ＰＣを第２６図示の如く接続してレンズテスタシステム
を構成し、レンズテスタＬＴからの情報（測定及び判定
データ）の加工処理を可能としている。 （構　成） パソコン部ＰＣは、所謂パーソナルコンピュータであり
、コンピュータ７１．＋−ボード７２ＣＲＴデイスプレ
ィ７３及びプリンタ７４により構成される。 パソコンＩＰｃのコンピュータ７１はレンズテスタＬＴ
の制御部４及び判定部５を構成するマイクロコンピュー
タとデータバスＤＢにより接続されており、レンズテス
タＬＴからの測定値及びパソコン部ＰＣからのコマンド
が（ｌ：いに受は渡されるようになっている。 （作　用） そして、パソコン！ＰＣでは、レンズテスタＬＴから入
力されるデータを統計処理して被検レンズｌに−ｔＪす
る不良対策９品質管理等に有用な二次データを作ること
ができ、このデータはプリンタ７４によりプリントアウ
トすることもできる。 又、測定データ及び二次データをＣＲＴデイスプレィ７
３上にグラフ表示できると共にプリンタ７４によりプリ
ントアウトすることができる。これにより測定データを
視覚化することができ、レンズテストＬＴの表示部６に
よる判定表示では解らないより詳細な像面状態等を−［
」で把握できるようになるものである。 第２７図は測定データのＣＲＴデイスプレィ７３上への
グラフ表示の一例である。 図示表示は、−画１ｍ中に４種のグラフ（画面左」二の
グラフをＧ１．画面左下のグラフをＧ２．画面右上のグ
ラフを０３、画面右下のグラフをＧ４．と呼称する）が
同時に表示され、これらが被検レンズｌの特性を如実に
表わすものである。 各グラフの座標は、グラフＧｌ、Ｇ２の縦軸はコントラ
ストと像面位置を、グラフＧ３．Ｇ４のＭｔ４！ＩＩｆ
はコントテストを表わすとノ（に、横軸は各グラフとも
方位を表わす、但し、横軸の１月んは、グラフＧｌ　、
Ｇ２ではコントラスト°測定サブルーチン４３における
４方位を、グラフＧ３．Ｇ４ではコントラスト測定サブ
ルーチン４４における８方位または１２方位を表わすよ
うになっている。 次に、各グラフについて個々に説明する。 タラ７Ｇｌは、コントラスト測定サブルーチン４３で測
定された各方位における軸上コントラストのピーク値と
その像面位置（最良軸」二像面位置）を示し、輔ヒ各測
定点のコントラストのピーク値を実線で、その位置（最
良像面位置）を−点鎖線で示している。なお、設置ｔ１
像面位置も併せて表示してあり、被検レンズの像面状１
ｇの変化を把握しやすいようになっている。 グラフＧ２は、コントラスト測定サブルーチン４３で測
定された各方位における軸外コントラストのビークイ〆
ｉとその像面位置（最良軸外像面位置）を、ｌｌ１１１
１外の各測定点コントラストのピークイ〆（を実線で、
その位置（最良像面位置）を−点鎖線で示す、なお、タ
ラ７Ｇ１と同様に設計像面位置も併せて表示しである。 グラフＧ３は、コントラスト測定サブルーチン４４で測
定した平均軸上像面位置における各方位についての軸に
のコントラストをグラフ化したものであり、軸」ニコン
トラストを実線で示し、併せて当該被検レンズに対する
良否判定の基準値を一点鎖線で示している。従って、当
該グラフ３Ｇにおいて、実線で示されるコントラストが
良否判定の基準値を越えていれば、軸上コントラストに
関しては良品レンズと判定されているものである。 グラフＧ４は、コントラスト測定サブルーチン４４で測
定した平均軸上像面位置における各方位についての軸外
のコントラストをグラフ化したものであり、軸外コント
ラストを実線で示し、併せて当該被検レンズに対する良
否’ｒＪＪ定の基準（（ｉを一点鎖線で示している。従
って、グラフ３Ｇと同様に当該グラフ４Ｇにおいて、実
線で示されるコントラストが良否判定の基へ昨値を越え
ていれば、軸外コントラストに関しては良品レンズと判
定されているものである。 上記のグラフ表示から、例えば下記の如く被検レンズの
光学時Ｍの不」１合及びその原因を読み取ることができ
る。 （１）グラフＧ２に於て、第２８図の如く各測定点の軸
外の像面位置のグラフが設計像面位置と交差して表わさ
れる場合には、第３０図（ａ）に示すように像面に倒れ
を生じていることが解る。このような状ｙｎＩは、被検
レンズｌの構成レンズが偏心している場合に発生するも
のである。 （２）第２９図の如く、グラフＧｌでは各測定点の軸上
の像面位置のグラフは設計像面位置信置にあるが、グラ
フＧ２では各測定点の軸外の像面位置のグラフが、没工
１像面位置から上下例れか一方側（図では下方即ちレン
