JPH03110650A - Eepromチェック方式 - Google Patents
Eepromチェック方式Info
- Publication number
- JPH03110650A JPH03110650A JP1246320A JP24632089A JPH03110650A JP H03110650 A JPH03110650 A JP H03110650A JP 1246320 A JP1246320 A JP 1246320A JP 24632089 A JP24632089 A JP 24632089A JP H03110650 A JPH03110650 A JP H03110650A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- check
- eeprom
- storage area
- cpu
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はコンピュータを用いた装置に使用されるEEP
ROM (エレクトリカル・イレーザブル・プログラマ
ブルROM)に係り、特にEEPROMのチェック方式
に関する。
ROM (エレクトリカル・イレーザブル・プログラマ
ブルROM)に係り、特にEEPROMのチェック方式
に関する。
マイクロコンピュータ等のコンピュータを搭載した装置
において、電源オフ後も保持したいデータを記憶する場
合にはEEPROMが使用される。
において、電源オフ後も保持したいデータを記憶する場
合にはEEPROMが使用される。
そして、EEPROMの不良チェックはEEPROMに
チェックデータの書き込み/読み出し処理を所定回初期
設定時毎に(例えばEEPROMが使用されている装置
の電源投入毎に)行うことにより実行している。
チェックデータの書き込み/読み出し処理を所定回初期
設定時毎に(例えばEEPROMが使用されている装置
の電源投入毎に)行うことにより実行している。
しかし、EEPROMのデータ書き換え回数には制限が
あり、EEPROMが使用される装置の初期設定時毎に
所定回のチェックデータの書き換え処理を行うことはE
EPROMに記憶されている実データを、チェックの間
退避させておかなければならないだけでなく、EEPR
OMへの実データの書き換え回数を制限することになり
、EEPROMの寿命を短くする。
あり、EEPROMが使用される装置の初期設定時毎に
所定回のチェックデータの書き換え処理を行うことはE
EPROMに記憶されている実データを、チェックの間
退避させておかなければならないだけでなく、EEPR
OMへの実データの書き換え回数を制限することになり
、EEPROMの寿命を短くする。
本発明は、EEPROM内の一部にEEPROMチェッ
クのための領域を設け、しかもr”:EFROMが使用
された装置の電源投入のmi回のみチェックデータの書
き込み/読み出し処理を行うことによりEEPROMの
不良チェックを行いEEPROMの寿命を延ばすことが
できるものである。
クのための領域を設け、しかもr”:EFROMが使用
された装置の電源投入のmi回のみチェックデータの書
き込み/読み出し処理を行うことによりEEPROMの
不良チェックを行いEEPROMの寿命を延ばすことが
できるものである。
EEPROMはコンピュータの電源オフ後もデータを保
持できると共に、データの書き込み/消去が可能である
ので広く使用されている。例えば、マイクロコンピュー
タを搭載したプリンタではEEPROMをトータルプリ
ント枚数のカウントに使用し、マイクロコンピュータを
搭載したNC工作機械ではEEPROMを機械の設定状
態の記憶に使用している。このようにコンピュータに搭
載して広く使用されるEEPROMに不良があった場合
にはEEPROMを搭載した装置の故障や、場合によっ
ては装置の損壊につながることもある。
持できると共に、データの書き込み/消去が可能である
ので広く使用されている。例えば、マイクロコンピュー
タを搭載したプリンタではEEPROMをトータルプリ
ント枚数のカウントに使用し、マイクロコンピュータを
搭載したNC工作機械ではEEPROMを機械の設定状
態の記憶に使用している。このようにコンピュータに搭
載して広く使用されるEEPROMに不良があった場合
にはEEPROMを搭載した装置の故障や、場合によっ
ては装置の損壊につながることもある。
この為、従来EEPROMのチェックはコンピュータの
電源投入毎に行われている。例えば、このEEPROM
