JPH0316029A

JPH0316029A - 情報記録再生装置

Info

Publication number: JPH0316029A
Application number: JP1150059A
Authority: JP
Inventors: Yasuo Ogino; 荻野　泰男
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1989-06-12
Filing date: 1989-06-12
Publication date: 1991-01-24
Anticipated expiration: 2012-11-26
Also published as: EP0403196B1; DE69021784D1; DE69021784T2; JP2683104B2; EP0403196A3; US5235580A; EP0403196A2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、コンパクトディスクプレーヤー、光ディスク
装置、光カード装置等、オートフォーカス制御及び／又
はオートトラッキング制御を行ないながら、集光した光
ビームで記録担体を走査し、情報の記録及び／又は再生
を行なう装置に関する。

〔従来の技術〕

従来、記録担体に情報を記録し、また、記録担体に記録
された情報を読み出す情報記録再生装置においては、記
録再生用レーザビームを記録再生担体面に集光制御する
オートフォーカス（以下、ＡＦと称す）制御や、集光し
たレーザビームスポットを前記記録担体面に形成された
トラックに追随して位置制御するオートトラッキング（
以下、ＡＴと称す）制御が行なわれていた。

一方、このようなＡＦ制御或いはＡＴ制御は、記録担体
上にゴミ・傷等の異常があると、制御動作が所定許容範
囲を超える状態（所謂、ＡＦハズレ或いはＡＴハズレ）
が生じる場合があった。その為、このような状態を防止
する種々の方法が提案されている。以下、このような従
来方法の基本的概念を第９図〜第１２図を用いて説明す
る。ここでは、まず一般的なＡＴ及びＡＦ制御方法とし
て、夫々３ビーム法及び非点収差法を説明し、続いてＡ
Ｔ制御を例にとって、ＡＴハズレを防止する従来の方法
について説明する。

第９図は光ヘッド部分の詳細を示す斜視図である。

また、第１０図は第９図の光検出器の構成とＡＦ／ＡＴ
制御信号を生戒する回路ブロックを示す。

第９図において、４７は光源たる半導体レーザであり、
４８はコリメータレンズであり、４９は光ビーム整形プ
リズムであり、５０は光束分割のための回折格子であり
、４０はビームスプリツタであり、４５は反射プリズム
であり、４６は対物レンズであり、４ｌは非点収差集光
レンズ系であり、４２〜４４は上記光検出器である。

半導体レーザ４７から発せられた光ビームは発散光束と
なってコリメータレンズ４８に入射し該レンズにより平
行光ビームとされる。該平行光ビームは光ビーム整形プ
リズム４９により所定の光強度分布に整形された上で、
回折格子５０に入射し、該回折格子により有効な３つの
光ビーム（０次回折光及び±１次回折光）に分割される
。これら３つの光ビームは次いで、ビームスプリツタ４
０に入射して透過直進し更に反射プリズム４５により反
射されて対物レンズ４６に入射し、これを通過する二と
により集束せしめられて、記録担体上に３つの光ビーム
スポットＳｌ　（＋１次回折光に対応する），Ｓ２（Ｏ
次回折光に対応する）．Ｓ３（−１次回折光に対応する
）を形或する。

光ビームスポットＳｌ，Ｓ３は隣接するトラッキングト
ラック上に位置し、光ビームスポットＳ２は該トラッキ
ングトラック間の情報トラック上に位置している。

さらに、記録担体上に形威された光ビームスポットＳｌ
，Ｓ２，Ｓ３からの反射光は、対物レンズ４６を通って
略平行光束とされ、反射プリズム４５によって反射され
る。そして、これらの内、光ビームスポットＳ２の反射
光は、第１０図に示す４分割光検出器４３に入射される
。また、光ビームスポットＳ１，Ｓ２の反射光は光検出
器４２．　４４に夫々入射される。

第ｌＯ図に示すようにＡＦ制御系６１は４分割光検出器
４３の各分割素子Ａ，　Ｂ，　Ｃ，　Ｄの夫々の光電流
出力■い＋　　ＩＢ＋　　ＩＣ＋　　”Ｄを、（ＩＡ＋
ＩＤ）．（Ｉａ＋Ｉｃ）として加算し該加算値の差分を
ＡＦ制御用出力ｖ１として出力するよう構威される。

また、ＡＴ制御系６２は、光検出器４２．　４４の夫々
の光電流出力の差分を、八Ｔ制御用出力■２として出力
するよう構成される。

また、情報再生系６３は、前述４分割光検出器４３の各
分割素子Ａ，　Ｂ，　Ｃ，　Ｄの出力の総和を情報再生
用出力ｖ３として出力するよう構威される。

即ち、ＡＦ制御系６ｌでは、光ビームスポットＳ２が情
報トラック上に焦点を結び、最小スポットを形戊してい
る時（即ち、合焦時）は、４分割光検出器４３上に円形
スポットとして投影され、各分割素子Ａ，　Ｂ，　Ｃ，
　Ｄには略均等な光量が入射し、ＡＦ制御用出力ｖ１は
略零となる。また、非合焦時には、非点収差集光レンズ
系４１により、４分割光検出器４３上に楕円スポットと
して投影され、ＡＦ制御用出力ｖ１は、第１１図（ａ）
の挙動を示す。ここで、第１ｌ図（ａ）のグラフの横軸
は、レンズ４６と記録体の間の距離を示す。

