JPH027234A - 光デイスクのデリートパターン検出回路 - Google Patents
光デイスクのデリートパターン検出回路Info
- Publication number
- JPH027234A JPH027234A JP63037438A JP3743888A JPH027234A JP H027234 A JPH027234 A JP H027234A JP 63037438 A JP63037438 A JP 63037438A JP 3743888 A JP3743888 A JP 3743888A JP H027234 A JPH027234 A JP H027234A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- pattern
- delete
- peak
- pulse
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0055—Erasing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
- G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ディスクのデリートパターン検出回路に関
し、特に、追記形光ディスク装置等においてデリートパ
ターンの誤検出を防止し、高信頼度のデリートパターン
検出を行うのに好適なデリートパターン検出回路に関す
るものである。
し、特に、追記形光ディスク装置等においてデリートパ
ターンの誤検出を防止し、高信頼度のデリートパターン
検出を行うのに好適なデリートパターン検出回路に関す
るものである。
−iに光ディスク記録装置では、データは穴あけ(ピッ
ト形成)により記録され、磁気ディスクのように、新し
いデータの書き込みの際に以前に書き込まれたデータを
物理的に消去することはできない。そこで、−Cに、追
記形の光ディスク記録装置では、追記すべきデータは、
以前に書込まれたデータの後へ順に書き込む。又、以前
のデータで不要になったものに対しては、通常のデータ
とは識別される特別の長大を有するパターン(デリート
バタン)を、不要記録データビット列上に重ね書きする
ことにより、以後の使用に際し有効データから除かれる
(実効的な消去が行なわれる)。
ト形成)により記録され、磁気ディスクのように、新し
いデータの書き込みの際に以前に書き込まれたデータを
物理的に消去することはできない。そこで、−Cに、追
記形の光ディスク記録装置では、追記すべきデータは、
以前に書込まれたデータの後へ順に書き込む。又、以前
のデータで不要になったものに対しては、通常のデータ
とは識別される特別の長大を有するパターン(デリート
バタン)を、不要記録データビット列上に重ね書きする
ことにより、以後の使用に際し有効データから除かれる
(実効的な消去が行なわれる)。
従来、この種のデリートパターンの形成及び検出方式と
しては、例えば、1987年6月に、コンテイニュアス
・サーボ・ワーキング・グループ・イン・ジャパン発行
の「エクスプラネトリ・ノート・オン・ザ・セクタ・フ
ォーマット・フォー・コンテニュアス・サーボ・メソッ
ドJ (EXPLAN−ATORY N0TE
ON THE 5ECTORPORMAT FO
RC0NTINUOUS 5ERVOMETlloD、
June、1987.Continuous 5erv
。
しては、例えば、1987年6月に、コンテイニュアス
・サーボ・ワーキング・グループ・イン・ジャパン発行
の「エクスプラネトリ・ノート・オン・ザ・セクタ・フ
ォーマット・フォー・コンテニュアス・サーボ・メソッ
ドJ (EXPLAN−ATORY N0TE
ON THE 5ECTORPORMAT FO
RC0NTINUOUS 5ERVOMETlloD、
June、1987.Continuous 5erv
。
Working Group in Japan)に記
載されているように、光ディスク上に記録されたデータ
は、データの記録パターンにない長穴(デリートパター
ン)を、データ記録部に一定周期で重ね書きすることに
より消去される。そして、消去該当セクタが、消去され
ているかどうかの判定は、光ディスク上からの続出信号
をデジタル信号化したものを用い、デリートパターンの
パルス幅、周期、パルス列の数を検出し、これらの検出
値が、デリートパターンとして所定値を満たしているか
否かを調べることによって、行なわれる。
載されているように、光ディスク上に記録されたデータ
は、データの記録パターンにない長穴(デリートパター
ン)を、データ記録部に一定周期で重ね書きすることに
より消去される。そして、消去該当セクタが、消去され
ているかどうかの判定は、光ディスク上からの続出信号
をデジタル信号化したものを用い、デリートパターンの
