JPH057580Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、回路基板検査装置の検査部に多数配
設され、被検査回路基板の検査点に当接されてこ
れらの検査点の導通検査等を行うためのコンタク
ト・プローブに関するものである。

（従来の技術） 従来のコンタクト・プローブの一例を第３図に
示す。第３図は、従来のコンタクト・プローブの
一例の縦断面図である。

第３図において、絶縁樹脂からなる取付ピンボ
ード１に数mmのピツチでマトリツクス状に多数の
透孔が穿設され、この透孔にそれぞれ金属製の筒
状のソケツト２が圧入固定されている。このソケ
ツト２は前端が開口され、中間に圧入代としての
膨大部２ａが形成され、後端部に絞り部２ｂおよ
びリード線接続部２ｃが形成されている。このソ
ケツト２の開口から挿入されるコンタクト・プロ
ーブ３は絞り部２ｂで後方への抜けが防止されて
いる。また、リード線接続部２ｃにリード線が直
接半田付けされまたはリード線が半田付けされた
端子が嵌合接続される。そして、コンタクト・プ
ローブ３は、ソケツト３内に嵌合して挿入される
金属製の筒状のチユーブ４の前端開口にプランジ
ヤー５が接触針５ａを突出させて抜け出さないよ
うに摺動自在に配設され、さらにコイルスプリン
グ６でプランジヤー５が前方に弾性付勢されて構
成されている。

上記従来のコンタクト・プローブ３の構成をよ
り詳細に説明する。プランジヤー５の後方部分は
チユーブ４の内周に摺動自在に嵌合する外径のチ
ユーブ摺接部５ｂが形成され、前方部分はこのチ
ユーブ摺接部５ｂより小径の接触針５ａが形成さ
れている。この接触針５ａの先端に60度の開きを
有するＶ溝が形成されている。なお、チユーブ４
の後端部はカシメ等によつて開口が狭められてい
る。そして、チユーブ４の開口より金属製の球体
７が挿入され、つぎにコイルスプリング６が挿入
され、さらにプランジヤー５のチユーブ摺接部５
ｂが挿入される。そして、コイルスプリング６が
圧縮された状態でチユーブ４の開口を絞つて狭
め、チユーブ４より接触針５ａが突出してプラン
ジヤー５が摺動自在に配設されてコンタクト・プ
ローブ３が構成されている。なお、プランジヤー
５の外周とチユーブ４の内周と外周およびソケツ
ト２の内周には金や銀等の良電導金属がメツキさ
れている。そして、チユーブ４の内周にチユーブ
摺接部５ｂが摺接してチユーブ４とプランジヤー
５の電気的導通がなされ、またチユーブ４のソケ
ツト２への嵌合挿入によりソケツト２の内周にチ
ユーブ４の外周が当接してソケツト２とチユーブ
４の電気的導通がなされている。

かかる構成において、プランジヤー５の接触針
５ａの先端に、被検査回路基板の検査点が当接す
ると、プランジヤー５はコイルスプリング６の弾
力に抗してチユーブ４内で後退して検査点に弾接
する。そして、検査点はプランジヤー５とチユー
ブ４およびソケツト２を順次直列に介して、ソケ
ツト２のリード線接続部２ｃに接続されたリード
線を介してテスターに電気的接続がなされる。

（考案が解決しようとする問題点） ところで、近年被検査回路基板の検査点の稠密
化に伴ない、当接ピンボード１にコンタクト・プ
ローブ３を配設するピツチは、例えば2.5mmと小
さなものとなつている。そして、取付ピンボード
１は20〜30mm程度と比較的に厚く、多数の透孔が
相互に接続しないように穿設するには、透孔の内
径は、1.7mm程度が最大限度である。そこで、こ
の1.7mmの内径の透孔に圧入固定されるソケツト
２の外径は1.7mmであり、このソケツト２の肉厚
を0.165mmとすれば挿入されるコンタクト・プロ
ーブ３のチユーブ４の外径は1.37mmにすぎない。
そして、チユーブ４の肉厚を0.185mmとすれば内
径は1.0mmにすぎない。さらに、このチユーブ４
の前端開口は絞つて狭められるので、プランジヤ
ー５の接触針５ａの外径は僅かに0.75mm程度であ
る。そして、チユーブ４内に縮設されるコイルス
プリング６は、線径0.18mmの線材をコイル外径
1.0mm以下に形成されている。

