JPH0283461A - 接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法 - Google Patents
接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法Info
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- JPH0283461A JPH0283461A JP23696488A JP23696488A JPH0283461A JP H0283461 A JPH0283461 A JP H0283461A JP 23696488 A JP23696488 A JP 23696488A JP 23696488 A JP23696488 A JP 23696488A JP H0283461 A JPH0283461 A JP H0283461A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
の影響を補償した絶縁抵抗測定方法に関する。
の絶縁抵抗測定方法を用いるのが一般的であった。
LEy介して発振器O8Cから商用周波数と異なった周
波数f1なる測定用低周波信号電圧を電路L1及びL2
に印加し、前記接地線Lg?:貫通する変流器ZC’l
’によって絶縁抵抗R及び浮遊容量Cを介して帰還する
漏洩電流を検出する。
成分をフィルタFILTにて検出しその漏洩電流を例え
ば前記発振器O8Cの出力を用いて掛算器MULTで同
期検波して有効分電流を分離して得、これによって電路
の絶縁抵抗を測定するものであった。
ならば前記接地線LEの接地点Eを介して前記発掘器O
8Cに帰還する電流を工とすると であるから印加する測定信号電圧と同相の成分。
の手法を用いて検出すれば絶縁抵抗Rに逆比例した測定
値を得るものである。
法は接地Ivl!LEに大地を介して帰還する電流を測
定するにも拘らず接地抵抗を無視しているので対地浮遊
容量Cが大きくなると接地抵抗の影響が現われ測定値が
現実の電路の絶縁抵抗とはなはだしくかけ離れたものと
なる。即ち正確な絶縁抵抗の測定が不可能になるという
欠陥があった。
遊容量Cの影響を受けることなく正確な絶縁抵抗測定を
行なう絶縁抵抗測定方法を提供することを目的とする。
電路に商用周波数と異なる周波数f1なる低周波の測定
信号電圧を印加し、接地線に帰還する周波数ftの漏洩
電流中の有効分並びに無効分を検出すると共に上記電路
と大地間の周波数ftの電圧を検出し、該周波数f1の
電圧と上記測定信号電圧との位相差を得、前記有効分に
前記無効分と前記位相差とのff’に加算することによ
り絶縁抵抗を測定するよう手段を講する。
する。
その理解を助けろ為従来の手法の欠陥を少しく詳細に説
明する。
。
を11としこれを I + = (A+ j B ) V −(2)と
する。このとき →Rとすると であり(2)式で接地抵抗γを無視すれば前記(1)式
と同一になることはいうまでもない。
は一工−となるが一般にR)γであるかR+γ らAは1/Rと考えてよく前記(2)式の同相分はV/
Rとなシ、同相分を検出することにより絶縁抵抗を測定
することができる。しかし浮遊容量Cが太きいときには
同相分を検出しても(3)式で示される如く正しい絶縁
抵抗を測定していないことになる。
。
得る。
2主3.95 x 10−’ となり(ω1Cγ)(1である。
00にΩ、γ=100Ωの場合前記(5)式の()内は
1+(ω1C)■tγ=4.95 となり、同相分から検出されるべき絶縁抵抗値100
KΩは 100にΩ/4.95 =20.2 KΩ と
して測定されてしまうことになる。
抗測定方法では対地浮遊容量が大きい場合極めて測定誤
差が大きくなる欠陥を有すること前述の通)である。更
に対地浮遊容量には一般電子機器の電源回路に付加され
るノイズフィルタのキャパシタンスも含まれるので今後
対地浮遊客引は大きくなっていく傾向にあるから従来の
方法ではますます正確な測定結果が得られないことにな
る。
欠とろ。
gig1 とすると前記(2)弐及び(5)式から がイQられる。
Bは であり、又、一般にR>Tであるため と表わされ、更には(ωI Cr ) < 1 であ
るのでB≧ω C・・・・・・・・ (力 となるので接地抵抗rの影響は実用上はとんど受けない
ことになる。
とすれば(7)式から ig、=:ω1cv ・・・・・・・・・(8)
となる。
、 (61、+81式から漏洩電流工1は■ l1=1−+(ω1C)γV十」ω、Cv ・・・・
・・・・・ (ト)と弄されるから(転)式ヲ(9)式
に代入するとE=(1−−−(ω1Cγ) −Jω1C
γ)■ ・・・・・・・・・ (6)となり、r/R(
1、(鮨Cγ)(1であるのでE=(1−jω1Cγ)
■ ・・・・・・・・・(2)が得られろ。電路と大
地間に存在する周波数flの電圧Eと測定信号電圧■と
の位相差ψは−ψ=−ω、Cr であり ω、Cr<
1 であるためψ=−ωICγ ・・・・・・・
・・(至)となる。
)式のψの積を加算すると ■ 。 °°゛°°°゛(2) となるので接地抵抗γの影響なく絶縁抵抗を測定しうろ
ことが分かる。
には以下の如くすればよい。
回路の一実施例を示す図である。
の発振器O8Cを直列に接続して、電圧■なろ電圧を印
加する。−万前記零相変流器ZCT出力を周波数fl成
分を検出するフィルタFILTに印加して、商用周波成
分と分離し該フィルタFIL’l’のm力を第1の同期
検波回路M[JLTlの一万の入力端に入力せしめろと
共に前記発振器O8Cの出力を第1の同期検波回路MU
L’ptの第2の入力端に入力せしめる。かくして第1
の同期検波回路MULTIの出力を第1のローパスフィ
ルタLPF’rに印加し直流分のみを得れば、前述の(
6)式に和尚する有効分ig1が得られる。
第2の同期検波回路MULT2の一万の入力端に入力せ
しめると共に前記発振器O8Cの出力な移相器PSに印
加して90°位相を推移せしめその出力を第2の同期検
波回路MLIL’l’tの第2の入力端に入力せしめろ
