JPH03144867A - 直線描画方法及び装置 - Google Patents
直線描画方法及び装置Info
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- JPH03144867A JPH03144867A JP28400189A JP28400189A JPH03144867A JP H03144867 A JPH03144867 A JP H03144867A JP 28400189 A JP28400189 A JP 28400189A JP 28400189 A JP28400189 A JP 28400189A JP H03144867 A JPH03144867 A JP H03144867A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野〕
本発明は、ドツト式のプロッタ、プリンタ、デイスプレ
ィ等における直線の描画方法及び装置に関するものであ
る。
ィ等における直線の描画方法及び装置に関するものであ
る。
ブロック、ワードプロセッサ、パーソナルコンピュータ
等を用いて図形処理を行う場合、図形をドツトパターン
により表現しなければならない。
等を用いて図形処理を行う場合、図形をドツトパターン
により表現しなければならない。
このような装置のトンドパターン形成面（仮想的なもの
であってよい、）に直線のドツトパターンを形成する従
来の方法では、例えばＸ軸に対する傾斜角度ｄが０”＜
ｄ＜４５°の直線を形成する場合、第７図に示すように
、確定したドツトＤ０（ｘ、、ｙ、）に対してＸ軸方向
に１移動した点ＤＩ （ＸＩ ＋１．）’ｌ ）と、Ｘ
軸方向及びＹ軸方向に夫々１移動した点Ｄ２ （ＸＩ
十ｔ、 ｙ＋ ＋１）を計算し、これらの点Ｄ＋、
Ｄｚと理想直線ｌとの間の誤差を夫々求め、その誤差の
小さい方の点を描画点として確定して、そこにドツトを
発生させる。以下同様にして直線ｌを表現するためのド
ツトパターンが形成される。
であってよい、）に直線のドツトパターンを形成する従
来の方法では、例えばＸ軸に対する傾斜角度ｄが０”＜
ｄ＜４５°の直線を形成する場合、第７図に示すように
、確定したドツトＤ０（ｘ、、ｙ、）に対してＸ軸方向
に１移動した点ＤＩ （ＸＩ ＋１．）’ｌ ）と、Ｘ
軸方向及びＹ軸方向に夫々１移動した点Ｄ２ （ＸＩ
十ｔ、 ｙ＋ ＋１）を計算し、これらの点Ｄ＋、
Ｄｚと理想直線ｌとの間の誤差を夫々求め、その誤差の
小さい方の点を描画点として確定して、そこにドツトを
発生させる。以下同様にして直線ｌを表現するためのド
ツトパターンが形成される。
しかしながら、上述の方法では小数点以下の計算が大変
なので、これを改良した描画方法として、ｒ Ｂｒｅｓ
ｅｎｈａｒａの線描画アルゴリズムｊと呼ばれる方法が
広く知られている。このｒ Ｂｒｅｓｅｎｈａｍの線描
画アルゴリズム」については、図形処理情報センター出
版の雑誌ｒｐ ｒ ＸＥＬ」Ｎα１１の１０１〜１０７
ページに記載されている。
なので、これを改良した描画方法として、ｒ Ｂｒｅｓ
ｅｎｈａｒａの線描画アルゴリズムｊと呼ばれる方法が
広く知られている。このｒ Ｂｒｅｓｅｎｈａｍの線描
画アルゴリズム」については、図形処理情報センター出
版の雑誌ｒｐ ｒ ＸＥＬ」Ｎα１１の１０１〜１０７
ページに記載されている。
上述の方法及びｒ Ｂｒｅｓｅｎｈａｍの線描画アルゴ
リズム」においては、いずれも、線を描画するのに１点
ずつ計算しなければならず、このため、描画時間が膨大
になってしまうという問題点があった。
リズム」においては、いずれも、線を描画するのに１点
ずつ計算しなければならず、このため、描画時間が膨大
になってしまうという問題点があった。
これは、例えばマイクロプロセッサでＦｔｉ画点を計算
して、画像メモリ（ビットマツプメモリ）に書き込む場
合、マイクロプロセッサが所定のデータビット幅（例え
ば８ビツトコンピユータでは８ビツト、本明細書では「
ワード幅」と呼ぶ。）毎にデータの書き込み及び読み出
しを行なうにもかかわらず、描画点の計算はｌビット毎
に行われるため、その効率が極めて悪くなっていたから
である。特に、ドツトパターン形成面のＸ軸又はＹ軸に
対する傾きが小さい直線では、１つのワード幅内に多数
のドツトを発生させる必要があるため、その効率が著し
く悪くなっていた。
して、画像メモリ（ビットマツプメモリ）に書き込む場
合、マイクロプロセッサが所定のデータビット幅（例え
ば８ビツトコンピユータでは８ビツト、本明細書では「
ワード幅」と呼ぶ。）毎にデータの書き込み及び読み出
しを行なうにもかかわらず、描画点の計算はｌビット毎
に行われるため、その効率が極めて悪くなっていたから
である。特に、ドツトパターン形成面のＸ軸又はＹ軸に
対する傾きが小さい直線では、１つのワード幅内に多数
のドツトを発生させる必要があるため、その効率が著し
く悪くなっていた。
そこで本発明の課題は、描画速度を向上させた直線描画
方法及び装置を提供することである。
方法及び装置を提供することである。
（課題を解決するための手段）
本発明は、ドツトパターン形成面のＸ軸とＹ軸のうち、
形成すべき直線との間の傾きが小さい方の軸と平行にス
キャンラインを設定すれば、同一のスキャンライン上に
発生させるべきドツトの数ｎは基本的にＮとＮ＋１ （
