JPH0267777A - 半導体レーザ - Google Patents
半導体レーザInfo
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- JPH0267777A JPH0267777A JP21910888A JP21910888A JPH0267777A JP H0267777 A JPH0267777 A JP H0267777A JP 21910888 A JP21910888 A JP 21910888A JP 21910888 A JP21910888 A JP 21910888A JP H0267777 A JPH0267777 A JP H0267777A
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- layer
- optical waveguide
- waveguide
- shaped optical
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野1
本発明は、低雑音かつ高光出力発振可能な半導体レーザ
(以下LDと記す、)の構造に関する。
(以下LDと記す、)の構造に関する。
[従来の技術I
LDを光情報処理装置、特に書き換^・消去可能な光デ
イスクシステム等に応用する際には、LDに対して基本
的な要求事項である、安定した基本横モード発振・低非
点収差特性に加え、以下の項目を満足する必要がある。
イスクシステム等に応用する際には、LDに対して基本
的な要求事項である、安定した基本横モード発振・低非
点収差特性に加え、以下の項目を満足する必要がある。
1)LDからの出射光の1部が、光デイスク面あるいは
外部光学系等により反射され再度LDの共振器内に戻る
ことで、干渉効果によってLDからの出力光の雑音成分
(以下戻り光雑音と記す、)が増大し、実用に共するこ
とが不可能となる。故にこの戻り光雑音を低減した低雑
音特性。
外部光学系等により反射され再度LDの共振器内に戻る
ことで、干渉効果によってLDからの出力光の雑音成分
(以下戻り光雑音と記す、)が増大し、実用に共するこ
とが不可能となる。故にこの戻り光雑音を低減した低雑
音特性。
2)光デイスク面に、情報を書き込んだりあるいはすで
に書き込まれている情報を消去したりする際には、LD
の光出力に対して、30mwあるいは40mw以上とい
った高光出力が必要となる。
に書き込まれている情報を消去したりする際には、LD
の光出力に対して、30mwあるいは40mw以上とい
った高光出力が必要となる。
故に高光出力特性。
上記l)の低雑音特性に対しては、LDをコヒ−レント
長の短い縦マルチモード発振させる方法が一般に知られ
ている。これを実現する方法には、縦単一モード発振L
Dに数百MHzの高周波電流を駆動電流に加^合わせて
駆動することにより、縦マルチモード発振とする高周波
重畳法あるいは、特開昭60−140774、特開昭6
0−150682等の様に、LD共振器端面近傍では、
光の導波が屈折率導波によってなされ、中央部分では、
利得導波あるいは屈折率導波と利得導波とが混在した光
導波をさせることにより、共振器中央部の導波機構を反
映した縦マルチモード発振を実現する等といった方法が
あった。
長の短い縦マルチモード発振させる方法が一般に知られ
ている。これを実現する方法には、縦単一モード発振L
Dに数百MHzの高周波電流を駆動電流に加^合わせて
駆動することにより、縦マルチモード発振とする高周波
重畳法あるいは、特開昭60−140774、特開昭6
0−150682等の様に、LD共振器端面近傍では、
光の導波が屈折率導波によってなされ、中央部分では、
利得導波あるいは屈折率導波と利得導波とが混在した光
導波をさせることにより、共振器中央部の導波機構を反
映した縦マルチモード発振を実現する等といった方法が
あった。
また高光出力特性を実現する方法に、複数の発光ストラ
