JPH0310060B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は砕粒測定装置の改良に関する。

搗精によつて砕米発生が多発すると食味を低下
させるばかりでなく搗精歩留を低下させることに
なる。したがつて常に砕粒の発生状況を検査しな
がら精米機の調整を行い極力少ない砕粒量におさ
める管理が必要である。

従来、精米中の砕粒の比率は精米機の排出口よ
り人為的に無作為に20Kgを抽出し米粒の長さが完
全粒の2/3から1/4までの粒を取出して砕粒比率を
計算し、その比率に応じて精米機の調整を行い精
米の品質管理を行つていた。たとえば、供試精米
を20Kg計り、米粒の長さを選別し、砕粒のみを計
量して重量比を算出し、比率の記録、砕粒の後処
理を行う従来の人為的な方法では搗精中の管理に
はすぐに間に合わないといつた欠点があり、搗精
中の品質管理に有効に役立てることができなかつ
た。

本発明は上記の諸欠点を解消するもので、試料
精米から光学的に砕粒を自動的に測定し、また測
定した米粒の総粒数とその砕粒比率を短時間に表
示する高性能な自動化装置を開発して提供せんと
するものである。

本発明を実施例図について説明する。第１図お
よび第２図において、箱型機枠１の内部に横方向
に米粒を移送する送穀用条溝２を設けた振動送穀
樋３を横架状に設置し、その排出側に米粒を縦列
状に流下する流穀用条溝４を設けた傾斜状の流穀
樋５を連設し、該流穀樋５の側部に傾斜送穀樋６
を並列状に横架して該送穀樋６の排出口７を前記
送穀樋３を供給口８に連結し、また送穀樋６の低
位側受入部の上方に供給ホツパー９を設け、１０
は傾斜送穀樋６の振動装置である。

次に、前記流穀樋６は、その流穀用条溝４内に
穀粒検出用透明部１１を設け、該透明部１１の上
下位置に光源１２と受光素子１３とをほぼ対向状
に配置し、前記透明部１１を通過する米粒の透過
光線を受光する受光素子１３を砕粒測定部１４を
介して表示器１５に電気的に連絡させてある。ま
た、前記流穀樋６に設けた透明部１１の上流方向
に任意の所定距離Ａを介して流速測定用透明窓１
６を設け、該透明窓１６の上下位置に位置検出用
センサー１７と光源１８をほぼ対向状に配置し、
該検出用センサー１７を導線によつて前記砕粒測
定部１４に連結し、１９は整粒の基準粒長を設定
する設定器である。

第４図は、砕粒測定部１４のブロツク図であ
り、砕粒測定部１４の入力側に穀粒の粒長を測定
する受光素子１３および穀粒の流速を測定するた
めの位置検出センサー１７をそれぞれ連結すると
共に、砕粒測定部１４の出力側に砕粒比率・測定
した穀粒総粒数等を表示する表示器１５を連結し
てある。また砕粒測定部１４の内部には、受光素
子１３に連結され、受光素子１３からの出力に応
じて測定米粒の総粒数を検出してその信号を表示
器１５に送信する総粒数検出装置２０、整粒の基
準粒長を設定する設定器１９に連結した基準粒長
設定装置２１、受光素子１３に連結され、受光素
子１３からの出力に応じて穀粒の粒長を測定する
粒長測定装置２２、位置検出用センサー１７およ
び受光素子１３に連絡され、位置検出用センサー
１７および受光素子１３からの出力に応じて穀粒
の流下速度を検出してその速度変化によつて測定
した米粒の粒長を補正する穀粒速度補正装置２
３、粒長測定装置２２に連絡して測定した砕粒数
を積算する砕粒数積算装置２４、総粒数検出装置
２０および砕粒数積算装置２４に連絡して砕粒比
率を演算してその信号と表示器１５に送信する砕
粒比率演算装置２５を具備しており、表示器１５
には砕粒比率・測定した穀粒総粒数等がそれぞれ
表示される。

次に第３図は、前記透明部１１を通過する各種
米粒（整粒、玄米、整粒籾、砕粒、胴割粒、未熟
粒、死米）の各粒面の透過光線（明暗影）をカウ
ント状に走査し、粒面各部位における明暗影状態
の変化をそれぞれ実線で表わした説明図である。
したがつて、砕粒と整粒とは、その透過光線によ
る明暗影の長さ（受光信号では、その継続時間の
長さ）を比較して簡単に判別することができる。

また、前記米粒は搗精度合等によつて粒面の摩
擦係数が変化し、また米粒は流下速度の変化によ
つて前記明暗影の長さが相違することになるが、
本発明の砕粒測定部１４に設けた穀粒速度補正装
置２３は、前記流下樋５面に設けた任意の所定距
離Ａの通過時間を、位置検出用センサー１７と受
光素子１３とによつて測定すると共に、その測定
信号によつて前記明暗影の長さをそれぞれ補正す
るから、常に高精度の砕流の粒長測定を実施で
き、また必要により数段階の砕粒区分（たとえば
整粒の2/3から1/4まで）における各砕粒数を算出
してそれぞれ表示することができる。

