JPH0274853A - 被処理体検査方法及びその装置 - Google Patents
被処理体検査方法及びその装置Info
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- JPH0274853A JPH0274853A JP22722788A JP22722788A JPH0274853A JP H0274853 A JPH0274853 A JP H0274853A JP 22722788 A JP22722788 A JP 22722788A JP 22722788 A JP22722788 A JP 22722788A JP H0274853 A JPH0274853 A JP H0274853A
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- Japan
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- inspecting
- processed
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- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000004080 punching Methods 0.000 abstract description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002040 relaxant effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は被処理体の検査方法及びその装置に関し、例え
ばフロッピーディスク等の磁気記録媒体の製造時に実施
される欠陥検出方法及びその装置に関するものである。
ばフロッピーディスク等の磁気記録媒体の製造時に実施
される欠陥検出方法及びその装置に関するものである。
口、従来技術
フロ・ンピーディスク等の製造時に、ウェブ状の媒体を
搬送しながらその欠陥を検出する技術が例えば特開昭6
2−283421号公報に示されている。
搬送しながらその欠陥を検出する技術が例えば特開昭6
2−283421号公報に示されている。
即ち、第4図に示すように、ウェブ1を巻き出しロール
2から繰り出しながら、光学的センサユニットからなる
検査装置3によって欠陥を検出した後、ダンサロール等
の速度調節部材14による調節段階4を通し、しかる後
にプレス装置5でパンチ型15によってディスク状の媒
体6を打ち抜き、残りのウェブ1は巻き取りロール7に
巻き取る。ここでは、検査装置3は、発光素子8からの
光を回転式走査装置9でウェブ幅方向に走査し、その反
射光をレンズ10を介して受光素子11に入射させ、こ
れによってウェブ1を送りながらその欠陥を検出しく1
2はディスクとなる領域)、検出結果を書き込み装置1
3でウェブに磁気的に書き込み、そしてパンチング時に
前取って読み出し装置16で磁気的に読み出す。従って
、この読み出しデータに基いて、バンチしたディスクを
良品として17のように回収するか、或いは18として
不良品とするかを選択できる。
2から繰り出しながら、光学的センサユニットからなる
検査装置3によって欠陥を検出した後、ダンサロール等
の速度調節部材14による調節段階4を通し、しかる後
にプレス装置5でパンチ型15によってディスク状の媒
体6を打ち抜き、残りのウェブ1は巻き取りロール7に
巻き取る。ここでは、検査装置3は、発光素子8からの
光を回転式走査装置9でウェブ幅方向に走査し、その反
射光をレンズ10を介して受光素子11に入射させ、こ
れによってウェブ1を送りながらその欠陥を検出しく1
2はディスクとなる領域)、検出結果を書き込み装置1
3でウェブに磁気的に書き込み、そしてパンチング時に
前取って読み出し装置16で磁気的に読み出す。従って
、この読み出しデータに基いて、バンチしたディスクを
良品として17のように回収するか、或いは18として
不良品とするかを選択できる。
しかしながら、上記の如き公知技術において、ダンサロ
ール14の両側(即ち、検査装置3とプレス装置5)で
はウェブ1の送り速度を異ならせないと各作業を良好に
行えないため、ダンサロール14も含めて精度の良い速
度調節機構が必要となり、構造の複雑化、コストの上昇
を免れない。
ール14の両側(即ち、検査装置3とプレス装置5)で
はウェブ1の送り速度を異ならせないと各作業を良好に
行えないため、ダンサロール14も含めて精度の良い速
