JPH02867Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH02867Y2 JPH02867Y2 JP1982076046U JP7604682U JPH02867Y2 JP H02867 Y2 JPH02867 Y2 JP H02867Y2 JP 1982076046 U JP1982076046 U JP 1982076046U JP 7604682 U JP7604682 U JP 7604682U JP H02867 Y2 JPH02867 Y2 JP H02867Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- tube
- contacts
- contact pin
- hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は例えば比較的接近した多数の接点を
具備する二枚の配線基板間の接続に適するコネク
タに関する。
具備する二枚の配線基板間の接続に適するコネク
タに関する。
二枚の配線基板にそれぞれ形成された接点を接
続するためにマルチコネクタが用いられている
が、接点が近接し多数在る場合は従来のマルチコ
ネクタの利用ではその接続が困難となる。このよ
うな点より第１図に示すように接続されるべき配
線基板１１，１２を平行に配し、その配線基板１
１，１２の複数の各対応する接点１３，１４に、
弾性絶縁片１５に多数の細い金属線１６を密にか
つ平行に貫通保持し、弾性絶縁片１５の両面に位
置している金属線１６の両端が接点１３，１４と
接触して接点１３，１４が互いに電気的に接続さ
れるようにしたものがある。このようにすれば配
線基板１１，１２をそれ程正確に位置合せしなく
ても、何れかの金属線１６が接点１３，１４に接
触して接続が行われる。しかしこのような接続は
接触抵抗が数Ωにもなり、また接点１３，１４が
それぞれ２次元的に広がりをもつて配されている
場合は、弾性絶縁片１５を基板１１，１２に各部
均一に良好に接触させることは困難であり、この
ため接触不良が生じる。
続するためにマルチコネクタが用いられている
が、接点が近接し多数在る場合は従来のマルチコ
ネクタの利用ではその接続が困難となる。このよ
うな点より第１図に示すように接続されるべき配
線基板１１，１２を平行に配し、その配線基板１
１，１２の複数の各対応する接点１３，１４に、
弾性絶縁片１５に多数の細い金属線１６を密にか
つ平行に貫通保持し、弾性絶縁片１５の両面に位
置している金属線１６の両端が接点１３，１４と
接触して接点１３，１４が互いに電気的に接続さ
れるようにしたものがある。このようにすれば配
線基板１１，１２をそれ程正確に位置合せしなく
ても、何れかの金属線１６が接点１３，１４に接
触して接続が行われる。しかしこのような接続は
接触抵抗が数Ωにもなり、また接点１３，１４が
それぞれ２次元的に広がりをもつて配されている
場合は、弾性絶縁片１５を基板１１，１２に各部
均一に良好に接触させることは困難であり、この
ため接触不良が生じる。
この考案の目的は多数の接点が近接し、かつ広
がりをもつて配されている場合でも良好に接続す
ることができるコネクタを提供することにある。
がりをもつて配されている場合でも良好に接続す
ることができるコネクタを提供することにある。
この考案によるコネクタの実施例を第２図を参
照して説明する。絶縁材、例えば合成樹脂材の成
形品よりなる基板１７に多数の貫通孔１８がほゞ
一様に分布形成され、これら貫通孔１８にはチユ
ーブ１９が挿通保持される。
照して説明する。絶縁材、例えば合成樹脂材の成
形品よりなる基板１７に多数の貫通孔１８がほゞ
一様に分布形成され、これら貫通孔１８にはチユ
ーブ１９が挿通保持される。
各チユーブ１９の両端間にそれぞれ第１及び第
２のコンタクトピン２１，２２が出入自在に配さ
れる。これらコンタクトピン２１，２２はそれぞ
れ基板１７の両面から突出される。またチユーブ
１９内には第３図に示すようにコイルバネ２３が
収容され、コイルバネ２３により第１及び第２の
コンタクトピン２１，２２がそれぞれ外側に偏倚
される。チユーブ１９の両端の内周面につば２
４，２５がそれぞれ折曲げ形成され、つば２４，
２５によりチユーブ１９の両端面には閉塞面が形
成される。またコンタクトピン２１，２２にはそ
のチユーブ１９内において周鍔２６，２７が一体
に形成され、これら周鍔２６，２７がつば２４，
２５とそれぞれ衝合して抜け止めとされている。
コイルバネ２３の両端は周鍔２６，２７と弾性的
に係合し、チユーブ１９の軸心とバネ２３の軸心
とほゞ一致している。
２のコンタクトピン２１，２２が出入自在に配さ
れる。これらコンタクトピン２１，２２はそれぞ
れ基板１７の両面から突出される。またチユーブ
１９内には第３図に示すようにコイルバネ２３が
収容され、コイルバネ２３により第１及び第２の
コンタクトピン２１，２２がそれぞれ外側に偏倚
される。チユーブ１９の両端の内周面につば２
４，２５がそれぞれ折曲げ形成され、つば２４，
２５によりチユーブ１９の両端面には閉塞面が形
成される。またコンタクトピン２１，２２にはそ
のチユーブ１９内において周鍔２６，２７が一体
