JPH0298642A - つりあい試験機 - Google Patents
つりあい試験機Info
- Publication number
- JPH0298642A JPH0298642A JP25151088A JP25151088A JPH0298642A JP H0298642 A JPH0298642 A JP H0298642A JP 25151088 A JP25151088 A JP 25151088A JP 25151088 A JP25151088 A JP 25151088A JP H0298642 A JPH0298642 A JP H0298642A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- displacement
- parallelism
- unbalance
- check
- data
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Balance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(#業りの利用分野)
本発明は、クランクシャフト等の回転体のつりあい計測
に用いられるつりあい試験機に関する。
に用いられるつりあい試験機に関する。
(従来の技術)
F、述のようなつりあい試験機の一例として。
従来、弾性部材等を介して基台に一対の軸受を設けた振
動板を配置するとともに、該振動板の近傍に可動線輪形
ピックアップ等のセンサを設けたものがある(実開昭6
2−58728号公+17参!!ilり、このつりあい
試験機では軸受にワーク奢截せて回転し、ワークの不つ
りあいから発生実る振動板の振動を振動検出器で検出し
ワークの不つりあいを測定するようにしている。
動板を配置するとともに、該振動板の近傍に可動線輪形
ピックアップ等のセンサを設けたものがある(実開昭6
2−58728号公+17参!!ilり、このつりあい
試験機では軸受にワーク奢截せて回転し、ワークの不つ
りあいから発生実る振動板の振動を振動検出器で検出し
ワークの不つりあいを測定するようにしている。
ところで、このようなつりあい試験機では軸受に載せる
ときの衝撃や弾性部材の劣化により振動板が基準位置に
対して水平方向にずれる(以下、この状態を平行度のず
れという)ことがある。そして、このような状態でワー
クを回転し、不つりあいを計測した場合、振動板の平行
度のずれがワーク測定時の不つりあい精度に加算される
ため、得られるデータの精度は低くなってしまう、この
対東として振動板の平行度を検出すれば良いが、平行を
検出するセンサにはこの機能を備えていないため、新た
に平行度のずれを検出するセンサを軸受近傍に設け、つ
りあい試験に先立って該センサで平行度をチェックする
ことが考えられる。
ときの衝撃や弾性部材の劣化により振動板が基準位置に
対して水平方向にずれる(以下、この状態を平行度のず
れという)ことがある。そして、このような状態でワー
クを回転し、不つりあいを計測した場合、振動板の平行
度のずれがワーク測定時の不つりあい精度に加算される
ため、得られるデータの精度は低くなってしまう、この
対東として振動板の平行度を検出すれば良いが、平行を
検出するセンサにはこの機能を備えていないため、新た
に平行度のずれを検出するセンサを軸受近傍に設け、つ
りあい試験に先立って該センサで平行度をチェックする
ことが考えられる。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、1−述したように平行度のずれのチェッ
クのためにセンサを設けるとその分軸受近傍が複雑にな
ってしまうという問題点があった・ 本発明は、」二足問題点の解決を課題としてなされたも
ので、簡易な構成で平行度のチェックを行なえるつりあ
い試験機を提供することを目的とする。
クのためにセンサを設けるとその分軸受近傍が複雑にな
ってしまうという問題点があった・ 本発明は、」二足問題点の解決を課題としてなされたも
ので、簡易な構成で平行度のチェックを行なえるつりあ
い試験機を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記目的を達成するために、基台に設けた振
動台に取付けられ、かつワークを載置する軸受を有した
振動板と、前記基台に設けられ、かつ該振動板との距離
を検出する変位計と、該変位計の検出データに基づいて
前記ワークの不つりあい量を算出する不つりあい量演算
手段と、前記振動板と前記変位計の基準距離データをあ
らかじめ格納する記憶手段と、前記変位計の検出データ
と前記基準距離データとを比較して前記振動台の平行度
のずれをチェックする比較演算手段と、を備えたことを
特徴とする。
動台に取付けられ、かつワークを載置する軸受を有した
振動板と、前記基台に設けられ、かつ該振動板との距離
を検出する変位計と、該変位計の検出データに基づいて
