JPH026367Y2 - - Google Patents
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- JPH026367Y2 JPH026367Y2 JP1981195846U JP19584681U JPH026367Y2 JP H026367 Y2 JPH026367 Y2 JP H026367Y2 JP 1981195846 U JP1981195846 U JP 1981195846U JP 19584681 U JP19584681 U JP 19584681U JP H026367 Y2 JPH026367 Y2 JP H026367Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test tube
- holder
- tube stand
- hole
- piston
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、自動分析装置における試料供給装
置、詳しくは高粘度の血液などの試料を収納した
多数の試験管を、空気の交互切換により試験管立
てごとワンステツプずつ効率よく分析装置に供給
して、正確に分析を行い得る試料供給装置に関す
るものである。
置、詳しくは高粘度の血液などの試料を収納した
多数の試験管を、空気の交互切換により試験管立
てごとワンステツプずつ効率よく分析装置に供給
して、正確に分析を行い得る試料供給装置に関す
るものである。
血液分析装置や白血球分類装置などの自動分析
装置に、血球などの高粘度の検体試料を供給する
際に問題になるのは、試料の不均一性であり、撹
拌むらや撹拌不足から生ずる測定結果への影響に
より、しばしば重大なミスが生じている。したが
つて、血液などの分析においては、振盪装置など
を用い測定直前まで試料を振盪させ、均一な状態
にしてから分析装置に吸引させ測定を行つてい
た。このため振盪装置から分析装置へ供給するの
に、人手を必要とする欠点があつた。
装置に、血球などの高粘度の検体試料を供給する
際に問題になるのは、試料の不均一性であり、撹
拌むらや撹拌不足から生ずる測定結果への影響に
より、しばしば重大なミスが生じている。したが
つて、血液などの分析においては、振盪装置など
を用い測定直前まで試料を振盪させ、均一な状態
にしてから分析装置に吸引させ測定を行つてい
た。このため振盪装置から分析装置へ供給するの
に、人手を必要とする欠点があつた。
一方、この欠点をカバーするために、本出願人
は既に、特開昭54−130988号公報に示すように、
自動分析装置の吸引パイプ自体を回動させ、かつ
吸引パイプの洗浄装置を備えることにより、試料
の吸引時まで試料を静置させておくことができる
装置を特許出願している。
は既に、特開昭54−130988号公報に示すように、
自動分析装置の吸引パイプ自体を回動させ、かつ
吸引パイプの洗浄装置を備えることにより、試料
の吸引時まで試料を静置させておくことができる
装置を特許出願している。
本考案は、これをさらに一歩進めて、分析装置
間での検体試料の供給が容易にでき、しかも吸引
パイプが試料容器に向つて垂下するのではなく、
試料容器が吸引パイプに向つて移動し、採取する
必要試料の量を最小にでき、さらに各部の可動部
分をすべてエア駆動にすることにより、分析結果
に影響を与えるソレノイドやリレーから発するノ
イズを防止するようにした試料供給装置を提供す
ることを目的とするものである。
間での検体試料の供給が容易にでき、しかも吸引
パイプが試料容器に向つて垂下するのではなく、
試料容器が吸引パイプに向つて移動し、採取する
必要試料の量を最小にでき、さらに各部の可動部
分をすべてエア駆動にすることにより、分析結果
に影響を与えるソレノイドやリレーから発するノ
イズを防止するようにした試料供給装置を提供す
ることを目的とするものである。
上記の目的を達成するために、本考案の試料供
給装置は、図面に示すように、多数の試験管1を
一列に収納した試験管立て2を受け入れ試験管立
てホルダ3に供給するフイーダ4と、このフイー
ダ内の試験管立てを突起21同士の係合により試
験管立てホルダ内にエアシリンダにより移動させ
る第1フツク機構5と、試験管立てホルダ3に固
定されエアシリンダ6により駆動するホルダ昇降
機構7と、試験管立てホルダ3に取付け固定され
試験管立てを収納した試験管立てホルダを隣り合
う試験管の間隔ずつ次々と間欠的に空気圧により
移動させるステツプ機構8と、ホルダ昇降機構7
により上昇した試験管内の試料を順次撹拌吸引す
る試料撹拌吸引パイプ10と、試料採取の終了し
た試験管立てを突起21同士の係合によりエアシ
リンダ11で移動させる第2フツク機構12と、
第2フツク機構により移送された試験管立てを送
り出す送出し機構13とからなり、前記ステツプ
機構8は、ステツプ可動部34を貫通して設けら
れた案内用のシヤフト33の軸方向に沿つて摺動