パルス幅、周期、パルス列の数を検出し、これらの検出
値が、デリートパターンとして所定値を満たしているか
否かを調べることによって、行なわれる。
第2図に、この種のプリーI−パターン形成及び検出方
式に用いられる光ディスクのセクタフォーマットと、デ
リートパターンを示す。光ディスクの各セクタは、セク
タマークSMとIDコードとそれに続くデータ部(DA
TA)とから成り、1セクタ長は例えば1360バイト
である。データの消去(デリート)はセクタ単位で行な
われ、不要となったセクタに対しては、そのDATA部
のみに対しDATA部の80%程度の長さ以上に亘って
、図示のような形状のデリートパターンを(以前の記録
データの上に)重ね書きする。ここで、Tは1ビット周
期で、−例として、デリートパターンのパルス幅は5T
、パルス周uJ]ハ30Tである。
式に用いられる光ディスクのセクタフォーマットと、デ
リートパターンを示す。光ディスクの各セクタは、セク
タマークSMとIDコードとそれに続くデータ部(DA
TA)とから成り、1セクタ長は例えば1360バイト
である。データの消去(デリート)はセクタ単位で行な
われ、不要となったセクタに対しては、そのDATA部
のみに対しDATA部の80%程度の長さ以上に亘って
、図示のような形状のデリートパターンを(以前の記録
データの上に)重ね書きする。ここで、Tは1ビット周
期で、−例として、デリートパターンのパルス幅は5T
、パルス周uJ]ハ30Tである。
上記従来技術では、光ディスク上にごみが付着したり、
欠陥が生じたり、分解能が劣化したりするとき、続出信
号中にあたかもデリートパターンのような波形の信号が
発生し、これを誤ってデリートパターンと認識してしま
うという問題があった。このことを第3図により説明す
る。
欠陥が生じたり、分解能が劣化したりするとき、続出信
号中にあたかもデリートパターンのような波形の信号が
発生し、これを誤ってデリートパターンと認識してしま
うという問題があった。このことを第3図により説明す
る。
第3図で、101は、消去されていないデータ部からの
読み出し信号(アナログ波形)で、この読み出し信号1
01は、所定のスライスレベル101aにより、同図の
102に示すようにディジタル化(方形波形化)される
。即ち、読み出し信号101がレベル101aよりも大
きいか小さいかにより高又は低となる方形波102を出
力する。この信号波形102中に、本来デリートパター
ンが書き込まれていないセクタであるにもかかわらず、
上記した原因により、デリートパターンと同じパルス幅
の長大パターン102aが発生することがある。もし、
このパターンがデータ部(あるセクタ内のユーザデータ
記録領域)全域に亘りデリートパターンの周期で存在す
ると、誤ってデリートパターンを検出してしまうという
問題があった。
読み出し信号(アナログ波形)で、この読み出し信号1
01は、所定のスライスレベル101aにより、同図の
102に示すようにディジタル化(方形波形化)される
。即ち、読み出し信号101がレベル101aよりも大
きいか小さいかにより高又は低となる方形波102を出
力する。この信号波形102中に、本来デリートパター
ンが書き込まれていないセクタであるにもかかわらず、
上記した原因により、デリートパターンと同じパルス幅
の長大パターン102aが発生することがある。もし、
このパターンがデータ部(あるセクタ内のユーザデータ
記録領域)全域に亘りデリートパターンの周期で存在す
ると、誤ってデリートパターンを検出してしまうという
問題があった。
従って、本発明の目的は、データ部におけるデリートパ
ターン以外の記録パターンが、ディスク上のごみ、欠陥
、分解能劣化等のために長穴パターン化し、誤ってデリ
ートパターンとして読み出されるということを防止した
光ディスクのデリートパターン検出回路を提供すること
にある。
ターン以外の記録パターンが、ディスク上のごみ、欠陥
、分解能劣化等のために長穴パターン化し、誤ってデリ
ートパターンとして読み出されるということを防止した
光ディスクのデリートパターン検出回路を提供すること
にある。
上記目的を達成するため、本発明の光ディスクのデリー
トパターン検出回路は、上記の所定のパターンをもつデ
リートパターンの重ね書きによりデータの消去を行なう
手段、読み出し信号を所定スライスレベルで方形化する
手段、及び、方形化された信号のパルス幅、周期、パル
ス数の計測によりその信号中のデリートパターンを検出
する手段に加え、特に、読み出し信号のピーク点を検出
して対応するピークパルスを発生する手段と、このピー
クパルスを前記方形化された信号に埋め込む手段とを設
ける。
トパターン検出回路は、上記の所定のパターンをもつデ
リートパターンの重ね書きによりデータの消去を行なう