前記ワークの不つりあい量を算出する不つりあい量演算
手段と、前記振動板と前記変位計の基準距離データをあ
らかじめ格納する記憶手段と、前記変位計の検出データ
と前記基準距離データとを比較して前記振動台の平行度
のずれをチェックする比較演算手段と、を備えたことを
特徴とする。
(作 用)
本発明は、上記構成によって不つりあいφ演算手段が変
位計の検出データに基づいてワークの不つりあいを算出
し、かつ該変位計の検出データを用いて、比較演算子役
が振動台の平行度のずれをチェックするので、不つりあ
いのチェックおよび平行度のチエ−7りを同一の変位計
で兼用でき、この結果、平行度のチェックのためのセン
サの設置が不要となって装置を簡素化できる。
位計の検出データに基づいてワークの不つりあいを算出
し、かつ該変位計の検出データを用いて、比較演算子役
が振動台の平行度のずれをチェックするので、不つりあ
いのチェックおよび平行度のチエ−7りを同一の変位計
で兼用でき、この結果、平行度のチェックのためのセン
サの設置が不要となって装置を簡素化できる。
(実施例)
以下゛に本発明の一実施例のつりあい試験機について添
付図面を参[卵して説明する。
付図面を参[卵して説明する。
第1図および第2図において、基台lには4人の繍ばね
2を介して四角形の振動台3が支えられており、振動f
?3は基台lに勾して水乎方向に飼し変位自在となって
いる。振動台3の長Lh向のド部には軸受保持板4aが
対向して取付けられている。該軸受保持板4aには並ん
で配置された2個のローラからなる軸受4がそれぞれ設
けられている。これら軸受4にクランクシャフト5が回
動自在に載置される。クランクシャフト5は基台lに配
置されたモータ6によって回動される。
2を介して四角形の振動台3が支えられており、振動f
?3は基台lに勾して水乎方向に飼し変位自在となって
いる。振動台3の長Lh向のド部には軸受保持板4aが
対向して取付けられている。該軸受保持板4aには並ん
で配置された2個のローラからなる軸受4がそれぞれ設
けられている。これら軸受4にクランクシャフト5が回
動自在に載置される。クランクシャフト5は基台lに配
置されたモータ6によって回動される。
また、振動台3の下部における軸受4の近傍には振動板
7.8が取直に設けられている。
7.8が取直に設けられている。
振動板7.8の下部近傍における基台1には支え板9.
10が配置されている。支え板9゜lOヒには振動板7
.8に対向し、かつ非接触状態で変位計11゜12が設
けられている。変位計11.12は振動板7,8との距
離(変位)x、x’(pm〕を検出し、これをt!!、
圧値で示されるデータ Vl、V’、(ポルト〕に変換
して出力する。
10が配置されている。支え板9゜lOヒには振動板7
.8に対向し、かつ非接触状態で変位計11゜12が設
けられている。変位計11.12は振動板7,8との距
離(変位)x、x’(pm〕を検出し、これをt!!、
圧値で示されるデータ Vl、V’、(ポルト〕に変換
して出力する。
また、モータ6近傍には近接スイッチ13が設けられて
いる。該スイッチ13はクランクシャフト5が1回転す
る毎に1個のパルスを発生する。
いる。該スイッチ13はクランクシャフト5が1回転す
る毎に1個のパルスを発生する。
変位計11 、12.近接スイッチ13には第1図に示
すように信号処理14が接続されている。信号処理器1
4は、概略、不つりあい着演算手段としてのアナログ処
理回路15.A/D変換器16およびマイコン17から
成っている。
すように信号処理14が接続されている。信号処理器1
4は、概略、不つりあい着演算手段としてのアナログ処
理回路15.A/D変換器16およびマイコン17から
成っている。
アナログ処理回路15は、変位計11.12からそれぞ
れ信号V0. V;を入力する二重積分回路18.19
と、近接スイッチ13からパルス信号を入力する角度基
準信号発生回路20と、二重積分回路18.19にそれ
ぞれ接続し、かつ角度基準信号発生回路20に接続して
データを人力し、1偵入力データを乗算する乗算回路2
1.22と1乗算回路21.22で得られたデータを積
分する積分回路23.24と、から成っている。
れ信号V0. V;を入力する二重積分回路18.19
と、近接スイッチ13からパルス信号を入力する角度基
準信号発生回路20と、二重積分回路18.19にそれ
ぞれ接続し、かつ角度基準信号発生回路20に接続して
データを人力し、1偵入力データを乗算する乗算回路2
1.22と1乗算回路21.22で得られたデータを積
分する積分回路23.24と、から成っている。
クランクシャフト5に不つりあい(この値をUとする)
があり、該クランクシャフト5が回転(角速度ω)され
ると、振動板7が変位する。該変位をXとすると、変位
Xは と表わせる。
があり、該クランクシャフト5が回転(角速度ω)され
ると、振動板7が変位する。該変位をXとすると、変位
Xは と表わせる。