するステツプ可動部34に内部にシリンダおよび
ピストン36を備えたステツプ本体35が固定さ
れ、このステツプ本体にピストン36のピストン
軸42を介して伸縮部37が連結され、ステツプ
本体にステツプ本体内のシリンダに孔が連通し孔
内のピストン38を介して孔下部に球40を有す
る空気圧導入孔41が設けられるとともに、該シ
リンダの伸縮部設置側とは反対側の空間に該孔4
1が連通され、伸縮部37にピストン36のピス
トン軸42内を通つてステツプ本体内のシリンダ
に連通し孔内のピストン43を介して孔下部に球
44を有する空気圧導入孔45が設けられるとと
もに、該シリンダの伸縮部設置側の空間に該孔4
5が連通され、ステツプ本体35と伸縮部37と
の下側に近接して多数の位置決め穴46を有する
基板47が配置され、空気圧導入孔41,45に
交互に空気圧を導入し球40,44を位置決め穴
46に押し付け伸縮を繰り返してステツプ本体3
5を間欠移動させるように構成され、ステツプ本
体35に固定されたステツプ可動部34、このス
テツプ可動部に固定された試験管立てホルダ3を
介して、試験管立てホルダ内の試験管立て2を間
欠移動させるようにしてなるようにしたものであ
る。
給装置は、図面に示すように、多数の試験管1を
一列に収納した試験管立て2を受け入れ試験管立
てホルダ3に供給するフイーダ4と、このフイー
ダ内の試験管立てを突起21同士の係合により試
験管立てホルダ内にエアシリンダにより移動させ
る第1フツク機構5と、試験管立てホルダ3に固
定されエアシリンダ6により駆動するホルダ昇降
機構7と、試験管立てホルダ3に取付け固定され
試験管立てを収納した試験管立てホルダを隣り合
う試験管の間隔ずつ次々と間欠的に空気圧により
移動させるステツプ機構8と、ホルダ昇降機構7
により上昇した試験管内の試料を順次撹拌吸引す
る試料撹拌吸引パイプ10と、試料採取の終了し
た試験管立てを突起21同士の係合によりエアシ
リンダ11で移動させる第2フツク機構12と、
第2フツク機構により移送された試験管立てを送
り出す送出し機構13とからなり、前記ステツプ
機構8は、ステツプ可動部34を貫通して設けら
れた案内用のシヤフト33の軸方向に沿つて摺動
するステツプ可動部34に内部にシリンダおよび
ピストン36を備えたステツプ本体35が固定さ
れ、このステツプ本体にピストン36のピストン
軸42を介して伸縮部37が連結され、ステツプ
本体にステツプ本体内のシリンダに孔が連通し孔
内のピストン38を介して孔下部に球40を有す
る空気圧導入孔41が設けられるとともに、該シ
リンダの伸縮部設置側とは反対側の空間に該孔4
1が連通され、伸縮部37にピストン36のピス
トン軸42内を通つてステツプ本体内のシリンダ
に連通し孔内のピストン43を介して孔下部に球
44を有する空気圧導入孔45が設けられるとと
もに、該シリンダの伸縮部設置側の空間に該孔4
5が連通され、ステツプ本体35と伸縮部37と
の下側に近接して多数の位置決め穴46を有する
基板47が配置され、空気圧導入孔41,45に
交互に空気圧を導入し球40,44を位置決め穴
46に押し付け伸縮を繰り返してステツプ本体3
5を間欠移動させるように構成され、ステツプ本
体35に固定されたステツプ可動部34、このス
テツプ可動部に固定された試験管立てホルダ3を
介して、試験管立てホルダ内の試験管立て2を間
欠移動させるようにしてなるようにしたものであ
る。
ベルトによつて搬送されてきた試験管立て2
は、フイーダ4に試験管立て2があるときは、ス
トツパ54によつて進入が阻止され、ベルト上を
スリツプする、ストツパ54が下がると、試験管
立てはベルトの力によつてフイーダ4に送り込ま
れ、ストツパ55の停止位置まで進入する。前回
の試験管立てについての測定が終ると、エアシリ
ンダ51によつて試験管立てホルダ3が左端に移
動する。一方、第1フツク機構5の爪23を含む
移動部材26が左端に移動し待機している。スト
ツパ55が下がり試験管立てがローラ上を滑走し
出すと同時に、第1フツク機構5が動作を開始
し、試験管立ての突起21を爪23が引掛けて、
試験管立てをホルダ3の所定位置まで移動させ、
第1フツク機構5は始めの位置まで戻りつぎの動
作まで待機する。
は、フイーダ4に試験管立て2があるときは、ス
トツパ54によつて進入が阻止され、ベルト上を
スリツプする、ストツパ54が下がると、試験管
立てはベルトの力によつてフイーダ4に送り込ま
れ、ストツパ55の停止位置まで進入する。前回
の試験管立てについての測定が終ると、エアシリ
ンダ51によつて試験管立てホルダ3が左端に移
動する。一方、第1フツク機構5の爪23を含む
移動部材26が左端に移動し待機している。スト
ツパ55が下がり試験管立てがローラ上を滑走し
出すと同時に、第1フツク機構5が動作を開始
し、試験管立ての突起21を爪23が引掛けて、
試験管立てをホルダ3の所定位置まで移動させ、
第1フツク機構5は始めの位置まで戻りつぎの動
作まで待機する。
