JPH0315182B2 - - Google Patents
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- JPH0315182B2 JPH0315182B2 JP62003716A JP371687A JPH0315182B2 JP H0315182 B2 JPH0315182 B2 JP H0315182B2 JP 62003716 A JP62003716 A JP 62003716A JP 371687 A JP371687 A JP 371687A JP H0315182 B2 JPH0315182 B2 JP H0315182B2
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- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は記録用静電装置に関する。
電子複写機又は、静電プリンタのごとき静電機
器においては、コロナ放電、Se、CdS等の感光体
を使用するが、これらは湿度、温度、経時変化等
の影響を直接受けるので、感光体上に形成される
静電潜像は露光量、コロナ放電器への印加電圧を
一定としてもかなり変動するものである。
器においては、コロナ放電、Se、CdS等の感光体
を使用するが、これらは湿度、温度、経時変化等
の影響を直接受けるので、感光体上に形成される
静電潜像は露光量、コロナ放電器への印加電圧を
一定としてもかなり変動するものである。
従つて、係る静電潜像トナーにより顕像化した
場合も、顕像化により得た画像は不安定なものと
なつてしまつていたものである。
場合も、顕像化により得た画像は不安定なものと
なつてしまつていたものである。
係る欠点を除去するためには潜像もしくは顕像
を測定し、この測定結果に基づいて、一時帯電、
露光、現像バイアス等を制御すれば良いものであ
る。上述のごとき、制御サイクルは常時行わせて
よいものであるが、常時行わせようとすると、静
電潜像被形成部材において静電潜像を作成する区
域以外に測定用の像を形成する区域を設けなけれ
ばならず、前記制御サイクルの為に静電潜像被形
成部材まで変更せねばならず、又、装置を大型化
してしまうものである。更に、制御サイクルを行
う必要がないときでも無駄な時間を要してしま
い、像形成に必要な時間が長くなつてしまう。
を測定し、この測定結果に基づいて、一時帯電、
露光、現像バイアス等を制御すれば良いものであ
る。上述のごとき、制御サイクルは常時行わせて
よいものであるが、常時行わせようとすると、静
電潜像被形成部材において静電潜像を作成する区
域以外に測定用の像を形成する区域を設けなけれ
ばならず、前記制御サイクルの為に静電潜像被形
成部材まで変更せねばならず、又、装置を大型化
してしまうものである。更に、制御サイクルを行
う必要がないときでも無駄な時間を要してしま
い、像形成に必要な時間が長くなつてしまう。
本発明は上記の欠点を除去することを目的とす
るものである。
るものである。
即ち、本発明は記録用静電装置において、静電
潜像被形成部材上に潜像形成手段により記録用静
電潜像を形成し、該記録用静電潜像を顕像手段に
より顕像化し、顕像を転写材に転写するプロセス
サイクルと、静電潜像被形成部材の転写に寄与す
る静電形成領域内に記録用とは異なる測定用の光
像を所斗時間照射し、前記静電潜像被形成部材上
に形成された測定用の像の表面電位を測定し、測
定結果により前記潜像形成手段を制御し、前記プ
ロセスサイクルと独立した測定サイクルを有し、
記録開始指令の印加により前記測定サイクルを実
行した後、前記プロセスサイクルを実行する第1
モードと、記録開始指令の印加により前記測定サ
イクルを実行せずに、前記プロセスサイクルを実
行する第2モードとを有し、前回の第1モードを
実行する記録開始指令が印加されてから所定時間
が経過するまでの第1期間、前回の記第1モード
を実行する記録開始指令が印加された後の記録開
始指令の印加回数が所定回数になるまでの第2期
間、前記第1期間が経過後の記録開始指令の印加
回数が所定回数になるまでの第3期間、または前
記第1期間及び前記第2期間のうちの長い方の期
間である第4期間のうちのいづれか1つの期間に
おいて、前記記録開始指令が印加された場合は前
記第2モードを実行させ、このいづれか1つの期
間が経過した後に次の記録開始指令が印加された
場合は前記第1モードを実行させる制御手段を有
し、更に、前記制御手段は前記測定サイクル実行
中は前記転写材への転写を禁止する記録用静電装
置の提供にある。
潜像被形成部材上に潜像形成手段により記録用静
電潜像を形成し、該記録用静電潜像を顕像手段に
より顕像化し、顕像を転写材に転写するプロセス
サイクルと、静電潜像被形成部材の転写に寄与す
る静電形成領域内に記録用とは異なる測定用の光
像を所斗時間照射し、前記静電潜像被形成部材上
に形成された測定用の像の表面電位を測定し、測
定結果により前記潜像形成手段を制御し、前記プ
ロセスサイクルと独立した測定サイクルを有し、
記録開始指令の印加により前記測定サイクルを実
行した後、前記プロセスサイクルを実行する第1
モードと、記録開始指令の印加により前記測定サ
イクルを実行せずに、前記プロセスサイクルを実
行する第2モードとを有し、前回の第1モードを
実行する記録開始指令が印加されてから所定時間
が経過するまでの第1期間、前回の記第1モード
を実行する記録開始指令が印加された後の記録開
始指令の印加回数が所定回数になるまでの第2期
間、前記第1期間が経過後の記録開始指令の印加
回数が所定回数になるまでの第3期間、または前
記第1期間及び前記第2期間のうちの長い方の期
間である第4期間のうちのいづれか1つの期間に
おいて、前記記録開始指令が印加された場合は前
記第2モードを実行させ、このいづれか1つの期
間が経過した後に次の記録開始指令が印加された
場合は前記第1モードを実行させる制御手段を有
し、更に、前記制御手段は前記測定サイクル実行
中は前記転写材への転写を禁止する記録用静電装
置の提供にある。
これにより、必要に応じて測定サイクルを行な
うことができるので、像形成に必要な時間を増加
させてしまうのを極力防止することができ、か
つ、良好な画像を形成することができる。
うことができるので、像形成に必要な時間を増加
させてしまうのを極力防止することができ、か
つ、良好な画像を形成することができる。
また、記録用の静電潜像を作成するのと同一の
区域に測定用潜像を作成できるので、特別な静電
潜像被形成部材を用いづとも従来と同じ大きさの
ものを用いることができ、装置の大型化を防止で
きる。
区域に測定用潜像を作成できるので、特別な静電
潜像被形成部材を用いづとも従来と同じ大きさの
ものを用いることができ、装置の大型化を防止で
きる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
先ず、第1図〜第6図により静電複写装置にお
ける測定用の潜像の形成及び該測定用潜像の読出
しについて詳記する。
ける測定用の潜像の形成及び該測定用潜像の読出
しについて詳記する。
第1図Aは静電複写装置の要部を示す側面図で
あるが、係る装置においては感光ドラム(感光
体)11は、絶縁層12、光導電層13、及び導
電性基板14の三層より成るものであり、光導電
層13がN型の時は正に、P型の時は負に前記感
光ドラム11は帯電するものである。
あるが、係る装置においては感光ドラム(感光
体)11は、絶縁層12、光導電層13、及び導
電性基板14の三層より成るものであり、光導電
層13がN型の時は正に、P型の時は負に前記感
光ドラム11は帯電するものである。
尚、第2図A,Bは感光ドラムの断面及びその
等価回路を示すものであり、絶縁層12は抵抗R
12と容量C12の並列回路に、光導電層13は
抵抗R13と容量C13とダイオードD13(但
し光が照射されていない場合)の並列回路に置換
する事が出来るものである。
等価回路を示すものであり、絶縁層12は抵抗R
