JPH0272549A - 表示装置の反射帯電防止膜および陰極線管 - Google Patents
表示装置の反射帯電防止膜および陰極線管Info
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- JPH0272549A JPH0272549A JP22402388A JP22402388A JPH0272549A JP H0272549 A JPH0272549 A JP H0272549A JP 22402388 A JP22402388 A JP 22402388A JP 22402388 A JP22402388 A JP 22402388A JP H0272549 A JPH0272549 A JP H0272549A
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- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/86—Vessels; Containers; Vacuum locks
- H01J29/867—Means associated with the outside of the vessel for shielding, e.g. magnetic shields
- H01J29/868—Screens covering the input or output face of the vessel, e.g. transparent anti-static coatings, X-ray absorbing layers
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- H01J29/89—Optical or photographic arrangements structurally combined or co-operating with the vessel
- H01J29/896—Anti-reflection means, e.g. eliminating glare due to ambient light
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2229/00—Details of cathode ray tubes or electron beam tubes
- H01J2229/89—Optical components associated with the vessel
- H01J2229/8913—Anti-reflection, anti-glare, viewing angle and contrast improving treatments or devices
- H01J2229/8918—Anti-reflection, anti-glare, viewing angle and contrast improving treatments or devices by using interference effects
Landscapes
- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
- Elimination Of Static Electricity (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
この発明は、表示装置の反射帯電防止膜および内面に蛍
光体スクリーンが形成されたガラスバルブの外表面に反
射帯電防止膜が形成された陰極線管に関する。
光体スクリーンが形成されたガラスバルブの外表面に反
射帯電防止膜が形成された陰極線管に関する。
(従来の技術)
陰極線管の蛍光体スクリーンに高圧を印加するとき、過
渡的にこの蛍光体スクリーンに対向するガラスバルブの
外表面が帯電する。この帯電を防止するために、その外
表面に透明導電膜からなる帯電防止膜を形成した陰極線
管があることは既知である。また、その透明導電膜材料
として、SnO□やsbをドープしたSnO,(SnO
,: Sb)、あるいはIn2O3やSnをドープした
In2O,(In2O3: Sn) (ITO)などが
あることは古くから知られている。
渡的にこの蛍光体スクリーンに対向するガラスバルブの
外表面が帯電する。この帯電を防止するために、その外
表面に透明導電膜からなる帯電防止膜を形成した陰極線
管があることは既知である。また、その透明導電膜材料
として、SnO□やsbをドープしたSnO,(SnO
,: Sb)、あるいはIn2O3やSnをドープした
In2O,(In2O3: Sn) (ITO)などが
あることは古くから知られている。
しかし、これら透明導電膜材料は、屈折率が約2.0と
高いため、 これを屈折率が約1.52であるガラス面
上に形成すると、正反射率が増大する。
高いため、 これを屈折率が約1.52であるガラス面
上に形成すると、正反射率が増大する。
第8図および第9図は、その正反射率の増大を説明する
ために示した図面であり、第8図(a)乃至(h)の曲
線のおよび■は、それぞれ透明導電膜SnO2について
、その膜厚dを変化させたときの入射角O°および30
°の平面波入射光(入射角30゜の場合はS波とp波の
平均値)の反射スペクトルR(λ)を計算で求めたもの
であり、第9図の曲線■は、第8図の垂直入射(入射角
0”)の反射スペクトルR(λ)から下記0式で求めら
れる視感正反射率RJu1mを膜厚dの関数として表し
たものであり、この曲線■上の点(a)〜(h)は、膜
厚dに関し第8図の(a)乃至(h)図に対応している
。
ために示した図面であり、第8図(a)乃至(h)の曲
線のおよび■は、それぞれ透明導電膜SnO2について
、その膜厚dを変化させたときの入射角O°および30
°の平面波入射光(入射角30゜の場合はS波とp波の
平均値)の反射スペクトルR(λ)を計算で求めたもの
であり、第9図の曲線■は、第8図の垂直入射(入射角
0”)の反射スペクトルR(λ)から下記0式で求めら
れる視感正反射率RJu1mを膜厚dの関数として表し
たものであり、この曲線■上の点(a)〜(h)は、膜
厚dに関し第8図の(a)乃至(h)図に対応している
。
」2.。 J31゜
ただしi(λ)は標準比視感度
λは波長(単位: nm)
この第9図の曲線■かられかるように視感正反射率RJ
u11は。
u11は。
nd = 園λ/2
・・・■
ただしnは屈折率(Snowの場合n=2.0)mは正
の整数(m=t+zt3t”’)のとき極小値となるが
、その値は、ガラス面のみ(d = O)の場合のRj
um=4.3%より高く、反射特性は必ず劣化する。
の整数(m=t+zt3t”’)のとき極小値となるが
、その値は、ガラス面のみ(d = O)の場合のRj
um=4.3%より高く、反射特性は必ず劣化する。
この反射特性の劣化を解決する手段として、特開昭49
−74879号公報、特公昭53−28214号公報、
実開昭61−381号公報、特開昭60−168102
号公報、特開昭60−168899号公報などには、多
層反射防止膜の少なくとも一層にIn、03やITOな
どの透明導電膜を用いて、反射防止と帯電防止を両立さ
せたものが示されている。これらの各公報の開示技術の
共通点は、いずれも真空蒸着やスパッタリングで平滑膜
を成膜し、干渉効果のみによって反射防止を実現させて
いること、また、透明導電膜の膜厚は。
