JPH0278212A - セラミックコンデンサ素子の容量値の調整方法 - Google Patents
セラミックコンデンサ素子の容量値の調整方法Info
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- JPH0278212A JPH0278212A JP22832188A JP22832188A JPH0278212A JP H0278212 A JPH0278212 A JP H0278212A JP 22832188 A JP22832188 A JP 22832188A JP 22832188 A JP22832188 A JP 22832188A JP H0278212 A JPH0278212 A JP H0278212A
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- ceramic capacitor
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 21
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/255—Means for correcting the capacitance value
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、セラミックコンデンサ素子の対向する電極の
一部を切り離し、セラミックコンデンサ素子の容量値を
調整する方法に関する。
一部を切り離し、セラミックコンデンサ素子の容量値を
調整する方法に関する。
従来のセラミックコンデンサ素子の容量値の調整は、直
径数十ミクロンのアルミナ微粒子をノズルから圧縮空気
と共に噴射し、電極材を削り取るアブラッシブ・トリミ
ング法、又は微細なレーザ光を当てて、電極材を蒸発さ
せるレーザ・トリミング法によるものが主であった。し
かして、さらに、電極の一部をあらかじめくし形形状に
形成し、このくし形を根元部から一本づつ切り離して実
質上の電極面積を減少させ、所定の容量を得るといった
方法が、特開昭56−58294号公報によって開示さ
れた。過剰な電極部分を全て削除する従来のものと異な
り、過剰な電極部分を微細な線で切り離すだけで良いの
で、前記のトリミング装置の負担は大幅に軽減された。
径数十ミクロンのアルミナ微粒子をノズルから圧縮空気
と共に噴射し、電極材を削り取るアブラッシブ・トリミ
ング法、又は微細なレーザ光を当てて、電極材を蒸発さ
せるレーザ・トリミング法によるものが主であった。し
かして、さらに、電極の一部をあらかじめくし形形状に
形成し、このくし形を根元部から一本づつ切り離して実
質上の電極面積を減少させ、所定の容量を得るといった
方法が、特開昭56−58294号公報によって開示さ
れた。過剰な電極部分を全て削除する従来のものと異な
り、過剰な電極部分を微細な線で切り離すだけで良いの
で、前記のトリミング装置の負担は大幅に軽減された。
しかしながら、電極の一部をあらかじめくし形形状に形
成し、このくし形を根元部から切り離す方法では、電極
の一部をくし形形状にする必要があるために形状が複雑
になりかつ周辺回路の設計が制約を受けたり、容量の調
節幅がくし形の面積で決定されるため調節幅が荒くなり
、所定の容量値に一致させることが非常に困難であると
いう問題点があった。
成し、このくし形を根元部から切り離す方法では、電極
の一部をくし形形状にする必要があるために形状が複雑
になりかつ周辺回路の設計が制約を受けたり、容量の調
節幅がくし形の面積で決定されるため調節幅が荒くなり
、所定の容量値に一致させることが非常に困難であると
いう問題点があった。
本発明は、従来の、このような上記の問題点を解決する
ために為されたものである。
ために為されたものである。
すなわち、トリミング装置が複雑な演算等の制御を必要
とせず、制御のプログラムは簡単に作成でき、さらに、
調節幅が細かく、所定の容量値に一致させることが容易
なセラミックコンデンサ素子の容量値の調整方法を提供
しようとするものである。
とせず、制御のプログラムは簡単に作成でき、さらに、
調節幅が細かく、所定の容量値に一致させることが容易
なセラミックコンデンサ素子の容量値の調整方法を提供
しようとするものである。
すなわち、本発明は、電極の一部を切り離してセラミッ
クコンデンサ素子の容量値を調整する方法において、セ
