JPH0280395A - ダイヤモンド成膜法 - Google Patents
ダイヤモンド成膜法Info
- Publication number
- JPH0280395A JPH0280395A JP22835188A JP22835188A JPH0280395A JP H0280395 A JPH0280395 A JP H0280395A JP 22835188 A JP22835188 A JP 22835188A JP 22835188 A JP22835188 A JP 22835188A JP H0280395 A JPH0280395 A JP H0280395A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- electrode
- holder
- diamond film
- electric field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明は、良質のダイヤモンドを高速で堆積させる低圧
気相ダイヤモンド成膜法に関し、実用的に十分な膜質の
ダイヤモンド膜を実用的な高速で形成できるダイヤモン
ド成膜法を提供することを目的とし、 太さ0.5 tm以下の導線とそれより下流側の基板と
を収容した気密流路内で、上記導線に電圧を印加するこ
とによって上記導線にコロナ放電を発生させながら、炭
素化合物含有ガスを、上記導線の周囲を通ってから上記
基板に到達するように流すことによって上記基板上にダ
イヤモンドを堆積させるように構成する。
気相ダイヤモンド成膜法に関し、実用的に十分な膜質の
ダイヤモンド膜を実用的な高速で形成できるダイヤモン
ド成膜法を提供することを目的とし、 太さ0.5 tm以下の導線とそれより下流側の基板と
を収容した気密流路内で、上記導線に電圧を印加するこ
とによって上記導線にコロナ放電を発生させながら、炭
素化合物含有ガスを、上記導線の周囲を通ってから上記
基板に到達するように流すことによって上記基板上にダ
イヤモンドを堆積させるように構成する。
本発明は良質のダイヤモンドを高速で堆積させる低圧気
相ダイヤモンド成膜法に関する。
相ダイヤモンド成膜法に関する。
ダイヤモンドはあらゆる材料のうち最高の硬度や、熱伝
導率を有し、電気的には絶縁体で、光学的には、紫外か
ら赤外まで広い範囲で透明で、屈折率も高い。従って、
このような特徴を生かして、工具や、ヒートシンクをは
じめ、各種の応用が期待されている。
導率を有し、電気的には絶縁体で、光学的には、紫外か
ら赤外まで広い範囲で透明で、屈折率も高い。従って、
このような特徴を生かして、工具や、ヒートシンクをは
じめ、各種の応用が期待されている。
低圧気相ダイヤモンド成膜法としては、マイクロ波プラ
ズマCVD法、rfプラズマCVD法、アーク放電を利
用する方式をはじめ各種方式が提案されている。しかし
、マイクロ波やrf(無線周波数)を使う方式は成膜速
度が著しく遅く (〜0.5n/h)、膜質もグラファ
イト等のため黒ずんでおり実用的に不十分である。アー
ク放電を利用する方式は成膜速度は大きい(〜200μ
m/h)が、膜質はやはり同様に黒ずんでおり実用的に
不十分である。
ズマCVD法、rfプラズマCVD法、アーク放電を利
用する方式をはじめ各種方式が提案されている。しかし
、マイクロ波やrf(無線周波数)を使う方式は成膜速
度が著しく遅く (〜0.5n/h)、膜質もグラファ
イト等のため黒ずんでおり実用的に不十分である。アー
ク放電を利用する方式は成膜速度は大きい(〜200μ
m/h)が、膜質はやはり同様に黒ずんでおり実用的に
不十分である。
本発明は、実用的に十分な膜質のダイヤモンド膜を実用
的な高速で形成できるダイヤモンド成膜法を提供するこ
とを目的とする。
的な高速で形成できるダイヤモンド成膜法を提供するこ
とを目的とする。
上記の目的は、太さQ、 5 m以下の導線とそれより
下流側の基板とを収容した気密流路内で、上記導線に電
圧を印加することによって上記導線にコロナ放電を発生
させながら、炭素化合物含有ガスを、上記導線の周囲を
通ってから上記基板に到達するように流すことによって
上記基板上にダイヤモンドを堆積させることを特徴とす
るダイヤモンド成膜法によって達成される。
下流側の基板とを収容した気密流路内で、上記導線に電
圧を印加することによって上記導線にコロナ放電を発生
させながら、炭素化合物含有ガスを、上記導線の周囲を
通ってから上記基板に到達するように流すことによって
上記基板上にダイヤモンドを堆積させることを特徴とす