に形成され、これら周鍔２６，２７がつば２４，
２５とそれぞれ衝合して抜け止めとされている。
コイルバネ２３の両端は周鍔２６，２７と弾性的
に係合し、チユーブ１９の軸心とバネ２３の軸心
とほゞ一致している。
一方のコンタクトピン実施例では第１のコンタ
クトピン２１の突出端部、つまり接触部２８は太
さが太くされ、接触部２８を摘みチユーブ１９を
基板１７から容易に抜き取ることができるように
構成されている。つまり不良となつたチユーブ及
びコンタクトユニツトを取替え易くする。
クトピン２１の突出端部、つまり接触部２８は太
さが太くされ、接触部２８を摘みチユーブ１９を
基板１７から容易に抜き取ることができるように
構成されている。つまり不良となつたチユーブ及
びコンタクトユニツトを取替え易くする。
第１のコンタクトピン２１の接触部２８、他方
の第２のコンタクトピン２２の突出部の接触部２
９の各端面に凹み３１，３２をそれぞれ形成し
て、この接触部２８，２９の各端面が接点１３，
１４と点ではなく線でもつて接触し、良好な接触
が得られるようにされている。更に各コンタクト
ピン２１，２２の突出長をそれぞれ揃えるために
チユーブ１９の長さを一定とし、この一端、この
例では太くされた接触部２８側の端から予め決ら
れた位置の外周に制限板３３を一体に形成し、チ
ユーブ１９を貫通孔１８に挿入した時に、制限板
３３が基板１７の板面と接してその挿入が所定位
置で制限されるようにされる。なお各材料として
は例えばチユーブ１９は真鍮、ベリリウムカツパ
などで作られ、コンタクトピン２１，２２はベリ
リウムカツパ、コイルバネ２３はピアノ線とそれ
ぞれされる。
の第２のコンタクトピン２２の突出部の接触部２
９の各端面に凹み３１，３２をそれぞれ形成し
て、この接触部２８，２９の各端面が接点１３，
１４と点ではなく線でもつて接触し、良好な接触
が得られるようにされている。更に各コンタクト
ピン２１，２２の突出長をそれぞれ揃えるために
チユーブ１９の長さを一定とし、この一端、この
例では太くされた接触部２８側の端から予め決ら
れた位置の外周に制限板３３を一体に形成し、チ
ユーブ１９を貫通孔１８に挿入した時に、制限板
３３が基板１７の板面と接してその挿入が所定位
置で制限されるようにされる。なお各材料として
は例えばチユーブ１９は真鍮、ベリリウムカツパ
などで作られ、コンタクトピン２１，２２はベリ
リウムカツパ、コイルバネ２３はピアノ線とそれ
ぞれされる。
以上述べたこの考案のコネクタによれば基板の
両面に多数のコンタクトピン２１，２２が出入自
在に突出しており、例えば第２図に示すように配
線基板１１，１２でこのコネクタを挾み、接点１
３，１４をコンタクトピン２１，２２に弾性的に
接触させる。この結果接点１３，１４はコンタク
トピン２１，２２、チユーブ１９、コイルバネ２
３を介して電気的に互に接続される。このように
コンタクトピン２１，２２は接点１３，１４と弾
性的に接触するため接触抵抗が小さく、良好な接
触となり、かつコンタクトピン２１，２２が出入
自在となつているため、接点１３，１４が面積を
もつて分布していても配線基板１１，１２、基板
１７の平行性を特に注意しなくても、また各基板
の平面精度を高くしなくても、すぺての接点は良
好に接続される。例えば第４図に示すようにドー
ナツ板状のコネクタとし、広い面積にわたつて分
布した接点の接続も可能となる。コンタクトピン
２１，２２の突出長は例えば1.5〜４mm、太さは
1.3mm、コンタクトピンの間隔は４mmなどとされ、
コンタクトピンの１本と一つの接点とが接触する
ようにされる。互に接続されるべき接点は配線基
板に形成されている場合に限られない。
両面に多数のコンタクトピン２１，２２が出入自
在に突出しており、例えば第２図に示すように配
線基板１１，１２でこのコネクタを挾み、接点１
３，１４をコンタクトピン２１，２２に弾性的に
接触させる。この結果接点１３，１４はコンタク
トピン２１，２２、チユーブ１９、コイルバネ２
３を介して電気的に互に接続される。このように
コンタクトピン２１，２２は接点１３，１４と弾
性的に接触するため接触抵抗が小さく、良好な接
触となり、かつコンタクトピン２１，２２が出入
自在となつているため、接点１３，１４が面積を
もつて分布していても配線基板１１，１２、基板
１７の平行性を特に注意しなくても、また各基板
の平面精度を高くしなくても、すぺての接点は良
好に接続される。例えば第４図に示すようにドー
ナツ板状のコネクタとし、広い面積にわたつて分
布した接点の接続も可能となる。コンタクトピン
２１，２２の突出長は例えば1.5〜４mm、太さは
1.3mm、コンタクトピンの間隔は４mmなどとされ、
コンタクトピンの１本と一つの接点とが接触する
ようにされる。互に接続されるべき接点は配線基
板に形成されている場合に限られない。
第１図は従来のコネクタを示す図、第２図はこ
の考案によるコネクタの一例を示す断面図、第３
図はその一部の拡大断面図、第４図はこの考案の
コネクタの他の例の外観図である。 １１，１２……配線基板、１３，１４……接
点、１７……絶縁材の基板、１８……貫通孔、１
９……チユーブ、２１，２２……コンタクトピ
ン、２３……コイルバネ。
の考案によるコネクタの一例を示す断面図、第３
