JPH03122370U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH03122370U JPH03122370U JP3090990U JP3090990U JPH03122370U JP H03122370 U JPH03122370 U JP H03122370U JP 3090990 U JP3090990 U JP 3090990U JP 3090990 U JP3090990 U JP 3090990U JP H03122370 U JPH03122370 U JP H03122370U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- terminal
- spacer
- probe
- stopper
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
第1図は本考案に関わる測定プローブの組合部
構造の実施例を示す側面図、第2図a及びbは本
考案に関わる測定プローブの組合部構造の他の実
施例を示す側面図及び平面図、第3図は従来の測
定プローブの組合部構造を示す側面図、第4図は
従来の他の測定プローブの組合部構造を示す側面
図、第5図及び第6図は従来の測定プローブの組
合部構造の問題点を示す側面図である。 34……測定端子部、37……スペーサ、40
……貫通孔、41……挿通孔、42……ストツパ
軸、54……測定端子部、55……嵌装部材、5
5a……スペーサ部、55b……ストツパ部。
構造の実施例を示す側面図、第2図a及びbは本
考案に関わる測定プローブの組合部構造の他の実
施例を示す側面図及び平面図、第3図は従来の測
定プローブの組合部構造を示す側面図、第4図は
従来の他の測定プローブの組合部構造を示す側面
図、第5図及び第6図は従来の測定プローブの組
合部構造の問題点を示す側面図である。 34……測定端子部、37……スペーサ、40
……貫通孔、41……挿通孔、42……ストツパ
軸、54……測定端子部、55……嵌装部材、5
5a……スペーサ部、55b……ストツパ部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 支持基板に固着された筒状のプローブ本体
と、該プローブ本体の内壁に嵌着された端子支持
軸受と、プローブ本体長手方向に摺動自在に端子
支持軸受に挿通された端子支持軸と、該端子支持
軸の一方の端部に付設され被測定部に当接する測
定端子部と、前記端子支持軸をプローブ本体長手
方向に付勢するスプリングと、を有する測定プロ
ーブを、少なくとも二本組合せることにより、被
測定部の電気測定を行うように構成された測定プ
ローブの組合部構造において、前記測定プローブ
の測定端子部各々が所定の間隔を有するようにス
ペーサを挾装するとともに、該測定端子部各々を
プローブ本体長手方向に対して横方向外側から規
制するストツパを設け、さらに各々の測定プロー
ブが被測定部の形状に係合して自在に長手方向に
摺動することができるように構成したことを特徴
とする測定プローブの組合部構造。 (2) 一組の測定プローブの測定端子部各々に連
穿された貫通孔と、挿通孔が形成され、さらに測
定端子部各々に挾装されるスペーサと、該測定端
子部の貫通孔に遊挿されるとともにスペーサの挿
通孔に挿通されたストツパ軸と、該ストツパ軸の
両端部に付設されたストツパ部と、を有すること
を特徴とする請求項1記載の測定プローブの組合
部構造。 (3) 複数の測定プローブの測定端子部各々を所
定の間隔を有して隔てるスペーサ部と、該スペー
サ部とともに測定端子部を囲繞するストツパ部と
、を有する嵌装部材を、該測定端子部各々に纒装
したことを特徴とする請求項1記載の測定プロー
ブの組合部構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3090990U JPH03122370U (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3090990U JPH03122370U (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03122370U true JPH03122370U (ja) | 1991-12-13 |
Family
ID=31533631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3090990U Pending JPH03122370U (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03122370U (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7573279B2 (en) | 2006-08-15 | 2009-08-11 | Yokowo Co., Ltd. | Jig for Kelvin test |
| JP2013253785A (ja) * | 2012-06-05 | 2013-12-19 | Mitsubishi Electric Corp | プローブカード |
| JP2014071091A (ja) * | 2012-10-02 | 2014-04-21 | Hioki Ee Corp | プローブユニットおよび検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5540338B2 (ja) * | 1974-01-23 | 1980-10-17 | ||
| JPS6183966A (ja) * | 1984-10-01 | 1986-04-28 | Olympus Optical Co Ltd | 電子回路基板の検査装置 |
-
1990
- 1990-03-26 JP JP3090990U patent/JPH03122370U/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5540338B2 (ja) * | 1974-01-23 | 1980-10-17 | ||
| JPS6183966A (ja) * | 1984-10-01 | 1986-04-28 | Olympus Optical Co Ltd | 電子回路基板の検査装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7573279B2 (en) | 2006-08-15 | 2009-08-11 | Yokowo Co., Ltd. | Jig for Kelvin test |
| JP2013253785A (ja) * | 2012-06-05 | 2013-12-19 | Mitsubishi Electric Corp | プローブカード |
| US9157931B2 (en) | 2012-06-05 | 2015-10-13 | Mitsubishi Electric Corporation | Probe card |
| JP2014071091A (ja) * | 2012-10-02 | 2014-04-21 | Hioki Ee Corp | プローブユニットおよび検査装置 |