JPH03101163A - スタティックram - Google Patents
スタティックramInfo
- Publication number
- JPH03101163A JPH03101163A JP1238124A JP23812489A JPH03101163A JP H03101163 A JPH03101163 A JP H03101163A JP 1238124 A JP1238124 A JP 1238124A JP 23812489 A JP23812489 A JP 23812489A JP H03101163 A JPH03101163 A JP H03101163A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory cell
- channel
- power supply
- static ram
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/147—Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、揮発性のスタティックRAM(ランダム・
アクセス・メモリ)に関する。
アクセス・メモリ)に関する。
〈従来の技術〉
従来、この種のスタティックRAMは、メモリセルのデ
ータを変化させずに保持しているスタンバイ状態にある
とき、メモリセルのデータの読出しまたは書込みを行う
動作状態にあるときと同様に、メモリセルに対して定電
圧源から直接に電流を供給するようにしている。
ータを変化させずに保持しているスタンバイ状態にある
とき、メモリセルのデータの読出しまたは書込みを行う
動作状態にあるときと同様に、メモリセルに対して定電
圧源から直接に電流を供給するようにしている。
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、一般にスタティックRAMは、スタンバイ状
態にあるとき、データを保持するためにメモリセルに供
給する電流が動作状態にあるときよりも少ない電流で足
りるようになっている。しかるに、上記従来のスタティ
ックRAMは、スタンバイ状態にあるときにも動作時と
同じ電流を消費しており、必要以上に電流を消費してい
ることになり、携帯用電子機器に使用されるときなど電
源の寿命に限界がある場合、データを長時間保持するこ
とができないという問題がある。
態にあるとき、データを保持するためにメモリセルに供
給する電流が動作状態にあるときよりも少ない電流で足
りるようになっている。しかるに、上記従来のスタティ
ックRAMは、スタンバイ状態にあるときにも動作時と
同じ電流を消費しており、必要以上に電流を消費してい
ることになり、携帯用電子機器に使用されるときなど電
源の寿命に限界がある場合、データを長時間保持するこ
とができないという問題がある。
そこで、この発明の目的は、スタンバイ状態ににおける
消費電流を必要最小限に抑えて、携帯用電子機器に使用
されるときなど電源の寿命に限界がある場合に、データ
を長時間保持することができるようにしたスタティック
RAMを提供することにある。
消費電流を必要最小限に抑えて、携帯用電子機器に使用
されるときなど電源の寿命に限界がある場合に、データ
を長時間保持することができるようにしたスタティック
RAMを提供することにある。
〈課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するために、この発明のスタティックR
AMは、電源とメモリセルとの間に、スイッチと電気抵
抗とを並列に接続したことを特徴としている。
AMは、電源とメモリセルとの間に、スイッチと電気抵
抗とを並列に接続したことを特徴としている。
〈作用〉
動作時には、上記スイッチをオンすることによって、上
記スイッチを通してメモリセルに電源電圧が直接に印加
され、電流が供給される。したがって、従来通りにデー
タの読出しまたは書込みが行なわれる。一方、スタンバ
イ時には、上記スイッチをオフすることによって、上記
電気抵抗を通して電源からメモリセルへ電流が供給され
る。このとき、上記電気抵抗に電圧降下が生じてメモリ
セルに供給される電圧か低くなり、このため、メモリセ
ルに流れる電流の値が小さくなる。したがって、上記電
気抵抗を適当な値に設定してこの電流をデータを保持す
るための最小限の値とすることによって、スタンバイ状
態にあるときの消費電流が必要最小限に抑えられる。し
たがって、携帯用電子機器に使用されるときなど電源の
寿命に限界がある場合に、メモリセルのデータが長時間
体)、1#される。
記スイッチを通してメモリセルに電源電圧が直接に印加
され、電流が供給される。したがって、従来通りにデー
タの読出しまたは書込みが行なわれる。一方、スタンバ
イ時には、上記スイッチをオフすることによって、上記
電気抵抗を通して電源からメモリセルへ電流が供給され
る。このとき、上記電気抵抗に電圧降下が生じてメモリ
セルに供給される電圧か低くなり、このため、メモリセ
ルに流れる電流の値が小さくなる。したがって、上記電
気抵抗を適当な値に設定してこの電流をデータを保持す
るための最小限の値とすることによって、スタンバイ状
態にあるときの消費電流が必要最小限に抑えられる。し
たがって、携帯用電子機器に使用されるときなど電源の
寿命に限界がある場合に、メモリセルのデータが長時間
体)、1#される。
〈実施例〉
以下、この発明のスタティックRA Mを図示の実施例
により詳細に説明する。
により詳細に説明する。
第1図に示すように、このスタティックRAMは、メモ
リセルlと、スイッチとしてのPチャネルMO3FET
6と、電気抵抗7を備えている。
リセルlと、スイッチとしてのPチャネルMO3FET
6と、電気抵抗7を備えている。
メモリセル1は、スタティック形のメモリセルであって
、一対のPチャネルMO8FET2.3と、」二記Pヂ
ャネルMO9FET2.3にそれぞれ直列に接続された
NチャネルMO8FET4.5からなっている。上記P
チャネルMO8FET23は電源側の端子11で互いに
接続され、一方、Nチャネルトランジスタ4.5はとも
に接地されている。また、PチャネルMO3FET3.