つぎの試験管立てがフイーダ4に進入してくる
と同時に、以下の動作が行われる。まず窓20を
介して試験管などに収納された試料が確認される
と、エアシリンダ6がホルダ3を押し上げ、吸引
パイプ10で試料が撹拌され、所定量の試料の吸
引が行われる。ついでホルダ3が下降し、ワンス
テツプずつの移動が行われる。試料がないとき
や、試験管などの容器があつても試料の量が少な
すぎるときは、上下動作は行われず、さらにワン
ステツプ移動する。1つの試験管立てについての
測定が終ると、待機していた第2フツク機構12
が動作を開始し、送出し機構のベルト68に試験
管立てを送り出す。ベルト68は第2フツク機構
12の2倍の速度でつぎのベルト17上に試験管
立てを押し出す。ついで再びリセツト用のエアシ
リンダ51が作動し、ステツプ機構を始めの位置
まで押し戻し、つぎの試験管立てが供給される。
と同時に、以下の動作が行われる。まず窓20を
介して試験管などに収納された試料が確認される
と、エアシリンダ6がホルダ3を押し上げ、吸引
パイプ10で試料が撹拌され、所定量の試料の吸
引が行われる。ついでホルダ3が下降し、ワンス
テツプずつの移動が行われる。試料がないとき
や、試験管などの容器があつても試料の量が少な
すぎるときは、上下動作は行われず、さらにワン
ステツプ移動する。1つの試験管立てについての
測定が終ると、待機していた第2フツク機構12
が動作を開始し、送出し機構のベルト68に試験
管立てを送り出す。ベルト68は第2フツク機構
12の2倍の速度でつぎのベルト17上に試験管
立てを押し出す。ついで再びリセツト用のエアシ
リンダ51が作動し、ステツプ機構を始めの位置
まで押し戻し、つぎの試験管立てが供給される。
以上の動作を繰り返すことにより、次々と連続
的に分析測定が行われる。一方、ベルト17を介
しつぎの分析装置へと試料が送り込まれて、別の
分析が行われる。
的に分析測定が行われる。一方、ベルト17を介
しつぎの分析装置へと試料が送り込まれて、別の
分析が行われる。
以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明す
る。第1図に示すように、本例の試料供給装置
は、多数の試験管1を一列に収納した試験管立て
2を受け入れ試験管立てホルダ3に供給するフイ
ーダ4と、このフイーダ4内の試験管立て2を、
突起21同士の係合により試験管立てホルダ3内
にエアシリンダ(図示せず)により移動させる第
1フツク機構5と、試験管立てホルダ3に固定さ
れエアシリンダ6により駆動するホルダ昇降機構
7と、試験管立てホルダ3に取付け固定され試験
管立てを収納した試験管立てホルダ3を隣り合う
試験管の間隔ずつ次々と間欠的に空気圧により移
動させるステツプ機構8と、ホルダ昇降機構7に
より上昇した試験管1内の試料を順次撹拌吸引す
る試料撹拌吸引パイプ10と、試料採取の終了し
た試験管立て2を突起21同士の係合によりエア
シリンダ11で移動させる第2フツク機構12
と、第2フツク機構12により移送された試験管
立て2を送り出す送出し機構13とからなつてい
る。なお14は自動分析装置本体、15は吸引パ
イプの回動撹拌装置、16,17は試験管立てホ
ルダ移送用のベルトである。なお第1図において
は、ホルダ昇降機構7の上下死点における試験管
立てホルダ3および試験管立て2を同一図面上に
表わしている。
る。第1図に示すように、本例の試料供給装置
は、多数の試験管1を一列に収納した試験管立て
2を受け入れ試験管立てホルダ3に供給するフイ
ーダ4と、このフイーダ4内の試験管立て2を、
突起21同士の係合により試験管立てホルダ3内
にエアシリンダ(図示せず)により移動させる第
1フツク機構5と、試験管立てホルダ3に固定さ
れエアシリンダ6により駆動するホルダ昇降機構
7と、試験管立てホルダ3に取付け固定され試験
管立てを収納した試験管立てホルダ3を隣り合う
試験管の間隔ずつ次々と間欠的に空気圧により移
動させるステツプ機構8と、ホルダ昇降機構7に
より上昇した試験管1内の試料を順次撹拌吸引す
る試料撹拌吸引パイプ10と、試料採取の終了し
た試験管立て2を突起21同士の係合によりエア
シリンダ11で移動させる第2フツク機構12
と、第2フツク機構12により移送された試験管
立て2を送り出す送出し機構13とからなつてい
る。なお14は自動分析装置本体、15は吸引パ
イプの回動撹拌装置、16,17は試験管立てホ
ルダ移送用のベルトである。なお第1図において
は、ホルダ昇降機構7の上下死点における試験管
立てホルダ3および試験管立て2を同一図面上に
表わしている。
第2図〜第4図は試験管立て2を示している。
18は試験管収納穴、20は検体の有無を光学的
に確認するための窓、21はフツク機構5,12
の爪に当接して係合する突起、22は位置決め用
の凹部である。
18は試験管収納穴、20は検体の有無を光学的
に確認するための窓、21はフツク機構5,12
の爪に当接して係合する突起、22は位置決め用
の凹部である。