12と容量C12の並列回路に、光導電層13は
抵抗R13と容量C13とダイオードD13(但
し光が照射されていない場合)の並列回路に置換
する事が出来るものである。
従つて、直流電源15から得た直流電圧をスイ
ツチSW1を介してコロナ帯電器16に印加する
ならば、一次帯電の終了時においては感光体11
上には第3図Aに示す如く電荷が存在する。
ツチSW1を介してコロナ帯電器16に印加する
ならば、一次帯電の終了時においては感光体11
上には第3図Aに示す如く電荷が存在する。
等価回路で述べるならば、一次帯電は第3図B
に示す如く、端子T,T′に直流電源15を接続
したのと等価となり、容量C12,C13が帯電
したのと等価となる。
に示す如く、端子T,T′に直流電源15を接続
したのと等価となり、容量C12,C13が帯電
したのと等価となる。
次に前記一次帯電の時とは逆極性の直流電圧を
電源18よりスイツチSW2を介して、コロナ除
電器17に印加すると共に、光源19より得た光
20をハーフミラー21を介して照射する。(こ
の時の状態を第8図Aに示す)斯る光源19はラ
ンプ22及び該ランプ22からの光をスリツト状
に形成する光学系23とを有するものであり、斯
るランプ22には直流電源24からの電流をゲー
ト25を印加してランプ22を駆動しているもの
である。
電源18よりスイツチSW2を介して、コロナ除
電器17に印加すると共に、光源19より得た光
20をハーフミラー21を介して照射する。(こ
の時の状態を第8図Aに示す)斯る光源19はラ
ンプ22及び該ランプ22からの光をスリツト状
に形成する光学系23とを有するものであり、斯
るランプ22には直流電源24からの電流をゲー
ト25を印加してランプ22を駆動しているもの
である。
前述の如きグート25はスイツチSW6を介し
て、一定周波数の矩形波を発振する発振器26の
出力により制御されているものであり、例えば、
前記矩形波の高レベルではゲート25を閉じてラ
ンプ22を消灯し、低レベルではゲー25を開い
てランプ22を点灯する如く制御されるものであ
る。従つて、前記矩形波のデユーテイを50%とす
るならば、感光体11上には第8図Bに示す如く
(斜線部分は光20が照射された区域である)区
域Dに渡つて縞状に同時露光が行なわれる事とな
る。尚、上記光20の光強度は、後述の原稿台2
7をランプ28により照射した時、原稿台27上
の原稿30より反射して得られる光29の内、最
も強い光強度を有する光と大略等しい事が好まし
い。上に述べた如くして除電と光照射を行う事に
より第4図Aに示す如く光が照射された部分の電
荷はなくなり、光が照射されなかつた部分の電荷
は残るものである。
て、一定周波数の矩形波を発振する発振器26の
出力により制御されているものであり、例えば、
前記矩形波の高レベルではゲート25を閉じてラ
ンプ22を消灯し、低レベルではゲー25を開い
てランプ22を点灯する如く制御されるものであ
る。従つて、前記矩形波のデユーテイを50%とす
るならば、感光体11上には第8図Bに示す如く
(斜線部分は光20が照射された区域である)区
域Dに渡つて縞状に同時露光が行なわれる事とな
る。尚、上記光20の光強度は、後述の原稿台2
7をランプ28により照射した時、原稿台27上
の原稿30より反射して得られる光29の内、最
も強い光強度を有する光と大略等しい事が好まし
い。上に述べた如くして除電と光照射を行う事に
より第4図Aに示す如く光が照射された部分の電
荷はなくなり、光が照射されなかつた部分の電荷
は残るものである。
等価回路により説明するならば除電のみが行な
われた部分は、第4図Bに示す如く端子T,
T′間が短絡されたのと等しくなり、容量C12
の電荷が一部容量C13に移動し、図の如く帯電
したのと等価となる。
われた部分は、第4図Bに示す如く端子T,
T′間が短絡されたのと等しくなり、容量C12
の電荷が一部容量C13に移動し、図の如く帯電
したのと等価となる。
一方、除電が行なわれ、且つ光の照射も行なわ
れた区域はC図に示す如く、更にダイオードD1
3が短絡されたのと等しくなり、容量C12,C
13の電荷は共に零となつたのと等価となる。
れた区域はC図に示す如く、更にダイオードD1
3が短絡されたのと等しくなり、容量C12,C
13の電荷は共に零となつたのと等価となる。
次にスイツチSW3を介して直流電源31から
の直流を印加したランプ32により全面露光を行
うと、第3図Aに示す如く、光が当らなかつた区
域の絶縁層12の電荷が保存され、光が当つた区
域はそのまゝの状態を保つものである。
の直流を印加したランプ32により全面露光を行
うと、第3図Aに示す如く、光が当らなかつた区
域の絶縁層12の電荷が保存され、光が当つた区
域はそのまゝの状態を保つものである。
等価回路により説明すれば、全面露光はダイオ
ードD13を短絡した事と等しいので、光が当ら
なかつた区域においては第5図Bに示す如く容量
C13の電荷が放電し、光が当つた区域において
は第5図Cに示す如くその状態は変化しないもの
である。従つて第4図Bでは導電性基板14に対
して感光ドラムの表面電位は零近くであつたの
が、第5図BではC12に蓄えられた電荷分だけ
表面電位が上りコントラストが向上する。
ードD13を短絡した事と等しいので、光が当ら
なかつた区域においては第5図Bに示す如く容量
C13の電荷が放電し、光が当つた区域において
は第5図Cに示す如くその状態は変化しないもの
である。従つて第4図Bでは導電性基板14に対
して感光ドラムの表面電位は零近くであつたの
が、第5図BではC12に蓄えられた電荷分だけ
表面電位が上りコントラストが向上する。
この様にして感光体11上には静電潜像が形成
されるものであるが、上記説明においてDC除電
の代りにAC除電を行つても良い事は、良く知ら
れている処のものである。
されるものであるが、上記説明においてDC除電
の代りにAC除電を行つても良い事は、良く知ら
れている処のものである。
33で示すのは、17で示したのと同様の構成
より成り、ランプ35の光を照射したコロナ除電
器であり、前述の静電潜像形成手段(コロナ帯電
器16、コロナ除電器17、光20、ランプ3
2)により感光体11上に形成した静電潜像を除
電する事により、潜像電荷の放電による電流を導
電性基板14とアース間に接続した抵抗38間の
電位として端子39に導出する事により、静電潜
像を読み出すものである。
より成り、ランプ35の光を照射したコロナ除電
器であり、前述の静電潜像形成手段(コロナ帯電
器16、コロナ除電器17、光20、ランプ3
2)により感光体11上に形成した静電潜像を除
電する事により、潜像電荷の放電による電流を導
電性基板14とアース間に接続した抵抗38間の
電位として端子39に導出する事により、静電潜
像を読み出すものである。
斯る除電器33には、スイツチSW4を介して
直流電源34より除電電圧を印加し、又ランプ3
5は直流電源37からの電流をスイツチSW5を
介して印加しているものである。
直流電源34より除電電圧を印加し、又ランプ3
5は直流電源37からの電流をスイツチSW5を
介して印加しているものである。
斯る除電を等価回路により説明するならば、第
6図の如くなり、光が当らなかつた区域において
は第6図Bに示す如く容量C12の電荷が放電し
て電流C1が抵抗38を流れ、これにより端子3
9に電圧39を得る事が出来る。
6図の如くなり、光が当らなかつた区域において
は第6図Bに示す如く容量C12の電荷が放電し
て電流C1が抵抗38を流れ、これにより端子3
9に電圧39を得る事が出来る。
一方、光が当つた区域においては第6図Cに示
す如く容量C12に電荷は保持されていないので
放電々流は流れないものである。
す如く容量C12に電荷は保持されていないので
放電々流は流れないものである。
前記スイツチSW4,SW5は、静電潜像形成
手段により感光体11上に静電潜像が形成されて
から一定時間t1後ONとなり、このONと同時
に若しくは微少時間先行して前記スイツチSW
1,SW2,SW3をOFFとし、且つスイツチSW