イブを有し、各ストライブ間に光結合を生じさせるフェ
ーズドアレイ型LDがあった。公知例としては、第32
回応用物理学関係講演会予稿集149頁に示されている
。
イブを有し、各ストライブ間に光結合を生じさせるフェ
ーズドアレイ型LDがあった。公知例としては、第32
回応用物理学関係講演会予稿集149頁に示されている
。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、前述の屈折率導波および利得導波両導波機横を
兼ね備えたLDで示す従来技術では、共振器の光出射端
面近傍において、安定した基本横モード特性ならびに低
非点収差特性といった要求事項を満足させる為に、LD
のクラッド層、活性層等各層の接合に平行な方向にも、
光閉じ込めが有効に行なわれるよう、活性領域とその他
の領域の間に実効的な屈折率段差(△neff)を持た
せ、かつ活性領域幅を、1次の横モードがカットオフさ
れる程度にまで細くしたいわゆる屈折率導波機構となっ
ている。加えて前述の従来技術で示したLDでは、この
屈折率導波機構を有する領域はただ1ケ所であることか
ら、導波される光は、活性領域である活性層内に強く閉
じ込められ、活性層内での光密度は数MW/cm”にも
達する。
兼ね備えたLDで示す従来技術では、共振器の光出射端
面近傍において、安定した基本横モード特性ならびに低
非点収差特性といった要求事項を満足させる為に、LD
のクラッド層、活性層等各層の接合に平行な方向にも、
光閉じ込めが有効に行なわれるよう、活性領域とその他
の領域の間に実効的な屈折率段差(△neff)を持た
せ、かつ活性領域幅を、1次の横モードがカットオフさ
れる程度にまで細くしたいわゆる屈折率導波機構となっ
ている。加えて前述の従来技術で示したLDでは、この
屈折率導波機構を有する領域はただ1ケ所であることか
ら、導波される光は、活性領域である活性層内に強く閉
じ込められ、活性層内での光密度は数MW/cm”にも
達する。
一方光情報処理用装置で一般に広く利用されているAI
GaAsLDでは光密度が数MW/cm”に達すると端
面破壊が生ずる現象が知られており、高出力化の上限を
決めている。したがって前述の例のLDでは、単体のL
Dで書き換え消去可能な光デイスクシステム等、高出力
かつ低雑音特性を必要とするシステムに搭載することは
、書き込み・消去時に必要とされる高光出力が得られな
いという理由で実用に供せないという課題を有する。
GaAsLDでは光密度が数MW/cm”に達すると端
面破壊が生ずる現象が知られており、高出力化の上限を
決めている。したがって前述の例のLDでは、単体のL
Dで書き換え消去可能な光デイスクシステム等、高出力
かつ低雑音特性を必要とするシステムに搭載することは
、書き込み・消去時に必要とされる高光出力が得られな
いという理由で実用に供せないという課題を有する。
また端面部をフェーズドアレイ構造とするLDでは、高
光出力特性は得られるものの高次のスーパーモードが発
振する為に出射ビームは双峰性となり応用上支障を生ず
る。
光出力特性は得られるものの高次のスーパーモードが発
振する為に出射ビームは双峰性となり応用上支障を生ず
る。
そこで本発明はこのような課題を解決するもので、その
目的とするところは共振器端面部ではフェーズドアレイ
構造としかつ共振器中央付近ではモードフィルター機能
および利得導波機構を有する構造とすることで、高光出
力特性・低雑音特性かつ安定した単峰性横モード発振す
るLDを提供することにある。
目的とするところは共振器端面部ではフェーズドアレイ
構造としかつ共振器中央付近ではモードフィルター機能
および利得導波機構を有する構造とすることで、高光出
力特性・低雑音特性かつ安定した単峰性横モード発振す
るLDを提供することにある。
〔課題を解決するための手段J
本発明のLDは、リブ状の光導波路を有し、かつ該リブ
状の光導波路側面はII −IV族化合物半導体層で埋
め込まれて成る半導体レーザにおいて、少なくとも一方