−74879号公報、特公昭53−28214号公報、
実開昭61−381号公報、特開昭60−168102
号公報、特開昭60−168899号公報などには、多
層反射防止膜の少なくとも一層にIn、03やITOな
どの透明導電膜を用いて、反射防止と帯電防止を両立さ
せたものが示されている。これらの各公報の開示技術の
共通点は、いずれも真空蒸着やスパッタリングで平滑膜
を成膜し、干渉効果のみによって反射防止を実現させて
いること、また、透明導電膜の膜厚は。
nd = aλ/4
・・・■
を基調としており、膜厚dが数百Å以上と厚いことであ
る。
る。
これらのなかで、特に実開昭61−381号公報の開示
技術について述べると、この公報では、第10図に示す
ように、透明プラスチック基板四の一方の面に反応性マ
グネトロンスパッタリング法によって、厚さ1200人
(ndy議λ/2)の透明導電膜■(ITO)を成膜し
、 その上に同様の方法により厚さ750人(n’ d
cw 鵬λ/4)のSin、層■を形成している。
技術について述べると、この公報では、第10図に示す
ように、透明プラスチック基板四の一方の面に反応性マ
グネトロンスパッタリング法によって、厚さ1200人
(ndy議λ/2)の透明導電膜■(ITO)を成膜し
、 その上に同様の方法により厚さ750人(n’ d
cw 鵬λ/4)のSin、層■を形成している。
この場合、ITOの抵抗率ρは約10″″1Ω1である
ので、透明導電膜■の表面抵抗rは、 r=10” 〜10”Ω/d となり、十分な導電性をもつ、また1反射率についても
透明導電膜■およびSiO□層(へ)の膜厚を適正に制
御すれば−RJIIII< 1%と十分な反射防止特性
を示すことが予測できる。しかし、一般的にこのような
多層平滑膜は干渉色を生ずるという問題がある。すなわ
ちこの第10図示の膜構造では、膜厚が最適のときの反
射色は青色であるが、たとえばSin、層(へ)の膜厚
がわずか100人程度薄くなっただけでも、反射色はマ
ゼンダ乃至赤色へと大きく変化する。したがって、膜厚
制御が不十分であると。
ので、透明導電膜■の表面抵抗rは、 r=10” 〜10”Ω/d となり、十分な導電性をもつ、また1反射率についても
透明導電膜■およびSiO□層(へ)の膜厚を適正に制
御すれば−RJIIII< 1%と十分な反射防止特性
を示すことが予測できる。しかし、一般的にこのような
多層平滑膜は干渉色を生ずるという問題がある。すなわ
ちこの第10図示の膜構造では、膜厚が最適のときの反
射色は青色であるが、たとえばSin、層(へ)の膜厚
がわずか100人程度薄くなっただけでも、反射色はマ
ゼンダ乃至赤色へと大きく変化する。したがって、膜厚
制御が不十分であると。
表示面の各部で反射色が相違したり1表示装置ごとに反
射色が異なるなどの問題を生ずる。そのため、このよう
な多層平滑膜を用いる場合は、真空蒸着やスパッタリン
グなどの高精度の膜厚制御が可能な方法でおこなわれな
ければならず、製造能率の低下や製造コストの高騰をま
ねくことになる。
射色が異なるなどの問題を生ずる。そのため、このよう
な多層平滑膜を用いる場合は、真空蒸着やスパッタリン
グなどの高精度の膜厚制御が可能な方法でおこなわれな
ければならず、製造能率の低下や製造コストの高騰をま
ねくことになる。
比較的低いコストで同様の透明導電膜を形成する例が特
開昭59−168951号公報に示されている。
開昭59−168951号公報に示されている。
これは、真空蒸着のほかにデイツプ法でも第10図示の
構造と類似構造の透明導電膜が得られ、膜厚を200〜
1000人に抑えることによって、干渉色を制御できる
としている。しかし、膜厚を薄くしても、デイツプ法の
ような簡便な成膜法で膜厚を制御しながら二層平滑層の
干渉色を抑制することは容易でなく、実際上はとんど不
可能に近い。
構造と類似構造の透明導電膜が得られ、膜厚を200〜
1000人に抑えることによって、干渉色を制御できる
としている。しかし、膜厚を薄くしても、デイツプ法の
ような簡便な成膜法で膜厚を制御しながら二層平滑層の
干渉色を抑制することは容易でなく、実際上はとんど不
可能に近い。
また、透明導電膜の膜厚をnd=mλ/4より薄くして
、干渉色のばらつきを軽減しようとする技術がある0例
えば特開昭59−90801号公報には、反射防止多層
膜上にnd=10〜300人のITO膜を蒸着すること
により、反射特性を損なうことなく導電性を付与できる
ことが示されている。しかし、この場合も、下層の反射
防止多層膜は、良好な反射率や反射色特性を得るために
は、真空蒸着やスパッタリングなどで形成する必要があ
り、コスト高となる。
、干渉色のばらつきを軽減しようとする技術がある0例
えば特開昭59−90801号公報には、反射防止多層
膜上にnd=10〜300人のITO膜を蒸着すること
により、反射特性を損なうことなく導電性を付与できる
ことが示されている。しかし、この場合も、下層の反射
防止多層膜は、良好な反射率や反射色特性を得るために
は、真空蒸着やスパッタリングなどで形成する必要があ
り、コスト高となる。
上述の各方法は1反射防止特性を干渉効果のみにより得
ようとするものであるが、このほかに、反射防止手段と
しては1表示面に凹凸を設けて、拡散効果により反射像
をぼかす方法がある。しかし、 このように単純に凹凸
面上にSnO,やITOなどの透明導電膜を形成すると
いう容易に考えられる方法には限界がある。
ようとするものであるが、このほかに、反射防止手段と
しては1表示面に凹凸を設けて、拡散効果により反射像
をぼかす方法がある。しかし、 このように単純に凹凸
面上にSnO,やITOなどの透明導電膜を形成すると
いう容易に考えられる方法には限界がある。
すなわち、凹凸面によって反射を抑制する場合は、相当
する平滑面の視感正反射率が5.5%を越えるときは、
極端な凹凸をつける必要があり、結果的に表示画面の解
像度を劣化させるなどの問題をおこす、そのため、透明
導電膜の膜厚dは、第9図より、 ndx 11λ/2(第9図の点(f))または。
する平滑面の視感正反射率が5.5%を越えるときは、
極端な凹凸をつける必要があり、結果的に表示画面の解
像度を劣化させるなどの問題をおこす、そのため、透明
導電膜の膜厚dは、第9図より、 ndx 11λ/2(第9図の点(f))または。
46100人(第9図の点(b))
とせざるを得なくなる。ndwm L / 2の場合は
、平滑面の場合と同様に膜厚制御のため、コストのがか
る成膜法が必要となる。また、46100人の場合は、
導電膜が島構造となりやすく、良好な導電性をもつ透明
導電膜とすることがむつかしい。
、平滑面の場合と同様に膜厚制御のため、コストのがか
る成膜法が必要となる。また、46100人の場合は、
導電膜が島構造となりやすく、良好な導電性をもつ透明
導電膜とすることがむつかしい。
また、高屈折率の導電膜を用いずに、凹凸面に導電性を
付与する方法がある。たとえば特開昭62−37850
号公報には、凹凸面上に5iCjt、やアルキルシケー
ト類のアルコール溶液を、デイツプ、ロールコート、ス
ピナーコートなどの方法により平滑に塗布したのち、常
温で自然乾燥する方法が示されている。しかし、この導
電膜は、 Sin、内に存在するシラノール基(−3L
・・・011)の吸湿性に基づく導電機構を利用してい
るため、導電性能に湿度依存性があったり、あるいはシ
ラノール基が湿度環境に対して不安定であるなどの問題
がある。
付与する方法がある。たとえば特開昭62−37850
