JPH028377B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH028377B2 JPH028377B2 JP10599280A JP10599280A JPH028377B2 JP H028377 B2 JPH028377 B2 JP H028377B2 JP 10599280 A JP10599280 A JP 10599280A JP 10599280 A JP10599280 A JP 10599280A JP H028377 B2 JPH028377 B2 JP H028377B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- displacement
- optical system
- measured
- amount
- light beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 35
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 34
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
Landscapes
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はレコード盤等の偏芯あるいは面振れな
どの変位を測定する装置に関する。
どの変位を測定する装置に関する。
従来、ビデオデイスクのトラツク歪、偏芯、面
振れ等の測定は光学的顕微鏡を用いた非常に効率
の悪いものである。
振れ等の測定は光学的顕微鏡を用いた非常に効率
の悪いものである。
そこで本発明は上記問題点を回避すべく成され
たものであつて、直接に測定することができない
物体の変位を精度よく、しかも容易に測定するこ
とができるものを提供するにある。
たものであつて、直接に測定することができない
物体の変位を精度よく、しかも容易に測定するこ
とができるものを提供するにある。
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第１図はビデオデイスクのトラツク歪、偏芯を
測定する追従測定装置の構成を示し、(1)は被測定
物の光学方式ビデオデイスク、２はターンテーブ
ルで、モータ３によつて回転駆動される。４はレ
ーザー装置で、光ビームはハーフミラー５を経て
可動体としてのトラツキングミラー７でビデオデ
イスク１側に反射され、読み取りレンズ１１によ
りビデオデイスク１上に読み取り用ビームスポツ
トが形成される。なお読み取り用ビームスポツト
によつて読み取られた信号は、読み取りレンズ１
１とトラツキングミラー７を介してハーフミラー
５で光デイテクタ６に向けて反射され、光デイテ
クタ６で電気信号に変換される。トラツキングミ
ラー７は前記読み取り用ビームスポツトが情報ト
ラツク走査方向と直交する方向に移動できるよう
軸８を中心として矢印１２方向に回動可能に構成
されており、このトラツキングミラー７の回動は
ビデオデイスク１の情報トラツクを読み取り用ビ
ームスポツト１が追跡するよう公知の技術でトラ
ツキング制御される。例えば、前記公知の技術と
しては特公昭53―13123号を挙げることができる。
測定する追従測定装置の構成を示し、(1)は被測定
物の光学方式ビデオデイスク、２はターンテーブ
ルで、モータ３によつて回転駆動される。４はレ
ーザー装置で、光ビームはハーフミラー５を経て
可動体としてのトラツキングミラー７でビデオデ
イスク１側に反射され、読み取りレンズ１１によ
りビデオデイスク１上に読み取り用ビームスポツ
トが形成される。なお読み取り用ビームスポツト
によつて読み取られた信号は、読み取りレンズ１
１とトラツキングミラー７を介してハーフミラー
５で光デイテクタ６に向けて反射され、光デイテ
クタ６で電気信号に変換される。トラツキングミ
ラー７は前記読み取り用ビームスポツトが情報ト
ラツク走査方向と直交する方向に移動できるよう
軸８を中心として矢印１２方向に回動可能に構成
されており、このトラツキングミラー７の回動は
ビデオデイスク１の情報トラツクを読み取り用ビ
ームスポツト１が追跡するよう公知の技術でトラ
ツキング制御される。例えば、前記公知の技術と
しては特公昭53―13123号を挙げることができる。
ここで前記トラツキングミラー７は、読み取り
用の光ビームと読み取り用ビームスポツトで読み
取られた信号を反射する面（）の反対側の面