第5図はフツク機構5,12を示しており、爪
(突起)23が送り溝24,25に沿つて移動す
るようにしている。爪23を含む移動部材26は
支柱27によつてエアシリンダに固定されてい
る。爪23に固定されたピン28は、フツク機構
の左端に設けられたガイド30によつて矢印A方
向の逆方向へ押し戻されるようになつている。通
常はばねによつて矢印A方向へ押し出されてい
る。したがつて爪23を左端に移動させ、試験管
立て2を供給し、支柱27を左から右に移動させ
ると、爪23が向側(矢印A方向)へ押し出さ
れ、試験管立て2の突起21に当接して試験管立
て2を左から右へ移動させる。支柱27は第1フ
ツク機構5においては独立したエアシリンダ(図
示せず)に、一方、第2フツク機構12において
は送出し機構13のエアシリンダ11に接続され
ている。
(突起)23が送り溝24,25に沿つて移動す
るようにしている。爪23を含む移動部材26は
支柱27によつてエアシリンダに固定されてい
る。爪23に固定されたピン28は、フツク機構
の左端に設けられたガイド30によつて矢印A方
向の逆方向へ押し戻されるようになつている。通
常はばねによつて矢印A方向へ押し出されてい
る。したがつて爪23を左端に移動させ、試験管
立て2を供給し、支柱27を左から右に移動させ
ると、爪23が向側(矢印A方向)へ押し出さ
れ、試験管立て2の突起21に当接して試験管立
て2を左から右へ移動させる。支柱27は第1フ
ツク機構5においては独立したエアシリンダ(図
示せず)に、一方、第2フツク機構12において
は送出し機構13のエアシリンダ11に接続され
ている。
第6図は本考案の要部であるステツプ機構8と
ホルダ昇降機構7との分解構成を示している。ホ
ルダ昇降機構7には、試験管立てホルダ3を昇降
させるためのエアシリンダ6、ホルダ3の回動を
防止するためのシヤフト31、ホルダ3を押し上
げるピストンシヤフト32が設けられている。一
方、ステツプ機構8は、ステツプ可動部34を貫
通して設けられた案内用の2本のシヤフト33の
軸方向に沿つて摺動するステツプ可動部34に、
第7図〜第10図に示すように、内部にシリンダ
およびピストン36を備えたステツプ本体35が
固定され、このステツプ本体35にピストン36
のピストン軸42を介して伸縮部37が連結さ
れ、ステツプ本体35にステツプ本体内のシリン
ダに孔が連通し孔内のピストン38を介して孔下
部に球40を有する空気圧導入孔41が設けられ
るとともに、該シリンダの伸縮部設置側とは反対
側の空間に該孔41が連通され、伸縮部37にピ
ストン36のピストン軸42内を通つてステツプ
本体内のシリンダに連通し孔内のピストン43を
介して孔下部に球44を有する空気圧導入孔45
が設けられるとともに、該シリンダの伸縮部設置
側の空間に該孔45が連通され、ステツプ本体3
5と伸縮部37との下側に近接して多数の位置決
め穴46を有する基板47が配置され、空気圧導
入孔41,45に交互に空気圧を導入し球40,
44を位置決め穴46に押し付け伸縮を繰り返し
てステツプ本体35を間欠移動させるように構成
され、ステツプ本体35に固定されたステツプ可
動部34、このステツプ可動部に固定された試験
管立てホルダ3を介して、試験管立てホルダ内の
試験管立て2を間欠移動させるようにしている。
なお48はスライドベアリング、50はスライダ
である。
ホルダ昇降機構7との分解構成を示している。ホ
ルダ昇降機構7には、試験管立てホルダ3を昇降
させるためのエアシリンダ6、ホルダ3の回動を
防止するためのシヤフト31、ホルダ3を押し上
げるピストンシヤフト32が設けられている。一
方、ステツプ機構8は、ステツプ可動部34を貫
通して設けられた案内用の2本のシヤフト33の
軸方向に沿つて摺動するステツプ可動部34に、
第7図〜第10図に示すように、内部にシリンダ
およびピストン36を備えたステツプ本体35が
固定され、このステツプ本体35にピストン36
のピストン軸42を介して伸縮部37が連結さ
れ、ステツプ本体35にステツプ本体内のシリン
ダに孔が連通し孔内のピストン38を介して孔下
部に球40を有する空気圧導入孔41が設けられ
るとともに、該シリンダの伸縮部設置側とは反対
側の空間に該孔41が連通され、伸縮部37にピ
ストン36のピストン軸42内を通つてステツプ
本体内のシリンダに連通し孔内のピストン43を
介して孔下部に球44を有する空気圧導入孔45
が設けられるとともに、該シリンダの伸縮部設置
側の空間に該孔45が連通され、ステツプ本体3
5と伸縮部37との下側に近接して多数の位置決
め穴46を有する基板47が配置され、空気圧導
入孔41,45に交互に空気圧を導入し球40,
44を位置決め穴46に押し付け伸縮を繰り返し
てステツプ本体35を間欠移動させるように構成
され、ステツプ本体35に固定されたステツプ可
動部34、このステツプ可動部に固定された試験
管立てホルダ3を介して、試験管立てホルダ内の
試験管立て2を間欠移動させるようにしている。