上記のごとき構造の従来のコンタクト・プロー
ブ３では、下記のごとき問題点がある。

まず、プランジヤー５が所定のストロークを備
えるためには、チユーブ４から突出する接触針５
ａが所定のストローク以上の長さを備えなければ
ならず、ストロークに応じて接触針５ａは長くな
り、0.75mmと細い外径であるために機械的強度が
弱く曲り易い。特に、電子部品が実装された被検
査回路基板の検査点に当接される際は、半田の盛
り上りや電子部品の脚部等の斜めの面に当接して
横方向の分力を受けて曲り易い。

また、プランジヤー５の支持は、チユーブ４に
挿入されたチユーブ摺接部５ｂで行われるが、摺
動するためにチユーブ４の内周との間にほんの僅
かな隙間が必要である。そして、この隙間による
チユーブ４の軸心とのずれは、チユーブ摺接部５
ｂの長さで規制されるが、接触針５ｂの先端では
ずれが拡大され、被検査回路基板の検査点からず
れ易い。

さらに、プランジヤー５とチユーブ４との電気
的導通はチユーブ摺接部５ｂで行われているが、
チユーブ４とチユーブ摺接部５ｂとの間にフラツ
クスや塵等の侵入により導通が阻害され易く信頼
性に欠けている。

本考案の目的は、上記した従来のコンタクト・
プローブの問題点を解決すべくなされたもので、
プランジヤーの機械的強度が強く、しかも電気的
導通が確実に得られるコンタクト・プローブを提
供することにある。

（問題点を解決するための手段） かかる目的を達成するために、本考案のコンタ
クト・プローブは、取付ピンボードに配設される
前端が開口された筒状のソケツトに挿入されるコ
ンタクト・プローブにおいて、プランジヤーの中
間部に前記ソケツトの内周に摺接するソケツト摺
接部を形成するとともに、このソケツト摺接部の
後方中間部に小径部を形成し、さらに後端にこの
小径部より径の大きいチユーブ摺接部を形成し、
前記ソケツトに嵌合挿入される前記ソケツトより
短いチユーブの前端開口部に前記チユーブ摺接部
を前方に抜け出さないように摺動自在に配設する
とともに、前記チユーブ内の前記チユーブ摺接部
後端と前記チユーブの後端部との間にコイルスプ
リングを縮設して構成されている。

（作用） プランジヤーの中間部にソケツトの内周に摺接
するソケツト摺接部を形成するとともに後端にチ
ユーブ摺接部を形成し、ソケツトに嵌合挿入され
るソケツトより短いチユーブの前端開口部にプラ
ンジヤーのチユーブ摺接部を前方に抜け出さない
ように摺動自在に配設するとともに、チユーブ内
に縮設されたコイルスプリングでプランジヤーを
前方に弾性付勢してコンタクト・プローブが形成
されているので、プランジヤーの前方部分をソケ
ツトの内径とすることができ、従来のこの種のコ
ンタクト・プローブのプランジヤーに比較して接
触針を太くすることができて機械的強度を大きく
することができる。また、プランジヤーのソケツ
ト摺接部からソケツトを経る経路と、プランジヤ
ーのチユーブ摺接部からチユーブとソケツトを経
る経路の２経路によつて、接触針の先端が当接す
る検査点がソケツトに電気的導通がなされるの
で、検査の信頼性が高い。さらに、プランジヤー
はソケツト摺接部とチユーブ摺接部の２ケ所で摺
接支持されるので、軸心とのずれが少なくなり、
被検査回路基板の検査点に正確に当接し得る。

（実施例の説明） 以下、本考案の実施例を第１図を参照して説明
する。第１図は、本考案のコンタクト・プローブ
の一実施例の縦断面図である。第１図において、
第３図と同一部材には同一符号を付して重複する
説明を省略する。

第１図において、コンタクト・プローブ１３の
金属製のプランジヤー１５は、中間部がソケツト
２の内周に摺接する外径のソケツト摺接部１５ｃ
が形成され、このソケツト摺接部１５ｃの前方部
分は同一外径で接触針１５ａが形成されている。
そして、この接触針１５ａの先端に60度の開きを
有するＶ溝が形成されている。また、プランジヤ
ー１５の後方中間部はソケツト摺接部１５ｃより
外径の小さい小径部１５ｄが形成され、さらに後
端に小径部１５ｄより外径の大きいチユーブ摺接
部１５ｂが形成されている。そして、ソケツト２
に嵌合挿入される金属製のチユーブ１４は、ソケ
ツト２より短く、前端開口部にプランジヤー１５
のチユーブ摺接部１５ｂがカシメにより開口を絞
つて抜け出さないように摺動自在に配設されてい
る。さらに、チユーブ１４内のチユーブ摺接部１
５ｂの後端とチユーブ１４の狭められた後端部と
の間にコイルスプリング６が縮設されてプンラン
ジヤー１５が前方に弾性付勢されている。なお、
プランジヤー１５およびチユーブ１４は適宜に良
電導金属がメツキされている。