6をOFFとして発振器26の発振出力の印加を
停止せしめて、前記ゲート25を閉じランプ22
の発光を停止させる。
手段により感光体11上に静電潜像が形成されて
から一定時間t1後ONとなり、このONと同時
に若しくは微少時間先行して前記スイツチSW
1,SW2,SW3をOFFとし、且つスイツチSW
6をOFFとして発振器26の発振出力の印加を
停止せしめて、前記ゲート25を閉じランプ22
の発光を停止させる。
前記時間t1は一定速で矢印S方向に回転する
感光体11上に、少なくとも縞模様の潜像を1周
期分以上形成するに必要な時間に設定するもので
あるので、この様に感光体11上に形成された縞
模様潜像が除電器33に対応する位置に到来する
ならば、除電と光照射が同時に行なわれる為、感
光体11上の電荷が放電され、この放電電流が抵
抗38を流れる。
感光体11上に、少なくとも縞模様の潜像を1周
期分以上形成するに必要な時間に設定するもので
あるので、この様に感光体11上に形成された縞
模様潜像が除電器33に対応する位置に到来する
ならば、除電と光照射が同時に行なわれる為、感
光体11上の電荷が放電され、この放電電流が抵
抗38を流れる。
従つて端子39には例えば第9図に示す如く矩
形状で電圧レベルV1とV2の間で変化する矩形
状の電圧信号を得る事が出来る。
形状で電圧レベルV1とV2の間で変化する矩形
状の電圧信号を得る事が出来る。
尚、V1は光20が照射された区域に形成され
た電荷像(理論的にはOVとなるべきであるが、
実際はこの様に光20が照射された区域にも電荷
が残るので、斯る区域を明部電荷像と呼ぶ)V2
は光20が照射されなかつた区域に形成された電
荷像(暗部電荷像と呼ぶ)に対応するものであ
る。
た電荷像(理論的にはOVとなるべきであるが、
実際はこの様に光20が照射された区域にも電荷
が残るので、斯る区域を明部電荷像と呼ぶ)V2
は光20が照射されなかつた区域に形成された電
荷像(暗部電荷像と呼ぶ)に対応するものであ
る。
以上のサイクルは測定サイクルであるが、この
様に測定サイクルの実行と共に、被制御部材の制
御を行う事が出来るものである。
様に測定サイクルの実行と共に、被制御部材の制
御を行う事が出来るものである。
即ち、斯る電圧V2により前記電源15の電圧
を制御し、斯る電圧V1により感光体11上に照
射する光強度を制御する事により(反射光29の
光路の一部に挿入したしぼり46をサーボモータ
47で制御する事により)最も好ましい静電潜像
を感光体11上に形成する事が出来るものであ
る。
を制御し、斯る電圧V1により感光体11上に照
射する光強度を制御する事により(反射光29の
光路の一部に挿入したしぼり46をサーボモータ
47で制御する事により)最も好ましい静電潜像
を感光体11上に形成する事が出来るものであ
る。
以上述べた如き制御サイクルは完了した後は、
通常の複写プロセス(プロセスサイクル)に入る
ものであり、スイツチSW1,SW2,SW3を再
びONとし、SW4,SW5をOFFとし、又原稿台
27を照射するランプ28を制御するスイツチ
SW7をONとして電源41からの電流をランプ
28に印加してこれを点灯する。しかる後、帯電
器16により帯電した感光体11上の区域(この
区域は既に最も好ましい帯電が行なわれている)
が少なくとも除電器17に対向する位置迄到来し
た時点で原稿台駆動モータMをスイツチSW11
により駆動して、原稿を載置した原稿台27を矢
印Mの方向に移動する事により、原稿で反射(透
過でも良いのは勿論である)した光29をミラー
42で反射させ、且つ既に適正なる光量を通過さ
せるべく制御されたしぼり46、及びハーフミラ
ーを通過させて第8図Aに示すスリツト光SLと
して除電位置に照射し、以下通常の複写プロセス
と同様にして情報潜像を現像器43においてトナ
ーにより顕像化された後、転写器44により不図
示の転写紙上にトナー像を転写し、感光体上の残
留トナーをクリーニングプレードにより取り除
き、感光体11の再潜像形成に備えるものであ
る。
通常の複写プロセス(プロセスサイクル)に入る
ものであり、スイツチSW1,SW2,SW3を再
びONとし、SW4,SW5をOFFとし、又原稿台
27を照射するランプ28を制御するスイツチ
SW7をONとして電源41からの電流をランプ
28に印加してこれを点灯する。しかる後、帯電
器16により帯電した感光体11上の区域(この
区域は既に最も好ましい帯電が行なわれている)
が少なくとも除電器17に対向する位置迄到来し
た時点で原稿台駆動モータMをスイツチSW11
により駆動して、原稿を載置した原稿台27を矢
印Mの方向に移動する事により、原稿で反射(透
過でも良いのは勿論である)した光29をミラー
42で反射させ、且つ既に適正なる光量を通過さ
せるべく制御されたしぼり46、及びハーフミラ
ーを通過させて第8図Aに示すスリツト光SLと
して除電位置に照射し、以下通常の複写プロセス
と同様にして情報潜像を現像器43においてトナ
ーにより顕像化された後、転写器44により不図
示の転写紙上にトナー像を転写し、感光体上の残
留トナーをクリーニングプレードにより取り除
き、感光体11の再潜像形成に備えるものであ
る。
前述の如き各スイツチの制御(換言するならば
2つのサイクルの実行)は、例えば第10図の如
き回路により実現する事が出来る。
2つのサイクルの実行)は、例えば第10図の如
き回路により実現する事が出来る。
50〜53で示すのは夫々時間T1,T2,T
3,T4を計時する計時回路であり、計時の期間
中信号線L1〜L4に高レベル信号を導出するも
のである。斯る信号線L1〜L4は信号線C1〜
C7,C11とマトリツクス状に形成されてお
り、図において丸印で示した個所は信号線LとC
がダイオード結合されている個所である。
3,T4を計時する計時回路であり、計時の期間
中信号線L1〜L4に高レベル信号を導出するも
のである。斯る信号線L1〜L4は信号線C1〜
C7,C11とマトリツクス状に形成されてお
り、図において丸印で示した個所は信号線LとC
がダイオード結合されている個所である。
信号線C1〜C7,C11は夫々スイツチSW
1〜SW7,SW11を制御する為の信号線であ
り、信号線Cに高レベル信号が導出される事によ
り、スイツチSWはONとなり、低レベル信号が
導出される事によりOFFとなるものである。
1〜SW7,SW11を制御する為の信号線であ
り、信号線Cに高レベル信号が導出される事によ
り、スイツチSWはONとなり、低レベル信号が
導出される事によりOFFとなるものである。
端子54はコピー指令ボタンの操作により導出
されるコピー信号(記録開始指令)を印加する端
子であり、斯るコピー信号の印加よりT1時間だ
け計時回路50より高レベル信号(他の計時回路
51〜53は低レベル信号)を導出する。
されるコピー信号(記録開始指令)を印加する端
子であり、斯るコピー信号の印加よりT1時間だ
け計時回路50より高レベル信号(他の計時回路
51〜53は低レベル信号)を導出する。
従つて、コピー信号の印加よりT1時間はスイ
ツチSW1,SW2,SW3,SW6がONとなり、
他のスイツチはOFFとなるものである。但し、
必要とあらばスイツチSW4,SW5はONとして
おいても良い。
ツチSW1,SW2,SW3,SW6がONとなり、
他のスイツチはOFFとなるものである。但し、
必要とあらばスイツチSW4,SW5はONとして
おいても良い。
斯る時間T1は測定用の縞模様の潜像を形成す
る時間であり、帯電器16に対応していた感光体
11の区域がランプ32に対向する迄に要する時
間に、前記時間t1を加えた時間以上を有すれば
良いものであり、斯る時間T1の経過によりラン
プ22により形成された潜像が、少なくともラン
プ32と除電器33の間に位置するものである。
る時間であり、帯電器16に対応していた感光体
11の区域がランプ32に対向する迄に要する時
間に、前記時間t1を加えた時間以上を有すれば
良いものであり、斯る時間T1の経過によりラン
