JPH0264930A - 情報記録媒体 - Google Patents
情報記録媒体Info
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- JPH0264930A JPH0264930A JP63214852A JP21485288A JPH0264930A JP H0264930 A JPH0264930 A JP H0264930A JP 63214852 A JP63214852 A JP 63214852A JP 21485288 A JP21485288 A JP 21485288A JP H0264930 A JPH0264930 A JP H0264930A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- recording
- recording medium
- information recording
- atomic
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、情報の記録及び消去が可能な情報記録媒体に
関する。
関する。
(従来の技術)
近年、高密度に情報の記録が可能な情報記録媒体として
光ディスクが注目を浴びている。光ディスクはCD
(Compact Disc )に代表される再生専用
型、電子式文書ファイル等に使用されているいわゆるW
rite 0nce型及び情報の記録及び消去が可能な
イレーザブル型に分類される。現在、再生専用型光ディ
スクとWrite 0nce型光デイスクが既に実用化
され、広く利用されている。また、イレーザブル型光デ
ィスクは、静止画や動画のファイルやコンピュータのバ
ックアップメモリ等の用途に適していることから、最近
その開発が盛んになっている。
光ディスクが注目を浴びている。光ディスクはCD
(Compact Disc )に代表される再生専用
型、電子式文書ファイル等に使用されているいわゆるW
rite 0nce型及び情報の記録及び消去が可能な
イレーザブル型に分類される。現在、再生専用型光ディ
スクとWrite 0nce型光デイスクが既に実用化
され、広く利用されている。また、イレーザブル型光デ
ィスクは、静止画や動画のファイルやコンピュータのバ
ックアップメモリ等の用途に適していることから、最近
その開発が盛んになっている。
このイレーザブル型光ディスクはさらに大別すると光磁
気型と相変化型がある。光磁気型光ディスクは、レーザ
ービームの照射による加熱と磁場の印加により、垂直磁
化膜の一部のスピンを反転することによって情報を記録
し、また、レーザビームを照射することによって、この
再生光の磁気力効果を用いて、反転されたスピンの部分
を読み取ることにより記録された情報が再生される。
気型と相変化型がある。光磁気型光ディスクは、レーザ
ービームの照射による加熱と磁場の印加により、垂直磁
化膜の一部のスピンを反転することによって情報を記録
し、また、レーザビームを照射することによって、この
再生光の磁気力効果を用いて、反転されたスピンの部分
を読み取ることにより記録された情報が再生される。
これに対して、相変化型光ディスクは、レーザービーム
の照射条件により記録膜の一部を非晶質化または結晶化
を行ない、対応する反射率の変化によりそれぞれ情報の
記録及び消去部として読み出す。
の照射条件により記録膜の一部を非晶質化または結晶化
を行ない、対応する反射率の変化によりそれぞれ情報の
記録及び消去部として読み出す。
相変化型光ディスクは、光磁気型光ディスクと比べて磁
場を必要とせず、レーザービームの照射条件のみで選択
的に情報の記録、消去ができる。
場を必要とせず、レーザービームの照射条件のみで選択
的に情報の記録、消去ができる。
また、磁気カー効果を利用した光磁気型ディスクは、再
生信号が小さいことに比べ、相変化型光ディスクでは大
きな信号再生できる。そのため、相変化型、光ディスク
は、次世代のイレーザブル光ディスクとして注目を浴び
てきた。
生信号が小さいことに比べ、相変化型光ディスクでは大
きな信号再生できる。そのため、相変化型、光ディスク
は、次世代のイレーザブル光ディスクとして注目を浴び
てきた。
従来、結晶と非晶質との間の可逆的変化を行なわせる相
変化型光ディスクの記録膜としては、Te、Ge、Te
Ge、InSe、5bTe。
変化型光ディスクの記録膜としては、Te、Ge、Te
Ge、InSe、5bTe。
5bSe等の半導体や半導体化合物が知られている。し
