JPH03110353U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH03110353U JPH03110353U JP1920590U JP1920590U JPH03110353U JP H03110353 U JPH03110353 U JP H03110353U JP 1920590 U JP1920590 U JP 1920590U JP 1920590 U JP1920590 U JP 1920590U JP H03110353 U JPH03110353 U JP H03110353U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- signal
- timing
- data sampling
- timing signal
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000004154 testing of material Methods 0.000 claims 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示す全体構成図、
第２図はマイクロコンピユータのプログラムの一
例を示すフローチヤート、第３図ａは実施例のデ
ータサンプリング装置により得られる設定信号と
検出信号のデータを、ｂは従来の装置により得ら
れた設定信号と検出信号のデータをそれぞれ示す
図、第４図は従来の計測装置の概要を説明する構
成図である。 １０……試験機本体、１２……ロードセル、１
３……差動トランス、２１……制御回路（マイク
ロコンピユータ）、２２……試験条件入力部、２
３……波形発生回路、２４……加算器、２５……
サーボアンプ、２６，２７……増幅器、２８……
Ａ／Ｄ変換器、２９……タイミング信号発生回路
、３０……遅延回路、３１……レコーダ。
第２図はマイクロコンピユータのプログラムの一
例を示すフローチヤート、第３図ａは実施例のデ
ータサンプリング装置により得られる設定信号と
検出信号のデータを、ｂは従来の装置により得ら
れた設定信号と検出信号のデータをそれぞれ示す
図、第４図は従来の計測装置の概要を説明する構
成図である。 １０……試験機本体、１２……ロードセル、１
３……差動トランス、２１……制御回路（マイク
ロコンピユータ）、２２……試験条件入力部、２
３……波形発生回路、２４……加算器、２５……
サーボアンプ、２６，２７……増幅器、２８……
Ａ／Ｄ変換器、２９……タイミング信号発生回路
、３０……遅延回路、３１……レコーダ。
Claims (1)
- 負荷手段により負荷される供試体の変形に伴う
物理量を検出する検出手段と、供試体を負荷する
ためのパターンを定める設定信号を発生する設定
信号発生手段と、検出された信号が前記設定信号
になるように前記負荷手段を制御する制御手段と
、タイミング信号が入力するタイミングで前記検
出信号からデータをサンプリングするデータサン
プリング手段とを備えた材料試験機のデータサン
プリング装置において、前記物理量のデータを採
取する前に前記タイミング信号に同期させてサン
プリングした前記設定信号と検出信号との位相差
を算出する位相差算出手段と、前記タイミング信
号のタイミングを前記位相差分だけ遅延させる遅
延手段とを備え、前記データサンプリング手段は
、遅延されたタイミング信号に同期させて前記物
理量のデータを採取するようにしたことを特徴と
する材料試験機のデータサンプリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1920590U JPH03110353U (ja) | 1990-02-27 | 1990-02-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1920590U JPH03110353U (ja) | 1990-02-27 | 1990-02-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03110353U true JPH03110353U (ja) | 1991-11-12 |
Family
ID=31522339
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1920590U Pending JPH03110353U (ja) | 1990-02-27 | 1990-02-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03110353U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017145255A1 (ja) * | 2016-02-23 | 2017-08-31 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機用の同期回路および材料試験機 |
| WO2020026363A1 (ja) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
-
1990
- 1990-02-27 JP JP1920590U patent/JPH03110353U/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017145255A1 (ja) * | 2016-02-23 | 2017-08-31 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機用の同期回路および材料試験機 |
| JPWO2017145255A1 (ja) * | 2016-02-23 | 2018-07-19 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機用の同期回路および材料試験機 |
| US10866174B2 (en) | 2016-02-23 | 2020-12-15 | Shimadzu Corporation | Synchronization circuit for material tester and material tester |
| WO2020026363A1 (ja) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
| JPWO2020026363A1 (ja) * | 2018-07-31 | 2021-07-01 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
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