JPH0277660A

JPH0277660A - 磁気ディスク評価装置

Info

Publication number: JPH0277660A
Application number: JP22947088A
Authority: JP
Inventors: Katsuhiro Shimokawa; 下川　活弘; Toshihiko Nishimura; 西村　敏彦
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1988-09-13
Filing date: 1988-09-13
Publication date: 1990-03-16
Anticipated expiration: 2014-06-23
Also published as: JP2909741B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］この発明は、磁気ディスクの媒体の評価装置における媒
体欠陥の判定処理方式に関し、詳しくは、複数回のりト
ライ読出しによりえられたエラーデータより、媒体欠陥
を判定処理する手段をハード回路により構成したもので
ある。

［従来の技術］情報記録に使用される磁気ディスクは、製造過程におい
て磁気媒体になんらかの欠陥が生じて、記録情報のエラ
ーの原因となる。このような磁気媒体に対して、磁気デ
ィスク評価装置により媒体検査（サーテイファイ）を行
い、テスト符号に生じたエラーを検出することにより欠
陥が検査されている。

第２図（ａ）、（ｂ）は、媒体検査においてテスト符号
に生ずるエラーとその検査方法を説明するもので、図（
ａ）において、磁気ディスク１に設定された多数のトラ
ンクＴＲは、円周方向に複数のセクタ８１〜ＳＳに等分
割され、各トラックのセクタに対して、図（ｂ）の（イ
）に示すテスト符号が書込まれる。これを読出したとき
は、（ａ）に示すように、標準レベルＬｏより大きいパ
ルスＰｅ１または小さいパルスＮｅが混在して現れる。

これらを一定の閾値ＬＰに比較して大きいパルス群を正
（Ｐｅ）エラー、閾値ＬＮに比較して小さいパルス群を
負（Ｎｅ）エラーとする。図中のＭはパルスが欠落した
ミンシングエラーである。また、（ハ）は、記録がイレ
ーズ（消去）されたディスクに対する読出しにより検出
された、湧出しエラー（エキストラエラー）Ｅを示す。

これらの各種の符号エラーには、媒体自体の固有欠陥（
媒体欠陥）によるものの他、付着した塵埃などの媒体以
外によるものが含まれている。検出されたエラーデータ
により媒体を評価し、ディスクの製造工程にフィードバ
ックするには、媒体以外の欠陥によるものを除外して媒
体欠陥のみのデータとすることが必要である。そこで、
読出しを複数回リトライし、出現回数が少ないものは、
エラーの原因となる塵埃などがリトライにより移動、発
散したために再検出されないか、または途中からトラッ
クに侵入して検出されたものとしてデータから除外し、
ある程度以１−の回数検出されたものを媒体欠陥とする
方法が行われている。

以１・、の媒体欠陥の検査方法として最も原理的な方法
は、ディスクを回転して読出したテスト符号にエラーが
検出されたとき、そのエラーのセクタ番号をレジスタな
どの小メモリに記憶しておき、次の回転により当該セク
タの位置でエラーの有無を調べ、回転を必要回数繰り返
し、各回転におけるエラー数を合計する方法であるが、
エラーが多数の場合には、極めて効率が低いことは明ら
かである。そこで、各回転において検出された各セクタ
のエラーをすべてメモリに記憶して、マイクロプロセッ
サの処理により媒体欠陥を判定する方法が行われている
。

第３図は、メモリを使用して複数回のりトライによるエ
ラーデータ上記録し、マイクロプロセッサの処理により
媒体欠陥の判定方法を説明するもので、複数Ｎ回の読出
しによりえられたエラーはエラ一種別識別回路により種
別が識別され、マイクロプロセッサの処理によりエラー
メモリ２に記録される。エラーメモリ２は、各読出し回
数に対応してＮ個のメモリエリア２−１．２−２．・・
・２−Ｎを設け、各メモリエリアには、リトライされた
読出しごとに、検出されたエラーに対するセクタ番号（
ＳＮｏ）と、種別を表すコード（Ｋｃｏｄ）上記憶する
。この場合、同一セクタに存在する同一種別のエラーは
、個数に拘らず１個として記憶する。各メモリ空間に記
憶されたエラーは、各種別および各セクタごとの合計数
ｎと、数ｎのリトライ回数Ｎに対する比ｎ／Ｎを求める
。ｎ／Ｎが一定の基準値ｎ□／Ｎより大きいときは媒体
欠陥によるもとする。また、ｎ／Ｎがｎｏ／Ｈに満たな
いときは、媒体以外の欠陥によるものとして除外する。

