JPH03135716A

JPH03135716A - 測距装置

Info

Publication number: JPH03135716A
Application number: JP27466489A
Authority: JP
Inventors: Takaaki Kotani; 高秋小谷; Seiji Takada; 誠司高田; Shigekane Gotou; 後藤　繁謙; Tatsuo Saito; 斉藤　竜夫
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd; Fuji Photo Optical Co Ltd
Current assignee: Fujinon Corp; Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1989-10-20
Filing date: 1989-10-20
Publication date: 1991-06-10

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は被写体に測距光を投光し、被写体からの反射光
を受光して測距を行うアクティブタイプの測距装置に関
するものである。

〔従来の技術〕

最近のコンパクトカメラにはアクティブタイプの測距装
置が利用されている。アクティブタイプの測距装置は、
被写体に向けて近赤外光を投光し、被写体からの反射光
を受光素子で受光する。受光素子上での前記反射光の入
射位置は被写体距離に対応しているから、反射光の入射
位置を電気的に検出することによって、被写体距離に対
応した測距信号を得ることができる。

前記受光素子として、半導体装置検出器（ＰＳＤ　：　
Ｐｏ５ｉｔｉｏｎ　５ｅｎｓｉｔｉｖｅ　Ｄｅｔｅｃｔ
ｏｒ　）が多く用いられてきている。ＰＳＤは２つの出
力端子を備え、光の入射位置及び入射光強度に対応して
各々の端子からは異なる値をもった電流が出力される。

こうして得られた信号電流、あるいはこれらに対応した
信号電圧は入射光強度にも依存した値になっているが、
これらの比をとることによって光の入射位置にのみ依存
した信号を得ることができる。

例えばこのようなＰＳＤを用いた測距装置で測距を行う
際には、ＰＳＤには被写体から反射されてきた測距光の
他に周囲光も入射するから、ＰＳＤからの出力信号には
周囲光による光電信号も重畳されている。このような不
要光によるノイズ成分を除去するために、これまででは
例えば近赤外光を発光するＬＥＤを一定の周波数でパル
ス発光させ、ＰＳＤからの出力信号を前記周波数を通過
域とするバイパスフィルタを通して検出するなどしてＳ
／Ｎ比の向上を図っていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、上述した従来方式においても、依然とし
て周囲光によるノイズ成分を完全には除去することがで
きない。そして、被写体から反射されてくる測距光の強
度は被写体距離が遠くなると弱くなってくるため、この
ような状況下で周囲光が強いときには、測距精度は低く
なりがちであった。

また、ＰＳＤからの出力信号は、例えばゲインコントロ
ールアンプを用いて適当なレベルに増幅して用いられる
が、正確な測距を行おうとする上では、ゲインコントロ
ールアンプ等の回路系に残留するオフセットも問題にな
ることがある。

〔発明の目的〕

本発明は以上のような問題点を解決するためになされた
もので、周囲光や回路系のオフセットに影響を受けずに
、正確な測距ができるようにした測距装置を提供するこ
とを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は上記目的を達成するために、受光素子からのア
ナログ信号をコンバータによりデジタル変換し、得られ
たデジタルデータに基づいて演算手段により測距演算を
行って被写体距離に対応した測距信号を求める構成をと
るとともに、測距光の投光の前後で受光素子からの出力
信号を各々取り出してこれらをデジタルデータとして記
憶手段に格納し、測距演算の前にこれらのデジタルデー
タを相互に減算してデジタルデータ間でオフセット補正
を行うようにしたものである。

〔作用〕

測距光を投光する前に受光素子からアナログデータとし
て得られる出力信号は、周囲光によるノイズ成分と受光
素子以降の回路系に残るオフセットとが混在したもので
、この出力信号ががまずコンバータによりデジタル変換
され、記憶手段に一時的に格納される。引続き測距光を
投光した後に受光素子に現れる出力信号は、測距光投光
前の出力信号に測距のために本来検出すべき信号が重畳
したものとなっており、この出力信号もコンバータによ
りデジタルデータに変換され記憶手段に格納される。こ
れらの２種のデジタルデータは、演算手段によって相互
に減算され、測距のために必要な信号のみがデジタルデ
ータとして抽出される。