なお48はスライドベアリング、50はスライダ
である。
つぎにステツプ機構8の動作について説明す
る。第8図の状態から加圧空気をステツプ本体3
5の孔41に送り込むと、第9図に示すようにピ
ストン38により球40が位置決め穴46内に押
し付けられるとともに、ピストン36が右側に動
くため伸縮部37が右方向へ移動する。続いて伸
縮部37の孔45に加圧空気を切り換えて導入す
ると、ピストン43により球44が位置決め穴4
6内に押し付けられ、かつ加圧空気がピストン軸
42内を通つて第10図に示すように、ピストン
36が左方に位置するようにステツプ本体35を
移動させる。以上の動作を繰り返してステツプ本
体35を間欠的に移動させる。ステツプ本体35
はステツプ可動部34に固定され、ステツプ可動
部34はホルダ3に固定されているので、ホルダ
3を左から右へワンステツプずつ移動させる。な
おエアシリンダ51は、ステツプ可動部を一挙に
左方向に移動させるリセツト用のものである。こ
のとき球40,44には押し付ける力か働かな
い。また第6図に示すように、光源52、受光部
53が分析装置本体に固定されていて、試験管立
て2の窓20を介して試料の有無を確認できるよ
うになつている。
る。第8図の状態から加圧空気をステツプ本体3
5の孔41に送り込むと、第9図に示すようにピ
ストン38により球40が位置決め穴46内に押
し付けられるとともに、ピストン36が右側に動
くため伸縮部37が右方向へ移動する。続いて伸
縮部37の孔45に加圧空気を切り換えて導入す
ると、ピストン43により球44が位置決め穴4
6内に押し付けられ、かつ加圧空気がピストン軸
42内を通つて第10図に示すように、ピストン
36が左方に位置するようにステツプ本体35を
移動させる。以上の動作を繰り返してステツプ本
体35を間欠的に移動させる。ステツプ本体35
はステツプ可動部34に固定され、ステツプ可動
部34はホルダ3に固定されているので、ホルダ
3を左から右へワンステツプずつ移動させる。な
おエアシリンダ51は、ステツプ可動部を一挙に
左方向に移動させるリセツト用のものである。こ
のとき球40,44には押し付ける力か働かな
い。また第6図に示すように、光源52、受光部
53が分析装置本体に固定されていて、試験管立
て2の窓20を介して試料の有無を確認できるよ
うになつている。
第11図および第12図は試験管立て2のフイ
ーダ4を示している。フイーダ4には小型のエア
シリンダからなる2本のストツパ54,55が備
えられており、光源56,受光部57により試験
管立て2の有無を検知して、ストツパ54を動か
すように構成されている。さらに多数のローラ5
8が、水平線に対し斜めに設けられており、ベル
ト16(第1図参照)から送られてきた試験管立
てをストツパ55に当接する位置まで移動させ
る。この位置でストツパ54が作動し、つぎの試
験管立てが進入するのを防止する。なおフイーダ
4は後述のスリツピングベルトによる送出し機構
と同じものでもよく、また送出し機構を上述の多
数のローラで構成してもよい。またフイーダ4の
手前の側板に設けられた溝60は、第1フツク機
構5の爪23が入るためのものである。したがつ
て第1フツク機構5は、フイーダ4の手前の側板
のさらに手前に位置するように固定される。
ーダ4を示している。フイーダ4には小型のエア
シリンダからなる2本のストツパ54,55が備
えられており、光源56,受光部57により試験
管立て2の有無を検知して、ストツパ54を動か
すように構成されている。さらに多数のローラ5
8が、水平線に対し斜めに設けられており、ベル
ト16(第1図参照)から送られてきた試験管立
てをストツパ55に当接する位置まで移動させ
る。この位置でストツパ54が作動し、つぎの試
験管立てが進入するのを防止する。なおフイーダ
4は後述のスリツピングベルトによる送出し機構
と同じものでもよく、また送出し機構を上述の多
数のローラで構成してもよい。またフイーダ4の
手前の側板に設けられた溝60は、第1フツク機
構5の爪23が入るためのものである。したがつ
て第1フツク機構5は、フイーダ4の手前の側板
のさらに手前に位置するように固定される。
第13図は送出し機構13を示している。表面
をテトラフルオルエチレンとヘキサフルオルプロ
ピレンとの共重合物であるテフロン(ダウケミカ
ル社登録商標)で処理したベルトを第13図に示
すように折り曲げ、固定ローラ61,62と、両
端部63,64を分析装置本体に固定し、中央の
移動ローラ65,66をエアシリンダ11のシヤ
フト67に連動させるようにすることにより、ベ
ルト68がシヤフト67の移動距離および速度の
2倍の距離および速度で動くように構成してい
る。シヤフト67に固定された支柱70は、第2
フツク機構12の送り爪23を含む移動部材26
に固定されており、始めに第2フツク機構12に
よつて移動開始された試験管立ては、ベルトの動
きに合わせてはずみをつけて送り出される。この