号公報には、凹凸面上に5iCjt、やアルキルシケー
ト類のアルコール溶液を、デイツプ、ロールコート、ス
ピナーコートなどの方法により平滑に塗布したのち、常
温で自然乾燥する方法が示されている。しかし、この導
電膜は、 Sin、内に存在するシラノール基(−3L
・・・011)の吸湿性に基づく導電機構を利用してい
るため、導電性能に湿度依存性があったり、あるいはシ
ラノール基が湿度環境に対して不安定であるなどの問題
がある。
また、実公昭49−24211号公報には、第11図に
示すように、ブラウン管のガラスバルブのフェースプレ
ート■の外表面に透明導電膜■を形成し。
示すように、ブラウン管のガラスバルブのフェースプレ
ート■の外表面に透明導電膜■を形成し。
この透明導電膜■上にアルカリけい酸塩の保護被膜(ハ
)を形成したものが示されている。この透明導電膜■は
スプレィなどで形成され、その上に、たとえばSin、
/ K、 0のモル比が3.4の10%アルカリけい
酸塩水溶液をノズル内径0.4mm のスプレィガンに
よりスプレィして保護被膜0を形成し、被膜形成後、約
450℃の温度で30分熱処理して固化したものである
。
)を形成したものが示されている。この透明導電膜■は
スプレィなどで形成され、その上に、たとえばSin、
/ K、 0のモル比が3.4の10%アルカリけい
酸塩水溶液をノズル内径0.4mm のスプレィガンに
よりスプレィして保護被膜0を形成し、被膜形成後、約
450℃の温度で30分熱処理して固化したものである
。
この例では、成膜法としてスプレィ法を採用しているの
で、膜表面は、平滑でなく、ある程度の凹凸面をもった
反射防止膜となることが予測され、しかも、比較的低コ
ストで反射帯電防止膜が得られる可能性がある。しかし
、この方法は、アルカリけい酸塩水溶液を使用し、かつ
その溶液粘度が比較的高いことから、スプレィ方法を如
何に工夫しても、解像度などの光学特性を良好にする微
細凹凸膜とすることが容易でない、また、アルカリを含
むSin、の屈折率は、一般に5in3のみの屈折率(
約1.46)よりも高いので、二層構造による反射防止
効果を軽減する。さらに、スプレィ法で膜厚200人前
後の透明導電膜■を形成することは不可能に近い。
で、膜表面は、平滑でなく、ある程度の凹凸面をもった
反射防止膜となることが予測され、しかも、比較的低コ
ストで反射帯電防止膜が得られる可能性がある。しかし
、この方法は、アルカリけい酸塩水溶液を使用し、かつ
その溶液粘度が比較的高いことから、スプレィ方法を如
何に工夫しても、解像度などの光学特性を良好にする微
細凹凸膜とすることが容易でない、また、アルカリを含
むSin、の屈折率は、一般に5in3のみの屈折率(
約1.46)よりも高いので、二層構造による反射防止
効果を軽減する。さらに、スプレィ法で膜厚200人前
後の透明導電膜■を形成することは不可能に近い。
(発明が解決しようとする課題)
上記のように、従来より反射帯電防止膜の反射防止特性
を干渉効果のみにより得ようとしたもの、および凹凸面
とすることにより反射を抑制するようにしたものとがあ
る。しかし、いずれの反射帯電防止膜も反射率が低く、
したがって、反射干渉色を生ぜず、解像度の劣化が少な
く、かつ耐湿性のよい反射帯電防止膜を容易に低コスト
で得ることが困難である。
を干渉効果のみにより得ようとしたもの、および凹凸面
とすることにより反射を抑制するようにしたものとがあ
る。しかし、いずれの反射帯電防止膜も反射率が低く、
したがって、反射干渉色を生ぜず、解像度の劣化が少な
く、かつ耐湿性のよい反射帯電防止膜を容易に低コスト
で得ることが困難である。
特に凹凸面によって反射を抑制するものとして、透明導
電膜上にアルカリけい酸塩の保護被膜を形成したものが
あるが、この保護被膜は、比較的粘度の高いアルカリけ
い酸塩水溶液をスプレィして形成するものであるため、
そのスプレィ方法を如何に工夫しても、解像度などの光
学特性を良好にする微細凹凸構造とすることかむつがし
い、また。
電膜上にアルカリけい酸塩の保護被膜を形成したものが
あるが、この保護被膜は、比較的粘度の高いアルカリけ
い酸塩水溶液をスプレィして形成するものであるため、
そのスプレィ方法を如何に工夫しても、解像度などの光
学特性を良好にする微細凹凸構造とすることかむつがし
い、また。
アルカリを含むSin、の屈折率は、一般に5iOz
(石英ガラス)のみの屈折率よりも高いことから、二層
構造による反射防止効果を軽減する。さらに、スプレィ
法で膜厚200人前後の透明導電膜を形成することがほ
とんど不可能であるなどの問題がある。
(石英ガラス)のみの屈折率よりも高いことから、二層
構造による反射防止効果を軽減する。さらに、スプレィ
法で膜厚200人前後の透明導電膜を形成することがほ
とんど不可能であるなどの問題がある。
この発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、
従来の反射帯電防止膜の問題点を解決して5反射防止特
性と帯電防止特性の双方を実用上満足する凹凸膜からな
る表示装置の反射帯電防止膜を得ること、およびかかる
反射帯電防止膜を形成された陰極線管を得ることを目的
とする。
従来の反射帯電防止膜の問題点を解決して5反射防止特
性と帯電防止特性の双方を実用上満足する凹凸膜からな
る表示装置の反射帯電防止膜を得ること、およびかかる
反射帯電防止膜を形成された陰極線管を得ることを目的
とする。
(111題を解決するための手段)
表示装置の反射帯電防止膜にお・いて、その表示面のガ
ラス基体の外表面にSnO□またはIn、0.を主成分
とする膜厚100〜250人の透明導電膜を形成し、こ
の透明導電膜上に5insを主成分とする微細凹凸膜を
形成して反射帯電防止膜とした。
ラス基体の外表面にSnO□またはIn、0.を主成分
とする膜厚100〜250人の透明導電膜を形成し、こ
の透明導電膜上に5insを主成分とする微細凹凸膜を
形成して反射帯電防止膜とした。
また、特に内面に蛍光体スクリーンが形成された陰極線
管のガラスバルブの外表面にその反射帯電防止膜を形成
したものである。
管のガラスバルブの外表面にその反射帯電防止膜を形成
したものである。
(作用)
上記のように、反射帯電防止膜をSnO,またはIr+
、 o、を主成分とする膜厚100〜250人の透明導
電膜と、その上に形成されたSiO□を主成分とする微
細凹凸膜とから構成すると、上記膜厚の透明導電膜は、
干渉により反射率が激しく変化する。したがって、その
上にSiO2を主成分とする平滑膜を形成するときは、
その透明導電膜の膜厚を高精度に制御することが必要で
あるが、このSiO□を主成分とする微細凹凸膜を形成
すると、その膜厚がランダムとなることから、その凹凸
膜の平均化作用によって、高精度の膜厚制御をおこなわ
ないでも。
、 o、を主成分とする膜厚100〜250人の透明導
電膜と、その上に形成されたSiO□を主成分とする微
細凹凸膜とから構成すると、上記膜厚の透明導電膜は、
干渉により反射率が激しく変化する。したがって、その
上にSiO2を主成分とする平滑膜を形成するときは、
その透明導電膜の膜厚を高精度に制御することが必要で
あるが、このSiO□を主成分とする微細凹凸膜を形成
すると、その膜厚がランダムとなることから、その凹凸
膜の平均化作用によって、高精度の膜厚制御をおこなわ
ないでも。
実用上満足できる反射防止特性と帯電防止特性とを備え
る反射1fi電防止膜とすることができる。
る反射1fi電防止膜とすることができる。
