JPH03107331A - プログラマブル電源 - Google Patents
プログラマブル電源Info
- Publication number
- JPH03107331A JPH03107331A JP24068289A JP24068289A JPH03107331A JP H03107331 A JPH03107331 A JP H03107331A JP 24068289 A JP24068289 A JP 24068289A JP 24068289 A JP24068289 A JP 24068289A JP H03107331 A JPH03107331 A JP H03107331A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- current
- circuit
- clamp
- main power
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明はIC,LSI等のデバイスを検査する場合に使
用されるプログラマブル電源に関し、デバイスにおける
電源端子の接触不良により生ずる過剰電流によってデバ
イス内の回路や測定系が破壊されるのを防止することを
目的とし、所定の電圧値、或は電流値に設定可能な主電
源回路、被測定用デバイスの複数個の端子のそれぞれに
接続して前記所定の電圧、或は電流を並列に供給する複
数個のコンタクト部、該コンタクト部と主電源同部との
間において該コンタクト部のそれぞれに対応して設けら
れたクランプ回路とからなるように構成される。
用されるプログラマブル電源に関し、デバイスにおける
電源端子の接触不良により生ずる過剰電流によってデバ
イス内の回路や測定系が破壊されるのを防止することを
目的とし、所定の電圧値、或は電流値に設定可能な主電
源回路、被測定用デバイスの複数個の端子のそれぞれに
接続して前記所定の電圧、或は電流を並列に供給する複
数個のコンタクト部、該コンタクト部と主電源同部との
間において該コンタクト部のそれぞれに対応して設けら
れたクランプ回路とからなるように構成される。
本発明は、IC等のテスターにおけるデバイス用電源の
構造に関するものである。
構造に関するものである。
LSI等を含むICデバイスの動作を検査するためのI
Cテスターは被測定用ICデバイスの内部回路や容量等
に合せて異る電圧又は電流が供給されるように構成され
ている。通常ICテスターには第3図に示すように必要
な電圧又は電流を発生させる主電源回路1と該主電源回
路に接続されかつIC等のデバイス4の電源端子3に接
触し、該電源端子に所定の電圧又は電流を供給する接触
針等からなるコンタクト部2とから構成されており、−
船釣には数十〜数百mAの電流を流す程度のものであっ
たが、近年、ICの大容量化に伴いデバイスの電源電流
も増大して来ており、パワーIC等においては5A−1
0Aもの電流を必要とするものも出現してきている。そ
のため電源端子も一本のみでなく複数個設は電流の容量
を上げることが考えられている。この場合にはICデバ
イスの各々の電源端子に対してICテスターの主電源か
ら均等にかつ電流容量が越えないように電流を流す必要
がある。
Cテスターは被測定用ICデバイスの内部回路や容量等
に合せて異る電圧又は電流が供給されるように構成され
ている。通常ICテスターには第3図に示すように必要
な電圧又は電流を発生させる主電源回路1と該主電源回
路に接続されかつIC等のデバイス4の電源端子3に接
触し、該電源端子に所定の電圧又は電流を供給する接触
針等からなるコンタクト部2とから構成されており、−
船釣には数十〜数百mAの電流を流す程度のものであっ
たが、近年、ICの大容量化に伴いデバイスの電源電流
も増大して来ており、パワーIC等においては5A−1
0Aもの電流を必要とするものも出現してきている。そ
のため電源端子も一本のみでなく複数個設は電流の容量
を上げることが考えられている。この場合にはICデバ
イスの各々の電源端子に対してICテスターの主電源か
ら均等にかつ電流容量が越えないように電流を流す必要
がある。
即ちICデバイス1個に対し5Aの電流を流す必要があ
る時に仮に電源端子を10本設け1本の端子当り0.5
Aを流すようにしておけば問題はないが、ICデバイス
のどこか1個処の電源端子3とコンタクト2との接触が
不良となった場合には、他の電源端子に許容量を越えた
電流が流れてしまい、そのデバイス或は測定系が破壊し
てしまうという欠点があった。上記従来のプログラマブ
ル電源回路は、主電源回路において、被測定用ICデバ
イスに最適な電流値或は電圧値が供給されるよう、適宜
な手段により調整可能な構成を有しているが、被測定用
デバイスの複数個の電源端子と接触する複数のコンタク
ト2は1つの主電源1と単に並列的に接続されているの
みで被測定用デバイスの各電源端子の電流の変化につい
ては何ら管理していない。
る時に仮に電源端子を10本設け1本の端子当り0.5