手段、読み出し信号を所定スライスレベルで方形化する
手段、及び、方形化された信号のパルス幅、周期、パル
ス数の計測によりその信号中のデリートパターンを検出
する手段に加え、特に、読み出し信号のピーク点を検出
して対応するピークパルスを発生する手段と、このピー
クパルスを前記方形化された信号に埋め込む手段とを設
ける。
上記構成に基づく作用を説明する。
続出信号のピーク点検出手段より出力されるピークパル
スは、本来のデリートパターンの様な長穴パターンの時
は出力されないが、本来のデータ信号であった場合には
、ディスク上のごみ付着時や欠陥発生時、分解能劣化時
にも、続出信号のレベルが変動するので、ピークパルス
が出力される。
スは、本来のデリートパターンの様な長穴パターンの時
は出力されないが、本来のデータ信号であった場合には
、ディスク上のごみ付着時や欠陥発生時、分解能劣化時
にも、続出信号のレベルが変動するので、ピークパルス
が出力される。
この信号を読出し信号の方形化(デジタル化)された信
号に埋込む事により、スライスレベルをきれず、誤って
長穴パターンとなってしまった部分も断続した波形に変
更されるので、長穴パターンとなる事を防ぎ、デリート
パターンを誤って検出する事がなくなり、本来のデリー
トパターンのみを検出する事ができる。
号に埋込む事により、スライスレベルをきれず、誤って
長穴パターンとなってしまった部分も断続した波形に変
更されるので、長穴パターンとなる事を防ぎ、デリート
パターンを誤って検出する事がなくなり、本来のデリー
トパターンのみを検出する事ができる。
以下、本発明の一実施例を図面により説明する。
第1図は、本発明を適用したデリートパターン検出系の
ブロック図である。
ブロック図である。
第1図において、1は光ディスクよりデータを読出す光
学ヘッド、2は読出されたアナログ信号をデジタル信号
へ変換する回路、3は読出された信号のピーク点を検出
し埋込用ピークパルスを出力する回路(ピークパルス送
出部)、4はデリートパターン判定部、5はデリートパ
ターンのパルス幅判定部、6はデリートパターンの周期
判定部、7はデリートパターンのパターン数判定部であ
る。
学ヘッド、2は読出されたアナログ信号をデジタル信号
へ変換する回路、3は読出された信号のピーク点を検出
し埋込用ピークパルスを出力する回路(ピークパルス送
出部)、4はデリートパターン判定部、5はデリートパ
ターンのパルス幅判定部、6はデリートパターンの周期
判定部、7はデリートパターンのパターン数判定部であ
る。
又、8は埋込み用のOR回路、9はデリートパタン検出
回路である。
回路である。
ピークパルス検出部3は、ピーク点検出器31、マスク
幅設定部32、及びAND回路33がら成り、デリート
バクーンパルス幅判定部5は、カウンタ51及びパルス
幅判定回路52がら成り、デリートパターン周期判定部
6は該パターン周期のパルスシフトを行なうシフトレジ
スタ61とAND回路62から成り、デリートパターン
数判定部7は、カウンタ71及びパターン数判定回路7
2がら成る。
幅設定部32、及びAND回路33がら成り、デリート
バクーンパルス幅判定部5は、カウンタ51及びパルス
幅判定回路52がら成り、デリートパターン周期判定部
6は該パターン周期のパルスシフトを行なうシフトレジ
スタ61とAND回路62から成り、デリートパターン
数判定部7は、カウンタ71及びパターン数判定回路7
2がら成る。
第2図は、前述のようにセクタフォーマットとデリート
パターンを示す。又第3図は、続出信号、ピークパルス
のタイミイングチャー、トを示す。
パターンを示す。又第3図は、続出信号、ピークパルス
のタイミイングチャー、トを示す。
記録されているデータを消去しようとする場合、〔従来
技術〕で述べたように、該当セクタに、第2図に示すよ
うなデリートパターンを重ね書きする。デリートパター
ンを検出するため、光学ヘッド1により読出されたアナ
ログ信号101は、入力が所定レベル101aを越える
が否がで、ハイ又はローレベル出力を発生する長大アナ
ログ波系デジタル化変換部2に供給され、該変換部2に
よりデジタル化(方形化)した信号102に変換され、
デリートパターン判定部4へ送出される。ここに送出さ
れてきた信号のパルス幅が、デリートパターンのパルス
幅であるか否かをパルス幅判定部5により判定し、判定
信号105を送出する。
技術〕で述べたように、該当セクタに、第2図に示すよ
うなデリートパターンを重ね書きする。デリートパター
ンを検出するため、光学ヘッド1により読出されたアナ
ログ信号101は、入力が所定レベル101aを越える
が否がで、ハイ又はローレベル出力を発生する長大アナ
ログ波系デジタル化変換部2に供給され、該変換部2に
よりデジタル化(方形化)した信号102に変換され、
デリートパターン判定部4へ送出される。ここに送出さ