他方、ＡＴ制御系６２では、光ビームスポットＳｌ，Ｓ
３が対応するトラッキングトラック上に均等に位置して
いる時（ＡＴ精度が高い時）は、光検出器４２，４４に
略均等な光量が入射し、ＡＴ制御用出力ｖ２は略零とな
る。また、ＡＴ精度が低い時には、夫々のトラッキング
トラックからの反射光量の差異（ＡＴズレ量）に対応し
て、ＡＴ制御用信号ｖ２は、第１１図（ｂ）の挙動を示
す。ここで第１１図（ｂ）の横軸はビームスポットＳｌ
，Ｓ２がトラックに垂直方向に移動する距離を表わす。

尚、ＡＦ及びＡＴ制御系は、各県の制御用出力Ｖｌ，■
２が所定許容値以下或いは略零となるよう不図示のＡＦ
あるいはＡＴアクチュエークを各々独立に駆動じ、対物
レンズ４６の記録担体に対する位置を制御する。

以上、記録再生担体上にゴミ・傷等の障害のない上程で
のＡＴ制御及びＡＴ制御方式の一例を説明した。

以下、記録再生担体上にゴミ・傷等の障害のある状態で
、従来提案されているＡＦハズレ及びＡＴハズレ防止方
式を説明するが、ＡＰ制御用出力とＡＴ制御用出力の挙
動は第１１図（ａ）．　　（ｂ）に示すように、一般的
に言われるＳ字形の信号となり、ＡＦ及びＡＴハズレ防
止方式は同一手法により行なわれているので、ここでは
ＡＴハズレ防止方式を主に記述する。

第１２図は、従来のＡＴハズレ防止方式を威す回路ブロ
ックである。端子６３から入力される制御信号は、前述
のＡＴ制御用信号■２と同じ挙動を示す信号であり、該
ＡＴ制御用信号（以下、ＡＴ誤差信号と称す）は、ＡＴ
異常検出部６４及び該ＡＴ異常検出部６４の出力信号に
従ってＡＴ誤差信号をサンプリングし、ホールドするサ
ンプルホールド部６５に入力される。

さて、ＡＴハズレを発生させる障害がない場合には、Ａ
Ｔ誤差信号レベルの絶対値は、所定値以下又は略零であ
り、ＡＴ異常検出部６４は不図示のウインドウ・コンパ
レー夕により前記所定値以下であることを検出し、ＡＴ
サンプルホールド部６５をサンプル状態に保つ。一方、
ＡＴハズレを発生させる障害がある場合には、ＡＴ誤差
信号レベルの絶対値はその障害の度合により前記所定値
を超え、ＡＴ異常検出部６４は不図示のウインドウ・コ
ンバレー夕によりＡＴ異常を検出し、ＡＴサンプルホー
ルド部６５のスイッチを閉じて、ホールド状態とする。

該ホールド状態は、一定時間経過後あるいは前記障害を
通過した時点で解除され、サンプル状態に戻る。

また、ＡＦハズレ防止方法では、第１２図と同じ構戒回
路が用いられ、前述のＡＦ制御用信号Ｖｌと同じ挙動を
示す信号が端子６３から入力される。該ＡＦ制御信号（
以下、ＡＦ誤差信号と称す）はＡＦ異常検出部６４及び
該ＡＦ異常検出部６４の出力信号に従ってＡＦ誤差信号
をサンプリングし、ホールドするサンプルホールド部６
５に入力され、ＡＴ／＼ズレ防止方式と同じ動作を行な
っている。

以上動作により、従来方式では、障害を検出し、障害が
ある時間区間に限り、障害発生前の制御信号を疑似的に
出力する事により、障害の制御系に与える影響を極力少
なくしている。

〔発明が解決しようとしている問題点〕しかしながら、
上記従来技術では、記録担体上のゴミ・傷等の障害を検
出した時点でＡＦ誤差信号及び／又はＡＴ誤差信号をホ
ールドするため、既に許容所定値を超えた信号によりＡ
Ｆ及び／又はＡＴアクチュエー夕を制御することになり
、正確な制御ができないという問題点があった。

一方、本出願人は上記従来技術の問題点を解決した情報
記録再生装置を、特願昭６３−２８７９４１号において
提案している。この装置は、誤差信号を周期的にサンプ
ルホールドしてＡＦ／ＡＴ制御を行なうとともに、誤差
信号の異常を検知している間は、サンプリングを中止す
るように構或されたものである。

ところが、上記先願の装置においても、確率的に低いと
はいえ、サンプリングの開始直後に異常が発生した場合
には、制御誤差を誘うことが考えられた。

本発明の目的は、上記先願の装置を更に改良し、記録担
体上にゴミ・傷等の障害が発生した場合に、より正確な
ＡＦ及び／又はＡＴ制御が可能な情報記録再生手段を提
供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の上記目的は、オートフォーカス制御及び／又は
オートトラッキング制御を行ないながら、集光した光ビ
ームで記録担体を走査し、情報の記録及び／又は再生を
行なう装置において、前記制御のための誤差信号を互い
に異なるタイミングで周期的にサンプリングする複数の
サンプルホールド手段と、前記誤差信号の挙動の異常を
検出する異常検出手段と、前記異常検出手段で異常が検
出されている期間内に、前記サンプルホールド手段のサ
ンプリング開始時期が来たら、このサンプリングを中止
させる手段と、前記複数のサンプルホールド手段の内１
つを選択し、この出力に応じて制御を行なわせる選択手
段と、前記選択されたサンプルホールド手段のサンプリ
ング期間中に前記異常が発生したら、前記選択手段に他
のサンプルホールド手段の選択を指示する手段とを設け
ることによって達成される。