変位計llは、ト述したように変位Xに対応して得られ
るデータV1を出力する。
るデータV1を出力する。
、VデータV1は式(1)と同様にω・−に比例してい
る。二重積分回路18はこの式(1)に対して二重積分
を行なって次式を \ 二 、−\ C05ω1 ・−・(2) イ1+、クランクシャフト5の回転速度に何ら影響を受
けず、かつノイズ分が除去されたデータV。
る。二重積分回路18はこの式(1)に対して二重積分
を行なって次式を \ 二 、−\ C05ω1 ・−・(2) イ1+、クランクシャフト5の回転速度に何ら影響を受
けず、かつノイズ分が除去されたデータV。
を算出するようになっている。
角度基準信号発生回路20は、パルス1個を一周期とす
る階段状の擬似波を作り、これを整形して、回転速度に
同期したひずみのない正弦波、余弦波 5ln(r)tc(is6N−(2j を得ている。
る階段状の擬似波を作り、これを整形して、回転速度に
同期したひずみのない正弦波、余弦波 5ln(r)tc(is6N−(2j を得ている。
9算回路21は二重積分回路18が得た式(1)および
角度基′MP、信号発生回路20が得た式(2)を乗算
する。この東n値は積分回路23で積分され次式が得ら
れる。
角度基′MP、信号発生回路20が得た式(2)を乗算
する。この東n値は積分回路23で積分され次式が得ら
れる。
(d)二基準信号と変位計11の出力信号との位相差)
この乗算回路21および積分回路23の演算処理によっ
て1回転速度と同期しない分を除去しくすなわちノイズ
分を消去し)、不つりあい量UCgscm〕とその位置
(不つりあい角度)を検出し、これをデータ■、として
A/D変換器16に出力する。
この乗算回路21および積分回路23の演算処理によっ
て1回転速度と同期しない分を除去しくすなわちノイズ
分を消去し)、不つりあい量UCgscm〕とその位置
(不つりあい角度)を検出し、これをデータ■、として
A/D変換器16に出力する。
このようにして得られた不つりあいFiUおよび不つり
あい角度はA/D変換器16でデジタル信号に変換され
、マイコン17に人力されてマイコン17の演算処理に
供せられる。またA/D変換器16は変位計11に接続
しており、変位計11が検出した変位Xをデータv1と
して入力し、これをデジタル信号に変換1.てマイコン
17へ出力する。
あい角度はA/D変換器16でデジタル信号に変換され
、マイコン17に人力されてマイコン17の演算処理に
供せられる。またA/D変換器16は変位計11に接続
しており、変位計11が検出した変位Xをデータv1と
して入力し、これをデジタル信号に変換1.てマイコン
17へ出力する。
なお、振動板8、変位計12、二重積分回路19、乗算
回路22および積分回路24は、それぞれL述した振動
板7、変位計11.二@積分回路18.乗算回路21お
よび積分回路20と回等に構成されている。
回路22および積分回路24は、それぞれL述した振動
板7、変位計11.二@積分回路18.乗算回路21お
よび積分回路20と回等に構成されている。
ト述したデータV+、 V=、 V3に対応するデータ
についてはダッシュを付し、データV1.V、、。
についてはダッシュを付し、データV1.V、、。
7号 として以ド説明する。
マイコン17は、第3図(a)および第4図1−。
段部に示すように変位計11.12それぞれと塘動板7
との基準距離XQ を格納するメモリ25と、A/D変
換器17に接続する入力ボート26と、基鵡距111x
o と変位計11.12が検出した x、x’を比較し
、いずれか片方が一致していないとき、平行度のずれが
生じている旨の′N宇を行なう比較演算部27と、該判
定データおよび入力ボート26を介して得られる不つり
あいldUなどを出力する出力ボート28と1.上記各
部位を制御するCPU29と6を備えている。出力ボー
ト28にはCRT30が接続されており、平行度のずれ
のチェック結渠や不つりあいiUなどを表示できるよう
になっている。
との基準距離XQ を格納するメモリ25と、A/D変
換器17に接続する入力ボート26と、基鵡距111x
o と変位計11.12が検出した x、x’を比較し
、いずれか片方が一致していないとき、平行度のずれが
生じている旨の′N宇を行なう比較演算部27と、該判
定データおよび入力ボート26を介して得られる不つり
あいldUなどを出力する出力ボート28と1.上記各
部位を制御するCPU29と6を備えている。出力ボー
ト28にはCRT30が接続されており、平行度のずれ
のチェック結渠や不つりあいiUなどを表示できるよう
になっている。
また、入力ボート26にはキーボード31が接続されて
おり、不つりあい計測や平行度チェックのモード設定等
を行なえるようになっている。
おり、不つりあい計測や平行度チェックのモード設定等
を行なえるようになっている。
以1−のように構成されたつりあい試験機の動作につい
て以下に説明する。
