JPH03158707A - 壜キャップ巻締めネジ深さ検査装置 - Google Patents
壜キャップ巻締めネジ深さ検査装置Info
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- JPH03158707A JPH03158707A JP29843189A JP29843189A JPH03158707A JP H03158707 A JPH03158707 A JP H03158707A JP 29843189 A JP29843189 A JP 29843189A JP 29843189 A JP29843189 A JP 29843189A JP H03158707 A JPH03158707 A JP H03158707A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 15
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 14
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- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は壜キャップ巻締めネジ深さ検査装;ηに関し、
特にドリンク剤などが充填される壜のネジ口のキャップ
巻締め状1gを検査する壜キャップひ締め検査に関する
。
特にドリンク剤などが充填される壜のネジ口のキャップ
巻締め状1gを検査する壜キャップひ締め検査に関する
。
従来技術
従来、ドリンク剤などが充填される壜においては、充填
装置で液体が壜に充填された後に円筒状のキャップを増
目に被せ、自動巻締め装置で壜のネジ口形状に合わせて
キャップを巻締め、増目を密閉している。
装置で液体が壜に充填された後に円筒状のキャップを増
目に被せ、自動巻締め装置で壜のネジ口形状に合わせて
キャップを巻締め、増目を密閉している。
このキャップの巻締めが不十分の場合には、流通過程で
液体のこぼれや蒸発、あるいは液体への不純物の混入な
ど製品として重大な欠陥が発生することになる。
液体のこぼれや蒸発、あるいは液体への不純物の混入な
ど製品として重大な欠陥が発生することになる。
このキャップの巻締め状態の検査としては人による目視
検査しかないが、ラインスピードが速くなるとともに目
視検査における不良品の見逃しが多くなり、検査自体が
困難になってきている。
検査しかないが、ラインスピードが速くなるとともに目
視検査における不良品の見逃しが多くなり、検査自体が
困難になってきている。
また、定期的にラインから壜を何本か抜取り、このサン
プリングした壜に対してノギスや専用治具などで決めら
れた位置のキャップネジ深さを実測検査することも行わ
れている。
プリングした壜に対してノギスや専用治具などで決めら
れた位置のキャップネジ深さを実測検査することも行わ
れている。
上記の決められた位置とは通常ネジ山の口天面の始まり
点から時計回りの方向に45度回した位置や、さらに1
80度回した位置であり、それらの位置の下側のネジ谷
の深さや上側のネジ谷の深さが規定値通りになっている
かどうかをチエツクし、異常な場合には自動巻締め装置
に対して改善策を講じている。
点から時計回りの方向に45度回した位置や、さらに1
80度回した位置であり、それらの位置の下側のネジ谷
の深さや上側のネジ谷の深さが規定値通りになっている
かどうかをチエツクし、異常な場合には自動巻締め装置
に対して改善策を講じている。
しかしながら、このサンプリングによる検査は全数検査
ではないため、検査結果のフィードバックに時間がかか
り、製品への損失も大きく、全数検査可能な検査装置が
求められている。
ではないため、検査結果のフィードバックに時間がかか
り、製品への損失も大きく、全数検査可能な検査装置が
求められている。
発明の目的
本発明は上記のような従来のものの問題点を除去すべく
なされたもので、壜のキャップ巻締め状態の全数検査を
可能とし、巻締め不良を瞬時に検出して巻締め装置にフ
ィードバックすることができ、製品の品質管理の効率を
向上させることができる壜キャップ巻締めネジ深さ検査
装置の提供を「1的とする。
なされたもので、壜のキャップ巻締め状態の全数検査を
可能とし、巻締め不良を瞬時に検出して巻締め装置にフ