プ22により形成された潜像が、少なくともラン
プ32と除電器33の間に位置するものである。
斯る計時回路50の出力信号の立下により、計
時回路51が駆動され、時間t2に渡つて信号線
L2に高レベル信号(他の信号線L1,L3,L
4は低レベル信号)を導出する。
時回路51が駆動され、時間t2に渡つて信号線
L2に高レベル信号(他の信号線L1,L3,L
4は低レベル信号)を導出する。
従つて、T2時間はスイツチSW4,SW5が
ONとなり、他のスイツチはOFFとなる。
ONとなり、他のスイツチはOFFとなる。
斯る時間T2は測定用の潜像を読出す時間であ
り、端子39にランプ22により形成された明部
潜像と暗部潜像を読み出した信号を得るに充分な
る時間であれば良いものである。
り、端子39にランプ22により形成された明部
潜像と暗部潜像を読み出した信号を得るに充分な
る時間であれば良いものである。
前記計時回路50,51の駆動によるサイクル
が測定サイクルである。
が測定サイクルである。
斯る計時回路51の出力信号の立下りにより、
計時回路52が駆動され、時間T3に渡つて信号
線L3に高レベル信号(他の信号線L1,L2,
L4は低レベル信号)を導出する。
計時回路52が駆動され、時間T3に渡つて信号
線L3に高レベル信号(他の信号線L1,L2,
L4は低レベル信号)を導出する。
従つてT3時間はスイツチSW1〜SW5,SW
7をONとし、スイツチSW6,SW11をOFFと
する。
7をONとし、スイツチSW6,SW11をOFFと
する。
斯る時間T3は通常の複写プロセスの一部であ
り情報潜像形成の為の一次帯電の時間であるの
で、帯電器16に対向していた感光体11の区域
が除電器17に対向する迄に要する時間以上とな
れば良いものである。
り情報潜像形成の為の一次帯電の時間であるの
で、帯電器16に対向していた感光体11の区域
が除電器17に対向する迄に要する時間以上とな
れば良いものである。
斯る計時回路52の出力信号の立下りにより、
計時回路53が駆動され、時間T4に渡つて信号
線L4に高レベル信号(他の信号線L1〜L3は
低レベル信号)を導出する。
計時回路53が駆動され、時間T4に渡つて信号
線L4に高レベル信号(他の信号線L1〜L3は
低レベル信号)を導出する。
従つて、T4時間はスイツチSW1〜SW3及
びSW7,SW11がONとなりスイツチSW4,
SW5,SW6がOFFとなる。
びSW7,SW11がONとなりスイツチSW4,
SW5,SW6がOFFとなる。
斯る時間T4は通常の複写プロセスにおいて前
記時間T3の残余の部分であるので、原稿台27
からの反射光が区域D(8図A)の幅で感光体1
1に照射された現像、転写されるに充分な時間で
あれば良い。
記時間T3の残余の部分であるので、原稿台27
からの反射光が区域D(8図A)の幅で感光体1
1に照射された現像、転写されるに充分な時間で
あれば良い。
従つて、前記計時回路52,53の駆動による
サイクルがプロセスサイクルである。
サイクルがプロセスサイクルである。
上記実施例においては、3層構成より成る感光
体を用いるものについて例示したが、第1図の感
光体11より絶縁層12を除去した感光体、即ち
2層構成の感光体においても本発明を同様に実施
し得るものである。
体を用いるものについて例示したが、第1図の感
光体11より絶縁層12を除去した感光体、即ち
2層構成の感光体においても本発明を同様に実施
し得るものである。
この場合は第1図Aにおける静電潜像を形成す
る為には除電器17、ランプ32は不要となり、
又除電する為のランプ35は不要となるものであ
るので、第1図Bに示す如き回路で良く第1図A
に示した3層構成の感光体を用いる場合に比して
その構成は極めて簡単となる。
る為には除電器17、ランプ32は不要となり、
又除電する為のランプ35は不要となるものであ
るので、第1図Bに示す如き回路で良く第1図A
に示した3層構成の感光体を用いる場合に比して
その構成は極めて簡単となる。
斯る2層構成の制御回路も第10図に示したも
のを用いる事が出来るものである。但し信号線C
2,C3,C5は不要である。
のを用いる事が出来るものである。但し信号線C
2,C3,C5は不要である。
第1図Aに示した実施例においては、通常の複
写装置に加えて、除電器33、ランプ35を新た
に付加したものについて説明したが、この様に新
たに付加せずとも、除電器17、ランプ22をそ
のまま用いる事も出来るものである。
写装置に加えて、除電器33、ランプ35を新た
に付加したものについて説明したが、この様に新
たに付加せずとも、除電器17、ランプ22をそ
のまま用いる事も出来るものである。
第7図はかかる実施例を示すものであり、第1
図Aと同一の番号を付した部材は第1図Aと同一
の部材より成り、同一の機能を果すものである。
図Aと同一の番号を付した部材は第1図Aと同一
の部材より成り、同一の機能を果すものである。
斯る実施例においては、静電潜像形成用除電器
と読出用除電器を兼用させた事により、新たにス
イツチSW8,SW9,SW10を付加して設けて
成るものである。
と読出用除電器を兼用させた事により、新たにス
イツチSW8,SW9,SW10を付加して設けて
成るものである。
即ち、スイツチSW8をONとするとゲート2
5の動作には無関係に電源24の電流をランプ2
2に印加するものであるので、斯るスイツチSW
8の投入時は常時第8図Aに示す如くスリツト状
の光SLが感光体に照射されているものである。
5の動作には無関係に電源24の電流をランプ2
2に印加するものであるので、斯るスイツチSW
8の投入時は常時第8図Aに示す如くスリツト状
の光SLが感光体に照射されているものである。
又スイツチSW9,SW10は夫々現像器43、
転写器44の機能を停止させる為のスイツチであ
り、斯るスイツチをONとすると現像器、転写器
を本来の機能を遂行し、OFFとするとその機能
が停止させられるものである。
転写器44の機能を停止させる為のスイツチであ
り、斯るスイツチをONとすると現像器、転写器
を本来の機能を遂行し、OFFとするとその機能
が停止させられるものである。
第11図は第7図で示した装置における各スイ
ツチSWの制御を行うスイツチ制御回路を更に詳
細に示すものであるが、第10図で説明したのと
同様に、信号線l1〜l4と信号線cl1〜cl9は
丸印で示した個所においてダイオード結合されて
おり、信号線cl1〜cl9に高レベル信号が導出さ
れた時、対応するスイツチSWをONとするもの
である。
ツチSWの制御を行うスイツチ制御回路を更に詳
細に示すものであるが、第10図で説明したのと
同様に、信号線l1〜l4と信号線cl1〜cl9は
丸印で示した個所においてダイオード結合されて
おり、信号線cl1〜cl9に高レベル信号が導出さ
れた時、対応するスイツチSWをONとするもの
である。
さてここで、端子60にトリガー信号が印加さ
れると、計時回路61が起動され時間t1に渡つ
て信号線l1に高レベル信号が導出され、スイツ
チSW1〜SW3,SW6がONとなり、スイツチ
SW7〜SW11がOFFとなる。
れると、計時回路61が起動され時間t1に渡つ
て信号線l1に高レベル信号が導出され、スイツ
チSW1〜SW3,SW6がONとなり、スイツチ
SW7〜SW11がOFFとなる。
斯る時間t1は測定用の縞模様の潜像を形成す
る時間であるので、帯電器16に対向していた感
光体11上の位置がランプ32に対向する位置を
過ぎた後、若干位置(少なくとも1組以上の明部
電荷像と暗部電荷像が形成されれば良い)迄進行
するに充分な時期であれば良い。
る時間であるので、帯電器16に対向していた感
光体11上の位置がランプ32に対向する位置を
過ぎた後、若干位置(少なくとも1組以上の明部
電荷像と暗部電荷像が形成されれば良い)迄進行
するに充分な時期であれば良い。
斯る計時回路61の出力信号の立下りにより計
時回路62が駆動され、時間t2に渡つて信号線
l2のみに高レベル信号が導出される。
時回路62が駆動され、時間t2に渡つて信号線