Aを流すようにしておけば問題はないが、ICデバイス
のどこか1個処の電源端子3とコンタクト2との接触が
不良となった場合には、他の電源端子に許容量を越えた
電流が流れてしまい、そのデバイス或は測定系が破壊し
てしまうという欠点があった。上記従来のプログラマブ
ル電源回路は、主電源回路において、被測定用ICデバ
イスに最適な電流値或は電圧値が供給されるよう、適宜
な手段により調整可能な構成を有しているが、被測定用
デバイスの複数個の電源端子と接触する複数のコンタク
ト2は1つの主電源1と単に並列的に接続されているの
みで被測定用デバイスの各電源端子の電流の変化につい
ては何ら管理していない。
本発明は上記従来技術の欠点を改良し、ICテスターの
一部のコンタクト部と被測定用ICデバイスの電源端子
との間に接触不良が発生した場合でも該電源端子の許容
量を越える電流の流入を防ぎデバイス回路や測定系が破
壊されるのを防止しうるプログラマブル電源回路を提供
゛するものである。
一部のコンタクト部と被測定用ICデバイスの電源端子
との間に接触不良が発生した場合でも該電源端子の許容
量を越える電流の流入を防ぎデバイス回路や測定系が破
壊されるのを防止しうるプログラマブル電源回路を提供
゛するものである。
本発明は上記の目的を達成するため次のような技術的構
成を採用するものである。即ち、所定の電圧値、或は電
流値に設定可能な主電源回路、被測定用デバイスの複数
個の端子のそれぞれに接続して前記所定の電圧或は電流
を並列に供給する複数個のコンタクト部、該コンタクト
部と主電源開部との間において該コンタクト部のそれぞ
れに対応して設けられたクランプ回路とから構成された
プログラマブル電源である。
成を採用するものである。即ち、所定の電圧値、或は電
流値に設定可能な主電源回路、被測定用デバイスの複数
個の端子のそれぞれに接続して前記所定の電圧或は電流
を並列に供給する複数個のコンタクト部、該コンタクト
部と主電源開部との間において該コンタクト部のそれぞ
れに対応して設けられたクランプ回路とから構成された
プログラマブル電源である。
つまり本発明は、1つの主電源とこれに並列に接続され
る複数個の被測定用デバイスの電源端子と接触するコン
タクト部との間にクランプ回路を設けたものである0本
発明においてはデバイスの電源端子数に応じたコンタク
ト部に分流するとともに各コンタクト部を通過する電流
をクランプ回路部を調整することによって適切なりラン
プ電流として設定することが出来る。
る複数個の被測定用デバイスの電源端子と接触するコン
タクト部との間にクランプ回路を設けたものである0本
発明においてはデバイスの電源端子数に応じたコンタク
ト部に分流するとともに各コンタクト部を通過する電流
をクランプ回路部を調整することによって適切なりラン
プ電流として設定することが出来る。
本発明においては上記のような構成を有しているので一
部に接触不良が生じたとしても他の電源端子に許容電流
以上の電流は流れることはないため異常電流の流入によ
ってICデバイスの内部回路が破壊されたり測定系が破
壊されるおそれはなくなる。
部に接触不良が生じたとしても他の電源端子に許容電流
以上の電流は流れることはないため異常電流の流入によ
ってICデバイスの内部回路が破壊されたり測定系が破
壊されるおそれはなくなる。
以下に本発明に係るプログラマブル電源の具体例を図面
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
第1図は本発明の原理説明図である。
第1図中1個の主電源回路1 (PPS:Progra
sablePower 5upply)に対して被測定
デバイスの電源端子の数に等しい数の複数個のクランプ
回路5(りランプ5−1、クランプ5−2、・・・クラ
ンプ5−n)を並列を設けるとともに該クランプ回路5
のそれぞれの先端にデバイス4の電源端子3と接触する
針状のコンタクト部2が設けられている。
sablePower 5upply)に対して被測定
デバイスの電源端子の数に等しい数の複数個のクランプ
回路5(りランプ5−1、クランプ5−2、・・・クラ
ンプ5−n)を並列を設けるとともに該クランプ回路5
のそれぞれの先端にデバイス4の電源端子3と接触する
針状のコンタクト部2が設けられている。
主電源1はPPSと称されるように、測定系、被測定用
デバイス4全体に必要とされる電源電圧、クランプ電流
を設定するものであって、好ましくは、特定のプログラ
ム処理によりコンピュータ等の演算処理によって所望の
電流値、電圧値が任意に設定しうる構造を有するもので
ある。又本発明では主電源1は全体のクランプ電流の最
大値を決める機能も有している。更に主電源lの設定値
は被測定用デバイスが変更されれば又別の値に設定され
うるちのである。
デバイス4全体に必要とされる電源電圧、クランプ電流
を設定するものであって、好ましくは、特定のプログラ
ム処理によりコンピュータ等の演算処理によって所望の