れてきた信号のパルス幅が、デリートパターンのパルス
幅であるか否かをパルス幅判定部5により判定し、判定
信号105を送出する。
次に、デリートパターンのパルスであると判定された信
号105が、所定の周期で存在するが否かをパターン周
期判定部6により判定し、判定信号106を送出する。
号105が、所定の周期で存在するが否かをパターン周
期判定部6により判定し、判定信号106を送出する。
このパターンがデータを消去しようとしているセクタ内
に何回あったがを、パターン数判定部7によりカウント
し、所定の回数存在するとデリートパターンであると判
定し、検出信号107を送出し該当セクタのデータが消
去されている事が確認できる。
に何回あったがを、パターン数判定部7によりカウント
し、所定の回数存在するとデリートパターンであると判
定し、検出信号107を送出し該当セクタのデータが消
去されている事が確認できる。
分解能劣化時等、続出信号101をデジタル信号102
に変換した時、第3図の方形波1/ l O2に示す様
に、デリートパターンの長大と同じパルス列に見える事
がある。このパルス列を構成するパルスがデリートパタ
ーンの周期で所定の回数存在すると、前述のように、デ
リートパターンと誤検出してしまう。
に変換した時、第3図の方形波1/ l O2に示す様
に、デリートパターンの長大と同じパルス列に見える事
がある。このパルス列を構成するパルスがデリートパタ
ーンの周期で所定の回数存在すると、前述のように、デ
リートパターンと誤検出してしまう。
本実施例では、この誤検出を防止するために、ピークパ
ルス送出回路3、及び、埋込み回路として動作するOR
回路8を設ける。
ルス送出回路3、及び、埋込み回路として動作するOR
回路8を設ける。
光学ヘッド1からの読み出し信号(アナログ信号)10
1は、通常のように、長穴アナログ波形デジタル化回路
(方形化回路)2により、波形102に示すように方形
化される。読み出し信号101の一部はピークパルス送
出部3内のピーク検出器31に加わり、ここで第3図の
波形108に示すように、アナログ読出し信号101の
ピーク点に相当する位置にピークパルスをビット周期T
にほぼ等しい間隔で発生する。一方、マスク幅設定回路
32は、方形波信号102の各立上り時点から一定幅(
本実施例ではクロック周期即ち1ビット周期Tの2分の
1強)だけハイレベルとなるようなパルス列のマスキン
グ信号を発生する。このマスキング信号をピークパルス
108と共にアンド回路33に加えることにより、アン
ド回路からは、埋込み用のピークパルス103が出力さ
れる。このパルス103は、本来のデータ信号に基づく
方形化読出信号102の長穴化した部分102aに対応
する位置にのみ生じる。パルス103は、OR回路(埋
込回路)8で、方形信号102に逆極性で加えられ、こ
れにより第3図の104に示す埋込みされた方形波続出
信号が出力される。埋込まれた方形波続出信号104は
、図示のうよに、分解能劣化時等でも、長大パターン化
されることがないので、誤ってデリートパターンと認識
されることはない。
1は、通常のように、長穴アナログ波形デジタル化回路
(方形化回路)2により、波形102に示すように方形
化される。読み出し信号101の一部はピークパルス送
出部3内のピーク検出器31に加わり、ここで第3図の
波形108に示すように、アナログ読出し信号101の
ピーク点に相当する位置にピークパルスをビット周期T
にほぼ等しい間隔で発生する。一方、マスク幅設定回路
32は、方形波信号102の各立上り時点から一定幅(
本実施例ではクロック周期即ち1ビット周期Tの2分の
1強)だけハイレベルとなるようなパルス列のマスキン
グ信号を発生する。このマスキング信号をピークパルス
108と共にアンド回路33に加えることにより、アン
ド回路からは、埋込み用のピークパルス103が出力さ
れる。このパルス103は、本来のデータ信号に基づく
方形化読出信号102の長穴化した部分102aに対応
する位置にのみ生じる。パルス103は、OR回路(埋
込回路)8で、方形信号102に逆極性で加えられ、こ
れにより第3図の104に示す埋込みされた方形波続出
信号が出力される。埋込まれた方形波続出信号104は
、図示のうよに、分解能劣化時等でも、長大パターン化
されることがないので、誤ってデリートパターンと認識
されることはない。
又、ピークパルス108はデータの読出し信号のピーク
毎に(はぼビット周期毎に)検出されるので、そのまま
、ディジタル化(方形化)した信号102に埋込むと、
本来のデリートパターンのパルス幅まで短かくしてしま
うおそれがあるが、本実施例では、マスキング信号によ
り、本来のデリートパターンの長穴部では、ピークパル
スによる埋込みを行なわないようにしたので、パルス幅
を短かくするおそれはない。