の共振器端面近傍では、電流注入幅と該リブ状の光導波
路の幅をほぼ等しくかつ細くして屈折率導波構造とした
該リブ状の光導波路を、相互に光結合を生ずる間隔で複
数本配置し、かつ共振器中央部付近では該リブ状の光導
波路の幅を電流注入幅より十分法(して利得導波構造と
しかつ最上部に開口を有する高抵抗層を有する該リブ状
の光導波路を有してなることを特徴とする。
状の光導波路側面はII −IV族化合物半導体層で埋
め込まれて成る半導体レーザにおいて、少なくとも一方
の共振器端面近傍では、電流注入幅と該リブ状の光導波
路の幅をほぼ等しくかつ細くして屈折率導波構造とした
該リブ状の光導波路を、相互に光結合を生ずる間隔で複
数本配置し、かつ共振器中央部付近では該リブ状の光導
波路の幅を電流注入幅より十分法(して利得導波構造と
しかつ最上部に開口を有する高抵抗層を有する該リブ状
の光導波路を有してなることを特徴とする。
〔実 施 例J
第1図は本発明の実施例における構造図であり同図(a
)は本発明のLDの上面図であり、同図(b)および(
c)は各々A−A′およびB−B′での断面構造図であ
る。n型GaAs基板101上のn型GaAsバッファ
ー層lo2・n型AlGaAs第1のクラッド層103
−AIGaAs活性層104− p型AI GaAs第
2のクラッド層105・p型GaAsコンタクト層10
6よりなる二重異種接合構造(以下DH槽構造記す、)
に同図(a)に示すリブ状光導波路上面形状109に第
2のクラッド層の途中までエツチングを施して形成した
リブ状の光導波路の側面を■−IV族化合物半導体たと
えばZn5eで埋め込んだ構造である。108は高抵抗
層からなる電流狭容層である。
)は本発明のLDの上面図であり、同図(b)および(
c)は各々A−A′およびB−B′での断面構造図であ
る。n型GaAs基板101上のn型GaAsバッファ
ー層lo2・n型AlGaAs第1のクラッド層103
−AIGaAs活性層104− p型AI GaAs第
2のクラッド層105・p型GaAsコンタクト層10
6よりなる二重異種接合構造(以下DH槽構造記す、)
に同図(a)に示すリブ状光導波路上面形状109に第
2のクラッド層の途中までエツチングを施して形成した
リブ状の光導波路の側面を■−IV族化合物半導体たと
えばZn5eで埋め込んだ構造である。108は高抵抗
層からなる電流狭容層である。
以下第2図を用いて説明を加える。
n型GaAs基板201上にn型GaAsバッファー層
202− n型AI GaAs第1のクラッド層203
−AIGaAs活性層204− P型AlGaAs第2
のクラッド層205・p型GaAsコンタクト層206
を順次積層してDH槽構造形成する。DH槽構造、液相
エピタキシャル成長法・有機金属気相成長法(以下MO
CVD法と記す、)および分子線エピタキシャル成長(
以下MBE法と記す、)等の方法により作製できる。
202− n型AI GaAs第1のクラッド層203
−AIGaAs活性層204− P型AlGaAs第2
のクラッド層205・p型GaAsコンタクト層206
を順次積層してDH槽構造形成する。DH槽構造、液相
エピタキシャル成長法・有機金属気相成長法(以下MO
CVD法と記す、)および分子線エピタキシャル成長(
以下MBE法と記す、)等の方法により作製できる。
DH構造形成後二酸化シリコン等誘電体マスク207を
形成する。(第2図(a))続いて通常のフォトエツチ
ング工程を経て、まず第2図(C)に斜線で示す如く形
状に誘電体マスク207をバターニングし、さらにDH
槽構造有する基板のp型GaAsコンタクト層206お
よびp型AlGaAs第2のクラッド層の途中までエツ
チングを施す、エツチングは硫酸系等エッチャントを用
いたウェットエツチング工程あるいは塩素等ガスを用い
たドライエツチング工程により行な^る。
形成する。(第2図(a))続いて通常のフォトエツチ
ング工程を経て、まず第2図(C)に斜線で示す如く形
状に誘電体マスク207をバターニングし、さらにDH
