JPH031309A - 磁気ヘッドの製造方法 - Google Patents

磁気ヘッドの製造方法

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JPH031309A
JPH031309A JP13646889A JP13646889A JPH031309A JP H031309 A JPH031309 A JP H031309A JP 13646889 A JP13646889 A JP 13646889A JP 13646889 A JP13646889 A JP 13646889A JP H031309 A JPH031309 A JP H031309A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、フロッピーディスク、ハードディスク、各種
磁気テープ等の磁気記録媒体用のメタル・イン・ギャッ
プ(MIG)型の磁気ヘッドとMIG型の磁気ヘッド用
の磁性合金薄膜と、これらの製造方法とに関する。
〈従来の技術〉 第3図に示されるような、フェライト製の第1および第
2コア1.2の少なくとも一方のギャップ部対向面にコ
ア1.2よりも飽和磁束密度の高いセンダスト等の磁性
合金薄膜40を有するMIG型磁気ヘッドが知られてい
る。
この磁気ヘッドでは、磁性合金薄膜40から強力な磁束
を磁気記録媒体に印加できるため、高い保磁力を有する
媒体に有効な記録が行える。
そして、MIG型磁気ヘッドの場合、記録・再生感度を
向上させるために、磁性合金薄膜4oの保磁力Hcは低
いほど好ましく、具体的には2〜3 0e程度以下であ
ることが要求される。
一方、磁気ヘッドは、その接着耐久性を向上させるため
、通常図示のように溶着ガラス3により溶着一体化され
、補強される。
この場合、強固な補強を行うためには、作業温度Twの
高いガラスを用いて高温で溶着する必要がある。
なお、作業温度Twとは、周知のように、ガラスの粘度
が104ポアズとなる温度をいう。
〈発明が解決しようとする課題〉 ところで、ガラス溶着の際熱処理を行うと、磁性合金薄
膜40の保磁力Heが増大する。
このため透磁率が低下し、良好な記録・再生感度を有す
る磁気ヘッドを得ることは困難である。
特に作業温度Twの高いガラスを用いて、高温で溶着す
るほど保磁力Hcは増大し、例えば、650℃程度以上
で溶着を行うと、磁性合金薄膜40の保磁力Hcは30
eをこえてしまう。
本発明の目的は、ガラス溶着等のため熱処理を行っても
保磁力Hcが増大しないMIG型磁電磁気ヘッド用磁性
合金薄膜してその製造方法、さらにはこの磁性合金薄膜
を有し、優れた記録・再生感度と接着耐久性とを有する
MIG型磁気ヘッドを提供することにある。
〈課題を解決するための手段〉 このような目的は下記の(1)〜(4)の本発明によっ
て達成される。
(1)下記式で示される原子比組成を有することを特徴
とする磁気ヘッド用磁性合金薄膜。
式  F e too−IXIP+l+  S  l 
x  A 122  N 。
(上式において15≦X≦19. 5≦y≦11,0.1≦Z≦1.5である。)(2)F
e、StおよびAεを含有する合金をターゲットとし、
Ar中にN2を0.1〜1.5体積%含有する雰囲気下
で、スパッタリングを行い、上記(1)に記載の組成と
する磁気ヘッド用磁性合金薄膜の製造方法。
(3)一対のコア間に、上記(1)に記載の磁気ヘッド
用磁性合金薄膜を有する磁気ヘッド。
(4)直流での保磁力Hcが30e以下である請求項1
に記載の磁性合金薄膜を有し、前記一対のコアを作業温
度Twが400〜800’Cの溶着ガラスにより溶着一
体化した上記(3)に記載の磁気ヘッド。
く作用〉 本発明では、磁性合金薄膜を所定の組成とすることによ