ラミックコンデンサ素子の電極部上を閉じた図形を繰返
し描くようにトリミング装置の作業先端を移動させて、
電極を切り離すことを特徴とする。
クコンデンサ素子の容量値を調整する方法において、セ
ラミックコンデンサ素子の電極部上を閉じた図形を繰返
し描くようにトリミング装置の作業先端を移動させて、
電極を切り離すことを特徴とする。
又、本発明は、電極の一部を切り離してセラミックコン
デンサ素子の容量値を調整する方法において、セラミッ
クコンデンサ素子の電極部上に切り込みを入れ、さらに
該切り込み部から電極の外周に向かって複数の切り込み
を入れるような軌跡を描くようにトリミング装置の作業
先端を移動させて電極を切り離すことを特徴とする。
デンサ素子の容量値を調整する方法において、セラミッ
クコンデンサ素子の電極部上に切り込みを入れ、さらに
該切り込み部から電極の外周に向かって複数の切り込み
を入れるような軌跡を描くようにトリミング装置の作業
先端を移動させて電極を切り離すことを特徴とする。
さらに又、本発明は、電極の一部を切り離してセラミッ
クコンデンサ素子の容量値を調整する方法において、セ
ラミックコンデンサ素子の電極部上と、電極以外の部分
上との両方にまたがるような軌跡を繰返し描くようにト
リミング装置の作業先端を移動させて、電極を切り離す
ことを特徴とする。
クコンデンサ素子の容量値を調整する方法において、セ
ラミックコンデンサ素子の電極部上と、電極以外の部分
上との両方にまたがるような軌跡を繰返し描くようにト
リミング装置の作業先端を移動させて、電極を切り離す
ことを特徴とする。
本発明における図形的に閉じた軌跡を例示すれば、第1
図のような円、第2図のような多角形、第3図のような
円や多角形を重ねあわせたもの、第4図のような螺旋等
が考えられる。
図のような円、第2図のような多角形、第3図のような
円や多角形を重ねあわせたもの、第4図のような螺旋等
が考えられる。
又切り込み線上の任意の点から電極の外周に向かって複
数の切り込み線を入れる方法としては、第5図のような
平行線を描くこともある。
数の切り込み線を入れる方法としては、第5図のような
平行線を描くこともある。
さらに、電極以外の部分と電極の両方にまたがって軌跡
を繰返し描く方法としては、第6図のように、鋸状の線
を描くこともある。
を繰返し描く方法としては、第6図のように、鋸状の線
を描くこともある。
本発明におけるトリミング装置はアブラッシブ、レーザ
又は回転砥石、超音波振動する刃物などが使用されるが
、レーザの方が微細な線が描けかつ汚染が少ないので好
ましい。切断線は、細い程切断され切り離される過剰電
極面積を微小化させるため、トリミングの精度が向上す
る。
又は回転砥石、超音波振動する刃物などが使用されるが
、レーザの方が微細な線が描けかつ汚染が少ないので好
ましい。切断線は、細い程切断され切り離される過剰電
極面積を微小化させるため、トリミングの精度が向上す
る。
セラミックコンデンサ素子の容量は、容量値を計測しな
がらトリミングを行い、計測値が設定値に一致した時点
でトリミングを停止するという方法で設定される。従っ
て、前記したように切り離される個々の電極面積が小さ
ければ小さい程、コンデンサ素子の容量の偏差値は小さ
くなる。
がらトリミングを行い、計測値が設定値に一致した時点
でトリミングを停止するという方法で設定される。従っ
て、前記したように切り離される個々の電極面積が小さ
ければ小さい程、コンデンサ素子の容量の偏差値は小さ
くなる。
実施例について図面を参照して説明する。
第1図は、誘電体層6を電極1と電極3によってはさん
で構成されるセラミックコンデンサ素子であるが、電極
1の方に円の如く図形的に閉じた軌跡を繰返し描くよう
に電極を切り離し、電極の間げき5を設ける。
で構成されるセラミックコンデンサ素子であるが、電極
1の方に円の如く図形的に閉じた軌跡を繰返し描くよう
に電極を切り離し、電極の間げき5を設ける。
第2図に示される実施例では、多角形を繰返し描くよう
に電極を切り離し、電極の間げき5を設ける。
に電極を切り離し、電極の間げき5を設ける。
第3図に示される実施例では円を重ね合せて描くように
電極を切り離し電極の間げき5を設ける。
電極を切り離し電極の間げき5を設ける。
このとき重ね合せる軌跡は、多角形でもよい。この方法
によると、電極の切り離しによる電極面積の減少幅は小
さくすることができる。
によると、電極の切り離しによる電極面積の減少幅は小