槽構造有する基板のp型GaAsコンタクト層206お
よびp型AlGaAs第2のクラッド層の途中までエツ
チングを施す、エツチングは硫酸系等エッチャントを用
いたウェットエツチング工程あるいは塩素等ガスを用い
たドライエツチング工程により行な^る。
(第2図(b))第2図(b)では本発明のLDの共振
器端面部でのLDの構造しか示していないが、第2図(
c)の斜線部で示す形状はそのままリブ形成時のマスク
形状となっているので、LDの中央部付近では幅広のリ
ブとなっている。加えて、第2図(b)に示した各リブ
の間隔は、LD発振させた際隣接リブ間で光の電界の相
互作用が生ずる程度の狭い間隔とする0次に、ウェハ全
面にIf −IV族化合物半導体層を積層する。ここで
はZn5e層とするが他のII −IV族化合物半導体
層の使用も可能である。Zn5e層の成長には、MOC
VD法あるいはMBE法による成長が可能であるが、こ
こでは、ジメチル亜鉛−ジメチルセレンよりなる付加体
を源料とするMOCVD法を用いた。この場合リブ上部
にはリブエツチングの際マスクとした誘電体膜が残存す
ることから、リブ上部ではZn5e層の結晶性は悪(な
り多結晶のZn5e層が成長する。一方その他の部分で
は、Zn5eとA I GaAsの格子不整合度は小さ
い為、単結晶Zn5e層が成長する。第2図(d)での
斜線部が多結晶Zn5e層208であり、その他の部分
が単結晶Zn5e層209である。ここで水酸化ナトリ
ウム水溶液を用いて、リブ上部の多結晶Zn5e層II
2をエツチング除去する。水酸化ナトリウム水溶液によ
るZn5e層のエツチングは、Zn5e層の結晶性によ
りそのエツチングレートが異なる。すなわち、結晶性の
悪い多結晶Zn5e層は、単結晶Zn5e層よりエッチ
レートが早く、Zn5e層の膜厚を適当に定めることで
リブ上部が露出し、しかもリブ両側のZn5e層厚をリ
ブの高さに等しく残すことができ平坦化が実現される。
器端面部でのLDの構造しか示していないが、第2図(
c)の斜線部で示す形状はそのままリブ形成時のマスク
形状となっているので、LDの中央部付近では幅広のリ
ブとなっている。加えて、第2図(b)に示した各リブ
の間隔は、LD発振させた際隣接リブ間で光の電界の相
互作用が生ずる程度の狭い間隔とする0次に、ウェハ全
面にIf −IV族化合物半導体層を積層する。ここで
はZn5e層とするが他のII −IV族化合物半導体
層の使用も可能である。Zn5e層の成長には、MOC
VD法あるいはMBE法による成長が可能であるが、こ
こでは、ジメチル亜鉛−ジメチルセレンよりなる付加体
を源料とするMOCVD法を用いた。この場合リブ上部
にはリブエツチングの際マスクとした誘電体膜が残存す
ることから、リブ上部ではZn5e層の結晶性は悪(な
り多結晶のZn5e層が成長する。一方その他の部分で
は、Zn5eとA I GaAsの格子不整合度は小さ
い為、単結晶Zn5e層が成長する。第2図(d)での
斜線部が多結晶Zn5e層208であり、その他の部分
が単結晶Zn5e層209である。ここで水酸化ナトリ
ウム水溶液を用いて、リブ上部の多結晶Zn5e層II
2をエツチング除去する。水酸化ナトリウム水溶液によ
るZn5e層のエツチングは、Zn5e層の結晶性によ
りそのエツチングレートが異なる。すなわち、結晶性の
悪い多結晶Zn5e層は、単結晶Zn5e層よりエッチ
レートが早く、Zn5e層の膜厚を適当に定めることで
リブ上部が露出し、しかもリブ両側のZn5e層厚をリ
ブの高さに等しく残すことができ平坦化が実現される。
(第2図(e))加久てZn5e層は抵抗率がl X
10’ΩCm以上であり電流狭容層として有効である。
10’ΩCm以上であり電流狭容層として有効である。
またZn5e層は屈折率がいかなるA1混晶比のAlG
aAs層よりも小さいことがらレーザ発振に重要な光閉
じ込めに対しても有効である。以後、p側電極の形成、
ウェハ裏面のケンマ工程さらにn側電極形成工程を経て
LDのプロセスが完了する。こうして出来上がったウェ