送出し機構は、スリツピングベルトをエアシリン
ダの2倍の距離動かすことが可能であり、スペー
スを有効に使うことができる。すなわちエアシリ
ンダのストロークは大きく取るほど装置が大がか
りとなるが、上記ベルトの駆動方式によれば、2
倍のストロークが取れるために、狭いスペースを
有効に用いることができる。またベルトは表面を
テフロン(ダウケミカル社登録商標)処理してい
るので、前回の試験管立てがあつたり、事故の際
には、スリツプすることにより移動を防止するこ
とができる。
をテトラフルオルエチレンとヘキサフルオルプロ
ピレンとの共重合物であるテフロン(ダウケミカ
ル社登録商標)で処理したベルトを第13図に示
すように折り曲げ、固定ローラ61,62と、両
端部63,64を分析装置本体に固定し、中央の
移動ローラ65,66をエアシリンダ11のシヤ
フト67に連動させるようにすることにより、ベ
ルト68がシヤフト67の移動距離および速度の
2倍の距離および速度で動くように構成してい
る。シヤフト67に固定された支柱70は、第2
フツク機構12の送り爪23を含む移動部材26
に固定されており、始めに第2フツク機構12に
よつて移動開始された試験管立ては、ベルトの動
きに合わせてはずみをつけて送り出される。この
送出し機構は、スリツピングベルトをエアシリン
ダの2倍の距離動かすことが可能であり、スペー
スを有効に使うことができる。すなわちエアシリ
ンダのストロークは大きく取るほど装置が大がか
りとなるが、上記ベルトの駆動方式によれば、2
倍のストロークが取れるために、狭いスペースを
有効に用いることができる。またベルトは表面を
テフロン(ダウケミカル社登録商標)処理してい
るので、前回の試験管立てがあつたり、事故の際
には、スリツプすることにより移動を防止するこ
とができる。
また第14図に示すように、試験管立てホルダ
3には試験管立て2の凹部22に当接するローラ
71と、試験管立て滑走用のローラ42が設けら
れている。したがつてフイーダから第1フツク機
構5によつて移動させられた試験管立て2は、ロ
ーラ71と凹部22とが当接嵌合する位置で停止
し位置決めがなされる。
3には試験管立て2の凹部22に当接するローラ
71と、試験管立て滑走用のローラ42が設けら
れている。したがつてフイーダから第1フツク機
構5によつて移動させられた試験管立て2は、ロ
ーラ71と凹部22とが当接嵌合する位置で停止
し位置決めがなされる。
上記のように構成された本考案の試料供給装置
において、まずベルト16によつて搬送されてき
た試験管立て2は、フイーダ4に試験管立て2が
あるときは、ストツパ54によつて進入が阻止さ
れ、ベルト上をスリツプする、ストツパ54が下
がると、試験管立てはベルト16の力によつてフ
イーダ4に送り込まれ、ストツパ55の停止位置
まで進入する。前回の試験管立てについての測定
が終ると、エアシリンダ51によつて試験管立て
ホルダ3が左端に移動する。一方、第1フツク機
構5の爪23を含む移動部材26が左端に移動し
待機している。ストツパ55が下がり試験管立て
がローラ上を滑走し出すと同時に、第1フツク機
構5が動作を開始し、試験管立ての突起21を爪
23が引掛けて、試験管立てをホルダ3の所定位
置まで移動させ、第1フツク機構5は始めの位置
まで戻りつぎの動作まで待機する。
において、まずベルト16によつて搬送されてき
た試験管立て2は、フイーダ4に試験管立て2が
あるときは、ストツパ54によつて進入が阻止さ
れ、ベルト上をスリツプする、ストツパ54が下
がると、試験管立てはベルト16の力によつてフ
イーダ4に送り込まれ、ストツパ55の停止位置
まで進入する。前回の試験管立てについての測定
が終ると、エアシリンダ51によつて試験管立て
ホルダ3が左端に移動する。一方、第1フツク機
構5の爪23を含む移動部材26が左端に移動し
待機している。ストツパ55が下がり試験管立て
がローラ上を滑走し出すと同時に、第1フツク機
構5が動作を開始し、試験管立ての突起21を爪
23が引掛けて、試験管立てをホルダ3の所定位
置まで移動させ、第1フツク機構5は始めの位置
まで戻りつぎの動作まで待機する。
つぎの試験管立てがフイーダ4に進入してくる
と同時に、以下の動作が行われる。まず窓20を
介して試験管などに収納された試料が確認される
と、エアシリンダ6がホルダ3を押し上げ、吸引
パイプ10で試料が撹拌され、所定量の試料の吸
引が行われる。ついでホルダ3が下降し、第8図
〜第10図に示すようにワンステツプずつの移動
が行われる。試料がないときや、試験管などの容
器があつても試料の量が少なすぎるときは、上下
動作は行われず、さらりワンステツプ移動する。
1つの試験管立てについての測定が終ると、待機
していた第2フツク機構12が動作を開始し、送
出し機構のベルト68に試験管立てを送り出す。
ベルト68は第2フツク機構12の2倍の速度で
つぎのベルト17上に試験管立てを押し出す。つ
いで再びリセツト用のエアシリンダ51が作動