毎に(はぼビット周期毎に)検出されるので、そのまま
、ディジタル化(方形化)した信号102に埋込むと、
本来のデリートパターンのパルス幅まで短かくしてしま
うおそれがあるが、本実施例では、マスキング信号によ
り、本来のデリートパターンの長穴部では、ピークパル
スによる埋込みを行なわないようにしたので、パルス幅
を短かくするおそれはない。
以上詳しく述べたように、本発明の光ディスクのデリー
トパターン検出回路によれば、読み出し信号のピーク点
を検出して得たピークパルスを、デジタル化(方形化)
された読出し信号に埋め込むようにしたので、たとえ、
この方形化された読出し信号のパターン(パルス幅、パ
ルスJil 3tJ] 、Hパルス数)が長大化されて
デリートパターンと一致するようなことがあっても、前
記方形化された読出し信号の長穴化された部分は断続波
形に変更されるため、この読出し信号を誤ってデリート
パターンとして検出することを防止し、本来のデリート
パターンのみを確実に検出する。ことができる等、優れ
た効果を奏する。
トパターン検出回路によれば、読み出し信号のピーク点
を検出して得たピークパルスを、デジタル化(方形化)
された読出し信号に埋め込むようにしたので、たとえ、
この方形化された読出し信号のパターン(パルス幅、パ
ルスJil 3tJ] 、Hパルス数)が長大化されて
デリートパターンと一致するようなことがあっても、前
記方形化された読出し信号の長穴化された部分は断続波
形に変更されるため、この読出し信号を誤ってデリート
パターンとして検出することを防止し、本来のデリート
パターンのみを確実に検出する。ことができる等、優れ
た効果を奏する。
第1図は本発明の光ディスクのデリートパターン検出回
路の一実施例におけるデリートパターン検出系のブロッ
ク図、第20はセクタフォーマットとデリートパターン
の対応関係を示す図、第3図は第1図の各部における波
形図である。 1・・・・・・光学ヘッド、2・・・・・・読出し信号
デジタル化(方形化)部、3・・・・・・ピークパルス
送出部、4・・・・・・デリートパターン判定部、5・
・・・・・パルス幅判定部、6・・・・・・パターン周
期判定部、7・・・・・・パターン数判定部、8・・・
・・・OR回路(ピークパルス埋込み回路)、9・・・
・・・デリートパターン検出回路。 手続補正帯 (自発) 第2図 33図 平成 1年
路の一実施例におけるデリートパターン検出系のブロッ
ク図、第20はセクタフォーマットとデリートパターン
の対応関係を示す図、第3図は第1図の各部における波
形図である。 1・・・・・・光学ヘッド、2・・・・・・読出し信号
デジタル化(方形化)部、3・・・・・・ピークパルス
送出部、4・・・・・・デリートパターン判定部、5・
・・・・・パルス幅判定部、6・・・・・・パターン周
期判定部、7・・・・・・パターン数判定部、8・・・
・・・OR回路(ピークパルス埋込み回路)、9・・・
・・・デリートパターン検出回路。 手続補正帯 (自発) 第2図 33図 平成 1年
Claims (1)
- 1、光ディスク上のセクタに所定のパルス幅、周期、及
びパルス数をもつデリートパターンを重ね書きすること
により該セクタのデータの消去を行なう手段と、読み出
し信号を所定スライスレベルで方形化する手段と、前記
方形化された信号のパルス幅、周期、及びパルス数を計
測することにより該方形化された信号中のデリートパタ
ーンを検出する手段とを有する光ディスクのデリートパ
ターン検出回路において、前記読み出し信号のピーク点
を検出して対応するピークパルスを発生する手段と、前
記ピークパルスを前記方形化された信号に埋め込む手段
とを備えたことを特徴とする光ディスクのデリートパタ
ーン検出回路。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63037438A JPH027234A (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 | 光デイスクのデリートパターン検出回路 |
| US07/312,972 US5029152A (en) | 1988-02-22 | 1989-02-21 | Apparatus for detecting delete patterns of optical discs |
| DE3905457A DE3905457A1 (de) | 1988-02-22 | 1989-02-22 | Vorrichtung zum erfassen von loeschmustern optischer platten |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63037438A JPH027234A (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 | 光デイスクのデリートパターン検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH027234A true JPH027234A (ja) | 1990-01-11 |