の不良チェックはEEPROMの記憶エリアへデータを
書き込み、その後このデータを読み出し、この書き込み
データと読み出しデータを比較することにより両データ
の一致を判断することにより行われている。しかも、E
EPROMのチェックを確実にする為、異なったデータ
の書き込み/読み出し処理を複数回行っている。
電源投入毎に行われている。例えば、このEEPROM
の不良チェックはEEPROMの記憶エリアへデータを
書き込み、その後このデータを読み出し、この書き込み
データと読み出しデータを比較することにより両データ
の一致を判断することにより行われている。しかも、E
EPROMのチェックを確実にする為、異なったデータ
の書き込み/読み出し処理を複数回行っている。
しかし、このようなEEPROMのチェックではチェッ
クの際実データを退避しなければならず、チェック制御
が複雑になる為EEPROMのチェックが行われていな
い場合もある。
クの際実データを退避しなければならず、チェック制御
が複雑になる為EEPROMのチェックが行われていな
い場合もある。
上記従来のEEPROMのチェック装置においては、E
EPROMのデータ書き換え可能回数が現在1万回程度
である為、上記EEPROMのチェックを電源投入毎に
何度も行うとEEPROMに実際にデータを書き込める
回数が少なくなる。
EPROMのデータ書き換え可能回数が現在1万回程度
である為、上記EEPROMのチェックを電源投入毎に
何度も行うとEEPROMに実際にデータを書き込める
回数が少なくなる。
すなわち、このことはEEPROMの寿命を短くするこ
とになり、実データの退避等の制御も面倒である。
とになり、実データの退避等の制御も面倒である。
本発明の課題は、チェックによるEEPROMのデータ
書き換え回数を少なくして、EEPROMの寿命をのば
し、その制御も節単にできるようにすることである。
書き換え回数を少なくして、EEPROMの寿命をのば
し、その制御も節単にできるようにすることである。
本発明の手段は次の通りである。
EEPROMI (第1図の機能ブロック図参照、以下
同様)には、そのメモリ領域の一部にチェック種別デー
タ記憶エリアlaとチェックデータ記憶エリアlbが設
けられる。
同様)には、そのメモリ領域の一部にチェック種別デー
タ記憶エリアlaとチェックデータ記憶エリアlbが設
けられる。
チェック制御手段2は、上記チェック種別データ記憶エ
リアIaのデータに基づき上記チェックデータ記憶エリ
アlbに所定のチェックデータを書き込んだ後接チェッ
クデータを読み出し両データの一致を判別し、両データ
が一致しているか否かによりEEPR,OMの良/不良
をチェックする。
リアIaのデータに基づき上記チェックデータ記憶エリ
アlbに所定のチェックデータを書き込んだ後接チェッ
クデータを読み出し両データの一致を判別し、両データ
が一致しているか否かによりEEPR,OMの良/不良
をチェックする。
本発明の手段の作用は次の通りである。
チェック制御手段2はチェック処理を実行する際、チェ
ックデータ記憶エリアlbにチェックデータを書き込み
、また占き込んだデータを読み出す処理を行い、さらに
両データを比較して両データが一致するか否かを判別し
てEEPROMの良/不良のチェックを行う。その際ど
のようなチェックデータの書き込み/読み出し処理を行
うかをEEPROMI内の一部の領域に設けられたチェ
ック種別データ記憶エリアlaのデータに基づいて行う
。
ックデータ記憶エリアlbにチェックデータを書き込み
、また占き込んだデータを読み出す処理を行い、さらに
両データを比較して両データが一致するか否かを判別し
てEEPROMの良/不良のチェックを行う。その際ど
のようなチェックデータの書き込み/読み出し処理を行
うかをEEPROMI内の一部の領域に設けられたチェ
ック種別データ記憶エリアlaのデータに基づいて行う
。
したがって、EEPROMの使用寿命を延ばし、その制
御も節単にできる。
御も節単にできる。
以下、第2図乃至第4図を参照しながら実施例を説明す
る。
る。
第2図は一実施例のEEPROMチェック装置のシステ
ム構成図である。同図はある制御装置のcpu (中央
処理袋!りとEEPROMのシステムを示すものでもあ
る。したがって、CI’U6はその制御装置の全体制御
を行い、EEPROM7は上記制御処理の間作成される
データの中で電源オフ後も保存したいデータを書き込む
メモリである。すなわち、CPU6は不図示のシステム