電流値、電圧値が任意に設定しうる構造を有するもので
ある。又本発明では主電源1は全体のクランプ電流の最
大値を決める機能も有している。更に主電源lの設定値
は被測定用デバイスが変更されれば又別の値に設定され
うるちのである。
又クランプ回路5 (5−1、5−2、・・・5−n)
は上述したようにICデバイスの各電源端子の許容電流
量を越えないようその限界値を設定するものであり、こ
れも好ましくはプログラム処理によって設定され又は変
更されうるちのでことが好ましい。
は上述したようにICデバイスの各電源端子の許容電流
量を越えないようその限界値を設定するものであり、こ
れも好ましくはプログラム処理によって設定され又は変
更されうるちのでことが好ましい。
該クランプ回路のそれぞれに設定される電流値は全て同
一でもよいが、被測定用デバイスの電源端子に応じて適
宜異らせてもよい。
一でもよいが、被測定用デバイスの電源端子に応じて適
宜異らせてもよい。
又2のクランプ電流値はデバイスをかえる毎に変更され
る可能性も有している。つまり本発明においては、各該
クランプ回路5を流れるクランプ電流をll+1!・・
・1.とする時、電流■は電流iI十雷電流2・・・電
流17である。尚クランプ回路の構造は特に限定される
ものではなく、−船釣に使用されているクランプ回路が
使用されうる。但し前記したようにクランプ値をプログ
ラムによって可変しうるちのであることが好ましい0次
に本発明の具体例を第2図により説明する。
る可能性も有している。つまり本発明においては、各該
クランプ回路5を流れるクランプ電流をll+1!・・
・1.とする時、電流■は電流iI十雷電流2・・・電
流17である。尚クランプ回路の構造は特に限定される
ものではなく、−船釣に使用されているクランプ回路が
使用されうる。但し前記したようにクランプ値をプログ
ラムによって可変しうるちのであることが好ましい0次
に本発明の具体例を第2図により説明する。
第2図においてはクランプ回路5とコンタクト2とが直
列に接続された複数個の並列ラインを適宜の選択手段6
を介して主電源回路1と接続せしめたものであり、測定
作業中に所望のクランプ回路5とコンタクト2とを選択
的に設定電源回路1と接続させるものである。該選択手
段6はそれぞれのラインに対応する複数個のスイッチS
、〜Snを有し、又各スイッチ31〜S7はリレー、電
子スイッチ等周知のスイッチ手段で構成されていてよく
、要は適宜の制御手段7によるプログラム処理結果にも
とづいた制御命令により、各スイッチS、〜S7のいづ
れかを選択作動させて主電源とクランプ回路5コンタク
ト部2とを接続し測定を行わせるものである。
列に接続された複数個の並列ラインを適宜の選択手段6
を介して主電源回路1と接続せしめたものであり、測定
作業中に所望のクランプ回路5とコンタクト2とを選択
的に設定電源回路1と接続させるものである。該選択手
段6はそれぞれのラインに対応する複数個のスイッチS
、〜Snを有し、又各スイッチ31〜S7はリレー、電
子スイッチ等周知のスイッチ手段で構成されていてよく
、要は適宜の制御手段7によるプログラム処理結果にも
とづいた制御命令により、各スイッチS、〜S7のいづ
れかを選択作動させて主電源とクランプ回路5コンタク
ト部2とを接続し測定を行わせるものである。
又本発明では上記したようにデバイスを測定中にコンタ
クト部2とデバイスの電源端子3との接触が不良で、過
剰な電源が他のラインを流れようとしても、各ラインに
設けられたクランプ回路により、当該クランプ回路で設
定された最大許容量の電流しかデバイスに流れないよう
に制御される。
クト部2とデバイスの電源端子3との接触が不良で、過
剰な電源が他のラインを流れようとしても、各ラインに
設けられたクランプ回路により、当該クランプ回路で設
定された最大許容量の電流しかデバイスに流れないよう
に制御される。
従って被測定用デバイスが破壊されるおそれは全くない
。
。
然しなからかかる上記本発明においても仮に上記したよ
うな1つのコンタクト部とデバイスの電源端子間で接触
不良が生じてそのラインの電流が流れないとすると同時
に主電源回路と接続されている他のラインに前述ライン
に流れるべきであった電流が流れようとする。
うな1つのコンタクト部とデバイスの電源端子間で接触
不良が生じてそのラインの電流が流れないとすると同時
に主電源回路と接続されている他のラインに前述ライン
に流れるべきであった電流が流れようとする。
その時に上記他のラインに余分の電流を流しうる余裕が
あれば問題ないが、全くそのラインに余裕がない場合に
は、主電源を流れる電流が低下することになり主電源の
全体の電圧はドロップしてしまい、結局、予め設定して
おいた正常値でのデバイスのテストが実行されないとい
うおそれがあった。そのため第2図ではクランプ回路5
にクランプ検出回路8を設け、クランプ回路5に予め設
定しておいてクランプ電流値を越える電流が流入して来
