JPH027266B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

＜発明の要約及び従来技術の状態＞ 本発明はステツプ・モータを迅速にテストする
方法、より具体的には必要な事前に定められてい
るモータ特性をモータが満足するかどうかを決定
するために、モータの逆起電力が決定されそして
所望のモータ・パラメータに対して比較するため
に解析されるようなステツプ・モータのテスト方
法に関する。 可動キヤリア・デージー・ホイール・タイプラ
イタ等の印刷装置で用いる必要のあるステツプ・
モータは、ステツプ・モータの各相の呈するトル
ク並びにモータのステツプ精度及び制動効率に関
して厳格な許容誤差仕様を必要とする。印刷装置
用のモータの各々は、設計負荷条件の下で持続し
て動作するためにある変化する傾向を呈するよう
に通常設定される。通常は各モータ毎に種々のパ
ラメータ及び許容可能性レベルの各々を決定する
ために別個のテスターを用いている。例えば巻線
が短絡又は切断しているか否かを決定するため
に、単純なオーム・メーター又はより洗練された
テストにおいてはウイーン・ブリツジが普通用い
られている。又、トルクのテストは普通ダイナモ
メーターを用いて行なわれ、一方モータのステツ
プ精度を決定するための精密角度測定は、光学電
子装置又は他の標準的な装置によつて高い精度で
角度を測定する事によつて行なわれている。これ
らのテストの各々は準備時間、複数のテスト機器
及びテストを実行するための一般に過大な時間と
労力を必要とする。その代りにテストを総計的に
即ちランダムな方式で行なつても良いが、その場
合あらゆるステツプ・モータがテストされるわけ
ではなく、その結果現場での故障が生じるか又は
最終製品テストで高い故障率が生じる。後者の場
合は、印刷装置の種々の機能を動作させるために
４個以上のステツプ・モータを含む可能性がある
時に特に起き易い。 もしもステツプ・モータの真の逆起電力が確め
られれば解析によつてステツプ・モータの必要な
パラメータの全てが既知の所望のパラメータと比
較され、従つて単純な合格又は不合格の決定を行
ない得る事が判明した。 先行技術は種々の目的のために真の逆起電力を
用いる可能性を開示している。例えば米国特許第
3813591号明細書は、モータの速度を正確に決定
するためにモータの真の逆起電力を利用する速度
制御回路を開示している。しかしながらこの真の
逆起電力は、電機子電圧が単に逆起電力の関数で
ある各半サイクルの間で決定される。 米国特許第3818297号明細書には、モータの実
際の動作速度を決定するために逆起電力をサンプ
ルしながらモータの速度を制御する装置が開示さ
れている。また米国特許第3663878号明細書には、
DCモータの回転子の位置を検出するために逆起
電力を利用する装置が開示されている。また米国
特許第3283235号明細書には、モータの速度を制
御するためにモータに供給されるエネルギー量を
調整し制御するために逆起電力を利用する装置が
開示されている。 米国特許第2649572号明細書は、半波整流装置
において動作するモータの逆起電力に直接比例す
る電圧を導き出す回路を開示している。 これらの先行技術のいずれも、ステツプ・モー
タをテストしそれらの動作特性を導き出すために
真の逆起電力を使用する事は開示していない。 例えば本発明は下記のようなステツプ・モータ
のテスト方法を含む。即ち被試験モータの相が直
列に接続され、次にその相に一定の電流が加えら
れ、モータの回転子が一定速度で単一方向に回転
される。そして各相の電圧降下が検出され、各相
毎に逆起電力に変換される。次に相の逆起電力は
モータのパラメータを決定するために解析され、
パラメータは既知の比較的可能なパラメータと比
較される。 ＜ステツプ・モータ＞ 図面の第１図を参照すると、３相可変リラクタ
ンス型96ステツプ／回転のステツプ・モータ１０
が示されている。図示したようにステツプ・モー
タ１０は６個の突極１〜６を有する固定子アセン
ブリ１１をふくみ極の各々は巻線１ａ〜６ａを含
んでいる。対向する極の巻線はこの例では直列に
接続され、３相モータを形成している。例えば極
１の巻線１ａは極４の巻線４ａに直列に、極２の
巻線２ａは極５の巻線５ａに直列に、そして極３
の巻線３ａは極６の巻線６ａに直列に接続されて
いる。従つて相当り２個の突極が存在する。この
例のモータでは回転子１２は32個の歯１３を有
し、一方各々の極は５個の歯１４を有する。（回
転子の歯の数に相の数をかけたものはモータのス
テツプ／回転の数に等しい。従つてこの例の場合
３×32＝96ステツプ／回転である。） ステツプ・モータ１０の各コイル１ａ〜６ａ
は、モータによつて負荷に供給されるトルク全体
への寄与を与えることができる。この例では固定
子の各コイルのトルクの寄与を調べる事は不必要
であると仮定されている。モータの各相の瞬時的
な電気機械的特性は本発明のテスト方法によつて
調べられる。この仮定は精度の明らかな損失なし
に電気機械系の数学的次数を半減する。 さらにテストされるモータの例の場合、各相は
他の相の電流によつて影響されず、そしてモータ
の発生する全トルクは１つの相だけが付勢されて
いる場合に各相が発生するトルクの和であると仮
定される。この仮定はコイル１ａ〜６ａ間の相互
結合が無視し得る事を仮定している。モータの物
理的構成及び実験的証拠の両者が、上述のモータ
例即ち96ステツプ／回転の可変リラクタンス型モ
ータ１０に関する上記仮定を支持している。 ＜本発明の方法及び背景＞ 本発明の方法は下記の工程を含む。即ち、テス
トされるモータの相を直列に接続し、その直列接
続された相に一定電流を加え、モータのシヤフト
を第１の方向に一定の速度で回転させ、少なくと
も１つの相における電圧降下を検出し、その少な
くとも１つの相に関して検出された電圧を逆起電
力に変換し、上記相に関する逆起電力を解析して
モータのパラメータを決定し、そしてそのパラメ
ータを許容可能なモータの既知の比較可能なパラ
メータと比較する。 ステツプ・モータの伝統的なテスト（例えばト
ルク対位置）は当然の事ながら依然として非常に
有益である。しかしながらトルクの良好な測定は
高品質のスリツプ・リンク及びトルク・セル（研
究室的環境の中に維持されたもの）等の敏感な装
置を必要とする。工場環境での大量のステツプ・
モータの場合、トルク・セル等を用いるようなテ
ストは、全く非実用的である。（統計的な）サン
プル・テストはこの問題に対する１つの解かもし
れないが、もしもモータが例えば開ループのよう
なクリチカルな動作で用いられるならば、モータ
がそのように応用された時に動作するかどうかを
適切に示すテストを各モータ毎に行なう事が最も
望ましい。 この目的のために、逆起電力の測定はモータの
品質を予測するすぐれた方法である。以下逆起電
力の測定をいかにして行ない、比較目的のために
モータのパラメータをいかにして得るかを説明す
る。それらのモータ・パラメータは：(1)モータの
ステツプ精度；(2)走行トルク；(3)モータの相から
相への変動；(4)モータの１つの相内での変動；(5)
モータの減衰効率；(6)回転子−固定子ギヤツプ
幅；(7)短絡条件；(8)関数条件；(9)ヒステレシス損
失；及び(10)インダクタンスである。 ＜トルク−逆起電力の関係＞ モータ・ループを完成させるために使われる周
知の回路方程式（この場合ステツプ・モータの１