図はその一部の拡大断面図、第４図はこの考案の
コネクタの他の例の外観図である。 １１，１２……配線基板、１３，１４……接
点、１７……絶縁材の基板、１８……貫通孔、１
９……チユーブ、２１，２２……コンタクトピ
ン、２３……コイルバネ。
Claims (1)
- 二枚の配線基板がそれぞれの接点を対向突出さ
せて配され、これらの配線基板間に絶縁基板が配
され、この絶縁基板の両面からそれぞれ突出配設
される第１及び第２のコンタクトピンが前記接点
とそれぞれ接触し、前記二枚の配線基板のそれぞ
れに対応する接点が互に接続されるコネクタにお
いて、前記絶縁基板には多数の貫通孔が分布形成
され、これらの各貫通孔には一体に形成されたチ
ユーブが挿入保持され、これらチユーブの両端側
が内側につばとして折り曲げられて前記チユーブ
の両端面には閉塞面が形成され、前記チユーブに
対して前記第１及び第２のコンタクトピンが前記
両閉塞面から先端をそれぞれ出入自在に突出させ
て収容配設され、前記第１及び第２のコンタクト
ピンの端部を前記閉塞面からそれぞれ外部に突出
偏倚するコイルバネがチユーブ内に収容され、前
記第１及び第２のコンタクトピンのそれぞれの先
端側には、前記コイルバネによる最大偏倚突出状
態で前記閉塞面と前記チユーブ内において対接し
て抜け止めとなる周鍔が設けられ、前記コンタク
トピンの一方は前記閉塞面よりの突出端部の径が
太く形成され、この突出端部分の径が太く形成さ
れたコンタクトピン側において、前記チユーブに
は前記閉塞面の近傍が半径方向に延長された制限
板が形成され、この制限板が前記チユーブの前記
貫通孔への挿入に際して、前記貫通孔の周縁部と
対向して前記挿入に対する位置決めとされ、前記
チユーブの前記貫通孔への挿入保持状態で前記コ
ンタクトピンは前記絶縁基板より突出して配さ
れ、前記コンタクトピンの突出端面には凹みが形
成され、この凹みによつて前記コンタクトピンと
前記接点とが線接触するように構成されてなるコ
ネクタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1982076046U JPS58178293U (ja) | 1982-05-24 | 1982-05-24 | コネクタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1982076046U JPS58178293U (ja) | 1982-05-24 | 1982-05-24 | コネクタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58178293U JPS58178293U (ja) | 1983-11-29 |
| JPH02867Y2 true JPH02867Y2 (ja) | 1990-01-10 |
Family
ID=30085371
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1982076046U Granted JPS58178293U (ja) | 1982-05-24 | 1982-05-24 | コネクタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58178293U (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0722867Y2 (ja) * | 1990-04-06 | 1995-05-24 | 株式会社横尾製作所 | 回路基板用コネクター |
| US6246247B1 (en) | 1994-11-15 | 2001-06-12 | Formfactor, Inc. | Probe card assembly and kit, and methods of using same |
| US6483328B1 (en) | 1995-11-09 | 2002-11-19 | Formfactor, Inc. | Probe card for probing wafers with raised contact elements |
| JP2723871B2 (ja) * | 1995-12-21 | 1998-03-09 | 山形日本電気株式会社 | 電気接続ユニット |
| US6468098B1 (en) | 1999-08-17 | 2002-10-22 | Formfactor, Inc. | Electrical contactor especially wafer level contactor using fluid pressure |
| JP5116006B2 (ja) * | 2006-10-10 | 2013-01-09 | 有限会社清田製作所 | クッション性を有する電気接点 |
-
1982
- 1982-05-24 JP JP1982076046U patent/JPS58178293U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58178293U (ja) | 1983-11-29 |
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