以下、図面にしたがって本発明の一実施例について説明
する。

〔実施例〕

本発明の測距装置の構成を概略的に示した第１図ニオい
て、投光部２は光源部３と投光レンズ４とから構成され
、投光レンズ４の光軸４ａは撮影レンズ５の光軸５ａと
平行となっている。光源部３は、それぞれ近赤外光を発
する３個のＬＥＤ（発光ダイオード）３ａ、３ｂ、３ｃ
からなる。

これらのＬＥＤ３ａ、３ｂ、３ｃは水平に配列され、中
央のＬＥＤ３ａは光軸４ａ上に、またＬＥＤ３ｂ、３ｃ
はその左右にそれぞれ位置しており、撮影画面内の３個
所に向けて各々ビーム状の測距光を順次に投光する。

受光部７は受光レンズ８とＰＳＤ９とから構成され、受
光レンズ８の光軸８ａも撮影レンズ光軸５ａと平行にな
っている。ＰＳＤ９は、入射光の光量及び入射位置に応
じた信号を各々の出力端子９ａ、９ｂから出力する。第
１図から明らかなように、近距離被写体が近いほど被写
体からの反射光はＰＳＤ９の下側に入射することになる
が、出力端子９ａ、９ｂからの出力信号の比をもとにし
て、入射光の光量に依存せずに、その入射位置に対応し
た信号を得ることができる。なお、ＰＳＤ９は水平方向
に関しては識別作用をもっておらず、垂直方向での入射
高さが同じであれば、水平方向での入射位置が異なって
も出力端子９ａ、９ｂからの出力信号の比は等価なもの
となる。

ＬＥＤ３ａ〜３ｃはオートフォーカスＩＣ１２からの信
号により、ＬＥＤドライバ１１を介して発光制御される
。オートフォーカスｒｃ１２は、マイクロコンピュータ
１４からのコマンドにしたがって予め決められた測距シ
ーケンスを実行し、ＬＥＤドライバ１１を作動させる他
に、ＰＳＤ９の出力端子９ａ、９ｂからのそれぞれの信
号を増幅やサンプルホールド処理してマイクロコンピュ
ータ１４に出力する。マイクロコンピュータ１４は、前
述のようにして得られる第１．第２チヤンネルの出力信
号をもとに演算を行い、被写体距離と相関をもった測距
信号を算出する。そして、マイクロコンピュータ１４に
よって算出された測距信号に対応して撮影レンズ５のセ
ット位置が決定される。

マイクロコンピュータ１４には汎用型のものが利用され
、測光回路５１で検出され、Ａ／Ｄコンバータ５２でデ
ジタル変換された測光データも入力される。マイクロコ
ンピュータ１４は測光データに基づいて最適露光条件を
算出し、露出制御回路５３を介してステッピングモータ
５４を駆動し、プログラムシャッタ５５を前記最適露光
条件が満足される絞り値、シャッタ速度でプログラムシ
ャッタ５５を開閉させる。また、撮影後にはフィルム移
送回路５６によりフィルム給送モータ５７を駆動してフ
ィルム１コマ送りを行わせる。なお、プログラムシャッ
タ５５が開閉される前には、レンズ移動回路５８により
前記測距信号に対応した回転角でステッピングモータ６
０が駆動され、撮影レンズ５は合焦位置に繰り出し制御
される。

オートフォーカスＩＣ１２，マイクロコンピュータ１４
は概略的に第２図に示したように構成されている。オー
トフォーカスＩＣ１２は１チツプのＩＣからなり、ロジ
ック回路１５．ゲインコントローラ１６の他、ＰＳＤ９
の出力端子９ａ、９ｂから出力されてくる第１．第２チ
ヤンネルの信号電流を電圧に変換するプリアンプ１７ａ
、１７ｂ１ゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂ。

サンプルホールド回路２０ａ、２０ｂ、バッファアンプ
２１ａ、２１ｂ等からなっている。

ゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂは、被写体距
離が遠距離の場合、ＰＳＤ９に入射してくる反射光の光
量が低下して出力端子９ａ、９ｂからの信号電流の絶対
値が小さくなることを考慮して設けられたもので、後述
するゲインコントロール処理によって適切な増幅率が与
えられる。サンプルホールド回路２０ａ、２０ｂは、ロ
ジック回路１５からのサンプリングパルスを受けてゲイ
ンコントロールアンプ１８ａ、１８ｂで増幅された信号
をサンプルホールドし、これらの信号をバッファアンプ
２１ａ、２１ｂを介してマイクロコンピュータ１４に出
力する。なお、前記ロジック回路１５は基本的にシリア
ルイン−パラレルアウトのシフトレジスタからなり、ゲ
インコントローラ１６はそのシフトレジスタの所定ビッ
ト位置に設定されたゲインコントロールデータを読み出
し、これに基づいてゲインコントロールアンプ１８ａ。