り、ガラス溶着等の熱処理を行う場合、その保磁力Hc
の増加を低減することができる。
このため保磁力Heの小さいMIG型磁電磁気ヘッド用
磁性合金薄膜ることができる。
また、このような所定組成の磁性合金薄膜を有する本発
明の磁気ヘッドは、優れた記録・再生感度を有する。
そして、磁性合金薄膜の熱処理による保磁力H,の増加
量が小さいため、作業温度Twの高いガラスにより高温
で溶着熱処理を行っても十分小さい保磁力Hcが得られ
る。
従って磁気ヘッドの強固な補強を行うことができ、信頼
性の高い磁気ヘッドを得ることができる。
く具体的構成〉 本発明のMIG型磁気ヘッドの好適実施例を、第1図お
よび第2図に示す。
第1図に示される磁気ヘッドは、ギャップ部対向面に、
磁性合金薄膜4が形成されている第1コア1と、第2コ
ア2とを有し、両コアがギャップ5を介して接合され、
溶着ガラス3により溶着一体化されている。
また、第2図に示される磁気ヘッドは、磁性合金薄膜4
を第1コア1、第2コア2の双方のギャップ部対向面に
形成したタイプのものである。
本発明において、コア1.2はフェライトから構成され
ることが好ましい。
この場合、用いるフェライトに特に制限はないが、Mn
−ZnフェライトまたはNi−Znフェライトを、目的
に応じて用いることが好ましい。
Mn−Znフェライトとしては、F e z O35o
〜60モル%程度、zno 8〜25モル%程度、残部
が実質的にMnOのものが好適である。
また、N 1−Znフェライトは特に高周波領域におい
て優れた特性を示すものであり、好ましい組成としては
、Fetusが30〜60モル%、NiOが15〜50
モル%、ZnOが5〜40モル%程度のものである。
コア1.2の直流での飽和磁束密度B8は、好ましくは
3,000〜6,0OOGとする。
飽和磁束密度が前記範囲未満であると、インピーダンス
が低くなるため再生感度が低下する他、このような飽和
磁束密度の組成では、キュリー温度が低(なるため熱的
安定性が低下してしまう。 前記範囲をこえると、磁歪
が増加して磁気ヘッドとしての特性が悪化したり、着磁
し易くなる。
コア12の直流での初透磁率μ、は 1.000以上、保磁力Hcは0.30e以下であるこ
とが好ましい。
また、コア1.2のギャップ部対向面は、鏡面研磨等に
より平滑化し、後述する磁性合金薄膜4や下地膜等が形
成され易いようにすることが好ましい。
磁性合金薄膜4は、記録時に密度の高い磁束を発生させ
、高い保磁力を有する磁気記録媒体に有効な記録を行な
うために設けられる。
この場合、コア1.2と磁性合金薄膜4の間には、ガラ
ス等の下地膜を形成してもよい。
下地膜の材料としては、特願平1−71506号に示さ
れるガラス等が好適である。
本発明の磁性合金薄膜4は、下記式で示される原子比組
成を有する。
式  F e too−1x*y+zl  S  1 
*  A j2 y  N @上式においてXは15〜
19、好ましくは17〜18である。
前記範囲外では、熱処理により、保磁力Hcが3 0e
をこえ、良好な軟磁気特性を有する磁性合金薄膜が得ら
れない。
また、yは5〜11.好ましくは7〜10である。
前記範囲外では、熱処理により、保磁力Hcが3 0e
をこえ、良好な軟磁気特性を有する磁性合金薄膜が得ら
れない。
また、2は0.1−1.5、好ましくは0゜2〜0.5
である。
前記範囲外ではガラス溶着等の熱処理を行う場合、保磁
力Hcが増大し、良好な記録・再生感度を得ることが困
難である。
なお、前記組成には0、Ca、Ti、V、Cr、Mn、
Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Zr%Nb、Mo、R
u、Pd、Ag、Ta。
W、Pt、Auおよびpb等から選ばれる1種以上の元
素が2at%程度以下含有されていてもよい。