l2のみに高レベル信号が導出される。
従つて斯る時間t2期間は、スイツチSW2,
SW8のみがONとなり、他のスイツチSWはOFF
となる。
SW8のみがONとなり、他のスイツチSWはOFF
となる。
斯る時間t2は測定用潜像を読出す時間である
ので、感光体11上に形成された縞模様の静電潜
像の先端(感光体11は矢印S方向に一定速で回
転するものとする)が除電器17で読み出すに充
分な量だけ該除電器17を通過するに充分な時間
であれば良いものである。斯る除電により端子3
9上には明部電荷像と暗部電荷像に対応した、明
部信号、暗部信号が得られる事となる。上記計時
回路61,62の駆動期間が測定サイクルであ
る。斯る計時回路62の出力信号の立下りによ
り、計時回路63が駆動され、時間t3に渡つて
信号線l3のみに高レベル信号が導出される。
ので、感光体11上に形成された縞模様の静電潜
像の先端(感光体11は矢印S方向に一定速で回
転するものとする)が除電器17で読み出すに充
分な量だけ該除電器17を通過するに充分な時間
であれば良いものである。斯る除電により端子3
9上には明部電荷像と暗部電荷像に対応した、明
部信号、暗部信号が得られる事となる。上記計時
回路61,62の駆動期間が測定サイクルであ
る。斯る計時回路62の出力信号の立下りによ
り、計時回路63が駆動され、時間t3に渡つて
信号線l3のみに高レベル信号が導出される。
従つて、斯る時間t3期間はスイツチSW1〜
SW3,SW7,SW9,SW10がONとなり、
他のスイツチはOFFとなつているものである。
SW3,SW7,SW9,SW10がONとなり、
他のスイツチはOFFとなつているものである。
斯る時間t3は通常の複写プロセスにおける一
次帯電を行う為の時間であり、帯電器16に対向
する個所が除電器17を通過するに充分な時間で
あれば良いものである。
次帯電を行う為の時間であり、帯電器16に対向
する個所が除電器17を通過するに充分な時間で
あれば良いものである。
斯る計時回路63の出力信号の立下りにより、
計時回路64が駆動され、時間t4に渡つて信号
線l4のみに高レベル信号が導出される。
計時回路64が駆動され、時間t4に渡つて信号
線l4のみに高レベル信号が導出される。
従つて、斯る時間t4期間はスイツチSW6,
SW8がOFFとなり、他のスイツチはONとなり、
原稿台27が移動を開始する。
SW8がOFFとなり、他のスイツチはONとなり、
原稿台27が移動を開始する。
斯る時間t4は既に通常の複写プロセスに入つ
ているものであるので、この時間t4は良く知ら
れている通常の複写プロセスを実行するに充分な
時間であれば良いものである。
ているものであるので、この時間t4は良く知ら
れている通常の複写プロセスを実行するに充分な
時間であれば良いものである。
通常の複写プロセスにおいて前記時間t3の残
余の部分であるので、原稿台27からの反射光が
区域D(8図A)の幅で感光体11に照射され、
現像、転写されるに充分な時間であれば良い。
余の部分であるので、原稿台27からの反射光が
区域D(8図A)の幅で感光体11に照射され、
現像、転写されるに充分な時間であれば良い。
以上の如き構成により、明部電荷と暗部電荷を
電圧信号として読み出す事が出来るものである
が、斯る電圧は第12図に示す如き回路に印加し
て、一次帯電や露光量を制御出来るものである。
電圧信号として読み出す事が出来るものである
が、斯る電圧は第12図に示す如き回路に印加し
て、一次帯電や露光量を制御出来るものである。
即ち、第12図端子39は第1図、第7図に示
す端子であるので、ここには前述の如く第13図
Aに示す如き信号が印加される。
す端子であるので、ここには前述の如く第13図
Aに示す如き信号が印加される。
斯る信号はゲート回路70,71に夫々印加さ
れるが、斯るゲート回路のゲート信号印加端子3
9−2には夫々前記発振器26の端子39−1に
接続して第13図B,C(但しC図に示す信号は
インバータ72により反転している)に示す如き
ゲート信号を印加しているものである。
れるが、斯るゲート回路のゲート信号印加端子3
9−2には夫々前記発振器26の端子39−1に
接続して第13図B,C(但しC図に示す信号は
インバータ72により反転している)に示す如き
ゲート信号を印加しているものである。
但し、第13図に示す如位相が揃つていない時
は端子39−1と端子39−2の間に位相を一致
させる為の遅延回路、若しくは位相制御回路を挿
入するものとする。
は端子39−1と端子39−2の間に位相を一致
させる為の遅延回路、若しくは位相制御回路を挿
入するものとする。
斯るゲート回路70,71は夫々高レベルのゲ
ート信号が印加された時入力に印加された信号を
出力線73,74に導出するものであるので、出
力線73,74上に得られる信号は夫々第13図
D,Eの如くなる。
ート信号が印加された時入力に印加された信号を
出力線73,74に導出するものであるので、出
力線73,74上に得られる信号は夫々第13図
D,Eの如くなる。
従つて斯る信号をピークホールド回路75,7
6に印加して保持するならば、出力線77,78
には夫々V2,V1のレベル信号を得る事が出来
るものである。
6に印加して保持するならば、出力線77,78
には夫々V2,V1のレベル信号を得る事が出来
るものである。
斯るレベル信号は電圧比較器79,80に印加
して夫々基準電圧印加器81,82より印加され
ている電圧と比較して、その差に応じた出力を出
力線83,84に導出する。
して夫々基準電圧印加器81,82より印加され
ている電圧と比較して、その差に応じた出力を出
力線83,84に導出する。
前記出力線83上に得た信号は前記電源15を
制御する為の信号として用い、前記出力線84上
に得た信号はサーボモータ47を制御して絞り4
6を制御する如く制御しておくならば、感光体上
の暗部電荷により一次帯電を制御し、明部電荷に
より露光量を制御出来るものである。
制御する為の信号として用い、前記出力線84上
に得た信号はサーボモータ47を制御して絞り4
6を制御する如く制御しておくならば、感光体上
の暗部電荷により一次帯電を制御し、明部電荷に
より露光量を制御出来るものである。
前記出力線81上に得た出力信号はデコーダ8
3に印加して、該デコーダ83の出力線83−1
〜83−7の内、前記印加された信号に応じた何
れか1つの出力線が選択される。
3に印加して、該デコーダ83の出力線83−1
〜83−7の内、前記印加された信号に応じた何
れか1つの出力線が選択される。
同様に出力線82上に得た出力信号はデコーダ
84に印加して、該デコーダ84の出力線84−
1〜83−7の内、前記印加された信号に応じた
何れか1つの出力線が選択される。
84に印加して、該デコーダ84の出力線84−
1〜83−7の内、前記印加された信号に応じた
何れか1つの出力線が選択される。
斯る出力線83−1〜84−7、84−1〜8
4−7は夫々電源15、サーボモータ47に印加
するものであるので、前記電源15を選択された
出力線83−1〜83−7に応じてその出力電圧
が変化する如く構成しておくならば、又前記サー
ボモータ47を選択された出力線に応じて所定位
置迄回転する如く構成しておくならば、一次帯電
と露光量を自動的に制御出来るものである。
4−7は夫々電源15、サーボモータ47に印加
するものであるので、前記電源15を選択された
出力線83−1〜83−7に応じてその出力電圧
が変化する如く構成しておくならば、又前記サー
ボモータ47を選択された出力線に応じて所定位
置迄回転する如く構成しておくならば、一次帯電
と露光量を自動的に制御出来るものである。
前記計時回路52、及び計時回路63には更に
他の入力端子55,65を設けているものである
が、斯る端子はコピーボタンの操作により記録開
始指令を出した時に測定サイクルを実行する必要
がない時は、この記録開始指令をトリガー信号と
して端子55、若しくは65に印加して測定サイ
クルを省略して直接プロセスサイクルの実行を開
始する事が出来るものである。