ハから、共振器長250μm程度のLDチップを切り出
し、ジャンクションダウンで、シリコンサブマウントを
介して銅ヒートシンク上にボンディングし、特性の測定
を行なう。
aAs層よりも小さいことがらレーザ発振に重要な光閉
じ込めに対しても有効である。以後、p側電極の形成、
ウェハ裏面のケンマ工程さらにn側電極形成工程を経て
LDのプロセスが完了する。こうして出来上がったウェ
ハから、共振器長250μm程度のLDチップを切り出
し、ジャンクションダウンで、シリコンサブマウントを
介して銅ヒートシンク上にボンディングし、特性の測定
を行なう。
本LDでは、屈折率導波機構を有するリブ状の光導波路
が共振器端面で複数本存在しておりかつ各リブ間の間隔
は狭く設定されているのでリブ部で発振した光は、リブ
間で光結合を生じフェーズドアレイ構造が共振器端面部
に形成されることになる。したがって共振器端面部での
光密度の低減が実現され高光出力発振が達成される。し
かし通常フェーズドアレイ構造構造では高次のスーパー
モードで発振が生じやすく出射ビームが双峰性となり応
用上支障を生ずる。高次のスーパーモードが選択される
理由を第3図を用いて説明する。ここで同図(a)に基
本スーパーモードの電界分布を同図(b)に高次スーパ
ーモードの電界分布を示す、また矢印部分が作りつけの
光導波路いわゆる本LDでのリブ状の光導波路部で、屈
折率が大きく利得の高い部分である。同図より矢印の中
間部分いわゆる損失の大きい部分で基本スーパーモード
の電界分布は零にならないのに対して、高次スーパーモ
ードは零レベルを横ぎる。したがって通常のフェーズド
アレイ構造では高次スーパーモードの受ける損失は、基
本スーパーモードより小さくなり高次スーパーモードの
方がしきい値利得が低くなり高次スーパーモードでの発
振が選択される。
が共振器端面で複数本存在しておりかつ各リブ間の間隔
は狭く設定されているのでリブ部で発振した光は、リブ
間で光結合を生じフェーズドアレイ構造が共振器端面部
に形成されることになる。したがって共振器端面部での
光密度の低減が実現され高光出力発振が達成される。し
かし通常フェーズドアレイ構造構造では高次のスーパー
モードで発振が生じやすく出射ビームが双峰性となり応
用上支障を生ずる。高次のスーパーモードが選択される
理由を第3図を用いて説明する。ここで同図(a)に基
本スーパーモードの電界分布を同図(b)に高次スーパ
ーモードの電界分布を示す、また矢印部分が作りつけの
光導波路いわゆる本LDでのリブ状の光導波路部で、屈
折率が大きく利得の高い部分である。同図より矢印の中
間部分いわゆる損失の大きい部分で基本スーパーモード
の電界分布は零にならないのに対して、高次スーパーモ
ードは零レベルを横ぎる。したがって通常のフェーズド
アレイ構造では高次スーパーモードの受ける損失は、基
本スーパーモードより小さくなり高次スーパーモードの
方がしきい値利得が低くなり高次スーパーモードでの発
振が選択される。
そこで本発明のLDでは基本スーパーモードが選択され
るよう第1図(a)の斜線で示すように、共振器中央部
の幅広のリブ状の光導波路上部に、高抵抗層でなる電流
狭容層を設けた。電流狭容層の形状は、共振器端面部の
リブ状の光導波路総幅よりも細い幅に電流注入を制限す
る形状である。このような電流狭容層を設けることによ
り共振器中央部の広幅の光導波路での利得分布は、利得
導波型LDである電極ストライプLDと同様に、第3図
(c)に示す如く形状となる。すなわち電流注入部では
利得領域となるが、第1図(a)の斜線部に示す領域特
に電流注入部から離れた領域では損失領域となる。一方
策3図(a)(b)より理解できるように基本モードの
スーパーモードは外側の光導波路はど電界のピークは小
さくなるのに対して、高次スーパーモードは光導波路の
位置によらずほぼ同じである。したがってこれら両スー
パーモードが本発明のLDの上記利得分布を有する光導
波路を伝撤する際には、損失領域で大きな電界ピークを