（）も反射面に形成されており、この面（）
にレーザー装置４とは別のレーザー装置１０から
光ビームが入射され、光デイテクタ９によつてト
ラツキングミラー７の面（）からの反射光を検
出する。
用の光ビームと読み取り用ビームスポツトで読み
取られた信号を反射する面（）の反対側の面
（）も反射面に形成されており、この面（）
にレーザー装置４とは別のレーザー装置１０から
光ビームが入射され、光デイテクタ９によつてト
ラツキングミラー７の面（）からの反射光を検
出する。
第２図は光デイテクタ９の構造と検出回路を示
す。２１，２２は受光面が三角形状の第１，第２
の光デイテクタ、第１の光デイクタ２１と第２の
光デイテクタ２２とは個々に独立して光ビームを
検出できるよう構成されている。なおトラツク歪
あるいは偏芯のない時、トラツキングミラー７か
らの光ビーム２０は第２図のように第１と第２の
光デイテクタ２１と２２に跨がつて位置するよう
光デイテクタ９は配設され、トラツク歪等があつ
て、前記読み取り用ビームスポツト（）を情報
トラツクに追従させるべくトラツキングミラー７
が回動すると、光デイテクタ９上の光ビーム２０
は矢印２５方向に沿つてトラツキングミラー７の
回動方向に対応して上方あるいは下方に移動す
る。よつて、第１，第２の光デイテクタ２１と２
２の出力をそれぞれ差動アンプ２３の非反転入力
（＋）と反転入力（−）とに入力すれば、光ビー
ム２０の矢印２５方向への移動によつて、差動ア
ンプ２３の出力２４に光ビーム２０位置の変位を
表わす電気信号が発生する。
す。２１，２２は受光面が三角形状の第１，第２
の光デイテクタ、第１の光デイクタ２１と第２の
光デイテクタ２２とは個々に独立して光ビームを
検出できるよう構成されている。なおトラツク歪
あるいは偏芯のない時、トラツキングミラー７か
らの光ビーム２０は第２図のように第１と第２の
光デイテクタ２１と２２に跨がつて位置するよう
光デイテクタ９は配設され、トラツク歪等があつ
て、前記読み取り用ビームスポツト（）を情報
トラツクに追従させるべくトラツキングミラー７
が回動すると、光デイテクタ９上の光ビーム２０
は矢印２５方向に沿つてトラツキングミラー７の
回動方向に対応して上方あるいは下方に移動す
る。よつて、第１，第２の光デイテクタ２１と２
２の出力をそれぞれ差動アンプ２３の非反転入力
（＋）と反転入力（−）とに入力すれば、光ビー
ム２０の矢印２５方向への移動によつて、差動ア
ンプ２３の出力２４に光ビーム２０位置の変位を
表わす電気信号が発生する。
第３図はビデオデイスク１の１つの情報トラツ
クの形状を模型的に示したもので、３０は実際の
トラツク、３１は偏芯、歪のない情報トラツク、
３３はビデオデイスク１の回転方向である。読み
取りビームスポツト（）はトラツキングミラー
７によつて実際のトラツク３０を追従するよう移
動させられ、この時のトラツキングミラー７の変
位は第４図に示される。なおθはビデオデイスク
１の回転角を表わす。
クの形状を模型的に示したもので、３０は実際の
トラツク、３１は偏芯、歪のない情報トラツク、
３３はビデオデイスク１の回転方向である。読み
取りビームスポツト（）はトラツキングミラー
７によつて実際のトラツク３０を追従するよう移
動させられ、この時のトラツキングミラー７の変
位は第４図に示される。なおθはビデオデイスク
１の回転角を表わす。
このようなトラツキングミラー７の変位によつ
て、前述のように光デイテクタ９上の光ビーム２
０の位置も移動し、差動アンプ２３出力には第４
図に示すトラツキングミラー７の変位に対応する
信号が発生するものである。
て、前述のように光デイテクタ９上の光ビーム２
０の位置も移動し、差動アンプ２３出力には第４
図に示すトラツキングミラー７の変位に対応する
信号が発生するものである。
なお上記実施例ではビデオデイスク１のトラツ
ク歪，偏芯の測定を例に挙げて説明したが、同様
にデイスクの面振れについても適用できるもので
あつて、直接に測定できない物体の変位を容易に
測定できるものである。
ク歪，偏芯の測定を例に挙げて説明したが、同様
にデイスクの面振れについても適用できるもので
あつて、直接に測定できない物体の変位を容易に
測定できるものである。
第５図はビデオデイスクの面振れを検出する場
合の実施例を示し、５１はビデオデイスクで、ａ
の位置、ｂの位置がその表面であり、面振れによ
つてａ〜ｂに変位していることを表わしている。
５２はレンズで、リニアモータ５３によつて上下
方向〔矢印ｅ方向〕に移動可能に支持されてお
