JPH0312959A - 厚膜回路基板 - Google Patents

厚膜回路基板

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Publication number
JPH0312959A
JPH0312959A JP14916689A JP14916689A JPH0312959A JP H0312959 A JPH0312959 A JP H0312959A JP 14916689 A JP14916689 A JP 14916689A JP 14916689 A JP14916689 A JP 14916689A JP H0312959 A JPH0312959 A JP H0312959A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistors
terminals
thick film
conductor patterns
separated
Prior art date
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Pending
Application number
JP14916689A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Chikamori
近森 成男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明はマイクロ波通信装置の制御回路等に用いられる
厚膜ハイブリッドIC用の厚膜回路基板に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の厚膜回路基板は、第2図にそのパターン
構成を示すように、絶縁基板10表面に所要形状の導体
パターン11〜14を形成し、この導体パターン11〜
14の一部に抵抗体21〜23を印刷形成し、かつ他の
部位に搭載部品31〜33を半田付は等により搭載して
いる。
[発明が解決しようとする課題] 上述した従来の厚膜回路基板では、複数個の抵抗体21
〜23が導体パターン11〜14等によって並列接続さ
れる場合には、抵抗体21〜23の各抵抗値を測定する
ことができないため、これらの抵抗体21〜23が並列
接続された状態での合成抵抗値を測定している。このた
め、個々の抵抗体の抵抗値がそれぞれ許容される値の範
囲に入っているか否かを確認することは不可能である。
このようなことから、従来では抵抗値を調整しなから厚
膜回路の電気的特性の調整を行う際には、複数の抵抗体
の合成抵抗値を測定しながらいずれかの抵抗体をトリミ
ングして該抵抗体の抵抗値を変化させ、これによって合
成抵抗値を所定値に設定することが行われている。この
ため、場合によっては個々の抵抗体が許容範囲から逸脱
することがあり、厚膜ハイプリントICを構成した際の
電気特性にばらつきが生しる原因となっている。
本発明は個々の抵抗体の抵抗値をそれぞれ許容範囲内に
設定できる厚膜回路基板を捉供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明の厚膜回路基板は、抵抗体を並列接続する導体パ
ターンを搭載部品接続部位においてそれぞれ分離端子と
して分離させ、かつこれら分離端子を搭載部品の電極に
よって相互に導通させるように構成している。
〔作用〕
この構成では、搭載部品を搭載する前には導体パターン
に設けた分離端子によって各抵抗体をそれぞれ個別な状
態とし、各抵抗体の抵抗値の測定を可能とする。また、
搭載部品を搭載したときには搭載部品を介して分離端子
を導通させ、各抵抗体を並列接続する。
[実施例] 次に、本発明を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の厚膜回路基板の一部の平面図であり、
1は絶縁基板、11〜14ばこの絶縁基板1上に所要形
状に形成した導体パターン、21〜23は前記導体パタ
ーン11〜14にその一部を重ねて印刷形成した抵抗体
、31〜33ば前記導体パターン11〜14」二に半田
付り等により搭載する搭載部品である。
ここで、前記導体パターン11〜14は搭載部品31〜
33を搭載する箇所において一部を分離させている。こ
こでは導体パターン1.2.]、3の一部を分離させて
おり、それぞれの端部を分離端子12a、1.2b及び
13a、13bとして構成している。この分離は前記各
抵抗体21.2223がそれぞれ導体パターン12.1
3によって並列接続されないように、各抵抗体21〜2
3の間の位置に各分離端子を配設している。そして、各
分離端子は、それぞれ搭載する予定の搭載部品31〜3
3の搭載領域の平面内に配置している。
この構成によれば、搭載部品31〜33を搭載する前で
は、分離端子12a、12b及び13 a13bによっ
て導体パターン12.13が分離されるため、これら導
体パターン」二に印刷形成した抵抗体21〜23ばそれ
ぞれ電気的に分離されている。したがって、各抵抗体2
1〜23の抵抗値を個々に測定でき、トリミングによっ
て各抵抗値を所定の抵抗値に設定することが可能となる
。
そして、その後搭載部品31〜33を導体バタン11〜
14上に載置し、特に分離端子12a1、2 b及び]
−3a、13bに対しては、搭載部品32.33の一方
の電極を同時に半田付けすることで、各分離端子12a
、12bと13a、]、3bは該電極を通して接続され
、導体パターン1213を本来の配線状態に接続させる
。これにより、各抵抗体21〜23は所期の並列接続状
態で電気接続され、所要の回路が構成される。
〔発明の効果] 以」−説明したように本発明は、抵抗体を並列接続する
導体パターンを分離端子によって分離させ、かつこれら
分離端子を搭載部品の電極によって相互に導通させるよ
うに構成しているので、搭載部品を搭載する前には導体
パターンに設()た分離端子によって各抵抗体をそれぞ
れ個別な接続状態とし、各抵抗体の抵抗値の測定を可能
とする。また、搭載部品を搭載したときには搭載部品を
介して分離端子を導通させ、各抵抗体を並列接続して本
来の回路を構成することができる。これにより、厚膜回
路基板の電気的特性の調整を高精度に実行することがで
きる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の厚膜回路基板の一実施例の要部の平面
図、第2図は従来の厚膜回路基板の一部の平面図である
。 1・・・絶縁基板、11〜14・・・導体パターン、1
2a、12b、13a、13b・・・分離端子、21〜
23・・・抵抗体、31〜33・・・搭載部品。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1. 絶縁基板に形成した導体パターンの一部に複数の
    抵抗体を印刷形成し、かつ該導体パターンの他部に搭載
    部品を搭載接続してなる厚膜回路基板において、前記抵
    抗体を並列接続する導体パターンを前記他部においてそ
    れぞれ分離端子として分離させ、かつこれら分離端子を
    搭載部品の電極によって相互に導通させるように構成し
    たことを特徴とする厚膜回路基板。
JP14916689A 1989-06-12 1989-06-12 厚膜回路基板 Pending JPH0312959A (ja)

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JP14916689A JPH0312959A (ja) 1989-06-12 1989-06-12 厚膜回路基板

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JP14916689A JPH0312959A (ja) 1989-06-12 1989-06-12 厚膜回路基板

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JPH0312959A true JPH0312959A (ja) 1991-01-21

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ID=15469240

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JP14916689A Pending JPH0312959A (ja) 1989-06-12 1989-06-12 厚膜回路基板

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57155763A (en) * 1981-03-20 1982-09-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacture of thick film circuit element

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57155763A (en) * 1981-03-20 1982-09-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacture of thick film circuit element

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