かしながら、Teは常温で結晶であることから、Teか
らなる記録膜は、非晶質の記録部分はすぐに結晶状態に
戻ってしまうという欠点がある。また、GeやTeGe
は溶融温度が高いため、レーザービームの照射により容
易に非晶質の記録マークを形成できないといった欠点が
ある。さらに、GeやGeの化合物からなる記録膜では
、サビやすいという欠点がある。
かしながら、Teは常温で結晶であることから、Teか
らなる記録膜は、非晶質の記録部分はすぐに結晶状態に
戻ってしまうという欠点がある。また、GeやTeGe
は溶融温度が高いため、レーザービームの照射により容
易に非晶質の記録マークを形成できないといった欠点が
ある。さらに、GeやGeの化合物からなる記録膜では
、サビやすいという欠点がある。
さらに、相変化型光ディスクの記録膜の組成として、I
nSe、5bTe、5bSeなどが発表されているが、
これらの記録膜は、上記のような欠点はないが、一般に
結晶化の速度(消去の速度)があまり速くないといった
欠点がある。イレーザブル光ディスクはハードディスク
等の磁気ディスクとの対比からデータの高速転送とオー
バーライド特性を要求されるでいる。そのため、高速消
去(高速結晶化)を必要とするが、上記のような2元素
材料では、この高速結晶化は達成できないため、上記の
材料に第3元、4元目の添加物を加えて結晶化速度を早
める開発が盛んに行われている。
nSe、5bTe、5bSeなどが発表されているが、
これらの記録膜は、上記のような欠点はないが、一般に
結晶化の速度(消去の速度)があまり速くないといった
欠点がある。イレーザブル光ディスクはハードディスク
等の磁気ディスクとの対比からデータの高速転送とオー
バーライド特性を要求されるでいる。そのため、高速消
去(高速結晶化)を必要とするが、上記のような2元素
材料では、この高速結晶化は達成できないため、上記の
材料に第3元、4元目の添加物を加えて結晶化速度を早
める開発が盛んに行われている。
本発明者らの検討によれば、上記の材料以外で比較的高
速結晶化が可能な材料としてはI n5bTeがある。
速結晶化が可能な材料としてはI n5bTeがある。
InSb合金は、結晶とこの結晶とは異なる別の結晶と
の間で可逆的に相変化を行なうものであるが、結晶化速
度の最も速いIn5oSb、。の金属化合物組成では、
情報の消去が記録ができない。また、I n x S
b 10G−m (x < 50)の組成の記録膜で
は、情報の記録、消去は可能であるが、sbの偏析のた
めに結晶化速度が遅くなるという欠点がある。
の間で可逆的に相変化を行なうものであるが、結晶化速
度の最も速いIn5oSb、。の金属化合物組成では、
情報の消去が記録ができない。また、I n x S
b 10G−m (x < 50)の組成の記録膜で
は、情報の記録、消去は可能であるが、sbの偏析のた
めに結晶化速度が遅くなるという欠点がある。
本発明者らの検討によれば、この金属間化合物組成であ
るIn5゜Sb、。近辺のInSbに少量のTeを添加
したI n5bTe合金では、金属間化合物組成の高速
結晶化の特性を損なうことなく、また、Teの非晶質に
より記録信号を増大できるため、良好な情報の記録、消
去特性を示すことが確認されている。
るIn5゜Sb、。近辺のInSbに少量のTeを添加
したI n5bTe合金では、金属間化合物組成の高速
結晶化の特性を損なうことなく、また、Teの非晶質に
より記録信号を増大できるため、良好な情報の記録、消
去特性を示すことが確認されている。
しかしながら、このようなIn5bTe合金にも次のよ
うな欠点があった。すなわち、Teの添加量が5at%
を越えると、In5oSbsoの金属間化合物組成の高
速結晶化の特性が損なわれ、5bTeやInTe等の結
晶化加速度の遅い結晶相が表われるために、全体として
結晶化速度が遅くなる。
うな欠点があった。すなわち、Teの添加量が5at%
を越えると、In5oSbsoの金属間化合物組成の高
速結晶化の特性が損なわれ、5bTeやInTe等の結
晶化加速度の遅い結晶相が表われるために、全体として
結晶化速度が遅くなる。
一方、Teの添加量が5at%以内であれば、基本的に
は情報の記録、消去は可能であるが、信号量(反射率変
化量)としては小さく、特に高密度化、高速データ転送
速度化に伴ったディスクの高速回転時には感度不足とな
り、さらに信号量が低下してしまうという欠点があった
。
は情報の記録、消去は可能であるが、信号量(反射率変
