JPH03103307A - 酸化物系超電導薄膜の熱処理方法 - Google Patents
酸化物系超電導薄膜の熱処理方法Info
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- JPH03103307A JPH03103307A JP1240451A JP24045189A JPH03103307A JP H03103307 A JPH03103307 A JP H03103307A JP 1240451 A JP1240451 A JP 1240451A JP 24045189 A JP24045189 A JP 24045189A JP H03103307 A JPH03103307 A JP H03103307A
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Classifications
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は酸化物系超電導薄膜の熱処理方法に関する。
[従来の技術コ
現在、イットリウム系、ビスマス系、タリウム系等の酸
化物系超電導物質は高い臨界温度(以下Tcと称する。
化物系超電導物質は高い臨界温度(以下Tcと称する。
)を有するところから実用可能な材料として注目されて
いる。
いる。
上記超電導物質の薄膜は、その臨界電流密度(以下Jc
と称する。)が大きいところからデバイス化への応用が
期待されており、このような超電導薄膜を製造する場合
には、通常成膜後に加熱処理が施される。
と称する。)が大きいところからデバイス化への応用が
期待されており、このような超電導薄膜を製造する場合
には、通常成膜後に加熱処理が施される。
熱処理を施す理由は、成膜後の状態でも超電導性を得る
ことができるが、この場合Tcが低く、かつJeが小さ
い薄膜しか得られないため、熱処理により、これ等の特
性を改善するためである。
ことができるが、この場合Tcが低く、かつJeが小さ
い薄膜しか得られないため、熱処理により、これ等の特
性を改善するためである。
[発明が解決しようとする課題]
上記の熱処理によりTc,Jc等の特性はある程度向上
するが、以下のような問題点があった。
するが、以下のような問題点があった。
即ち、(イ)熱処理中に薄膜の組成が変動し、所望の結
晶が得られないためJcの改善効果が小さい。この組成
変動は融点の低い元素、たとえばpb等に生じ易く、特
に薄膜の周辺部において顕著である。(口)所定の超電
導特性を得るために5〜15時間程度の長時間の熱処理
を必要とする。
晶が得られないためJcの改善効果が小さい。この組成
変動は融点の低い元素、たとえばpb等に生じ易く、特
に薄膜の周辺部において顕著である。(口)所定の超電
導特性を得るために5〜15時間程度の長時間の熱処理
を必要とする。
本発明は上記のml w点を射決するためになされたも
ので、熱処理による組成比の変動を低下せしめるるとと
もに短時間の熱処理でTcおよびJcを向上させること
ができる酸化物系超電導薄膜の熱処理方法を提供するこ
とをその目的とする。
ので、熱処理による組成比の変動を低下せしめるるとと
もに短時間の熱処理でTcおよびJcを向上させること
ができる酸化物系超電導薄膜の熱処理方法を提供するこ
とをその目的とする。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、本発明の酸化物系超電導薄
膜の熱処理方法は、基板上に酸化物系超電導物質または
熱処理により酸化物系超電導物質を生成する物質よりな
る薄膜を形威した後、酸化性雰囲気中で熱処理を施す方
法において、前記熱処理時に前記薄膜上に前記薄膜に対
して非反応性の板材を載置するものである。
膜の熱処理方法は、基板上に酸化物系超電導物質または
熱処理により酸化物系超電導物質を生成する物質よりな
る薄膜を形威した後、酸化性雰囲気中で熱処理を施す方
法において、前記熱処理時に前記薄膜上に前記薄膜に対
して非反応性の板材を載置するものである。
本発明において基板上に形成される薄膜は、酸化物系超
電導物質または熱処理により酸化物系超電導物質を生成
する物質により形成されるが、特に前述の問題点を生じ
易いビスマス系の酸化物、即ち旧−Pb−Sr−Ca−
Cu−0の酸化物に好適する。
電導物質または熱処理により酸化物系超電導物質を生成
する物質により形成されるが、特に前述の問題点を生じ
易いビスマス系の酸化物、即ち旧−Pb−Sr−Ca−
Cu−0の酸化物に好適する。
上記の薄膜は超電導性を示す酸化物の形で形成するか、
あるいは各構戒元素の一部を薄膜として積層し、全体と
して全ての構成元素を含む多層膜を酸化性雰囲気中で熱
処理して超電導薄膜を形成するように17でも良い。い
ずれにしても酸化性雰囲気中での熱処理により、その超
電導特性が改善されるものであれば適する。このような
薄膜はスパッタリング、蒸着、MOCVD等の方法によ
り形成される。また薄膜に対して非反応性の板材は熱処
理時に薄膜上に載置されるが、これは薄膜の露出部分を
覆うように配置すれば良い。上記の板材の村質としては
、例えばMgO , SrTi0 3 、YSZ (
イットリウム安定化ジルコニウム)やAg, Au等の
貴金属等があげられるが、これらに特に限定されず熱処
理中に薄膜と反応しない物質であれば採用することがで
きる。また薄膜と板月との隙間をできるだけ小さくする
ために平滑性の良好な仮材を用いることが好ましい。
あるいは各構戒元素の一部を薄膜として積層し、全体と
して全ての構成元素を含む多層膜を酸化性雰囲気中で熱
処理して超電導薄膜を形成するように17でも良い。い
ずれにしても酸化性雰囲気中での熱処理により、その超
電導特性が改善されるものであれば適する。このような
薄膜はスパッタリング、蒸着、MOCVD等の方法によ
り形成される。また薄膜に対して非反応性の板材は熱処