ここで、ヘッド完成時における磁性合金薄膜4の直流で
の保磁力Hcは、30e以下、より好ましくは1 0e
以下、特に好ましくは0.50e以下であることが好ま
しい。
直流での初透磁率μ、は、500以上、より好ましくは
1000以上であることが好ましい。
保磁力Hcが前記範囲をこえると、あるいは初透磁率μ
、が前記範囲未満であると、記録・再生感度が低下する
傾向にある。
また、磁性合金薄膜4の飽和磁束密度B1は、1000
0G以上であることが好ましい。
前記範囲未満であると密度の高い磁束を発生することが
できず、高保磁力の磁気記録媒体への記録が困難となり
、また、高密度記録にも不適当となる。
本発明では、磁性合金薄膜4の組成を前記範囲内とする
ことにより、例えば下記に示される直流での磁気特性を
得ることができる。
保磁力HC: O,1〜3 0e、 さらにO,1〜10e。
特に0.1〜0.50e 初透磁率μ、:500〜l 0000、特に1000〜
10000 飽和磁束密度B、:1000−13000Gなお、磁性
合金薄膜4の磁気特性は、磁気ヘッドに形成する場合と
同一条件で非磁性基板上に成膜し、同一条件の熱処理を
行った後測定すればよい。
磁性合金薄膜4の膜厚は、好ましくは0.2〜5−5さ
らに好ましくは0.5〜3−である。
膜厚が前記範囲未満であると、磁性合金薄膜4全体の体
積が不足して飽和し易くなり、前記のような作用を十分
に果たすことが困難となる。 また、前記範囲をこえる
と、磁性合金薄膜4の摩耗が太き(なる他、渦電流損失
が増大してしまう。
このような磁性合金薄膜4を有することにより、本発明
の磁気ヘッドは保磁力8000e以上、特に900〜1
,5000eの磁気記録媒体に対し有効な記録を行なう
ことができる。
本発明の磁性合金薄膜4は、スパッタ法により形成され
ることが好ましい。
本発明のスパッタリングでは、ターゲットとしてFe、
SLおよびAJ2を含有する合金を用いる。
ターゲットの組成は前述の式において、Nが含有されな
いものとほぼ同一とすればよい。
そして、スパッタリングは、Ar中にN2を0.1〜1
.5体積%、好ましくは0.2〜0.5体積%含有する
雰囲気下で行われる。
前記範囲外であると、ガラス溶着等の熱処理を行う場合
、磁性合金薄膜4の保磁力Heが増大する傾向にある。
なお、動作圧力は0.3〜2.OPa程度とすればよい
。
この場合、スパッタ投入電圧や電流等の諸条件は、スパ
ッタ方式の種類に応じ適宜決定する。
また、前記のような磁性合金薄膜4は、スパッタ法の他
、蒸着法、CVD法等の公知の各種気相成膜法により形
成することもできる。
コアl、コア2および磁性合金薄III 4が前述した
ような磁気特性であれば、磁気ヘッドとして高い出力と
分解能とが得られる。 また、オーバーライド特性も一
30dB以下の良好な値が得られる。
なお、分解能とは、例えば、1層信号の出力をV+r、
2層信号の出力をV2.としたとき、(vat/v +
t) x i o o [%]で表わされるものである
。
また、オーバライド特性とは、例えば、1層信号の上に
2層信号を重ね書きしたときの2層信号出力に対する1
層信号出力である。
ギャップ5は、非磁性材質から形成される。
特に、ギャップ5には、接着強度を高めるため接着ガラ
スを用いることが好ましく、例えば、特願平1−715
06号等に示されるガラスが好適である。
また、ギャップ5は、接着ガラスのみで形成されていて
もよいが、ギャップ形成速度やギャップ強度を高めるた
め、図示のようにギャップ51とギャップ53との2層
で形成されることか好ましい。
この場合、ギャップ51には5iO−を用い、ギャップ
53には接着ガラスを用いる。
なお、後述する溶着ガラス3が、ギャップ両サイドに流
れ込むタイプの磁気ヘッドの場合は、ギャップ5を酸化