NチャネルMO8FET5の各ゲートは、上記Pチャネ
ルMO8FET2とNチャネルMO8FET4との接続
点12に接続される一方、PチャネルMO8FET2.
NチャネルMO9FET4の各ゲートは上記Pチャネル
MO8FET3とNチャネルMO8FET5との接続点
13に接続されている。
、一対のPチャネルMO8FET2.3と、」二記Pヂ
ャネルMO9FET2.3にそれぞれ直列に接続された
NチャネルMO8FET4.5からなっている。上記P
チャネルMO8FET23は電源側の端子11で互いに
接続され、一方、Nチャネルトランジスタ4.5はとも
に接地されている。また、PチャネルMO3FET3.
NチャネルMO8FET5の各ゲートは、上記Pチャネ
ルMO8FET2とNチャネルMO8FET4との接続
点12に接続される一方、PチャネルMO8FET2.
NチャネルMO9FET4の各ゲートは上記Pチャネル
MO8FET3とNチャネルMO8FET5との接続点
13に接続されている。
そして、このメモリセル1は、フリップフロップの動作
によって、高レベル、低レベルの相補の信号を上記接続
点+2.+3に接続されたデータラインD、Dに出力す
ることができる。上記PチャネルMO6FET6と電気
抵抗7は、メモリセル1の上記端子11と定電圧の電源
ラインIOとの間に並列に接続されている。Pチャネル
間O8FET6のゲートには、制御ライン14を通して
、メモリセル1の動作時に接地電位、スタンバイ時に電
源電位がそれぞれ供給されるようになっている。したが
って、このPチャネルMO8FET6は、動作時にオン
、スタンバイ時にオフする。
によって、高レベル、低レベルの相補の信号を上記接続
点+2.+3に接続されたデータラインD、Dに出力す
ることができる。上記PチャネルMO6FET6と電気
抵抗7は、メモリセル1の上記端子11と定電圧の電源
ラインIOとの間に並列に接続されている。Pチャネル
間O8FET6のゲートには、制御ライン14を通して
、メモリセル1の動作時に接地電位、スタンバイ時に電
源電位がそれぞれ供給されるようになっている。したが
って、このPチャネルMO8FET6は、動作時にオン
、スタンバイ時にオフする。
このように、メモリセルlの動作時にPチャネル間O8
FET6がオンすることによって、メモリセルlに電源
ラインIOの定電圧が印加されて電流が供給され、メモ
リセル1は、従来と同様に正常に動作する。一方、スタ
ンバイ時にPチャネルMO8FET6がオフすることに
よって、メモリセルlに電気抵抗7を通して電流が供給
される。
FET6がオンすることによって、メモリセルlに電源
ラインIOの定電圧が印加されて電流が供給され、メモ
リセル1は、従来と同様に正常に動作する。一方、スタ
ンバイ時にPチャネルMO8FET6がオフすることに
よって、メモリセルlに電気抵抗7を通して電流が供給
される。
このとき、上記電気抵抗7に電圧降下が生じて、メモリ
セル1に供給される電圧が低くなり、このためメモリセ
ル1に流れる電流の値が小さくなる。
セル1に供給される電圧が低くなり、このためメモリセ
ル1に流れる電流の値が小さくなる。
したがって、電気抵抗7を適当な値に設定してこの電流
をデータを保持するための最小限の値とすることによっ
て、スタンバイ状態にあるときの消費電流が必要最小限
に抑えられる。したがって、携帯用電子機器に使用され
るときなど電源の容量に限界がある場合に、メモリセル
1のデータを長時間保持することができる。
をデータを保持するための最小限の値とすることによっ
て、スタンバイ状態にあるときの消費電流が必要最小限
に抑えられる。したがって、携帯用電子機器に使用され
るときなど電源の容量に限界がある場合に、メモリセル
1のデータを長時間保持することができる。
〈発明の効果〉
以上より明らかなように、この発明のスタティックRA
Mは、電源とメモリセルとの間に、スイッチと電気抵抗
とを並列に接続しているのて、スタンバイ状態にあると
きスイッチをオフにすることによって、消費電流を必要
最小限に抑えることができ、したがって、携帯用電子機
器に使用されるときなど電源の寿命に限界がある場合、
データを長時間保持することができる。
Mは、電源とメモリセルとの間に、スイッチと電気抵抗
とを並列に接続しているのて、スタンバイ状態にあると
きスイッチをオフにすることによって、消費電流を必要
最小限に抑えることができ、したがって、携帯用電子機
器に使用されるときなど電源の寿命に限界がある場合、
データを長時間保持することができる。
第1図はこの発明の一実施例のスタティックRAMを示
す回路図である。 1・・メモリセル、 2.3.6・・・PチャネルMO8FET。 4.訃・・NチャネルMO8FET。 7・・電気抵抗、lO・・・電源ライン、14・・制御
ライン、D、D・・データライン。 特 代 許 理 出 人 願人
す回路図である。 1・・メモリセル、 2.3.6・・・PチャネルMO8FET。 4.訃・・NチャネルMO8FET。 7・・電気抵抗、lO・・・電源ライン、14・・制御
ライン、D、D・・データライン。 特 代 許 理 出 人 願人
Claims (1)
- (1)電源とメモリセルとの間に、スイッチと電気抵抗
とを並列に接続したことを特徴とするスタティックRA
M。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23812489A JPH07109864B2 (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | スタティックram |