ＮとＮ−１と考えてもよい。）の２種類しか存在しない
という事実に基づいてなされたものである。
形成すべき直線との間の傾きが小さい方の軸と平行にス
キャンラインを設定すれば、同一のスキャンライン上に
発生させるべきドツトの数ｎは基本的にＮとＮ＋１ （
ＮとＮ−１と考えてもよい。）の２種類しか存在しない
という事実に基づいてなされたものである。
第４図及び第５図を用いてこの事実を説明する。
第４図は傾き３／Ｉ Ｏの直線を表現するためのドツト
パターンを示したものであり、始点ａ及び終点すの近傍
部分を除いて同一水平スキャンライン上に発生させるド
ツトの数は３又は４である。また第５図は傾き７／３０
の直線のドツトパターンであり、同一水平スキャンライ
ン上に発生させるドツトの数は４又は５である。このよ
うに、直線描画時に同一スキャンライン上に発生させる
ドツトの数は、小さい方の数をＮとすれば、その始点及
び終点近傍部分を除き、ＮとＮ＋１ （大きい方の数を
Ｎとすれば、ＮとＮ−１）の２種類しか存在しない。
パターンを示したものであり、始点ａ及び終点すの近傍
部分を除いて同一水平スキャンライン上に発生させるド
ツトの数は３又は４である。また第５図は傾き７／３０
の直線のドツトパターンであり、同一水平スキャンライ
ン上に発生させるドツトの数は４又は５である。このよ
うに、直線描画時に同一スキャンライン上に発生させる
ドツトの数は、小さい方の数をＮとすれば、その始点及
び終点近傍部分を除き、ＮとＮ＋１ （大きい方の数を
Ｎとすれば、ＮとＮ−１）の２種類しか存在しない。
そこで本発明の直線描画方法においては、第１図に示す
ように、 ドツトパターン形成面を構成するドツト発生点のマトリ
ックスの一辺に平行なスキャンラインを、そのスキャン
ラインに垂直な方向に順次シフトさせて、前記ドツトパ
ターン形成面上に所定の直線パターンを形成させるよう
になし、 その際、形成すべき理想直線の前記スキャンラインに対
する傾きに基づいて、１つのスキャンライン上に発生さ
せる基本のドツト数Ｎを求め、発生させたドツトの位置
と前記理想直線との間の誤差を前記スキャンラインのシ
フト毎に累積し、その累積結果から、次のスキャンライ
ン上に発生させるべきドツトの数ｎが前記ＮとＮ＋１と
のいずれであるか、又は、前記ＮとＮ−１とのいずれで
あるかを判定し、 この判定結果に応じた数のドツトを、所定のワード幅に
対応して設けられたバッファレジスタ１０４に発生させ
、 このバッファレジスタ１０４の内容を、前記ドツト発生
点のマトリックスに対応して設けられたビットマツプメ
モリ１０６に転送するようにしている。
ように、 ドツトパターン形成面を構成するドツト発生点のマトリ
ックスの一辺に平行なスキャンラインを、そのスキャン
ラインに垂直な方向に順次シフトさせて、前記ドツトパ
ターン形成面上に所定の直線パターンを形成させるよう
になし、 その際、形成すべき理想直線の前記スキャンラインに対
する傾きに基づいて、１つのスキャンライン上に発生さ
せる基本のドツト数Ｎを求め、発生させたドツトの位置
と前記理想直線との間の誤差を前記スキャンラインのシ
フト毎に累積し、その累積結果から、次のスキャンライ
ン上に発生させるべきドツトの数ｎが前記ＮとＮ＋１と
のいずれであるか、又は、前記ＮとＮ−１とのいずれで
あるかを判定し、 この判定結果に応じた数のドツトを、所定のワード幅に
対応して設けられたバッファレジスタ１０４に発生させ
、 このバッファレジスタ１０４の内容を、前記ドツト発生
点のマトリックスに対応して設けられたビットマツプメ
モリ１０６に転送するようにしている。
このとき、理想直線の傾きΔｙ／Δｘの逆数の整数部を
基本のドツト数Ｎとするのが好ましい。
基本のドツト数Ｎとするのが好ましい。
そして上記方法に使用する本発明の直線描画装置は、
ドツト発生点のマトリックスに対応したビットマツプを
有し、且つ、所定のワード幅単位で書き込み及び読み出
しが行われるビットマツプメモリ１０６と、 前記ドツト発生点のマトリックスの一辺に平行なスキャ
ンラインを、そのスキャンラインに垂直な方向にシフト
させるスキャンラインシフト手段１０７と、 形成すべき理想直線の前記スキャンラインに対する傾き
に基づいて、１つのスキャンライン上に発生させる基本
のドツト数Ｎを求める基本ドツト数計算手段１０１と、 発生させたドツトの位置と前記理想直線との間の誤差を
前記スキャンラインのシフト毎に累積し、その累積結果
から、次のスキャンライン上に発生させるべきドツトの
数ｎが前記ＮとＮ＋１とのいずれであるか、又は、前記
ＮとＮ−１とのいずれであるかを判定するドツト数判定
手段１０２と、ビットマツプメモリ１０６の前記ワード
幅に対応して設けられたバッファレジスタ１０４と、ド
ツト数判定手段１０２による判定結果に応じた数のドツ
トをバッファレジスタ１０４に発生させるドツト発生手
段１０３と、 バッファレジスタ１０４の内容をビ・ントマ・ンプメモ
リ１０６に転送する転送手段１０５とを有している。
有し、且つ、所定のワード幅単位で書き込み及び読み出
しが行われるビットマツプメモリ１０６と、 前記ドツト発生点のマトリックスの一辺に平行なスキャ
ンラインを、そのスキャンラインに垂直な方向にシフト
させるスキャンラインシフト手段１０７と、 形成すべき理想直線の前記スキャンラインに対する傾き
