JPH03144741A - パイプライン機構の試験方法およびその装置 - Google Patents

パイプライン機構の試験方法およびその装置

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JPH03144741A
JPH03144741A JP1283267A JP28326789A JPH03144741A JP H03144741 A JPH03144741 A JP H03144741A JP 1283267 A JP1283267 A JP 1283267A JP 28326789 A JP28326789 A JP 28326789A JP H03144741 A JPH03144741 A JP H03144741A
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JP
Japan
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delay time
information processing
pipeline mechanism
instruction
sequence
Prior art date
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JP1283267A
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English (en)
Inventor
Koichi Hotta
浩市 堀田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はパイプライン方式で処理される情報処理装置の
パイプライン機構の試験方法およびその装置に関すん 従来の技術 返電 情報処理装置の処理能力の向上に対する要求がま
すます高くなり、該情報処理装置にパイプライン方式を
採用する例が多くみられるようになった しかし パイプライン方式による情報処理装置には レ
ジスタコンフリクトやバスコンフリクトなどのパイプラ
イン機構特有の障害を発見す2るのが困難であるという
課題があり、このようなパイプライン方式による情報処
理装置の該パイプライン機構を試験する方法としては 
例えば特開昭62−66338号公報に示されていも 第8図は該特許によるパイプライン機構の試験方法を説
明する図であり、第8図(a)は一般命令みで構成され
たテスト命令M  第8図(b)〜(e)(該一般命令
に逐次化命令を混在させ、実行時のノイブライン機構に
一度に投入される命令の数が1階的に変化するようにし
た対照テスト命令列でaる。バイブライン方式で処理さ
れ 逐次化命令0処理機構を備えた情報処理装置におい
て、ナス1命令列(a)と、対照テスト命令列(b)〜
(e)とを実して得られた処理結果を比較する事により
、該ノイブライン機構の障害を検知すム な耘 逐次化命令と(よ 当該命令がバイブラづンに投
入され その第1ステージにおいて、逐浄化命令である
ことが認識されると、すでに該パイプラインに投入され
ている命令を掃き出すと共に次に該バイブラインに入っ
てくる命令を抑止し上記掃き出しが完了すると、次の命
令が該パイプライン機構に入ってくることを許容し 以
降は無操作命令の様に該パイプライン機構を通過するよ
うに機能する命令である。
発明が解決しようとする課題 しかし かかる方法によれば 以下のような課題があり
tも パイプライン機構に一度に流れる命令の数を変更するの
に逐次化命令を利用しているた数 被試験情報処理装置
に逐次化命令の処理機能が備わっている必要があり、逐
次化命令の処理機構を備えていない情報処理装置の試験
が行えなし1又 テスト命令列と対照テスト命令列とを
実行して得られた処理結果を比較する事により、該パイ
プライン機構の障害を検知するた△ 一般命令のみのテ
スト命令列のほかに 該一般命令に逐次化命令を混在さ
せた対照テスト命令列が必要であり、多数のテスト命令
列を用意しなくてはいけな(b 本発明はかかる点に鑑みて試されたもので、逐次化命令
の処理機構を備えていない情報処理装置を試験すること
ができ、多数のテスト命令列を用意する必要がないパイ
プライン機構の試験方法を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 本発明は上述の課題を解決するたべ テスト命令列とデ
ータを記憶する記憶装置と、試験対象となるパイプライ
ン方式で処理を行う情報処理装置と、前記情報処理装置
から前記記憶装置への要求を示す信号と、前記記憶装置
から前記情報処理装置への応答を示す信号と、遅延時間