ROMに接続され、装置の全体制御処理を行う。
ム構成図である。同図はある制御装置のcpu (中央
処理袋!りとEEPROMのシステムを示すものでもあ
る。したがって、CI’U6はその制御装置の全体制御
を行い、EEPROM7は上記制御処理の間作成される
データの中で電源オフ後も保存したいデータを書き込む
メモリである。すなわち、CPU6は不図示のシステム
ROMに接続され、装置の全体制御処理を行う。
EEPROM7はチs、yりNo、記憶エリア7a、チ
ェックデータ記憶エリア7b、実データ記憶工リア7c
で構成されている。チェック阻記憶エリア7aは1〜4
までのナンバーのいずれか一つを記憶し、チェックNo
、記憶エリア7aに記憶されるナンバーはEEPROM
7のチェックが行われる毎に1→2→3→4→l→・・
・と更新される。
ェックデータ記憶エリア7b、実データ記憶工リア7c
で構成されている。チェック阻記憶エリア7aは1〜4
までのナンバーのいずれか一つを記憶し、チェックNo
、記憶エリア7aに記憶されるナンバーはEEPROM
7のチェックが行われる毎に1→2→3→4→l→・・
・と更新される。
CPU6はEEPROM7のチェックを行う時上記チェ
ックNα記憶エリア7aからナンバーデータを読み出す
と共に、EEPROM7のチェック終了後はチェック漱
記憶エリア7aヘナンバーの更新信号を出力する。また
、CPU6は詳しくは後述するようにEEPROM7の
チェックの時にはチェックNo、記憶エリア7aから読
み出したナンバーデータにしたがった処理を行う。
ックNα記憶エリア7aからナンバーデータを読み出す
と共に、EEPROM7のチェック終了後はチェック漱
記憶エリア7aヘナンバーの更新信号を出力する。また
、CPU6は詳しくは後述するようにEEPROM7の
チェックの時にはチェックNo、記憶エリア7aから読
み出したナンバーデータにしたがった処理を行う。
チェックデータ記憶エリア7bはCPU6が上記のよう
に読み出したナンバーデータに基づいて対応するチェッ
ク処理を行う時、所定のチェックデータが書き込まれ、
また書き込まれたチェックデータが読み出されるエリア
である。
に読み出したナンバーデータに基づいて対応するチェッ
ク処理を行う時、所定のチェックデータが書き込まれ、
また書き込まれたチェックデータが読み出されるエリア
である。
実データ記憶エリア7CはCPU6の処理により作成さ
れ、記憶を必要とする実際のデータを記憶するエリアで
ある。
れ、記憶を必要とする実際のデータを記憶するエリアで
ある。
以下、EEPROM7のチェック処理動作を第3図のフ
ローチャート及び第4図の処理工程図を用いて説明する
。
ローチャート及び第4図の処理工程図を用いて説明する
。
本実施例のEEPROM7を使用する装置の電源を投入
すると、CPU6は装置の初期設定処理を実行する。こ
の初期設定処理の中で第3図に示すEEPROM7のチ
ェック処理が行われる。二〇EEPROM7のチェック
処理は、先ずEEPROM7のチェックNα記憶エリア
7aに記憶されているナンバーデータをCPU6に読み
−出すことから始まる(ステップ(以下Sで示す)1)
。但し、EEPROM7を装置に取り付は初めて使用す
る時には上記チェックNα記憶エリア7aにはナンバー
データとして“1″が設定されているものとする。CP
U6は上記最初の処理ではナンバーデータとしてデータ
“1”を読出す為ナンバーデータ“l”に対応したチェ
ック処理を以下実行する(32、S3)。この処理は、
第4図に胤1として示す処理であり、CPU6からチェ
ックデータ記憶エリア7b内の全てのエリアに同じ16
進のチェックデータ“5,5”を書き込み、さらに書き
込んだデータ“55”をCPU6へ読み出す処理である
。また、同図に示すチェックデータ記憶エリア7bの下
位エリアに示すデータ“00”はまだチェックデータ“
55”が書き込まれていない状態を示す、そして、CP
U6はチェックデータ記憶エリア7bへ出力したチェッ
クデータとチェックデータ記憶エリア7bの同じエリア
から読み出したデータを比較し、同一データであるか判
断する。この処理をチェックデータ記憶エリア7b内の
全てのエリアに対して行い、書き込んだデータと読み出
たデータが全てのエリアに対して同一であればEEPR
OM7に不良は無いものと判断する。一方、チェックデ
ータ記憶エリア7b内のいずれか一つのエリアでも書き
込みデータと読み出しデータが一致しなければEEPR
OM7は不良であると判断する。尚、上記処理はナンバ
