JPH0285374U - - Google Patents

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JPH0285374U
JPH0285374U JP16482888U JP16482888U JPH0285374U JP H0285374 U JPH0285374 U JP H0285374U JP 16482888 U JP16482888 U JP 16482888U JP 16482888 U JP16482888 U JP 16482888U JP H0285374 U JPH0285374 U JP H0285374U
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例に係るICハンドリン
グ装置を示すブロツク図、第2図及び第3図は本
考案の異常判定システムを説明するためのグラフ
である。 1;制御部、2;測定結果処理部、3;記憶部
、4;主制御部、5;設定入力部、6;コンタク
トソケツト部、7;供給機構駆動ドライバ、8;
供給機構、9;警報発生ドライバ、10;警報発
生部、11;テスタ、12;測定データ、13;
測定開始要求信号、14;測定結果信号、15;
測定数・不良数信号、16;各メモリ記憶内容、
17;異常信号、18;コンタクトソケツト指定
信号、19;供給機構駆動ドライバ駆動信号、2
0;供給機構駆動電流、21;警報発生ドライバ
駆動信号、22;警報発生電流、23;設定値信
号、C,C,C,…C;コンタクトソケ
ツト、M,M,M,…,M;メモリ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 複数個のコンタクトソケツトを有するICハン
    ドリング装置のコンタクト不良を検出するコンタ
    クト不良検出装置において、各コンタクトソケツ
    トの測定回数及びそのコンタクト不良の発生回数
    を各測定毎に更新して記憶する記憶手段と、前記
    測定回数及びコンタクト不良発生回数に基いて各
    コンタクトソケツトのコンタクト不良率及びその
    不良率の全コンタクトソケツトについての平均値
    を演算する演算手段と、各コンタクトソケツトの
    コンタクト不良率を前記平均値と比較して前記不
    良率が前記平均値よりも予め設定した許容範囲を
    超える場合に異常信号を出力する異常判定手段と
    を有することを特徴とするICハンドリング装置
    のコンタクト不良検出装置。
JP16482888U 1988-12-20 1988-12-20 Pending JPH0285374U (ja)

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JPH0285374U true JPH0285374U (ja) 1990-07-04

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55124077A (en) * 1979-03-16 1980-09-24 Nec Corp Semiconductor wafer electric characteristic testing apparatus

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55124077A (en) * 1979-03-16 1980-09-24 Nec Corp Semiconductor wafer electric characteristic testing apparatus

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