列を設定する手段と、前記遅延時間列に従って前記要求
ごとに遅延時間を決定する手段と、前記遅延時間に従っ
て前記応答信号を遅延する手段とを備えたものであも 作   用 本発明は上述の構成によって、逐次化命令なしにパイプ
ライン機構の試験を実現することができ、また異なる前
記遅延時間列の設定に対し その各々について同じテス
ト命令列を実行し それらの実行結果を相互に比較する
事により、核パイプライン機構の障害を発見することを
可能にするものであも 実施例 第1図は請求項1の発明の一実施例におけるパイプライ
ン機構の試験装置の構成図を示すものであり、第2図は
パイプライン機構を模式的に示した諷 第3図はテスト
命令列を実行中のパイプライン機構の状態を模式的に示
した阻 第6図は動作を流れ図で示したちへ 第7図は
遅延時間列の一例を示したものであも 11図において、10は試験される情報処理装置11は
情報処理装置10に内蔵されたパイプライン機構I2は
情報処理装置10の要求に従って命令を供給する記憶装
置13は記憶装置12に記憶されたテスト命令光14は
記憶装置12から情報処理装置10に対して命令が供給
されるデータバス 15は情報処理装置10から記憶装
置12に対する命令フェッチの要求を示す信号、16は
記憶装置12から情報処理装置10に対する命令フェッ
チの応答を示す信号18は遅延時間凱17は命令フェッ
チごとに応答信号16の遅延時間を決める遅延時間決定
子i  19は応答信号16を遅延する応答信号遅延手
段であも以上のように構成された本実施例のパイプラ・
ン機構の試験装置について、以下第6図に沿っ1その試
験方法を説明すも 始めに 情報処理装置10のサイクルタイムの男数倍の
遅延時間の集合で構成された 相異なる一つの遅延時間
列TI、 T2を選嵐 まずミ 遅延時間列TIを設定し 情報処理装置1によ
りテスト命令列13を実行してメモリやレジ2りなどに
ある第1の実行結果を収集すん 次に遅延時間列T2を
設定し 情報処理装置lOによりテスト命令列13を実
行してメモリやレジスタなどにある第2の実行結果を収
集する。
そして、第1と第2の実行結果を比較する。
必要ならば 新たな遅延時間列の組み合わせT1″T2
°を選び、同様の手順を繰り返す。
例えば 第7図に示す遅延時間列1〜4を選び第8図(
a)と同じく4つの命令(命令1〜4)かなるテスト命
令列を実行すると、実行中のパイプライン機構11中に
存在する命令の数や命令間の間隔が第3図(a)〜(d
)のように変化すも レジスタコンフリクトやバスコン
フリクトなどのパイプライン機構11に関する障害が存
在すると、これらの実行結果に違いが生じも 従って、
これらの実行結果を収集し 相互に比較することによっ
てパイプライン機構11の障害を検知できる。
更に複雑な遅延時間の組み合わせで遅延時間列を設定す
ることにより、任意のパイプラインの状態が試験可能と
なa 以上のように 本実施例によれば 記憶装置の命令フェ
ッチの応答タイミングを変更することにより、パイプラ
イン機構に一度に流れる命令の数を変えるようにして、
該パイプライン機構に投入した演算結果を相互に比較す
ることにより、該パイプライン機構の障害を検知するよ
うにしたところに特徴があも 第4図は通常の情報処理システムの構成を変更すること
なく、パイプライン機構の試験が実行できることを目的
とした 本発明の他の実施例における情報処理装置の構
成図を示すものであり、第5図は本実施例による情報処
理装置を用いた情報処理システムの構成図を示す。
第4図において、3oは情報処理装置全体 31は情報
処理装置30に内蔵されたパイプライン機構32はパイ
プライン機構31に命令が供給されるデータバス 33
はパイプライン機構31から情報処理装置30の外部に
対する命令フェッチの要求を示す信号34は情報処理装
置3oの外部からパイプライン機構31に対する命令フ
ェッチの応答を示す信俵36は遅延時間Tir上 35
は命令フェッチごとに応答信号34の遅延時間を決める
遅延時間決定子¥ik  37は応答信号34を遅延す
る応答信号遅延手段であり、第5図において、41は情
報処理装置3oの要求に従って命令を供給する記憶装置
42は記憶装置41に記憶された通常命令夕11 43
は記憶装置41に記憶されたテスト命令処44は記憶装
置41から情報処理装置30に対して命令が供給される
データバス45は情報処理装置3oから記憶装置41に
対する命令フェッチの要求を示す信号46は記憶装置4
1から情報処理装置30に対する命令フェッチの応答を
示す信号であム 以上のように構成されたこの実施例の情報処理装置につ
いて、以下その動作を説明する。
第5図に示した本実施例による情報処理装置30を用い
た情報処理システムで、通常命令列42を実行する場合
