JPH0310585B2 - - Google Patents

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JPH0310585B2
JPH0310585B2 JP3664584A JP3664584A JPH0310585B2 JP H0310585 B2 JPH0310585 B2 JP H0310585B2 JP 3664584 A JP3664584 A JP 3664584A JP 3664584 A JP3664584 A JP 3664584A JP H0310585 B2 JPH0310585 B2 JP H0310585B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frit
enamel
tearing
urea
cracking
Prior art date
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Expired
Application number
JP3664584A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60180932A (ja
Inventor
Shuzo Tokumitsu
Yoshasu Nobuto
Hajime Ooyabu
Yukinobu Hoshida
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP59036645A priority Critical patent/JPS60180932A/ja
Publication of JPS60180932A publication Critical patent/JPS60180932A/ja
Publication of JPH0310585B2 publication Critical patent/JPH0310585B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野 本発明は、ホーローの釉薬組成物に関するもの
である。 従来例の構成とその問題点 一般に鋼板のホーロー処理は、ホーローフリツ
トに懸濁剤の粘土、コロイダルシリカあるいはベ
ントナイト、止め剤のNaNO2、NaAlO2、KClあ
るいはMgCO3、そして水を配合してミル引きし、
できたスリツプを酸洗、ニツケル処理した鋼板に
施釉、焼成して行なう。 このようにして加工したホーロー表面にあらわ
れる欠陥のうち、スリツプに起因する欠陥として
テアリング(より)、亀裂、ヘヤーライン、スポ
ンジ泡、コツパーヘツドがある。これらの欠陥
は、ホーローフリツトから溶出するホウ酸やアル
カリ分が原因となつて、スリツプの製造条件、ス
リツプの保存条件、ホーロー膜厚、乾燥法、乾燥
した器物の取り扱い、焼成の程度によつて引き起
されるものである。 これらの欠陥のうち、テアリング、亀裂、ヘヤ
ーラインは比較的早期に発生するものである。そ
して、テアリング、亀裂等はミル引き後、スリツ
プに尿素を少量添加することによつて防止されて
いた。 しかし、尿素を添加する方法は、高温焼付け
(800℃程度)型の比較的アルカリ等の溶出の少な
いフリツトのスリツプでは問題はないが、アルカ
リ等の溶出の多い低温焼付け(700℃程度以下)
型のフリツトのスリツプでは、フリツトから溶出
したアルカリ等によつて、尿素あるいは尿素分解
物が粘土、コロイダルシリカ、あるいはベントナ
イト粒子へ促進的に吸着され、吸着した尿素ある
いは尿素分解物は焼成温度付近の高温で脱着する
ので、ホーロー表面にスポンジ状の泡が発生す
る。 すなわち、たとえばアルカリ等の溶出量の多い
フリツトのスリツプを35℃で貯蔵した場合につい
て検討したところ、尿素を含有しない場合には、
約4時間経過後にホーロー被膜にテアリング、亀
裂、ヘヤーラインが発生し、スポンジ泡は10日以
上後に発生する。また、尿素を含有した場合に
は、約6時間経過後にスポンジ泡が発生し、30時
間後にテアリングあるいは亀裂が起こる。 したがつて、アルカリ等の溶出の多い低温焼付
け型のホーロー(以下低融ホーローと呼ぶ)にお
いては、尿素をミル引き時に添加する場合はもち
ろん、ミル引き後の添加の場合でも、夏場にはミ
ル引き時およびスリツプ保存の温度が高温(35℃
程度)にならないように管理(20℃程度以下に)
しなければならないという欠点があつた。 一般に低融ホーローフリツトは高温型に比べ
て、アルカリ等の溶出が多く、また流動性(焼成
温度での)が小さくて修復性に乏しいので、テア
リング、亀裂等が発生しやすい。そして、上記の