に基づいて、１つのスキャンライン上に発生させる基本
のドツト数Ｎを求める基本ドツト数計算手段１０１と、 発生させたドツトの位置と前記理想直線との間の誤差を
前記スキャンラインのシフト毎に累積し、その累積結果
から、次のスキャンライン上に発生させるべきドツトの
数ｎが前記ＮとＮ＋１とのいずれであるか、又は、前記
ＮとＮ−１とのいずれであるかを判定するドツト数判定
手段１０２と、ビットマツプメモリ１０６の前記ワード
幅に対応して設けられたバッファレジスタ１０４と、ド
ツト数判定手段１０２による判定結果に応じた数のドツ
トをバッファレジスタ１０４に発生させるドツト発生手
段１０３と、 バッファレジスタ１０４の内容をビ・ントマ・ンプメモ
リ１０６に転送する転送手段１０５とを有している。
なお、基本ドツト数計算手段ｌＯ１は、理想直線の傾き
Δｙ／Δｘの逆数の整数部を基本のドツト数Ｎとするも
のであるのが好ましい。
Δｙ／Δｘの逆数の整数部を基本のドツト数Ｎとするも
のであるのが好ましい。
本発明においては、まず、形成すべき理想直線の傾きか
ら、同一スキャンライン上に発生させるべきドツトの数
Ｎを求め、一方、スキャンラインをシフトさせる毎に、
既に発生させたドツトの位置と形成すべき理想直線との
間の誤差を累積して、その累積結果から、次のスキャン
ライン上に発生させるべきドツトの数ｎが前記ＮとＮ＋
１とのいずれであるか、又は、前記ＮとＮ−１とのいず
れであるかを判定するようにしている。
ら、同一スキャンライン上に発生させるべきドツトの数
Ｎを求め、一方、スキャンラインをシフトさせる毎に、
既に発生させたドツトの位置と形成すべき理想直線との
間の誤差を累積して、その累積結果から、次のスキャン
ライン上に発生させるべきドツトの数ｎが前記ＮとＮ＋
１とのいずれであるか、又は、前記ＮとＮ−１とのいず
れであるかを判定するようにしている。
従って、その判定結果に基づいて、１つのスキャンライ
ン上に複数個のドツトを同時に発生させることができる
ようになり、このため、所定のワード幅単位で行われる
ビットマツプメモリ１０６への書き込みを効率よく行う
ことができて、描画速度が向上する。
ン上に複数個のドツトを同時に発生させることができる
ようになり、このため、所定のワード幅単位で行われる
ビットマツプメモリ１０６への書き込みを効率よく行う
ことができて、描画速度が向上する。
以下、本発明を実施例につき図面を参照して説明する。
第２図は本発明の一実施例による直線描画装置の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
この直線描画装置は、中央処理装置（ＣＰＵ）１１マイ
クロプログラムが格納されたＲＯＭ２、ビットマツプメ
モリ３、このビットマツプメモリ３０ビツトマツプに対
応する例えば第４図に示すドツトパターン形成面のＹ軸
方向の位置を決定するためのカウンタ４、上記ドツトパ
ターン形成面のＸ軸方向の位置を計算するためのＸ座標
位置決定用アキュムレータ（Ｘ−ＡＣＣ）５、データバ
ス６、及び、ブロック等の出力装置７との間のインター
フェース（Ｉｌｏ）８を有している。モしてＣＰＵＩは
演算部（ＡＬＵ）１１と、バッファレジスタの機能を具
備するドツト発生用のアキュムレータ（ＡＣＣ）１２と
を有している。
クロプログラムが格納されたＲＯＭ２、ビットマツプメ
モリ３、このビットマツプメモリ３０ビツトマツプに対
応する例えば第４図に示すドツトパターン形成面のＹ軸
方向の位置を決定するためのカウンタ４、上記ドツトパ
ターン形成面のＸ軸方向の位置を計算するためのＸ座標
位置決定用アキュムレータ（Ｘ−ＡＣＣ）５、データバ
ス６、及び、ブロック等の出力装置７との間のインター
フェース（Ｉｌｏ）８を有している。モしてＣＰＵＩは
演算部（ＡＬＵ）１１と、バッファレジスタの機能を具
備するドツト発生用のアキュムレータ（ＡＣＣ）１２と
を有している。
以下の説明では、第４図及び第５図に示すような横（Ｘ
軸方向）３２ドツト、縦（Ｙ軸方向）１６ドットのドツ
トパターン形成面に直線描画を行うものとする。そして
本実施例の場合、ビットマツプメモリ３は８ビツトづつ
アクセスされるため、第４図及び第５図に示すように、
３２Ｘ１６ドツトのドツトパターン形成面はＸ軸方向に
４つに分割され、Ａ列、Ｂ列、０列、Ｄ列の順に”ｏｏ
。
軸方向）３２ドツト、縦（Ｙ軸方向）１６ドットのドツ
トパターン形成面に直線描画を行うものとする。そして
本実施例の場合、ビットマツプメモリ３は８ビツトづつ
アクセスされるため、第４図及び第５図に示すように、
３２Ｘ１６ドツトのドツトパターン形成面はＸ軸方向に
４つに分割され、Ａ列、Ｂ列、０列、Ｄ列の順に”ｏｏ
。
Ｏ１１から“００３Ｆ”までの６４個のアドレスがビッ
トマツプメモリ３内に割り当てられている（第６図参照
）。そして第４図の例では、始点（０，０）から終点（
３０，９）に直線を招いており、第５図の例では、始点
（０，Ｏ）から終点（３０，７）に直線を描いている。
トマツプメモリ３内に割り当てられている（第６図参照
）。そして第４図の例では、始点（０，０）から終点（
３０，９）に直線を招いており、第５図の例では、始点
（０，Ｏ）から終点（３０，７）に直線を描いている。
次に、本実施例の直線描画方法を、ＣＰＵＩの動作を示
す第３図のフローチャートに従って説明する。