上述の構成にしたから、試料精米を供給ホツパ
ー９に投入すると共に、設定器１９に整粒の基準
粒長（基準整粒の透過光線の受光信号継続時間）
を設定して装置を起動すると、前記設定器１９の
設定値は砕粒測定部１４の基準粒長設定装置２１
に入力されると共に、供給ホツパー９の米粒は、
傾斜送穀樋６によつて上送されて振動送穀樋３の
送穀用条溝２に流入し、また、その米粒は流穀樋
５の流穀用条溝４を滑流して流速測定用透明窓１
６および穀粒検出用透明部１１をそれぞれ通過す
る。そして、上部位置の透明窓１６を通過する米
粒は、光源１８よつて照射されてその透過光線を
位置検出用センサー１７が受光し、また下部位置
の穀粒検出用透明部１１を通過する米粒は、光源
１２によつて照射されてその透過光線を受光素子
１３が受光し、前記検出用センサー１７と受光素
子１３が受光した各信号は砕粒測定部１４にそれ
ぞれ入力される。そして、砕粒測定部１４内部の
穀粒速度補正装置２３では、第３図の説明のよう
に、入力された各信号によつて穀粒の流下速度
（所定距離Ａ間の通過時間）を測定すると共に、
その測定信号を粒長測定装置２２に入力して受光
素子１３からの受光信号（米粒の透過光線の明暗
影の長さ）を補正し、また補正された信号は基準
粒長設定装置２１からの設定信号と比較して穀粒
の粒長を測定し、砕粒を検出した測定信号は砕粒
数積算装置２４に入力されてその砕粒数が積算さ
れる。また前記受光素子１３からの分岐信号は総
粒数検出装置２０に入力されて測定した穀粒数を
検出して表示器１５に穀粒総粒数を表示し、また
砕粒比率演算装置２５では、砕粒数積算装置２４
と総粒数検出装置２０の各信号を入力して総粒数
と砕粒数との比を演算して表示器１５に砕粒比率
を表示する。したがつて、任意の穀粒総粒数に対
する砕粒比率が簡単に認知されて精米機の負荷調
節を正確に実施することができる。

このように本発明の砕粒測定装置は、米粒を流
下する流下樋に設けた穀粒検出用透明部の上下位
置に光源と受光素子をほぼ対向状に配置し、前記
透明部を通過する米粒の透過光線を受光する受光
素子を砕粒測定部を介して表示器に連絡し、前記
砕粒測定部は基準粒長設定装置および総粒数検出
装置を有すると共に、前記受光素子に連絡される
粒長測定装置および砕粒比率演算装置を有するの
で、試料米粒から砕粒を光学的に測定して高精度
な砕粒測定の自動化を達成でき、砕粒の測定作業
が簡易化されて測定した穀粒総粒数および砕粒比
率を短時間に表示でき、また精米機の負荷調節が
可及的早期に実施されて常に高品質の精白米を確
保できる等の効果を奏するものである。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の実施例図である。第１図は本装
置の側断面図、第２図はその流穀樋の平面図、第
３図は米粒の透過光線の明暗影の説明図、第４図
はその砕粒測定部のブロツク図である。 １……箱形機枠、２……送穀用条溝、３……振
動送穀樋、４……流穀用条溝、５……流穀樋、６
……傾斜送穀樋、７……排出口、８……供給口、
９……供給ホツパー、１０……振動装置、１１…
…穀粒検出用透明部、１２……光源、１３……受
光素子、１４……砕粒測定部、１５……表示器、
１６……流速測定用透明窓、１７……位置検出用
センサー、１８……光源、１９……設定器、２０
……総粒数検出装置、２１……基準粒長設定装
置、２２……粒長測定装置、２３……穀粒速度補
正装置、２４……砕粒数積算装置、２５……砕粒
比率演算装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 米粒を流下する流下樋に設けた穀粒検出用透
   明部の上下位置に光源と受光素子をほぼ対向状に
   配置し、前記透明部を通過する米粒の透過光線を
   受光する受光素子を砕粒測定部を介して表示器に
   連絡し、前記砕粒測定部は基準粒長設定装置およ
   び総粒数検出装置を有すると共に、前記受光素子
   に連絡される粒長測定装置および砕粒比率演算装
   置を有することを特徴とする砕粒測定装置。 ２ 前記砕粒測定部が、測定した粒長を穀粒流下
   速度によつて補正する穀粒速度補正装置を具備し
   ている特許請求の範囲第１項記載の砕粒測定装
   置。