り、その位置は外部からリニアモータ５３に供給
される電圧に応じて変位する。５４はレーザで、
そのビームはレンズ５２を通り、ａの位置で反射
された場合には経路ｃで照射位置検出機能を有す
る光デイテクタ５５上に達し、ｂの位置で反射し
た時には経路ｄをとつて光デイテクタ５５上に達
する。従つて光デイテクタ５５上ではビデオデイ
スク５１の表面の変位に伴つてビームの位置が変
化することになるので、検出装置５６に光デイテ
クタ５５出力を入力することによつて、ビーム位
置を直流レベルの変化として検出できる。検出さ
れた直流レベルは駆動アンプ５７により増幅さ
れ、前記リニアモータ５３に供給される。その結
果、ビデオデイスク５１の変位（面振れ）にレン
ズ５２が追従するクローズドループが形成され
る。このレンズ５２は、クローズドループが形成
されているため、ビデオデイスク５１の面振れに
追従して変位している。したがつてレンズ５２の
変位量を別の手段（例えば市販のFOTONICセン
サなど）で測定することによつてビデオデイスク
５１の面振れ量を測定できる。
合の実施例を示し、５１はビデオデイスクで、ａ
の位置、ｂの位置がその表面であり、面振れによ
つてａ〜ｂに変位していることを表わしている。
５２はレンズで、リニアモータ５３によつて上下
方向〔矢印ｅ方向〕に移動可能に支持されてお
り、その位置は外部からリニアモータ５３に供給
される電圧に応じて変位する。５４はレーザで、
そのビームはレンズ５２を通り、ａの位置で反射
された場合には経路ｃで照射位置検出機能を有す
る光デイテクタ５５上に達し、ｂの位置で反射し
た時には経路ｄをとつて光デイテクタ５５上に達
する。従つて光デイテクタ５５上ではビデオデイ
スク５１の表面の変位に伴つてビームの位置が変
化することになるので、検出装置５６に光デイテ
クタ５５出力を入力することによつて、ビーム位
置を直流レベルの変化として検出できる。検出さ
れた直流レベルは駆動アンプ５７により増幅さ
れ、前記リニアモータ５３に供給される。その結
果、ビデオデイスク５１の変位（面振れ）にレン
ズ５２が追従するクローズドループが形成され
る。このレンズ５２は、クローズドループが形成
されているため、ビデオデイスク５１の面振れに
追従して変位している。したがつてレンズ５２の
変位量を別の手段（例えば市販のFOTONICセン
サなど）で測定することによつてビデオデイスク
５１の面振れ量を測定できる。
このようにビデオデイスクの記録面に制御素子
を経由して光ビームを照射し、デイスクの偏芯，
面振れに光ビームに追従させるとその結果、制御
素子はデイスクの偏芯または面振れに応答して偏
移するようになる。
を経由して光ビームを照射し、デイスクの偏芯，
面振れに光ビームに追従させるとその結果、制御
素子はデイスクの偏芯または面振れに応答して偏
移するようになる。
したがつて、制御素子の偏移量の別の手段で測
定することによつてデイスクの偏芯、または面振
れ量を測定できる。
定することによつてデイスクの偏芯、または面振
れ量を測定できる。
一般に前述したクローズドループの利得をK1
とすれば、制御素子がビデオデイスクの偏芯ある
いは面振れに追従させた時の追従誤差は１／K1
程度となる。前記クローズドループの利得は通常
1000倍程度に設定することができるため、約１／
1000＝0.1％の精度で制御素子が偏芯、あるいは
面振れに追従することになる。
とすれば、制御素子がビデオデイスクの偏芯ある
いは面振れに追従させた時の追従誤差は１／K1
程度となる。前記クローズドループの利得は通常
1000倍程度に設定することができるため、約１／
1000＝0.1％の精度で制御素子が偏芯、あるいは
面振れに追従することになる。
したがつてもし、ビデオデイスクの反射率が50
％変化して前記利得が500倍になつたとしても、
0.2％の精度で制御素子が偏芯、あるいは面振れ
に追従するためこの制御素子の偏移を測定すれば
0.2％の精度で偏芯あるいは面振れ量を測定でき
る。
％変化して前記利得が500倍になつたとしても、
0.2％の精度で制御素子が偏芯、あるいは面振れ
に追従するためこの制御素子の偏移を測定すれば
0.2％の精度で偏芯あるいは面振れ量を測定でき
る。
ところが、一般にビデオデイスクの偏芯、ある
いは面振れをビデオデイスクに光ビームを照射し
て直接測定した場合は、反射率の変化とともに測
定値が変化し、例えば反射率が50％変化すると測
定値も50％程度変化してしまう。（例えば昭和49
年11月20日コロナ社発行「制御工学概論」第144