１８ｂのゲインを可変する。

マイクロコンピュータ１４は、ＣＰＵ２４．　　シリア
ルボート２５．Ａ／Ｄコンバータ２６の他、撮影シーケ
ンス及び測距シーケンス実行用のプログラムを格納した
ＲＯＭ２７、さらに測距シーケンス実行に際して得られ
るデータや各種フラグを一時的に格納するＲＡＭ２８か
らなる。シリアルボート２５は、ＣＰＵ２４からのコマ
ンドをシリアルデータパルス（ＡＦＳＤ）に変換してロ
ジック回路１５に供給するとともに、このシリアルデー
タの転送パルス（ＡＦＳＣＫ）、　　シリアルデータの
ラッチやＬＥＤ３ａ〜３ｃの発光タイミングを決定する
制御パルス（ＡＰＬＣＫ）を出力する。

また、Ａ／Ｄコンバータ２６は、オートフォーカスＩＣ
１２から供給されてくるアナログ信号を、その信号電圧
レベルに対応して７ビツトのデジタル値（十進数で０〜
１２７を表す）に変換する。

第３図は、ロジック回路１５に用いられている８ビツト
のシリアルイン−パラレルアウトのシフトレジスタ３０
を概念的に示している。ＤＯ〜Ｄ４の５ビツトにはゲイ
ンコントロールデータ（ＧＡＩＮ）が、Ｄ５〜Ｄ６の２
ビツトにはＬＥＤ発光データ（ＬＥＤ）が、またＤ７の
１ビツトにはＬＥＤの発光／リセットの切替えデータ（
ＳＥＴ）が設定されている。５ビツトのゲインコントロ
ールデータは、「０」レベルから「３１」レベルまでの
ゲインレベルを表すことができる。また、２ビツトのＬ
ＥＤ発光データはｒ□、、ｒｌ」。

ｒ２．、ｒ３」の４状態を表すことができ、「０」のと
きにはＬＥＤ３ａ〜３ｃの全てをオフ、ｒｌＪのときに
はＬＥＤ３ａのみ点灯、「２」。

「３」のときにはそれぞれＬＥＤ３ｂ、ＬＥＤ３Ｃを点
灯させることを表す。

第４図は基本的な測距シーケンスの手順を示すフローチ
ャートで、オートフォーカスＩＣ１２のアンプ系のオフ
セット値を検出する処理、ＬＥＤ３ａ〜３ｃを順番に点
灯させながら、そのときに得られる出力信号を測距デー
タとして取り込む測距処理、得られた測距データに基づ
いて演算を行って、撮影レンズ５のセット位置を求める
処理が順次に実行される。なお、測距処理が行われる前
には、ゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂのゲイ
ンを最適値に設定するゲイン設定処理が行われる。

以下、上記構成による作用について説明する。

例えばシャッタボタンの半押し信号によって測距シーケ
ンスが開始されると、まず第５図に示したオフセット値
の検出処理が実行される。オフセット値検出処理が行わ
れるときには、シフトレジスタ３０のｒＤＯ〜Ｄ７Ｊの
各ビット位置に「０１００００００Ｊ　　（２進数）が
設定される。これニヨリ、ｒＧＡＩＮ＝８」、ｒＬＥＤ
＝ｏ」。

ｒｓＥＴ＝ｏ、の各コマンドデータが設定される。

このコマンドデータの設定は、第６図のタイミングチャ
ートに示したＰｌの時点、すなわち転送パルスＡＦＳＣ
Ｋが８個のパルスを送出した後、制御パルスＡＰＬＣＫ
がローレベルになったときにラッチされる。なお、シリ
アルデータパルスの転送は、転送パルスＡＦＳＣＫの立
ち上がりによってシフトレジスタ３０に順次に転送され
る。さらに上記コマンドデータの転送後には、ＣＰＵ２
４内の所定レジスタにｒｃＯＵＮＴ＝８Ｊがセットされ
る。