(実施例)
以下1図面を参照してこの発明を実施例に基づいて説明
する。
する。
第1図にこの発明の一実施例である表示装置の反射帯電
防止膜を示す、この反射帯電防止膜は。
防止膜を示す、この反射帯電防止膜は。
表示装置の表示面であるガラス基板(10)上に、たと
えばCVD (Cha+aical Vapor De
position)法により成膜したSnO,、SnO
,: Sb、 In20=またはITOを主成分とする
透明導電膜(11)と、この透明導電膜(11)上に5
L(OR)4(けい素のアルコレート)(Rはアルキル
基)またはその多量体を主成分とするアルコール溶液を
スプレィし、その後、約200℃で焼成して得られたS
iO2を主成分とする微細な凹凸膜(12)とからなる
二層構造に形成されている。
えばCVD (Cha+aical Vapor De
position)法により成膜したSnO,、SnO
,: Sb、 In20=またはITOを主成分とする
透明導電膜(11)と、この透明導電膜(11)上に5
L(OR)4(けい素のアルコレート)(Rはアルキル
基)またはその多量体を主成分とするアルコール溶液を
スプレィし、その後、約200℃で焼成して得られたS
iO2を主成分とする微細な凹凸膜(12)とからなる
二層構造に形成されている。
上記透明導電膜(11)の膜厚d2は、所望の反射特性
および導電特性を確保するために、 100〜200人
と比較的薄く抑えである。また、凹凸膜(12)の膜厚
d1は、平均膜厚d工^Vで1000人程度であり、そ
の凹凸ピッチPは15〜201m、凹凸高さは、表面粗
さRZで0.5μs程度である。
および導電特性を確保するために、 100〜200人
と比較的薄く抑えである。また、凹凸膜(12)の膜厚
d1は、平均膜厚d工^Vで1000人程度であり、そ
の凹凸ピッチPは15〜201m、凹凸高さは、表面粗
さRZで0.5μs程度である。
なお、上記透明導電膜(11)の成膜は、 CVD法
のほか、加水分解法(ゾル−ゲル法)や真空蒸着法でも
おこなうことができる。
のほか、加水分解法(ゾル−ゲル法)や真空蒸着法でも
おこなうことができる。
この反射帯電防止膜は、上層のSiO□を主成分とする
凹凸膜(12)の屈折率n□が約1.46と純粋のSi
O□に近く、下層のSnO□を主成分とする透明導電膜
(11)(屈折率n2が約2.0)とともに二層の反射
防止膜を形成して、干渉効果により反射率を低減すると
ともに、 5in2膜の凹凸構造による拡散効果によっ
て反射像をぼかす作用効果をもつ。
凹凸膜(12)の屈折率n□が約1.46と純粋のSi
O□に近く、下層のSnO□を主成分とする透明導電膜
(11)(屈折率n2が約2.0)とともに二層の反射
防止膜を形成して、干渉効果により反射率を低減すると
ともに、 5in2膜の凹凸構造による拡散効果によっ
て反射像をぼかす作用効果をもつ。
この反射帯電防止膜の作用効果をさらに詳しく説明する
と下記のとおりである。
と下記のとおりである。
第3図の曲線(14)および(15)は、それぞれガラ
ス基板(屈折率n、1.52)上に5no2(屈折率n
、2.0)およびSin、 (屈折率n、1.46)か
らなる二層平滑膜を形成し、そのSnO2の膜厚d2を
200人とし、 SiO□の膜厚d1を変化させたと
きの入射角0″および30’の平面波入射光の反射スペ
クトルR(λ)の計算値を示したものであり、(a)は
Sun、膜がない場合(膜厚d、==O)、(b)乃至
(d)はガラス基板上にSnO,を下層、 SiO2を
上層にして二層平滑膜(ガラス/SnO□/ SiO□
構造)を形成した場合、(e)乃至(g)はガラス基板
上にSiO2を下層、 SnO2を上層にして二層平滑
膜(ガラス/SiO□/ S n Oz構造)を形成し
た場合である。上記第1図に示した反射帯電防止膜は、
上記SiO2を上層とする(b)乃至(d)の膜構造に
対応する。第4図は、第3図の垂直入射(入射角0°)
の反射スペクトルR(λ)から前記■式により求めた視
感正反射率Rjullをd、の関数として示したもので
あり、曲M(16)はガラス/ S n 02 / S
x O@構造の視感正反射率RJu11を、また1曲
線(17)はガラス/ S iOz / S n O□
膜構造視感正反射率RJullを示している。なお、各
曲線(16)、 (17)上の点(a)〜(g)は、膜
厚d1に関して第3図(a)〜(g)図に対応している
。
ス基板(屈折率n、1.52)上に5no2(屈折率n
、2.0)およびSin、 (屈折率n、1.46)か
らなる二層平滑膜を形成し、そのSnO2の膜厚d2を
200人とし、 SiO□の膜厚d1を変化させたと
きの入射角0″および30’の平面波入射光の反射スペ
クトルR(λ)の計算値を示したものであり、(a)は
Sun、膜がない場合(膜厚d、==O)、(b)乃至
(d)はガラス基板上にSnO,を下層、 SiO2を
上層にして二層平滑膜(ガラス/SnO□/ SiO□
構造)を形成した場合、(e)乃至(g)はガラス基板
上にSiO2を下層、 SnO2を上層にして二層平滑
膜(ガラス/SiO□/ S n Oz構造)を形成し
た場合である。上記第1図に示した反射帯電防止膜は、
上記SiO2を上層とする(b)乃至(d)の膜構造に
対応する。第4図は、第3図の垂直入射(入射角0°)
の反射スペクトルR(λ)から前記■式により求めた視
感正反射率Rjullをd、の関数として示したもので
あり、曲M(16)はガラス/ S n 02 / S
x O@構造の視感正反射率RJu11を、また1曲
線(17)はガラス/ S iOz / S n O□
膜構造視感正反射率RJullを示している。なお、各
曲線(16)、 (17)上の点(a)〜(g)は、膜
厚d1に関して第3図(a)〜(g)図に対応している
。
この第4図の曲線(17)かられかるように、ガラス/
Sun、 / SnO,構造の視感正反射率RJul
lは、常にガラス基板の反射率(約4.3%)より高く
、同図面中に直線(17a)で示したように平均的にも
RjumAV=7.6%であり、反射特性が悪いことが
わかる。
Sun、 / SnO,構造の視感正反射率RJul
lは、常にガラス基板の反射率(約4.3%)より高く
、同図面中に直線(17a)で示したように平均的にも
RjumAV=7.6%であり、反射特性が悪いことが
わかる。
これに対し、ガラス/SnO,/Sin、構造の視感正
反射率Rは−RJum=0.6〜9.6%と干渉による
反射率の変化が激しく、たとえば膜厚d1を点(c)で
示した1200人とすると、RJLIヨ=0.6%とな
り、 前記第1θ図に示した膜構造の反射防止特性に類
似した特性を示す、したがって、所要の反射防止膜とす
るためには、高精度の膜厚制御が必要となる。しかし、
第1図に示した反射帯電防止膜のように表面積のSin
、膜を微細な凹凸膜(21)とし、その膜厚d0をラン
ダムとすると、その凹凸膜(12)の平均化作用により
高精度の膜厚制御が不必要となる。この場合、平均的な
反射率RJumAVは、直線(16a)で示したように
5.1%となり、 ガラス基板のそれよりもやや高い値
となるが、凹凸膜(12)の拡散効果により実用的に必
要とする反射防止特性RJum<5.5%を満足するも
のとなる。
反射率Rは−RJum=0.6〜9.6%と干渉による
反射率の変化が激しく、たとえば膜厚d1を点(c)で
示した1200人とすると、RJLIヨ=0.6%とな
り、 前記第1θ図に示した膜構造の反射防止特性に類