るダイヤモンド成膜法によって達成される。
本発明の方法においては、太さ0.5 u+以下の細い
導線に、コロナ放電を発生させる範囲の電圧を印加する
ことによって、導線の周囲に極めて高密度の電界を安定
して形成させる。炭素化合物含有ガスは導線の周囲でこ
の高電界によって完全に分解してプラズマ化し、ダイヤ
モンド膜の形成に特に寄与の大きいspコ軌道を持った
炭素(C)のみが、上記プラズマ化したガスの流れに運
ばれて基板に到達し、ダイヤモンド膜として堆積する。
導線に、コロナ放電を発生させる範囲の電圧を印加する
ことによって、導線の周囲に極めて高密度の電界を安定
して形成させる。炭素化合物含有ガスは導線の周囲でこ
の高電界によって完全に分解してプラズマ化し、ダイヤ
モンド膜の形成に特に寄与の大きいspコ軌道を持った
炭素(C)のみが、上記プラズマ化したガスの流れに運
ばれて基板に到達し、ダイヤモンド膜として堆積する。
これによって、グラファイトや無定形炭素を含まない高
品質のダイヤモンド膜を高速で形成させることができる
。
品質のダイヤモンド膜を高速で形成させることができる
。
炭素化合物含有ガスを完全に分解させるのに十分な高密
度の電界を形成させるために、導線の太さは0.5 n
+以下であることが必要であり、0.3 u+以下が望
ましく、0.1 mm以下が最も望ましい。太さの下限
は特に限定する必要はない。ただし、・ガスの分解に必
要なエネルギーの電界が形成される程度に細ければよく
、特にそれ以下に細くしても効果の増加は少ない。導線
の製作上からは101M程度が現状の実際的な下限であ
ろう。
度の電界を形成させるために、導線の太さは0.5 n
+以下であることが必要であり、0.3 u+以下が望
ましく、0.1 mm以下が最も望ましい。太さの下限
は特に限定する必要はない。ただし、・ガスの分解に必
要なエネルギーの電界が形成される程度に細ければよく
、特にそれ以下に細くしても効果の増加は少ない。導線
の製作上からは101M程度が現状の実際的な下限であ
ろう。
導線に印加する電圧は、直流電圧、交流電圧のいずれで
もよく、コロナ放電を発生させる範囲の電圧が適当であ
る。この範囲より高い電圧ではアーク放電が発生するた
め、放電が不安定化してダイヤモンド膜質が劣化する。
もよく、コロナ放電を発生させる範囲の電圧が適当であ
る。この範囲より高い電圧ではアーク放電が発生するた
め、放電が不安定化してダイヤモンド膜質が劣化する。
逆に、この範囲より低い電圧ではコロナ放電が発生せず
、炭素化合物含有ガスを完全に分解できる高電界が形成
されない。コロナ放電の電圧は、導線の太さ、上記ガス
の圧力等に応じて適当に選択する。
、炭素化合物含有ガスを完全に分解できる高電界が形成
されない。コロナ放電の電圧は、導線の太さ、上記ガス
の圧力等に応じて適当に選択する。
炭素化合物含有ガスとしては、ダイヤモンド気相成長法
に用いられるガスであればいずれも用いることができる
。ダイヤモンド形成に特に寄与の大きいs p 3軌道
を持った炭素を含む化合物が特に存利である。その典型
的な例は、メタン、アセトン、メチルアルコール、エチ
ルアルコール等である。
に用いられるガスであればいずれも用いることができる
。ダイヤモンド形成に特に寄与の大きいs p 3軌道
を持った炭素を含む化合物が特に存利である。その典型
的な例は、メタン、アセトン、メチルアルコール、エチ
ルアルコール等である。
本発明の方法は、細い導線の周囲に形成される高密度の
電界によって安定なコロナ放電を発生させ、これによっ
て炭素化合物ガスを完全に分解して高エネルギーのプラ
ズマとし、これをガス流で搬送して基板上に堆積させる
ので、高品質のダイヤモンド膜を高速で形成させること
ができる。
電界によって安定なコロナ放電を発生させ、これによっ
て炭素化合物ガスを完全に分解して高エネルギーのプラ
ズマとし、これをガス流で搬送して基板上に堆積させる
ので、高品質のダイヤモンド膜を高速で形成させること
ができる。
以下に、添付図面を参照し、実施例によって本発明を更
に詳しく説明する。
に詳しく説明する。
第1図に、本発明にしたがった方法を行うための装置の
一例を示す。(A)、(B)はそれぞれ上方、正面から
見た配置であり、一部断面で示しである。
一例を示す。(A)、(B)はそれぞれ上方、正面から
見た配置であり、一部断面で示しである。
第1図に示すように、高電圧を印加する導線として、リ
ング状のメフシニ電極ホルダ(アルミナ製)2の片面に
0.1fiφのW(タングステン)ワイヤを3f1間隔
で張ったメツシュ状電極lを用いた。基板ホルダ4はス