し、ステツプ機構を始めの位置まで押し戻し、つ
ぎの試験管立てが供給される。
と同時に、以下の動作が行われる。まず窓20を
介して試験管などに収納された試料が確認される
と、エアシリンダ6がホルダ3を押し上げ、吸引
パイプ10で試料が撹拌され、所定量の試料の吸
引が行われる。ついでホルダ3が下降し、第8図
〜第10図に示すようにワンステツプずつの移動
が行われる。試料がないときや、試験管などの容
器があつても試料の量が少なすぎるときは、上下
動作は行われず、さらりワンステツプ移動する。
1つの試験管立てについての測定が終ると、待機
していた第2フツク機構12が動作を開始し、送
出し機構のベルト68に試験管立てを送り出す。
ベルト68は第2フツク機構12の2倍の速度で
つぎのベルト17上に試験管立てを押し出す。つ
いで再びリセツト用のエアシリンダ51が作動
し、ステツプ機構を始めの位置まで押し戻し、つ
ぎの試験管立てが供給される。
以上の動作を繰り返すことにより、次々と連続
的に分析測定が行われる。一方、ベルト17を介
しつぎの分析装置へと試料が送り込まれて別の分
析が行われる。
的に分析測定が行われる。一方、ベルト17を介
しつぎの分析装置へと試料が送り込まれて別の分
析が行われる。
以上説明したように、本考案の装置において
は、ソレノイドやモータなどを用いずにすべてエ
ア駆動であり、このため電気ノイズなどの発生が
防止され、正確な測定が行えるという効果があ
る。またステツプ機構は、空気源からの空気流の
交互切換によりステツプ移動をさせるものであ
り、正確にワンステツプずつの移動が行え、無理
な力が誤つてかかつても、弾力があるために事故
などが防止できるという効果を奏する。
は、ソレノイドやモータなどを用いずにすべてエ
ア駆動であり、このため電気ノイズなどの発生が
防止され、正確な測定が行えるという効果があ
る。またステツプ機構は、空気源からの空気流の
交互切換によりステツプ移動をさせるものであ
り、正確にワンステツプずつの移動が行え、無理
な力が誤つてかかつても、弾力があるために事故
などが防止できるという効果を奏する。
第1図は本考案の試料供給装置の一実施例を示
す斜視図、第2図は試験管立ての一例を示す平面
図、第3図は同正面図、第4図は同右側面図、第
5図はフツク機構の一例を示す斜視図、第6図は
本考案の要部であるステツプ機構とホルダ昇降機
構との分解斜視図、第7図はステツプ機構の一例
を示す平面説明図、第8図〜第10図はステツプ
機構の作動状態を示す説明図、第11図はフイー
ダの一例を示す斜視図、第12図はフイーダの側
板の一方の取り外した状態を示す斜視図、第13
図は送出し機構の一例を示す説明図、第14図は
試験管立てホルダと試験管立ての説明図である。 1……試験管、2……試験管立て、3……試験
管立てホルダ、4……フイーダ、5……第1フツ
ク機構、6……エアシリンダ、7……ホルダ昇降
機構、8……ステツプ機構、10……試料撹拌吸
引パイプ、11……エアシリンダ、12……第2
フツク機構、13……送出し機構、14……自動
分析装置本体、15……回動撹拌装置、16,1
7……ベルト、18……試験管収納穴、20……
窓、21……突起、22……凹部、23……爪、
24,25……送り溝、26……移動部材、27
……支柱、28……ピン、30……ガイド、31
……シヤフト、32……ピストンシヤフト、33
……シヤフト、34……ステツプ可動部、35…
…ステツプ本体、36……ピストン、37……伸
縮部、38……ピストン、40……球、41……
空気圧導入孔、42……ピストン軸、43……ピ
ストン、44……球、45……空気圧導入孔、4
6……位置決め穴、47……基板、48……スラ
イドベアリング、50……スライダ、51……エ
アシリンダ、52……光源、53……受光部、5
4,55……ストツパ、56……光源、57……
受光部、58……ローラ、60……溝、61,6
2……固定ローラ、63,64……両端部、6
5,66……移動ローラ、67……シヤフト、6
8……ベルト、70……支柱、71,72……ロ
ーラ。
す斜視図、第2図は試験管立ての一例を示す平面
図、第3図は同正面図、第4図は同右側面図、第
5図はフツク機構の一例を示す斜視図、第6図は
本考案の要部であるステツプ機構とホルダ昇降機
構との分解斜視図、第7図はステツプ機構の一例
を示す平面説明図、第8図〜第10図はステツプ
機構の作動状態を示す説明図、第11図はフイー
ダの一例を示す斜視図、第12図はフイーダの側
板の一方の取り外した状態を示す斜視図、第13
図は送出し機構の一例を示す説明図、第14図は
試験管立てホルダと試験管立ての説明図である。 1……試験管、2……試験管立て、3……試験
管立てホルダ、4……フイーダ、5……第1フツ
ク機構、6……エアシリンダ、7……ホルダ昇降
機構、8……ステツプ機構、10……試料撹拌吸
引パイプ、11……エアシリンダ、12……第2
フツク機構、13……送出し機構、14……自動
分析装置本体、15……回動撹拌装置、16,1