度調節機構が必要となり、構造の複雑化、コストの上昇
を免れない。
ハ1発明の目的
本発明の目的は、上記のパンチング等の処理を受ける被
処理体の検査を速度制御不要若しくは緩和下でかつ簡単
、低コストに実現できる方法及びその装置を提供するこ
とにある。
処理体の検査を速度制御不要若しくは緩和下でかつ簡単
、低コストに実現できる方法及びその装置を提供するこ
とにある。
二0発明の構成
即ち、本発明は、長尺状の被処理体(例えば、磁気記録
媒体のウェブ)が速度調節部材(例えばダンサロール)
を介して所定の処理段階(例えばパンチング工程)へ送
られる前に、前記被処理体のキズ等の欠陥の有無等を検
査する検査方法において、前記速度調節部材よりも前方
の位置(特に、前記速度調節部材と前記処理段階との間
)にて、前記処理段階による前記被処理体の処理ピッチ
(P)に関し前記処理段階からほぼn P +2 P
(但し、n≧0)離れた位置に前記被処理体の検査領
域を設けることを特徴とする被処理体検査方法に係るも
のである。
媒体のウェブ)が速度調節部材(例えばダンサロール)
を介して所定の処理段階(例えばパンチング工程)へ送
られる前に、前記被処理体のキズ等の欠陥の有無等を検
査する検査方法において、前記速度調節部材よりも前方
の位置(特に、前記速度調節部材と前記処理段階との間
)にて、前記処理段階による前記被処理体の処理ピッチ
(P)に関し前記処理段階からほぼn P +2 P
(但し、n≧0)離れた位置に前記被処理体の検査領
域を設けることを特徴とする被処理体検査方法に係るも
のである。
また、本発明は、上記方法を実施する装置として、前記
速度調節部材よりも前方の位置(特に、前記速度調節部
材と前記処理段階との間)にて、前記処理段階による前
記被処理体の処理ピッチ(P)に関し前記処理段階から
ほぼnP+±P(但し、n≧0)離れた位置が前記被処
理体の検査領域となるように検査手段(例えば、光学的
センサユニント)が配置されていることを特徴とする被
処理体検査装置も提供するものである。
速度調節部材よりも前方の位置(特に、前記速度調節部
材と前記処理段階との間)にて、前記処理段階による前
記被処理体の処理ピッチ(P)に関し前記処理段階から
ほぼnP+±P(但し、n≧0)離れた位置が前記被処
理体の検査領域となるように検査手段(例えば、光学的
センサユニント)が配置されていることを特徴とする被
処理体検査装置も提供するものである。
ホ、実施例
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図〜第3図は、本発明をフロッピーディスクに適用
した実施例を示すものである。但し、第4図と共通する
部分には共通符号を付し、その説明を省略することがあ
る。
した実施例を示すものである。但し、第4図と共通する
部分には共通符号を付し、その説明を省略することがあ
る。
本実施例によれば、本発明に基いて、長尺状のウェブ1
をダンサロール14を介してパンチング工程5へ送る前
に、ダンサロール14とパンチング工程5との間でパン
チングの処理ピッチP(第2図参照)に関しパンチング
工程5からn P + ’ P(但し、n≧0、例えば
n=2)後方へ離れた位置に検査領域23を設け、ここ
に上述したと同様の光学的センサユニット3を配置する
。
をダンサロール14を介してパンチング工程5へ送る前
に、ダンサロール14とパンチング工程5との間でパン
チングの処理ピッチP(第2図参照)に関しパンチング
工程5からn P + ’ P(但し、n≧0、例えば
n=2)後方へ離れた位置に検査領域23を設け、ここ
に上述したと同様の光学的センサユニット3を配置する
。
この検査領域23の前方には、パンチ型15からなるパ
ンチング(プレス)装置5が配され、ここでパンチング
されたディスク6はベルトコンベヤ20で送られ、仕分
けFillによって良品17と不良品18に分離される
(第3図参照)。ウェブ1はパンチング後にロール7に
巻き取られる。
ンチング(プレス)装置5が配され、ここでパンチング
されたディスク6はベルトコンベヤ20で送られ、仕分
けFillによって良品17と不良品18に分離される
(第3図参照)。ウェブ1はパンチング後にロール7に
巻き取られる。
上記したように、本実施例の方法及び装置は、第4図に
示した従来技術とは全く異なり、検査領域23をダンサ
ロール14の前方にて上記のnP+1Pの位置に配した
ので、次の如き顕著な効果を得ることができる。
示した従来技術とは全く異なり、検査領域23をダンサ
ロール14の前方にて上記のnP+1Pの位置に配した