かかる構成において、ソケツト２に挿入された
コンタクト・プローブ１３は、接触針１５ａの先
端に、被検査回路基板の検査点が当接すると、プ
ランジヤー１５はコイルスプリング６の弾力に抗
して後退して検査点に弾接される。ここで、ソケ
ツト摺接部１５ｃおよび接触針１５ａはソケツト
２の内径の1.37mmとすることができる。このた
め、第３図に示す従来のプランジヤー３の接触針
５ａの外径0.75mmに比較して外径を約1.8倍、面
積比で約3.2倍と太くすることができ、接触針１
５ａの機械的強度を格別に向上させることができ
る。また、プランジヤー１５はソケツト摺接部１
５ｃを介してソケツト２に電気的導通が得られる
とともに、チユーブ摺接部１５ｂからチユーブ１
４を介してソケツト２に電気的導通が得られ、２
経路の電気的導通により信頼性を向上することが
できる。特に、チユーブ摺接部１５ｂとチユーブ
１４の電気的導通は、ソケツト摺接部１５ｃとソ
ケツト２の摺接部分によつてフラツクスや塵等の
侵入が妨げられるので、信頼性が高い。さらに、
プランジヤー１５は、ソケツト摺接部１５ｃとチ
ユーブ摺接部１５ｂの２ケ所で摺接支持されるの
で、支持する２ケ所の距離を長くとることが容易
であり、格別に摺動摩擦抵抗が大きくならずに軸
心とのずれを少なくでき、被検査回路基板の検査
点に正確に接触針１５ａを当接し得る。

第２図は、本考案のコンタクト・プローブの他
の実施例の縦断面図である。第２図において、第
１図と同一部材には同一符号を付して重複する説
明を省略する。

第２図に示すコンタクト・プローブ１３′は、
第１図に示すコンタクト・プローブ１３とプラン
ジヤー１５′の構造が一部相違するものである。
即ち、プランジヤー１５′の中間部に形成したソ
ケツト摺接部１５ｃの軸方向中央に若干外径を小
さくした細径部１５ｅが形成されている。また、
ソケツト摺接部１５ｃの前方部分に形成された接
触針１５a′がソケツト摺接部１５ｃより小さい外
径とされている。

かかる構成によつて、ソケツト２の内周に摺接
するソケツト摺接部１５ｃの面積は小となり摺動
摩擦抵抗を小さくでき、プランジヤーの摺動をよ
り円滑にできる。また、接触針１５a′は、検査点
の大きさに応じて径が適宜に設定されている。

（考案の効果） 以上説明したように、本考案のコンタクト・プ
ローブによれば、プランジヤーの接触針を太くす
ることができて機械的強度を大とすることができ
る。また、電気的導通が確実であるとともに接触
針の先端がずれることなく検査点に正確に当接さ
せることができ、検査の信頼性が向上するという
優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案のコンタクト・プローブの一
実施例の縦断面図であり、第２図は、本考案のコ
ンタクト・プローブの他の実施例の縦断面図であ
り、第３図は、従来のコンタクト・プローブの一
例の縦断面図である。 １……取付ピンボード、２……ソケツト、３，
１３，１３′……コンタクト・プローブ、４，１
４……チユーブ、５，１５，１５′……プランジ
ヤー、６……コイルスプリング、１５ｂ……チユ
ーブ摺接部、１５ｃ……ソケツト摺接部、１５ｄ
……小径部。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 取付ピンボードに配設される前端が開口された
   筒状のソケツトに挿入されるコンタクト・プロー
   ブにおいて、プランジヤーの中間部に前記ソケツ
   トの内周に摺接するソケツト摺接部を形成すると
   ともに、このソケツト摺接部の後方中間部に小径
   部を形成し、さらに後端にこの小径部より径の大
   きいチユーブ摺接部を形成し、前記ソケツトに嵌
   合挿入され前記ソケツトより短いチユーブの前端
   開口部に前記チユーブ摺接部を前方に抜け出さな
   いように摺動自在に配設するとともに、前記チユ
   ーブ内の前記チユーブ摺接部後端と前記チユーブ
   の後端部との間にコイルスプリングを縮設して構
   成したことを特徴とするコンタクト・プローブ。