有する高次スーパーモードの方が、基本スーパーモード
よりも損失をより多く受け、この為高次スーパーモード
のしきい値利得が増大することになり基本スーパーモー
ドが選択されることになる。
るよう第1図(a)の斜線で示すように、共振器中央部
の幅広のリブ状の光導波路上部に、高抵抗層でなる電流
狭容層を設けた。電流狭容層の形状は、共振器端面部の
リブ状の光導波路総幅よりも細い幅に電流注入を制限す
る形状である。このような電流狭容層を設けることによ
り共振器中央部の広幅の光導波路での利得分布は、利得
導波型LDである電極ストライプLDと同様に、第3図
(c)に示す如く形状となる。すなわち電流注入部では
利得領域となるが、第1図(a)の斜線部に示す領域特
に電流注入部から離れた領域では損失領域となる。一方
策3図(a)(b)より理解できるように基本モードの
スーパーモードは外側の光導波路はど電界のピークは小
さくなるのに対して、高次スーパーモードは光導波路の
位置によらずほぼ同じである。したがってこれら両スー
パーモードが本発明のLDの上記利得分布を有する光導
波路を伝撤する際には、損失領域で大きな電界ピークを
有する高次スーパーモードの方が、基本スーパーモード
よりも損失をより多く受け、この為高次スーパーモード
のしきい値利得が増大することになり基本スーパーモー
ドが選択されることになる。
以上の説明では、共振器端面部で4本のフェーズドアレ
イについて説明したが2本以上複数本でさえあれば同様
の構造とすることで同様の効果が得られる。
イについて説明したが2本以上複数本でさえあれば同様
の構造とすることで同様の効果が得られる。
基本スーパーモードが選択されるが故に、放射されるビ
ームは単峰性であり、かつ非点収差も小さい。一方共振
器中央部付近では幅広のリブ状の光導波路を有している
ので、この領域での光導波は、利得導波あるいは利得導
波と屈折率導波が混在する機構により行なわれることに
なる。したがって利得導波機構を反映し、縦モードはマ
ルチモード化する。故にレーザ光のコヒーレント長が短
くなり戻り光等による干渉効果が低減され低雑音化が実
現されることになる。
ームは単峰性であり、かつ非点収差も小さい。一方共振
器中央部付近では幅広のリブ状の光導波路を有している
ので、この領域での光導波は、利得導波あるいは利得導
波と屈折率導波が混在する機構により行なわれることに
なる。したがって利得導波機構を反映し、縦モードはマ
ルチモード化する。故にレーザ光のコヒーレント長が短
くなり戻り光等による干渉効果が低減され低雑音化が実
現されることになる。
実施例に示す4本のフェーズドアレイを有する本発明の
LDにおいて、屈折率導波機構を有する共振端近傍のリ
ブ状光導波路の幅および中心間距離を3μmおよび5μ
mとし、両出射端でのリブ状光導波路の長さを50μm
j5よび100μmとし、電流注入領域の最狭部の幅を
lOμ、共振器長を250μmとした時しきい値電流〜
120mA、非点収差6μm以下、相対雑音強度〜6×
10”Hz−’、さらに100mWをこえる光出力まで
安定した単峰性ビームが得られた。
LDにおいて、屈折率導波機構を有する共振端近傍のリ
ブ状光導波路の幅および中心間距離を3μmおよび5μ
mとし、両出射端でのリブ状光導波路の長さを50μm
j5よび100μmとし、電流注入領域の最狭部の幅を
lOμ、共振器長を250μmとした時しきい値電流〜
120mA、非点収差6μm以下、相対雑音強度〜6×
10”Hz−’、さらに100mWをこえる光出力まで
安定した単峰性ビームが得られた。
本発明によるLDは、AI GaAs系以外のレーザ材
料例えばInGaAsP系・InGaP系の材料に対し
ても同様に適用できる。またLDの構造としては上記実
施例で示した3層導波路を基本にするものに限らず、活
性層の片側に隣接して光ガイド層を設けるLOG構造や
、活性層の両側にそれぞれ隣接して光ガイド層を設ける
SCH構造およびこれらの光ガイド層の屈折率および禁