シフトレジスタ３０にセットされたコマンドデータの内
、ｒＧＡＩＮ＝８Ｊのデータはゲインコントローラ１６
を介してゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂに供
給され、ゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂのゲ
インは各々「８」に設定される。なお、ｒＧＡＩＮ＝３
１」が最大増幅率、ｒＧＡＩＮ＝０．が最小増幅率に対
応している。

このシリアルデータの転送後、第１．第２チヤンネルか
らの出力信号をサンプルホールドし、これをＡ／Ｄ変換
したデジタル値ＡＦＤＩ、ＡＦＤ２がマイクロコンピュ
ータ１４に読み込まれる。

この読み込み処理の手順は、第７図のフローチャートに
示したように、まず制御パルスＡＰＬＣＫがΔＴ１の期
間中ローレベルにされる。この期間中にシリアルデータ
パルスＡＦＳＤが変化すると、そのタイミングでＬＥＤ
３ａ〜３ｃ、サンプルホールド回路２０ａ、２０ｂ等の
制御が行われる。

まず、ＡＦＳＤがローレベルになったＰ２の時点はＬＥ
Ｄ３　ａ〜３Ｃの点灯タイミングに利用される。ただし
、オフセット値検出処理時においては、ｒＬＥＤ＝ＯＪ
のコマンドになっているため、いずれのＬＥＤ３ａ〜３
ｃも点灯されない。

Ｐ２の時点からΔＴ２経過するとＡＦＳＤがハイレベル
になり、このタイミングでサンプルホールド回路２０ａ
、２０ｂがゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂそ
れぞれからの出力信号をホールドする。なお、これらの
出力信号はゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂに
よりそれぞれｒＣ，ＡｌＮ３．で増幅された値となって
いる。さらにΔＴ３経過後、ＡＦＳＤはローレベルとな
りＬＥＤ３ａ〜３ｃの発光停止信号として用いられ、Δ
Ｔ４後にはハイレベルに復帰する。ＡＰＬＣＫは、ΔＴ
１のローレベル期間経過後に再びハイレベルになり、こ
のハイレベル期間ΔＴ５が経過して１サイクルの完了と
なる。

ＡＦＳＤがローレベルとなったＰ３の時点からΔＴ６経
過すると、サンプルホールド回路２０ａ。

２０ｂにホールドされていた出力信号は、バンファアン
プ２１ａ、２１ｂを介してＡ／Ｄコンバータ２６で７ビ
ツトのデジタル値に変換され、これらが第１．第２チヤ
ンネルの測距データＡ　Ｆ　Ｄ　］、　。

ＡＦＤ２としてＣＰＵ２４に取り込まれ、そしてＲＡＭ
２Ｂ内の所定アドレス位置に格納される。

上記測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２の取り込み処理は８
回繰り返される。そして、これらの８個の測距データは
チャンネルごとに平均され、これらの平均値がオフセッ
ト値ＯＦＩ、ＯＦ２として決定される。このオフセット
値検出処理は、ＬＥＤ３ａ〜３Ｃを消灯させたままで実
行されることから、これらの平均値はＰＳＤ９に入射し
ている周囲光によるノイズや、プリアンプ１７ａ、１７
ｂ以降のアンプ、信号処理系によって生じるノイズ等に
よる値を意味している。

オフセット値検出の後は、ゲイン決定処理及び測距処理
が行われる。これらの処理はＬＰ、Ｄ３ａ〜３Ｃについ
て個別に実行される。ゲイン決定処理は第８図のフロー
チャートにしたがって実行される。ゲイン決定処理が開
始されるときには、ＲＡＭ２８内に設定されたＩＣ；Ｆ
ＬＡＧＪ　、ｒＯＶＦＬＡＧＪの各フラグが初期状態「
０」にセットされる。しかる後にシリアルボート２５か
らロジック回路１５に新たなコマンドを表すシリアルデ
ータが転送され、シフトレジスタ３０の各ビット位置に
はｒｏｌｏｏｏｏｌｌ、の２進データがセットされる。