〔実施例〕

以下、図面を参照して本発明を詳細に説明する。

第１図は、本発明の一実施例のブロック図であり、第２
図は第１図中の判定部の一実施例を示す詳細ブロック図
である。また、第３図は上記実施例の動作の概略を説明
するためのタイミング図である。

第１図において、ｌは誤差信号を入力する入力端子、２
は誤差信号が入力されるサンプルホールド（以下、Ｓ／
Ｈと称す）Ａ部、３は２と同じ誤差信号が入力されるサ
ンプルホールド（Ｓ／Ｈ）Ｂ部である。

４は２，３と同じ誤差信号が入力される誤差信号の異常
検出部で、従来技術と同様に例えば不図示のウインドウ
コンバレータにより、制御系の動作後（例えばＡＦサー
ボ・ロック及び／又はＡＴサーボ・ロック後）に、誤差
信号が所定許容範囲外のレベルになったことを示す異常
検出信号ＡＢＮ　（以下ＡＢＮ信号と称す）を出力する
。５はＡＢＮ信号が入力される判定部である。この判定
部５はＳ／Ｈ　Ａ部のサンプルホールド動作を制御する
信号（以下ＳＨＡ信号と称す）及びＳ／Ｈ　Ｂ部のサン
プルホールド動作を制御する信号（以下ＳＨＢ信号と称
す）を出力し、且つ、Ｓ／Ｈ　Ａ部とＳ／Ｈ　Ｂ部のど
ちらかの出力を選択するかを示す選択信号（以下Ａ／Ｂ
信号と称す）を出力する。また、６は前記Ａ／Ｂ信号に
よって、Ｓ／Ｈ　Ａ部又はＳ／Ｈ　Ｂ部のいずれかを選
択するセレクタである。７は選択された誤差信号を出力
する出力端子であり、不図示のサーボ系に接続される。

第２図において、８は前述のＡＢＮ信号を入力する入力
端子、９は位相の異なる周期パルス列ＳＡ及びＳＢを発
生する周期パルス列発生部である。また、１０は周期パ
ルス列ＳＡ及びＳＢが入力され、且つ、本実施例ではＡ
ＢＮ信号８が入力されるＳ　／　Ｈ許可部である。この
Ｓ／Ｈ許可部９は、ＳＨＡ信号及びＳＨＢ信号を出力す
る。

工１はＡＢＮ信号及び周期パルス列ＳＡが入力され、Ｓ
／Ｈ　Ａ部の動作状態に対して、誤差信号の異常がいつ
発生又は終了するかを検知する監視部Ａであり、１２は
ＡＢＮ信号及び周期パルス列ＳＢが入力され、Ｓ／Ｈ　
Ｂ部の動作状態に対して、誤差信号がいつ発生するか又
は終了するかを検知する監視部Ｂである。１３は監視部
Ａｌｌ及び監視部Ｂｌ２から出力される信号によって、
Ｓ／Ｈ　Ａ部２又はＳ／Ｈ　Ｂ部３のいずれを選択する
かを示すＡ／Ｂ信号を発生するセレクタ信号発生部であ
る。

第３図は、本発明の動作の概略を示すタイミング図であ
る。同図において、ＳＡ，ＳＢは前述の位相の異なる周
期パルス列であり、誤差信号に異常がない場合には、各
周期パルス列の“Ｈｉｇｈ”　（以下“Ｈ”と示す）レ
ベルに対応する時間区間でサンプルホールド部のサンプ
リング動作が実行される。又、各周期パルス列の“Ｌｏ
ｗ”　（以下“Ｌ″と示す）レベルに対応する時間区間
でホールド動作が実行される。

ＡＢＮＩ，ＡＢＮ２，ＡＢＮ３は誤差信号に異常を検出
した第１図の異常検出部４が出力するＡＢＮ信号の代表
的な形態を示しており、各々周期パルス列ＳＡ，ＳＢに
対する発生終了のタイミングが異なっている。Ａ／Ｂ　
１，　Ａ／Ｂ　２，　Ａ／Ｂ　３は各形態のＡＢＮ信号
に対応する。

本実施例において、誤差信号の異常が認められない状態
が継続している場合には、異常検出部４は例えば不図示
のウィンドウコンバレータにより、誤差信号が所定許容
範囲内であるので“Ｌ”レベルの信号ＡＢＮを出力する
。また、判定部５では、信号ＡＢＮが“Ｌ”レベルであ
るので、監視部Ａｌｌ及び監視部Ｂｌ２はＳ／Ｈ部の切
り替えをせず、信号Ａ／Ｂは“Ｈ”レベル又は“Ｌ”レ
ベルを保ち続ける。さらに、判定部５では、位相の異な
る周期パルス列ＳＡ及びＳＲをＳ　／　Ｈ許可部１ｏで
制限することなく、サンプルホールド信号ＳＨＡ及びＳ
ＨＢとして出力する。Ｓ／Ｈ　Ａ部２では、信号ＳＨＡ
が入力され、′Ｈｎレベルの期間中誤差信号をサンプリ
ンクシ、“Ｌ”レベルの期間中ホールドする。又、Ｓ／
Ｈ　Ｂ部３も同様に信号ＳＨＢが入力され“Ｈ”レベル
期間中誤差信号をサンプリングし“Ｌ”レベル期間中ホ
ールドする。さらに、セレクタ６では信号Ａ／Ｂの極性
によって選択された側のＳ／Ｈ出力を出力端子７から出
力する。