制帯幅が膜厚方向に分布しているGRIN−SCH構造
等に対しても同様に適用することができる。
料例えばInGaAsP系・InGaP系の材料に対し
ても同様に適用できる。またLDの構造としては上記実
施例で示した3層導波路を基本にするものに限らず、活
性層の片側に隣接して光ガイド層を設けるLOG構造や
、活性層の両側にそれぞれ隣接して光ガイド層を設ける
SCH構造およびこれらの光ガイド層の屈折率および禁
制帯幅が膜厚方向に分布しているGRIN−SCH構造
等に対しても同様に適用することができる。
さらに活性層が量子井戸構造をしているものに対しても
有効である。また上記実施例において導電形を全て反対
にした構造(pをnに、nをpに置き換えた構造)にお
いても同様の結果が得られる。
有効である。また上記実施例において導電形を全て反対
にした構造(pをnに、nをpに置き換えた構造)にお
いても同様の結果が得られる。
[発明の効果]
以上述べたように本発明のLDによれば以下のような多
大な効果が得られる。
大な効果が得られる。
l)光出射端面近傍では、リブ光導波路幅と電流注入幅
を同程度でかつ狭くして屈折率導波機構とししかも複雑
本近接して配置することによりフェーズドアレイ構造と
したので、100mwをこえる高光出力発振が可能とな
った。
を同程度でかつ狭くして屈折率導波機構とししかも複雑
本近接して配置することによりフェーズドアレイ構造と
したので、100mwをこえる高光出力発振が可能とな
った。
2)共振器中央部付近ではリプ光導波路幅を広くした構
造とすることで、この部分の光導波は利得導波あるいは
利得導波および屈折率導波が混在したものとなり、縦モ
ードは利得導波機構を反映してマルチモード化する。し
たがってコヒーレント長が短くなり、戻り光との干渉性
が低下し、低雑音化が実現される。
造とすることで、この部分の光導波は利得導波あるいは
利得導波および屈折率導波が混在したものとなり、縦モ
ードは利得導波機構を反映してマルチモード化する。し
たがってコヒーレント長が短くなり、戻り光との干渉性
が低下し、低雑音化が実現される。
3)加λて共振中央部付近では、基本スーパーモードが
選択されるようモードフィルタ機能を有する構造とした
ので、単峰性の出射ビームが安定して得られる。
選択されるようモードフィルタ機能を有する構造とした
ので、単峰性の出射ビームが安定して得られる。
4)通常低雑音特性実現に対しては、高周波重畳法が用
いられているが、その為には高周波発振回路をLDとと
もに搭載する必要がある。しかし本LDではLD自体低
雑音特性を有するものであり、付加回路等不必要となり
、光ヘッドの軽量化、さらにはアクセスタイムの短縮等
の効果を有する。
いられているが、その為には高周波発振回路をLDとと
もに搭載する必要がある。しかし本LDではLD自体低
雑音特性を有するものであり、付加回路等不必要となり
、光ヘッドの軽量化、さらにはアクセスタイムの短縮等
の効果を有する。
5)本LD素子は作製工程、特に各層の成長においてM
OCVD法のみで実現されるものであり、大面積ウェハ
での成長可能・大面積にわたり膜特性が均一かつ膜厚の
制御性に秀れている等のMOCVD法の特徴を生かして
LD素子特性の均一化・高信頼化さらには低価格化が実
現される。
OCVD法のみで実現されるものであり、大面積ウェハ
での成長可能・大面積にわたり膜特性が均一かつ膜厚の
制御性に秀れている等のMOCVD法の特徴を生かして
LD素子特性の均一化・高信頼化さらには低価格化が実
現される。
6)ZnSe層は高抵抗・低屈折率材料でありキャリア
の閉じ込め、光の閉じ込めに有効である。
の閉じ込め、光の閉じ込めに有効である。
加えてZn5e層は、二酸化シリコン等誘電体層より熱
伝導性に秀れており、LD内部で発生した熱の放散に極
めて有効に作用する。
伝導性に秀れており、LD内部で発生した熱の放散に極
めて有効に作用する。
第1図(a)〜(c)は本発明のLDの1実施例を示す