ーデータ“1“を指定することにより不図示のシステム
ROM内に書き込まれたプログラムにより行われる。
すると、CPU6は装置の初期設定処理を実行する。こ
の初期設定処理の中で第3図に示すEEPROM7のチ
ェック処理が行われる。二〇EEPROM7のチェック
処理は、先ずEEPROM7のチェックNα記憶エリア
7aに記憶されているナンバーデータをCPU6に読み
−出すことから始まる(ステップ(以下Sで示す)1)
。但し、EEPROM7を装置に取り付は初めて使用す
る時には上記チェックNα記憶エリア7aにはナンバー
データとして“1″が設定されているものとする。CP
U6は上記最初の処理ではナンバーデータとしてデータ
“1”を読出す為ナンバーデータ“l”に対応したチェ
ック処理を以下実行する(32、S3)。この処理は、
第4図に胤1として示す処理であり、CPU6からチェ
ックデータ記憶エリア7b内の全てのエリアに同じ16
進のチェックデータ“5,5”を書き込み、さらに書き
込んだデータ“55”をCPU6へ読み出す処理である
。また、同図に示すチェックデータ記憶エリア7bの下
位エリアに示すデータ“00”はまだチェックデータ“
55”が書き込まれていない状態を示す、そして、CP
U6はチェックデータ記憶エリア7bへ出力したチェッ
クデータとチェックデータ記憶エリア7bの同じエリア
から読み出したデータを比較し、同一データであるか判
断する。この処理をチェックデータ記憶エリア7b内の
全てのエリアに対して行い、書き込んだデータと読み出
たデータが全てのエリアに対して同一であればEEPR
OM7に不良は無いものと判断する。一方、チェックデ
ータ記憶エリア7b内のいずれか一つのエリアでも書き
込みデータと読み出しデータが一致しなければEEPR
OM7は不良であると判断する。尚、上記処理はナンバ
ーデータ“1“を指定することにより不図示のシステム
ROM内に書き込まれたプログラムにより行われる。
CPU6は上記処理を終了すると、チェックNα記憶エ
リア7aへ随更新信号を出力しチェックNα記憶エリア
7aに記憶されていたナンバーデータを“1”から“2
°”へ更新する(S4)。さらに、上記更新データがデ
ータ“4″より大きいか判断し、もし上記更新データが
データ“4”より大きければチェック阻記憶エリア7a
に記憶するナンバーデータを“1″とする(S5.36
)。しかし、上記最初の処理ではナンバーデータは“2
”である為、処理(S6)を実行することなくEEPR
OM7のチェック処理を終了する。
リア7aへ随更新信号を出力しチェックNα記憶エリア
7aに記憶されていたナンバーデータを“1”から“2
°”へ更新する(S4)。さらに、上記更新データがデ
ータ“4″より大きいか判断し、もし上記更新データが
データ“4”より大きければチェック阻記憶エリア7a
に記憶するナンバーデータを“1″とする(S5.36
)。しかし、上記最初の処理ではナンバーデータは“2
”である為、処理(S6)を実行することなくEEPR
OM7のチェック処理を終了する。
以上のようにして、装置への電源投入後のEEPROM
7のチェックを終了すると、装置の通常の処理が実行さ
れる0例えば、装置がプリンタであればプリント処理が
実行され、EEPROM7の実データ記憶エリア7Cに
トータルプリント枚数等のデータ記憶を行わせる。
7のチェックを終了すると、装置の通常の処理が実行さ
れる0例えば、装置がプリンタであればプリント処理が
実行され、EEPROM7の実データ記憶エリア7Cに
トータルプリント枚数等のデータ記憶を行わせる。
次に、上記処理を終了し装置の電源をオフした後、例え
ば再度衣の日に装置を使用する為電源を投入すると、装
置の初期設定の際前述のようにEEPROM7のチェッ
ク処理も同時に行われる。
ば再度衣の日に装置を使用する為電源を投入すると、装
置の初期設定の際前述のようにEEPROM7のチェッ
ク処理も同時に行われる。
この時の(2回目の)EEPROM7のチェック処理で
は、EEPROMV内のチェックNα記憶エリア7aに
前述のようにナンバーデータとして°“2°゛が設定さ
れていることから、CPU6はチェックNα記憶エリア
7aからデータ“2”を読み出し対応する処理を実行す
る(Sl、S2.37)この処理は第4図のNα2に示
すように、16進データのチェックデータ“AA″をチ
ェックデータ記憶エリア7b内の全てのエリアに書き込
み、さらに書き込んだデータを読み出し、CPU6は前
述と同様側データの一致を判断する。そして、書き込ん