ィードバックすることができ、製品の品質管理の効率を
向上させることができる壜キャップ巻締めネジ深さ検査
装置の提供を「1的とする。
発明の構成
本発明による壜キャップ巻締めネジ深さ検査装置は、液
体が充填され、キャップが巻締められた壜のネジロキヤ
ツプ部Q巻締め状態を検査する壜キャップ巻締めネジ深
さ検査装置であって、搬送される前記壜のネジロキャッ
プ部に照射光を照射する照射手段と、前記照射手段に対
向して設けられ、前記壜のネジロキャップ部の静止画像
を撮像する撮像手段と、前記ネジロキャップ部の頂部か
らネジ谷部までの長さを前記撮像手段の撮像データから
算出する第1の算出手段と、前記ネジロキャップ部のネ
ジ谷部の深さを前記撮像手段の撮像データから算出する
第2の算出手段と、前記ネジロキャップ部の頂部からネ
ジ谷部までの長さに対応して予め設定された前記ネジロ
キャップ部のネジ谷部の許容深さを格納する格納手段と
、前記第1の算出手段により算出された前記ネジロキャ
ップ部の頂部からネジ谷部までの長さによって前記格納
手段から読出された前記ネジロキャップ部のネジ谷部の
許容深さと、前記第2の算出手段により算出された前記
ネジロキャップ部のネジ谷部の深さとを比較する比較手
段とを有することを特徴とする。
体が充填され、キャップが巻締められた壜のネジロキヤ
ツプ部Q巻締め状態を検査する壜キャップ巻締めネジ深
さ検査装置であって、搬送される前記壜のネジロキャッ
プ部に照射光を照射する照射手段と、前記照射手段に対
向して設けられ、前記壜のネジロキャップ部の静止画像
を撮像する撮像手段と、前記ネジロキャップ部の頂部か
らネジ谷部までの長さを前記撮像手段の撮像データから
算出する第1の算出手段と、前記ネジロキャップ部のネ
ジ谷部の深さを前記撮像手段の撮像データから算出する
第2の算出手段と、前記ネジロキャップ部の頂部からネ
ジ谷部までの長さに対応して予め設定された前記ネジロ
キャップ部のネジ谷部の許容深さを格納する格納手段と
、前記第1の算出手段により算出された前記ネジロキャ
ップ部の頂部からネジ谷部までの長さによって前記格納
手段から読出された前記ネジロキャップ部のネジ谷部の
許容深さと、前記第2の算出手段により算出された前記
ネジロキャップ部のネジ谷部の深さとを比較する比較手
段とを有することを特徴とする。
実施例
次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
り、第2図は本発明の一実施例の撮像画面を示す図であ
る。これらの図において、図示せぬコンベア上を矢印A
の方向に搬送される壜1のネジロキャップ部1aに対し
てタイミングセンサ(図示せず)に同期させてストロボ
光源2を発光させ、テレビカメラ3によりネジロキャッ
プ部1aのシルエツト像を静止画像として撮像する。
り、第2図は本発明の一実施例の撮像画面を示す図であ
る。これらの図において、図示せぬコンベア上を矢印A
の方向に搬送される壜1のネジロキャップ部1aに対し
てタイミングセンサ(図示せず)に同期させてストロボ
光源2を発光させ、テレビカメラ3によりネジロキャッ
プ部1aのシルエツト像を静止画像として撮像する。
テレビカメラ3からの静止画像は2値化回路4で白およ
び黒の2値データとされ、その2値データは口天面位置
検出回路5と検出回路6.9と減算回路7とに夫々送出
される 口天面位置検出回路5は2値データとなったテレビ信号
を用いて画面上から順次走査して黒レベルとなった縦方
向画素位置を求め、この縦方向画素位置をHlとして検
出回路6および減算回路10に送出する(第2図参照)
。尚、画面上での画素位置は左隅を0としている。
び黒の2値データとされ、その2値データは口天面位置
検出回路5と検出回路6.9と減算回路7とに夫々送出
される 口天面位置検出回路5は2値データとなったテレビ信号
を用いて画面上から順次走査して黒レベルとなった縦方
向画素位置を求め、この縦方向画素位置をHlとして検
出回路6および減算回路10に送出する(第2図参照)
。尚、画面上での画素位置は左隅を0としている。
次に、検出回路6は口火面位置検出回路5で検出された
Hlから一定走査した所で横方向において黒レベルから
白レベルに変化する境界の横方向画素位置を求め、その
横方向画素位置をDiとして減算回路7に送出する(第
2図参照)。