化量)としては小さく、特に高密度化、高速データ転送
速度化に伴ったディスクの高速回転時には感度不足とな
り、さらに信号量が低下してしまうという欠点があった
。
(発明が解決しようとする課題)
従来の相変化型光ディスクにおいては、結晶化速度が遅
く、また、高密度化、高速データ転送速度化に伴ったデ
ィスクの高速回転時には感度不足となり、さらに信号量
が低下してしまうという問題点があった。
く、また、高密度化、高速データ転送速度化に伴ったデ
ィスクの高速回転時には感度不足となり、さらに信号量
が低下してしまうという問題点があった。
本発明は、上記問題点を解消するために、結晶化速度が
速く、かつ高速回転時においても、検出される信号量が
増大し、消去特性も向上することができる情報記録媒体
を提供することを目的とするものである。
速く、かつ高速回転時においても、検出される信号量が
増大し、消去特性も向上することができる情報記録媒体
を提供することを目的とするものである。
[発明の構成コ
(課題を解決するための手段)
本発明は上記目的を達成するために、第1の発明におい
ては、光ビームの異なる照射条件により第1の原子配列
と第2の原子配列との間で可逆的に相変化する記録膜が
、一般式 %式% から成る4元合金膜からなることを特徴とするものであ
る。
ては、光ビームの異なる照射条件により第1の原子配列
と第2の原子配列との間で可逆的に相変化する記録膜が
、一般式 %式% から成る4元合金膜からなることを特徴とするものであ
る。
また、第2の発明においては、光ビームの異なる照射条
件により第1の原子列と第2の原子配列との間で可逆的
に相変化する記録膜が、一般式%式% 0<a≦10原子%、0くb≦3原子%から成る4元合
金膜からなることを特徴とするものである。
件により第1の原子列と第2の原子配列との間で可逆的
に相変化する記録膜が、一般式%式% 0<a≦10原子%、0くb≦3原子%から成る4元合
金膜からなることを特徴とするものである。
(作用)
本発明の情報記録媒体においては、In5゜Sb、。の
近傍の性のInSb合金にTe及びSeを添加したIn
5bTeSi合金を用いているため、情報記録媒体の高
速回転時であっても記録信号が大きく、かつ消去の速度
が速い、記録、消去特性の優れた相変化型の情報記録媒
体を提供できる。
近傍の性のInSb合金にTe及びSeを添加したIn
5bTeSi合金を用いているため、情報記録媒体の高
速回転時であっても記録信号が大きく、かつ消去の速度
が速い、記録、消去特性の優れた相変化型の情報記録媒
体を提供できる。
本発明者の鋭敏なる検討の結果、Ins。Sb、。
の近傍組成のI nSbにTe及びSiを添加したI
n5bTeS i合金からなる記録膜では、光ビームの
ある照射条件による情報の記録に対して、Teの非晶質
化により信号は増大する。また、光ビームの別の照射条
件による情報の消去に対しては、結晶化しやすいSLの
添加効果により速やかに結晶化が生ずることを発見した
。
n5bTeS i合金からなる記録膜では、光ビームの
ある照射条件による情報の記録に対して、Teの非晶質
化により信号は増大する。また、光ビームの別の照射条
件による情報の消去に対しては、結晶化しやすいSLの
添加効果により速やかに結晶化が生ずることを発見した
。
(実施例)
以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
本発明による情報記録媒体は、第2図に示すように、基
板20、第1の保護膜21、記録膜22、第2の保護膜
23及びUV硬化膜24がこの順で積層された構成とな
っている。
板20、第1の保護膜21、記録膜22、第2の保護膜
23及びUV硬化膜24がこの順で積層された構成とな
っている。
基板20は、ガラス、プラスチックまたはポリカーボネ
イトで形成されているものである。第1、第2の保護膜
21.23は、例えば5in2からなるものであり、記
録11!22へのレーザー照射時に、記録膜22が溶融
し穴を形成するのを防止するものである。また、UV硬
化膜24は取扱上で生ずる傷を防止しているものである
。また、記録膜22は、一般式 %式% (但し、48≦X≦52原子%、0くy≦10原子%、
0くz≦7原子%)から成る4元合金膜、または、一
般式 %式%( 0<a≦10原子%、0くb≦3原子%)からなる4元
合金膜からなるものである。この記録膜22は、光ビー
ムの異なる照射条件により第1の原子配列と第2の原子
配列との間で可逆的に相変化するものである。