つの相）は、 Ｌ（ｉ、θ）di／dt＝e_a−iR−V_B（ｉ、θ） (1) である。但しＬは電流ｉ及び回転位置θの関数と
してのコイルのインダクタンス；e_aはコイルに加
えられた電圧；iRはコイルの抵抗Ｒによる電圧
降下；そしてV_Bはコイルに発生した逆起電力で
あつて、これも電流と位置の関数である。 定電流源あるいは被制御電流源（後で第９図を
参照してより詳しく説明する）がコイルに電流を
加え、モータの回転子が回転されると、モータは
発電機のように作用する。その結果生じた信号は
AC結合され、式(1)は次のようになる。 e_a＝V_B（ｉ、θ） (2) このようにインダクタンスの関与は消去され
る。従つて電流源は、モータの相によつて与えら
れる誘導性負荷にもかかわらず電流を一定に保た
なければならない。これらの条件の理由は、トル
クが逆起電力測定に関係付けられる時に明瞭にな
る。 逆起電力とトルクとの間の関係の鍵は下記の式
(3)及び(4)から見い出される。 V_B（ｉ、θ）＝K_e（ｉ、θ）dθ／dt (3) ∂T（ｉ、θ）／∂i＝K_e（ｉ、θ）＝∂λ（ｉ、θ）／
∂θ(4) これらの式において、K_eは逆起電力係数、Ｔ
はトルク、そしてλは磁束結合（flux linkage）
である。 式(4)により、回転子１２の任意の位置におい
て、電流に関するトルクの微分は逆起電力係数
K_eに等しい。この関係はK_eに回転の速度（dθ／dt） をかける事によつて逆起電力に拡張される。 本発明のテスタは、回転子１２のシヤフト１２
ａを経てシヤフト回転装置２０（第２図参照）に
回転子を結合させる事によつて一定速度で回転子
を回転させる事によつて、この条件を達成してい
る。この場合シヤフト回転装置２０はサーボ・モ
ータ２１、及びモータ１０のシヤフト１２ａにサ
ーボ・モータのシヤフト２１ａを迅速に結合及び
分離するための付属ジグあるいは取付具２２を含
む。 モータ１０の回転子１２又はシヤフト１２ａを
一定速度で回転させる事によつて、逆起電力は逆
起電力係数と、速度乗数因子だけしか違わない。
また式(4)は逆起電力係数K_eが磁束漏洩の偏微分
にも等しい事を示しており、これは平均走行トル
クの決定に用いられる。１トルク・サイクルの典
型的な逆起電力V_B及びトルクＴ曲線（速度及び
電流を一定に例えば200ステツプ／秒及び750ｍＡ
に各々保ち、AC結合を用いて逆起電力V_Bがコイ
ルに発生する）は第１０図に示されている。 第３図のブロツク図はテスタのレイアウトを示
しており、本明細書の「テスタの実施」と題する
章において、より完全に説明されている。 本発明の方法に従つて行なわれる全てのテスト
に対して基本的な条件はこれまでに述べて来たが
以下もう１度要約しておく。 (1) モータ・シヤフト１２ａがシヤフト回転装置
２０によつて１方向に回転される。 (2) 回転は一定に、以下の説明では300ステツ
プ／秒に保たれる。 (3) 電流は５つの別々のレベル（例えば750ｍＡ
のモータに付き150、300、450、600及び750ｍ
Ａ）で一定に保たれる。しかし各レベルで全て
のパラメータが測定される必要はない。 (4) ３つ全部のモータ相がコイルφA〜φCを直列
に接続する事によつて同時に付勢される。これ
はテスト手順を迅速化し、一度に全ての相から
情報が得られる事を可能にする。相を直列に接
続する事によつてシヤフト回転装置２０又はサ
ーボ・モータ２１の所要電力のかなりの低減が
得られる。さらに第３図に図示されているよう
な相φA〜φCに関するモータ・コイルの直列接
続は定電流源に対する負荷も軽減し、平均イン
ダクタンス及び抵抗値の測定を促進する。 ＜ステツプ精度測定＞ ステツプ・モータ動作の基本、即ち電気パルス
を離散的な回転運動（ステツプ）に変換するとい
う事を考えると、モータの品質はステツプの精度
に依存している。以前に示した理論によると、第
１０図のトルク及び逆起電力対位置の図形に示す
ように、逆起電力及びトルクは共に同じ位置で図
の縦座標のゼロ点を通過する。 トルクと同様、逆起電力信号（各相毎に１つ）
は120度離れている。テスタはモータの回りの相
から相への逆起電力のゼロ交点の間の時間を測定
するように設計される。例えば第１１図に示すよ
うにゼロ交点からゼロ交点への時間はΔθ₁，Δθ₂
及びΔθ₃と示されている。モータが固定された速
度で回転している事を知れば、ステツプ長さはス
テツプ精度の決定の際に既知のステツプ長さ又は
完全なステツプに対して比較される。１つの完全
な逆起電力サイクルは正の傾斜のゼロ交点（不安
定デイテント）及び負の傾斜のゼロ交点（安定デ
イテント）の両者を含むので、安定デイテント
は、それがモータ１０の現実の停止位置であるの
で（第１１図に示すように）良好な測定点であ
る。第１０図に示した波形は時間単位でのΔθの
測定を示しているが、回転速度が一定なのでこれ
は同様に距離の有効な尺度でもある。各距離は、
モータ１０が完全に１つの相をステツプする事に
よつて方向を転換する場合に観察されるであろう
実際の移動量である。２相を完全にステツプすれ
ば同様のΔθ値が得られるが、これも信号V_bAB，
V_bBC及びV_bCA（V_bの定義に関する式（19）参照）
を得るために合計する事によつてステツプ精度に
関してテストされる。いずれの例でも、テスタは
モータ１０の完全な１回転（この場合96ステツ
プ）に関する交点間の時間を測定する。最大値
Δθ_nax及び最小値Δθ_nioは保存される。公称ステツ
プ時間は次のように決定される。 Δθ_opn＝１／θ〓＝１／300ステツプ／秒 ＝3.333ｍｓ／ステツプ (5) （θ〓＝平均ステツプ数／秒） 百分率ステツプ単位におけるステツプ誤差は１
相データについては次のように表わされる。 Δθ₁〓＝Δθ_1nax−Δθ_1nio／Δθ_opn×100(6) また、２相の場合は次のように表わされる。 Δθ₂〓＝Δθ_2nax−Δθ_2nio／Δθ_opn×100(7) 式(6)及び式(7)は完全な表現である。しかしながら
テスタはモータ・パラメータと比較する時に乗数
定数を取り除く。これは、これらの式に関与する
データの変形がマイクロプロセツサ又はマイクロ
コンピユータ２００によつて処理されるからであ
る。マイクロコンピユータにおける式(6)及び(7)に
必要な乗算及び除算の実施に必要な時間は全テス
ト手続を遅らせるだけである。従つて次のような
式（6A）及び（7A）が用いられる。 KΔθ₁〓＝Δθ_1nax−Δθ_1nio （6A） KΔθ₂〓＝Δθ_2nax−Δθ_2nio （7A） 但しＫ＝Δθ_opn／100はテスト・パラメータであ
る。 １及び２の両方の相信号を利用可能にする事に
よつて、半ステツプに関する時間Δθも決定し得
る。このテストのために及び例として、各相の交
点から次の第２の相の交点までの時間が測定され
る（Δθ_1-2）。このようにしてモータのヒステレ
シス損失を表わすものが決定され得る。もし第１
の相が転換しそして２つの相が転換すれば、
Δθ_1-2naxとΔθ_1-2nioとの平均は半ステツプの平均
長を表わす。この値と公称半ステツプ長との誤差
は電流と共に変化する。ステツプの百分率の単位
でこの量は式(8)のように表わされる。 Δθ_1-2av ＝Δθ_1-2nax＋Δθ_1-2nio−Δθ_opn／２ ×100／Δθ_opn (8) またΔθ_1-2av対ｉ（電流）の曲線の勾配は、 dΔθ_1-2av／di｜_0.6A＝ Δθ_1-2av（0.75A）−Δθ_1-2av（0.45A）／0.3A (9) のように表わされる。これらは600ｍＡにおける