Hlから一定走査した所で横方向において黒レベルから
白レベルに変化する境界の横方向画素位置を求め、その
横方向画素位置をDiとして減算回路7に送出する(第
2図参照)。
減算回路7は検出回路6で検出されたDIと、それ以降
の走査で溝方向において黒レベルから白レベルに変化す
る境界の横方向画素位置(D2)との減算を行い、減算
を行う毎にその結果を比較回路8に送出する(第2図参
照)。
の走査で溝方向において黒レベルから白レベルに変化す
る境界の横方向画素位置(D2)との減算を行い、減算
を行う毎にその結果を比較回路8に送出する(第2図参
照)。
比較回路8は減算回路7からの減算結果を各々比較し、
その差(DI −D2 )が最大となる。を査位置を求
めて検出回路9および比較判定回路12に送出する。
その差(DI −D2 )が最大となる。を査位置を求
めて検出回路9および比較判定回路12に送出する。
検出回路9は比較回路8により検出された走査位置の縦
ノj向画素位置を求め、その縦lj向画素位置をH2と
して減算回路10に送出する(第2図参照)。
ノj向画素位置を求め、その縦lj向画素位置をH2と
して減算回路10に送出する(第2図参照)。
減算回路10は口天面位置検出回路5からのHと検出回
路9からのH2との減算を行い、その差(H2−Hl
)をメモリ11に送出する。
路9からのH2との減算を行い、その差(H2−Hl
)をメモリ11に送出する。
ここで、減算回路1〔〕においてH2−H1≦0てあれ
ば、その壜1は不良品(NG)として1′11定される
。
ば、その壜1は不良品(NG)として1′11定される
。
メモリ11では良品の壜1によって予め算出されたDI
−D2から設定されたネジ深さ許容値と、良品の壜1に
よって予め算出されたH2−Hlとか夫々灯応付けられ
てテーブル化されており、減算回路10からの減算結y
F!:(H2−Hl )によってメモリ11から読出さ
れたネジ深さ許容値は比較判定回路12に送出される。
−D2から設定されたネジ深さ許容値と、良品の壜1に
よって予め算出されたH2−Hlとか夫々灯応付けられ
てテーブル化されており、減算回路10からの減算結y
F!:(H2−Hl )によってメモリ11から読出さ
れたネジ深さ許容値は比較判定回路12に送出される。
比較f11定回路12はメモリ11から読出されたネジ
深さ許容値と、比較回路8からのネジ谷点aの深さ(D
I −D2 )とを比較し、ネジ谷点aの深さがネジ深
さ許容(市内てあればその壜1を良品(GO)と判定し
、ネジ谷点aの深さがネジ深さt′「8値を越える場合
にはその壜1を不良品(NG)と判定する。
深さ許容値と、比較回路8からのネジ谷点aの深さ(D
I −D2 )とを比較し、ネジ谷点aの深さがネジ深
さ許容(市内てあればその壜1を良品(GO)と判定し
、ネジ谷点aの深さがネジ深さt′「8値を越える場合
にはその壜1を不良品(NG)と判定する。
比較判定回路】2は減算結果(H2−Hl、)に;亥当
する値がメモリ111こない場合1こちその191を不
良品(NG)として判定する。
する値がメモリ111こない場合1こちその191を不
良品(NG)として判定する。
第3図は第1図の壜1のネジロキャップ部1aを示す図
である。図において、ネジロキャップ部1aの右側面の
ネジ谷点aの口天面すからの高さをHとし、右目天部C
からネジ谷点aまでの深さをDとすると、高さHおよび
深さDは第2図からH−H2−HI D−Di−D2
で求められる。
である。図において、ネジロキャップ部1aの右側面の
ネジ谷点aの口天面すからの高さをHとし、右目天部C
からネジ谷点aまでの深さをDとすると、高さHおよび
深さDは第2図からH−H2−HI D−Di−D2
で求められる。
良品の壜1のネジロキャップ部1aの口天面す側のネジ
始まり点が正面位置となる所を基点として矢印Bの方向
に回しながら、順次回転角度に対するネジの各ネジ谷点
の高さHおよび深さDを求めると、第4図に示すような
データとなる。
始まり点が正面位置となる所を基点として矢印Bの方向
に回しながら、順次回転角度に対するネジの各ネジ谷点
の高さHおよび深さDを求めると、第4図に示すような
データとなる。
ネジロキャップ部1aのネジは約2周分切られているの
で、それらのネジのネジ谷点が2ケ所で宅生する場合が
ある。ここで、第4図において、回転角度0度と360
度とは同一箇所である。