以下、誤差信号に異常が検出される場合について、判定
部５を中心に説明を行なう。

第３図の第１例では、異常検出信号ＡＢＮＩがＳ／Ｈ　
Ａ部２のホールド期間中に発生し、同一ホールド期間中
に終了している。この場合第２図において、監視部Ａｌ
ｌは、信号ＡＢＮＩがＳ／Ｈ　Ａ部２のホールド期間中
に発生し、終了しているので、Ｓ／Ｈ部の切り変え動作
をしない。また、監視部Ｂ１２は、信号ＡＢＮＩが発生
中に周期パルス列ＳＢの“Ｈ″レベルを検出するが、（
本実施例では）不動作である。

本実施例では、監視部Ａｌｌ及び監視部Ｂ１２は、周期
パルス列ＳＡ及びＳＢが″Ｈ”レベルの状態の時、異常
検出信号ＡＢＮＩが発生するか及び／又は終了するかを
主に監視している。さて第１例において、Ｓ／Ｈ許可部
１０は、信号ＡＢＮが発生中に周期パルス列発生部９か
ら発生する周期パルス列ＳＢ（第３図の第１パルス）を
不通過とするため、Ｓ／Ｈ　Ｂ部３ではこの間サンプリ
ングを行なわず誤差信号に異常が発生する前にサンプリ
ングした値のホールドを継続する。従って、第１例にお
いては、監視部Ａｌｌ及び監視部Ｂ１２は各々誤差信号
の異常発生及び終了にかかわらず異常発生前の値をホー
ルドしている。また、セレクタ信号発生部１３から発生
される信号Ａ／Ｂも、異常前に選択したＳ／Ｈ部を選択
したままとなる。

次に第２例では、信号ＡＢＮ２は周期パルス列ＳＡが“
Ｈ″レベルの時、即ちＳ／Ｈ　Ａ部２がサンプリング中
に誤差信号に異常が発生し、本来のホールド期間中に終
了している。この場合、監視部Ａｌｌは周期パルス列Ｓ
Ａが″Ｈ”レベル状態で、異常検出信号ＡＢＮ２が発生
したことを検知する。そして、既にホールド状態に入っ
ているＳ／Ｈ　Ｂ部３が正常な誤差信号をサンプリング
したことを確認して、セレクタ信号発生部１３に対して
、Ｓ／Ｈ　Ｂ部３の出力で、不図示サーボ系を構成する
ための要求信号を出力する。これをうけて、セレクタ信
号発生部１３は信号Ａ／Ｂ　２を直ちに“Ｌ″レベルに
する。さらに、Ｓ／Ｈ許可部１０は、引き続いて発生す
る周期パルス列ＳＢ（第３図の第２パルス）を不通過と
し、即ち、信号ＡＢＮ２の“Ｈ“レベル期間中のＳ／Ｈ
　Ｂ部のサンプリング動作を中止する。また、監視部Ｂ
ｌｌはこの間不動作であり、Ｓ／Ｈ　Ａ部の出力を選択
する要求信号は発生しない。

次に、第３の例では信号ＡＢＮ３は周期パルス列ＳＢの
“Ｈ”レベルの時、即ち、Ｓ／Ｈ　Ｂ部がサンプリング
中に、誤差信号に異常が発生し、周期パルス列ＳＡの″
Ｈ″レベルの時、即ちＳ／Ｈ　Ａ部２がサンプリング中
に誤差信号の異常が終了している。

この場合、監視部Ｂ１２は周期パルス列ＳＢがｓ　Ｈ　
ｎレベル状態で異常検出信号ＡＢＮ３が発生したことを
検知する。そして、既にホールド状態に入っているＳ／
Ｈ　Ａ部２が正常な誤差信号をサンプリングしたことを
確認して、セレクタ信号発生部１３に対して、ＳｌＨ　
Ａ部２の出力を選択する要求信号を出力する。セレクタ
信号発生部１３は、直ちに信号Ａ／Ｂを“Ｈ′レベルに
する。さらにＳ／Ｈ許可部１０は、引き続く周期パルス
列ＳＡ（第３図の第２パルス）及び周期パルス列ＳＢ（
第３図の第２パルス及び第３パルス）を不通過とし、異
常検出信号ＡＢＮ３が“Ｈ”レベル期間中のＳ／Ｈ　Ａ
部及びＳ／Ｈ　Ｂ部のサンプリング動作を中止する。さ
らに監視部Ａｌｌは、引き続いて発生される周期パルス
列ＳＡ（第３図の第３パルス）が“Ｈ“レベル状態で信
号ＡＢＮ３が“Ｌ”レベルになる、即ち、誤差信号の異
常が（例えばゴミ、傷等の部位を通過したことによって
）終了したことを検知するが、直前の周期パルス列ＳＢ
（第３図の第２パルス）のタイミングでＳ／Ｈ　Ｂ部３
がサンプリング動作を行っていないため、不動作となる
。

第４図から第７図を用いて本発明を更に詳細に説明する
。第４図は本発明の一実施例としての具体的回路図であ
る。図中、２１は周期パルス列ＳＡを信号ＡＢＮをイン
バートした信号（以下’ＫＴＨと称す）又は後述のＤ型
フリツブフロツプ２７の出力でゲートする３人力ＡＮＤ
回路であり、信号ＳＨＡを出力する。