7……ベルト、18……試験管収納穴、20……
窓、21……突起、22……凹部、23……爪、
24,25……送り溝、26……移動部材、27
……支柱、28……ピン、30……ガイド、31
……シヤフト、32……ピストンシヤフト、33
……シヤフト、34……ステツプ可動部、35…
…ステツプ本体、36……ピストン、37……伸
縮部、38……ピストン、40……球、41……
空気圧導入孔、42……ピストン軸、43……ピ
ストン、44……球、45……空気圧導入孔、4
6……位置決め穴、47……基板、48……スラ
イドベアリング、50……スライダ、51……エ
アシリンダ、52……光源、53……受光部、5
4,55……ストツパ、56……光源、57……
受光部、58……ローラ、60……溝、61,6
2……固定ローラ、63,64……両端部、6
5,66……移動ローラ、67……シヤフト、6
8……ベルト、70……支柱、71,72……ロ
ーラ。
Claims (1)
- 多数の試験管1を一列に収納した試験管立て2
を受け入れ試験管立てホルダ3に供給するフイー
ダ4と、このフイーダ内の試験管立てを突起21
同士の係合により試験管立てホルダ内にエアシリ
ンダにより移動させる第1フツク機構5と、試験
管立てホルダ3に固定されエアシリンダ6により
駆動するホルダ昇降機構7と、試験管立てホルダ
3に取付け固定され試験管立てを収納した試験管
立てホルダを隣り合う試験管の間隔ずつ次々と間
欠的に空気圧により移動させるステツプ機構8
と、ホルダ昇降機構7により上昇した試験管内の
試料を順次撹拌吸引する試料撹拌吸引パイプ10
と、試料採取の終了した試験管立てを突起21同
士の係合によりエアシリンダ11で移動させる第
2フツク機構12と、第2フツク機構により移送
された試験管立てを送り出す送出し機構13とか
らなり、前記ステツプ機構8は、ステツプ可動部
34を貫通して設けられた案内用のシヤフト33
の軸方向に沿つて摺動するステツプ可動部34に
内部にシリンダおよびピストン36を備えたステ
ツプ本体35が固定され、このステツプ本体にピ
ストン36のピストン軸42を介して伸縮部37
が連結され、ステツプ本体にステツプ本体内のシ
リンダに孔が連通し孔内のピストン38を介して
孔下部に球40を有する空気圧導入孔41が設け
られるとともに、該シリンダの伸縮部設置側とは
反対側の空間に該孔41が連通され、伸縮部37
にピストン36のピストン軸42内を通つてステ
ツプ本体内のシリンダに連通し孔内のピストン4
3を介して孔下部に球44を有する空気圧導入孔
45が設けられるとともに、該シリンダの伸縮部
設置側の空間に該孔45が連通され、ステツプ本
体35と伸縮部37との下側に近接して多数の位
置決め穴46を有する基板47が配置され、空気
圧導入孔41,45に交互に空気圧を導入し球4
0,44を位置決め穴46に押し付け伸縮を繰り
返してステツプ本体35を間欠移動させるように
構成され、ステツプ本体35に固定されたステツ
プ可動部34、このステツプ可動部に固定された
試験管立てホルダ3を介して、試験管立てホルダ
内の試験管立て2を間欠移動させるようにしてな
ることを特徴とする試料供給装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19584681U JPS5897556U (ja) | 1981-12-24 | 1981-12-24 | 試料供給装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19584681U JPS5897556U (ja) | 1981-12-24 | 1981-12-24 | 試料供給装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5897556U JPS5897556U (ja) | 1983-07-02 |
| JPH026367Y2 true JPH026367Y2 (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=30109108
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19584681U Granted JPS5897556U (ja) | 1981-12-24 | 1981-12-24 | 試料供給装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5897556U (ja) |
-
1981
- 1981-12-24 JP JP19584681U patent/JPS5897556U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5897556U (ja) | 1983-07-02 |
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