す第３図のフローチャートに従って説明する。
まず演算部１１により、描画すべき直線の傾きΔｙ／Δ
ｘから基本ドツト数Ｎが計算される。本実施例において
は、この基本ドツト数Ｎは次式から求められる。
ｘから基本ドツト数Ｎが計算される。本実施例において
は、この基本ドツト数Ｎは次式から求められる。
Ｎ＝ＩＮＴ（ΔＸ／Δｙ） −・−（１）即
ち、直線の傾きΔｙ／Δｘの逆数の整数部が基本ドツト
数Ｎになる。第４図の例では、直線の１嘆きが３７１Ｏ
であるのでＮは３となる。また第５図の例では傾きが７
７３０であるのでＮは４となる。
ち、直線の傾きΔｙ／Δｘの逆数の整数部が基本ドツト
数Ｎになる。第４図の例では、直線の１嘆きが３７１Ｏ
であるのでＮは３となる。また第５図の例では傾きが７
７３０であるのでＮは４となる。
次に、直線の始点部分の描画、即ち最初のスキャンライ
ン上でのドツト発生を行う。本実施例においては、スキ
ャンラインをドツトパターン形成面のＸ軸と平行に設定
しており、第４図及び第５図の例では、いずれも始点ａ
が（０，Ｏ）であるので、ドツト発生を行う最初のスキ
ャンラインはｙ−０のスキャンラインである。この始点
描画及び後の終点描画は、直線の始点近傍部分及び終点
近傍部分では、同一スキャンライン上に発生させるべき
ドツトの数ｎは上記基本ドツト数ＮとＮ＋１とのいずれ
かであるという基本法則が成り立たないために、別に行
う必要がある。
ン上でのドツト発生を行う。本実施例においては、スキ
ャンラインをドツトパターン形成面のＸ軸と平行に設定
しており、第４図及び第５図の例では、いずれも始点ａ
が（０，Ｏ）であるので、ドツト発生を行う最初のスキ
ャンラインはｙ−０のスキャンラインである。この始点
描画及び後の終点描画は、直線の始点近傍部分及び終点
近傍部分では、同一スキャンライン上に発生させるべき
ドツトの数ｎは上記基本ドツト数ＮとＮ＋１とのいずれ
かであるという基本法則が成り立たないために、別に行
う必要がある。
この最初のスキャンライン上へのドツト発生は、ＷＩ画
すべき理想直線２のｙ座標が次のスキャンラインの方に
近くなるまで、即ち、第４図及び第５図の例では７−０
．５を越えるまで行わなければならない、その個数ｎは
、Δχ／２Δｙが割り切れない場合、 ｎ＝ＩＮＴ（Δｘ ／ ２Δｙ） ＋１−（２）Δχ／
２Δｙが割り切れる場合、 ｎ−Δｘ ／ ２Δｙ ・−（２）’とな
る。第４図の例ではｎ＝２、第５図の例ではｎ＝３であ
る。
すべき理想直線２のｙ座標が次のスキャンラインの方に
近くなるまで、即ち、第４図及び第５図の例では７−０
．５を越えるまで行わなければならない、その個数ｎは
、Δχ／２Δｙが割り切れない場合、 ｎ＝ＩＮＴ（Δｘ ／ ２Δｙ） ＋１−（２）Δχ／
２Δｙが割り切れる場合、 ｎ−Δｘ ／ ２Δｙ ・−（２）’とな
る。第４図の例ではｎ＝２、第５図の例ではｎ＝３であ
る。
そこで、例えば第４図の例では、（０，０）と（１，０
）の点にドツトを発生させるために、第２図のドツト発
生用アキュムレータ（ＡＣＣ）１２にコード“１１００
００００”を発生させ、これを、ビットマツプメモリ３
の直線の始点が存在するアドレス”ｏｏｏｏ”に転送す
る（第６図参照）、このドツト発生用アキュムレータ（
ＡＣＣ）１２に発生させるコードのＬＳＢが“°０”に
なった時点で、そのスキャンライン上でのドツト発生が
終了したことになるので、第２図のカウンタ４によりｙ
＝３’＋１として、スキャンラインを１シフトさせ、次
のスキャンライン上でのドツト発生を行う。
）の点にドツトを発生させるために、第２図のドツト発
生用アキュムレータ（ＡＣＣ）１２にコード“１１００
００００”を発生させ、これを、ビットマツプメモリ３
の直線の始点が存在するアドレス”ｏｏｏｏ”に転送す
る（第６図参照）、このドツト発生用アキュムレータ（
ＡＣＣ）１２に発生させるコードのＬＳＢが“°０”に
なった時点で、そのスキャンライン上でのドツト発生が
終了したことになるので、第２図のカウンタ４によりｙ
＝３’＋１として、スキャンラインを１シフトさせ、次
のスキャンライン上でのドツト発生を行う。
ｙ−１以降のスキャンライン上でのドツト発生を行うた
めには、そのスキャンライン上に発生させるべきドツト
の数ｎが基本ドツト数ＮとＮ＋１とのいずれであるかを
決定しなければならない。
めには、そのスキャンライン上に発生させるべきドツト
の数ｎが基本ドツト数ＮとＮ＋１とのいずれであるかを
決定しなければならない。
基本ドツト数Ｎを上記（１）式のように定義した場合、
発生させたドツト位置と理想直線ｌとの間の誤差として
累積されるのはΔＸ／Δｙの小数部である。そこで、演
算部１１では、スキャンラインをｌ変化させる毎にこの
ΔＸ／Δｙの小数部を加算していき、その値が１．０を
越えるまではｎ＝Ｎとし、１．０を越えた時点でｎ＝Ｎ
＋ １とする。
発生させたドツト位置と理想直線ｌとの間の誤差として
累積されるのはΔＸ／Δｙの小数部である。そこで、演
算部１１では、スキャンラインをｌ変化させる毎にこの
ΔＸ／Δｙの小数部を加算していき、その値が１．０を
越えるまではｎ＝Ｎとし、１．０を越えた時点でｎ＝Ｎ
＋ １とする。
具体的には、ｙ＝０．５のときの、
の値を判定変数Ｅの初期値として用い、また、理想直線
ｉとの間の誤差を、 Ｃ−Ｃ，−＜ΔＸ／Δｙ ） −Ｎ −・−（４）