２２は、周期パルス列ＳＢを信号ｍ又は後述のＤ型フリ
ツプフロツプ３２の出力でゲートする３人力ＡＮＤ回路
であり、信号ＳＨＢを出力する。

２３は信号ＡＢＮが入力され、誤差信号の異常発生（信
号の立ち上り）及び異常終了（信号の立ち下り）に対応
するタイミングでパルスを発生するパルス発生回路、２
４は信号ＡＢＮを逆極性に変換するインバータである。

２５は、周期パルス列ＳＡがＤ端子及びクリア端子に入
力され、パルス発生回路２３が出力する信号ＡＢＮの立
ち上り／立ち下りパルスに対応するパルスがクロック端
子に入力されるＤ型フリップフロツプであり、周期パル
ス列ＳＡが“Ｈ”レベル状態の時、信号ＡＢＮの発生及
び／又は終了を検知し、Ｓ／Ｈ　Ｂ部３例の出力を選択
する要求信号を出力する。

２６は、周期パルス列ＳＢがＤ端子に入力され、インバ
ータ２７によってインバートされた信号訂１がクリア端
子に入力され、信号ＡＢＮがクロック端？に入力される
Ｄ型フリツプフロツプであり、周期パルス列ＳＢが“Ｈ
”状態の時に誤差信号に異常が発生したことを一時記憶
する。２８は、Ｄ型フリツプフロツプ２５の出力した前
記要求信号を、Ｄ型フリツプフロツブ２６で一時記憶さ
れた情報でゲートする２人力のＡＮＤ回路である。本実
施例回路では、Ｄ型フリツプフロツブ２５，　２６、イ
ンバータ２７及び２人力ＡＮＤ回路２８で監視部Ａｌｌ
を構成する。

一方、２９は、周期パルス列ＳＢがＤ端子及びクリア端
子に入力され、パルス発生回路２３の出力する信号ＡＢ
Ｎの立ち上り／立ち下りパルスに対応するパルスがクロ
ック端子に入力されるＤ型フリツプフロツプであり、周
期パルス列ＳＢが“Ｈ″１ノベル状態の時、信号ＡＢＮ
の発生及び／又は終了を検知し、Ｓ／Ｈ　Ａ部２側の出
力を選択する要求信号を出力する。

３０は、周期パルス列ＳＡがＤ端子に入力され、信号Ａ
ＢＮがクロツク端子に入力され、インバータ３ｌにより
インバートされたサンプルホールド信号■巨がクリア端
子に入力されるＤ型フリツプフロツプであり、周期パル
ス列ＳＡが“Ｈ”レベル状態の時に、誤差信号に異常が
発生したことを一時記憶する。

３２は、Ｄ型フリツブフロツプ２９の出力した前記要求
信号をＤ型フリツプフロツプ３０で一時記憶された情報
でゲー１・する２人力のＡＮＤ回路である。

本実施例回路では、Ｄ型フリツプフロツプ２９，　３０
、インバータ３１及び２人力ＡＮＤ回路３２で、Ｂ監視
部ｌ２を構或する。３３は、ゲー１・部２８の出力信号
ＰＡによりセットされ、ゲート部３２の出力信号ＰＢに
よってリセツ１・されるＲＳ型フリツプフロツプであり
、サンプルホールド部の選択信号Ａ／Ｂを出力する。

第５図から第７図は周期パルス列ＳＡ及びＳＨに対して
、誤差信号の異常が発生したタイミングと、選択信号Ａ
／Ｂの発生するまでのタイミング図で、代表的な信号に
ついてのみ記載した。

まず、第５図は、異常発生検出信号ＡＢＮが周期パルス
列ＳＡの第２ホールド期間（第５図の周期パルス列ＳＡ
の第２パルスが発生した後、第３パルスが発生するまで
の“Ｌ”レベル期間）及び周期パルス列ＳＢの第１ホー
ルド期間に発生し、周期パルス列ＳＡの第４パルス発生
中（第５図第４パルスの″Ｈ’レベル期間）に終了して
いる場合を示す。第４図の本発明実施例回路において、
信号ＡＢＮが“Ｈ”レベルに立ち上るまで、即ち誤差信
号の異常が検出されない期間では、Ｄ型フリツプフロツ
プ２６及び３０に入力される夕ロックがないため、且つ
、信号Ｓ　Ｈ　Ａ及びＳＨＢが後述のように出力され、
インバート信号がクリア端子に入力ため、各Ｇ出力は″
Ｈ”レベルとなる。

また、インバータ２４の出力も“Ｈ”　レベルであり、
Ｓ／Ｈ許可部１０を構成するゲー１−２１．２２は通過
状態となり、周期パルス列ＳＡ及びＳＢは、サンプルホ
ールド信号ＳＨＡ及びＳＨＢとしてＳ／Ｈ　Ａ部２及び
Ｓ／Ｈ　Ｂ部３に与えられる。そして、各サンプルホー
ルド部では同一の誤差信号を異なる位相タイミングで″
Ｈ”レベルの時サンプリングを行ない、“Ｌ”レベルで
ホールド動作を行っている。

