JPH026372Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の技術分野〕 本考案は、印刷回路等の電子回路の良否を判別
するための回路検査針に関するものである。

〔考案の技術的背景〕

従来使用されている回路検査針は、第１図に示
すように、導電性の外管１の端部に端子２を固定
するとともに、外管１の内部に上記端子２に対し
圧縮コイルバネ３を介して対向する接触針４の本
体部５を軸方向に進退可能に嵌合したものであつ
て、外管１の内径と接触針４の本体部５の外径と
の間には接触針４の本体部５が軸方向に摺動する
ためわずかな隙間を有している。そして印刷回路
等の電子回路の良否を判別するための上記回路検
査針は、十数個ないし数万個が合成樹脂等絶縁性
の板に回路と同じパターンに配列固定され、この
板を回路盤に押しつけることにより個々の接触針
４が各回路の検査点に圧着されて回路を流れる検
査電流を取出す。この取出された電流は、バネ３
および外管１と接触針４とが接触した点または面
を通つて端子２に到り、回路検査に必要な電流を
供給するものである。

この従来の回路検査針では、バネ３の座屈等に
よる偏荷重によつて接触針４の側面が外管１の内
壁に圧着されてその部分が電流の回路を形成する
のであるが、くりかえしの使用に当つては、その
都度接触位置、姿勢が変化し、外管１の内壁と接
触針４の外側面との接触抵抗が変化するため、均
一な検査結果を得ることが精度においてむづかし
い問題点がある。またくりかえし使用回数の増加
とともに外管１の内壁と接触針４の外側面との間
の摩擦による摩耗によつて接触抵抗が変化すると
ともに、摩耗によつて発生する摩耗粉等の障害を
うけ検査の信頼性を損なうおそれがある。

これに対し、実開昭53−96871号公報に示され
ているように、案内具の内部に可動子が軸方向摺
動自在に嵌合され、この可動子の一端に案内具に
内蔵された軸方向スプリングが当接され、反対端
に接触子が一体に設けられ、さらに、可動子の軸
方向と交差する方向に有底の横穴が設けられ、こ
の横穴に小スプリングを介して片側にボールが嵌
合された検針装置がある。この構造は、小スプリ
ングによつて可動子を軸方向と交差する方向へ押
圧することにより、可動子を案内具に十分に接触
させ、電気抵抗を安定させることを目的としてい
る。

〔背景技術の問題点〕

しかし、上記公報に記載された検針装置も、次
に述べるように第１図の従来例と同様の問題点を
有している。

すなわち、この種の試験装置では、接触子を被
試験物へ押付ける力が軸方向スプリングで設計さ
れた所定の軸方向力となることが重要であるが、
小スプリングの反力によつて可動子の径大部の片
側（ボールとは反対側）と案内具との間に接触抵
抗力（一定ではない）が働くため、前記設計され
た軸方向力が損われ、均一な検査結果を得ること
が困難となり、検査、試験の信頼性が低くなる。

また、可動子の径大部と案内具とが摺接する部
分は、小スプリングの押付け作用による偏摩耗を
受けるために、摩耗粉が発生しやすく、使用回数
の寿命が比較的短い。また、繰返し摩擦により摩
耗粉が発生すると、この摩耗粉が接触子とリード
線との間で電流ロスを発生する要因となり、検
査、試験の信頼性を損い、やがて絶縁状態にな
り、使用不能となるおそれすらある。

〔考案の目的〕

本考案は、回路検査針内の接触抵抗の変化をな
くし、安定した検査電流を取出し、正確な測定が
できるようにすることを目的とする。

〔考案の構成〕

（問題点を解決するための手段） 本考案は、外管１１の端部に端子１２を固定
し、外管１１の内部に上記端子１２に対しバネ１
６を介して対向する接触針１７の本体部１８を軸
方向に進退可能に嵌合した回路検査針において、
上記接触針１７の本体部１８の上部および下部に
軸線と直角な孔２１を貫通穿設し、この上部およ
び下部の各孔２１にそれぞれバネ２３を挿入し、
この各バネ２３の両端に上記外管１１の内壁に圧
接される球２４をそれぞれ併設したものである。

（作用） 本考案は、本体部１８の上部および下部のそれ
ぞれにおいて、バネ２３の両端に位置する球２４
が常にバネ２３の圧力により外管１１の内壁に保
たれ、この内壁で円滑に転動するので、外管１１
と球２４との間に安定した接触力を得ることがで
き、安定した検査を行うことができる。また、本
体部１８の上部および下部のそれぞれにおいて、
複数の球２４が外管１１の内壁を円滑に転動し、
外管１１の内壁と接触針１７の本体部１８とが直
接接触することがないので、摩耗粉が発生しにく
い。