として、スキャンラインを１変化させる毎に上記判定変
数已に誤差Ｇ、を加算していく。そして、この判定変数
Ｅが１を越えるまでは、そのスキャンライン上に発生さ
せるドツト数ｎとして基本ドツト数Ｎを出力し、Ｅが１
を越えた時点でｎ＝Ｎ＋１とする。
ｉとの間の誤差を、 Ｃ−Ｃ，−＜ΔＸ／Δｙ ） −Ｎ −・−（４）
として、スキャンラインを１変化させる毎に上記判定変
数已に誤差Ｇ、を加算していく。そして、この判定変数
Ｅが１を越えるまでは、そのスキャンライン上に発生さ
せるドツト数ｎとして基本ドツト数Ｎを出力し、Ｅが１
を越えた時点でｎ＝Ｎ＋１とする。
Ｅ＞１となった後は、誤差Ｇを、
Ｇ１Ｇ！−（ΔＸ／Δｙ）−Ｎ−１・・−（５）とし、
スキャンラインを１変化させる毎に判定変数已に今度は
誤差Ｇｔを加算していく。そして、Ｅ＞１の間はそのス
キャンライン上に発生させるドツト数ｎとしてＮ＋１を
出力し、Ｅが１よりも小さくなった時点で誤差ＧをＧ＋
に戻す。
スキャンラインを１変化させる毎に判定変数已に今度は
誤差Ｇｔを加算していく。そして、Ｅ＞１の間はそのス
キャンライン上に発生させるドツト数ｎとしてＮ＋１を
出力し、Ｅが１よりも小さくなった時点で誤差ＧをＧ＋
に戻す。
即ち、判定変数Ｅが１よりも小さい間は、その判定変数
Ｅが１を越えるまで、スキャンラインを１変化させるご
とに判定変数已に誤差としてＧを加算するとともに、そ
のスキャンライン上に発生させるべきドツトの数ｎをＮ
と判定し続け、−方、判定変数Ｅが１よりも大きい間は
、その判定変数Ｅが１を下回るまで、スキャンラインを
ｌ変化させるごとに判定変数Ｅに誤差としてＧ２を加算
するとともに、そのスキャンライン上に発生させるべき
ドツトの数ｎをＮ＋１と判定し続ける。
Ｅが１を越えるまで、スキャンラインを１変化させるご
とに判定変数已に誤差としてＧを加算するとともに、そ
のスキャンライン上に発生させるべきドツトの数ｎをＮ
と判定し続け、−方、判定変数Ｅが１よりも大きい間は
、その判定変数Ｅが１を下回るまで、スキャンラインを
ｌ変化させるごとに判定変数Ｅに誤差としてＧ２を加算
するとともに、そのスキャンライン上に発生させるべき
ドツトの数ｎをＮ＋１と判定し続ける。
この方法に従えば、第４図の例において、ｙ＝１のスキ
ャンライン上に発生させるドツト数は基本ドツト数３で
あるので、第２図のドツト発生用アキュムレータ（ＡＣ
Ｃ）１２にコード“０Ｏ１１１０００”を発生させ、こ
れを、ビットマツプメモリ３のアドレス″０００４ ”
に転送する（第６図参照）。このとき、ドツト発生用ア
キュムレータ（ＡＣＣ）１２に発生させるコードにおい
て、“１″の立ち上がるビット位ｆ（ｙ−１のスキャン
ライン上では左から３ビツト目〉は、Ｘ軸方向における
発生ドツト数を累積して、その位置を計算するためのＸ
座標位置決定用アキュムレータ（Ｘ−ＡＣＣ）５を用い
て決定される。即ち、このＸ座標位置決定用アキュムレ
ータ（Ｘ−ＡＣＣ）５において、既に発生させたドツト
の数を累積し、その累積値をワード幅（本実施例の場合
には８）で割った剰余Ｒの次のビット位置を、ドツト発
生用アキュムレータ（ＡＣＣ）１２における“′１“の
立ち上がるビット位置としてＣＰＵ１により決定する。
ャンライン上に発生させるドツト数は基本ドツト数３で
あるので、第２図のドツト発生用アキュムレータ（ＡＣ
Ｃ）１２にコード“０Ｏ１１１０００”を発生させ、こ
れを、ビットマツプメモリ３のアドレス″０００４ ”
に転送する（第６図参照）。このとき、ドツト発生用ア
キュムレータ（ＡＣＣ）１２に発生させるコードにおい
て、“１″の立ち上がるビット位ｆ（ｙ−１のスキャン
ライン上では左から３ビツト目〉は、Ｘ軸方向における
発生ドツト数を累積して、その位置を計算するためのＸ
座標位置決定用アキュムレータ（Ｘ−ＡＣＣ）５を用い
て決定される。即ち、このＸ座標位置決定用アキュムレ
ータ（Ｘ−ＡＣＣ）５において、既に発生させたドツト
の数を累積し、その累積値をワード幅（本実施例の場合
には８）で割った剰余Ｒの次のビット位置を、ドツト発
生用アキュムレータ（ＡＣＣ）１２における“′１“の
立ち上がるビット位置としてＣＰＵ１により決定する。
既述したｙ＝ｏのスキャンラインの場合と同様、このｙ
−ｉのスキャンラインにおいても、ドツト発生用アキュ
ムレータ（ＡＣＣ）１２に発生させるコードのＬＳＢが
Ｏｎになった時点で、このスキャンライン上でのドツト
発生が終了したことになるので、第２図のカウンタ４に
より）’＝）’＋１として、スキャンラインをシフトさ
せ、次に、ｙ−２のスキャンライン上でのドツト発生を
行う。
−ｉのスキャンラインにおいても、ドツト発生用アキュ
ムレータ（ＡＣＣ）１２に発生させるコードのＬＳＢが
Ｏｎになった時点で、このスキャンライン上でのドツト
発生が終了したことになるので、第２図のカウンタ４に
より）’＝）’＋１として、スキャンラインをシフトさ
せ、次に、ｙ−２のスキャンライン上でのドツト発生を
行う。
スキャンラインがｙ＝２に移動した時点で判定変数Ｅが
１を越えるので、このｙ＝２のスキャンライン上に発生
させるべきドツトの数は３＋１＝４となる。そこでドツ
ト発生用アキュムレータ（ＡＣＣ）１２に°“１“を４
個立てようとするが、この場合、Ｘ座標位置決定用アキ
ュムレータ（Ｘ−ＡＣＣ）５により決定される“°１”