ので、次の如き顕著な効果を得ることができる。
(1)、ダンサロール14による前後の速度調節はそれ
程厳密にしなくても(或いは場合によっては不要とし、
その前後のウェブ速度を同じに、例えばパンチングに合
せて間欠送りとしても)、ウェブ移動中に検査領域にお
いてディスク領域12の全域を十分に検査することがで
きる。この場合、キズ等の欠陥の検出は、上記検査領域
23をウェブ1が切通しながら平均的に行われるので、
検出能力が一定となり、良好な検出が可能である。
程厳密にしなくても(或いは場合によっては不要とし、
その前後のウェブ速度を同じに、例えばパンチングに合
せて間欠送りとしても)、ウェブ移動中に検査領域にお
いてディスク領域12の全域を十分に検査することがで
きる。この場合、キズ等の欠陥の検出は、上記検査領域
23をウェブ1が切通しながら平均的に行われるので、
検出能力が一定となり、良好な検出が可能である。
(2)、しかも、この検出時のウェブ移動はパンチング
のピッチに一致させて行えばよいため、従来のようなダ
ンサロールの前後での厳密な速度調節は不要となるか若
しくは緩和してもよく、装置を複雑化しないで簡単かつ
低コストにして正確な欠陥検出が可能となる。
のピッチに一致させて行えばよいため、従来のようなダ
ンサロールの前後での厳密な速度調節は不要となるか若
しくは緩和してもよく、装置を複雑化しないで簡単かつ
低コストにして正確な欠陥検出が可能となる。
(3)、上記した欠陥検出時に受光素子11 (ライン
センサ等)から得られた検出情報は制御器(図示せず)
に入れ、これに基いて仕分は板21を第3図の如くに実
線位置(欠陥なしの場合)と仮想線位置(欠陥ありの場
合)との間でいずれかの状態になるように回転させるこ
とができるので、製品の仕分は若しくは分離が容易とな
る。なお、欠陥検出によって欠陥ありとされた場合、プ
レス装置5の駆動制御を行ってウェブ1を打抜かないよ
うにすることもできる。
センサ等)から得られた検出情報は制御器(図示せず)
に入れ、これに基いて仕分は板21を第3図の如くに実
線位置(欠陥なしの場合)と仮想線位置(欠陥ありの場
合)との間でいずれかの状態になるように回転させるこ
とができるので、製品の仕分は若しくは分離が容易とな
る。なお、欠陥検出によって欠陥ありとされた場合、プ
レス装置5の駆動制御を行ってウェブ1を打抜かないよ
うにすることもできる。
以上、本発明を例示したが、上述の例は本発明の技術的
思想に基いて更に変形可能である。
思想に基いて更に変形可能である。
例えば、ウェブに対する検査位置は上述のn P +
z Pの範囲で種々のnを選ぶこと等によって適宜変
更してもよい。この場合、検出位置はlpの位置から多
少前方側又は後方側にずれていてもよく、これも本発明
の範囲内である。また、検査手段は上述のセンサユニッ
トの他、種々ノ光学式のものを採用してよいし、或いは
光学式以外のものでもよく、更にその配置も変更してよ
い。
z Pの範囲で種々のnを選ぶこと等によって適宜変
更してもよい。この場合、検出位置はlpの位置から多
少前方側又は後方側にずれていてもよく、これも本発明
の範囲内である。また、検査手段は上述のセンサユニッ
トの他、種々ノ光学式のものを採用してよいし、或いは
光学式以外のものでもよく、更にその配置も変更してよ
い。
(よ
また、使用する構成部材グ上述したものに限定されるこ
とはない。なお、本発明はフロッピーディスクのパンチ
ングのみならず、他の処理の際にも適用可能であるし、
他の磁気記録媒体その他の被処理体の検査にも適用して
よい。
とはない。なお、本発明はフロッピーディスクのパンチ
ングのみならず、他の処理の際にも適用可能であるし、
他の磁気記録媒体その他の被処理体の検査にも適用して
よい。
へ0発明の作用効果
本発明は上述した如く、速度調節部材の前方位置で処理
段階からほぼn P +’ P離れた位置に検査領域を
設けているので、被処理体の移動中に検査領域において
所定の全域を十分に検査することができる。しかも、こ
の移動は処理段階の処理ピッチに一致させて行えばよい
ため、従来のような速度調節部材の前後での厳密な速度
調節は不要となるか若しくは緩和してもよ(、装置を複
雑化しないで簡単かつ低コストにして正確な検査が可能
となる。
段階からほぼn P +’ P離れた位置に検査領域を
設けているので、被処理体の移動中に検査領域において
所定の全域を十分に検査することができる。しかも、こ
の移動は処理段階の処理ピッチに一致させて行えばよい
ため、従来のような速度調節部材の前後での厳密な速度
調節は不要となるか若しくは緩和してもよ(、装置を複