で、それらのネジのネジ谷点が2ケ所で宅生する場合が
ある。ここで、第4図において、回転角度0度と360
度とは同一箇所である。
第4図に示すデータをもとに、ネジ谷点の高さHに対す
るネジ谷点の深さDを求めると、第5図の実線グラフに
示すようになり、その上限および上限を示すネジ6深さ
許容値は点線で示しである。
るネジ谷点の深さDを求めると、第5図の実線グラフに
示すようになり、その上限および上限を示すネジ6深さ
許容値は点線で示しである。
したがって、メモリ11には第5図に示す点線」二の高
さHおよび深さDの値を画素換算した値が登録される。
さHおよび深さDの値を画素換算した値が登録される。
尚、本実施例ではネジロキャップ部1aの右目天部Cと
ネジ谷点aとの差をネジ深さとしたが、ネジ谷点a近傍
のネジ両点との芹をネジ深さとすることも可能である。
ネジ谷点aとの差をネジ深さとしたが、ネジ谷点a近傍
のネジ両点との芹をネジ深さとすることも可能である。
二のように、テレビカメラ3により得られたネジロキャ
ップ部1aの静11画像から減算回路7゜10によりネ
ジ谷点aから口天面すまての高さHと、ネジ谷点aの深
さDとを算出し、この算出した高さHでメモリ11に予
め格納されたネジ深さ許容値を読出し、算出した深さD
とネジ深さ1:′「8値とを比較判定回路12て比較す
るようにすることによって、上述の処理をリアルタイム
に処理すれば高速で、かつ壜1のネジロキャップ部1a
の撮像角度に影響を受けることなく、壜1の全数検査が
可能となる。
ップ部1aの静11画像から減算回路7゜10によりネ
ジ谷点aから口天面すまての高さHと、ネジ谷点aの深
さDとを算出し、この算出した高さHでメモリ11に予
め格納されたネジ深さ許容値を読出し、算出した深さD
とネジ深さ1:′「8値とを比較判定回路12て比較す
るようにすることによって、上述の処理をリアルタイム
に処理すれば高速で、かつ壜1のネジロキャップ部1a
の撮像角度に影響を受けることなく、壜1の全数検査が
可能となる。
また同時に、巻締め不良を瞬時に検出してひ諦め装置に
フィードバックすることができるので、製品の品質管理
に大いに貢献することができる。
フィードバックすることができるので、製品の品質管理
に大いに貢献することができる。
尚、本発明の一実弛例ではストロボ光源2とテレビカメ
ラ3とを用いてネジロキャップ部1aの静止8画像を得
ているか、通常の光源とシャック付きの撮像手段とを組
合わせてもよく、これに限定されない。
ラ3とを用いてネジロキャップ部1aの静止8画像を得
ているか、通常の光源とシャック付きの撮像手段とを組
合わせてもよく、これに限定されない。
発明の効果
以上説明したように本発明によれば、液体が充填された
壜のネジ日キャップ部の静止画像から、該ネジ日キャッ
プ部の頂部からネジ谷部までの長さとネジ谷部の深さと
を算出し、その長さによって読出された許容深さと算出
されたネジ谷部の深さとを比較判定するようにすること
によって、壜のキャップ巻締め状態の全数検査を可能と
し、巻締め不良を瞬時に検出して巻締め装置にフィード
バックすることができ、製品の品質管理の効率を向上さ
せることができるという効果がある。
壜のネジ日キャップ部の静止画像から、該ネジ日キャッ
プ部の頂部からネジ谷部までの長さとネジ谷部の深さと
を算出し、その長さによって読出された許容深さと算出
されたネジ谷部の深さとを比較判定するようにすること
によって、壜のキャップ巻締め状態の全数検査を可能と
し、巻締め不良を瞬時に検出して巻締め装置にフィード
バックすることができ、製品の品質管理の効率を向上さ
せることができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は本発明の一実施例による撮像画面を示す図、第3
図は第1図の壜のネジ日キャップ部を示す図、第4図は
第2図のネジ日キャップ部の回転角度に対応するネジ谷
部の高さおよび深さを示す図、第5図は第4図により得
たネジ谷部の高さと深さとの関係を示す図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・壜 2・・・・・・ストロボ光源 3・・・・・・テレビカメラ 4・・・・・・2値化回路 5・・・・・・口天面位置検出回路 6.9・・・・・・検出回路 7.10・・・・・・減算回路 8・・・・・・比較回路 11・・・・・・メモリ 12・・・・・・比較判定回路