た時はクランプ検出回路を作用させてアラーム9を作動
させ、オペレータに異常があったことを報知する。
あれば問題ないが、全くそのラインに余裕がない場合に
は、主電源を流れる電流が低下することになり主電源の
全体の電圧はドロップしてしまい、結局、予め設定して
おいた正常値でのデバイスのテストが実行されないとい
うおそれがあった。そのため第2図ではクランプ回路5
にクランプ検出回路8を設け、クランプ回路5に予め設
定しておいてクランプ電流値を越える電流が流入して来
た時はクランプ検出回路を作用させてアラーム9を作動
させ、オペレータに異常があったことを報知する。
これによってオペレータは直ちにその時の被測定デバイ
スの測定を中止し、接触不良を生じた原因をチエツクし
、コンタクト部の掃除等を行って再び測定を開始する。
スの測定を中止し、接触不良を生じた原因をチエツクし
、コンタクト部の掃除等を行って再び測定を開始する。
以上説明した様に本発明によれば、電源電流の数が多い
ICデバイスに対しても各電源端子の電流を制限するこ
とにより、過電流によるデバイス、測定系の破壊を防止
することができる。
ICデバイスに対しても各電源端子の電流を制限するこ
とにより、過電流によるデバイス、測定系の破壊を防止
することができる。
また少なくともクランプ回路にクランプが動作したこと
を検出するクランプ検出回路が設けられているため早期
に測定異常が判断出来るため測定効率の向上と測定精度
の向上に貢献しうる。
を検出するクランプ検出回路が設けられているため早期
に測定異常が判断出来るため測定効率の向上と測定精度
の向上に貢献しうる。
第1図は本発明の原理説明図である。
第2図は本発明に係るプログラマブル電源の1具体例を
示す図である。 第3図は従来のプログラマブル電源を示す図である。 l・・・主電源回路、 2・・・コンタクト部、
3・・・電源端子、 4・・・デバイス(IC等
)、5・・・クランプ回路、 6・・・スイッチ手
段、7・・・制御回路、 8・・・クランプ検
出回路、9・・・アラーム。 本発明の原理説明図 第 図
示す図である。 第3図は従来のプログラマブル電源を示す図である。 l・・・主電源回路、 2・・・コンタクト部、
3・・・電源端子、 4・・・デバイス(IC等
)、5・・・クランプ回路、 6・・・スイッチ手
段、7・・・制御回路、 8・・・クランプ検
出回路、9・・・アラーム。 本発明の原理説明図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、所定の電圧値、或は電流値に設定可能な主電源回路
、被測定用デバイスの複数個の端子のそれぞれに接続し
て前記所定の電圧或は電流を並列に供給する複数個のコ
ンタクト部、該コンタクト部と主電源同部との間におい
て該コンタクト部のそれぞれに対応して設けられたクラ
ンプ回路とから構成されたことを特徴とするプログラマ
ブル電源。 2、該クランプ回路の動作を検出してそれを報知するク
ランプ検出アラーム回路が設けられていることを特徴と
する請求項1記載のプログラマブル電源。 3、該主電源回路と該複数個のコンタクト部との間に、
所定のコンタクト部を選択して該主電源に接続させる選
択手段が設けられていることを特徴とする請求項1記載
のプログラマブル電源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24068289A JPH03107331A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-19 | プログラマブル電源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24068289A JPH03107331A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-19 | プログラマブル電源 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03107331A true JPH03107331A (ja) | 1991-05-07 |
Family
ID=17063141
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24068289A Pending JPH03107331A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-19 | プログラマブル電源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03107331A (ja) |
-
1989
- 1989-09-19 JP JP24068289A patent/JPH03107331A/ja active Pending
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