Family
ID=12497516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63037438A Pending JPH027234A (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 | 光デイスクのデリートパターン検出回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5029152A (ja) |
| JP (1) | JPH027234A (ja) |
| DE (1) | DE3905457A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5167451A (en) * | 1990-08-10 | 1992-12-01 | Hoechst Aktiengesellschaft | Method and device for the thermal shock test |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4861435B2 (ja) * | 2006-12-05 | 2012-01-25 | パイオニア株式会社 | 情報再生装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| CN109188889B (zh) * | 2018-10-24 | 2021-02-12 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种原子钟1pps时间同步方法和系统 |
| CN113327412B (zh) * | 2021-08-04 | 2021-11-16 | 深圳宇凡微电子有限公司 | 无线信号解码方法、装置、设备及系统 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4626933A (en) * | 1983-08-18 | 1986-12-02 | Amcodyne Incorporated | Method and apparatus for qualifying data |
| US4768181A (en) * | 1983-11-25 | 1988-08-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Apparatus for determining defective or non-used sectors of an optical dish |
| JPS61120380A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-07 | Sony Corp | デジタル信号処理回路 |
| JPS62125567A (ja) * | 1985-11-26 | 1987-06-06 | Csk Corp | 光記録媒体の角度変位修正方法 |
-
1988
- 1988-02-22 JP JP63037438A patent/JPH027234A/ja active Pending
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1989
- 1989-02-21 US US07/312,972 patent/US5029152A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-02-22 DE DE3905457A patent/DE3905457A1/de not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5167451A (en) * | 1990-08-10 | 1992-12-01 | Hoechst Aktiengesellschaft | Method and device for the thermal shock test |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5029152A (en) | 1991-07-02 |
| DE3905457A1 (de) | 1989-08-31 |
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