テンレス製で内部にヒータを有しており、所定の温度に
コントロールできるようになっている。このメッシュ状
電極1および基板ホルダ4は石英管5の中にはいってお
り真空ポンプにより減圧にできるようになっている。
ング状のメフシニ電極ホルダ(アルミナ製)2の片面に
0.1fiφのW(タングステン)ワイヤを3f1間隔
で張ったメツシュ状電極lを用いた。基板ホルダ4はス
テンレス製で内部にヒータを有しており、所定の温度に
コントロールできるようになっている。このメッシュ状
電極1および基板ホルダ4は石英管5の中にはいってお
り真空ポンプにより減圧にできるようになっている。
メツシュ電極lと基板ホルダ4の間に高電圧を印加した
状態で石英管の上方より下方へ原料ガス6を流す。する
とメツシュ電極1近傍の高電界による分解生成物が基板
ホルダ4上の基板3に堆積する。
状態で石英管の上方より下方へ原料ガス6を流す。する
とメツシュ電極1近傍の高電界による分解生成物が基板
ホルダ4上の基板3に堆積する。
本実施例では、原料ガス6として、1%のCH。
(メタン)を含むH2(水素)ガスを用いた(流量は2
005CCM)。基板3としては(111) S i基
板を用いた。反応中のガス圧は100Torr、に、基
板温度は850℃に設定した。また、メッシュ電極1と
基板3との距離は15mmにし、その間の印加電圧は直
流1kVとした。
005CCM)。基板3としては(111) S i基
板を用いた。反応中のガス圧は100Torr、に、基
板温度は850℃に設定した。また、メッシュ電極1と
基板3との距離は15mmにし、その間の印加電圧は直
流1kVとした。
このような条件下で、5時間反応を行ったところ、基板
表面に白濁した半透明の膜が得られた。
表面に白濁した半透明の膜が得られた。
厚さは120−だったので毎時24−の成膜速度である
。この膜をX&’i1回折およびラマン分光法で調べた
ところ、グラファイトや無定形炭素を殆ど含まない良質
のダイヤモンド膜であることが確認できた。
。この膜をX&’i1回折およびラマン分光法で調べた
ところ、グラファイトや無定形炭素を殆ど含まない良質
のダイヤモンド膜であることが確認できた。
本実施例では、石英管の内部を排気してから原料ガスを
導入したが、排気せずに原料ガスでパージし、はぼ大気
圧のガス圧で反応させてもよい。
導入したが、排気せずに原料ガスでパージし、はぼ大気
圧のガス圧で反応させてもよい。
ガス圧は特に限定する必要はないが、通常は50〜76
0Torrの範囲で設定するとよい。
0Torrの範囲で設定するとよい。
便利のためメツシュ電極の相手電極を基板ホルダーとし
たが、相手電極は、メツシュ電極に高電界のコロナ放電
を発生させられれば、石英管内の適当な位置に別途設け
てもよい。
たが、相手電極は、メツシュ電極に高電界のコロナ放電
を発生させられれば、石英管内の適当な位置に別途設け
てもよい。
なお上記実施例では、原料ガスとして、H2とCH4を
用いたが、これに限定されるものでないことは云うまで
もない。CH40代わりにアセトンや、メチルアルコー
ル、エチルアルコール等、s p 3軌道を持った、炭
素を含むものは殆ど全て適用可能である。基板もSiに
限定されるものではなくMoやpt等、他の基板も適用
可能である。また、メツシュ電極の代わりに平行に多数
張った導線を用いても効果は殆ど同じである。電極の材
質も導体でありさえすれば他のものに置き代えることは
可能である。
用いたが、これに限定されるものでないことは云うまで
もない。CH40代わりにアセトンや、メチルアルコー
ル、エチルアルコール等、s p 3軌道を持った、炭
素を含むものは殆ど全て適用可能である。基板もSiに
限定されるものではなくMoやpt等、他の基板も適用
可能である。また、メツシュ電極の代わりに平行に多数
張った導線を用いても効果は殆ど同じである。電極の材
質も導体でありさえすれば他のものに置き代えることは
可能である。
3・・・基板、
5・・・石英管、
4・・・基板ホルダー
6・・・原料ガス。
以上述べたように本発明による方法で、半透明で高純度
のダイヤモンド膜が得られることが分かった。成膜速度
は、アーク放電を利用する方式には及ばないものの、マ
イクロ波やrfを使った方式に比べるとはるかに大きい
0本発明によるダイヤモンド膜は、従来にない、高品質
であり、かつ、成膜速度も実用的に大きいと云える。
のダイヤモンド膜が得られることが分かった。成膜速度
は、アーク放電を利用する方式には及ばないものの、マ
イクロ波やrfを使った方式に比べるとはるかに大きい