ものである。これらはヒステレシス損失の程度に
関する表示を与えるのに必要な全てである。テス
タにおいて２つの値を組み合せる事によつて、
Δθ_1-2avをゼロに減少させるのに必要な電流i_pを評
価する１つの量が求められる。単純な直線近似に
より、 式(8)及び式(9)を式(10)に代入し、不要な要素を消去
し、適当な分解能にスケーリングすると、式(11)が
得られる。 （i_p−0.6）1000／0.3A＝ 1000〔Δθ_1-2av（0.6A）〕／〔Δθ_1-2av（0.45A）
−Δθ_1-2av（0.75A）〕(11) 式(11)の表現はモータ仕様に対して比較を行なう
時に用いられる。式は複雑に見えるが、これらの
式に関係するデータ変形は第３図に示すマイクロ
プロセツサ２００によつて処理される。乗算及び
除算を実施するのに必要な時間は全テスト手続を
スロー・ダウンするだけであり、マイクロプロセ
ツサにおいて浮動小数点演算が利用不可能な時は
この例におけるスケーリングが好ましいかもしれ
ない。 ＜走行トルク＞ ステツプ・モータの適正な機能に取つて等しく
重要なのはそのトルクである。走行トルクはモー
タによつて達成し得る使用可能な仕事のすぐれた
尺度である。モータの各相が発生するトルク曲線
の正弦波的性質により、各相がモータに関するシ
ーケンスの不安定デイテントにおいてターン・オ
ンされ安定デイテントにおいてターン・オフさ
れ、従つて全ての負トルク領域が避けられるなら
ば、最大量のトルク（走行トルク）が生じるであ
ろう。典型的にはトルクは下記の式(12)〜（21）を
経て得られる。 W_nax/サイクル_/〓＝∫〓^s〓_u∫ⁱ _p∂λ／∂θdi dθ
(12) 但しθの添字ｓは安定点、ｕは不安定点を表わ
す。相当り、トルク・サイクル当りの最大仕事は
磁束結合の２重積分にも等しい事がわかるであろ
う。 式(3)及び(4)から逆起電力への接続が行なわれ
る。∂λ／∂θにK_eを代入する事により、次の式が
導かれる。 W_nax/サイクル_/〓＝∫〓^s〓_u∫ⁱ _pKe di dθ（13
） また速度が一定に保たれるので、式（14）が導
かれる。 W_nax/サイクル_/〓＝１／θ∫〓^s〓_u∫ⁱ _pV_B〓di dθ（14
） 添字φはV_Bが単一の相の逆起電力である事に
注意するように付け加えた。 テスト手続を単純化するために、積分の順序が
逆にされ、以下のように実行された。これまでに
示したように速度は一定に保たれるので、 １／θ∫〓^s〓_uV_B〓dθ＝∫^ts _tuV_B〓dt （15） 位置で積分せずに、最初の積分は時間に関して行
なわれる。これを行なうために、各相からの逆起
電力は全波整流され（第３図参照）、平均される。
従つて式（16）が得られる。 ∫^ts _tuV_B〓dt＝_B〓（t_s−t_u） （16） 式（16）でt_sは安定デイテント交点の時間に等
しく、t_uは不安定デイテント交点の時間を示す。
従つてt_s−t_uは半サイクルの時間である。t_uとt_sと
の間の積分は半サイクルに関するものである。こ
の型の積分は、逆起電力波形の対称性により許さ
れる。このように積分するために任意の具体的な
１半サイクルを取り出すのが難しいので、モータ
が回転する時RC平均回路によつて連続的に平均
が取られる。 各相に対する平均_BA，_BB及び_BCが測定さ
れ保持される。t_s−t_uの大きさは回転速度を考慮
する事によつて得られる。 は全サイクルの時間周期である。（t_u1−t_uは完全
なサイクルに関する時間である事に注意）従つて
サイクルの半分に関する時間は下記のようにな
る。 （電流に関する）第２の積分はいくつかの電流
（電流の公称値に至るまで）において式（17）中
の上記数値の単に平均を取り、電流に関する積分
を近似するようにそれらを共に加算する事によつ
て処理される。 サイクル当り各相当りの曲線の最大値の下の仕
事は次のように表わされる。但しＮ＝i_opn／Δiで
ある。 W_nax/サイクル_/〓＝∫^inom _{p B}〓（t_s−t_u）di Δi（t_s−t_u）〔（_N=1 〓ⁿ⁼¹ _B 〓（ｎ）） ＋１／２_B〓（Ｎ）〕 （18） マイクロプロセツサの入力レンジ（マイクロプ
ロセツサの選択に依存する）は他の特別な回路を
用いなければ変動するかもしれないが、一般に正
又は負の10ボルトである。式（19）に示すように
フロント・エンド差動増幅器（第３図参照）にス
ケール因子が加えられても良い。 _b〓＝K_{ac B}〓 （19） 式（19）を式（18）に適用すると、式（20）が
得られる。 W_nax/サイクル_/〓＝Δi（t_s−t_u）１／K_ac〔（_N=1 〓ⁿ⁼¹ _b 〓（ｎ））＋１／２_b〓（Ｎ）〕 （20） 式（20）は１トルク・サイクルの最大の可能な
仕事出力を示している。しかしながらモータ走行
トルクの大きさが、比較すべき所望の量である。
トルクは回転子の変位の単位当りになされる仕事
として適切に表現される。変位の尺度としてラジ
アンを取ると、走行トルクは式（21）に示すよう
に表現し得る。_R 〓＝W_nax/サイクル_/〓×Nサイクル_/回転×N〓／2π
ラジアン／回転（21） 式（21）においてNサイクル_/回転は１回転当
りのサイクル数、N〓はモータ相の数である。添
字φ（但しφ＝Ａ，Ｂ又はＣ相）はこの走行トル
クの予測を行なうのにどの相が用いられたかを示
す。式（17）からこの型のモータに関してt_s−t_u
＝3/2θ〓及びNサイクル_/回転＝32であり、式（20）
及び（21）からN〓＝３である事がわかると、式
（22）が下記のように示され得る。 750ｍＡのモータの場合下記のパラメータを用
い得る： Ｎ＝５（本明細書の「トルク−逆起電力の関係」
と題する章に５つ全部の電流が掲げられている。） Δi＝150ｍＡ θ〓＝300ステツプ／秒 K_ac＝5/4 _R〓の単位はｍＮｍ（ミリ・ニユートン・メー
トル）である。 式（22）は任意の一相からの測定データから満
足される。しかしながら現実のモータ走行トルク
の最も正確な表現は、モータが転換する場合に全
ての相が寄与している限り、式（23）に示され得
る。 _R＝Ｔ／―_RA＋Ｔ／―_RB＋Ｔ／―_RC／３
（23） もしも各相が不安定デイテントで正確にター
ン・オンされ安定デイテントで正確にターン・オ
フされるように方向転換する事ができるならば、
この_Rの大きさはモータの発生する最大の可能
な走行トルクとなるであろう。この値がモータの
ピーク保持トルクに近似的に等しい事は注意する
に値する。 本発明の方法を実施するために用いられるテス
タは、ステツプ誤差測定に関して行なわれるよう
に、モータ仕様と比較する時に乗数定数を取り除
く。従つてマイクロプロセツサ２００によつて実
際に計算される量は以下式（24）及び（25）に示
す式を用いる。 Ｃ_R〓＝（_N=1 〓ⁿ⁼¹ _b 〓（ｎ））＋１／２_b〓（Ｎ） （24） 但しＣ＝θ〓K_ac／22.92Δiである。また、 ＣＴ／―_R／10＝（Ｃ_RA＋Ｃ_RB＋Ｃ_RC）／30（25
） これらは計算された量である。テスト・パラメ
ータＣ_R／10及び10Δ_R〓＝Ｃ_R〓値の最大値か
ら最小値を引いて100倍しＣ_R／10で割つたもの
は特定のあるいは事前に定められた限界内に入ら
なければならない。量Δ_R〓は平均走行トルク