似した特性を示す、したがって、所要の反射防止膜とす
るためには、高精度の膜厚制御が必要となる。しかし、
第1図に示した反射帯電防止膜のように表面積のSin
、膜を微細な凹凸膜(21)とし、その膜厚d0をラン
ダムとすると、その凹凸膜(12)の平均化作用により
高精度の膜厚制御が不必要となる。この場合、平均的な
反射率RJumAVは、直線(16a)で示したように
5.1%となり、 ガラス基板のそれよりもやや高い値
となるが、凹凸膜(12)の拡散効果により実用的に必
要とする反射防止特性RJum<5.5%を満足するも
のとなる。
第5図の各曲線(18a) 〜(18d)は、ガラス/
SnO□/5iot構造について、 SnO□膜の膜厚
d2をパラメーターとして、di = 0 、100人
、200人、300人の場合の視感正反射率RJ工をS
in、の膜厚d1の関数として求めたものである。また
、第6図(a)および(b)の各曲線(19a) 〜(
19d)および(20a) 〜(20d)は、それぞれ
同じくガラス/SnO,/SiO□構造について、反射
色(X*y)のd1依存性を求めたものである。
SnO□/5iot構造について、 SnO□膜の膜厚
d2をパラメーターとして、di = 0 、100人
、200人、300人の場合の視感正反射率RJ工をS
in、の膜厚d1の関数として求めたものである。また
、第6図(a)および(b)の各曲線(19a) 〜(
19d)および(20a) 〜(20d)は、それぞれ
同じくガラス/SnO,/SiO□構造について、反射
色(X*y)のd1依存性を求めたものである。
上記第5図かられかるようにガラス/SnO,/SiO
□構造の膜は、 SnO□膜の膜厚d2の増加にともな
い、干渉効果が急激に増大して反射率が増加する。また
、第6図かられかるように、SnO□膜の膜厚d2の増
加にともない、膜厚d1による反射色の変化が急激に増
大する。この二層平滑膜における反射色の膜厚依存性は
、実用上致命的であり、d2またはd。
□構造の膜は、 SnO□膜の膜厚d2の増加にともな
い、干渉効果が急激に増大して反射率が増加する。また
、第6図かられかるように、SnO□膜の膜厚d2の増
加にともない、膜厚d1による反射色の変化が急激に増
大する。この二層平滑膜における反射色の膜厚依存性は
、実用上致命的であり、d2またはd。
が設計値かられずかにずれただけで1反射色は可視域の
一端から他端へと大きく変化する。
一端から他端へと大きく変化する。
しかし、第1図に示したこの例の反射帯電防止膜は、ガ
ラス/ SnO,/ 5iO1構造のsio、lIを凹
凸構造として膜厚をランダムとすることにより、反射色
もまた膜厚d1の平均的な値となり、略白色(X=yα
0.3)とすることができる。
ラス/ SnO,/ 5iO1構造のsio、lIを凹
凸構造として膜厚をランダムとすることにより、反射色
もまた膜厚d1の平均的な値となり、略白色(X=yα
0.3)とすることができる。
また、この例の反射帯電防止膜の形成に用いられるSi
(OR)4のアルコール溶液は、低粘度であるため、ス
プレィガンの空気圧や液圧、スプレィ量。
(OR)4のアルコール溶液は、低粘度であるため、ス
プレィガンの空気圧や液圧、スプレィ量。
基板温度などを適宜制御することにより、凹凸ピッチP
を約5amまで容易に微細化できる。一般に。
を約5amまで容易に微細化できる。一般に。
凹凸ピッチがp>iooImのとき、眼の分解能上。
反射光に凹凸構造の色縞が観測されることがあるが、p
く50μsの場合は観測されることはなく、観測者には
、平均的な反射色として白色に感知されるようになる。
く50μsの場合は観測されることはなく、観測者には
、平均的な反射色として白色に感知されるようになる。
すなわち、第1図に示した反射帯電防止膜のようにSn
O,膜の凹凸ピッチをp(504とすることにより、色
縞の微細構造の観測を防止できる。
O,膜の凹凸ピッチをp(504とすることにより、色
縞の微細構造の観測を防止できる。
第7図の曲線(21a)〜(2ic)は、それぞれ第5
図から求められるSin、の膜厚d1に対する視感正反
射率Rjullの最大値、最小値および平均値をSnO
□の膜厚d2の関数として求めたものである。なお、曲
線(22)は参考のために示したd=0.すなわちSi
n。
図から求められるSin、の膜厚d1に対する視感正反
射率Rjullの最大値、最小値および平均値をSnO
□の膜厚d2の関数として求めたものである。なお、曲
線(22)は参考のために示したd=0.すなわちSi
n。
膜をもたないSnO,のみの場合の計算値である。
SlO□膜をもたないSnO,のみの場合は、前述した
ようにガラス基体の凹凸構造の拡散効果によって反射像
をぼかしても、実用的な反射防止効果を得るためには、 RjLl園≦5・5% すなわち。
ようにガラス基体の凹凸構造の拡散効果によって反射像
をぼかしても、実用的な反射防止効果を得るためには、 RjLl園≦5・5% すなわち。
d8≦110人
とする必要がある。また、透明導電膜が島構造とならず
に1表面抵抗をr≦101Ω/dとして十分な帯電防止
効果を得るためには。
に1表面抵抗をr≦101Ω/dとして十分な帯電防止
効果を得るためには。
d、2100人
とする必要がある。したがって、第7図に曲線(22)
で示したSnO,−層の場合には。
で示したSnO,−層の場合には。
100人≦d2 ≦110人
が必要となり、この膜厚d8の制御上、反射防止と帯電
防止とを両立させることがいちじるしく困難である。
防止とを両立させることがいちじるしく困難である。
これに対し、第1図に示したこの例の反射帯電防止膜の
場合は、第7図の曲線(21C)から。
場合は、第7図の曲線(21C)から。
100人≦d2≦220人 ・・・
に)が必要条件となって、この範囲で反射帯電防止膜を
形成すればよく、したがって、所要の反射帯電防止膜を
容易に形成することができる。
に)が必要条件となって、この範囲で反射帯電防止膜を
形成すればよく、したがって、所要の反射帯電防止膜を
容易に形成することができる。
以上、この例の反射帯電防止膜の作用効果を透明導電膜
を屈折率ni= 2.0のSnO□で形成する場合につ
いて述べたが、この反射帯電防止膜の作用効果は、透明
導電膜がSnO,: Sb、 In、Qi 、 ITQ
の場合も略同じように得られる。これら透明導電膜の場
合は、屈折率がn2=2.0±0.1の範囲にあるため
、この範囲で実用的な反射帯電防止膜を得るために必要
な膜厚範囲は一般的に 100人≦4≦250人 ・・・(
ハ)と定めることができる。
を屈折率ni= 2.0のSnO□で形成する場合につ
いて述べたが、この反射帯電防止膜の作用効果は、透明
導電膜がSnO,: Sb、 In、Qi 、 ITQ
の場合も略同じように得られる。これら透明導電膜の場
合は、屈折率がn2=2.0±0.1の範囲にあるため
、この範囲で実用的な反射帯電防止膜を得るために必要
な膜厚範囲は一般的に 100人≦4≦250人 ・・・(
ハ)と定めることができる。
つぎに、上記表示装置の具体例として、陰極線管につい
て述べる。この陰極線管は、第2図に示すように、ガラ
スバルブ(24)のフェースプレート(25)の外表面
に、その内面の高電圧が印加される蛍光体スクリーン(
26)に対向して反射帯電防止膜(27)が形成されて
いる。この反射帯電防止膜(27)は、 Snow :
Sbを主成分とする透明導電膜(11)と、この透明
導電膜(11)上に形成されたSiO□を主成分とする