0本発明によるダイヤモンド膜は、従来にない、高品質
であり、かつ、成膜速度も実用的に大きいと云える。
第1図(A)および(B)は、本発明にしたがったダイ
ヤモンド成膜法を実施するための装置の一例を示し、(
A)は横断面図、(B)は縦断面図である。
ヤモンド成膜法を実施するための装置の一例を示し、(
A)は横断面図、(B)は縦断面図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、太さ0.5mm以下の導線とそれより下流側の基板
とを収容した気密流路内で、上記導線に電圧を印加する
ことによって上記導線にコロナ放電を発生させながら、
炭素化合物含有ガスを、上記導線の周囲を通ってから上
記基板に到達するように流すことによって上記基板上に
ダイヤモンドを堆積させることを特徴とするダイヤモン
ド成膜法。 2、前記導線をメッシュ状に張ったことを特徴とする請
求項1記載のダイヤモンド成膜法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22835188A JPH0280395A (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 | ダイヤモンド成膜法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22835188A JPH0280395A (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 | ダイヤモンド成膜法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0280395A true JPH0280395A (ja) | 1990-03-20 |
Family
ID=16875102
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22835188A Pending JPH0280395A (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 | ダイヤモンド成膜法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0280395A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5776553A (en) * | 1996-02-23 | 1998-07-07 | Saint Gobain/Norton Industrial Ceramics Corp. | Method for depositing diamond films by dielectric barrier discharge |
| US6082294A (en) * | 1996-06-07 | 2000-07-04 | Saint-Gobain Industrial Ceramics, Inc. | Method and apparatus for depositing diamond film |
| KR100900442B1 (ko) * | 2007-07-06 | 2009-06-01 | 유제열 | 이물질 제거용 스테인레스 스틸망 재생장치 |
-
1988
- 1988-09-14 JP JP22835188A patent/JPH0280395A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5776553A (en) * | 1996-02-23 | 1998-07-07 | Saint Gobain/Norton Industrial Ceramics Corp. | Method for depositing diamond films by dielectric barrier discharge |
| US6082294A (en) * | 1996-06-07 | 2000-07-04 | Saint-Gobain Industrial Ceramics, Inc. | Method and apparatus for depositing diamond film |
| KR100900442B1 (ko) * | 2007-07-06 | 2009-06-01 | 유제열 | 이물질 제거용 스테인레스 스틸망 재생장치 |
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