だデータと読み出たデータが全てのエリアに対して同一
であればEEPROM7は異常無しと判断し、一方、い
ずれか一つのエリアでもデータの一致がなければE E
P ’ROM 7は不良であると判断する(尚、第4
図のNα2の処理の下位に示すデータ“55°”は前述
のNα1の処理で書き込まれたチェックデータ“55″
がまだ新たなチェックデーラダ’ A A ”に変換さ
れる前の状態であることを示す)。
は、EEPROMV内のチェックNα記憶エリア7aに
前述のようにナンバーデータとして°“2°゛が設定さ
れていることから、CPU6はチェックNα記憶エリア
7aからデータ“2”を読み出し対応する処理を実行す
る(Sl、S2.37)この処理は第4図のNα2に示
すように、16進データのチェックデータ“AA″をチ
ェックデータ記憶エリア7b内の全てのエリアに書き込
み、さらに書き込んだデータを読み出し、CPU6は前
述と同様側データの一致を判断する。そして、書き込ん
だデータと読み出たデータが全てのエリアに対して同一
であればEEPROM7は異常無しと判断し、一方、い
ずれか一つのエリアでもデータの一致がなければE E
P ’ROM 7は不良であると判断する(尚、第4
図のNα2の処理の下位に示すデータ“55°”は前述
のNα1の処理で書き込まれたチェックデータ“55″
がまだ新たなチェックデーラダ’ A A ”に変換さ
れる前の状態であることを示す)。
その後前述と同様、CPU6はチェックNo記憶エリア
7aへNo、更新信号を出力し、ナンバーデータをデー
タ“2”から“3°°に更新し、更新されたデータが°
“4“より大きいが否かの判断を行って第2回目のEE
PROM7のチェック処理を終了する。
7aへNo、更新信号を出力し、ナンバーデータをデー
タ“2”から“3°°に更新し、更新されたデータが°
“4“より大きいが否かの判断を行って第2回目のEE
PROM7のチェック処理を終了する。
上記CPU6の1回目のチェックデータ“55”は2進
数では”01010101”であり、2回目のチェック
データ“’AA″は2進数では“1゜101010”で
ある。すなわち、これらの交互に異なるデータを用いて
EEPROM7の不良を判断することはEEPROM7
とCPU6間のデータバスの配線不良も同時に判断でき
るものである。
数では”01010101”であり、2回目のチェック
データ“’AA″は2進数では“1゜101010”で
ある。すなわち、これらの交互に異なるデータを用いて
EEPROM7の不良を判断することはEEPROM7
とCPU6間のデータバスの配線不良も同時に判断でき
るものである。
次に、同様にして装置の電源を投入すると(3回目)、
チェックNo、記憶エリア7aに記憶されたナンバーデ
ータ“3°“に基づく処理をCPU6は実行し、チェッ
クデータ記憶エリア7bにチェックデータ“oi””、
o2”、“04″ ・・・と2進数で表した場合にいず
れが1ビツトのみにデータ“1“が含まれるデータを書
き込む。そして、同様に上記データを読み出して両デー
タの一致を確認する(S 1−32 →58−34−3
5−36)さらに、例えば第4回目に装置の電源を投入
するときにはチェックNα記憶エリア7aに記憶された
ナンバーデータ“4″に基づく処理をCPU6は実行し
、チェックデータ記憶エリア7bにチェックデータ“f
e”、“fd”、”fb″ ・・・と2進数で表した場
合にいずれが1ビツトのみにデータ“Oo”が含まれる
データを書き込み、同様に上記データを読み出して両デ
ータの一致を確認する(S 1 →S 2 →S 9−
34 →S 5−36 ) 、上記処理S8、S9はチ
ェックデータのいずれが1ビツトにデータ“°l′、又
は0”を含むデータであり、このチェックで両データが
一致しない場合には特にEEPROM7の不良のみなら
ずCPU6とEEPROM7との間のアドレスバスに異
常がある場合もあり、上記処理によりEEPROM7の
チェックのみならずアドレスバスのチェックも含んで行
うことができる。
チェックNo、記憶エリア7aに記憶されたナンバーデ
ータ“3°“に基づく処理をCPU6は実行し、チェッ
クデータ記憶エリア7bにチェックデータ“oi””、
o2”、“04″ ・・・と2進数で表した場合にいず
れが1ビツトのみにデータ“1“が含まれるデータを書
き込む。そして、同様に上記データを読み出して両デー
タの一致を確認する(S 1−32 →58−34−3
5−36)さらに、例えば第4回目に装置の電源を投入