例えば、リトライ回数Ｎを５、基準値を２１５　（ｎｏ
　＝　２）とするとき、エラーが２同辺り検出された場
合は媒体欠陥であり、１回のみの場合は、媒体以外とす
る。各トラックに対して以上の処理がなされ、媒体欠陥
のデータは、マイクロプロセッサの処理によりセクタ番
号順に、欠陥種別のコードを付与して表示され、または
プリント出力される。

［解決しようとする課題］上記した、検出されたエラーデータのメモリ空間に対す
る記録とそれらの合計の計算、および媒体欠陥の判定処
理はすべてマイクロプロセッサのプログラムにより行わ
れている。しかし、最近における大型磁気ディスクにお
いては、記録密度、容量が膨大であり、比例して欠陥の
数も増加し、Ｎ個のメモリエリアに対するエラーデータ
の記録と、各メモリエリアにおける同一セクタのエラー
データをプロセッサに取り込んで比較照合する処理には
かなりの長い時間を要する。一方、この場合におけるメ
モリに対する記録ないしは計算処理は、極めてｒｌｔ純
なものであるので、ハード回路により処理する方が迅速
で得策と考えられる。

この発明は、以−■−に鑑みてなされたもので、マイク
ロプロセッサのプログラムによらず、ハード回路により
、検出されたエラーをメモリ空間に記録し、そのエラー
データが媒体固有の欠陥によるものか、塵埃などの媒体
以外によるものかを、上記の基準値に比較して迅速に判
定し、これを集約して欠陥メモリに記録する媒体欠陥判
定処理方式を提供することをＬｌ的とするものである。

［課題を解決するための手段］この発明は、磁気ディスクのトラックの各セクタに書込
まれたテスト符号に対して、読出しを複数Ｎ回行う磁気
媒体の評価試験における媒体欠陥判定処理方式であって
、複数Ｎ回のそれぞれの読出しにおいてテスト符号に発
生し、エラ一種別識別回路により種別が識別されたエラ
ーを、該種別に対するメモリ空間の、該エラーのセクタ
番号および読出し回数に対応するアドレスに１ビットの
エラービットとして古込むエラー書込み手段と、メモリ
空間のエラーデータに対して、種別およびセクタごとに
、複数Ｎ回の読出しに対するエラー検出回数を合３ｆ　
Ｌ　、合計された数ｎの複数Ｎに対する比ｎ　／　Ｎが
基準値ｎ□／Ｎ以−ヒのとき、エラーを媒体欠陥による
ものと判定する判定手段、および、判定手段により判定
された媒体欠陥に対するセクタ番号と欠陥種別とを欠陥
メモリに書込む制御手段とを、ハード回路により構成し
たものである。

［作用］以上の構成による、この発明の磁気ディスク評価装置の
媒体欠陥判定処理方式においては、読出しにおいて検出
されたテスト符号のエラーは、種別ごとのメモリ空間の
相当するセクタ番号と回数のアドレスに１ビットで記憶
され、複数回のりトライが終了すると、媒体欠陥判定回
路において、複数Ｎ回に対するエラー検出回数が各セク
タごとに合計され、合計数ｎと、複数Ｎに対する比ｎ／
Ｎが計算され、この値を一定の基準値ｎｏ／Ｈに比較し
、それ以上のとき媒体欠陥によるものと判定する。この
判定結果により、占込み制御回路により、媒体欠陥の存
在するセクタ番号と、エラー（欠陥）種別が欠陥メモリ
にセクタ順に記録され、プリント出力される。以上にお
ける、エラーメモリに対する記録処理、エラー検出回数
の計算、および欠陥メモリに対する記録などは、すべて
ハード構成による各回路により迅速に行われる。なお、
基準値のｎ□／Ｎは実情に合わせて設定するものである
。

［実施例］第１図（ａ）、（ｂ）および（ｅ）は、この発明による
磁気ディスク評価装置の媒体欠陥判定方式の実施例にお
けるブロック構成と、判定処理の説明図である。図（ａ
）において、磁気ヘッド３により磁気ディスク１のトラ
ックに対してテスト符号が、セ゛クタごとに書込まれる
。読出されたテスト符号の信号はアンプ４により適当な
レベルに調整されて、エラ一種別識別回路５に入力して
エラ一種別が識別され、種別ごとにセクタ単位で、エラ
ー数に拘らず１ビットのエラービットで代表して表示さ
れる。このような識別とビット処理は、従来行われてい
る方法である。−・方、−逐次読出されるテスト符号の
間に設けられたセクタマークがセクタカウンタ５ａによ
りカウントされてセクタ番号かえられる。