ように尿素を使う場合はスリツプ温度の管理を慎
重にしなければならない。そこで、尿素にかわる
テアリング、亀裂防止剤が必要となつた。 発明の目的 本発明は、アルカリ等の溶出量の多い低融ホー
ローフリツトにおいても、テアリング、亀裂、ヘ
ヤーライン、スポンジ泡が早期に発生しないホー
ロー釉薬組成物を提供することを目的とする。 発明の構成 本発明のホーロー釉薬組成物は、ホーローフリ
ツトを主成分とし、テレフタル酸アミドをテアリ
ングおよび亀裂等の防止剤として含有させること
を基本とするものである。 本発明のホーロー釉薬組成物の具体構成として
は、ホーローフリツト100重量部に対してテレフ
タル酸アミド0.1〜2重量部が好ましい。 組成物中に、ホーローフリツト100重量部に対
し、テレフタル酸アミドが2重量部を超えて含有
されていると、テアリング、亀裂等の防止効果は
大きいが、夏場(35℃程度)にアルカリ等の溶出
の非常に多いホーローフリツトを用いた場合に、
比較的早期にスポンジ泡が発生する。逆に0.1重
量部未満しか含有されていないと、夏場にアルカ
リ等の溶出の非常に多いフリツトを用いた場合、
特に施釉膜厚が厚い(200μm程度以上)時、テ
アリング、亀裂、ヘヤーラインが発生し易い。 テレフタル酸アミドの釉薬組成物中への添加方
法は、ミル添加とミル引き後の添加が可能である
が、ミル添加の場合は、ミル引き時間を短く(1
時間以内)し、ミル中の温度が30℃を超えないよ
うにすることが望ましい。 尿素やテレフタル酸アミドは、ホーローフリツ
ト粒子間のバインダとして働き、テアリング、亀
裂、ヘヤーラインを防止すると考えられる。 本発明者らはテレフタル酸アミドの他に、アミ
ド化合物であるフタルジアミド、ヘキサメチレン
テトラミン、その他カルボキシメチルセルロー
ス、トラガントゴム、アラビアゴムのゴム類、ポ
リビニルアルコール、ポリエチレンオキサイド、
パルプ等多く試みたが、全くテアリング、亀裂防
止効果がなかつたり、効果はあつてもスポンジ泡
を発生したりした。 つぎに、この発明のホーロー釉薬組成物は、た
とえば、次のようにして製造される。 まず、ホーローフリツトをつくる。それには、
所望のフリツト組成に応じて、各成分の原材料を
調合する。充分乾式混合した後、1100〜1300℃で
加熱溶融する。加熱温度、時間は最終的なフリツ
トの組成比を変化させるので、良く管理すること
が必要である。原料の溶解後20〜40分間ガラス化
を進行させ、必要に応じて撹拌することが重要で
ある。長い間溶解温度に維持しすぎると、アルカ
リ成分が昇華してしまうので、余り長くしないよ
うにする。溶融後、ガラスは水中に投入し急冷す
る。これを乾燥するとホーローフリツトが得られ
る。 このようにして得られたホーローフリツト100
重量部に懸濁剤として粘土、コロイダルシリカ等
を3〜9重量部、止り調整剤として亜硝酸ソー
ダ、炭酸マグネシウム、アルミン酸ソーダ等を1
重量部以下、さらに顔料10重量部以下、その他ケ
イ石粉、含水硼砂に水40〜70容量部添加してボー
ルミル等で粉砕、混合する。ここでテレフタル酸
アミドは、ミル内が30℃以下で管理可能な時は、
ミル配合も可能であるが、30℃を超える時は、ミ
ル引き後のスリツプに調合し、撹拌混合する。な
お、テレフタル酸アミドの添加量は0.1〜2重量
部である。 スリツプの粒度は、スリツプ50mlの200メツシ
ユ残渣が、スプレイで施釉する時は1〜7g、デ
イツプで施釉する時は15g以下であつて、なるべ
く粗い方がフリツト成分の溶出が少なくなり好ま
しい。 このようにして得られたホーロー釉薬組成物
は、酸洗、無電解ニツケルメツキ処理した鋼材器
物にスプレイまたはデイツプ施釉し、乾燥した
後、焼成(低融ホーローフリツトの場合、たとえ
ば710℃、3分)してホーロー被膜化する。 実施例の説明 次に実施例について比較例と併せて説明する。 〔低融ホーローフリツトの製造〕 まず、下記の第1表に示す原料を同表に示す割
合に配合し、低融ホーローフリツト用配合物1,
2をつくつた。そして、この配合物を混合してア
ルミナるつぼに入れ、1100〜1300℃において溶融
して清澄させたのち、水中に投入して、冷却し
た。その結果、第2表の低融ホーローフリツトG
−1、G−2が得られた。
【表】
【表】
〔ホーロースリツプの製造〕
上記のようにして得られた低融ホーローフリツ
トG−1、G−2を乾燥して粗粉砕したのち、下
記の第3表に示すミル添加剤を同表に示す割合で
配合した。 次に第3表に示す配合物にフリツト3Kg分を、
10のポツトミルに投入して、約75r・p・mで
1時間混合粉砕した。この時、ミル出し温度は30
℃以下に、スリツプの粒度(50c.c.の200メツシユ
残渣)は1〜7gとなるように調整した。 スリツプはミル出し直後にホーロー被膜の状態
