JPH03115537A - 高強度Cu合金製端子・コネクター材 - Google Patents

高強度Cu合金製端子・コネクター材

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JPH03115537A
JPH03115537A JP21636290A JP21636290A JPH03115537A JP H03115537 A JPH03115537 A JP H03115537A JP 21636290 A JP21636290 A JP 21636290A JP 21636290 A JP21636290 A JP 21636290A JP H03115537 A JPH03115537 A JP H03115537A
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alloy
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heat resistance
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JP21636290A
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Takeshi Suzuki
竹四 鈴木
Rensei Futatsuka
二塚 錬成
Toshikazu Ehana
江花 俊和
Seiji Kumagai
誠司 熊谷
Manpei Kuwabara
桑原 萬平
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Mitsubishi Shindoh Co Ltd
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Mitsubishi Shindoh Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、すぐれた導電性と耐熱性を有し、さらに高
強度を有するCu合金製端子・コネクター材に関するも
のである。
〔従来の技術〕
一般に、重量%で(以下%は重量%を示す)、Sn::
0.5〜9%、 P  :0.03〜0.35%、 を含有し、残りがCuと不可避不純物からなる組成を有
するCu合金(りん青銅)製端子・コネクター材が知ら
れている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、上記の従来Cu合金製端子・コネクター材は、
高強度をもつものの、導電性および耐熱性が十分でない
ために、近年の小型化あるいは複雑化した形状の端子・
コネクターに適用することができないのが現状である。
〔問題点を解決するための手段〕
そこで、本発明者等は、上述のような観点から、導電性
および耐熱性にすぐれ、かつ高強度を有する端子・コネ
クター材を開発すべく、特に高導電率を確保する目的で
Cu合金製端子・コネクター材に着目し研究を行なった
結果、 Mg : 0.3〜2%、 P   : 0.QO1〜0,1%、 Ti:0.03〜0.5%、 を含有し、残りがCuと不可避不純物からなる組成を有
するCu合金で構成された端子・コネクター材は、高強
度と共に、すぐれた導電性と耐熱性を有し、すぐれた性
能を長期に亘って発揮するという研究結果を得たのであ
る。
この発明は、上記研究結果にもとづいてなされたもので
あって、以下に端子・コネクター材を構成するCu合金
の成分組成範囲を上記の通りに限定した理由を説明する
。
(a)  Mg Mg成分には、Cu合金の素地中に固溶することによっ
て、導電性を損なうことなく、強度および耐熱性を向上
させる作用があるが、その含有量が0.3%未満では前
記作用に所望の効果が得られず、一方その含有量が2%
を越えると、導電性が損なわれるようになると共に、C
u合金の鋳造性にも劣化現象が現われるようになること
から、その含有量を0.3〜2%と定めた。
(b)  p P成分には、Cu合金溶湯に対する脱酸作用があるほか
、Mg成分と共存した状態で、強度および耐熱性を向上
させ、さらにTIと反応して化合物を形成し、Tl成分
のCu合金素地への固溶による導電性の低下を抑制する
作用があるが、その含有量がo、oot%未満では前記
作用に所望の効果が得られず、一方その含有量が0.1
%を越えると、Cu合金に脆化傾向が現われるようにな
ることがら、その含有量を0.001〜0.1%と定め
た。
(c)  Tl Tl成分には、上記のように化合物を形成して強度およ
び耐熱性を向上させる作用があるが、その含有量が、0
.03%未満では所望の高強度を確保することができず
、一方その含有量が、0.5%を越えると、導電性が損
なわれるようになって高導電性を確保するのが困難にな
ることから、その含有量を0.03〜0.5%と定めた
。
〔実 施 例〕
つぎに、この発明のCu合金製端子・コネクター材を実
施例により具体的に説明する。
通常の低周波溝型誘導炉を用い、それぞれ第1表に示さ
れる成分組成をもったCu合金溶湯を調製し、半連続鋳
造法にて、厚さ:15OmmX幅:400龍×長さ: 
1500關の寸法をもった鋳塊に鋳造した後、この鋳塊
に、710〜760℃の範囲内の所定の圧延開始湿度に
て熱間圧延を施して厚さ:ll龍の熱延板とし、ついで
水冷後、前記熱延板の上下両面を0.5+amづつ面側
して厚さ:10關とした状態で、通常の条件にて冷間圧
延と焼鈍とを交互に繰り返し行ない、最終仕上圧延率ニ
ア5%にて厚さ二〇、25m閣の冷延板とし、最終的に
250〜400℃の範囲内の所定の温度に30分間保持
の歪取り焼鈍を施すことによって本発明Cu合金製端子
・コネクター材1〜5をそれぞれ製造した。
また、比較の目的で、従来Cu合金製端子・コネクター
材1,2として、同じく第1表に示される組成をもった
市販のりん青銅製のものを用意した。
ついで、この結果得られた本発明Cu合金製端端子・コ
ネクター材1〜5、並びに従来Cu合金製端子・コネク
ター材:0.2について、強度を評価する目的で、引張
強さおよびばね限界値、並びに伸びを測定し、また導電
性を評価する目的で導電率(IAC3%)を測定し、さ
らに耐熱性を評価する目的で軟化温度、および応力付加
加熱後の応力緩和率を測定した。
なお、ばね限界値は、J I S −H3130のモー
メント式試験により1411定し、さらに、軟化温度は
、上記の各種Cu合金製端子・コネクター材をそれぞれ
種々の温度に30分間加熱保持し、加熱後のビッカース
硬さを加熱温度ごとに1lpJ定し、この測定結果にも
とづいて急激な硬さ低下が見られる温度を判定し、この
判定温度を軟化温度と定めた。
また、応力緩和率は、幅: L2.7yam×長さ:1
20+u(以下り。とする)の寸法をもった試験片を使
用し、この試験片を長さ:110mmX深さ=3龍の水
平縦長溝を有する治具に前記試験片の中央部が上方に膨
出するように彎曲セットしくこの時の試験片の両端部間
の距離用0關をLlとする)、この状態で温度=150
℃に1000時間保持し、加熱後、前記治具から取りは
ずした状態における前記試験片の両端部間の距離(以下
L2とする)を測定し、計算式:  (Lo−L2)/
 (Lo−Ll)X100(%)によって算出すること
により求めた。これらの結果を第1表に示した。
〔発明の効果〕
第1表に示される結果から、本発明Cu合金製端子・コ
ネクター材1〜5は、いずれも従来Cu合金製端子・コ
ネクター材1,2と同等の高強度を保持した状態で、こ
れより一段とすぐれた導電性と耐熱性をもつことが明ら
かである。
上述のように、この発明のCu合金製端子・コネクター
材は、すぐれた導電性と耐熱性を有し、さらに高強度を
有するので、これらの特性が要求される、特に小型化あ
るいは複雑化した形状のものに適用した場合にすぐれた
性能を十分に発揮し、また従来Cu合金製端子・コネク
ター材のように高価なSn成分を含有していないのでコ
ストの安いものであるなど工業上有用な特性を有するの
である。
代 理 人 昌 田 和 夫 外1名

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  Mg:0.3〜2%、 P:0.001〜0.1%、 Ti:0.03〜0.5%、 を含有し、残りがCuと不可避不純物からなる組成(以
    上重量%)を有するCu合金で構成したことを特徴とす
    る導電性および耐熱性のすぐれた高強度Cu合金製端子
    ・コネクター材。
JP21636290A 1990-08-16 1990-08-16 高強度Cu合金製端子・コネクター材 Granted JPH03115537A (ja)

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JPH0515773B2 JPH0515773B2 (ja) 1993-03-02

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