ケイ素のみで形成してもよい。
ギャップ5の形成には制限はないが、特にスパッタ法を
用いることが好ましい。
ギャップ長は、0.2〜2.0戸程度である。
本発明のMIG型磁気ヘッドは、第1コアlと、第2コ
ア2とがギャップ5を介して接合−体止されているもの
である。
コアの接合は、ギャップ53の接着ガラスにより熱圧着
すると同時に溶着ガラス3を流し込むことにより行う。
用いる溶着ガラス3のTwは400〜800℃であるこ
とが好ましい。
本発明の磁性合金薄膜は、このようなTwのガラスを用
いて熱圧着しても、保磁力Hcは3 0e以下の値を保
持する。
溶着ガラス3としては、特に鉛ケイ酸ガラスを用いるこ
とが好ましい。 このうち、例えば、pboを40〜7
0重量%、5i02を20〜40重量%含有するものが
好適である。
特に、pboを50〜60重量%、SiO2を20〜3
0重量%含有するものが好ましい。
前記範囲外では、ガラスの作業温度Twが高く、溶着の
際磁性合金薄膜4の磁気特性を劣化させてしまう。
あるいは、ガラスの作業温度Twが低(、補強効果が不
十分である。
また、鉛ケイ酸ガラスは、前記組成に加えて、B20s
  Atz* Os 、ZnO1B l 20 s 、
 T 42 z OおよびT e O2のうち少なくと
も1種以上を含有するものが好ましい。
この場合、各物質の含有比は、B、O,は、5重量%以
下、好、ましくは1〜3重量%、A Q z Oaは、
5重量%以下、好ましくは3重量%以下、特に好ましく
は0.5〜3重量%、ZnOは、5重量%以下、Bia
ssTβ20およびT e O*は合計で30重量%以
下、とすることが好ましい。 ただし、Bi 20 x
とZnOとは併用しない方が好ましい。
さらに、前記鉛ケイ酸ガラスには、NazOが3重量%
以下、KsOが5重量%以下、NiOが2重量%以下、
MnOが2重量%以下、Few Osが2重量%以下含
有されていてもよい。
前記の組成を有する鉛ケイ酸ガラスの作業温度Twは6
00〜750℃となり、溶着温度550〜800℃にて
溶着な行うことができる。
この場合、本発明では、前述したように所定組成の磁性
合金薄膜4を用いるため、例えば、作業温度750℃の
ガラスを用いて、750℃で溶着を行っても磁性合金薄
膜4の保磁力Hcとして1 0e以下の良好な値を得る
ことができる。
そして、このような組成のガラスを用いることにより、
堅固に溶着を行うことができ、信頼製の高い磁気ヘッド
が得られる。
前記の鉛ケイ酸ガラスを用いた溶着に際しては、溶着温
度を作業温度Tw近辺とし、通常の方法により行う。
本発明の磁気ヘッドは、必要に応じスライダーと一体化
され、組立てられヘッドアセンブリーとされる。
そして、いわゆるラミネートタイプやバルクタイプ等の
トンネルイレーズ型あるいはイレーズヘッドを有しない
リードライト型などのオーバーライド記録を行なうフロ
ッピーヘッド、モノリシックタイプやコンポジットタイ
プの浮上型の計算機用ヘッド、回転型のVTR用ヘッド
やR−DAT用ヘッドなどの各種磁気ヘッドとして用い
られる。
また前記の本発明の磁気ヘッドを用いて、公知の種々の
方式のオーバーライド記録を行なうことができる。
なお、本発明においては、第1コア1、第2コア2の一
方のコアに前述した磁性合金薄膜4を形成し、他方のコ
アにはコアより飽和磁束密度B、の低い磁性合金薄膜を
形成したいわゆるEDG型の磁気ヘッドとすることがで
きる。
この場合も前述したMIG型磁気ヘッドと同様の効果を
得ることができる。
〈実施例〉 以下、本発明の具体的実施例を挙げ、本発明をさらに詳
細に説明する。
実施例1 磁性合金薄膜を非磁性基板上に、スパッタ法により膜厚
2μに形成した。
スパッタはF e was i +*A l1ts (
at%)の合金をターゲットとし、Ar中にN2を0.