他の入力端子55,65を設けているものである
が、斯る端子はコピーボタンの操作により記録開
始指令を出した時に測定サイクルを実行する必要
がない時は、この記録開始指令をトリガー信号と
して端子55、若しくは65に印加して測定サイ
クルを省略して直接プロセスサイクルの実行を開
始する事が出来るものである。
通常の静電複写機においては、一度制御サイク
ルを実行して潜像形成手段や顕像手段を制御した
らしばらくの間は制御サイクルを実行する必要は
ないので(急激に使用態様や、環境が変化する場
合は極めてまれであるので)斯る場合は上述の如
く所定期間はプロセスサイクルのみを連続して実
行して良いものである。
ルを実行して潜像形成手段や顕像手段を制御した
らしばらくの間は制御サイクルを実行する必要は
ないので(急激に使用態様や、環境が変化する場
合は極めてまれであるので)斯る場合は上述の如
く所定期間はプロセスサイクルのみを連続して実
行して良いものである。
第14図はこの様に所定時間(例えば30分)毎
に測定サイクルを実行する回路を示すものであ
り、90で示すのは複写機においてコピー開始を
指令する指令信号発生器であり、この指令信号発
生器により生じた信号は91で示す波形成形回路
に印加して、パルス信号(指令パルス)に整形す
る。斯る指令パルス(第15図A)はタイマー回
路92にトリガー信号として印加して、該タイマ
ー回路92の動作開始を指令すると共に、アンド
ゲート94に印加する。
に測定サイクルを実行する回路を示すものであ
り、90で示すのは複写機においてコピー開始を
指令する指令信号発生器であり、この指令信号発
生器により生じた信号は91で示す波形成形回路
に印加して、パルス信号(指令パルス)に整形す
る。斯る指令パルス(第15図A)はタイマー回
路92にトリガー信号として印加して、該タイマ
ー回路92の動作開始を指令すると共に、アンド
ゲート94に印加する。
斯るタイマー回路92は第15図Bに示す如く
最初の指令パルスP1により高レベルに変化し、
予め定めた時間T1が経過する迄、斯る状態を保
持し(このT1期間中に印加された指令パルスに
よつては計時時間は影響されない)、時間T1の
経過後低レベルに変化し、指令パルスP6の印加
により再び計時を開始する。
最初の指令パルスP1により高レベルに変化し、
予め定めた時間T1が経過する迄、斯る状態を保
持し(このT1期間中に印加された指令パルスに
よつては計時時間は影響されない)、時間T1の
経過後低レベルに変化し、指令パルスP6の印加
により再び計時を開始する。
93で示すのは前記タイマー回路92の出力の
立上りでトリガーされ、指令パルスPよりも幅の
広いパルス(第15図C)を発生するワンシヨツ
トマルチであり、この出力は端子95に導出され
る。一方、アンドゲート94には前記指令パルス
Pとワンシヨツトマルチ93の出力を印加するも
のであるので、出力端子である所の96には、第
15図Dに示す如きパルス信号を得る。
立上りでトリガーされ、指令パルスPよりも幅の
広いパルス(第15図C)を発生するワンシヨツ
トマルチであり、この出力は端子95に導出され
る。一方、アンドゲート94には前記指令パルス
Pとワンシヨツトマルチ93の出力を印加するも
のであるので、出力端子である所の96には、第
15図Dに示す如きパルス信号を得る。
従つて前記端子95を第10図における端子5
4、又は第11図における端子60に接続し、端
子96を第10図における端子55又は第11図
における端子65に接続しておくならば、指令パ
ルスを印加して測定サイクルとプロセスサイクル
を実行した後、前記一定時間T1の間は、指令パ
ルスを印加すると測定サイクルは実行せずにプロ
セスサイクルのみを実行し、一定時間が経過した
後の最初の指令パルスの印加により再び測定サイ
クル及びプロセスサイクルを実行するものであ
る。
4、又は第11図における端子60に接続し、端
子96を第10図における端子55又は第11図
における端子65に接続しておくならば、指令パ
ルスを印加して測定サイクルとプロセスサイクル
を実行した後、前記一定時間T1の間は、指令パ
ルスを印加すると測定サイクルは実行せずにプロ
セスサイクルのみを実行し、一定時間が経過した
後の最初の指令パルスの印加により再び測定サイ
クル及びプロセスサイクルを実行するものであ
る。
第16図は更に他の実施例を示すものであり、
ここでは指令パルスが印加された回数を測定し、
この回数が所定の回数に達すると指令パルスの印
加によりプロセスサイクルに加えて測定サイクル
を実行するものである。
ここでは指令パルスが印加された回数を測定し、
この回数が所定の回数に達すると指令パルスの印
加によりプロセスサイクルに加えて測定サイクル
を実行するものである。
即ち、波形成形回路91から得た指令パルス
(第17図A)はカウンタ97に印加すると共に、
アンドゲート99,98に印加るものである。
(第17図A)はカウンタ97に印加すると共に、
アンドゲート99,98に印加るものである。
このカウンタ98は第17図Bに示す如く、所
定数(N)の指令パルスが印加される迄は低レベ
ル信号を導出し(第16図においてはN=7)、
所定数の指令パルスの計数後は高レベル信号を導
出し、次の指令パルスP8の印加により再び初期
状態に復するリングカウンタより成るものであ
る。
定数(N)の指令パルスが印加される迄は低レベ
ル信号を導出し(第16図においてはN=7)、
所定数の指令パルスの計数後は高レベル信号を導
出し、次の指令パルスP8の印加により再び初期
状態に復するリングカウンタより成るものであ
る。
従つて該カウンタの初期状態(出力は低レベ
ル)で指令パルスP1が印加されると動作を開始
し、計数値が前記N=7に達する迄はアンドゲー
ト99の出力端子101から第17図Dに示す如
き出力を得、計数値が前記Nに達すると、アンド
ゲート98の出力端子100から第17図Cに示
す如き出力を得る。
ル)で指令パルスP1が印加されると動作を開始
し、計数値が前記N=7に達する迄はアンドゲー
ト99の出力端子101から第17図Dに示す如
き出力を得、計数値が前記Nに達すると、アンド
ゲート98の出力端子100から第17図Cに示
す如き出力を得る。
従つて端子101を端子55又は65へ接続
し、端子100を端子54又は60へ接続するな
らば、指令パルスを印加して測定サイクルとプロ
セスサイクルを実行した後、前記所定回数(N
回)指令パルスが印加される間は、指令パルスを
印加しても測定サイクルは実行せずにプロセスサ
イクルのみを実行し、所定回数を計数した後の最
初の指令パルスの印加により再び測定サイクル及
びプロセスサイクルを実行するものである。
し、端子100を端子54又は60へ接続するな
らば、指令パルスを印加して測定サイクルとプロ
セスサイクルを実行した後、前記所定回数(N
回)指令パルスが印加される間は、指令パルスを
印加しても測定サイクルは実行せずにプロセスサ
イクルのみを実行し、所定回数を計数した後の最
初の指令パルスの印加により再び測定サイクル及
びプロセスサイクルを実行するものである。
第18図は更に他の実施例を示すものであり、
ここでは所定時間が経過した後更に所定回数指令
パルスが印加される毎に測定サイクルを実行する
ものである。
ここでは所定時間が経過した後更に所定回数指令
パルスが印加される毎に測定サイクルを実行する
ものである。
波形成形回路91で得た指令パルスはタイマー
回路102に印加するが、このタイマー回路10
2で初期状態で指令パルスが印加されて始めて計
時を開始し、所定時間T1の経過後その出力が高
レベルとなり、斯る高レベル状態はリセツト信号
が印加される迄保持され、リセツト信号の印加に
より再び初期状態に戻り、出力が低レベルとなる
ものである。
回路102に印加するが、このタイマー回路10
2で初期状態で指令パルスが印加されて始めて計
時を開始し、所定時間T1の経過後その出力が高
レベルとなり、斯る高レベル状態はリセツト信号
が印加される迄保持され、リセツト信号の印加に
