JPH0282593A - 半導体レーザ - Google Patents
半導体レーザInfo
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- JPH0282593A JPH0282593A JP23458588A JP23458588A JPH0282593A JP H0282593 A JPH0282593 A JP H0282593A JP 23458588 A JP23458588 A JP 23458588A JP 23458588 A JP23458588 A JP 23458588A JP H0282593 A JPH0282593 A JP H0282593A
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- optical waveguide
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- semiconductor laser
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 30
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 26
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- 238000005253 cladding Methods 0.000 abstract description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は、光デイスク用光源等として利用される半導体
レーザに関するものである。
レーザに関するものである。
半導体レーザから得られる最大光出力を増大させるため
には、端面発光領域の光密度を減少させて端面の結晶学
的損傷を抑えることが必要である。
には、端面発光領域の光密度を減少させて端面の結晶学
的損傷を抑えることが必要である。
そして端面発光領域の光密度を減少させるためには、活
性層の薄膜化を図る方法と発光領域の幅を拡大する方法
とが考えられる。このような状況にあって、高出力な半
導体レーザを得るために、発光領域の幅つまり光導波路
の幅を広くして端面発光領域の光密度を減少させた半導
体レーザ、即ちブロードエリアレーザ(またはワイドス
トライプレーザ)の研究が推し進められている。
性層の薄膜化を図る方法と発光領域の幅を拡大する方法
とが考えられる。このような状況にあって、高出力な半
導体レーザを得るために、発光領域の幅つまり光導波路
の幅を広くして端面発光領域の光密度を減少させた半導
体レーザ、即ちブロードエリアレーザ(またはワイドス
トライプレーザ)の研究が推し進められている。
第2図はブロードエリアレーザの一例を示す図であり、
第2図(a)は平面図を、第2図し)は断面図を示す。
第2図(a)は平面図を、第2図し)は断面図を示す。
図において1はn−GaAs基板を示し、該叶GaAs
基板上には、n−GaAlAsグランド層2 、 Ga
AlAs活性N3 、 p−GaAlAsクラッド層4
、 p−GaAsキャップ層5がこの順に積層形成さ
れており、p−GaAlAsクラッド層4の一部及びp
−GaAsキャップ層5はリッジ状となっていてこのり
ッジにて幅が全域にわたって一定である光導波路6が形
成されている。
基板上には、n−GaAlAsグランド層2 、 Ga
AlAs活性N3 、 p−GaAlAsクラッド層4
、 p−GaAsキャップ層5がこの順に積層形成さ
れており、p−GaAlAsクラッド層4の一部及びp
−GaAsキャップ層5はリッジ状となっていてこのり
ッジにて幅が全域にわたって一定である光導波路6が形
成されている。
ところがこのようなブロードエリアレーザにあっては、
光出力の増大を最優先に考えるので、光の質については
あまり考慮されていないのが現状である。従って、スペ
クトルに多数のピークが出現したり、または遠視野像の
パターンが多峰性である等の難点がある。このような難
点は、ブロードエリアレーザにおいて水平横モードの制
御がなされていないことに原因があり、しかもこれらの
難点は、光導波路の幅を広くしたことに起因する本質的
な問題である。
光出力の増大を最優先に考えるので、光の質については
あまり考慮されていないのが現状である。従って、スペ
クトルに多数のピークが出現したり、または遠視野像の
パターンが多峰性である等の難点がある。このような難
点は、ブロードエリアレーザにおいて水平横モードの制
御がなされていないことに原因があり、しかもこれらの
難点は、光導波路の幅を広くしたことに起因する本質的
な問題である。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、先導
波路の幅を一定とはせず、幅が狭い領域にのみ電流を注
入することにより、ブロードエリアレーザにおける上述
したような難点を解決することができる半導体レーザを
提供することを目的とする。
波路の幅を一定とはせず、幅が狭い領域にのみ電流を注
入することにより、ブロードエリアレーザにおける上述
したような難点を解決することができる半導体レーザを
提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段]
本発明に係る半導体レーザは、先導波路を有する半導体
レーザにおいて、前記先導波路には他の領域に比して幅
が狭い領域が少な(とも1個所あり、この幅が狭い領域
にのみ電流を注入するようになしてあることを特徴とす
る。
レーザにおいて、前記先導波路には他の領域に比して幅
が狭い領域が少な(とも1個所あり、この幅が狭い領域
にのみ電流を注入するようになしてあることを特徴とす
る。
本発明の半導体レーザにあっては、光導波路の幅が狭い
領域にのみ電流を注入する。そうすると幅が広い領域に
は電流が注入されないので、高次モードの発振が抑制さ