〔考案の実施例〕

以下、本考案を第２図以下に示す実施例を参照
して詳細に説明する。

第２図に示すように、導電金属からなる外管１
１の上端部に端子１２の基部１３を嵌合し、この
基部１３の周面に設けたＶ溝１４に上記外管１１
の上部のかしめ部１５を嵌着して端子１２を固定
する。また上記外管１１の内部に、上記端子１２
に対し圧縮コイルバネ１６を介して対向する接触
針１７の本体部１８を軸方向に進退可能に嵌合
し、外管１１の中央部に設けたかしめ部１９と接
触針１７の本体部１８に設けた径小部２０とを嵌
合し、径大部を係止する。また上記接触針１７の
本体部１８の上部と下部とにおいて第２図および
第３図に示すように一側面から他側面にわたつて
軸線と直角な孔２１を貫通穿設し、この孔２１の
両側部に円錐状の球座２２を設け、そして孔２１
の中央部に圧縮コイルバネ２３を挿入するととも
に、このバネ２３の両端に金属等の球２４を嵌合
し、この球２４を前記外管１１の内部に接触針１
７とともに組込む。この球２４は常にバネ２３の
圧力によつて外管１１の内壁に圧接されかつ転動
可能となつている。

そうして、接触針１７の先端を回路の検査点に
圧着すると、球２４が転動しながら接触針１７が
バネ１６に抗して外管１１内に後退し、そして接
触針１７より取出した電流は、外管１１および端
子１２を経て、またはバネ１６および端子１２を
経て、またはバネ２３、金属球２４、外管１１お
よび端子１２の経路で検査器本体に送られる。

なお近年、回路検査は高速を要求されかつ正確
さを要求され高周波電流による検査が実施される
が、そのためには回路検査針の固有抵抗の低下が
要求されている。この点で本考案の構造を有しな
い従来の検査針を用いた場合、初期（使い始め）
の固有抵抗は30ミリオーム程度であるが、30万回
のくりかえし使用後は最低100ミリオーム、最高
は絶縁状態となり、50万回使用ではその使用に耐
えない場合が頻発する。これに対し本考案による
ものは、初期30ミリオーム程度のものが30万回く
りかえしでも50ミリオームをこえるものがなく、
50万回くりかえして使用でもその値は殆んど変化
せず、100万回使用にてバネの破損の場合を除き
100ミリオーム以下の固有抵抗に押えることがで
きることが実験で示されている。

次に、第４図は本考案の変形例であり、バネ２
３ａおよび球２４ａを１個所に４組設けた場合を
示す。

〔考案の効果〕

本考案によれば、外管の内部に組込まれた接触
針の本体部の上部および下部に、軸線と直角な孔
を貫通穿設し、この上部および上部の各孔にそれ
ぞれバネを挿入し、この各バネの両端にそれぞれ
球を設け、この球を外管の内壁に圧接させたか
ら、接触針の本体部の上部および下部のそれぞれ
において、複数の球が外管の内壁を円滑に転動
し、外管と球との間にバネの圧力により安定した
接触力を得ることができ、接触抵抗の変化をなく
して安定した検査電流を取出すことができ、正確
な測定を行うことができる。これにより検査の信
頼性が高まる。また、本体部の上部および下部の
それぞれにおいて、複数の球が外管の内壁を円滑
に転動し、外管の内壁と接触針とが直接接触する
ことがないので、摩耗粉が発生しにくい。これに
より、繰返し使用回数の寿命が非常に長くなる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の回路検査針を示す断面図、第２
図は本考案にかかる回路検査針の一実施例を示す
断面図、第３図は第２図の−線断面図、第４
図は第３図部分の変形例を示す断面図である。 １１……外管、１２……端子、１６……バネ、
１７……接触針、１８……本体部、２１……孔、
２３……バネ、２４……球。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 外管の端部に端子を固定し、外管の内部に上記
   端子に対しバネを介して対向する接触針の本体部
   を軸方向に進退可能に嵌合した回路検査針におい
   て、上記接触針の本体部の上部および下部に軸線
   と直角な孔を貫通穿設し、この上部および下部の
   各孔にそれぞれバネを挿入し、この各バネの両端
   に上記外管の内壁に圧接される球をそれぞれ併設
   したことを特徴とする回路検査針。