より再び初期状態に戻り、出力が低レベルとなる
ものである。
従つて指令パルスとタイマー回路102の出力
を印加したアンドゲート103からは所定時間T
1が経過する迄出力信号が得られないものであ
る。104で示すのは所定数Nを計数するカウン
タであるが、斯るカウンタ104は初期状態で指
令パルスが印加されて初めて計数を開始し、所定
数Nを計数した後その出力が高レベルとなり、斯
る高レベル状態はリセツト信号が印加される迄保
持され、リセツト信号の印加により再び初期状態
に戻り、出力が低レベルとなるものである。
を印加したアンドゲート103からは所定時間T
1が経過する迄出力信号が得られないものであ
る。104で示すのは所定数Nを計数するカウン
タであるが、斯るカウンタ104は初期状態で指
令パルスが印加されて初めて計数を開始し、所定
数Nを計数した後その出力が高レベルとなり、斯
る高レベル状態はリセツト信号が印加される迄保
持され、リセツト信号の印加により再び初期状態
に戻り、出力が低レベルとなるものである。
従つて、アンドゲート106からは所定時間T
1が経過し、所定回数指令パルスが印加された
後、初めて出力が得られ、アンドゲート107か
らはアンドゲート106より出力を得ている以外
の時に出力を得るものである。
1が経過し、所定回数指令パルスが印加された
後、初めて出力が得られ、アンドゲート107か
らはアンドゲート106より出力を得ている以外
の時に出力を得るものである。
斯るアンドゲート106の出力は遅延回路10
8(遅延時間は少なくとも指令パルスのパルス幅
以上ある)を介してリセツト信号として前記タイ
マー回路102、カウンタ104に印加するもの
である。
8(遅延時間は少なくとも指令パルスのパルス幅
以上ある)を介してリセツト信号として前記タイ
マー回路102、カウンタ104に印加するもの
である。
斯るリセツト回路によりアンドゲート106か
ら1つの指令パルスを得たならば、タイマー回路
102、カウンタ104はリセツト初期状態とな
るものである。
ら1つの指令パルスを得たならば、タイマー回路
102、カウンタ104はリセツト初期状態とな
るものである。
従つて第18図に示した回路において、端子1
09を前記端子54又は60へ接続し、端子11
0を前記端子55又は65へ接続しておくなら
ば、指令パルスが印加されて測定サイクルとプロ
セスサイクルを実行した後、前記一定時間T1を
計時しこれに加えて前記回数Nを計数する迄は指
令パルスが印加されてもプロセスサイクルのみを
実行し、前記一定時間T1を計時した後、前記回
数Nを計数した後の最初の指令パルスの印加によ
り、測定サイクルとプロセスサイクルを実行する
ものである。
09を前記端子54又は60へ接続し、端子11
0を前記端子55又は65へ接続しておくなら
ば、指令パルスが印加されて測定サイクルとプロ
セスサイクルを実行した後、前記一定時間T1を
計時しこれに加えて前記回数Nを計数する迄は指
令パルスが印加されてもプロセスサイクルのみを
実行し、前記一定時間T1を計時した後、前記回
数Nを計数した後の最初の指令パルスの印加によ
り、測定サイクルとプロセスサイクルを実行する
ものである。
第19図は更に他の実施例を示すものであり、
ここでは指令パルスP1が印加されてから所定時
間T1以上が経過し、且つ前記指令パルスP1が
印加されてから所定数N以上の指令パルスが印加
される毎に測定サイクルを実行するものである。
ここでは指令パルスP1が印加されてから所定時
間T1以上が経過し、且つ前記指令パルスP1が
印加されてから所定数N以上の指令パルスが印加
される毎に測定サイクルを実行するものである。
波形成形回路91で得た指令パルスは前記タイ
マー回路102と同様の構成より成るタイマー回
路111及び前記カウンタ104と同様の構成よ
り成るカウンタ113に印加される。
マー回路102と同様の構成より成るタイマー回
路111及び前記カウンタ104と同様の構成よ
り成るカウンタ113に印加される。
従つて、アンドゲート112からは所定時間T
1が経過した後初めて出力である所の指令パルス
を得、アンドゲート114からは所定数の指令パ
ルスを計数した後初めて出力を得る。
1が経過した後初めて出力である所の指令パルス
を得、アンドゲート114からは所定数の指令パ
ルスを計数した後初めて出力を得る。
斯るアンドゲート112,114の出力を印加
したアンドゲート115からは、アンドゲート1
12,114の両者から出力が導出された時始め
て出力を得る事となり、アンドゲート116から
はアンドゲート115から出力を得ていない時に
出力を得るものである。
したアンドゲート115からは、アンドゲート1
12,114の両者から出力が導出された時始め
て出力を得る事となり、アンドゲート116から
はアンドゲート115から出力を得ていない時に
出力を得るものである。
斯るアンドゲート115の出力は前記遅延回路
108と同様の構成より成る遅延回路117を介
してリセツト信号として、前記タイマー回路11
1前記カウンタ113に印加するものである。
108と同様の構成より成る遅延回路117を介
してリセツト信号として、前記タイマー回路11
1前記カウンタ113に印加するものである。
従つて、端子119を端子54又は60へ接続
すると共に、端子118を端子55又は65へ接
続する事により、指令パルスを印加して測定サイ
クルとプロセスサイクルを実行した後、前記一定
時間T1と前記回数Nの計数の両者が達成される
以前は指令パルスを印加しても所定サイクルは実
行せずにプロセスサイクルのみを実行し、前記一
定時間T1が経過し、且つ前記回数Nを計数した
後の最初の指令パルスの印加により、再び測定サ
イクルとプロセスサイクルを実行するものであ
る。尚、第14,16,18,19図において、
同一の番号を付した部材は同一の部材より成り、
同一の機能を有するものである。
すると共に、端子118を端子55又は65へ接
続する事により、指令パルスを印加して測定サイ
クルとプロセスサイクルを実行した後、前記一定
時間T1と前記回数Nの計数の両者が達成される
以前は指令パルスを印加しても所定サイクルは実
行せずにプロセスサイクルのみを実行し、前記一
定時間T1が経過し、且つ前記回数Nを計数した
後の最初の指令パルスの印加により、再び測定サ
イクルとプロセスサイクルを実行するものであ
る。尚、第14,16,18,19図において、
同一の番号を付した部材は同一の部材より成り、
同一の機能を有するものである。
第14,16,18,19図においてタイマー
回路、カウンタは夫々予め定めた時間T1、及び
数Nを測定するものとして説明したが、例えば温
度変化等に応じて前記時間T1若しくは数Nを変
化させる如くしても良いのは勿論である。
回路、カウンタは夫々予め定めた時間T1、及び
数Nを測定するものとして説明したが、例えば温
度変化等に応じて前記時間T1若しくは数Nを変
化させる如くしても良いのは勿論である。
又、測定サイクルの実行はプロセスサイクルの
前に行うものについて説明したが、斯る測定サイ
クルはプロセスサイクルの後に実行しても良く、
斯る測定サイクルをプロセスサイクルに先行して
行つている感光体の前回転中、又は後行して行つ
ている後回転中に行なう様にすれば、測定サイク
ルの為に別なる時間を設ける必要もないものであ
る。
前に行うものについて説明したが、斯る測定サイ
クルはプロセスサイクルの後に実行しても良く、
斯る測定サイクルをプロセスサイクルに先行して
行つている感光体の前回転中、又は後行して行つ
ている後回転中に行なう様にすれば、測定サイク
ルの為に別なる時間を設ける必要もないものであ
る。
以上説明した様に、本発明によれば、プロセス
サイクルの前に必要に応じて測定サイクルを実行
するので、像形成に必要な時間を増加させてしま
うのを極力防止することができ、かつ、良好な画
像を形成することができる。
サイクルの前に必要に応じて測定サイクルを実行
するので、像形成に必要な時間を増加させてしま
うのを極力防止することができ、かつ、良好な画
像を形成することができる。