ページ〜第145ページ参照） さらにビデオデイスクの面振れ量を測定する手
段としては、マイクロメータをビデオデイスクに
接触して測定することが従来行なわれたが、この
ような測定方法では、ビデオデイスクに傷をつけ
てしまい、好ましい方法ではなかつた。
いは面振れをビデオデイスクに光ビームを照射し
て直接測定した場合は、反射率の変化とともに測
定値が変化し、例えば反射率が50％変化すると測
定値も50％程度変化してしまう。（例えば昭和49
年11月20日コロナ社発行「制御工学概論」第144
ページ〜第145ページ参照） さらにビデオデイスクの面振れ量を測定する手
段としては、マイクロメータをビデオデイスクに
接触して測定することが従来行なわれたが、この
ような測定方法では、ビデオデイスクに傷をつけ
てしまい、好ましい方法ではなかつた。
以上説明のように本発明によると、被測定物に
光ビームを照射するための第１の光学系と、前記
第１の光学系を介して照射された光ビームの反射
光を受光することによつて前記被測定物の変位を
検出する第１の変位検出手段と、前記第１の変位
検出手段で検出した変位量に追従して前記第１の
光学系を移動させる移動手段と、前記第１の光学
系の移動量を検出する第２の変位検出手段とを備
え、前記第２の変位検出手段は前記第１の光学系
とは独立した第２の光学系からなると共に、前記
第１の変位検出手段で検出した変位量を一定に制
御した上で、前記第１の光学系の移動量を検出す
ることにより前記被測定物の変位を間接的に測定
するため、直接に測定することが困難であつた
り、光学顕微鏡等でしか測定できなかつた円盤状
記録媒体のトラツク歪、偏芯をサーボループによ
り追従制御される変位量をサーボループとは別の
変位検出装置で測定するため、変位検出装置だけ
で測定精度を変更することができ、測定の自由度
が高いものである。さらに、本発明では被測定物
の変位量を検出するために、第２の光学系を独立
して設けたため、第１の光学系を駆動する駆動装
置の影響を受けることなく、離れた場所で高精度
に被測定物の変位量を正確に測定することがで
き、その結果、被測定物の変位も高精度に測定で
きるものである。
光ビームを照射するための第１の光学系と、前記
第１の光学系を介して照射された光ビームの反射
光を受光することによつて前記被測定物の変位を
検出する第１の変位検出手段と、前記第１の変位
検出手段で検出した変位量に追従して前記第１の
光学系を移動させる移動手段と、前記第１の光学
系の移動量を検出する第２の変位検出手段とを備
え、前記第２の変位検出手段は前記第１の光学系
とは独立した第２の光学系からなると共に、前記
第１の変位検出手段で検出した変位量を一定に制
御した上で、前記第１の光学系の移動量を検出す
ることにより前記被測定物の変位を間接的に測定
するため、直接に測定することが困難であつた
り、光学顕微鏡等でしか測定できなかつた円盤状
記録媒体のトラツク歪、偏芯をサーボループによ
り追従制御される変位量をサーボループとは別の
変位検出装置で測定するため、変位検出装置だけ
で測定精度を変更することができ、測定の自由度
が高いものである。さらに、本発明では被測定物
の変位量を検出するために、第２の光学系を独立
して設けたため、第１の光学系を駆動する駆動装
置の影響を受けることなく、離れた場所で高精度
に被測定物の変位量を正確に測定することがで
き、その結果、被測定物の変位も高精度に測定で
きるものである。
図面は本発明の実施例を示し、第１図は追従測
定装置の構成図、第２図は第１図の要部構成図、
第３図はビデオデイスクトラツクの説明図、第４
図はトラツキングミラーの変位説明図、第５図は
本発明の他の実施例を示す構成図である。 １……ビデオデイスク、４，１０……レーザー
装置、８……トラツキングミラー、６，９……光
デイテクタ、２１，２２……光デイテクタ、２３
……差動アンプ。
定装置の構成図、第２図は第１図の要部構成図、
第３図はビデオデイスクトラツクの説明図、第４
図はトラツキングミラーの変位説明図、第５図は
本発明の他の実施例を示す構成図である。 １……ビデオデイスク、４，１０……レーザー
装置、８……トラツキングミラー、６，９……光
デイテクタ、２１，２２……光デイテクタ、２３
……差動アンプ。
Claims (1)
- １ 被測定物に光ビームを照射するために第１の
光学系と、前記第１の光学系を介して照射された
光ビームの反射光を受光することによつて前記被
測定物の変位を検出する第１の変位検出手段と、
前記第１の変位検出手段で検出した変位量に追従