れる。この結果、本発明の半導体レーザは、水平横モー
ドを基本モードに維持した状態にて高出力の動作を行う
ことができる。
領域にのみ電流を注入する。そうすると幅が広い領域に
は電流が注入されないので、高次モードの発振が抑制さ
れる。この結果、本発明の半導体レーザは、水平横モー
ドを基本モードに維持した状態にて高出力の動作を行う
ことができる。
以下、本発明をその実施例を示す図面に基づいて具体的
に説明する。
に説明する。
第1図は本発明に係る半導体レーザを示す図であり、第
1図(a)は平面図を、第1図(b)は中央部の断面図
を、第1図(C)は側面図を夫々示す。図において1は
n−GaAs基板を示し、該n−GaAs基板1上には
、n−Ga6.6 AIG、J ASクラッド層2 、
Ga0.qJlo、 O?As活性層3 、 p−G
ao、 b Alo、 4 Asクラッド層4.p−G
aAsキャップ層5がこの順に積層形成されており、p
−GaAlAsクラッド層4の一部及びp−GaASキ
ャップ層5はリッジ状となっていてこのリッジにて光導
波路6が形成されている。本発明ではこの光導波路6の
幅は一定ではなく、中央部では長さ100μmにわたっ
てその幅は4μmであり、ここから端面に向かうにつれ
て徐々にその幅は減少し、両端面におけるその幅は30
μmである。そしてこの4μmの幅を有する中央部が電
流注入部6aとなっている。
1図(a)は平面図を、第1図(b)は中央部の断面図
を、第1図(C)は側面図を夫々示す。図において1は
n−GaAs基板を示し、該n−GaAs基板1上には
、n−Ga6.6 AIG、J ASクラッド層2 、
Ga0.qJlo、 O?As活性層3 、 p−G
ao、 b Alo、 4 Asクラッド層4.p−G
aAsキャップ層5がこの順に積層形成されており、p
−GaAlAsクラッド層4の一部及びp−GaASキ
ャップ層5はリッジ状となっていてこのリッジにて光導
波路6が形成されている。本発明ではこの光導波路6の
幅は一定ではなく、中央部では長さ100μmにわたっ
てその幅は4μmであり、ここから端面に向かうにつれ
て徐々にその幅は減少し、両端面におけるその幅は30
μmである。そしてこの4μmの幅を有する中央部が電
流注入部6aとなっている。
次にこのような半導体レーザの製造工程について説明す
る。まず、n−GaAs基板1上にMOCVD法を用い
て、n−GaAlAsクラッド層2. GaAlAs活
性層3゜p−GaAlAsクラッド層4. p−GaA
sキャップ層5からなる積層体をダブルへテロ成長させ
る。次いでエツチングにてp−GaAlAsクラッド層
4及びp−GaAsキャップ層5の一部を除去して、メ
サ状をなす光導波路6を前述したような幅を有するよう
に形成する。次に幅が4μmである先導波路6の中央部
を除く全面にSiO□を形成した後、表裏全面に電極を
形成する。従って幅が狭くなっている光導波路6の中央
部(電流注入部6a)のみに電流が注入されることにな
る。
る。まず、n−GaAs基板1上にMOCVD法を用い
て、n−GaAlAsクラッド層2. GaAlAs活
性層3゜p−GaAlAsクラッド層4. p−GaA
sキャップ層5からなる積層体をダブルへテロ成長させ
る。次いでエツチングにてp−GaAlAsクラッド層
4及びp−GaAsキャップ層5の一部を除去して、メ
サ状をなす光導波路6を前述したような幅を有するよう
に形成する。次に幅が4μmである先導波路6の中央部
を除く全面にSiO□を形成した後、表裏全面に電極を
形成する。従って幅が狭くなっている光導波路6の中央
部(電流注入部6a)のみに電流が注入されることにな
る。
本発明の半導体レーザは以上のように構成されているの
で、光導波路6において幅が狭い中央部(電流注入部6
a)のみに電流が注入され、幅が広い両端部には電流が
注入されないので、高次モードの発振が抑制される。
で、光導波路6において幅が狭い中央部(電流注入部6
a)のみに電流が注入され、幅が広い両端部には電流が
注入されないので、高次モードの発振が抑制される。
第3図、第4図は本発明の半導体レーザにおける電流−
光出力特性、 500mW時の水平方向の遠視野像を
夫々示すものであり、また比較例として従来の半導体レ
ーザにおける電流−光出力特性、5001時の水平方向
の遠視野像を、第5図、第6図に夫々示す。本発明の半
導体レーザでは、従来の半導体レーザに比して最大光出
力は少し劣っているが、先導波路の幅が狭い領域では基
本モードのみが導波されるので、高出力域においても単
一横モードが維持されている。また従来の半導体レーザ
では電流−光出力特性のカーブにキンクが発生してその
遠視野像も大きく変動しているのに対して、本発明の半
導体レーザでは、電流−光出力特性のカーブの直線性は
良好である点からもわかるように、低出力域から高出力
域まで相似の単峰性の遠視野像を呈している。そして本
発明の半導体レーザでは、水平方向の遠視野像を半値角
2°程度に保った状態にて、低出力域から500mWの
高出力域まで動作させることが可能である。
光出力特性、 500mW時の水平方向の遠視野像を
夫々示すものであり、また比較例として従来の半導体レ
ーザにおける電流−光出力特性、5001時の水平方向
の遠視野像を、第5図、第6図に夫々示す。本発明の半
導体レーザでは、従来の半導体レーザに比して最大光出
力は少し劣っているが、先導波路の幅が狭い領域では基
本モードのみが導波されるので、高出力域においても単
一横モードが維持されている。また従来の半導体レーザ
では電流−光出力特性のカーブにキンクが発生してその
遠視野像も大きく変動しているのに対して、本発明の半
導体レーザでは、電流−光出力特性のカーブの直線性は
良好である点からもわかるように、低出力域から高出力
域まで相似の単峰性の遠視野像を呈している。そして本
発明の半導体レーザでは、水平方向の遠視野像を半値角
2°程度に保った状態にて、低出力域から500mWの