の立ち上がるビット位置がＬＳＢから３ビツト目になる
ので、４個の“１°゛を立てることができない。そこで
ドツト発生用アキュムレータ（ＡＣＣ）１２に、まず３
個の“１”からなるコード゛０００００１１１″を発生
させ、第６図に示すように、これを、ビットマツプメモ
リ３のアドレス“ｏｏｏｓ”に転送する。そして、その
時点で、直線の描画位置がＸ軸方向に移動してＢ列の領
域に入ったと判断し、残りの１ビツトのみを“１゛°と
したコード“１０００００００″をドツト発生用アキュ
ムレータ（ＡＣＣ）１２に発生させ、これを、ビットマ
ツプメモリ３のアドレス″０００９”に転送する。
１を越えるので、このｙ＝２のスキャンライン上に発生
させるべきドツトの数は３＋１＝４となる。そこでドツ
ト発生用アキュムレータ（ＡＣＣ）１２に°“１“を４
個立てようとするが、この場合、Ｘ座標位置決定用アキ
ュムレータ（Ｘ−ＡＣＣ）５により決定される“°１”
の立ち上がるビット位置がＬＳＢから３ビツト目になる
ので、４個の“１°゛を立てることができない。そこで
ドツト発生用アキュムレータ（ＡＣＣ）１２に、まず３
個の“１”からなるコード゛０００００１１１″を発生
させ、第６図に示すように、これを、ビットマツプメモ
リ３のアドレス“ｏｏｏｓ”に転送する。そして、その
時点で、直線の描画位置がＸ軸方向に移動してＢ列の領
域に入ったと判断し、残りの１ビツトのみを“１゛°と
したコード“１０００００００″をドツト発生用アキュ
ムレータ（ＡＣＣ）１２に発生させ、これを、ビットマ
ツプメモリ３のアドレス″０００９”に転送する。
そして、ここでドツト発生用アキエムレータ（ＡＣＣ）
１２に発生させたコードのＬＳＢがＯ”°となるので、
このスキャンライン上での直線描画が終了したと判断し
、次のスキャンライン上での直線描画に移る。この時、
判定変数Ｅに加算する誤差はＧ２になっている。
１２に発生させたコードのＬＳＢがＯ”°となるので、
このスキャンライン上での直線描画が終了したと判断し
、次のスキャンライン上での直線描画に移る。この時、
判定変数Ｅに加算する誤差はＧ２になっている。
スキャンラインがｙ＝３に移動した時には、判定変数Ｅ
が１を下回るので、発生ドツト数ｎは基本ドツト数３と
なる。そして、上記と同様にして所定位置にドツトを発
生させた後、更にスキャンラインを移動させる。この時
、判定変数Ｅに加算する誤差はＧｔになっている。
が１を下回るので、発生ドツト数ｎは基本ドツト数３と
なる。そして、上記と同様にして所定位置にドツトを発
生させた後、更にスキャンラインを移動させる。この時
、判定変数Ｅに加算する誤差はＧｔになっている。
以下同様にして、ビットマツプメモリ３のアドレス“０
０２６“までドツトを発生させ、終点描画ステップに入
る。
０２６“までドツトを発生させ、終点描画ステップに入
る。
この終点描画ステップは、発生させるドツト位置が終点
座標に達したかどうかを判断し、達している場合には、
そのスキャンライン上に発生させるべきドツト数ｎの如
何にかかわらず、ドツト発生位置を終点座標位置でクリ
ップすることにより行うことができる。
座標に達したかどうかを判断し、達している場合には、
そのスキャンライン上に発生させるべきドツト数ｎの如
何にかかわらず、ドツト発生位置を終点座標位置でクリ
ップすることにより行うことができる。
以上の動作により、例えば第４図に示すようなドツトパ
ターン形成面に直線を描画するためのドツトパターンが
ビットマツプメモリ３内に格納される。
ターン形成面に直線を描画するためのドツトパターンが
ビットマツプメモリ３内に格納される。
上述したように、本実施例においては、バッファレジス
タとしての機能を具備するドツト発生用アキュムレータ
（ＡＣＣ）１２のワード幅単位で一度にドツトを発生さ
せることができるので、ＣＰＵ１の演算部（ＡＬＵ）１
１での計算効率が良くなり、描画速度が向上する。
タとしての機能を具備するドツト発生用アキュムレータ
（ＡＣＣ）１２のワード幅単位で一度にドツトを発生さ
せることができるので、ＣＰＵ１の演算部（ＡＬＵ）１
１での計算効率が良くなり、描画速度が向上する。
なお、上述の実施例では、ドツトパターン形成面のＸ軸
に対する傾斜角度ｄがＯ’＜ｄ＜４５゜の直線を描画す
る場合を説明したが、それ以外の直線の場合にも、はぼ
同様の構成によって描画することができる。その場合に
は、第１図の基本ドツト数計算手段１０１の前段に、描
画すべき直線の傾きを識別するための傾き識別手段と、
この傾き識別手段により識別された直線の傾きに応じて
適当に座標変換を行うための座標変換手段を設ければよ
い。例えば、描画すべき直線の傾斜角度ｄが４５°＜ｄ
＜９０°の場合には、座標変換手段によりｘ＝ｙ、ｙ＝
ｘの座標変換を行った後、上述の実施例と同じ手順でド
ツト発生及びビットマツプメモリへの書き込みを行い、
このビットマツプメモリから読み出して出力する際に、
再び座標変換手段によりｘ＝ｙ、ｙ””ｘの座標変換を
行って、座標系を元に戻せばよい。或いは、ビットマツ
プメモリへの書き込みを行う際に、座標系を元に戻して
もよい。同様に、−４５” ＜ｄ＜Ｏｏの場合には、ｙ
＝−ｙの座標変換を行えばよく、また、−９０＠＜ｄ＜
−４５＠の場合には、χ＝−ｙ、ｙ−ｘの座標変換を行
えばよい。
に対する傾斜角度ｄがＯ’＜ｄ＜４５゜の直線を描画す