するときにはチェックNα記憶エリア7aに記憶された
ナンバーデータ“4″に基づく処理をCPU6は実行し
、チェックデータ記憶エリア7bにチェックデータ“f
e”、“fd”、”fb″ ・・・と2進数で表した場
合にいずれが1ビツトのみにデータ“Oo”が含まれる
データを書き込み、同様に上記データを読み出して両デ
ータの一致を確認する(S 1 →S 2 →S 9−
34 →S 5−36 ) 、上記処理S8、S9はチ
ェックデータのいずれが1ビツトにデータ“°l′、又
は0”を含むデータであり、このチェックで両データが
一致しない場合には特にEEPROM7の不良のみなら
ずCPU6とEEPROM7との間のアドレスバスに異
常がある場合もあり、上記処理によりEEPROM7の
チェックのみならずアドレスバスのチェックも含んで行
うことができる。
したがって、チェックNα記憶エリア7aに順次ナンバ
ーデータ“1″〜“4”を繰り返して入力することによ
り、CPU6はNα1〜NO,4のチェック処理を装置
の電源投入毎に繰り返して行い、不良の無いEEPRO
M7に実データの記憶を行わせることができる。しかも
、本実施例のEEPROMのチェックは装置の電源投入
の時の1回しか行わない為、EEPROM7の寿命を短
くすることもなく、またチェックデータ記憶エリア7b
を特別にEEPROM7に設けこのチェックデータ記憶
エリア7bへチェックデータの書き込み処理を行うこと
によりEEPROM7のチェックを行うので、実データ
を記憶する時に実データ記憶エリア7cのデータ記憶処
理の障害となることもない。
ーデータ“1″〜“4”を繰り返して入力することによ
り、CPU6はNα1〜NO,4のチェック処理を装置
の電源投入毎に繰り返して行い、不良の無いEEPRO
M7に実データの記憶を行わせることができる。しかも
、本実施例のEEPROMのチェックは装置の電源投入
の時の1回しか行わない為、EEPROM7の寿命を短
くすることもなく、またチェックデータ記憶エリア7b
を特別にEEPROM7に設けこのチェックデータ記憶
エリア7bへチェックデータの書き込み処理を行うこと
によりEEPROM7のチェックを行うので、実データ
を記憶する時に実データ記憶エリア7cのデータ記憶処
理の障害となることもない。
尚、本実施例ではチェックNα記憶エリア7aへ記憶す
るナンバーデータとして1〜4を用いたが、4つに限る
わけではない。また、本実施例ではCPU6からチェッ
クNα記憶エリア7aへNα更新信号を出力するように
構成したが、チェックNα記憶エリア7aから自動的に
更新されたナンバーデータが出力されるように構成して
も良い。
るナンバーデータとして1〜4を用いたが、4つに限る
わけではない。また、本実施例ではCPU6からチェッ
クNα記憶エリア7aへNα更新信号を出力するように
構成したが、チェックNα記憶エリア7aから自動的に
更新されたナンバーデータが出力されるように構成して
も良い。
[発明の効果〕
本発明によれば、EEPROMへの実データの書き込み
回数を増すことができ、EEPROMの寿命を延ばすこ
とが可能となり、さらにこのEEPROMを搭載した装
置の使用期間を延ばすことも可能となる。
回数を増すことができ、EEPROMの寿命を延ばすこ
とが可能となり、さらにこのEEPROMを搭載した装
置の使用期間を延ばすことも可能となる。
マタ、EEPROMへのバス線のチェックも可能となる
。
。
第1図は本発明の機能ブロック図、
第2図は一実施例のEEPROMチェック装置のシステ
ム構成図、 第3図は一実施例のEEPROMチェック装置のフロー
チャート、 第4図は一実施例のEEPROMチェック装置の処理工
程図である。 ■ ・ EEPROM、 ・チェック制御手段。
ム構成図、 第3図は一実施例のEEPROMチェック装置のフロー
チャート、 第4図は一実施例のEEPROMチェック装置の処理工
程図である。 ■ ・ EEPROM、 ・チェック制御手段。
Claims (1)
- EEPROMのメモリ領域の一部をチェック種別デー
タ記憶エリアとチェックデータ記憶エリアとし、チェッ
ク制御手段は、上記チェック種別データ記憶エリアのデ
ータに基づき上記チェックデータ記憶エリアに所定のチ
ェックデータを書き込んだ後このチェックデータを読み
出して両データの一致を判別することによりチェックを