イトで形成されているものである。第1、第2の保護膜
21.23は、例えば5in2からなるものであり、記
録11!22へのレーザー照射時に、記録膜22が溶融
し穴を形成するのを防止するものである。また、UV硬
化膜24は取扱上で生ずる傷を防止しているものである
。また、記録膜22は、一般式 %式% (但し、48≦X≦52原子%、0くy≦10原子%、
0くz≦7原子%)から成る4元合金膜、または、一
般式 %式%( 0<a≦10原子%、0くb≦3原子%)からなる4元
合金膜からなるものである。この記録膜22は、光ビー
ムの異なる照射条件により第1の原子配列と第2の原子
配列との間で可逆的に相変化するものである。
以下、上記情報記録媒体の具体的実施例につき、詳細に
説明するものとする。
説明するものとする。
(実施例−1)
第1図に示すスパッタ装置を用いて、第2図に示す情報
記録媒体を形成した。
記録媒体を形成した。
このスパッタ装置1は、回転基台2、バルブ4゜5、タ
ーゲット6−A、7−A、8−A、9−A。
ーゲット6−A、7−A、8−A、9−A。
電極6−B、7−B、8−B、9−B、電源6−C,7
−C,8−C,9−C,シャッター6−D。
−C,8−C,9−C,シャッター6−D。
7−D、8−D、9−Dから構成されている。
まず、回転基台2の上にポリカーボネート製の円盤状の
ディスク基板20をセットし、バルブ4を開にしてスパ
ッタ装置1を図示しないクライオポンプにより10−6
torrの真空まで引いた。
ディスク基板20をセットし、バルブ4を開にしてスパ
ッタ装置1を図示しないクライオポンプにより10−6
torrの真空まで引いた。
この状態で、バルブ5を開にしてArガスの流量で20
3CCM導入しながら、バルブ4の開閉を調整して装置
1内のA「ガス圧が5 m torrに設定し2は、光
ビームの異なる照射条件により第1の原子配列と第2の
原子配列との間で可逆的に相変化するものである。
3CCM導入しながら、バルブ4の開閉を調整して装置
1内のA「ガス圧が5 m torrに設定し2は、光
ビームの異なる照射条件により第1の原子配列と第2の
原子配列との間で可逆的に相変化するものである。
以下、上記情報記録媒体の具体的実施例につき、詳細に
説明するものとする。
説明するものとする。
(実施例−1)
第1図に示すスパッタ装置を用いて、第2図に示す情報
記録媒体を形成した。
記録媒体を形成した。
このスパッタ装置1は、回転基台2、バルブ4゜5、タ
ーゲット6−A、7−A、8−A、9−A。
ーゲット6−A、7−A、8−A、9−A。
電極6−B、7−8,8−B、9−B、電源6−C,7
−C,8−C,9−C,シャッター6−D。
−C,8−C,9−C,シャッター6−D。
7−D、8−D、9−Dから構成されている。
まず、回転基台2の上にポリカーボネート製の円盤状の
ディスク基板20をセットし、バルブ4を開にしてスパ
ッタ装置1を図示しないクライオポンプにより10−6
torrの真空まで引いた。
ディスク基板20をセットし、バルブ4を開にしてスパ
ッタ装置1を図示しないクライオポンプにより10−6
torrの真空まで引いた。
この状態で、バルブ5を開にしてArガスの流量で20
8CCM導入しながら、バルブ4の開閉を調整して装置
1内のA「ガス圧が5 m torrに設定し8−D、
9−Dを同時に開にしくIn4ssb、2)g2Te5
Si、の組成の薄膜をSin、膜上に成膜し始めた。約
1分30秒の成膜でこの記録膜を約1000オングスト
ローム成膜した後、シャッタ7−D、8−D、9−Dを
閉にし、同時にR0Fパワー電源7−C,8−C,9−
CをOFFして成膜を終了した。
8CCM導入しながら、バルブ4の開閉を調整して装置
1内のA「ガス圧が5 m torrに設定し8−D、
9−Dを同時に開にしくIn4ssb、2)g2Te5
Si、の組成の薄膜をSin、膜上に成膜し始めた。約
1分30秒の成膜でこの記録膜を約1000オングスト
ローム成膜した後、シャッタ7−D、8−D、9−Dを
閉にし、同時にR0Fパワー電源7−C,8−C,9−
CをOFFして成膜を終了した。
その後再度R,F、 t4a*6−CをONI;:し、
前と同じ行程でSiO□膜を1000オングストローム
の厚さでオーバーコートした。
前と同じ行程でSiO□膜を1000オングストローム
の厚さでオーバーコートした。
ディスク基板20上にSiO2(1000オングストロ
ーム) / (I nngsb52) 92T’e5
S 1s (1000オングストローム) /S i