高出力域まで動作させることが可能である。
〔発明の効果]
以上詳述した如く本発明の半導体レーザでは、光導波路
の一部に幅が狭い領域を作り、その幅が狭い領域にのみ
電流を注入する構成としたので、光導波路を広くして高
出力化を図るという利点を保持しながら、しかも高次モ
ードの発生を抑制でき、スペクトルに多数のピークが出
現したり、遠視野像のパターンが多峰生である等の従来
の半導体レーザが有していた欠点を解決することができ
る。
の一部に幅が狭い領域を作り、その幅が狭い領域にのみ
電流を注入する構成としたので、光導波路を広くして高
出力化を図るという利点を保持しながら、しかも高次モ
ードの発生を抑制でき、スペクトルに多数のピークが出
現したり、遠視野像のパターンが多峰生である等の従来
の半導体レーザが有していた欠点を解決することができ
る。
第1図は本発明に係る半導体レーザを示す模式図、第2
図は従来の半導体レーザを示す模式図、第3図は本発明
の半導体レーザの電流−光出力特性図、第4図は本発明
の半導体レーザの遠視野像、第5図は従来の半導体レー
ザの電流−光出力特性図、第6図は従来の半導体レーザ
の遠視野像である。 6・・・光導波路 6a・・・電流注入部特 許 出願
人 三洋電機株式会社 代理人 弁理士 河 野 登 火 弟 図 弔 図 電流 第 図 第 図 弔 図
図は従来の半導体レーザを示す模式図、第3図は本発明
の半導体レーザの電流−光出力特性図、第4図は本発明
の半導体レーザの遠視野像、第5図は従来の半導体レー
ザの電流−光出力特性図、第6図は従来の半導体レーザ
の遠視野像である。 6・・・光導波路 6a・・・電流注入部特 許 出願
人 三洋電機株式会社 代理人 弁理士 河 野 登 火 弟 図 弔 図 電流 第 図 第 図 弔 図
Claims (1)
- 1、光導波路を有する半導体レーザにおいて、前記光導
波路には他の領域に比して幅が狭い領域が少なくとも1
個所あり、この幅が狭い領域にのみ電流を注入するよう
になしてあることを特徴とする半導体レーザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23458588A JP2703283B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 半導体レーザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23458588A JP2703283B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 半導体レーザ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0282593A true JPH0282593A (ja) | 1990-03-23 |
| JP2703283B2 JP2703283B2 (ja) | 1998-01-26 |
Family
ID=16973327
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23458588A Expired - Fee Related JP2703283B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | 半導体レーザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2703283B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5592503A (en) * | 1993-01-07 | 1997-01-07 | Sdl, Inc. | Semiconductor laser with integral spatial mode filter |
| US5651018A (en) * | 1993-01-07 | 1997-07-22 | Sdl, Inc. | Wavelength-stabilized, high power semiconductor laser |
-
1988
- 1988-09-19 JP JP23458588A patent/JP2703283B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5592503A (en) * | 1993-01-07 | 1997-01-07 | Sdl, Inc. | Semiconductor laser with integral spatial mode filter |
| US5602864A (en) * | 1993-01-07 | 1997-02-11 | Sdl, Inc. | Semiconductor laser with integral spatial mode filter |
| US5651018A (en) * | 1993-01-07 | 1997-07-22 | Sdl, Inc. | Wavelength-stabilized, high power semiconductor laser |
| US5894492A (en) * | 1993-01-07 | 1999-04-13 | Sdl, Inc. | Semiconductor laser with integral spatial mode filter |
| USRE37354E1 (en) | 1993-01-07 | 2001-09-04 | Sdl, Inc. | Semiconductor laser with integral spatial mode filter |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2703283B2 (ja) | 1998-01-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |