JPH028651B2 - - Google Patents
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- JPH028651B2 JPH028651B2 JP56149873A JP14987381A JPH028651B2 JP H028651 B2 JPH028651 B2 JP H028651B2 JP 56149873 A JP56149873 A JP 56149873A JP 14987381 A JP14987381 A JP 14987381A JP H028651 B2 JPH028651 B2 JP H028651B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- threshold
- voltage
- signal
- particle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/1031—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
- G01N15/12—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
- G01N15/131—Details
- G01N15/132—Circuits
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、血球などの微小粒子を計数する装
置、詳しくは、近接した粒子信号に対しても容易
に分離して計数し、計数ミスが生じないようにし
た信号処理装置を備えた粒子計数装置に関するも
のである。
置、詳しくは、近接した粒子信号に対しても容易
に分離して計数し、計数ミスが生じないようにし
た信号処理装置を備えた粒子計数装置に関するも
のである。
従来、液体に浮懸する血球などの粒子を計数測
定するには、粒子が１個宛通過できる程度の微細
孔を設け、血球などの粒子が浮懸する懸濁液を通
過させ、粒子と液との電気的または光学的な差異
に基づき電気信号を発生させ、粒子信号とノイズ
信号とを区別するために閾値回路を設けて、所定
の閾値以下のノイズ信号を除去し、閾値以上の粒
子信号のみを通過させて計数を行つている。
定するには、粒子が１個宛通過できる程度の微細
孔を設け、血球などの粒子が浮懸する懸濁液を通
過させ、粒子と液との電気的または光学的な差異
に基づき電気信号を発生させ、粒子信号とノイズ
信号とを区別するために閾値回路を設けて、所定
の閾値以下のノイズ信号を除去し、閾値以上の粒
子信号のみを通過させて計数を行つている。
しかしながら、閾値の設定いかんによつては、
近接した双峰性のパルスを区別して１個宛計数す
ることが困難であり、これを解消するために閾値
のレベルを上げると、小球性の粒子を計数するこ
とができず、数え落としてしまうという欠点があ
つた。とくに同時通過と称する２個以上の粒子が
同時に検出領域を通過する際には、それぞれの粒
子信号が相乗してレベルを上昇させ、１個宛の粒
子信号よりも大きくなり、したがつて設定した閾
値よりもはるか上のレベルで信号間のボトムが現
われ、２、３個の粒子信号が１個として計数さ
れ、数え落としの現象を生じていた。
近接した双峰性のパルスを区別して１個宛計数す
ることが困難であり、これを解消するために閾値
のレベルを上げると、小球性の粒子を計数するこ
とができず、数え落としてしまうという欠点があ
つた。とくに同時通過と称する２個以上の粒子が
同時に検出領域を通過する際には、それぞれの粒
子信号が相乗してレベルを上昇させ、１個宛の粒
子信号よりも大きくなり、したがつて設定した閾
値よりもはるか上のレベルで信号間のボトムが現
われ、２、３個の粒子信号が１個として計数さ
れ、数え落としの現象を生じていた。
また、特公昭47−41063号公報には、多峰入力
信号を含む入力信号に遅延を与える遅延回路と、
該遅延回路の遅延出力信号並びに上記入力信号が
各別の入力端子に供給されて上記入力信号が上記
遅延出力信号よりも大であるときにのみ出力信号
を発生する差動増幅器４と、該差動増幅器の出力
信号を矩形波に変換する回路と、上記矩形波を計
数するカウンタ２４とからなり、入力パルス信号
と該入力信号を積分して遅延させた信号とを比較
し、該入力信号の方が大であるときにのみ出力信
号を発生するようにした近接パルス弁別回路が記
載されている。
信号を含む入力信号に遅延を与える遅延回路と、
該遅延回路の遅延出力信号並びに上記入力信号が
各別の入力端子に供給されて上記入力信号が上記
遅延出力信号よりも大であるときにのみ出力信号
を発生する差動増幅器４と、該差動増幅器の出力
信号を矩形波に変換する回路と、上記矩形波を計
数するカウンタ２４とからなり、入力パルス信号
と該入力信号を積分して遅延させた信号とを比較
し、該入力信号の方が大であるときにのみ出力信
号を発生するようにした近接パルス弁別回路が記
載されている。
上記の特公昭47−41063号公報記載の近接パル
ス弁別回路においては、入力パルス信号と該入力
信号を積分して遅延させた信号とを単純に比較し
ているだけなので、対象とする血球信号以外の不
要な信号、たとえばノイズ等に対しても、この公
報に記載された回路は動作してしまう。したがつ
て、余分な出力信号を多数発生してしまうという
欠点がある。
ス弁別回路においては、入力パルス信号と該入力
信号を積分して遅延させた信号とを単純に比較し
ているだけなので、対象とする血球信号以外の不
要な信号、たとえばノイズ等に対しても、この公
報に記載された回路は動作してしまう。したがつ
て、余分な出力信号を多数発生してしまうという
欠点がある。
近接パルス弁別回路において、閾値電圧を用い
た例としては特公昭50−3902号公報に示された回
路があるが、この回路は近接パルスの弁別自体は
微分回路を用いて行つているので、本発明や特公
昭47−41063号公報に示された回路とは、原理的
に全く異なるものである。しかも閾値電圧を発生
する基準電圧発生回路を、ダイオード回路を介し
て閾値回路に接続する点については、特公昭50−
3902号公報には全く記載されていないので、上記
二つの公報に記載された回路を単に組み合わせて
も、本発明に到達することはできない。
た例としては特公昭50−3902号公報に示された回
路があるが、この回路は近接パルスの弁別自体は
微分回路を用いて行つているので、本発明や特公
昭47−41063号公報に示された回路とは、原理的
に全く異なるものである。しかも閾値電圧を発生
する基準電圧発生回路を、ダイオード回路を介し
て閾値回路に接続する点については、特公昭50−
3902号公報には全く記載されていないので、上記
二つの公報に記載された回路を単に組み合わせて
も、本発明に到達することはできない。
本発明は上記の諸点に鑑みなされたもので、閾
値レベルを粒子信号レベルに応じて可変させ、か
つノイズによる信号を除去することができる粒子
計数装置を提供することを目的とするものであ
る。
値レベルを粒子信号レベルに応じて可変させ、か
つノイズによる信号を除去することができる粒子
計数装置を提供することを目的とするものであ
る。
上記の目的を達成するために、本発明の粒子計
数装置は、図面に示すように、粒子が浮懸する液
を検出器の微細孔に通過させ粒子と液との電気的
差異または光学的差異に基づいて粒子検出回路１
で粒子を検出し電気信号を発生させ、粒子検出回
路１に接続された閾値回路８で所定の閾値以下の
ノイズ信号を除去し、閾値以上の粒子信号のみを
通過させて計数する粒子計数装置において、閾値
回路８にダイオード回路４を介して閾値電圧を発
生する基準電圧発生回路３を接続するとともに、
閾値回路８に抵抗R2を介して粒子検出回路１を
接続し、さらに閾値回路８に積分回路９を接続
し、かつ閾値回路８に分圧回路１１を接続して、
閾値回路８の静特性が基準電圧以上で、分圧回路
１１から閾値回路８へ入力される電圧が前記基準
電圧より大きくなるようにしてなることを特徴と
するものである。
数装置は、図面に示すように、粒子が浮懸する液
を検出器の微細孔に通過させ粒子と液との電気的
差異または光学的差異に基づいて粒子検出回路１
で粒子を検出し電気信号を発生させ、粒子検出回
路１に接続された閾値回路８で所定の閾値以下の
ノイズ信号を除去し、閾値以上の粒子信号のみを
通過させて計数する粒子計数装置において、閾値
回路８にダイオード回路４を介して閾値電圧を発
生する基準電圧発生回路３を接続するとともに、
閾値回路８に抵抗R2を介して粒子検出回路１を
接続し、さらに閾値回路８に積分回路９を接続
し、かつ閾値回路８に分圧回路１１を接続して、
閾値回路８の静特性が基準電圧以上で、分圧回路
１１から閾値回路８へ入力される電圧が前記基準
電圧より大きくなるようにしてなることを特徴と
するものである。
本発明の粒子計数装置においては、入力パルス
信号を分圧した信号と該入力パルス信号を積分し
た信号とをある閾値以上で比較し、該入力パルス
信号の方が大のとき、出力信号を発生させるよう
にして、近接パルスを弁別する。
信号を分圧した信号と該入力パルス信号を積分し
た信号とをある閾値以上で比較し、該入力パルス
信号の方が大のとき、出力信号を発生させるよう
にして、近接パルスを弁別する。
閾値電圧を発生する基準電圧発生回路３をダイ
オード回路４を介して閾値回路８に接続している
ので、上記閾値電圧以上の入力パルス信号に対し
てのみ、入力パルス信号と入力パルス信号を積分
した信号との比較が行われる。したがつて、ノイ
ズ等が入力されたときに出力が発生されてしまう
ことが極めて少ない。
オード回路４を介して閾値回路８に接続している
ので、上記閾値電圧以上の入力パルス信号に対し
てのみ、入力パルス信号と入力パルス信号を積分
した信号との比較が行われる。したがつて、ノイ
ズ等が入力されたときに出力が発生されてしまう
ことが極めて少ない。
第１図に示されたノイズ除去回路１２は、閾値
回路８では阻止しきれなかつたノイズを除去する
ためのものである。前記の特公昭47−41063号公
報に示された回路のように、ノイズをフリーパス
させてしまうのでは、ノイズの方が血球信号より
も圧倒的に多くなつてしまうので、上記ノイズ除
去回路１２のようなものではノイズを除去しきれ
るものではない。
回路８では阻止しきれなかつたノイズを除去する
ためのものである。前記の特公昭47−41063号公
報に示された回路のように、ノイズをフリーパス
させてしまうのでは、ノイズの方が血球信号より
も圧倒的に多くなつてしまうので、上記ノイズ除
去回路１２のようなものではノイズを除去しきれ
るものではない。
さらに、入力パルス信号を分圧した信号を閾値
回路８に入力していることも、本発明の特徴であ
る。このような構成にしている理由は、第２図を
参照するとよく理解できる。単純に入力信号と入
力信号を積分した信号Ａとを比較するよりも、入
力信号を分圧した信号Ｂ（入力信号よりも波高値
が低くなつている）と信号Ａとを比較する方が、
入力信号の、よりピークに近い位置で閾値回路８
の出力波形が終了するようになり、出力波形のパ
ルス幅が狭くなることがわかる。その方が、第２
図に示されたような近接パルスを、２つのパルス
として一層弁別しやすくなる。
回路８に入力していることも、本発明の特徴であ
る。このような構成にしている理由は、第２図を
参照するとよく理解できる。単純に入力信号と入
力信号を積分した信号Ａとを比較するよりも、入
力信号を分圧した信号Ｂ（入力信号よりも波高値
が低くなつている）と信号Ａとを比較する方が、
入力信号の、よりピークに近い位置で閾値回路８
の出力波形が終了するようになり、出力波形のパ
ルス幅が狭くなることがわかる。その方が、第２
図に示されたような近接パルスを、２つのパルス
として一層弁別しやすくなる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。第１図は本発明の装置の構成例を示し、第２
図および第３図は動作を示している。１は粒子検
出回路で、液体に浮懸する血球などの粒子を、粒
子が１個宛通過できる程度の微細孔に通過させ、
このときの液と粒子との電気的差異または光学的
差異に基づいて粒子信号を発し、端子２に導入す
るように構成されている。一方、３は基準電圧発
生回路であり、いわゆる、従来の閾値電圧を発生
する回路である。４はダイオード回路で、演算増
幅器５とダイオード６，７との組合せにより理想
ダイオードに近い特性を示し、閾値回路８の閾値
電圧が比較回路以下にならないように電圧を供給
する回路である。９は積分回路で、コンデンサ１
０に端子２から入力される粒子信号を積分して、
すなわち幾分の時間遅れを生じさせて、閾値回路
８の閾値電圧として与えるためのものである。１
１は分圧回路で、抵抗R2とR2′とで構成され、抵
抗R1とR1′とで構成される比較電圧（閾値電圧）
よりも幾分高目の値を閾値回路８に与えるように
選定される。すなわち第３図に示すように、端子
２の入力電圧を少しずつ静的に上昇させて行く
と、基準電圧発生回路３からの電圧(C)よりも大き
くなつたときに初めて閾値回路８がオンするよう
になり、一方、閾値回路８のマイナス側へ入力さ
れる電圧(A)は、入力電圧の上昇に伴つて同じよう
に上昇するが、閾値回路８のプラス側へ入力され
る電圧(B)を越えることはない。以上は静特性につ
いてであるが、第２図に示すような動特性におい
ては、閾値電圧(A)の上昇が時間遅れを生ずるため
に、入力電圧の粒子信号後半においては、閾値電
圧(A)が電圧(B)を越えてしまい、閾値回路８を遮断
する。閾値回路８は通常、コンパレータ（比較回
路）で構成され、比較電圧（閾値電圧）よりも入
力信号が大きくなつたときにオンするように動作
する。分圧回路１１の働きにより、電圧(B)は端子
２の入力電圧よりも幾分低目の値となる。こうす
ると、端子２の入力電圧そのものと電圧(A)とを比
較するよりも早めに（すなわち入力電圧のピーク
に近い位置で）閾値回路８がオフする（第２図参
照）。したがつて、閾値回路８の出力波形のパル
ス幅が狭くなるので、２個以上の粒子の同時通過
により生ずるパルスを、２個以上のパルスとして
分離する能力が向上する。１２はノイズ除去回路
で、粒子信号にノイズ信号が重畳し、閾値回路８
を瞬時、オン・オフさせ、幅の狭い出力信号を発
生することがあるので、これを除去するためのも
のであり、フイルタやあるいは再トリガが可能な
単安定マルチバイブレータによる、粒子信号の所
定の周波数成分のみを通過させる回路である。１
３は計数回路で、粒子信号を計数するためのもの
である。
る。第１図は本発明の装置の構成例を示し、第２
図および第３図は動作を示している。１は粒子検
出回路で、液体に浮懸する血球などの粒子を、粒
子が１個宛通過できる程度の微細孔に通過させ、
このときの液と粒子との電気的差異または光学的
差異に基づいて粒子信号を発し、端子２に導入す
るように構成されている。一方、３は基準電圧発
生回路であり、いわゆる、従来の閾値電圧を発生
する回路である。４はダイオード回路で、演算増
幅器５とダイオード６，７との組合せにより理想
ダイオードに近い特性を示し、閾値回路８の閾値
電圧が比較回路以下にならないように電圧を供給
する回路である。９は積分回路で、コンデンサ１
０に端子２から入力される粒子信号を積分して、
すなわち幾分の時間遅れを生じさせて、閾値回路
８の閾値電圧として与えるためのものである。１
１は分圧回路で、抵抗R2とR2′とで構成され、抵
抗R1とR1′とで構成される比較電圧（閾値電圧）
よりも幾分高目の値を閾値回路８に与えるように
選定される。すなわち第３図に示すように、端子
２の入力電圧を少しずつ静的に上昇させて行く
と、基準電圧発生回路３からの電圧(C)よりも大き
くなつたときに初めて閾値回路８がオンするよう
になり、一方、閾値回路８のマイナス側へ入力さ
れる電圧(A)は、入力電圧の上昇に伴つて同じよう
に上昇するが、閾値回路８のプラス側へ入力され
る電圧(B)を越えることはない。以上は静特性につ
いてであるが、第２図に示すような動特性におい
ては、閾値電圧(A)の上昇が時間遅れを生ずるため
に、入力電圧の粒子信号後半においては、閾値電
圧(A)が電圧(B)を越えてしまい、閾値回路８を遮断
する。閾値回路８は通常、コンパレータ（比較回
路）で構成され、比較電圧（閾値電圧）よりも入
力信号が大きくなつたときにオンするように動作
する。分圧回路１１の働きにより、電圧(B)は端子
２の入力電圧よりも幾分低目の値となる。こうす
ると、端子２の入力電圧そのものと電圧(A)とを比
較するよりも早めに（すなわち入力電圧のピーク
に近い位置で）閾値回路８がオフする（第２図参
照）。したがつて、閾値回路８の出力波形のパル
ス幅が狭くなるので、２個以上の粒子の同時通過
により生ずるパルスを、２個以上のパルスとして
分離する能力が向上する。１２はノイズ除去回路
で、粒子信号にノイズ信号が重畳し、閾値回路８
を瞬時、オン・オフさせ、幅の狭い出力信号を発
生することがあるので、これを除去するためのも
のであり、フイルタやあるいは再トリガが可能な
単安定マルチバイブレータによる、粒子信号の所
定の周波数成分のみを通過させる回路である。１
３は計数回路で、粒子信号を計数するためのもの
である。
以上説明したように、本発明の粒子計数装置
は、閾値回路８の閾値電圧を、ダイオード回路４
を介して閾値回路の閾値端子に供給するととも
に、入力信号を抵抗を介して閾端子に供給し、か
つ閾端子に積分回路９を設け、一方、閾値回路８
の信号端子に分圧回路１１を設けて、閾値回路８
の静特性を基準電圧(C)以上で、分圧回路１１から
閾値回路８へ入力される電圧(B)が前記電圧(A)より
大きくなるようにした信号処理装置を備えてい
る。このため入力信号を、閾値回路８の閾値電圧
を与える端子に抵抗R1′を介して与え、かつコン
デンサ１０を有する積分回路９により積分させ、
時間遅れを生じさせるために、第２図に示すよう
な双峰性の粒子信号がきても、１つ目の信号の後
半で閾値回路８が遮断され、２つ目の信号の前半
で再びオンするので、２つの粒子として２個のパ
ルス信号を発し、完全に分離することができると
いう効果を奏する。
は、閾値回路８の閾値電圧を、ダイオード回路４
を介して閾値回路の閾値端子に供給するととも
に、入力信号を抵抗を介して閾端子に供給し、か