2図は本発明の一実施例による撮像画面を示す図、第3
図は第1図の壜のネジ日キャップ部を示す図、第4図は
第2図のネジ日キャップ部の回転角度に対応するネジ谷
部の高さおよび深さを示す図、第5図は第4図により得
たネジ谷部の高さと深さとの関係を示す図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・壜 2・・・・・・ストロボ光源 3・・・・・・テレビカメラ 4・・・・・・2値化回路 5・・・・・・口天面位置検出回路 6.9・・・・・・検出回路 7.10・・・・・・減算回路 8・・・・・・比較回路 11・・・・・・メモリ 12・・・・・・比較判定回路
Claims (1)
- (1)液体が充填され、キャップが巻締められた壜のネ
ジ口キャップ部の巻締め状態を検査する壜キャップ巻締
めネジ深さ検査装置であって、搬送される前記壜のネジ
口キャップ部に照射光を照射する照射手段と、前記照射
手段に対向して設けられ、前記壜のネジ口キャップ部の
静止画像を撮像する撮像手段と、前記ネジ口キャップ部
の頂部からネジ谷部までの長さを前記撮像手段の撮像デ
ータから算出する第1の算出手段と、前記ネジ口キャッ
プ部のネジ谷部の深さを前記撮像手段の撮像データから
算出する第2の算出手段と、前記ネジ口キャップ部の頂
部からネジ谷部までの長さに対応して予め設定された前
記ネジ口キャップ部のネジ谷部の許容深さを格納する格
納手段と、前記第1の算出手段により算出された前記ネ
ジ口キャップ部の頂部からネジ谷部までの長さによって
前記格納手段から読出された前記ネジ口キャップ部のネ
ジ谷部の許容深さと、前記第2の算出手段により算出さ
れた前記ネジ口キャップ部のネジ谷部の深さとを比較す
る比較手段とを有することを特徴とする壜キャップ巻締
めネジ深さ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29843189A JP2751485B2 (ja) | 1989-11-16 | 1989-11-16 | 壜キャップ巻締めネジ深さ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29843189A JP2751485B2 (ja) | 1989-11-16 | 1989-11-16 | 壜キャップ巻締めネジ深さ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03158707A true JPH03158707A (ja) | 1991-07-08 |
| JP2751485B2 JP2751485B2 (ja) | 1998-05-18 |
Family
ID=17859617
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29843189A Expired - Lifetime JP2751485B2 (ja) | 1989-11-16 | 1989-11-16 | 壜キャップ巻締めネジ深さ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2751485B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003262507A (ja) * | 2002-03-07 | 2003-09-19 | Mitsubishi Materials Corp | ボトル缶の測定装置及び測定方法 |
-
1989
- 1989-11-16 JP JP29843189A patent/JP2751485B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003262507A (ja) * | 2002-03-07 | 2003-09-19 | Mitsubishi Materials Corp | ボトル缶の測定装置及び測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2751485B2 (ja) | 1998-05-18 |
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