一方、Ｄ型フリツプフロツブ２５及び２９はクロツクが
なく、周期パルス列ｎ及び■によってクリアされるので
、Ｑ出力は“Ｌ”となる。このため、ゲート２８及び３
２の出力は、各々“Ｌ”　レベルである。従って、ＲＳ
フリツプフロツプ３３の状態は変化せず、以前に選択さ
れた“Ｈ”レベル又は“Ｌ”レベルの出力を保ち続ける
。

次に、誤差信号の異常が検出され、信号ＡＢＮが“Ｈ”
レベルに遷移する時に、周期パルス列ＳＡ及びＳＢは″
Ｌ”レベルのホールド状態であり、立ち上り／立ち下り
検出用のＤ型フリツブフロツブ２５及び２９−は、Ｄ端
子入力が“Ｌ”レベル状態でクロツクとして信号ＡＢＮ
の立ち上りに対応するパルスが入力するので、この場合
、状態の遷移は行なわれず、Ｑ出力は″Ｌ”レベルを継
続して出力する。

他方、Ｓ／Ｈ許可部１０を構成するゲート２ｌ及び２２
では、インバータ２４でインバートされた信号ｍが“Ｌ
”レベルに遷移し、誤差信号の異常状態が解除するまで
の期間、周期パルス列ＳＡ及びＳＢを不通過とする。即
ち、第５図のサンプルホールド信号ＳＨＡの第２パルス
及びサンプルホールド信号ＳＨＢの第２及び第３パルス
（破線部パルス）が消去される。これによって、信号Ａ
ＢＮ信号が“Ｈ”レベルの期間中は、サンプルホールド
Ｓ／Ｈ　Ａ部２及びＳ／Ｈ　Ｂ部３ともホールド状態を
継続する。また、Ｄ型フリツプフロツプ２６及び３０も
同様に状態遷移を行わない。ＲＳフリツブフロップ３３
もこの区間では信号ＰＡ及びＦＢが発生しないので状態
は遷移しない。

次に、誤差信号の異常が解除され、信号ＡＢＮが“Ｌ″
レベルに遷移する時に、周期パルス列ＳＢは“Ｌ”レベ
ルのホールド状態であり、前述のように立ち上り／立ち
下り検出用Ｄ型フリツプフロップ２９の状態は遷移しな
い。しかし、周期パルス列ＳＡは“Ｈ”レベル状態であ
り、Ｄ型フリップフロップ２５のＤ端子入力が″Ｈ″と
なり、このタイミイングで信号ＡＢＮの立ち下りに対応
するパルスがパルス発注部２３から出力され、クロツク
端子に印加される。これによってＤ型フリツブフロツブ
２５のＱ出力は゜Ｈ”レベルとなり（クリア端子に周期
パルス列ＳＡが入力されているので）周期パルス列ＳＡ
が”Ｌ″レベルになるまでのパルス出力となる。また、
Ｄ型フリツブフロツプ２６及び３０はクロツクパルスが
ないため、状態の遷移は発生せず、Ｑ出力ＰＡＥ及びＰ
ＢＥは“Ｈ″レベルのままである。従って、ゲート２８
及び３２は通過の状態で、前記Ｄ型フリツブフロツプ２
５の“Ｈ″パルスがゲート２８から信号ＰＡとして出力
され、ＰＳフリツプフロツプ３３の出力を“Ｌ”レベル
に遷移させる。これによってサンプルホールドＳｌＨ　
Ｂ部３の出力が選択されることになる。

第６図は誤差信号の異常が周期パルス列ＳＡの第２パル
ス発生中（即ちサンプルホールドＳ／Ｈ　Ａ部２のサン
プリング中）に発生し、第４パルス発生中に終了した場
合を示す。

第４図の本発明実施例回路において信号ＡＢＮが“Ｈ″
に遷移するまでは、第５図を用いた説明と同じであるの
で省略する。

誤差信号の異常が検出され、信号ＡＢＮが“Ｈ”レベル
に遷移する時に、周期パルス列ＳＢは”Ｌ″レベルで、
サンプルホールドＳ／Ｈ　Ｂ部３はホールド状態にあり
、第５図で説明したようにＤ型フリツプフロツブ２９は
Ｄ端子入力が“Ｌ”であるため、引き続き“Ｌ”出力と
なり状態遷移は起こらない。一方、Ｄ型フリツブフロツ
プ２５は、Ｄ端子入力が“Ｈ”であり、信号ＡＢＮの立
ち上りに対応するクロツクが入力されるので、第６図で
示す信号ＰＡと同じパルスを発生する。出力パルスは、
信号ＡＢＮが立ち上ってから、周期パルスＳＡの”Ｌ”
レベル部で同フリツプフロツプ２５がクリアされるまで
の時間区間発生する。また、Ｄ型フリツプフロツプ２６
は、Ｄ端子入力が“Ｌ”であるため、引き続き“Ｈ”出
力となり、状態遷移は起こらない。さらに、Ｄ型フリツ
ブフロツブ３０は、Ｄ端子入力が“Ｈ”レベルであり、
信号ＡＢＮの立ち上りクロツクが入力されて、ｑ出力Ｐ
ＢＥは“Ｌ”レベルに遷移する。従って、ゲート２８は
通過状態となり、パルス信号ＰＡを出力し、ゲート２９
は不通過の状態となる。そのため、ＲＳフリツプフロツ
プは、それまでの“Ｈ′レベル又は“Ｌ″レベル出力に
無関係に“Ｌ”レベルとなり、サンプルホールドＳ／Ｈ
　Ｂ部３の出力を選択する。