して前記第１の光学系を移動させる移動手段と、
前記第１の光学系の移動量を検出する第２の変位
検出手段とを備え、前記第２の変位検出手段は前
記第１の光学系とは独立した第２の光学系からな
ると共に、前記第１の変位検出手段で検出した変
位量を一定に制御した上で、前記第１の光学系の
移動量を検出することにより前記被測定物の変位
を間接的に測定することを特徴とする円盤状記録
媒体の追従測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10599280A JPS5733442A (en) | 1980-07-31 | 1980-07-31 | Following measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10599280A JPS5733442A (en) | 1980-07-31 | 1980-07-31 | Following measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5733442A JPS5733442A (en) | 1982-02-23 |
| JPH028377B2 true JPH028377B2 (ja) | 1990-02-23 |
Family
ID=14422212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10599280A Granted JPS5733442A (en) | 1980-07-31 | 1980-07-31 | Following measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5733442A (ja) |
-
1980
- 1980-07-31 JP JP10599280A patent/JPS5733442A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5733442A (en) | 1982-02-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4611317A (en) | Optical disk apparatus | |
| JP2573301B2 (ja) | ディスク装置 | |
| JPH0551973B2 (ja) | ||
| KR950010419B1 (ko) | 코스 액추에이터 트랙킹 신호 발생 장치 | |
| JP2945120B2 (ja) | フォーカシング・エラー信号発生装置 | |
| WO1984003387A1 (en) | Apparatus for controlling tracking of recorded disc reproduction device | |
| JPH028377B2 (ja) | ||
| JPH10500524A (ja) | 光学フォーカシング調整デバイス | |
| US4926407A (en) | Optical data processor | |
| JPH11167730A (ja) | 光ディスク原盤記録装置および光ディスク原盤記録方法 | |
| JPS6071903A (ja) | 光ディスク検査装置 | |
| JPS586212B2 (ja) | 光学的記録再生装置 | |
| JPS60182568A (ja) | 情報記録および／または読取手段の位置制御装置 | |
| JPH048327Y2 (ja) | ||
| JP2591344B2 (ja) | 光学的トラック追跡装置 | |
| KR0165597B1 (ko) | 광 디스크 재생시스템의 디스크 틸트 검출장치 | |
| JP2644850B2 (ja) | 焦点制御装置 | |
| JPS6220611B2 (ja) | ||
| JP2579763B2 (ja) | トラツキング制御装置 | |
| JP3313516B2 (ja) | 光ディスク制御装置 | |
| JPH0338646Y2 (ja) | ||
| CN118111669A (zh) | 光学头力矩器特性参数的检测方法 | |
| JPH0339335B2 (ja) | ||
| JPH09196616A (ja) | ディスク状記録媒体の変位測定装置及び変位測定方法 | |
| JPS61230683A (ja) | ディスク用検出器の特性評価装置 |