行うことを特徴とするEEPROMチェック方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1246320A JPH03110650A (ja) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | Eepromチェック方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1246320A JPH03110650A (ja) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | Eepromチェック方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03110650A true JPH03110650A (ja) | 1991-05-10 |
Family
ID=17146803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1246320A Pending JPH03110650A (ja) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | Eepromチェック方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03110650A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0869213A (ja) * | 1994-08-30 | 1996-03-12 | Canon Inc | 画像形成装置および画像形成方法 |
| JP2012523599A (ja) * | 2009-04-08 | 2012-10-04 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 有限の耐久性および/または持続性を有するメモリ装置からのモニタ・データの情報を分析する方法およびシステム |
| JP2014532953A (ja) * | 2011-11-01 | 2014-12-08 | シリコン ストーリッジ テクノロージー インコーポレイテッドSilicon Storage Technology, Inc. | 省電力混合電圧不揮発性メモリ集積回路 |
| JP2018142053A (ja) * | 2017-02-27 | 2018-09-13 | クラリオン株式会社 | 不揮発性メモリー判定装置、不揮発性メモリー判定装置の制御方法、及び、車載装置 |
-
1989
- 1989-09-25 JP JP1246320A patent/JPH03110650A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0869213A (ja) * | 1994-08-30 | 1996-03-12 | Canon Inc | 画像形成装置および画像形成方法 |
| JP2012523599A (ja) * | 2009-04-08 | 2012-10-04 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 有限の耐久性および/または持続性を有するメモリ装置からのモニタ・データの情報を分析する方法およびシステム |
| JP2014532953A (ja) * | 2011-11-01 | 2014-12-08 | シリコン ストーリッジ テクノロージー インコーポレイテッドSilicon Storage Technology, Inc. | 省電力混合電圧不揮発性メモリ集積回路 |
| CN104681087A (zh) * | 2011-11-01 | 2015-06-03 | 硅存储技术公司 | 具有功率节省的混合电压非易失性存储器集成电路 |
| US9378838B2 (en) | 2011-11-01 | 2016-06-28 | Silicon Storage Technology, Inc. | Mixed voltage non-volatile memory integrated circuit with power saving |
| JP2018142053A (ja) * | 2017-02-27 | 2018-09-13 | クラリオン株式会社 | 不揮発性メモリー判定装置、不揮発性メモリー判定装置の制御方法、及び、車載装置 |
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