ズに近づく側）に略平行に離れている場合には、第３０
１；４（ｂ）に示すように像面が湾曲（図ではアンダー
側に湾曲）していることが解る。このような状ｙ小は、
被検レンズｌの構成レンズの工間隔に変化がある場合に
発生する。 ［発明の効果］ 以上説明したように、この発明によれば、コントラスト
測定手段からコントラストを連続的に多数得る際、コン
トラストか所定数取りまとめられてその平均値か真の測
定データとされると共に、その所定数の取りまとめか検
知手段の移動ステップ毎にそのステップて新たに得たコ
ントラストか取り込まれる方向に所定数ずつシフトされ
るため、判定部に送られるコントラストデータはノイズ
成分等が除去されてそのハラつきが減少されたものとな
り、安定したデータに丸められる。すなわち、上記のい
わゆる真の測定データを用いることて判定部による当該
被検レンズの良否判定を正確なものとてき、これにより
精度良く被検レンズをテストてきる６

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるデータ平均化処理方法の好適な一
実施例を適用したレンズテスタの概略構成を示すブロッ
ク図、第２図はレンズマウントの平面図、第３図はその
ＩＩＩ−ＩＩＩ断面図、第４図は光源部の構成図、第５
図は光源部の各構成要素の放射又は透過分光特性を示す
グラフ、第６図はチャートの平面ＩＡ、第７図は軸外ミ
ラ一部の平面図、第８図はその左側面図、第９図はセン
サ部のモ面図、第１Ｏ図はそのｘ−ｘＦｌｉ面図、第１
１図は第９図の疋−ＸＩ断面図、第１２図は演算回路の
フロック図、第１３図は演算回路におけるコントラスト
演算にかかる正弦波信号の説明図、第１４図及び第１５
図は軸外測定点位置を示す図、第１６図は制御部および
判定部のフローチャート、第１７図は測定により得られ
るデイフォーカス量に対するコントラスト値の特性曲線
、第１８図はコントラスト測定のサブルーチンのフロー
チャート、第１９図は走査平均レジスタ群の概念図、第
２０図は走査時間短縮化を説明する概念図、第２１図は
判定サブルーチンのフローチャート、第２２Ｌ７１は基
準像面位置と平均像面位置との関係を示す説明図、第２
４図は判定サブルーチンのフローチャート、第２５図は
表示パネルの平面図、第２６図は本発明にかかるレンズ
テスタＬＴを適用したレンズテスタシステムの構成ブロ
ックＩＡ、第２７図はパソコン部による測定結果の表示
の一例を示す図、第２８図および第２９図は第２７図の
表示の説明図、第３０図は第２８図および第２９図と対
応した像面変化の説明図、第３１図は従来例である投影
テストの説明図である。 ｌ・・・被検レンズ ＣＡ、ＣＺ・・・チャート（格子チャート）３１Ａ・３
１Ｚ・・・ＣＣＤセンサ（検知手段）３・・・コントラ
スト測定手段 ＬＴ−・・レンズテスタ 第 図 第 （＋／１） （ａ） （％） （ｂ） 波長（ｎｍ） （Ｃ） （ｌ／ｌ） 波長 （ｎｍ） 波長 （ｒ＋ｍ） ４００　　６ＣＸ）　　　８００ 波５　　（ｎｍ） ＋００ 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図 ↓ グ （１６ｂｌｔ） 第 図 第 図 ＣＣＤセンサの光軸上の動き 第 図 第 図 第 図 方位 第 図 方位 第 図 −Ｌ続補止書（方式） ４￥詐庁長官 吉田文毅 ・バ件の表示 昭和６３年特許願第２１５９７８号 発明の名称 レンズテスタのデータ平均化処理方法 補正をする者 ゛に件との関係　特許出願人 （０５２）　　旭光学工業株式会社

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被検レンズが形成した格子チャートのチャート像を当該
   被検レンズの光軸方向へステップ移動可能な検知手段に
   より検知し、該検知手段のステップ移動に連動して作動
   するコントラスト測定手段により前記格子チャートの像
   のコントラストを前記検知手段によるチャート像検知結
   果に基づいて連続的に多数得るレンズテスタにおいて、
   前記コントラスト測定手段からコントラストを連続的に
   多数得る際、そのコントラストを所定数取りまとめて平
   均値を算出してこれを真の測定データとすると共に、そ
   の所定数の取りまとめを前記検知手段の移動ステップ毎
   にそのステップで新たに得たコントラストを取り込む方
   向に所定数ずつシフトさせたこと、を特徴とするレンズ
   テスタのデータ平均化処理方法。