さくすることができる。
第4図に示される実施例では螺旋を描くように電極を切
り離し、電極の間げき5を設ける。
り離し、電極の間げき5を設ける。
第5図に示される実施例では、初めに電極1の一部に切
り込みを入れ電極の間げき7を設ける。
り込みを入れ電極の間げき7を設ける。
次に、この切り込み線上の任意の点から電極の外周に向
ってさらに切込みを入れ電極の間げき5を設けて、電極
を切り離す。
ってさらに切込みを入れ電極の間げき5を設けて、電極
を切り離す。
第6図に示される実施例では、電極1とその周辺の電極
以外の部分の両方にまたがるように、のこ歯状の軌跡を
繰り返し描きながら電極の間げき5を設けて、電極の一
部を切り離す。
以外の部分の両方にまたがるように、のこ歯状の軌跡を
繰り返し描きながら電極の間げき5を設けて、電極の一
部を切り離す。
本発明の調整方法は、前記したような構成となっている
ので、以下のような浸れた効果を有する。
ので、以下のような浸れた効果を有する。
まず、過剰な電極材を全て取り除くのではなく、切り離
し方式を採用しているために、極めて短時間でセラミッ
クコンデンサ素子の容量値の調整が可能である。
し方式を採用しているために、極めて短時間でセラミッ
クコンデンサ素子の容量値の調整が可能である。
セラミックコンデンサ素子の容量値の調整のために、電
極をくし形という特殊な形状にする必要がない。このこ
とは、電極形状の設計を著しく容易にし、電極の切り離
し位置をどこでも設定可能にする。かつ他の回路設計に
も制約を与えない。
極をくし形という特殊な形状にする必要がない。このこ
とは、電極形状の設計を著しく容易にし、電極の切り離
し位置をどこでも設定可能にする。かつ他の回路設計に
も制約を与えない。
また、さらに電極の一部をくし形に形成した場合の容量
調整範囲は、このくし形に限定されるが、本発明の場合
は、電極全てが調整範囲であり、大幅な容量のバラツキ
も調整できる。
調整範囲は、このくし形に限定されるが、本発明の場合
は、電極全てが調整範囲であり、大幅な容量のバラツキ
も調整できる。
同じ電極面積で比較すると、一部がくし形である電極に
比べ、くし形彫状を持たない電極の外形寸法は小さい。
比べ、くし形彫状を持たない電極の外形寸法は小さい。
このことは、例えば第7図に示すように、多数のコンデ
ンサ電極、導線、スルーホール等を設けるセラミックコ
ンデンサを内蔵する基板を小型に設計、製作する場合、
極めて有効である。
ンサ電極、導線、スルーホール等を設けるセラミックコ
ンデンサを内蔵する基板を小型に設計、製作する場合、
極めて有効である。
さらに、微小ブロック単位で段階的に電極を切り離して
ゆ(ために、電極の減らしすぎは皆無となり、容量値の
標準偏差が極めて少く容量値の揃った製品が得られる。
ゆ(ために、電極の減らしすぎは皆無となり、容量値の
標準偏差が極めて少く容量値の揃った製品が得られる。
トリミング装置の作業先端は、同一の軌跡を描くのみで
、かつ装置は計測値と実測値が一致した時点で停止する
ので、複雑な演算等の制御を必要としない。
、かつ装置は計測値と実測値が一致した時点で停止する
ので、複雑な演算等の制御を必要としない。
また、トリミング装置の作業先端は、同一図形を繰り返
すのみであるため、制御プログラムは、簡単に作成でき
る。
すのみであるため、制御プログラムは、簡単に作成でき
る。
以上要するに本発明によれば、セラミックコンデンサ素
子の電極の一部を図形的に閉じた軌跡を繰返し描きなが
ら切り離して、セラミックコンデンサの容量値を調整す
る。これによって不要な電極材をすべて取り除く必要が
なく、電極を切り離すだけの加工のため、極めて短時間
でコンデンサ容量の調整ができる。又、同じ図形を繰り
返し描き続けるため、プログラム作成が容易である。
子の電極の一部を図形的に閉じた軌跡を繰返し描きなが
ら切り離して、セラミックコンデンサの容量値を調整す
る。これによって不要な電極材をすべて取り除く必要が
なく、電極を切り離すだけの加工のため、極めて短時間
でコンデンサ容量の調整ができる。又、同じ図形を繰り
返し描き続けるため、プログラム作成が容易である。
第1図は実施例を示すセラミックコンデンサ素子の斜視
図、 第2図、第3図、第4図、第5図、第6図は実施例の平
面図、 第7図は多数のコンデンサ電極、導線、スルーホール等
を実装したセラミックコンデンサを内蔵する基板の平面
図である。 1・・・電極 2・・・セラミックコンデンサ素子 3・・・電極 4・・・切り離された電極