以上によりえられたエラービットに対するセクタ番号と
エラ一種別のコードがエラー書込み回路６によりエラー
メモリ７に８込まれる。エラーメモリ７は、第２図（ｂ
）で説明した正（Ｐｅ）エラーに対する第１メモリエリ
ア７−１と、負（Ｎｅ）エラーに対する第２メモリエリ
アフー２、およびミッシングエラーＭとエキストラエラ
ーＥに共通の第３メモリエリアフー３よりなる。また、
各メモリエリアは図（ｂ）に示すように、アドレスの横
方向をセクタ番号（ＳＮｏ）に、縦方向を読出し回数（
Ｎ）に対応させたもので、エラービットが検出されたセ
クタの番号のアドレスに１ビットが記録される。

逐次行われる読出しの回数は、エラー書込み回路により
カウントされており、その回数に対応するアドレスが指
定されてｌ−記の書込みが行われる。

次に、各メモリエリアのエラーデータは、媒体欠陥判定
回路８に転送されて、各セクタ番号ごとのＮ回の読出し
に対するエラー検出回数の合計ｎと、複数Ｎに対する比
ｎ／Ｎが計算され、これが予め設定された基準値ｎ（１
／Ｎに比較され、前記した方法により、ｎ／Ｎがｎｏ／
Ｎ以上のときは、エラーは媒体欠陥によるものと判定さ
れる。ここで、基準値のｎｏ／Ｎは任意に変更が可能で
、実情に合わせて設定される。ついで、媒体欠陥に対す
るセクタ番号と欠陥種別コードが、欠陥書込み制御回路
９により欠陥メモリ１０に記録される。欠陥メモリ１０
は、図（Ｃ）のように、セクタ番号（ＳＮｏ）と、欠陥
種別（Ｐｅ、Ｎｅ、Ｍ／　Ｅ　）をフラグで示すもので
ある。ここで、欠陥メモリに記録するセクタ番号は、媒
体欠陥判定回路８の処理の回数をアドレスカウンタ８ａ
によりカウントしてえられる。

なお、エキストラエラーＥに対しては、上記の読出しと
同時に検出できないので、テスト符号をイレーズした後
に、上記と同様の読出しを行う。以上のような読出しと
判定処理を各トラックに対して順次行い、ディスク全体
の媒体評価がなされるものである。

［発明の効果コ以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ディスク評価装置の媒体欠陥判定方式においては、複数
回読出しされたテスト符号のエラーに対して、ハード構
成の各回路により、エラーメモリに対する記録、記録さ
れたエラーデータの判定処理および判定結果の欠陥メモ
リに対する記録などが行われるもので、従来のプログラ
ムによる処理方法に比較して非常に迅速であり、高密度
、大容量の磁気ディスクに対する評価試験を短時間に完
了できる効果には大きいものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、（ｂ）および（Ｃ）は、この発明による
磁気ディスク評価装置の媒体欠陥判定方式の実施例にお
けるブロック構成とエラーメモリおよび欠陥メモリの説
明図、第２図（ａ）および（ｂ）は、磁気ディスクに発
生するテスト符号のエラーとその検査方法の説明図、第
３図は第２図（ａ）、（ｂ）に対する従来の媒体欠陥の
判定方法の説明図である。１・・・磁気ディスク、　　　２・・・エラーメモリ、
３・・・磁気ヘッド、　　４・・・古込み／読出しアン
プ、５・・・エラ一種別識別回路、５ａ・・・セクタカ
ウンタ、６・・・エラー３込み回路、７・・・エラーメ
モリ、？−１・・・第１メモリエリア、７−２・・・第２メモリエリア、７−３・・・第３メモリエリア、８・・・媒体欠陥判定回路、８ａ・・・アドレスカウン
タ、９・・・欠陥書込み制御回路、１０・・・欠陥メモリ。

Claims

【特許請求の範囲】

磁気ディスクのトラックの各セクタに書込まれたテスト
符号に対して、読出しを複数Ｎ回行う磁気媒体の評価試
験において、該複数Ｎ回のそれぞれの読出しにおいてテ
スト符号に発生し、エラー種別識別回路により種別が識
別されたエラーを、該種別に対するメモリエリアの、該
エラーのセクタ番号および読出し回数に対応するアドレ
スに１ビットのエラービットとして書込むエラー書込み
手段と、該メモリ空間のエラーデータに対して、上記種
別およびセクタごとに、上記複数Ｎ回の読出しに対する
上記エラー検出回数を合計し、該合計された数ｎの上記
複数Ｎに対する比ｎ／Ｎが基準値ｎｏ／Ｎ以上のとき、
該エラーを媒体の固有欠陥（以下媒体欠陥）によるもの
と判定する判定手段、および該判定手段により判定され
た該媒体欠陥に対するセクタ番号および欠陥種別を、欠
陥メモリに書込む制御手段とをハード回路により構成し
たことを特徴とする、磁気ディスク評価装置の媒体欠陥
判定処理方式。