02 (1000オングストローム)の構成で成膜
したこのサンプルは、スパッタ装置1を大気でリークし
た後、図示しないスピンコータによりUV硬化型の樹脂
を塗布し、UV照射装置によってUV光を照射してこれ
を硬化した。
ーム) / (I nngsb52) 92T’e5
S 1s (1000オングストローム) /S i
02 (1000オングストローム)の構成で成膜
したこのサンプルは、スパッタ装置1を大気でリークし
た後、図示しないスピンコータによりUV硬化型の樹脂
を塗布し、UV照射装置によってUV光を照射してこれ
を硬化した。
このようにして作成したサンプルの構成が、第2図に示
すような情報記録媒体である。すなわち、このサンプル
では、円盤状のポリカーボネート製基板20上にSlO
□膜21が1000オングストローム、 (I n4
ssbs2) 9xTes S i3記録膜22が10
00オングストローム、5in2膜が1000オングス
トロームざらにUV硬化膜約5umが、この順で積層さ
れた構成となっている。
すような情報記録媒体である。すなわち、このサンプル
では、円盤状のポリカーボネート製基板20上にSlO
□膜21が1000オングストローム、 (I n4
ssbs2) 9xTes S i3記録膜22が10
00オングストローム、5in2膜が1000オングス
トロームざらにUV硬化膜約5umが、この順で積層さ
れた構成となっている。
次に、上記の作製条件と全く同様の作製条件にて、記録
膜のみTeと81の量を変化させてサンプルを作製した
。これらのサンプルにおける記録膜の組成は次の通りで
ある。
膜のみTeと81の量を変化させてサンプルを作製した
。これらのサンプルにおける記録膜の組成は次の通りで
ある。
■(I n4asbsz) esTes +■(I n
4ssbsz) 5tTetos ii *■(I n
4ss bs2) ssT e tos i 7 。
4ssbsz) 5tTetos ii *■(I n
4ss bs2) ssT e tos i 7 。
■ (I n4ssbsz) 94T’e’S
S L & 。
S L & 。
■(I n4ssbsz) 5zTes S i3 。
■(1n 4sS b 52) 90T e t。
このようにして作製したサンプルを勤評価装置にかけて
評価した。
評価した。
回転数200Orpmで、半径約55mmの位置にて、
次に示す処理を行い、各サンプルを評価した。
次に示す処理を行い、各サンプルを評価した。
(1)初期結晶化
成膜直後の記録膜は非晶質であるから、10mW連続発
光の光ビームにより1トラック分結晶化させる。この時
、結晶化が完了するまでの間、同じトラックを何回でも
レーザー照射する。
光の光ビームにより1トラック分結晶化させる。この時
、結晶化が完了するまでの間、同じトラックを何回でも
レーザー照射する。
(2)記録
レーザパワー15mw、周波数3 M Hz 、デユー
ティ50%のパルスレーザ光にて、上記結晶化した記録
膜のトラック上に非晶質状態の記録ピットを形成する。
ティ50%のパルスレーザ光にて、上記結晶化した記録
膜のトラック上に非晶質状態の記録ピットを形成する。
(3)消去
初期化と同じlQmwの連続発光の光ビームを1トラッ
ク分を1回転照射し、上記非晶質ピットを結晶に戻して
消去する。(2)と(3)の工程の後で、0.8mwの
連続発光のレーザー光にて再生して、非晶質状態の記録
ピットからの再生信号の大きさ及び消去後の消去残り信
号の大きさをオシロスコープ上で測定した。この測定結
果を第3図に示す。
ク分を1回転照射し、上記非晶質ピットを結晶に戻して
消去する。(2)と(3)の工程の後で、0.8mwの
連続発光のレーザー光にて再生して、非晶質状態の記録
ピットからの再生信号の大きさ及び消去後の消去残り信
号の大きさをオシロスコープ上で測定した。この測定結
果を第3図に示す。
第3図(a)は、In4asbs2の金属間化合物組成
の近傍組成のInSbに、Te添加量を5at%で固定
した時のSi添加量に対する記録ビットからの再生信号
の大きさと消去後の消し残り信号の大きさを示している
。
の近傍組成のInSbに、Te添加量を5at%で固定
した時のSi添加量に対する記録ビットからの再生信号
の大きさと消去後の消し残り信号の大きさを示している
。
この測定結果から、Teが5at%のみを添加し、Si
の入っていない場合は消去残り信号が非常に大きいのに
対して、Siの添加量が増えるに従って、消去残り信号