て以下に説明する。
まず、クランクシャフト5が軸受4に載置されると、変
位計11.12のそれぞれは振動板7と変位計11との
変位Xおよび振動板8と変位計12との変位X゛を測定
し、この測定値をA 、/ D 変換器16を介してマ
イコン17に出力する。
位計11.12のそれぞれは振動板7と変位計11との
変位Xおよび振動板8と変位計12との変位X゛を測定
し、この測定値をA 、/ D 変換器16を介してマ
イコン17に出力する。
マイコン17の比較@算部27は変位X、Xそれぞれを
基準圧1txoと比較する。W動板7が距11x1(x
、 >x、) )の位置あるいは距aX。
基準圧1txoと比較する。W動板7が距11x1(x
、 >x、) )の位置あるいは距aX。
(Xl、くXo)の位置に平行移動したり(第3図(b
) 、(c)参照)、または振動台3が回動して振動板
7が距離X、(X3>Xo)の箇所あるいは距離x、(
x4>xo)の箇所に位置したり(第3図(d) 、(
e)参照)すると、比較演算部27は、 クランクシ
ャフト5が基準箇所に設定されず平行度のずれを生じて
いる”旨の判定データを生成し、これを出力ボート26
に転送する。出力ボート26はL記f4定データをCR
T30に出力する。そして、CRT30はこの内容を表
示する。この表示によってオペレータはクランクシャフ
ト5の設定状態を補正する。
) 、(c)参照)、または振動台3が回動して振動板
7が距離X、(X3>Xo)の箇所あるいは距離x、(
x4>xo)の箇所に位置したり(第3図(d) 、(
e)参照)すると、比較演算部27は、 クランクシ
ャフト5が基準箇所に設定されず平行度のずれを生じて
いる”旨の判定データを生成し、これを出力ボート26
に転送する。出力ボート26はL記f4定データをCR
T30に出力する。そして、CRT30はこの内容を表
示する。この表示によってオペレータはクランクシャフ
ト5の設定状態を補正する。
そして、クランクシャフト5が適iEな状態で設定され
た後、モータ6を作動しクランクシャフト5を回転する
。クランクシャフト5に不つりあい量Uがある場合、該
回転に伴なって振動板7.8に変位が生じる0例えばク
ランクシャフト5の不つりあいによって第4図中段部あ
るいは同図下段部にそれぞれ示すように振、動板7(以
下、便宜上振動板7を例にする)はX準距離X。からず
れて変位X あるいは変位X 振動することになる。
た後、モータ6を作動しクランクシャフト5を回転する
。クランクシャフト5に不つりあい量Uがある場合、該
回転に伴なって振動板7.8に変位が生じる0例えばク
ランクシャフト5の不つりあいによって第4図中段部あ
るいは同図下段部にそれぞれ示すように振、動板7(以
下、便宜上振動板7を例にする)はX準距離X。からず
れて変位X あるいは変位X 振動することになる。
そして、変位計11は変位X あるいはXを例えば第5
図に示すようにデータVI に変換して出力する。
図に示すようにデータVI に変換して出力する。
この後、データV に基づいてアナログ処理回路15に
よって演算処理が行なわれ、不つりあい量Uおよび不つ
りあい角度が検出される。
よって演算処理が行なわれ、不つりあい量Uおよび不つ
りあい角度が検出される。
この検出データはマイコン17に入力した後、CRT3
0に表示される。なお、変位計11は、振動板7に飼し
て非接触状態で設けており、振動板7の振動に影響され
ないので、常に^+Eなデータを検出できる。また、つ
りあい計X11に先立って平行度のずれをチェックして
おり、平行度を保ってつりあい計測を行なうことができ
るので、該つりあい計測によって得られるデータを精度
の高いものにできる。
0に表示される。なお、変位計11は、振動板7に飼し
て非接触状態で設けており、振動板7の振動に影響され
ないので、常に^+Eなデータを検出できる。また、つ
りあい計X11に先立って平行度のずれをチェックして
おり、平行度を保ってつりあい計測を行なうことができ
るので、該つりあい計測によって得られるデータを精度
の高いものにできる。
該つりあい計測が終了すると、新たなりランクシャフト
5を前のものに代えて軸受4に載置し、つりあい計測に
先立って七本した平行度のチエニックを行なう、このよ
うにつりあい計測前にシ行度のチェックを行なうことに
よってつりあい計測データの精度を高めている。
5を前のものに代えて軸受4に載置し、つりあい計測に
先立って七本した平行度のチエニックを行なう、このよ
うにつりあい計測前にシ行度のチェックを行なうことに
よってつりあい計測データの精度を高めている。
以l―のように変位計IL、12の検出データを用いて
平行度のチエ−Iりおよびつりあい計測を行なっており
、変位計11.12を共通に利用でき、平行度のチェッ
クのためのセンサを設ける必要がなくなり、この分構成
をflV素化できる。
平行度のチエ−Iりおよびつりあい計測を行なっており
、変位計11.12を共通に利用でき、平行度のチェッ