次に、異常検出信号ＡＢＮが“Ｈ”の期間中は、ゲート
２ｌ及び２２を不通過とするため、第６図のサンプルホ
ールド信号ＳＨＡ及びＳＨＢは破線で示すパルス部位を
消去される。

次に、誤差信号の異常が解除され、信号ＡＢＮが“Ｌ”
レベルに遷移する時は、周期パルス列ＳＢはホールド状
態（“Ｌ”レベル）であり、Ｄ型フリップフロツプ２６
及び２９の状態は遷移しない。また、Ｄ型フリツブフロ
ツプ３０は立ち上がりクロックが入力されないが、ゲー
ト２１の出力としてサンプルホールド信号ＳＨＡが不完
全なパルス幅ではあるが出力され、インバータ３１を介
して同フリツプフロツプ３０をクリアする。このためＧ
出力ＰＢＥは“Ｈ′″に遷移する。

一方、Ｄ型フリツプフロツプ２５のＤ端子入力は“Ｈ”
であり、且つ、信号ＡＢＮの立ち下がりパルスに対応す
るパルスがクロックとして入力するので、第６図で示す
信号ＰＡの第２番目のパルスを発生する（出力パルスは
周期バルスＳＡの“Ｌ”レベル区間では消滅する。）。

従って、ゲート３２はＤ型フリツプフロツブ２９のｑ出
力が“Ｌ”Ｉノベルを継続して出力しているので不通過
であり、ゲート２８は信号ＰＡＥが“Ｈ”であるので通
過状態で、パルスＰＡを出力する。しかし、ＲＳフリツ
プフロツブは既に“Ｌ″出力に設定されているので、状
態の遷移は起こらない。

第７図は誤差信号の異常が周期パルス列ＳＢの第１パル
ス発生中（即ちサンプルホールドＳ／ＨＢ部３のサンプ
リング中）に発生し、周期パルス列ＳＡの第３パルス発
生中に終了した場合を示す。

第４図の本発明実施例回路において、誤差信号に異常が
発生し、信号ＡＢＮが“Ｈ”に遷移するまでは第５図を
用いた説明と同じであり、ここでは省略する。

さて、誤差信号の異常が検出されて、信号ＡＢＮが“Ｈ
”レベルに遷移する時に、周期パルス列ＳＡは″Ｌ”レ
ベルで、Ｓ／Ｈ　Ａ部２はホールド状態にあり、Ｄ型フ
リツプフロップ２５及び３０は、各々Ｄ端子入力が“Ｌ
”であるので状態の遷移は起こらない。即ち、Ｄ型フリ
ツプフロツプ２５の出力は”Ｌ”レベル、Ｄ型フリツプ
フロツプ３０のｑ出力ＰＢＥは“Ｈ”レベルを夫々維持
する。また、Ｄ型フリツプフロツプ２６及び２９の各々
Ｄ端子入力は“Ｈ″レベルであり、Ｄ型フリツプフロツ
プ２６はＱ出力ＰＡＥを“Ｌ″レベルに遷移し、Ｄ型フ
リツプフロツブ２９は信号ＡＢＮの立ち上りから周期パ
ルス列ＳＢの″Ｌ″レベルでクリアされるまで、第６図
の信号ＰＲに示したパルスと同じタイミングで不図示の
パルスを発生する。従って、ゲート２８の入力端は信号
ＰＡＥが“Ｌ”レベルになって不通過状態となり、出力
信号ＰＡは“Ｌ”レベルのままである。また、ゲート３
２の入力端は、信号ＰＢＥが“Ｈ”レベルのままである
ので通過状態であり、上記Ｄ型フリツプフロツプ２９の
出力パルスを出力信号ＰＢとして出力する。これによっ
て、ＲＳフリツプフロツブ３３は出力信号として、選択
信号Ａ／Ｂをそれまでの状態にかかわらず”Ｈ”レベル
にする。

次に、異常検出信号ＡＢＮが“Ｈ”の期間中はゲート２
１及び２２を不通過とし、サンプルホールド信号ＳＨＡ
及びＳＨＢの″Ｈ″レベルを削除し、Ｓ／Ｈ　Ａ部２及
びＳ／Ｈ　Ｂ部３をホールド状態にする。