理時に薄膜上に載置されるが、これは薄膜の露出部分を
覆うように配置すれば良い。上記の板材の村質としては
、例えばMgO , SrTi0 3 、YSZ (
イットリウム安定化ジルコニウム)やAg, Au等の
貴金属等があげられるが、これらに特に限定されず熱処
理中に薄膜と反応しない物質であれば採用することがで
きる。また薄膜と板月との隙間をできるだけ小さくする
ために平滑性の良好な仮材を用いることが好ましい。
[作 用]
本発明においては、熱処理時に薄膜上に薄膜と反応しな
い板材を載置することにより、蒸発し易い元素が膜中に
強制的に閉じ込められる結果、拡散が急速に進行し、組
成変動を防止することができるとともに特性が向上する
。またこれにより熱処理時間を著しく短縮することが可
能になる。
い板材を載置することにより、蒸発し易い元素が膜中に
強制的に閉じ込められる結果、拡散が急速に進行し、組
成変動を防止することができるとともに特性が向上する
。またこれにより熱処理時間を著しく短縮することが可
能になる。
(実施例)
以下本発明の一実施例について説明する。
丈施例
MgOからなる基阪上にスパッタリング法により、下記
の条件で薄膜を形成した。
の条件で薄膜を形成した。
装置:rrマグネトロンスバッタ装置
ターゲット: Blz.t Sro4 Cat.o C
ut.g焼結材基板: Mg(100)/基板而 rr power:IOOW スバッタガス: Ar+02 (Ar/02 =1)
ガス圧 : 3mTorr 基板温度:室温 膜厚 : 4000大 第1図に示すように、このようにして得られた基仮1上
に形成した薄膜2を板状体3の上に配置し、薄膜2の上
部に薄膜全体を覆うようにMgOからなる仮材4を載置
した。この状態を維持して第2図に示すように電気炉5
内に収容し860℃×1時間の熱処理を施した。この時
の炉内の酸素分圧はl/13とした。
ut.g焼結材基板: Mg(100)/基板而 rr power:IOOW スバッタガス: Ar+02 (Ar/02 =1)
ガス圧 : 3mTorr 基板温度:室温 膜厚 : 4000大 第1図に示すように、このようにして得られた基仮1上
に形成した薄膜2を板状体3の上に配置し、薄膜2の上
部に薄膜全体を覆うようにMgOからなる仮材4を載置
した。この状態を維持して第2図に示すように電気炉5
内に収容し860℃×1時間の熱処理を施した。この時
の炉内の酸素分圧はl/13とした。
上記の熱処理前後の旧、PbSSrSCaおよびCuの
組或比(モル比)とTeおよびJeの測定粘果を表に示
す。
組或比(モル比)とTeおよびJeの測定粘果を表に示
す。
比較例
実施例と同様にして法板上に薄膜を形威し、MgO板を
薄膜上に載置せずに薄膜を露出した状態で他は実施例と
同一条件で熱処理を施した。
薄膜上に載置せずに薄膜を露出した状態で他は実施例と
同一条件で熱処理を施した。
上記の熱処理前後の各元素の組成比とTcおよびJcの
測定結果を同表中に示した。
測定結果を同表中に示した。
[発明の効果]
以上述べたように本発明によれば、
(イ)熱処理の前後で薄膜の組成変動を少なくすること
ができる。(ロ)熱処理の時間を著しく短縮することが
できる。(ハ)超電導特性を向上させることができる。
ができる。(ロ)熱処理の時間を著しく短縮することが
できる。(ハ)超電導特性を向上させることができる。
特にビスマス系酸化物の薄膜に適用した場合には高温i
11(IIOK相)の結晶化が著しく進行し、Jcが向
上する。
11(IIOK相)の結晶化が著しく進行し、Jcが向
上する。
等の利点を有する。
第1図および第2図は、それぞれ本発明の実施例におけ
る非反応性カバーの載置状態および薄膜の加熱状態を示
す概略断面図である。 1・・・・・・・・・基板 2・・・・・・・・・薄膜
る非反応性カバーの載置状態および薄膜の加熱状態を示
す概略断面図である。 1・・・・・・・・・基板 2・・・・・・・・・薄膜
Claims (2)
- (1)基板上に酸化物系超電導物質または熱処理により
酸化物系超電導物質を生成する物質よりなる薄膜を形成
した後、酸化性雰囲気中で熱処理を施す方法において、
前記熱処理時に前記薄膜上に前記薄膜に対して非反応性
の板材を載置することを特徴とする酸化物系超電導薄膜
の熱処理方法。 - (2)超電導薄膜はビスマス系酸化物である請求項1記
載の酸化物系超電導薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1240451A JPH03103307A (ja) | 1989-09-15 | 1989-09-15 | 酸化物系超電導薄膜の熱処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1240451A JPH03103307A (ja) | 1989-09-15 | 1989-09-15 | 酸化物系超電導薄膜の熱処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03103307A true JPH03103307A (ja) | 1991-04-30 |
Family
ID=17059695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1240451A Pending JPH03103307A (ja) | 1989-09-15 | 1989-09-15 | 酸化物系超電導薄膜の熱処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03103307A (ja) |
-
1989
- 1989-09-15 JP JP1240451A patent/JPH03103307A/ja active Pending
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