_Ｒの百分率におけるモータの相から相への変動の
尺度である。 以前に述べたように全ての相はテスト動作の間
同時に付勢される。相間の相互結合は無視し得る
と仮定されている。言い換えると、各相はあたか
もそれが唯一の付勢された相であるかのように働
く。この仮定は正しいものである事が証明されて
いる。 ＜モータの変動＞ 逆起電力信号のピーク電圧の変動はモータの回
転中に予期され、通常は何の問題も生じない。し
かしながら、もしモータが逆起電力信号に大きな
変動を示すならば、これはモータの故障を表示し
ている可能性がある。可能な、以下説明する変動
は相間の変動（Δ_R〓）及び単一の相内での変動
である。下記のテストはモータに許容できない変
動が存在するか否かを決定する。 各相のピーク逆起電力電圧レベルは１回転にわ
たつてサンプルされ、最大値（V_Pnax）及び最小
値（V_Pnio）（第３図参照）が決定される。これら
の値は相毎に選択されず、むしろ１回転当りの全
ての相の単一の最大ピーク及び単一の最小ピーク
を表わす。V_PnaxとV_Pnioとの差（ΔV_P）は、１回
転当りの相間の変動及び各相の変動の両者によ
る、モータで測定された最大変動を表わす。 相間の変動は「走行トルク」と題した章で考察
した。これは平均トルクの百分率として表わされ
る。この効果をモータの回転子変動による効果か
ら分離するために、ピーク逆起電力の変動ΔV_Pは
最初に全逆起電力ピークの平均の百分率として表
わされる。この全ピークの平均は、平均逆起電力
Ｖ_bを発生させるために用いたのと同様の技術に
より、ピーク検出保持回路の出力のフイルタリン
グによつて発生させる事ができた。しかし_bが
既に存在し、ピーク逆起電力は_bの約1.5倍なの
で、変数（／REV）を見つけるのに式（26）が
使われる。 式（26）に示されている変数（／REV）は平
均値の百分率である。再び、浮動小数点算術演算
の問題を回避するためにマイクロプロセツサ・ス
ケーリングのために、式（27）を用いても良い。 式（27）は所定のモータ・パラメータと比較す
る時に用いられ、マイクロプロセツサ２００によ
つて実行される。10Δ_R〓はマイクロプロセツサ
相間比較において以前に用いられた形であり、効
果は（／REV）の計算から補正される。ピーク
測定（V_Pnio及びV_Pnax）は600ｍＡにおいて行な
われ、各々の測定は５回行なわれノイズの影響を
減少させるために平均される。 ＜減衰能力＞ 減衰係数はステツプ・モータの振動の振幅がデ
イテント位置のまわりで減少する速さの尺度であ
る。あるステツプ・モータの場合、その減衰係数
を電子的に増加させて振動をより急速に減少させ
る事が望ましい。印刷ホイール文字選択のような
応用の場合、移動の終了時の大きな振動は性能を
劣化させるので、それらの振動を急速に減少させ
る事が望ましい。機械が再生モードの時、振動を
減衰させる事は印刷装置のスループツト・レート
を増加させる。というのは再生モードにおいてタ
イプライタ又は印刷装置はキヤリアを停止させる
事なく印刷しようとするが、もしも印刷文字を選
択するために必要な時間が超過すれば、キヤリア
は停止させられ、機械の文字スループツトが減少
するのである。従つて減衰駆動器が、チヨツパ駆
動器センス回路において基準電圧波形を変化させ
る事によつてこれらの振動を減少させる事ができ
る。従つて減衰能力はモータの重要な特性であつ
て、もし実際に必要ならば減衰駆動器を適切に設
計できるようにするために決定されなければなら
ない。これに関連してもしサンプル・モータ１０
が600ｍＡにおいて減衰モードで駆動されるなら
ば、モータが効率的に減衰する能力のテストは同
様にこのレベルで行なわれるべきである。最小量
の逆起電力はモータの適正な減衰を達成するのに
必要である。平均逆起電力_bは式（28）に示さ
れる。 _b＝Ｖ／―_bA＋Ｖ／―_bB＋Ｖ／―_bC／３｜_600nA（
28） 平均逆起電力_bはモータの平均的減衰能力を
示すものである。（測定されたテスト・パラメー
タは３_b＝_bA＋_bB＋_bCである。式（19）か
ら_b＝K_{ac B}である事に注意。） ＜回転子−固定子ギヤツプ幅＞ モータの回転子１２の歯１３と固定子１１の歯
１４との間のギヤツプは、モータの発生するトル
クに直接に関係している。本質的に、ギヤツプが
小さければ小さい程トルクは大きくなる。逆起電
力は通常、電流と共にある所定の点まで上昇しそ
して減少する。この点はしばしば飽和点と呼ば
れ、異なつたモータに関して異なつた電流で生じ
る事が知られている。この現象はいくつかの異な
つたモータ設計パラメータ例えば異なつた材料又
は異なつた製造工程の結果として説明し得る。し
かしながら実験的データに基づくと、エア・ギヤ
ツプの幅は飽和点の位置に対して非常に測定可能
な影響を有する事が示されている。典型的には、
これまで説明して来た型のモータの例の場合、飽
和点は450ｍＡと600ｍＡとの間のどこかに来る。
テストされる各モータに関する同じ電流における
V_B対ｉ曲線の微分は、飽和点の位置を示す勾配
を与える。このすぐれた近似はモータ１０の各相
に関して得られた５つの_b〓の値を用いて得られ
る。600ｍＡにおける曲線の勾配は式（29）に示
すように近似し得る。 ｄＶ／―_b／di｜_0.6AＶ／―_b（0.75A）−Ｖ／―_b（0.
45A）／0.3A（29） ０の値は600ｍＡで飽和が生じる事を示す。ま
た負の勾配は飽和が600ｍＡよりも小さな電流で
起きる事を示す。勾配が急な程、鉄芯を飽和させ
るのに必要な磁束を発生するために要する電流が
小さくなる。正の勾配は600ｍＡ以上の電流で飽
和が起きる事を意味する。回転子１２と固定子１
１との間のギヤツプが広い程、鉄芯を飽和させる
のにより大きな電流が必要である。この解析は非
常に首尾一貫した結果を与えた。 式（29）のデータ変形から除算を排除する事に
よつて、測定されたテスト・パラメータは式
（30）に示すようになる。 0.3ｄＶ／―_b／di＝_b（0.75A）−_b（0.45A）（30
） ＜短絡検出＞ モータ１０のようなモータの製造中に、モー
タ・コイルが（部分的又は完全に）短絡するか又
は断線する可能性がある。これは回転子及び固定
子の歯１３及び１４を研磨する前に一度検査され
るが、V_supの単純な測定によつて本発明の方法を
用いて再び検査される。このパラメータあるいは
特性値V_supは全コイルにかかる電圧であると定義
される。以前に注意したようにコイル１ａ〜６ａ
は直列に接続される。逆起電力信号が120度離れ
ている限り、本発明の方法に従つてテストされる
良好なモータに存在すべき唯一の電圧はコイルの
DC（iR）電圧降下に小さなリツプルが乗つたも
のである。各コイルの各々のテストに関してDC
成分は除去される（AC結合）。従つて供給電圧の
平均値_supの測定がこの抵抗値テストに適して
いる。相の近似的抵抗値を知れば、V_supのDC部
分が近似的に３×R〓×ｉ＝V_DCである事が期待さ
れる。但しR〓はコイルの抵抗値である。コイル
の短絡は、リツプルが乗つているDC部分を低下
させる。一方、断線の場合は電流が全く流れない
ので信号は全く生じない。モータ１０の場合この
テストは約750ｍＡの公称電流値で行ない得る。 スケール因子K_supがV_supの測定に関して加えら
れる。異なつた電圧レベルを有する３相モータは
単にAC結合差動増幅器（第３図参照）の利得を