る場合を説明したが、それ以外の直線の場合にも、はぼ
同様の構成によって描画することができる。その場合に
は、第１図の基本ドツト数計算手段１０１の前段に、描
画すべき直線の傾きを識別するための傾き識別手段と、
この傾き識別手段により識別された直線の傾きに応じて
適当に座標変換を行うための座標変換手段を設ければよ
い。例えば、描画すべき直線の傾斜角度ｄが４５°＜ｄ
＜９０°の場合には、座標変換手段によりｘ＝ｙ、ｙ＝
ｘの座標変換を行った後、上述の実施例と同じ手順でド
ツト発生及びビットマツプメモリへの書き込みを行い、
このビットマツプメモリから読み出して出力する際に、
再び座標変換手段によりｘ＝ｙ、ｙ””ｘの座標変換を
行って、座標系を元に戻せばよい。或いは、ビットマツ
プメモリへの書き込みを行う際に、座標系を元に戻して
もよい。同様に、−４５” ＜ｄ＜Ｏｏの場合には、ｙ
＝−ｙの座標変換を行えばよく、また、−９０＠＜ｄ＜
−４５＠の場合には、χ＝−ｙ、ｙ−ｘの座標変換を行
えばよい。
なお、上記実施例の方法では、ｄ＝０＠及びｄ＝９０＠
の直線は描画することができない（基本ドツト数Ｎの計
算ができないため）が、その場合でも、上述した直線の
傾き識別手段を用いれば、その直線を描画することがで
きる。例えば、傾き識別手段により直線の傾きがｄ＝０
°又はｄ＝９０°であることを識別したならば、その直
線の任意の点のＸ座標又はＸ座標を求め、その座標に基
づいて、Ｘ軸又はＹ軸に平行な特定のスキャンライン上
の始点及び終点間の全てのドツト発生点にドツトを発生
させればよい。
の直線は描画することができない（基本ドツト数Ｎの計
算ができないため）が、その場合でも、上述した直線の
傾き識別手段を用いれば、その直線を描画することがで
きる。例えば、傾き識別手段により直線の傾きがｄ＝０
°又はｄ＝９０°であることを識別したならば、その直
線の任意の点のＸ座標又はＸ座標を求め、その座標に基
づいて、Ｘ軸又はＹ軸に平行な特定のスキャンライン上
の始点及び終点間の全てのドツト発生点にドツトを発生
させればよい。
本発明の方法及び装置は、あらゆる種類のドツト式プロ
ッタ、プリンタ、デイスプレィ等に適用が可能である。
ッタ、プリンタ、デイスプレィ等に適用が可能である。
その場合、ドツトパターン形成面は実際に存在している
必要はなく、ビットマツプメモリ内に展開された仮想的
な概念であってよい。
必要はなく、ビットマツプメモリ内に展開された仮想的
な概念であってよい。
また、液晶デイスプレィ等のデイスプレィ装置に本発明
を適用する場合には、そのデイスプレィ装置の各画素を
１つのドツトとみなして、本発明を適用すればよい。
を適用する場合には、そのデイスプレィ装置の各画素を
１つのドツトとみなして、本発明を適用すればよい。
本発明の方法及び装置によれば、直線の描画処理速度を
、従来のものよりも速くすることができる。特に、従来
処理速度が極めて遅かった一方の軸に対して傾きの小さ
い直線はど、その効果は顕著である。
、従来のものよりも速くすることができる。特に、従来
処理速度が極めて遅かった一方の軸に対して傾きの小さ
い直線はど、その効果は顕著である。
第１図は本発明の基本構成を示すブロック図、第２図は
本発明の一実施例による直線描画装置の構成を示すブロ
ック図、第３図は第２図のＣＰＵの動作を示すフローチ
ャート、第４図及び第５図は直線描画の実例を示す概念
図、第６図はビットマツプメモリの内容を示す説明図、
第７図は従来の直線描画方法を示す説明図である。 なお、図面に用いた符号において、 １ ・・・・・・ ＣＰＵ ３ ・・・・・・ ビットマツプメモリｏｔ ０２ ０３ ０４ ０５ ０６ ０７ カウンタ Ｘ座標位置決定用アキュムレータ （Ｘ−ＡＣＣ） 演算部（ＡＬＵ） ドツト発生用アキュムレータ （ＡＣＣ） 基本ドツト数計算手段 ドツト数判定手段 ドツト発生手段 バッファレジスタ 転送手段 ビットマツプメモリ スキャンラインシフト手段
本発明の一実施例による直線描画装置の構成を示すブロ
ック図、第３図は第２図のＣＰＵの動作を示すフローチ
ャート、第４図及び第５図は直線描画の実例を示す概念
図、第６図はビットマツプメモリの内容を示す説明図、
第７図は従来の直線描画方法を示す説明図である。 なお、図面に用いた符号において、 １ ・・・・・・ ＣＰＵ ３ ・・・・・・ ビットマツプメモリｏｔ ０２ ０３ ０４ ０５ ０６ ０７ カウンタ Ｘ座標位置決定用アキュムレータ （Ｘ−ＡＣＣ） 演算部（ＡＬＵ） ドツト発生用アキュムレータ （ＡＣＣ） 基本ドツト数計算手段 ドツト数判定手段 ドツト発生手段 バッファレジスタ 転送手段 ビットマツプメモリ スキャンラインシフト手段
Claims (4)
- （１）ドット発生点がマトリックス状に配列されたドッ
トパターン形成面にドットによる直線パターンを形成さ
せる直線描画方法において、 前記ドット発生点のマトリックスの一辺に平行なスキャ
ンラインを、そのスキャンラインに垂直な方向に順次シ
フトさせて前記直線パターンを形成させるようになし、 その際、形成すべき理想直線の前記スキャンラインに対
する傾きに基づいて、１つのスキャンライン上に発生さ
せる基本のドット数Ｎを求め、発生させたドットの位置
と前記理想直線との間の誤差を前記スキャンラインのシ
フト毎に累積し、その累積結果から、次のスキャンライ