が小さくなり、Stを3at%添加したものでは、完全
に消去ができていることが判明した。
の入っていない場合は消去残り信号が非常に大きいのに
対して、Siの添加量が増えるに従って、消去残り信号
が小さくなり、Stを3at%添加したものでは、完全
に消去ができていることが判明した。
また記録ビットからの再生信号もSt添加により徐々に
増大していることが判明した。
増大していることが判明した。
第3図(b)は、Teの添加量を10at%で固定した
時のStの添加量に対する記録信号の大きさと消去残り
を示したものである。この測定結果からもわかる通り、
Teが10at%のみではほとんど信号は消えていない
が、Siを3at%添加すると完全に消えている。しか
しながら、さらにStの量を増加させると、逆に消え残
り信号は大きく、また、記録ビットからの再生信号は小
さくなっている。
時のStの添加量に対する記録信号の大きさと消去残り
を示したものである。この測定結果からもわかる通り、
Teが10at%のみではほとんど信号は消えていない
が、Siを3at%添加すると完全に消えている。しか
しながら、さらにStの量を増加させると、逆に消え残
り信号は大きく、また、記録ビットからの再生信号は小
さくなっている。
これらの実験事実から明らかなように、Teの添加量は
10a t%以下、Seの添加量は7at%以下が好適
であることが判明した。
10a t%以下、Seの添加量は7at%以下が好適
であることが判明した。
(実施例−2)
(実施例−1)で作製したサンプルと全く同様の層構成
で、InSbの合金の組成のみをIns。
で、InSbの合金の組成のみをIns。
sb、、及びIn52Sb4aに替えて、サンプルを作
製した。これらのサンプルの各層の厚みは全て(実施例
−1)で作製したサンプルと同様にした。
製した。これらのサンプルの各層の厚みは全て(実施例
−1)で作製したサンプルと同様にした。
Te及びSiの添加量も(実施例−1)で作製したサン
プルと全く同じにした。
プルと全く同じにした。
これらのサンプルに対して、(実施例−1)と同じ条件
で動的評価を行なったところ、第3図(a)、(b)に
示す結果と全く同様の結果を得た。
で動的評価を行なったところ、第3図(a)、(b)に
示す結果と全く同様の結果を得た。
(実施例−3)
(実施例−2)と同様にして、(実施例−1)で作製し
たサンプルと全く同じ層構成でInSb合金の組成のみ
I n4.s b55+ I n、sS b45に替
えてTe、Stを添加したサンプルを作製し、(実施例
−1)と同様の動的評価を行なった。
たサンプルと全く同じ層構成でInSb合金の組成のみ
I n4.s b55+ I n、sS b45に替
えてTe、Stを添加したサンプルを作製し、(実施例
−1)と同様の動的評価を行なった。
その結果、金属間化合物の組成であるIn5゜Sb、。
から大きく外れているこのような組成のInSbに対し
ては、TeとSeの添加効果は全く見られなかった。
ては、TeとSeの添加効果は全く見られなかった。
以上の結果から、本発明によるIn5bTeSi合金膜
の適性組成は、一般式で (I nx S b+oo−x ) +00−y−m
Tey S l zとしたとき、その含有量は、それぞ
れ48≦X≦52at%、0くy≦10at%、0くz
≦7at%であることが判明した。
の適性組成は、一般式で (I nx S b+oo−x ) +00−y−m
Tey S l zとしたとき、その含有量は、それぞ
れ48≦X≦52at%、0くy≦10at%、0くz
≦7at%であることが判明した。
すなわち、この組成範囲のにIn5bTeSi合金膜に
おいては、InSb金属間化合物組成近傍のInSbに
まずTeを添加することにより記録時のTeの非晶質化
により、検出される信号量を増大させることができるも
のである。また、情報の消去時には、Stの高速結晶化
性のために、合金全体としての消去特性も向上し、情報
記録媒体の高速回転時に良好な特性を示すものである。
おいては、InSb金属間化合物組成近傍のInSbに
まずTeを添加することにより記録時のTeの非晶質化
により、検出される信号量を増大させることができるも
のである。また、情報の消去時には、Stの高速結晶化
性のために、合金全体としての消去特性も向上し、情報
記録媒体の高速回転時に良好な特性を示すものである。
[発明の効果]
以上説明したように本発明の情報記録媒体においては、
結晶化速度が速く、また、高速回転時においても、良好
な記録、消去特性を得ることができるものである。