次に、誤差信号の異常が解除されて信号ＡＢＮが”Ｌ”
レベルに遷移するタイミングについては、第６図の場合
と同じであるが、回路動作は異ってくる。

これは、第６図の場合、誤差信号の異常発生のタイミン
グが周期パルス列ＳＡの″Ｈ”ｌノベルで発生し、第７
図では周期パルス列ＳＢの”Ｈ”　レベルで発生してい
ることに起因する。即ち、信号ＡＢＮが“Ｌ”レベルに
遷移する時は、周期パルス列ＳＢは“Ｌ”レベルであり
、Ｄ型フリップフロップ２９はＤ端子入力が“Ｌ”であ
り、状態の遷移は起こらない。また、Ｄ型フリップフロ
ップ３０についても立ち上りクロツクが入力されないの
で、ｑ出力ＰＢＥは“Ｈ”レベルのままとなる。一方、
Ｄ型フリップフロツプ２６も立ち上りクロツクが入力さ
れず、且つ、クリア端子にはインバータ２７でインバー
トされた信号ｍが接続され“Ｈ”レベルであるので、出
力ＰＡＥは″Ｌ”１ノベルのままである。このためゲー
ト２１は不通過の状態を維持する。（ゲート２２はイン
バータ２４でインバートされた信号Ｖパが“Ｈ”レベル
になり、且つ、上記Ｄ型フリツブフロツプ３０の回出力
ＰＢＥは“Ｈ″　レベルのままであるので通過状態とな
る。）第６図の場合は、第７図中に破線で示した信号ＰＡがパ
ルス出力されるのに対して、第７図の場合はゲート２１
が不通過であり、サンプルホールド信号ＳＨＡの第３パ
ルスが完全に削除される。即ち、選択信号の切り換え時
に、選択先のサンプルホールド（この場合はＳ／｝Ｉ　
Ｂ部３）のサンプリング異常を一時記憶しているため、
誤ったサンプルホールド部の選択（第７図Ａ／Ｂに破線
で示す）を実行しないように動作している。、また、同
時に、現在選択しているサンプルホールド部（この場合
はＳｌＨ　Ａ部２）のサンプリング異常を引き起こさな
いように動作している。尚、Ｄ型フリツブフロツプ２６
は、異常が解除された後に通過状態となったゲート２２
から出力されるサンプルホールド信号ＳＨＢのインバー
ト出力ｍによってクリアされ、ｑ出力ＰＡＥを“Ｈ″レ
ベルに戻し、ゲート２１を通過状態に戻し、通常動作に
復帰する。

また、第５図から第７図は、周期パルス列ＳＡ及びＳＢ
に対する異常検出信号ＡＢＮの発生タイミングが、Ａ系
，Ｂ系が逆になっても同じように動作するので、代表例
として示している。

以上、本発明の実施例回路について述べたが、回路の構
戒及び信号の挙動・極性等これらに限定されるものでは
ない。

例えば、Ｓ／Ｈ許可部はゲート・ロジックで構或せず、
周期パルス列の発生を停止するよう構威しても良い。

また、第８図に示すように、誤差信号の異常検出信号Ａ
ＢＮの発生終了期を周期パルス列等のタイミングに同期
させ、不完全なサンプリングパルスによるサンプリング
動作が開始されないようにしても良い。

同図において、ＳＡ，ＳＢ，ＡＢＮは既に説明された信
号と同じ信号を表わし、ＡＢＮＩはＤ端子入力に信号Ａ
ＢＮが入力されクロツク端子に周期パルス列ＳＡ及びＳ
Ｂの論理和か入力されたＤ型フリツブフロツプのＱ出力
であり、ＡＢＮ２は信号ＡＢＮと信号ＡＢＮＩの論理和
であり、後縁エツジは周期パルス列ＳＡ又はＳＢの前縁
エツジに同期する。好ましくは、同周期パルス列を形或
するタイミングパルスによって、サンプリング開始前に
信号ＡＢＮ２が立ち下がるように威すと良い。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、ＡＴ及び／又は
ＡＦ制御系の誤差信号に異常がサンプリング中に発生し
た場合には、該サンプルホールド部の出力を選択しない
よう動作し、また、異常発生中のサンプリング動作は全
て中止し、サンプリング再開時にもサンプリング動作に
異常のあるサンプルホールド部の出力を選択することを
回避し、又は再開するサンプリング動作を確実に実行す
ることができる。また、選択されたサンプルホールド部
は、必ず異常のない誤差信号をサンプリングしているこ
とになり、制御信号に誤差を発生させることなく、簡単
なハード構戒で高精度の制御系を構戒することが可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
第１図図示の判定部を詳細に説明するブロック図、第３
図は第２図図示の各部における信号波形を示すタイミン
グ図、第４図は第２図図示の判定部の具体的構戒例を示
す回路図、第５図乃至第７図は夫々第４図図示の各部に
おける信号波形を示すタイミング図、第８図は本発明の
変形例における信号波形を示すタイミング図、第９図は
光ヘッドの概略構或を示す斜視図、第１０図はＡＦ及び
ＡＴ誤差信号の検出回路を示す図、第１１図（ａ）及び
（ｂ）は夫々ＡＦ及びＡＴ誤差信号を示す図、第１２図
は従来のＡＴハズレ防止回路の例を示すブロック図であ
る。１，７　・・・・・・・・・・・・・・・・・端子２・
・・・・・・・・・サンプルホールド部Ａ３・・・・・
・・・・・サンプルホールド部Ｂ４・・・・・・・・・
・・・・・・異常検出部５・・・・・・・・・・・・・
・・・・・判定部６・・・・・・・・・・・・・・・・
・セレクタＡ″′ｒ方向位直

Claims

【特許請求の範囲】

（１）オートフォーカス制御及び／又はオートトラッキ
ング制御を行ないながら、集光した光ビームで記録担体
を走査し、情報の記録及び／又は再生を行なう装置にお
いて、前記制御のための誤差信号を互いに異なるタイミングで
周期的にサンプリングする複数のサンプルホールド手段
と、前記誤差信号の挙動の異常を検出する異常検出手段
と、前記異常検出手段で異常が検出されている期間内に
、前記サンプルホールド手段のサンプリング開始時期が
来たら、このサンプリングを中止させる手段と、前記複
数のサンプルホールド手段の内の１つを選択し、この出
力に応じて制御を行なわせる選択手段と、前記選択され
たサンプルホールド手段のサンプリング期間中に前記異
常が発生したら、一前記選択手段に他のサンプルホール
ド手段の選択を指示する手段とを備えたことを特徴とす
る情報記録再生装置。