これにより、ｒｃＡ　Ｉ　Ｎ＝８　Ｊ　。

「ＬＥＤ−１」、「５ＥＴ＝１」のコマンドとなる。し
たがって、ＬＥＤ３　ａのみが点灯可能状態となる。

上記コマンド設定の後、オフセット値検出処理と同様に
測距データＡＦＤ１．ＡＦＤ２の読み込み処理が実行さ
れるが、この場合にはＬＥＤ３ａが第６図のタイムチャ
ートから明らかなように、「ΔＴ２＋ΔＴ３Ｊの期間点
灯される。したがって、第１図の状態ではＬＥＤ３　ａ
からの測距光が主要被写体Ｓ１に照射され、その反射光
が受光レンズ８を通ってＰＳＤ９に入射する。そして、
このときにＰＳＤ９の両端子９ａ、９ｂから出力される
信号は、ＰＳＤ９に入射した光の強度及び入射位置の情
報を含んでいる。

これらの信号が各々デジタル変換された後、測距データ
ＡＦＤＩ、ＡＦＤ２として取り込まれると、そのいずれ
かが十進数でｒ１２７Ｊに達しているか否かが判定され
る。ＡＦＤＩ、ＡＦＤ２の値がｒ１２７Ｊに達している
ことは、そのいずれかがオーバーフローしていることを
意味しており、ＰＳＤ９への入射光の光量がかなり大き
く、測距データとしては極めて信頼性が薄いものと判断
される。したがって、この場合にはｒＧＡＩＮ＝８」で
あることを確認した上で、ｒＡＦＲＥＳＵＬＴａ←１２
７Ｊ　　（ｒＡＦＲＥｓＵＬＴａＪについては後述する
）の処理を行う。この状態は、画面中央の被写体がかな
り接近した位置にあり、ｒＧＡＩＮ＝８３のかなり低め
のゲインでも反射光が強過ぎる場合である。なお、ｒＧ
ＡｒＮ、の値を「８」以下に設定し直すことも可能であ
るが、「７」以下のゲインでは、ゲインコントロールア
ンプ１８ａ、１８ｂの増幅特性が非線型になる等の不都
合が生じやすいため、本実施例ではこのようなゲイン設
定は避けるようにしている。

測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２にオーバーフローが認め
られない場合には、各々の測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ
２から、第９図に示した加算測距データＡＦＡＤＤ、減
算測距データＡＦＤＩＦの算出処理が行われる。この処
理では、ノイズ成分除去のために測距データＡＦＤＩ、
ＡＦＤ２に対してオフセット値ＯＦＩ、ＯＦ２の減算が
行われる。そして、算出された加算測距データＡＦＡＤ
Ｄについて、その値がｒ１３６Ｊ以上であるか否かが判
断される。この値がｒ１３Ｅｌｚ以上であるときには、
測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２の各々の絶対値が以後の
測距演算を実行するのに適切な範囲にあると判定され、
ゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂのゲインはそ
のときのｒＧＡＩＮ」の値として決定され、引続きＬＥ
Ｄ３ａによる測距処理が実行されることになる。

一方、加算測距データＡＦＡＤＤの値が「１３６」未満
であるときには、そのときのｒＧＡＩ　Ｎ。

の値が不適切であったことを表すｒＧＦＬＡＧ」が「１
」になっていないことを確認した上で、測距データＡＦ
ＤＩ、ＡＦＤ２の絶対値を大きくすべく、ｒＧＡＩ　Ｎ
Ｊの値に「Ｎ」を加算する。この「Ｎ」の値は、加算測
距データＡＦＡＤＤの大きさに応じて次の表のように設
定されている。

ｒＧＡＩＮＪの値を変更する過程ではコマンドが設定し
直されるが、シフトレジスタ３０の「ＤＯ」〜「Ｄ４」
のビット位置のデータだけが変化し、他のビット位置の
データはそのままとなっている。そして、ゲインコント
ローラ１６は新たなｒＧＡＩＮＪの値にしたがってゲイ
ンコントロールアンプ１８ａ、１８ｂのゲインを調節し
、引続き同様の処理を繰り返す。この繰り返し処理時に
おいて、ｒＧＡＩＮ＞８Ｊでオーバーフローすることが
あるが、この場合には「ＧＦＬＡＧ」を「１」にセット
してからｒＧＡＩＮＪＯ値が「１」低（設定し直される
。

ｒＧＡＩ　ＮＪの値が最大ゲインである「３１」に達し
ても適切な絶対値をもった加算測距データＡＦＡＤＤが
得られないときには、被写体からの反射光が極めて微弱
、あるいはＰＳＤ９に戻ってきていない状態であり、こ
の場合には被写体距離が極めて遠距離であることに対応
している。この場合にはｒＡＦＲＥｓＵＬＴａ＝ｏ　」
の処理が行われる。