3体積%含有する雰囲気下で行った。 動作圧力は、1
.3Paとした。 このようにして製造された磁性合金
薄膜をサンプルNo、1とする。
また、Ar中にN2を0.5体積%含有する雰囲気に換
え、サンプルNo、2を製造した。
さらに、雰囲気をAr 100体積%に換え、比較用サ
ンプルNo、3も製造した。
各サンプルの組成は表1に示されるとおりである。
これらのサンプルに、表1に示される温度で熱処理を3
0分間行って直流での保磁力HCを測定した。
結果は表1に示されるとおりである。
表    1 サンプル    組  成        保磁力Hc
(Oe)N o、      (at%)630℃  
680℃  750℃l(本発明)  Fets、5S
ittAj*、gNo、s   o、i    0.2
   0.92(本発明)  Feyi、sSl+tA
1sNo、s    O,20,2513(比 較) 
 FetJiteAら      1    1.7 
  4表1から明らかなように、本発明のサンプルは7
50℃の高温で熱処理しても1 0e以下のHcを保持
することがわかる。 これに対しNを含有しない比較サ
ンプルでは、750℃の熱処理ではHcが4  Oe以
上となってしまい、実用できない。
実施例2 第1図に示されるように、ギャップ部対向面に磁性合金
薄膜4が形成されている第1コアlと、第2コア2とを
ギャップ5を介して接合−体化し、MIG型磁気ヘッド
を製造した。
コア1.2の材質はMn−Znフェライトとし、直流で
の飽和磁束密度B、は5000G、初透磁率μmは30
00、保磁力Hcは0.10eであった。
磁性合金薄膜4には実施例1のサンプルNo、1を用い
た。 なお、スパッタ条件や膜厚等も同一とした。
磁性合金薄膜4の組成、直流での飽和磁束密度B1、保
磁力Hcおよび周波数3 MHzでの透磁率μは表2に
示されるとおりである。
なお、磁気特性は、サンプルNo、1に対し磁気ヘッド
を形成する場合と同一の熱処理を行って測定した。
ギャップ51には5iO=を用い、スパッタにより形成
し、その膜厚は064−とした。
ギャップ53には、作業温度Twが630℃の接着ガラ
スを用いた。
なお、ギャップ53はスパッタにより形成し、その膜厚
は0.2)Lmとした。
溶着ガラス3の作業温度Twは、630℃であり、63
0℃で溶着を行った。
また、コイルターン数は20×2ターンとした。
このようにして製造された磁気ヘッドをサンプルNo、
4とする。
また、磁性合金薄膜4の組成の異なる磁気ヘッドサンプ
ルN005〜No、11も製造した。
これらの各サンプルと、保磁力が11000eのハード
ディスクとを用いて、トラック幅14−にて下記の特性
を測定した。
なお、測定に際しては、第2コア2を、ハードディスク
リーディング側とした。
(記録・再生感度測定) 3 MHzの信号を記録し、次いで記録した信号を再生
し、その時の再生出力電圧値V ’p−p(ピーク・ツ
ー・ピーク)を測定する。
結果は表2に示されるとおりである。
なお、表2には測定値V’p−pを規格化した値Vp−
pが示される。
表1、表2より本発明の効果が明らかである。
〈発明の効果〉 本発明のMIG型磁気ヘッド用磁性合金薄膜は、ガラス
溶着等の熱処理を行っても保磁力Hcが小さい。
このため、本発明のMIG型磁気ヘッドは優れた記録・
再生感度を有する。 そして保磁力8000e以上の磁
気記録媒体に対しても有効な記録を行うことができる。
また、作業温度Twの高いガラスにより高温で溶着を行
った場合も十分率さい保磁力Hcを得ることができる。
 このため接着耐久性や信頼性の高い磁気ヘッドを得る
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、本発明のMIG型磁気ヘッドの
1例を示す部分断面図である。 第3図は、従来のMIG型磁気ヘッドを示す部分断面図
である。 符号の説明 1・・・第1コア 2・・・第2コア 3・・・溶着ガラス 4.40・・・磁性合金薄膜 5.51.53・・・ギャップ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)下記式で示される原子比組成を有することを特徴
    とする磁気ヘッド用磁性合金薄膜。 式Fe_1_0_0_−_(_x_+_y_+_z_)
    Si_xAl_yN_z(上式において15≦x≦19
    、 5≦y≦11、0.1≦z≦1.5である。)
  2. (2)Fe、SiおよびAlを含有する合金をターゲッ
    トとし、Ar中にN_2を0.1〜1.5体積%含有す
    る雰囲気下で、スパッタリングを行い、請求項1に記載
    の組成とする磁気ヘッド用磁性合金薄膜の製造方法。
  3. (3)一対のコア間に、請求項1に記載の磁気ヘッド用
    磁性合金薄膜を有する磁気ヘッド。
  4. (4)直流での保磁力H_cが30e以下である請求項
    1に記載の磁性合金薄膜を有し、前記一対のコアを作業
    温度Twが400〜800℃の溶着ガラスにより溶着一
    体化した請求項3に記載の磁気ヘッド。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5718812A (en) * 1992-09-25 1998-02-17 Canon Kabushiki Kaisha Magnetic head manufacturing method using sputtering apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5718812A (en) * 1992-09-25 1998-02-17 Canon Kabushiki Kaisha Magnetic head manufacturing method using sputtering apparatus

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