雑化しないで簡単かつ低コストにして正確な検査が可能
となる。
第1図〜第3図は本発明の実施例を示すものであって、
第1図はフロッピーディスク製造フローの一例の概略斜
視図、 第2図はパンチングと検査位置を示す第1図の要部拡大
平面図、 第3図は第1図の要部拡大正面図 である。 第4図は従来のフロッピーディスク製造フローの概略斜
視図である。 なお、図面に示す符号において、 1・・・・・・・・・ウェブ 3・・・・・・・・・光学的センサユニット4・・・・
・・・・・速度調節段階 5・・・・・・・・・プレス装置 6・・・・・・・・・フロッピーディスク8・・・・・
・・・・発光素子 9・・・・・・・・・回転式走査装置 11・・・・・・・・・受光素子 12・・・・・・・・・ディスク領域 14・・・・・・・・・ダンサロール 15・・・・・・・・・パンチ型 17・・・・・・・・・良品 18・・・・・・・・・不良品 20・・・・・・・・・ベルトコンベヤ21・・・・・
・・・・仕分は板 23・・・・・・・・・検査領域 である。
視図、 第2図はパンチングと検査位置を示す第1図の要部拡大
平面図、 第3図は第1図の要部拡大正面図 である。 第4図は従来のフロッピーディスク製造フローの概略斜
視図である。 なお、図面に示す符号において、 1・・・・・・・・・ウェブ 3・・・・・・・・・光学的センサユニット4・・・・
・・・・・速度調節段階 5・・・・・・・・・プレス装置 6・・・・・・・・・フロッピーディスク8・・・・・
・・・・発光素子 9・・・・・・・・・回転式走査装置 11・・・・・・・・・受光素子 12・・・・・・・・・ディスク領域 14・・・・・・・・・ダンサロール 15・・・・・・・・・パンチ型 17・・・・・・・・・良品 18・・・・・・・・・不良品 20・・・・・・・・・ベルトコンベヤ21・・・・・
・・・・仕分は板 23・・・・・・・・・検査領域 である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、長尺状の被処理体が速度調節部材を介して所定の処
理段階へ送られる前に、前記被処理体を検査する検査方
法において、前記速度調節部材よりも前方の位置にて、
前記処理段階による前記被処理体の処理ピッチ(P)に
関し前記処理段階からほぼnP+(1/2)P(但し、
n≧0)離れた位置に前記被処理体の検査領域を設ける
ことを特徴とする被処理体検査方法。 2、長尺状の被処理体が速度調節部材を介して所定の処
理段階へ送られる前に、前記被処理体を検査する検査装
置において、前記速度調節部材よりも前方の位置にて、
前記処理段階による前記被処理体の処理ピッチ(P)に
関し前記処理段階からほぼnP+(1/2)+P(但し
、n≧0)離れた位置が前記被処理体の検査領域となる
ように検査手段が配置されていることを特徴とする被処
理体検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22722788A JPH0274853A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 被処理体検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22722788A JPH0274853A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 被処理体検査方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0274853A true JPH0274853A (ja) | 1990-03-14 |
Family
ID=16857496
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22722788A Pending JPH0274853A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 被処理体検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0274853A (ja) |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP22722788A patent/JPH0274853A/ja active Pending
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