5・・・電極の間げき 6・・・電極間誘電体層7
・・・電極の間げき 8・・・電極切り離しの軌跡
9・・・導線10・・・スルーホール
図、 第2図、第3図、第4図、第5図、第6図は実施例の平
面図、 第7図は多数のコンデンサ電極、導線、スルーホール等
を実装したセラミックコンデンサを内蔵する基板の平面
図である。 1・・・電極 2・・・セラミックコンデンサ素子 3・・・電極 4・・・切り離された電極
5・・・電極の間げき 6・・・電極間誘電体層7
・・・電極の間げき 8・・・電極切り離しの軌跡
9・・・導線10・・・スルーホール
Claims (3)
- 1.電極の一部を切り離してセラミックコンデンサ素子
の容量値を調整する方法において、セラミックコンデン
サ素子の電極部上を閉じた図形を繰返し描くようにトリ
ミング装置の作業先端を移動させて、電極を切り離すこ
とを特徴とするセラミックコンデンサ素子の容量値の調
整方法。 - 2.電極の一部を切り離してセラミックコンデンサ素子
の容量値を調整する方法において、セラミックコンデン
サ素子の電極部上に切り込みを入れ、さらに該切り込み
部から電極の外周に向かって複数の切り込みを入れるよ
うな軌跡を描くようにトリミング装置の作業先端を移動
させて電極を切り離すことを特徴とするセラミックコン
デンサ素子の容量値の調整方法。 - 3.電極の一部を切り離してセラミックコンデンサ素子
の容量値を調整する方法において、セラミックコンデン
サ素子の電極部上と、電極以外の部分上との両方にまた
がるような軌跡を繰返し描くようにトリミング装置の作
業先端を移動させて、電極を切り離すことを特徴とする
セラミックコンデンサ素子の容量値の調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22832188A JPH0278212A (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 | セラミックコンデンサ素子の容量値の調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22832188A JPH0278212A (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 | セラミックコンデンサ素子の容量値の調整方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0278212A true JPH0278212A (ja) | 1990-03-19 |
Family
ID=16874618
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22832188A Pending JPH0278212A (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 | セラミックコンデンサ素子の容量値の調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0278212A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04200107A (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-21 | Murata Mfg Co Ltd | 周波数調整方法 |
| JPH09121133A (ja) * | 1996-08-23 | 1997-05-06 | Murata Mfg Co Ltd | 共振器の周波数調整方法 |
-
1988
- 1988-09-14 JP JP22832188A patent/JPH0278212A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04200107A (ja) * | 1990-11-29 | 1992-07-21 | Murata Mfg Co Ltd | 周波数調整方法 |
| JPH09121133A (ja) * | 1996-08-23 | 1997-05-06 | Murata Mfg Co Ltd | 共振器の周波数調整方法 |
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