| US07/580,385 US5140557A (en) | 1989-09-13 | 1990-09-11 | Static random access memory of an energy-saving type |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23812489A JPH07109864B2 (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | スタティックram |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03101163A true JPH03101163A (ja) | 1991-04-25 |
| JPH07109864B2 JPH07109864B2 (ja) | 1995-11-22 |
Family
ID=17025537
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23812489A Expired - Fee Related JPH07109864B2 (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | スタティックram |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5140557A (ja) |
| JP (1) | JPH07109864B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003086706A (ja) * | 2001-09-13 | 2003-03-20 | Sharp Corp | 半導体装置及びその製造方法、スタティック型ランダムアクセスメモリ装置並びに携帯電子機器 |
| JP2007250586A (ja) * | 2006-03-13 | 2007-09-27 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
| WO2011145245A1 (ja) * | 2010-05-21 | 2011-11-24 | パナソニック株式会社 | 半導体記憶装置 |
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|---|---|---|---|---|
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| EP0481487A3 (en) * | 1990-10-17 | 1994-10-26 | Nec Corp | Stand-by control circuit |
| US5260937A (en) * | 1990-10-29 | 1993-11-09 | Dsc Communications Corporation | Power conserving technique for a communications terminal time slot interchanger |
| JP3230848B2 (ja) * | 1991-09-20 | 2001-11-19 | 三菱電機株式会社 | スタティックランダムアクセスメモリ装置 |
| JPH05151789A (ja) * | 1991-11-29 | 1993-06-18 | Nec Corp | 電気的に書込・一括消去可能な不揮発性半導体記憶装置 |
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| KR0179553B1 (ko) * | 1995-12-29 | 1999-04-15 | 김주용 | 로오 디코더 및 컬럼 디코더 회로 |
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Family Cites Families (1)
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| US4482985A (en) * | 1981-04-17 | 1984-11-13 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit |
-
1989
- 1989-09-13 JP JP23812489A patent/JPH07109864B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-09-11 US US07/580,385 patent/US5140557A/en not_active Expired - Lifetime
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| WO2011145245A1 (ja) * | 2010-05-21 | 2011-11-24 | パナソニック株式会社 | 半導体記憶装置 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5140557A (en) | 1992-08-18 |
| JPH07109864B2 (ja) | 1995-11-22 |
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Legal Events
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