上述の処理によってｒＧＡＩＮＪの値が決定されると、
ゲインコントロールアンプ１８ａ、１８ｂのゲインがそ
の値に設定された状態で引続きＬＥＤ３ａによる測距処
理が実行される。第１０図及び第１１図はこの測距処理
手順を表している。

この測距処理は、ＬＥＤ３ａを１８回点灯させ、その都
度、ＡＦＤＩ、ＡＦＤ２を読み込む。そして、毎回のＡ
ＦＤＩ、ＡＦＤ２の読み込み時には、そのいずれかがオ
ーバーフローしているか、もしくはその値が「１５」未
満で測距データの絶対値として不充分なものであるかが
判定され、該当するときには不適切測距であることを表
すｒｏｖｃＯＵＮＴｊを「１」ずつカウントアツプして
ゆく。

ｒＯＶｃＯＵＮＴＪが「４」に達したときには、ゲイン
決定処理で決めたゲインの値が不適切であるものと判定
し、ｒＯＶＦＬＡＧ」を「１」にセットした上でｒＧＡ
Ｉ　ＮＪをｒｌ＋低く再設定して最初から測距処理をや
り直す。また、測距処理が何度も繰り返されることを防
止するために、旦ｒＯＶＦＬＡＧｊが「１」にセットさ
れた後に、再びｒＯＶｃＯＵＮＴ、が「４」に達したと
きには、そのときのｒＧＡＩＮＪの値に対応して「ΔＦ
ＲＥＳＵＬＴａ」の値を［Ｍｊとして決定する。

この決定時には次のテーブルが参照される。

１８回の測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２の取り込みを行
う過程で、その中の最小値と最大値とを識別した上で、
ＡＦＤＩ、ＡＤＦ２は各々ｒＳＵＭＩＪ、ｒｓＵＭ２．
，１として合計されてゆく。そして、これらの合計値ｒ
ｓＵＭ１」、ｒｓＵＭ２」から、ＡＦＤＩ、ＡＦＤ２の
各々の最大値。

最小値を減算した後、平均値の算出が行われる。

なお、平均値の信転性を高めるために前記最大値。

最小値を減算したが、これらの減算を省略するようにし
てもよい。

こうしてチャンネルごとに得られた平均値は、新たに平
均後の測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２として更新され、
第９図の処理にしたがって、オフセット値の補正の後、
加算測距データＡＤＡＤＤ。

減算測距データＡＦＤＩＦに変換される。そして、これ
らの比の値にｒ１２Ｂ、を乗じてｒＡＦＲＥＳＵＬＴａ
Ｊを算出し、ＬＥＤ３ａを用いた測距処理が終了する。

引続き、ＬＥＤ３　ｂを点灯させながらのゲイン決定処
理−測距処理、ＬＥＤ３Ｃを点灯させながらのゲイン決
定処理−測距処理が全く同様に繰り返される。そして、
各々ｒＡＦＲＥＳＵＬＴｂＪ　。

ｒＡＦＲＥＳＵＬＴｃＪの値が求められる。

これらのｒＡＦＲＥＳＵＬＴ、の値は、ＬＥＤ３ａ〜３
Ｃでの測距ごとに得られた被写体距離に対応した値とな
っている。第１図に示した被写体配置では、ｒＡＦＲＥ
ｓＵＬＴａ　」が主要被写体Ｓ１までの距離、ｒＡＦＲ
ＥＳＵＬＴｂ、が背景被写体Ｓ２までの距離に対応した
値を示し、さらにｒＡＦＲＥＳＵＬＴｃＪは測距光が反
射されてきていないことから「０」　（第８図参照）と
なっている。このような場合マイクロコンピュータ１４
は、ＲＯＭ２７に格納しであるプログラムに従い、ｒＡ
ＦＲＥｓＵＬＴａ」、ｒＡＦＲＥｓＵＬＴｂ」、ｒＡＦ
ＲＥｓＵＬＴｃ」の中で最も近い被写体距離に対応した
値を最終的な測距信号として決定し、測距シーケンスが
完了する。なお、測距データＡＦＤＩ、ＡＦＤ２がオー
バーフローした状態ではｒＡＦＲＥｓＵＬＴＪの値がｒ
１２７」となり、これが最も近い被写体距離に対応する
ことになるが、この特異値は最終的な測距信号を決定す
るときには無視される。こうして測距信号が決定された
後は、レンズ移動回路５８を介してステッピングモータ
６０が駆動され、撮影レンズ５は前記測距信号に対応し
た合焦位置に移動される。