。かくして第2の同期検波回路MULT2の出力を第2
のローパスフィルpLPFzに印加し直流分のみ乞得れ
ば前述の(8)式に相当する無効分ig2が得られろ。
を高入力インピーダンス増幅器Aで検出し。
の一万の入力端に印加し、他方の入力端には発揚器O8
C出力を印加する。
バスフィルタLPFaに加えろことにより得ろ直流分は
日式に相当する位相差ψとなる。これは(2)式からも
明らかなように電圧eの振幅は〔1+(ω1Cγ)2J
2T’−1であるから電路と大地間に存在する周波数f
lの電圧eと測定用低周波信号電圧■との大きさは変わ
らないが位相のみψだけシフトしているので1発揚器O
8C出力と高入力インピーダンス増幅器器Aの出力に得
られる周波数f1の電圧eとをかけ算器MLIL’l’
sに印加することにより位相差ψを得るものである。
LT 4の一入力端に印加し、他の入力端にはローパス
フィルタLPFzの出力を印加すれば該MULT4の出
力は1g2Xψとなシ該MTJLT4出力を加算器AD
Dに印加すると共に更に該加算6ADD Kローパスフ
ィルタLPF 1の出力を加えることにより加算器AD
Dの出力0[JTはOLIT=ig ”g2ψ となるので絶縁抵抗を測定することが可能となる。
したが本発明はこれに限定する必然性は全くなく一端接
地の単相3線或は3相3線の場合であっても同一の原理
に基づいて実施可能なことは明らかであろう。
器を用いているが接地線Lgを切断しこれに低抵抗を直
列接続しこの抵抗の両端電圧をもって零相電流を検出し
てもよい。また電路への低周波電圧の印加に当っては接
地線LEを切断してこれに発掘器を直列に挿入接続する
のではなく、接地線を発振器出力のトランスを貫通させ
る等してもよい。高入力インピーダンス増幅器Aの出力
に大きな商用周波成分が含まれるときは、商用周波成分
除去フィルタを増幅器Aと同期検波器MLILT8の一
万の大力間に入れろことがのぞましい。
を測定するものであるから接地抵抗の影響を完全にキャ
ンセルすることが可能となるのみならず発掘器等の出力
抵抗の影響をも接地抵抗に加味して補償するので対地浮
遊容量が大きい電路等の絶縁抵抗を正確に測定する上で
著しい効果を発揮する。
一実施例を示すブロック図、第2図は従来の絶縁抵抗測
定方法を説明する図、第3図は等価回路図、第4図は接
地抵抗を考慮した場合の等価回路図である。 T・・・・・・・・変圧器、 Ll及びL2・・
・・・・・・・電路、 LE・・・・・・・・接
地g 、 osc・・・・・・・・発録器、
LPFl、2.a・・・・・・・・ローパスフィル
タ、 ADD・・・・・・・・・加jl[。 F工LT・・・・・・・・・フィルタ、 PS
・・・・・・・・・90°移相6. A−・・・
・・・・・高入力インピーダンス増幅器。
Claims (1)
- 電路に商用周波数と異なる周波数f_1なる低周波の測
定信号電圧を印加し、接地線に帰還する周波数f_1の
漏洩電流中の有効分並びに無効分を検出すると共に上記
電路と大地間の周波数f_1の電圧を検出する絶縁抵抗
測定方法に於いて、前記電路と大地間の電圧と上記測定
信号電圧との位相差を検出し、前記有効分に前記無効分
と前記位相差との積を加算することにより絶縁抵抗を測
定することを特徴とした接地抵抗の影響を補償した絶縁
抵抗測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23696488A JP2929197B2 (ja) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | 接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23696488A JP2929197B2 (ja) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | 接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0283461A true JPH0283461A (ja) | 1990-03-23 |
| JP2929197B2 JP2929197B2 (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=17008376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23696488A Expired - Fee Related JP2929197B2 (ja) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | 接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2929197B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102008006375A1 (de) | 2007-01-31 | 2008-08-21 | Fuji Jukogyo Kabushiki Kaisha | Überwachungssystem |
-
1988
- 1988-09-21 JP JP23696488A patent/JP2929197B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| DE102008006375A1 (de) | 2007-01-31 | 2008-08-21 | Fuji Jukogyo Kabushiki Kaisha | Überwachungssystem |
Also Published As
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|---|---|
| JP2929197B2 (ja) | 1999-08-03 |
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