変える事によつて容易に適合させる事ができる。
Ｖ_supを得るためにデイジタル又はアナログ平均
回路のいずれを用いてもよい。アナログ平均が上
首尾に用いられたが、第３図の良好な実施例のテ
スタではデイジタル平均が用いられている。 第１２ａ図及び第１２ｂ図は各々良好なモータ
及びコイルが短絡したモータの示す波形を描いて
いる。図面で回転位置θは横座標上に、V_DCを近
似する_supは縦座標上にある。V_sup)anpは電流が
一定に保たれている時の供給電圧リツプルの振幅
である。V_sup)anpは、巻線の短絡が見い出された
時は大きく、正規の電圧供給レベル（V_DC）から
オフセツトしており、巻線の短絡を明確に表示す
る。 ＜調波含有量＞ 電流が一定に保たれている時の供給電圧リツプ
ルの振幅V_sup)anpは上述のように部分的な相の短
絡を示すものであるが、これはまたモータの各相
の逆起電力曲線の調波含有量あるいは形状の変化
を表わすものでもある。 前述のように、３相モータの各相は（基本周波
数に基づいて）120゜離れている。もし各相の逆起
電力_b〓がフーリエ級数によつて表わされ、また
正弦項のみが支配的であるとすると、式（31）が
得られる。 V_bj＝_∞ 〓ⁿ⁼¹ A_ojsin〔ｎ（２／３π＋φ_j）〕 （31） 但しφ_j＝０、2π／３、4π／３ラジアンである。 級数の形の３つ全部の相から生じる逆起電力を
合計すると、下記の式（32）が得られる。 V_btptal＝_∞ 〓ⁿ⁼¹ A_o1sin（2πnθ／３）＋ A_o2sin（2πnθ／３＋2πn／３） ＋A_o3sin（2πnθ／３＋4πn／３） （32） もし基本周波数が、各相に存在する唯一の周波
数成分（ｎ＝１）であり、全ての相の振幅が同一
（A₁₁＝A₁₂＝A₁₃）であれば、式（33）が得られ
る。 V_btptal＝A₁₁〔sin（2πθ／３）＋sin（2πθ／３＋2
π／３）＋sin（2πθ／３＋4π／３）〕（33） これは三角関数の恒等式を用いればわかるよう
に、恒等的にゼロである。 もしモータ構造例えば歯の形状が変化すれば、
逆起電力曲線は正弦波から歪み、３番目の高調波
（ｎ＝３）が最も支配的に増加する。式（32）で
ｎ＝１、３であり３番目の高調波の振幅が等しい
（A₃₁＝A₃₂＝A₃₃）とすると、下記の式（34）が
得られる。 V_btptal＝A₃₁〔sin（2π3θ／３）＋sin（2π3θ／３＋
2π3／３）＋sin（2π3θ／３＋4π3／３）〕（34） 但しｎ＝１の寄与は前述のようにゼロである。
基本周波数（ｎ＝１）及び３番目の高調波（ｎ＝
３）を有するモータに関して、位相シフトは2π
及び4πラジアンなので、下記の式（35）が得ら
れる。 V_btptal＝3A₃₁sin2πθ （35） 抵抗値を見い出すためにデイジタル平均される
のと同じ信号V_supが同様に最大及び最小のリツプ
ルを測定するためにマイクロプロセツサ２００中
のマイクロプロセツサ・コードを用いて解析され
る事に注意すべきである。 ＜平均インダクタンス＞ 低いトルクに関する共通のモータの問題は、モ
ータ中のラミネートの数を増加させる事によつて
対処される。しかしながらラミネートを付加する
事はインダクタンスを増加させ、従つて高速にお
いて利用可能なトルクを減少させる望ましくない
駆動器性能の原因となる。典型的には、インダク
タンスは古典的なインダクタンス・ブリツジを用
いても測定が難しいが、平均インダクタンスを表
わすものは電流源ターン・オン・シーケンス中に
容易に得られる。ゼロから必要な値（平均インダ
クタンスのテストに関して名目的な）まで電流が
上昇する時、その電流遷移を記述する方程式は式
（36）に示される。 3L_avdi／dt＝E_sup−3R_avｉ−V_btptal （36） 項（3L_av）及び（3R_av）は３つ全部の相が直列
に接続されるので、存在する。さらにモータが回
転しているので、V_btptalは殆んどゼロである。電
流の調整は始められていないので、E_supは既知の
一定の電源電圧である。これらの情報を用いて、
式（36）を時間及びインダクタンスの関数として
電流に関して解く事ができる。その結果は下記の
式（37）に示されている。 ｉ＝E_sup／3R_av（１−e^-t/〓）（37） 式（37）中で、τ＝L_av／R_avである。 この遷移中の電流を監視する事によつて電流が
トリガ・レベルｉ）_trigに到達する時に時間ｔ）_Lが
測定される。平均抵抗値は前述のように測定され
る。従つて平均インダクタンスは、式（37）を下
記の式（38）のように変形する事によつて見い出
される。 L_av＝R_avｔ）_L／ln（E_sup／E_sup−3R_avｉ）trig）
（38） この計算は普通のマイクロプロセツサにとつて
は複雑すぎるので、プロセツサ２００内ではｔ）_L
が標準的モータ仕様と比較するために用いられて
いる。所定のモータ例では、１オームの電流感知
抵抗にかかる電圧と比歓するための基準電圧を与
えるために670ｍＶのツエナー・ダイオード（図
示せず）が用いられている。従つてｉ）_trig＝670
ｍＡである。L_avは０≦ｉ≦ｉ）_trigの範囲で平均
され、且つモータが回転しているので全ての位置
にわたつても平均される事に注意すべきである。 ＜テスト・パラメータの要約＞ テスト・パラメータの要約が下記の表の形で示
されている。テスト・パラメータ及びそれに相当
する「モータ・パラメータ」は適当な欄の下に示
されている「典型的なモータ仕様」と題する欄
は、説明を行なつている型の許容可能なサンプ
ル・モータからの公称値を含む。

【表】

【表】 調波含有量
K_ｓｕｐＶ￣_ｓｕｐ 抵抗値 5.4オーム／
相
＜テスタの実施＞ モータ１０の回転子１２を一様に回転させるた
めに、シヤフト回転装置２０が設けられる。回転
子１２のシヤフト１２ａを結合させるために任意
の便利な手段を用い得るが、駆動モータ２１のシ
ヤフト２１ａに対してシヤフト１２ａをすばやく
結合及び分離する手段を設ける事が好ましい。そ
のためにシヤフト回転装置はエア・シリンダー２
２を含み、これは付勢リング２４をトグル開放ア
ーム２５から離しトグル・リンケージ２６のカム
面２６ａ上を通過させるようにヨーク・アーム２
３に結合される。これはトグル・リンケージ２６
の中心ピボツト２６ｂに中心を通過させ摺動部材
２７に対して休止させる。これはシヤフト１２ａ
をカラーの摺動部材２７に対しロツクする。 シヤフト１２ａに対するクランプ力はトグル・
リンケージ２６（最小限３つがカツプリングの周
囲に等間隔で配置される）によつて作られ、カラ
ー状摺動部材２７を支持部材２８から離し、円錐
表面の内側の摺動部材２７をシヤフト・クランピ
ング・コレツト２９の外側円錐面上に割込ませ
る。 クランピングとは逆方向にエア・シリンダー２
２を付勢すると、ヨーク・アーム２３はトグル開
放アーム２５に対して付勢リング２４を動かし、
トグル・リンケージ２６を摺動部材２７から離
す。それによつてモータ１０のシヤフト１２ａに
対するクランプ力を開放する。 クランプ力は、所望のクランプ力を与えるよう
に調整ナツト３０を回す事によつて調整し得る。
調整は、ロツキング部材３１を調整ナツト３０に
対して締め付け、ジヤム・ロツク条件を作る事に
よつて所望のレベルにロツクされる。 付勢リング２４は、固定式ベアリング・アセン
ブリ３２によつてカツプリングに同心的に案内さ
れ保持される。これはカツプリングがシヤフト１
３にクランプされた時に接触せず且つ摩擦なしに
付勢リング２４内で自由に回転する事を可能にす
る。 第２図に示すように、カツプリングは例えばセ
ツトねじ３３、又はピン、スプリツト・カラー、
クランピング等の任意の他の便利な方法によつ
て、駆動モータ２１のモータ・シヤフト２１ａに
永久的に取り付けられる。 ＜定電流源＞ 本発明の方法を実施するために定電流源が必要
である。テスタで測定されるべき全てのパラメー
タは、一定の直流がテスト中にステツプ・モータ
の相巻線の各々を同時に付勢するという約束に依
存している。実例のモータ、特に多相可変リラク
タンス・ステツプ・モータ１０はテスト中にモー
タが活動しているAC発電機に見えるようなダイ
ナミツク・モードでテストされる。即ちステツ
プ・モータの相φA〜φCが直流によつて付勢さ
れ、シヤフト１２ａが一定速度のモータ２１によ
つて駆動される時、各相巻線φA〜φC上に逆起電
力信号が現われ、モータ特性に依存して時間的に
変化する。 この応用のための電流源は、安定性を示し且つ
負荷に所望の直流電流値を維持するように信号電
圧変化に応答しなければならない。 図面、特に第９図を参照すると、被制御定電流
源４０が示されている。EFT増幅器４１は演算
増幅器４２によつて制御される。この回路は、所
望の電流をDC又は低い周波数に維持するために
演算増幅器４２並びに抵抗Ｒ５１及びキヤパシタ
Ｃ１５を経由するフイードバツクを用いる。また
この回路は所望の電流を高周波数に維持するため
にFET４１の高いドレイン・インピーダンスを
利用する。Ｒ４８（感知抵抗器）にかかる負荷変
動のサンプルは演算増幅器４２が負荷、この場合
は直列接続されたモータ１０の相φA〜φCにおけ
る一定電流を維持するようにFETをゲートし回
路インピーダンスを変化させる事を可能にする。 電流の大きさの制御は制御電圧基準によつて達
成される。制御電圧基準は、抵抗Ｒ４６を経て電
圧源＋Ｖに接続されたポテンシヨメータＲ４７に
よつてオペレータ制御してもよく、又図に示すよ
うにデイジタル−アナログ（Ｄ／Ａ）変換器４７
を通じてデイジタル制御するようプログラムして
も良い。マイクロプロセツサが利用可能（第３図
のマイクロプロセツサ２００）であれば、制御電
圧基準はマイクロプロセツサ２００によつてデイ
ジタル的に加えてもよい。 被制御電源全体の安定性は演算増幅器４２の利
得及び周波数補償によつて維持される。回路はそ
の利得設定を10程度に厳しくしても良い。Ｒ４４
Ｒ５１及びおそらくＣ１５から成る演算増幅器４
２フイードバツク・ループの回路は周波数補償を
与える。回路における利得及び周波数補償はテス
トされる具体的なモータの変数を用いて働くよう
に選択されている。 モータの相が電流源に対して与える活動的な負
荷は100Hzの基本周波数（逆起電力当り３ステツ
プ、そしてサンプル・モータに関するテストは
300ステツプ／秒で行なわれるので300／３＝100）
及びその高調波を有する。これらAC信号の大き
さはモータの品質と共に変化する。 負荷の離散的な電流レベルをすみやかに変化さ
せるためにプログラムされたデイジタル制御を利
用する必要がある場合、演算増幅器４２は最小限
の周波数補償を有するように調整されなければな
らない。Ｃ１５を有する図面の回路はRC周波数
補償を用いている。キヤパシタＣ１５がなけれ
ば、電流値はゼロから最大値（この例では750ｍ
Ａ）まで変化し、15ｍｓでゼロに戻る。 所望であれば、第９図に点線で示すようにバイ
ポーラ・トランジスタ４３を付加する事によつて
安価なFETがより大きなものを代替し得る。こ
の構成においてFET４１は、電流を制御しテス
ト中に相φA〜φCに流れる電流を一定に維持する
ためにバイポーラ・トランジスタのベースにドレ
インが接続された小信号制御電界効果トランジス
タから構成され得る。 演算増幅器４２はそれ自身の電源４４を有す
る。これは例えば＋又は−Ｖボルト（例えば15ボ
ルト）を演算増幅器の適当な端子に加えるための
フイルタ・キヤパシタＣ１２及びＣ１３を含んで
いる。FET４１によつて制御のために回路に加
えられる未調整電圧Ｂ＋は例えば40ボルト程度で
も良い。 第３図のブロツク図を説明する時に明らかにな
るであろうが、感知抵抗器RSこの例では抵抗Ｒ
４８は、演算増幅器４２に至る抵抗Ｒ４４を含む
フイードバツク・ループの接合点において、抵抗
Ｒ４５及びＲ５０から成る駆動回路を経て増幅器
４８に信号を供給する。増幅器４８は第３図に示
すように出力を信号線５１を経て670ｍＶ比較回
路５２に与える。 ＜回路＞ これまでに述べたように、本発明のテスト方法
の鍵は逆起電力とトルクとの間の直接の関係に基
づいている。従つて逆起電力は、モータの他の多
くのパラメータがそこから導き出されるような測
定値として用いられる。第３図にブロツク図の形
で示した回路は、モータを特徴付けるこれらのパ
ラメータの導出を可能にしている。そのために、
第３図を参照すると、電流源４０がモータの３つ
の相の直列接続された巻線φA，φB及びφCに直
列に接続されている。従つてモータ１０のコイル
の各相を同じ電流が流れる。各相φA〜φCが直列
接続されているので、モータ全体に生じる逆起電
力は非常に小さく、従つて電圧の振れあるいは振
動は最小限に保たれるので電流源４０はそれほど
仕事をしなくてもよい。同様に相の直列接続及び
直列接続されたモータ・コイル１ａ〜６ａの「バ
ツキング」（bucking）により、全体的なトルク
は低い。テストのために１つ又は２つの相しか直
列接続しないならば、シヤフト回転装置によつて
要求されるトルクはかなり増加するであろう。従
つてテストのために第３図に示すように相φA〜
φCを直列接続する事が有利である。 また電流源とモータ・コイル即ち相から成る回
路に、この例では１オームの感知抵抗器RS（又は
Ｒ４８）が直列接続される。これは以前に第９図
で説明したものであり、被制御電流源４０に含ま
れている。電流感知増幅器４８は第３図にブロツ
クの形で描かれている。以前に説明したように感
知増幅器４８の出力は電流に比例する電圧であ
る。この電圧は、Ｄ／Ａ変換器４７へのデイジタ
ル入力（第９図）によつて定電流源４０を制御す
るためにマイクロプロセツサ２００に入力され
る。（第３図では、以下説明する逆起電力測定か
ら導かれるパラメータと混同するのを避けるため
にＤ／Ａ変換器４７への配線は示していない。） しかしながら電流感知増幅器４８の出力は信号
線５１を経由して670ｍＶ比較回路５２に加えら
れる。これはツエナー・ダイオードによつて確立
された比較電圧を有し、入力線５１が670ｍＶに
達した時に出力状態を変える比較器である。マイ
クロプロセツサ２００は、電流が最初にターン・
オンされた時間と比較器が状態を変化させた時間
との間の時間差を測定するために用いられる。 供給電圧V_supを正確に測定するために、差動増
幅器５５はその入力が直接、相φA〜φCにまたが
つて結合されている。第４ａ図に示すように、差
動増幅器への結合は抵抗Ｒ１及びＲ２を経由し、
演算増幅器５５ａは抵抗Ｒ３を経て負入力端子に
（ポテンシヨメータＲ４による）トリマブル・フ
イードバツクを有する。通常のように、抵抗Ｒ２
を経由して演算増幅器５５Ａに至る正入力端子は
電圧調整ポテンシヨメータＲ５及び固定抵抗Ｒ５
１を含む。ポテンシヨメータＲ４及びＲ５は所望
の利得K_supを得るように調整される。従つてマイ
クロプロセツサ２００への入力はK_supV_supであ
る。さらに較正のために差動増幅器５５への入力
は、残りの回路及びマイクロプロセツサに、較正
された電源が与えられるように二極双投スイツチ
を含んでいる。テスト動作の時スイツチ５６はモ
ータ相φA〜φCを読み取る事のできる位置に入れ
られる。 真の逆起電力を読み取る（即ち直流成分を除去
する）ために、各相φA〜φCは差動増幅器６０
ａ，６０ｂ，６０ｃにAC結合され、各増幅器は
逆起電力のAC成分のみ即ち真の逆起電力を出力
信号として与える。回路６０ａ〜６０ｃで有用な
典型的なAC結合差動増幅器６０が第４ｂ図にし
めされている。第４ａ図と第４ｂ図の２つの回路
の相違は演算増幅器６０ａ〜６０ｃへの入力が、
AC信号のみを差動増幅器に結合するDCブロツキ
ング・キヤパシタＣ１４およびＣ１５を含むこと
だけである。入力のレベルにより要求される任意
のスケーリングを可能にするために、テストされ
る具体的なモータに関して種々の抵抗値およびキ
ヤパシタ値を選択し得る。 AC結合差動増幅器６０ａ〜６０ｃの出力は各
相の逆起電力V_bA〜V_bCを与える。これらの出力
は全波整流器７０ａ〜７０ｃ、加算増幅器９０ａ
〜９０ｃ及びゼロ交点検出回路１４０に供給され
る。 最初に各相に関する平均逆起電力の決定に付い
て述べると、第５図に示される典型的な全波整流
器７は１対の演算増幅器７１及び７２を含む。演
算増幅器７１及び７２の各々は、演算増幅器７１
及び７２を完全なダイオードとして働かせるため
にダイオードＤ１及びＤ３を含むダイオード・フ
イードバツク・ループを有する。回路の残りは例
えば抵抗Ｒ７及びポテンシヨメータＲ８であつ
て、演算増幅器７１の利得を制御する目的でフイ
ードバツク・ループの一部を形成する。演算増幅
器７２は変型された電圧フオロワとして接続さ
れ、従つてフイードバツク及びポテンシヨメータ
による調整は不要である。 第３図に示すように全波整流回路の各々は出力
７３，７４，７５をそれぞれ平均回路８０ａ〜８
０ｃに与える。典型的な平均回路８０は第６図に
示されている。平均回路は整流波形からリツプル
を平均化するための抵抗Ｒ１０及びキヤパシタＣ
１６を含む。これは出力又は平均逆起電力_bA−
Ｖ_bCを形成する。各平均回路の演算増幅器は電流
引き抜きを減少させるために高い入力インピーダ
ンスのエミツタ・フオロワとなつているので、Ｒ
１０及びＣ１６から成るRC回路を用いて真の平
均が得られる。 全波整流器７０ａ〜７０ｃからの出力は平均回
路８０ａ〜８０ｃに供給される以外に振幅検出保
持回路１００にも供給される。振幅検出保持回路
は第７ａ図及び第７ｂ図に示されている。第７ａ
図の回路は各々信号線７３，７４及び７５から入
力を取るために３回繰り返されている。第７ａ図
には回路の検出保持部の１つだけが示され、第７
ｂ図には３つの振幅検出保持回路の各々の出力の
組み合せに関する最小及び最大ピーク選択部が示
されている。 第７ａ図の振幅検出保持回路１００は、２個の
サンプル・アンド・ホールド段１０１及び１０２
（例えばDatel CorporationのSHM−IC−１）並
びにトラツキングを制御するための適当な論理回
路及び必要なメモリから構成される。サンプル・
アンド・ホールド段１０１及び１０２は縦続接続
され、第７ａ図の点線内の論理回路１０３及び１
０４の制御の下にある。信号線７３〜７５の１つ
からのアナログ信号入力がピーク値即ち振幅値に
達すると、第１のサンプル・アンド・ホールド回
路１０１の入力及び出力が等しい値になり、論理
回路１０３が急速に「サンプル」から「ホール
ド」に切り換わる。しかしアナログ信号が最大値
から減少する時、アナログ比較回路１０５は接合
点１０６の信号により即座に第１段のサンプル・
アンド・ホールド回路１０１を「ホールド」モー
ドにセツトする。このホールド条件が第１段のサ
ンプル・アンド・ホールド回路１０１に現われる
と、論理インバータ１０７及び信号線１０７ａに
現れるその出力信号により逆の信号（サンプル条
件）が第２段のサンプル・アンド・ホールド回路
１０２に現われる。アナログ信号が変化し続ける
と、波形の谷条件が生じ波形は次に新しい別のピ
ーク振幅に向つて上昇し始める。 論理信号は谷検出及びタイマ制御論理回路１０
４の第２のアナログ比較器１０８によつて作られ
る。これは波形の谷が検出された時に起きる。比
較器１０８からのこの制御信号はタイマ１０９の
入力に供給され、サンプル・アンド・ホールド回
路１０１及び１０２のリセツトを遅らせるように
働く。タイマ１０９の出力は、信号線１１１に反
転された制御信号を発生するインバータ１１０に
供給される。反転された制御信号は、単に２つの
TTL信号を短絡させる事によつて、接合点１０
６に生じる第１の論理信号と論理和を取られる。
従つて組み合された論理制御は所望の出力信号を
発生する。 ３つの相の各々からのサンプル・アンド・ホー
ルド段１０２の出力は７６〜７８とラベル付けら
れており、各々最大及び最小ピーク検出回路１１
５及び１３０に加えられる。実際はピーク検出回
路１１５及び１３０は、テスト中に回転子が回転
する時３つの相の最大の瞬時振幅を検出し読み取
る瞬時最大値読取回路である。瞬時最大値検出回
路１１５及び１３０の各々の出力は単位利得の演
算増幅器１１６，１３１に結合される。これらは
「ダウンストリーム」ローデイングを禁止し且つ
それぞれノード１１７及び１３２の信号を反転す
るためのバツフア増幅器及びインバータ増幅器と
して作用する。しかしながらバツフア及びインバ
ータ増幅器１３１は演算増幅器１３１の正入力に
加えられた電圧＋V1に関して加算増幅器として
も働くので、バツフア及びインバータ増幅器１１
６とは少し違つた様式で動作する。 瞬時最大値検出回路１１５は演算増幅器１１８
〜１２０並びにそれらに付属するダイオード及び
抵抗器のフイードバツク・ループから構成され
る。各演算増幅器１１８〜１２０に付属するダイ
オードＤ１２〜Ｄ１７は、位相信号７６〜７８の
いずれかが入力に加えられ他のものよりもその振
幅が低い時に、ブロツキング・ダイオードとして
働く。これはノード１１７において演算増幅器１
１６の負入力に最大振幅信号だけが加わる事も保
証する。 瞬時最小値検出回路１３０は瞬時最大値検出回
路１１５よりもいくらか微小な動作をする。第７
ｂ図に示すように、演算増幅器１３３〜１３５の
各々の出力はそれらの負入力に負電圧Ｖ１を印加
する事によつて正にバイアスされる。この電圧が
整合された抵抗Ｒ６８，Ｒ７２及びＲ８０経て印
加される。これらの抵抗は各々入力の対応する抵
抗即ちＲ６５，Ｒ７１及びＲ７７に整合してい
る。抵抗Ｒ６５，Ｒ６８，Ｒ７１，Ｒ７２，Ｒ７
７及びＲ８０は全て、演算増幅器１３３〜１３５
に非線型性が生じるのを防止するために、１％以
内で整合されるように選択されなければならな
い。同様に演算増幅器１３１に付属する抵抗Ｒ７
６及びＲ７６ａも整合される（１％以内で等しく
選択される）べきである。このようにして瞬時最
大値検出回路１１５と同様の方式で、最大振幅波
形だけがノード１３２に生じる。 瞬時最大値検出回路１１５の場合、ノード１１
７に生じる波形の振幅は負であり、この波形はバ
ツフア及び演算増幅器１１６によつて反転され出
力線VP_naxに出力を与える。しかし瞬時最小値検
出回路１３０の場合は、ノード３２における波形
の振幅は正である。演算増幅器１３１の正入力へ
の電圧＋V1の印加は演算増幅器１３１の出力を
負にバイアスするのに役立つので、ノード１３２