微細凹凸膜(12)とからなる二層構造であることは、
前記表示装置と同じである。
て述べる。この陰極線管は、第2図に示すように、ガラ
スバルブ(24)のフェースプレート(25)の外表面
に、その内面の高電圧が印加される蛍光体スクリーン(
26)に対向して反射帯電防止膜(27)が形成されて
いる。この反射帯電防止膜(27)は、 Snow :
Sbを主成分とする透明導電膜(11)と、この透明
導電膜(11)上に形成されたSiO□を主成分とする
微細凹凸膜(12)とからなる二層構造であることは、
前記表示装置と同じである。
この陰極線管の反射帯電防止膜の形成は、まず、ガラス
バルブ(24)を約460’Cに加熱し、 これにCV
D法により、気化器中で200℃に加熱された(CH,
)、5nCQ、とsbcらの混合蒸気(sbCLを約1
vt%混合)をスプレィして、膜厚約100〜200人
のSnO,:sbからなる透明導電膜(11)を形成す
る。つぎに。
バルブ(24)を約460’Cに加熱し、 これにCV
D法により、気化器中で200℃に加熱された(CH,
)、5nCQ、とsbcらの混合蒸気(sbCLを約1
vt%混合)をスプレィして、膜厚約100〜200人
のSnO,:sbからなる透明導電膜(11)を形成す
る。つぎに。
通常の陰極線管の製造方法にしたがって、この透明導電
膜(11)の形成されたフェースプレート(25)の内
面に所定の蛍光体スクリーン(26)を形成し。
膜(11)の形成されたフェースプレート(25)の内
面に所定の蛍光体スクリーン(26)を形成し。
さらに電子銃(28)封止、排気、防爆処理などを経て
陰極線管を製造する。その後、この陰極線管のフェース
プレート(25)外表面を洗浄し、60℃に加熱したの
ち、 ノズル径0.4醜の2流体噴霧スプレィガンによ
り、5i(oc2Hz)4多量体のアルコール溶液をス
プレィし、250℃、30分焼成して、 SiO2を
90%+1%含む微細凹凸膜(12)を形成した。
陰極線管を製造する。その後、この陰極線管のフェース
プレート(25)外表面を洗浄し、60℃に加熱したの
ち、 ノズル径0.4醜の2流体噴霧スプレィガンによ
り、5i(oc2Hz)4多量体のアルコール溶液をス
プレィし、250℃、30分焼成して、 SiO2を
90%+1%含む微細凹凸膜(12)を形成した。
この凹凸5(12)は、平均膜厚d1が約1000人、
凹凸ピッチPが約15〜20μ、表面粗さR2が約0.
5−であり、また、表示面の光沢度Gs (JIS Z
8741の60度鏡面光沢法による)が約55%となっ
ている。
凹凸ピッチPが約15〜20μ、表面粗さR2が約0.
5−であり、また、表示面の光沢度Gs (JIS Z
8741の60度鏡面光沢法による)が約55%となっ
ている。
この陰極線管フェースプレート(25)の外表面に形成
された反射帯電防止膜(27)の特性測定結果を表1に
示す。この特性測定に使用したサンプルは、フェースプ
レートとして15インチカラー受像管用の視感透過率が
約55%のティンテッド・ガラスパネルを用い、上述の
製造工程から陰極線管本来の製造工程を省略して製作し
たものである1表1に示したSnO,: Sb単層の特
性は、上記製造工程でSnO,: Sb膜を成膜した段
階での測定値であり、Snow : Sb+SiO*
(凹凸)二層、すなわちコノ例の反射帯電防止膜(27
)の特性は、上記SnO2: Sb膜上にSiO□の凹
凸膜を形成したときの測定値である。
された反射帯電防止膜(27)の特性測定結果を表1に
示す。この特性測定に使用したサンプルは、フェースプ
レートとして15インチカラー受像管用の視感透過率が
約55%のティンテッド・ガラスパネルを用い、上述の
製造工程から陰極線管本来の製造工程を省略して製作し
たものである1表1に示したSnO,: Sb単層の特
性は、上記製造工程でSnO,: Sb膜を成膜した段
階での測定値であり、Snow : Sb+SiO*
(凹凸)二層、すなわちコノ例の反射帯電防止膜(27
)の特性は、上記SnO2: Sb膜上にSiO□の凹
凸膜を形成したときの測定値である。
なお、5nOx : Sb + Sing二層の視感正
反射率RJulliは、透過スペクトルなどの測定から
下記(0式により算出した値で、拡散効果がない場合の
仮想的な反射率を表している。
反射率RJulliは、透過スペクトルなどの測定から
下記(0式により算出した値で、拡散効果がない場合の
仮想的な反射率を表している。
RJum* = 1− (TJum* / T、us、
)(1−RJLIIl、) −(6)(以下余白) 表 1 SnO2:Sbの翻□ 100人 200人 釦へ=5単層 視感正反射率RJulli 正反射色 Xl 視感透過率 T膓 表面抵抗 rl 5.1% 8.6% 0.32 0.31 0.32 0.32 49.7% 47.5% 1デ〜10”Ω/aJ 1デル1デΩ/d視感正反射
率Rj、4−5 5.3%正反射色 !2
0,33 0.32聾へ:Sb+Siへ
y、 0.33
0.32(凹凸)二層 視感透過率 TJLlm
50.厚 49.5表面抵抗 r210”
〜10izΩ/d 1(7’ 〜10”Ω/aJこの
表1かられかるように、二層構造とすることより、反射
率は低減し、SnO□:Sbの膜厚d、 = 200人
でも、視感正反射率R1□、は5.3%と十分に低い値
を示す、この表1のRjulHe RJu□を第7図に
プロットすると−RJumlについては点(30a)、
(30b)、Rjulltについては点(31a)、
(31b)となり、計算値とよく一致している。また
、反射色は、X、αy1伽0.3で略白色である。 こ
の反射色は、サンプルの観察結果では若干青味がかって
みえるが、色縞の微細構造は全くみられず、−様な白色
反射を示した。導電性については、SnO,:Sbの膜
厚d、 = 100人では、r1= 10” 〜10”
Ω/dと高い抵抗値を示し、また、抵抗値のばらつきも
大きいが、d、 = 200人では、r1=10@〜1
0@Ω/cdと十分に低い抵抗値を示し、表示面内にお
ける抵抗値の一様性も良好であった。これは、要するに
、d、〜100人では帯電防止効果がやや不十分である
が、d、 = 200人にすると、反射防止および帯電
防止効果がともに良好となり、計算により予測したと同
じ結果が得られることを示している。
)(1−RJLIIl、) −(6)(以下余白) 表 1 SnO2:Sbの翻□ 100人 200人 釦へ=5単層 視感正反射率RJulli 正反射色 Xl 視感透過率 T膓 表面抵抗 rl 5.1% 8.6% 0.32 0.31 0.32 0.32 49.7% 47.5% 1デ〜10”Ω/aJ 1デル1デΩ/d視感正反射
率Rj、4−5 5.3%正反射色 !2
0,33 0.32聾へ:Sb+Siへ
y、 0.33
0.32(凹凸)二層 視感透過率 TJLlm
50.厚 49.5表面抵抗 r210”
〜10izΩ/d 1(7’ 〜10”Ω/aJこの
表1かられかるように、二層構造とすることより、反射
率は低減し、SnO□:Sbの膜厚d、 = 200人
でも、視感正反射率R1□、は5.3%と十分に低い値
を示す、この表1のRjulHe RJu□を第7図に
プロットすると−RJumlについては点(30a)、
(30b)、Rjulltについては点(31a)、
(31b)となり、計算値とよく一致している。また
、反射色は、X、αy1伽0.3で略白色である。 こ
の反射色は、サンプルの観察結果では若干青味がかって