構造図。 第2図(a)〜(f)は本発明のLDのプロセス工程図
。 第3図(a)〜(c)はモードの電界分布を示す図。 101.201・−n型GaAs基板 102. 103、 l 04゜ 105゜ 106. 107 ・ l 08. 2II ・ 212 ・ 207 ・ 208 ・ 209 ・ 202 ・ 203 ・ 204 ・ 205 ・ ・n型GaAsバッファー層 ・n型AlGaAs第1の クラッド層 −A I GaAs活性層 ’p型AlGaAs第2の クラッド層 ・p型GaAsコンタクト層 ・Zn5e埋め込み層 ・電流狭容層 ・p側電極 ・n側電極 ・誘電体マスク ・多結晶Zn5e層 ・単結晶Zn5e層 (〆) <C,) 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 上 柳 雅 誉(他1名)ユCΣ
構造図。 第2図(a)〜(f)は本発明のLDのプロセス工程図
。 第3図(a)〜(c)はモードの電界分布を示す図。 101.201・−n型GaAs基板 102. 103、 l 04゜ 105゜ 106. 107 ・ l 08. 2II ・ 212 ・ 207 ・ 208 ・ 209 ・ 202 ・ 203 ・ 204 ・ 205 ・ ・n型GaAsバッファー層 ・n型AlGaAs第1の クラッド層 −A I GaAs活性層 ’p型AlGaAs第2の クラッド層 ・p型GaAsコンタクト層 ・Zn5e埋め込み層 ・電流狭容層 ・p側電極 ・n側電極 ・誘電体マスク ・多結晶Zn5e層 ・単結晶Zn5e層 (〆) <C,) 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 上 柳 雅 誉(他1名)ユCΣ
Claims (1)
- リブ状の光導波路を有し、かつ該リブ状の光導波路側面
はII−IV族化合物半導体層で埋め込まれて成る半導体レ
ーザにおいて、少なくとも一方の共振器端面近傍では、
電流注入幅と該リブ状の光導波路の幅をほぼ等しくかつ
細くして屈折率導波構造とした該リブ状の光導波路を、
相互に光結合を生ずる間隔で複数本配置し、かつ共振器
中央部付近では該リブ状の光導波路の幅を電流注入幅よ
り十分広くして利得導波構造としかつ最上部に開口を有
する高抵抗層を有する該リブ状の光導波路を有してなる
ことを特徴とする半導体レーザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21910888A JPH0267777A (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 半導体レーザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21910888A JPH0267777A (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 半導体レーザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0267777A true JPH0267777A (ja) | 1990-03-07 |
Family
ID=16730381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21910888A Pending JPH0267777A (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 半導体レーザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0267777A (ja) |
-
1988
- 1988-09-01 JP JP21910888A patent/JPH0267777A/ja active Pending
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