、遅延時間決定手段による命令フェッチごとの応答信号
34の遅延時間をOにしてやることにより、通常の情報
処理装置を用いたシステムと同様に通常命令列42の実
行が行われも−X  パイプライン機構31の試験を目
的とした場合、第1の実施例と同様に 相異なる遅延時
間列を選べ テスト命令列43を実行した結果を比較す
ることにより、パイプライン機構31の障害を検知でき
も 以上のように 本実施例によれは パイプライン方式で
処理される情報処理装置に命令フェッチに対する応答信
号の遅延を制御する手段を備えたことによって、通常の
情報処理システムの構成を変更することなく、パイプラ
イン機構の試験が可能となるところに特徴がある。
急 第2の実施例では通常命令列とテスト命令列とを同
時に記憶装置のなかに常駐させているカミ記憶装置が読
み書き可能なものならば 必要に応じて2種類の命令列
を背反させて記憶装置上に記憶させても良く、このよう
にすれば必要な記憶容量を削減することができる。
また 前記2つの実施例において命令フェッチの応答を
示す信号の遅延時間の変化による試験方法のみを述べた
八 データの読み出し・書込みの応答を示す信号の遅延
時間の変化によって転 パイプライン機構の試験を行う
ことが可能であり、これらを併用した試験を行うことに
より、より広範囲の試験を行うことができも 発明の詳細 な説明したように 本発明によれIL  テスト命令列
とデータを記憶する記憶装置と、試験対象となるパイプ
ライン方式で処理を行う情報処理装置と、前記情報処理
装置から前記記憶装置への要求を示す信号と、前記記憶
装置から前記情報処理装置への応答を示す信号と、遅延
時間列を設定する手段と、前記遅延時間列に従って前記
要求ごとに遅延時間を決定する手段と、前記遅延時間に
従って前記応答信号を遅延する手段とを備えたことによ
って、異なる前記遅延時間列の設定に対よその各々につ
いて同じテスト命令列を実行し それらの実行結果を相
互に比較する事により、該パイプライン機構の試験を可
能にするという効果を有すん また 遅延時間列を設定する手段と、設定された遅延時
間列に従って命令又はデータフェッチごとに遅延時間を
決定する手段と、前記遅延時間に従ってフェッチタイミ
ングを遅延する手段とを備えことによって、通常の情報
処理システムの構成を変更することなく、パイプライン
機構の試験を可能にするという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は発明の一実施例におけるパイプライン機構の試
験装置の構成は 第2図はパイプライン機構の模式は 
第3図はテスト命令列を実行中のパイプライン機構の模
式は 第4図は発明の他の実施例における情報処理装置
の構成飄 第5図は同実施例における情報処理システム
の構成阻 第6図はパイプライン機構の試験方法の流れ
は 第7図は遅延時間列の一例を示す飄 第8図は従来
のパイプライン機構の試験方法を説明する図である。 10.30・・・情報処理袋@  11.31・・・パ
イプライン機1鳳 12,41・・・記憶装!  13
.43・・・テスト命令夕1142091通常命令夕+
1 、14.32.44・・・データバ入 15,33
.45・・・要求信俵16,34.46・・・応答信q
  17.35・・・遅延時間決定手段、18.36・
・・遅延時間NIL  19.37・・・応答信号遅延
手法

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)テスト命令列とデータを記憶する記憶装置と、試
    験対象となるパイプライン方式で処理を行う情報処理装
    置と、前記情報処理装置から前記記憶装置への要求を示
    す信号と、前記記憶装置から前記情報処理装置への応答
    を示す信号と、遅延時間列を設定する手段と、前記遅延
    時間列に従って前記要求ごとに遅延時間を決定する手段
    と、前記遅延時間に従って前記応答信号を遅延する手段
    とを備えたパイプライン機構の試験装置。
  2. (2)請求項1記載の試験装置を備え、異なる前記遅延
    時間列の設定に対し、その各々について同じテスト命令
    列を実行し、それらの実行結果を相互に比較するパイプ
    ライン機構の試験方法。
  3. (3)遅延時間列を設定する手段と、設定された遅延時
    間列に従って命令又はデータフェッチごとに遅延時間を
    決定する手段と、前記遅延時間に従つてフェッチタイミ
    ングを遅延する手段とを備えたパイプライン方式で処理
    を行う情報処理装置。
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