また、記録用の静電潜像を作成するのと同一の
区域に測定用潜像を作成できるので、特別な静電
潜像被形成部材を用いづとも従来と同じ大きさの
ものを用いることができ、装置の大型化を防止で
きる。
区域に測定用潜像を作成できるので、特別な静電
潜像被形成部材を用いづとも従来と同じ大きさの
ものを用いることができ、装置の大型化を防止で
きる。
第1図A,Bは本発明による静電機器制御装置
の要部を示すブロツク線図、第2図A,第3図
A,第4図A,第5図A,第6図Aは感光体上へ
の潜像の形成の説明に供する感光体断面図、第2
図B,第3図B,第4図B,C、第5図B,C、
第6図B,Cは感光体上への潜像の形成の説明に
供する感光体の等価回路図、第7図は本発明の他
の実施例による静電機器制御装置の要部を示すブ
ロツク線図、第8図A,Bは本発明により測定用
潜像を形成した感光体の上面図及び正面図、第9
図は読み出した潜像信号電圧波形図、第10図、
第11図は夫々第1図、第7図に示した装置の動
作を指令する指令信号回路図、第12図は読み出
した潜像信号の処理回路のブロツク図、第13図
は第12図で示した処理回路の動作説明に供する
波形図である。第14図はプロセスサイクルを選
択するか測定サイクルを測定するかを決定する選
択回路のブロツク線図、第15図は第14図の選
択回路の動作説明に供する波形図、第16図はプ
ロセスサイクルを選択するか測定サイクルを測定
するかを決定する選択回路の他の実施例によるブ
ロツク線図、第17図は第16図の選択回路の動
作説明に供する波形図、第18図、第19図はプ
ロセスサイクルを選択するか測定サイクルを測定
するかを決定する選択回路の他の実施例によるブ
ロツク線図である。 ここで、11は感光体、15は電源、16は帯
電器、17,33は除電器、19は光源、22は
ランプ、25はゲート、26は発振器、27は原
稿台、28,32,35はランプ、38は抵抗、
43は現像器、44は転写器、46は絞り、47
はサーボモータ、70,71はゲート回路、7
5,76はピークホールド回路、79,80は比
較器、90は指令信号発生器、91は波形成形回
路、92,102,111はタイマー回路、93
はワンシヨツトマルチ、97,104,113は
カウンタ、94,98,99,106,107,
112,114,115,116はアンドゲート
である。
の要部を示すブロツク線図、第2図A,第3図
A,第4図A,第5図A,第6図Aは感光体上へ
の潜像の形成の説明に供する感光体断面図、第2
図B,第3図B,第4図B,C、第5図B,C、
第6図B,Cは感光体上への潜像の形成の説明に
供する感光体の等価回路図、第7図は本発明の他
の実施例による静電機器制御装置の要部を示すブ
ロツク線図、第8図A,Bは本発明により測定用
潜像を形成した感光体の上面図及び正面図、第9
図は読み出した潜像信号電圧波形図、第10図、
第11図は夫々第1図、第7図に示した装置の動
作を指令する指令信号回路図、第12図は読み出
した潜像信号の処理回路のブロツク図、第13図
は第12図で示した処理回路の動作説明に供する
波形図である。第14図はプロセスサイクルを選
択するか測定サイクルを測定するかを決定する選
択回路のブロツク線図、第15図は第14図の選
択回路の動作説明に供する波形図、第16図はプ
ロセスサイクルを選択するか測定サイクルを測定
するかを決定する選択回路の他の実施例によるブ
ロツク線図、第17図は第16図の選択回路の動
作説明に供する波形図、第18図、第19図はプ
ロセスサイクルを選択するか測定サイクルを測定
するかを決定する選択回路の他の実施例によるブ
ロツク線図である。 ここで、11は感光体、15は電源、16は帯
電器、17,33は除電器、19は光源、22は
ランプ、25はゲート、26は発振器、27は原
稿台、28,32,35はランプ、38は抵抗、
43は現像器、44は転写器、46は絞り、47
はサーボモータ、70,71はゲート回路、7
5,76はピークホールド回路、79,80は比
較器、90は指令信号発生器、91は波形成形回
路、92,102,111はタイマー回路、93
はワンシヨツトマルチ、97,104,113は
カウンタ、94,98,99,106,107,
112,114,115,116はアンドゲート
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 記録用静電装置において、 静電潜像被形成部材上に潜像形成手段により記
録用静電潜像を形成し、該記録用静電潜像を顕像
手段により顕像化し、顕像を転写材に転写するプ
ロセスサイクルと、 静電潜像被形成部材の転写に寄与する潜像形成
領域内に記録用とは異なる測定用の光像を所定時
間照射し、前記静電潜像被形成部材上に形成され
た測定用の像の表面電位を測定し、測定結果によ
り前記潜像形成手段を制御し、前記プロセスサイ
クルと独立した測定サイクルを有し、 記録開始指令の印加により前記測定サイクルを
実行した後、前記プロセスサイクルを実行する第
1モードと、 記録開始指令の印加により前記測定サイクルを
実行せずに、前記プロセスサイクルを実行する第
2モードとを有し、 前回の第1モードを実行する記録開始指令が印
加されてから所定時間が経過するまでの第1期
間、前回の記第1モードを実行する記録開始指令
が印加された後の記録開始指令の印加回数が所定
回数になるまでの第2期間、前記第1期間が経過
後の記録開始指令の印加回数が所定回数になるま
での第3期間、または前記第1期間及び前記第2
期間のうちの長い方の期間である第4期間のうち
のいづれか1つの期間において、前記記録開始指
令が印加された場合は前記第2モードを実行さ
せ、このいづれか1つの期間が経過した後に次の
記録開始指令が印加された場合は前記第1モード
を実行させる制御手段を有し、 更に、前記制御手段は前記測定サイクル実行中
は前記転写材への転写を禁止することを特徴とす
る記録用静電装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62003716A JPS62168166A (ja) | 1987-01-10 | 1987-01-10 | 記録用静電装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62003716A JPS62168166A (ja) | 1987-01-10 | 1987-01-10 | 記録用静電装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2106077A Division JPS53106129A (en) | 1977-02-28 | 1977-02-28 | Recording electrostatic device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62168166A JPS62168166A (ja) | 1987-07-24 |
| JPH0315182B2 true JPH0315182B2 (ja) | 1991-02-28 |
Family
ID=11565041
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62003716A Granted JPS62168166A (ja) | 1987-01-10 | 1987-01-10 | 記録用静電装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62168166A (ja) |
-
1987
- 1987-01-10 JP JP62003716A patent/JPS62168166A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62168166A (ja) | 1987-07-24 |
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