みえるが、色縞の微細構造は全くみられず、−様な白色
反射を示した。導電性については、SnO,:Sbの膜
厚d、 = 100人では、r1= 10” 〜10”
Ω/dと高い抵抗値を示し、また、抵抗値のばらつきも
大きいが、d、 = 200人では、r1=10@〜1
0@Ω/cdと十分に低い抵抗値を示し、表示面内にお
ける抵抗値の一様性も良好であった。これは、要するに
、d、〜100人では帯電防止効果がやや不十分である
が、d、 = 200人にすると、反射防止および帯電
防止効果がともに良好となり、計算により予測したと同
じ結果が得られることを示している。
なお、上記陰極線管の具体例では、透明導電膜をSnO
,を用いて、CVD法で成膜したが、 この透明導電膜
は、他の透明導電膜材料でもよく、また、他の方法によ
り成膜してもよい。
,を用いて、CVD法で成膜したが、 この透明導電膜
は、他の透明導電膜材料でもよく、また、他の方法によ
り成膜してもよい。
たとえば電子ビーム照射によってITOを昇華させてフ
ェースプレート上に真空蒸着させ、300〜400℃の
温度で熱処理すると、膜厚d、 = 200人で表面抵
抗が103〜104Ω/dの均質な透明導電膜とするこ
とができる。したがって、これを上記具体例と同様に陰
極線管製造工程を経て、その後、その上にSIO□の凹
凸膜を形成すると、同様の反射防止および帯電防止効果
をもつ陰極線管とすることができる。特にこの方法は、
真空蒸着により透明導電膜を形成するため、製造コスト
が比較的高くなるという問題はあるが1反面、良質かつ
一様性のよい透明導電膜を形成し得る利点がある。
ェースプレート上に真空蒸着させ、300〜400℃の
温度で熱処理すると、膜厚d、 = 200人で表面抵
抗が103〜104Ω/dの均質な透明導電膜とするこ
とができる。したがって、これを上記具体例と同様に陰
極線管製造工程を経て、その後、その上にSIO□の凹
凸膜を形成すると、同様の反射防止および帯電防止効果
をもつ陰極線管とすることができる。特にこの方法は、
真空蒸着により透明導電膜を形成するため、製造コスト
が比較的高くなるという問題はあるが1反面、良質かつ
一様性のよい透明導電膜を形成し得る利点がある。
また、 InやSnのアルコレートのアルコール溶液を
用いて加水分解法で透明導電膜を形成することもできる
。この方法では、InやSnのアルコレートのアルコー
ル溶液を高速回転スピナーでフェースプレート上に塗布
し、1化させたのち、その上に31(QC,Hs)4の
多量体のアルコール溶液をスプレィし、400〜500
℃の温度で30分以上焼成して、凹凸構造のIn、03
/SiO,またはSnO,/ Sin、膜を形成する。
用いて加水分解法で透明導電膜を形成することもできる
。この方法では、InやSnのアルコレートのアルコー
ル溶液を高速回転スピナーでフェースプレート上に塗布
し、1化させたのち、その上に31(QC,Hs)4の
多量体のアルコール溶液をスプレィし、400〜500
℃の温度で30分以上焼成して、凹凸構造のIn、03
/SiO,またはSnO,/ Sin、膜を形成する。
そして、その後に陰極線管製造工程を経て陰極線管を製
造することができる。
造することができる。
この方法は、薄く均一な透明導電膜を形成することがむ
つかしいが、製造コストを安くできる利点がある。
つかしいが、製造コストを安くできる利点がある。
以上1表示装置の反射帯電防止膜、特にその陰極線管へ
の適用について述べたが、この発明は。
の適用について述べたが、この発明は。
ガラスからなる表示面を備える表示装置の全てに適用で
きるものである。
きるものである。
反射帯電防止膜をSnO,またはInk、を主成分とす
る膜厚100〜250人の透明導電膜と、その上に形成
されたSiO2を主成分とする微細凹凸膜とで構成する
と、 SiO2を主成分とする微細凹凸膜の平均化作用
によって、干渉による反射色の問題を解消でき、実用上
満足できる反射防止特性と帯電防止特性とを備える反射
帯電防止膜を簡単かつ低コストで実現でき、特に陰極線
管を適用してすぐれた効果を奏する。
る膜厚100〜250人の透明導電膜と、その上に形成
されたSiO2を主成分とする微細凹凸膜とで構成する
と、 SiO2を主成分とする微細凹凸膜の平均化作用
によって、干渉による反射色の問題を解消でき、実用上
満足できる反射防止特性と帯電防止特性とを備える反射
帯電防止膜を簡単かつ低コストで実現でき、特に陰極線
管を適用してすぐれた効果を奏する。
第1図ないし第7図はこの発明の詳細な説明図で、第1
図はその一実施例である表示装置の反射帯電防止膜の構
成を示す図、第2図は上記反射帯電防止膜の形成された
陰極線管の構成図、第3図(a)乃至(g)はそれぞれ
SnO,−SiO2二層平滑膜について、 SnO,
の膜厚を200人としてSin、の膜厚を変えたときの
反射スペクトルの図、第4図はSnO,−Sin、二層
平滑膜の視感正反射率の図、第5図はガラス/ SnO
,/ SiO□の構造の二層平滑膜の視感正反射率をS
nO,の膜厚をパラメーターとし。 Sin、の膜厚の関数として示した図、第6図(a)お
よび(b)はそれぞれガラス/SnO,/SiO□構造
の二層平滑膜の反射色のy値およびy値をSnO□の膜
厚をパラメーターとし、 SiO□の膜厚の関数として
示した図、第7図はガラス/ SnO2/ Sin、構
造の二層平滑膜の視感正反射率の最大値、最小値および
平均値をSnO2膜厚の関数としてポした図、第8図(
a)乃至(h)はそれぞれSnO□膜の膜厚を変化させ
たときの反射スペクトルの図、第9図はSnO,膜の視
感正反射率の図、第10図は透明プラスチック基板上に
ITO/SiO□二層平滑膜が形成された従来の表示装
置の表示面の構成を示す図、第11図はガラスバルブの
フェースプレート上に透明導電膜、アルカリけい酸塩の
保護膜が形成された従来の陰極線管である。 IO・・・ガラス基板 11・・・透明導電膜12・
・・凹凸膜 24・・・ガラスバルブ25・・・
フェースプレート 26・・・蛍光体スクリーン 代理人 弁理士 大 胡 典 夫 2奈 →を瓜−&(ル凰) 一丁lX1(n几) 第2図 第 図 →溝長(rUn) 第 因 (−1イ茨〕 一護、厚cL(ん 一腋、A a tAン 第 図 一月莫A it □わ 一護浸 cLtA) 第 図 膜厚eiz(A> 第 図 仝 第 図 ″′47反&(1爪) 一我ね几爪) 第 図 第 図 =V瓜長(九m−) →深長(rLJrL) −中r皮i<九九) 第 8 図 →波−8ttrLWL) (−Iイさ) 手 続 補 正 書(方式) 1、事件の表示 昭和63年 特 許 願 第224023号 2、発明の名称 表示装置の反射帯電防止膜および陰極線管3、補正をす
る者 事件との関係
図はその一実施例である表示装置の反射帯電防止膜の構
成を示す図、第2図は上記反射帯電防止膜の形成された
陰極線管の構成図、第3図(a)乃至(g)はそれぞれ
SnO,−SiO2二層平滑膜について、 SnO,
の膜厚を200人としてSin、の膜厚を変えたときの
反射スペクトルの図、第4図はSnO,−Sin、二層
平滑膜の視感正反射率の図、第5図はガラス/ SnO
,/ SiO□の構造の二層平滑膜の視感正反射率をS
nO,の膜厚をパラメーターとし。 Sin、の膜厚の関数として示した図、第6図(a)お
よび(b)はそれぞれガラス/SnO,/SiO□構造
の二層平滑膜の反射色のy値およびy値をSnO□の膜
厚をパラメーターとし、 SiO□の膜厚の関数として