クのためのセンサを設ける必要がなくなり、この分構成
をflV素化できる。
なお1本実施例では振動板7.8がそれぞれ対応する変
位計11.12から同等距離ずれた場合を例にしたが、
別々にずれたりあるいは片方のみずれたりした場合にも
平行度のチエ−7りを行なえ、このチェックによって平
行度がずれていると判定できる。
位計11.12から同等距離ずれた場合を例にしたが、
別々にずれたりあるいは片方のみずれたりした場合にも
平行度のチエ−7りを行なえ、このチェックによって平
行度がずれていると判定できる。
(発明の効果)
以ト説明したように、本発明は、変位計の検出データを
ワークの不つりあいチェックおよび振動台の平行度のず
れチェックに兼用しており、専用のセンサを別個に設け
る必要がなくなるので、構成を簡素化でき、しかも振動
板の平行度を管理することにより不つりあいの測定精度
を向りできるという効果を有する。
ワークの不つりあいチェックおよび振動台の平行度のず
れチェックに兼用しており、専用のセンサを別個に設け
る必要がなくなるので、構成を簡素化でき、しかも振動
板の平行度を管理することにより不つりあいの測定精度
を向りできるという効果を有する。
第1図は本発明の一実施例のつりあい試験機を示すブロ
ック図、 第2図は同試験機を示す斜視図。 第3図は同試験機の振動台の設定状態を示し、同図(a
)はX&準状態を示す図、同図(N(c)はそれぞれ水
平移動した状態を示す図 同図(d)(e)はそれぞれ傾いた状態を示す図、第4
図は同試験機の動作例を示す図、 第5図は同試験機の変位計の信号変換を示す特性図であ
る。 i 、、、、、、基台 3 、、、、、、振動台 4・・・・・・軸受 5、。161.クランクシャフト ?、8......振動板 +1.12.、、、、、変位計 +5.、、、、、アナログ処理回路 25、、、、、、メモリ 27、、、、、、比較演算部 特許出願人 トヨタ自動車株式会社代理人弁理士
萼 優 美 ほか2名)
ック図、 第2図は同試験機を示す斜視図。 第3図は同試験機の振動台の設定状態を示し、同図(a
)はX&準状態を示す図、同図(N(c)はそれぞれ水
平移動した状態を示す図 同図(d)(e)はそれぞれ傾いた状態を示す図、第4
図は同試験機の動作例を示す図、 第5図は同試験機の変位計の信号変換を示す特性図であ
る。 i 、、、、、、基台 3 、、、、、、振動台 4・・・・・・軸受 5、。161.クランクシャフト ?、8......振動板 +1.12.、、、、、変位計 +5.、、、、、アナログ処理回路 25、、、、、、メモリ 27、、、、、、比較演算部 特許出願人 トヨタ自動車株式会社代理人弁理士
萼 優 美 ほか2名)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基台に設けた振動台に取付けられ、かつワークを載置す
る軸受を有した振動板と、 前記基台に設けられ、かつ振動板との距離を検出する変
位計と、 該変位計の検出データに基づいて前記ワークの不つりあ
い量を算出する不つりあい量演算手段と、 前記振動板と前記変位計の基準距離データをあらかじめ
格納する記憶手段と、 前記変位計の検出データと前記基準距離データとを比較
して前記振動台の平行度のずれをチェックする比較演算
手段と、を備えたことを特徴とするつりあい試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25151088A JPH0298642A (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | つりあい試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25151088A JPH0298642A (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | つりあい試験機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0298642A true JPH0298642A (ja) | 1990-04-11 |
Family
ID=17223885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25151088A Pending JPH0298642A (ja) | 1988-10-05 | 1988-10-05 | つりあい試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0298642A (ja) |
-
1988
- 1988-10-05 JP JP25151088A patent/JPH0298642A/ja active Pending
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