つ閾端子に積分回路９を設け、一方、閾値回路８
の信号端子に分圧回路１１を設けて、閾値回路８
の静特性を基準電圧(C)以上で、分圧回路１１から
閾値回路８へ入力される電圧(B)が前記電圧(A)より
大きくなるようにした信号処理装置を備えてい
る。このため入力信号を、閾値回路８の閾値電圧
を与える端子に抵抗R1′を介して与え、かつコン
デンサ１０を有する積分回路９により積分させ、
時間遅れを生じさせるために、第２図に示すよう
な双峰性の粒子信号がきても、１つ目の信号の後
半で閾値回路８が遮断され、２つ目の信号の前半
で再びオンするので、２つの粒子として２個のパ
ルス信号を発し、完全に分離することができると
いう効果を奏する。
第１図は本発明の粒子計数装置の一実施例を示
す系統的説明図、第２図および第３図は動作の説
明図である。 １……粒子検出回路、２……端子、３……基準
電圧発生回路、４……ダイオード回路、５……演
算増幅器、６，７……ダイオード、８……閾値回
路、９……積分回路、１０……コンデンサ、１１
……分圧回路、１２……ノイズ除去回路、１３…
…計数回路、R1，R1′，R2，R2′……抵抗。
す系統的説明図、第２図および第３図は動作の説
明図である。 １……粒子検出回路、２……端子、３……基準
電圧発生回路、４……ダイオード回路、５……演
算増幅器、６，７……ダイオード、８……閾値回
路、９……積分回路、１０……コンデンサ、１１
……分圧回路、１２……ノイズ除去回路、１３…
…計数回路、R1，R1′，R2，R2′……抵抗。
Claims (1)
- １ 粒子が浮懸する液を検出器の微細孔に通過さ
せ粒子と液との電気的差異または光学的差異に基
づいて粒子検出回路１で粒子を検出し電気信号を
発生させ、粒子検出回路１に接続された閾値回路
８で所定の閾値以下のノイズ信号を除去し、閾値
以上の粒子信号のみを通過させて計数する粒子計
数装置において、閾値回路８にダイオード回路４
を介して閾値電圧を発生する基準電圧発生回路３
を接続するとともに、閾値回路８に抵抗R2を介
して粒子検出回路１を接続し、さらに閾値回路８
に積分回路９を接続し、かつ閾値回路８に分圧回
路１１を接続して、閾値回路８の静特性が基準電
圧以上で、分圧回路１１から閾値回路８へ入力さ
れる電圧が前記基準電圧より大きくなるようにし
てなることを特徴とする粒子計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56149873A JPS5850450A (ja) | 1981-09-21 | 1981-09-21 | 粒子計数装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56149873A JPS5850450A (ja) | 1981-09-21 | 1981-09-21 | 粒子計数装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5850450A JPS5850450A (ja) | 1983-03-24 |
| JPH028651B2 true JPH028651B2 (ja) | 1990-02-26 |
Family
ID=15484508
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56149873A Granted JPS5850450A (ja) | 1981-09-21 | 1981-09-21 | 粒子計数装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5850450A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4554810B2 (ja) * | 2000-12-21 | 2010-09-29 | シスメックス株式会社 | 粒子分析装置および粒子分析方法 |
| FR3034520B1 (fr) | 2015-04-02 | 2020-02-14 | Horiba Abx Sas | Dispositif de comptage de particules |
-
1981
- 1981-09-21 JP JP56149873A patent/JPS5850450A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5850450A (ja) | 1983-03-24 |
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