示した図、第7図はガラス/ SnO2/ Sin、構
造の二層平滑膜の視感正反射率の最大値、最小値および
平均値をSnO2膜厚の関数としてポした図、第8図(
a)乃至(h)はそれぞれSnO□膜の膜厚を変化させ
たときの反射スペクトルの図、第9図はSnO,膜の視
感正反射率の図、第10図は透明プラスチック基板上に
ITO/SiO□二層平滑膜が形成された従来の表示装
置の表示面の構成を示す図、第11図はガラスバルブの
フェースプレート上に透明導電膜、アルカリけい酸塩の
保護膜が形成された従来の陰極線管である。 IO・・・ガラス基板 11・・・透明導電膜12・
・・凹凸膜 24・・・ガラスバルブ25・・・
フェースプレート 26・・・蛍光体スクリーン 代理人 弁理士 大 胡 典 夫 2奈 →を瓜−&(ル凰) 一丁lX1(n几) 第2図 第 図 →溝長(rUn) 第 因 (−1イ茨〕 一護、厚cL(ん 一腋、A a tAン 第 図 一月莫A it □わ 一護浸 cLtA) 第 図 膜厚eiz(A> 第 図 仝 第 図 ″′47反&(1爪) 一我ね几爪) 第 図 第 図 =V瓜長(九m−) →深長(rLJrL) −中r皮i<九九) 第 8 図 →波−8ttrLWL) (−Iイさ) 手 続 補 正 書(方式) 1、事件の表示 昭和63年 特 許 願 第224023号 2、発明の名称 表示装置の反射帯電防止膜および陰極線管3、補正をす
る者 事件との関係
Claims (2)
- (1)表示面のガラス基体の外表面に形成されたSnO
_2またはIn_2O_3を主成分とする膜厚100Å
乃至250Åの透明導電膜と、この透明導電膜上に形成
されたSiO_2を主成分とする微細凹凸膜とからなる
ことを特徴とする表示装置の反射帯電防止膜。 - (2)内面に蛍光体スクリーンが形成されたガラスバル
ブの外表面に上記蛍光体スクリーンに対向して反射帯電
防止膜が形成されてなる陰極線管において、 上記反射帯電防止膜を上記ガラスバルブの外表面に形成
されたSnO_2またはIn_2O_3を主成分とする
膜厚100Å乃至250Åの透明導電膜と、この透明導
電膜上に形成されたSiO_2を主成分とする微細凹凸
膜とから構成したことを特徴とする請求項1記載の陰極
線管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22402388A JPH0272549A (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | 表示装置の反射帯電防止膜および陰極線管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22402388A JPH0272549A (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | 表示装置の反射帯電防止膜および陰極線管 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0272549A true JPH0272549A (ja) | 1990-03-12 |
Family
ID=16807377
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22402388A Pending JPH0272549A (ja) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | 表示装置の反射帯電防止膜および陰極線管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0272549A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5153481A (en) * | 1990-03-09 | 1992-10-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Display device with display screen and optical film on the display screen |
| EP0660366A1 (en) * | 1993-12-27 | 1995-06-28 | Matsushita Electronics Corporation | Display device |
| US5446339A (en) * | 1992-08-31 | 1995-08-29 | Sumitomo Cement Co., Ltd. | Cathode ray tube having antistatic/anti-reflection film-covered transparent material laminated body |
| CN1037214C (zh) * | 1992-04-06 | 1998-01-28 | 松下电子工业株式会社 | 显示器件及其制造方法 |
| EP0827180A1 (en) * | 1996-08-29 | 1998-03-04 | Hitachi, Ltd. | Cathode ray tube |
| JP2012049719A (ja) * | 2010-08-25 | 2012-03-08 | Canon Inc | 画像形成装置および画像形成方法 |
-
1988
- 1988-09-07 JP JP22402388A patent/JPH0272549A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5153481A (en) * | 1990-03-09 | 1992-10-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Display device with display screen and optical film on the display screen |
| CN1037214C (zh) * | 1992-04-06 | 1998-01-28 | 松下电子工业株式会社 | 显示器件及其制造方法 |
| US5446339A (en) * | 1992-08-31 | 1995-08-29 | Sumitomo Cement Co., Ltd. | Cathode ray tube having antistatic/anti-reflection film-covered transparent material laminated body |
| EP0660366A1 (en) * | 1993-12-27 | 1995-06-28 | Matsushita Electronics Corporation | Display device |
| EP0827180A1 (en) * | 1996-08-29 | 1998-03-04 | Hitachi, Ltd. | Cathode ray tube |
| EP1109195A1 (en) * | 1996-08-29 | 2001-06-20 | Hitachi, Ltd. | Cathode ray tube |
| JP2012049719A (ja) * | 2010-08-25 | 2012-03-08 | Canon Inc | 画像形成装置および画像形成方法 |
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