結晶化速度が速く、また、高速回転時においても、良好
な記録、消去特性を得ることができるものである。
第1図は本発明における情報記録媒体を作製する4元ス
パッタ装置の概略構成図、第2図は本発明における情報
記録媒体の層構成の一実施例を示す断面図、第3図は本
発明の情報記録媒体の記録膜に用いられる金属間化合物
組成近傍の組成のInSbに対してTeとSiを添加し
た時の添加効果を示した測定図である。 20 基板 22 記録膜
パッタ装置の概略構成図、第2図は本発明における情報
記録媒体の層構成の一実施例を示す断面図、第3図は本
発明の情報記録媒体の記録膜に用いられる金属間化合物
組成近傍の組成のInSbに対してTeとSiを添加し
た時の添加効果を示した測定図である。 20 基板 22 記録膜
Claims (1)
- (1)基板と、 この基板上に設けられ、光ビームの異なる照射条件によ
り第1の原子配列と第2の原子配列との間で可逆的に相
変化する、一般式 (In_xSb_1_0_0_−_x)_1_0_0_
−_y_−_zTe_ySi_z48≦x≦52原子%
、0<y≦10原子%、0<z≦7原子% で表わされる4元合金膜からなる記録膜と、を具備した
ことを特徴とする情報記録媒体。(2)基板と、 この基板上に設けられ、光ビームの異なる照射条件によ
り第1の原子配列と第2の原子配列との間で可逆的に相
変化する、一般式 (In_4_8Sb_5_2)_1_0_0_−_a_
−_bTe_aSi_b0<a≦10原子%、0<b≦
3原子% で表わされる4元合金膜からなる記録膜と、を具備した
ことを特徴とする情報記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63214852A JPH0264930A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 情報記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63214852A JPH0264930A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 情報記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0264930A true JPH0264930A (ja) | 1990-03-05 |
Family
ID=16662615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63214852A Pending JPH0264930A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 情報記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0264930A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5095479A (en) * | 1990-08-13 | 1992-03-10 | Ricoh Company, Ltd. | Optical information recording medium |
| US5418030A (en) * | 1992-06-12 | 1995-05-23 | Tdk Corporation | Optical recording medium and method for making |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP63214852A patent/JPH0264930A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5095479A (en) * | 1990-08-13 | 1992-03-10 | Ricoh Company, Ltd. | Optical information recording medium |
| US5418030A (en) * | 1992-06-12 | 1995-05-23 | Tdk Corporation | Optical recording medium and method for making |
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