を確認、第3表に示す貯蔵温度の恒温槽あるいは
恒温水槽に貯蔵し、定期的にホーロー被膜の状態
を確認した。
【表】 ホーロー加工処理は次の条件で行なつた。 基材; 鋼種:SPP材 寸法:100mm×100mm×0.6mm 前処理:酸洗減量値400〜500mg/dm2 ニツケル付着量14〜20mg/dm2 施釉;スプレー法 ホーロー膜厚;150〜180μm 乾燥方法;遠赤外乾燥 焼成条件;時間は3分40秒とし、温度は第4表に
示す。 上記の条件でポツトライフを確認した結果を第
4表に示す。 フリツトG−1に対するテレフタル酸アミドの
効果を、テアリング・亀裂防止剤を添加しなかつ
た場合、および尿素、フタルジアミド、ヘキサメ
チレンテトラミンの効果と比較した。 第4表に示すように、スリツプを冷蔵する場合
は防止剤を添加しなくても実用上問題はない。
【表】 しかし、35℃付近、たとえば夏場に室温でスリ
ツプを貯蔵する場合は、テアリング・亀裂防止剤
を添加しなければ、4時間程度で使用に耐えない
スリツプになる。 そこで、防止剤として尿素、フタルジアミド、
ヘキサメチレンテトラミンを試みても、6時間以
内でスポンジ泡が発生する。したがつて、これら
の防止剤も実用的でない。 これらに比較して、テレフタル酸アミドを添加
すると、テアリングや亀裂の発生を遅らずと共
に、スポンジ泡の発生も尿素などにくらべると、
かなり遅くなり、夏場では1〜2日は冷蔵しなく
ても充分使用に耐えるものを得ることができる。 また、硅石粉を添加する(実施例5)と、消泡
剤として働らき、スポンジ泡の発生をさらに遅ら
すことができる。 実施例6、比較例8、9でフリツトG−2のス
リツプのポツトライフ特性を示した。 第4表に示すように、低融ホーローフリツトで
も流動性が良く、溶出アルカリ量の少ないフリツ
トの場合は、テアリング・亀裂防止剤を添加しな
くても充分実用に耐える。 フリツトG−2の場合でも、器物の取り扱いで
テアリングおよび亀裂が発生する恐れのある場合
には、防止剤を添加する。この場合にも尿素より
もテレフタルアミド酸の方がスポンジ泡の発生が
遅い。 発明の効果 以上のように、本発明のテレフタル酸アミドを
含有したホーロー釉薬組成物は、テアリングおよ
び亀裂、さらにスポンジ泡が発生しにくいもので
ある。 特にフリツトとして流動性が悪く、アルカリ溶
出量の多い低融ホーローフリツトを用いた場合、
夏場でも充分使用に耐えるホーロー釉薬組成物を
提供できる。また、ミル添加も可能である。そし
て、低融ホーローは、変形・強度劣化およびピン
ホール・つまとびが少なく、かつ省資源・省エネ
ルギであるなど多くの特徴を持ちながら、フリツ
トからのB2O3やアルカリ成分の溶出が大きいた
め、スリツプのポツトライフが短かく実用化に大
きな支障があつたが、本発明によつて大きく実用
化に近づけることができるものである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ホーローフリツトを主成分とし、テレフタル
    酸アミドをテアリングおよび亀裂防止剤として含
    有することを特徴とするホーロー釉薬組成物。 2 ホーローフリツト100重量部に対してテレフ
    タル酸アミドを0.1〜2重量部とした特許請求の
    範囲第1項記載のホーロー釉薬組成物。
JP59036645A 1984-02-28 1984-02-28 ホ−ロ−釉薬組成物 Granted JPS60180932A (ja)

Priority Applications (1)

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JP59036645A JPS60180932A (ja) 1984-02-28 1984-02-28 ホ−ロ−釉薬組成物

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JP59036645A JPS60180932A (ja) 1984-02-28 1984-02-28 ホ−ロ−釉薬組成物

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JPS60180932A JPS60180932A (ja) 1985-09-14
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JP59036645A Granted JPS60180932A (ja) 1984-02-28 1984-02-28 ホ−ロ−釉薬組成物

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