から演算増幅器の出力への信号の反転に伴なつて
バイアス条件の反転と加算も生じる。正味の効果
はゼロ即ち大地レベルを元のレベルに戻す事であ
る。従つて電圧−V1及び＋V1は（反対極性であ
つても）１％以内で同じ大きさを持たなければな
らず従つて出力VP_nioは真の値である。 回路９０ａ〜９０ｃの加算増幅器は第８ａ図
に、ゼロ交点検出回路１４０内に含まれるものと
して説明されている。加算増幅器は、２つの相の
和を出力する演算増幅器９１ａ〜９１ｃから構成
される。各増幅器９１ａ〜９１ｃの出力におい
て、入力V_bA〜V_bCから電圧V_bAB、V_bBC及びV_bCA
が導き出される。 ゼロ交点検出回路１４０は入力信号V_bA〜V_bC
及び２つの相に関する和信号V_bAB〜V_bCAの両者
について安定なデイテント（負勾配）に関する交
点検出し、第８ｂ図に示すように出力信号を得る
ために適当な信号の論理和を取る。 もう１度第８ａ図を参照すると、信号V_bA〜
V_bCは各々比較器１４１〜１４３に加えられ、比
較器の出力信号はキヤパシタと抵抗との組合せＣ
４，Ｒ１９；Ｃ７，Ｒ２５；又はＣ１１，Ｒ３３
から成る微分回路に加えられる。その結果得られ
る微分信号はダイオードＤ４，Ｄ６，Ｄ８を通過
し、各々インバータ１４４〜１４６及び抵抗とキ
ヤパシタとの組合せＲ１８，Ｃ５；Ｒ２６，Ｃ
８；Ｒ３４，Ｃ１２から成る成形回路に送られ
る。第８ｂ図に示すように、インバータ１４４〜
１４６の出力は分岐し、一方の出力は直接マイク
ロプロセツサ２００に同期パルス源として与えら
れる。第８ｂ図でパルスφA〜φCは各々、この例
では、安定デイテント即ち負勾配交点に対応す
る。又、インバータ１４４〜１４６の出力信号は
ORゲート１５３〜１５５で論理和を取られ、パ
ルス列出力θ₁を与える。さらに第８ａ図に示すよ
うに、加算増幅器９１ａ〜９１ｃからの出力信号
は直接、比較器１４７〜１４９に加えられ、その
出力はキヤパシタ、抵抗Ｃ６，Ｒ４０；Ｃ９，Ｒ
３１；Ｃ１５，Ｒ３９から成る微分回路に与えら
れる。微分回路の出力信号は各々インバータ１５
０〜１５２に与えられ、その出力はORゲート１
５６〜１５８で論理和を取られてパルス列出力θ₂
を与える。テストが一定の回転子12回転速度で行
なわれている限り、パルス列出力θ₁及びθ₂はステ
ツプ間の距離に比例する情報を含む。 パルス列θ₁、θ₂はハードウエア・タイマ１７０
に加えられ、タイマはパルス間の時間を、ステツ
プ間の時間に比例するデイジタル数値即ちΔθ₁、
Δθ₂に変換する。それらの数値は「ステツプ精度
測定」と題した章で説明したようにステツプ語差
を決定するためにマイクロプロセツサ２００に与
えられる。例えばプロセツサはデイジタル数値
Δθ₁で表わされる時間の列を探索して最小時間及
び最大時間の両者を見い出し、式(6)に示すように
それらのデータを百分率ステツプ誤差に変換す
る。 同様にパルス列θ₂も、ハードウエア・タイマ１
７０を通過しデイジタル数値Δθ₂に変換された後
で、式(7)Ｃに示すように処理される。 マイクロプロセツサ２００は、マイクロプロセ
ツサ・ボード上に搭載されており、周知のいずれ
のマイクロプロセツサ又はマイクロプロセツサ・
フアミリを含んでいても良い。この実施例では
8085マイクロプロセツサ付きのインテル
ISBC8030カード、マルチ・バス・マイクロコン
ピユータが良好に用いられ、カードあるいはボー
ド上には8253ハードウエア・タイマが用いられ
た。8253ハードウエア・タイマはパルス列θ₁及び
θ₂を受け取るハードウエア・タイマ１７０に相当
する。またマイクロコンピユータあるいはマイク
ロプロセツサ・ボードはＡ／Ｄ変換器も有する。
Ａ／Ｄ変換器は、テスタによつてマイクロプロセ
ツサに与えられるアナログ電圧を対応するデイジ
タル値に変換し、そのデイジタル値からマイクロ
プロセツサによつてモータ・パラメータが導出さ
れる。 モータ・テスト・パラメータに関する、これま
で説明して来た方程式はアナログ方程式であり、
多くの場合パラメータの値は純粋のデイジタル数
値ではなくて電圧等の単位を有する。しかしなが
ら導出した方程式は本発明の方法の応用を任意の
マイクロプロセツサ又は任意の適当な計算機に対
して許すものと信じられる。 もしもモータを次々とテストすべきオン・ライ
ン・テンタに関して本発明の方法が用いられるな
らば、単にオペレータに合格又は不合格の表示を
する表示装置にマイクロプロセツサを適合させる
のは単純な事である。さらにマイクロコンピユー
タは、モニタあるいはビデオ表示装置に接続し
て、そのような合格不合格を表示させ、又は本明
細書中の表に示されているような所定の許容でき
るパラメータとモータのパラメータとを比較しあ
るいはモータのパラメータの読出しを行なわせて
も良い。 上述のテスタを利用したステツプ・モータのテ
スト法を用いれば、任意の傾向例えば固定子対回
転子のギヤツプの傾向を決定するために現実の読
出しデータを比較して調査する事ができる。従つ
て何らかの製造上の欠陥によりモータが許容でき
なくなる以前に、モータ用の製造機械を置き換え
るためにその磨耗を解析する事もできる。 従つて本発明の方法は、単にモータの全ての相
を直列に接続し、回転子を一様な速度で回転さ
せ、被テスト・モータの各相の逆起電力を決定
し、そしてそれを解析して、モータが所定のモー
タ特性を満足するか否かを決定するために最適の
モータ・パラメータと比較する事によつて、モー
タの非常に迅速なテストを可能にする。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の方法によりテストされるステ
ツプ・モータの例の断面図、第２図は第１図のモ
ータの回転子又はモータ・シヤフトを回転させる
ためのホルダーの側面図、第３図はテストされる
モータの逆起電力を決定しそれからモータのパラ
メータを導き出すために用いられる回路のブロツ
ク図、第４ａ図は第３図に示されているDC結合
差動増幅器の図、第４ｂ図は第３図に示されてい
るAC結合差動増幅器の図、第５図は第３図の回
路で用いられる全波整流器の図、第６図は第３図
の回路で用いられる平均回路の図、第７ａ図及び
第７ｂ図は第３図の回路で用いられる振幅検出保
持回路の図、第８ａ図及び第８ｂ図は第３図の回
路で用いられるゼロ交点検出回路の図、第９図は
第３図の回路で用いられる電流源の図、第１０
図、第１１図、第１２ａ図及び第１２ｂ図は第３
図乃至第９図の回路から導き出される種々の信号
及びモータ・パラメータを説明する図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 複数の相を持つ固定子及び回転子を有するス
   テツプ・モータをテストする方法であつて、 テストされるモータの相を直列に接続し、上記
   相に一定の電流を加え、上記モータの上記回転子
   を一定速度で回転させ、少なくとも１つの相にお
   ける電圧降下を検出し、上記電圧降下を上記少な
   くとも１つの相に関する逆起電力に変換し、上記
   モータのパラメータと上記逆起電力との関係から
   導出された式に基づいて上記逆起電力の検出値か
   ら上記モータのパラメータを決定する工程を含む
   ステツプ・モータのテスト方法。 ２ 上記モータの各相の電圧降下を検出し、該電
   圧降下を上記各相に関する逆起電力に変換し、該
   逆起電力を解析する、特許請求の範囲第１項記載
   のテスト方法。