上記実施例によれば、例えばＬＥＤ３ａの点灯による測
距を開始する前に、各チャンネルごとにオートフォーカ
スＩＣ１２からアナログデータとしてオフセット値を検
出し、これをＡ／Ｄコンバータ２６を介してデジタルデ
ータとしてＲＡＭ２８に保存しておき、ＬＥＤ３ａの点
灯によって同様に検出されたデジタルデータからオフセ
ット値のデジタルデータをマイクロコンピュータ１４の
演算により減算処理する。したがって、ゲインコントロ
ールアンプ１８ａ、１８ｂ、サンプルホールド回路２０
ａ、２０ｂ等を含むオートフォーカスＩＣ１２に対して
は何等の負担をかけることなく正確なオフセット補正を
行うことができるようになる。また、３個のＬＥＤ３　
ａ〜３ｃの個々についても同一構成により全く同様の処
理が可能となり、特にマイクロコンピュータ１４として
測距シーケンスだけでなく、他の撮影シーケンスも管制
する汎用型のものを利用することによって、回路構成を
簡素なものにまとめることができる。

なお、上記実施例は３個のＬＥＤ３ａ、３ｂ。

３ｃを用い、撮影画面内の３個所を順次に測距してゆく
構成を採っているが、本発明はＬＥＤを１個あるいは２
個、さらには４個以上用いて被写体に測距光を投光する
ものについても同様に適用することができる。また、本
発明を実施する上では、オフセント値検出処理を省略し
たり、ゲイン決定処理手順や測距処理手順を部分的に変
更することも可能で、受光素子としても例えばＣＣＤイ
メージセンサ等、ＰＳＤ以外のものを利用することもで
きる。

〔発明の効果〕

以上に説明したように、本発明の測距装置によれば、受
光素子からアナログデータとして出力された出力信号を
デジタル変換した後、演算手段によってデジタル演算を
行って測距信号を算出する構成をそのままオフセット補
正に利用し、演算手段側で完全にオフセット補正を行う
ことができるから、受光素子以降のアンプ系に複雑な付
加回路を併設する必要が一切なく、極めて簡素な回路規
模でありながら、測距精度については大幅に向上させる
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の測距装置を用いたカメラの構成を示す
概略図である。第２図はオートフォーカスＩＣの構成を示すブロック図
である。第３図はロジック回路に用いられているシフトレジスタ
の概念図である。第４図は全体的な測距シーケンスを表すフローチャート
である。第５図はオフセット値検出の処理手順を示すフローチャ
ートである。第６図は測距データの読み込みタイミングを説明するタ
イムチャートである。第７図は測距データの読み込み手順を示すフローチャー
トである。第８図はゲイン決定の処理手順を示すフローチャートで
ある。第９図は加算測距データ及び減算測距データの算出処理
手順を示すフローチャートである。第１０図及び第１１図は測距処理手順を示すフローチャ
ートである。２・・・投光部７・・・受光部９・・・ＰＳＤ１２・・オートフォーカスＩＣ１４・・マイクロコンピュータ１５・・ロジック回路１６・・ゲインコントローラ１８．１８ｂ・・ゲインコントロールアンプ２０ａ、２
０ｂ・・サンプルホールド回路２６・・Ａ／Ｄコンバー
タ。第４

Claims

【特許請求の範囲】

（１）投光部から被写体に向けて測距光を投光し、被写
体から反射されてきた測距光を受光素子で受け、受光素
子からの出力信号に基づいて被写体距離に対応した測距
信号を得る測距装置において、前記受光素子からの出力
信号をデジタル変換するコンバータと、このコンバータ
から得られるデジタルデータを格納する記憶手段と、こ
の記憶手段に格納されたデジタルデータを読み出し、測
距演算を行うことによって前記測距信号を算出する演算
手段と、測距光の投光前及び投光後に前記コンバータか
ら得られたデジタルデータを相互に前記演算手段により
減算し、前記測距演算を行う前にデジタルデータのオフ
セット補正を行う制御手段とからなることを特徴とする
測距装置。