ン上に発生させるべきドットの数ｎが前記ＮとＮ＋１と
のいずれであるか、又は、前記ＮとＮ−１とのいずれで
あるかを判定し、 この判定結果に応じた数のドットを、所定のワード幅に
対応して設けられたバッファレジスタに発生させ、 このバッファレジスタの内容を、前記ドット発生点のマ
トリックスに対応して設けられたビットマップメモリに
転送することを特徴とする直線描画方法。 - （２）前記理想直線の傾きΔｙ／Δｘの逆数の整数部を
前記基本のドット数Ｎとすることを特徴とする請求項１
記載の直線描画方法。 - （３）ドット発生点のマトリックスに対応したビットマ
ップを有し、且つ、所定のワード幅単位で書き込み及び
読み出しが行われるビットマップメモリと、 前記ドット発生点のマトリックスの一辺に平行なスキャ
ンラインを、そのスキャンラインに垂直な方向にシフト
させるスキャンラインシフト手段と、 形成すべき理想直線の前記スキャンラインに対する傾き
に基づいて、１つのスキャンライン上に発生させる基本
のドット数Ｎを求める基本ドット数計算手段と、 発生させたドットの位置と前記理想直線との間の誤差を
前記スキャンラインのシフト毎に累積し、その累積結果
から、次のスキャンライン上に発生させるべきドットの
数ｎが前記ＮとＮ＋１とのいずれであるか、又は、前記
ＮとＮ−１とのいずれであるかを判定するドット数判定
手段と、 前記ビットマップメモリの前記ワード幅に対応して設け
られたバッファレジスタと、 前記ドット数判定手段による判定結果に応じた数のドッ
トを前記バッファレジスタに発生させるドット発生手段
と、 前記バッファレジスタの内容を前記ビットマップメモリ
に転送する転送手段とを有することを特徴とする直線描
画装置。 - （４）前記基本ドット数計算手段は、前記理想直線の傾
きΔｙ／Δｘの逆数の整数部を前記基本のドット数Ｎと
するものであることを特徴とする請求項３記載の直線描
画装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1284001A JP2630843B2 (ja) | 1989-10-31 | 1989-10-31 | 直線描画方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1284001A JP2630843B2 (ja) | 1989-10-31 | 1989-10-31 | 直線描画方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03144867A true JPH03144867A (ja) | 1991-06-20 |
| JP2630843B2 JP2630843B2 (ja) | 1997-07-16 |
Family
ID=17673009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1284001A Expired - Fee Related JP2630843B2 (ja) | 1989-10-31 | 1989-10-31 | 直線描画方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2630843B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09150558A (ja) * | 1995-11-29 | 1997-06-10 | Nec Corp | プリンタ用描画装置 |
| JP2002342763A (ja) * | 2001-05-15 | 2002-11-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 線分描画装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6292077A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Fujitsu Ltd | パタ−ン発生方式 |
-
1989
- 1989-10-31 JP JP1284001A patent/JP2630843B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6292077A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-04-27 | Fujitsu Ltd | パタ−ン発生方式 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09150558A (ja) * | 1995-11-29 | 1997-06-10 | Nec Corp | プリンタ用描画装置 |
| JP2002342763A (ja) * | 2001-05-15 | 2002-11-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 線分描画装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2630843B2 (ja) | 1997-07-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |