JPH03163861A - メモリモジュール - Google Patents
メモリモジュールInfo
- Publication number
- JPH03163861A JPH03163861A JP1303963A JP30396389A JPH03163861A JP H03163861 A JPH03163861 A JP H03163861A JP 1303963 A JP1303963 A JP 1303963A JP 30396389 A JP30396389 A JP 30396389A JP H03163861 A JPH03163861 A JP H03163861A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- insulating substrate
- terminals
- electrodes
- recess
- Prior art date
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- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/14—Structural association of two or more printed circuits
- H05K1/141—One or more single auxiliary printed circuits mounted on a main printed circuit, e.g. modules, adapters
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3442—Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/403—Edge contacts; Windows or holes in the substrate having plural connections on the walls thereof
Landscapes
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、メモリチップの高密度な実装に供されるメモ
リモジュールに関する。
リモジュールに関する。
[発明の概要]
本発明は、複数のメモリチップを実装させるメモリモジ
ュールであって、 絶縁基板の一側表面に凹部を形威し、該凹部内にメモリ
チップを収納、配投ずると共に、前記絶1 縁基板の表面の周縁部に拡張用接続端子を複数設け、該
端子と前記メモリチップの電極とを夫々接続してなるこ
とに上り、 メモリの実装密度を飛躍的に向」ニさせるようにしたも
のである。
ュールであって、 絶縁基板の一側表面に凹部を形威し、該凹部内にメモリ
チップを収納、配投ずると共に、前記絶1 縁基板の表面の周縁部に拡張用接続端子を複数設け、該
端子と前記メモリチップの電極とを夫々接続してなるこ
とに上り、 メモリの実装密度を飛躍的に向」ニさせるようにしたも
のである。
[従来の技術]
近年、メモリの実装には、メモリの大容量化とともに、
高密度化か要求されている。
高密度化か要求されている。
従来、メモリの高密度実装を行なう場合、第6図及び第
7図に示すようなメモリチップのパッケージを用いた例
が知られている。
7図に示すようなメモリチップのパッケージを用いた例
が知られている。
第6図に示す従来例は、プリント基板l上に、D I
P (Dual In−Line Package)タ
イプのメモリパッケージ2を多数配設したものである。
P (Dual In−Line Package)タ
イプのメモリパッケージ2を多数配設したものである。
まず、第7図に示す従来例は、プリント基板I」二に、
Z I P (ZigzagIn−Line Pack
age)タイプのメモリパッケージ2を多数立設させて
実装したものである。
Z I P (ZigzagIn−Line Pack
age)タイプのメモリパッケージ2を多数立設させて
実装したものである。
2
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、これら従来例にあっては、メモリチップ
を内蔵するパッケージの大きさの制約により、ある程度
以上の高密度化は不可能であった。
を内蔵するパッケージの大きさの制約により、ある程度
以上の高密度化は不可能であった。
また、パッケージ品を使う以上、メモリチンプの総面積
が実装基板の面積を超えるような高密度化は実現不可能
であった。
が実装基板の面積を超えるような高密度化は実現不可能
であった。
本発明は、このJ;うな従来の問題点に着目して創案さ
れたものであってメモリの実装密度を飛躍的に高めるこ
とを可能にすると共にアクセスタイムを短縮するメモリ
モジュールを得んとずるものてある。
れたものであってメモリの実装密度を飛躍的に高めるこ
とを可能にすると共にアクセスタイムを短縮するメモリ
モジュールを得んとずるものてある。
[課題を解決するための手段]
そこで、本発明は、絶縁基板の一側表面に凹部を形成し
、該凹部内にメモリチップを収納、配設ずると共に、前
記絶縁基板の表面の周縁部に拡張用接続端子を複数設け
、該端子と前記メモリチップの電極とを夫々接続してな
ることを、その解決手段としている。
、該凹部内にメモリチップを収納、配設ずると共に、前
記絶縁基板の表面の周縁部に拡張用接続端子を複数設け
、該端子と前記メモリチップの電極とを夫々接続してな
ることを、その解決手段としている。
3
[作用]
絶縁基板に形威した凹部内にメモリチップを配設するこ
とにより、複数の絶縁基板の積み重ねが可能となり、実
装密度を高めることが可能となる。
とにより、複数の絶縁基板の積み重ねが可能となり、実
装密度を高めることが可能となる。
この場合、絶縁基板の表面周縁部に設けた拡張用接続端
子は、積み重ねられた隣接する絶縁基板の拡張用接続端
子と接続可能となり、電気的に導通可能となる。
子は、積み重ねられた隣接する絶縁基板の拡張用接続端
子と接続可能となり、電気的に導通可能となる。
[実施例]
以下、本発明に係るメモリモジコールの詳細を図面に示
す各実施例に基づいて説明する。
す各実施例に基づいて説明する。
(第1実施例)
第1図及び第2図は、本実施例に係るメモリモジュール
としての単位セルを示している。
としての単位セルを示している。
図中I1は単位セルであって、この単位セル11は、略
正方形状の絶縁基板l2の一側表面に形成した凹部13
に2つのメモリチップ14を配設して大略構成されてい
る。
正方形状の絶縁基板l2の一側表面に形成した凹部13
に2つのメモリチップ14を配設して大略構成されてい
る。
4
なお、上記絶縁基板l2は、下層基板+2Aと上層基板
12Bから成り、下層基板12Aの表面には、メモリチ
ップI4より稍々大きい長方形の収納凹部12aが突堤
12bを隔てて2つ形成されている。そして、下層基板
12Aの収納凹部l2a,+2aの周縁には、当該収納
凹部12aに配設されるメモリチップ14の取り出し電
極14aと対向する位置に、夫々独立して下層基板l2
A周縁部に導かれる配線15〜l5が形成されている。
12Bから成り、下層基板12Aの表面には、メモリチ
ップI4より稍々大きい長方形の収納凹部12aが突堤
12bを隔てて2つ形成されている。そして、下層基板
12Aの収納凹部l2a,+2aの周縁には、当該収納
凹部12aに配設されるメモリチップ14の取り出し電
極14aと対向する位置に、夫々独立して下層基板l2
A周縁部に導かれる配線15〜l5が形成されている。
また、上層基板12Bは、上記収納凹部12aの周縁の
配線15〜15の一端部が露出するような額縁形状をし
ており、配線15〜+5が形成された下層基板+2Aの
上に接着されている。
配線15〜15の一端部が露出するような額縁形状をし
ており、配線15〜+5が形成された下層基板+2Aの
上に接着されている。
そして、前記収納凹部12aには、メモリチップl4が
配設され、取り出し電極14aとこれに対応する配線l
5とに亘ってボンディングワイヤ16が接続されている
。
配設され、取り出し電極14aとこれに対応する配線l
5とに亘ってボンディングワイヤ16が接続されている
。
なお、絶縁基板12の凹部I3には、図示しないが樹脂
等により封止が行なわれている。
等により封止が行なわれている。
5
さらに、絶縁基板12の周側部には、夫々の配線I5の
他端部か露出ずる断而半円形の凹溝12Cか」二下方向
に沿って形威されており、この凹溝12Cには、拡張用
接続端子I7を、内側而及び絶縁基板l2の上下面に亘
って形威している。
他端部か露出ずる断而半円形の凹溝12Cか」二下方向
に沿って形威されており、この凹溝12Cには、拡張用
接続端子I7を、内側而及び絶縁基板l2の上下面に亘
って形威している。
斯る構成としたことにより、拡張用接続端子I7は、メ
モリチップ14の取り出し電極+ 4. aと個々に導
通可能となっており、第3図に示すように、jp位セル
11を複数積み上げた状態で、−L下に隣接する相対応
ずる拡張用接続端子17どうしが当接ずるようになって
いる。なお、積み上げる単位セルI1の枚数は、必要と
するメモリ容量に応じて適宜選択されるものであり、当
接する拡張用接続端子l7どうしは半田付けを施せばよ
い。
モリチップ14の取り出し電極+ 4. aと個々に導
通可能となっており、第3図に示すように、jp位セル
11を複数積み上げた状態で、−L下に隣接する相対応
ずる拡張用接続端子17どうしが当接ずるようになって
いる。なお、積み上げる単位セルI1の枚数は、必要と
するメモリ容量に応じて適宜選択されるものであり、当
接する拡張用接続端子l7どうしは半田付けを施せばよ
い。
また、単位セルの集合体は、夫々拡張用接続端子17〜
l7を、例えばデータ線.アドレス線,電源線,制御線
等として用いることが可能となる。
l7を、例えばデータ線.アドレス線,電源線,制御線
等として用いることが可能となる。
さらに、拡張用接続端子17は、メモリチップl4の取
り出し電極+4aに近い位置に形成されるため、メモリ
のアクセスタイムを短縮する。
り出し電極+4aに近い位置に形成されるため、メモリ
のアクセスタイムを短縮する。
6
(第2実施例)
第4図は、本実施例の要部断面図を示している。
本実施例は、絶縁基板l2の4つの周側面を平面で構威
し、各配線l5の露出ずる位置に、コ字状の金属板を該
絶縁基板I2を挟むように設IJて拡張用接続端子17
としたものであり、他の構成は第1実施例と同様である
。
し、各配線l5の露出ずる位置に、コ字状の金属板を該
絶縁基板I2を挟むように設IJて拡張用接続端子17
としたものであり、他の構成は第1実施例と同様である
。
また、本実施例における単位セルIIの積み上げ構造は
、第l実施例と同様である。
、第l実施例と同様である。
以上、第1,第2実施例について説明したが、本発明に
係るメモリモジュールにあっては、その構成の要旨に{
=1随して各種の設計変更が可能である。
係るメモリモジュールにあっては、その構成の要旨に{
=1随して各種の設計変更が可能である。
例えば、上記両実施例においては、単位セルllに2つ
のメモリチップ14を配設したが、単数であっても複数
であってもよい。
のメモリチップ14を配設したが、単数であっても複数
であってもよい。
また、上記両実施例においては、単位セル1lを積み上
げて高密度化する場合、拡張用接続端子l7どうしを半
田付けするようにしたものであるが、第5図に示すよう
なソケット18に複数の単7 位セルI1を密嵌して収納させても勿論よい。なお、ソ
ケットl8は、同図に示す上うに、直方体形状の絶縁材
で成る本体+8Aの一側面に、単位セルl1を内嵌ずる
収納凹部18Bが形成され、この収納凹部18Bの内壁
には単位セルIIの嵌合方向に沿って、しかも単位セル
11の拡張用接続端子17に対向ずる位置に接触配線l
9を該内壁面よりやや突出させて敷設している。そして
、これら接触配線19〜l9は、本体18Aの他側面に
突設されたりードピン20〜20に夫々接続された構成
となっている。
げて高密度化する場合、拡張用接続端子l7どうしを半
田付けするようにしたものであるが、第5図に示すよう
なソケット18に複数の単7 位セルI1を密嵌して収納させても勿論よい。なお、ソ
ケットl8は、同図に示す上うに、直方体形状の絶縁材
で成る本体+8Aの一側面に、単位セルl1を内嵌ずる
収納凹部18Bが形成され、この収納凹部18Bの内壁
には単位セルIIの嵌合方向に沿って、しかも単位セル
11の拡張用接続端子17に対向ずる位置に接触配線l
9を該内壁面よりやや突出させて敷設している。そして
、これら接触配線19〜l9は、本体18Aの他側面に
突設されたりードピン20〜20に夫々接続された構成
となっている。
[発明の効果]
以上の説明から明らかなように、本発明に係るメモリモ
ジュールによれば、厚さの薄い単位セルの積み重ねによ
り、メモリの実装密度を飛躍的に向上させる効果がある
。
ジュールによれば、厚さの薄い単位セルの積み重ねによ
り、メモリの実装密度を飛躍的に向上させる効果がある
。
また、要望に応じてメモリ容量を需要者が拡張させるこ
とが可能となる効果がある。
とが可能となる効果がある。
さらに、複数の単位セルを集積した場合、実質8
的にデータ線.アドレス線等が短くなるため、アクセス
タイムの短縮する効果がある。
タイムの短縮する効果がある。
さらにまた、単位セル自体薄い板状であるため、カード
製品への応用も可能にする効果がある。
製品への応用も可能にする効果がある。
第1図は本発明に係るメモリモジュールの第1実施例を
示す斜視図、第2図は同断面図、第3図は同斜視図、第
4図は第2実施例の要部断面図、第5図は単位セルを装
着するソケットを示す斜視図、第6図及び第7図は従来
例を示す斜視図である。 l1・単位セル、l2・・・絶縁基板、13・・・凹部
、l4・・メモリチップ、l5・・・配線、l6・・・
ボンディングワイヤ、l7・・・拡張用接続端子。 9 ぐuH\
示す斜視図、第2図は同断面図、第3図は同斜視図、第
4図は第2実施例の要部断面図、第5図は単位セルを装
着するソケットを示す斜視図、第6図及び第7図は従来
例を示す斜視図である。 l1・単位セル、l2・・・絶縁基板、13・・・凹部
、l4・・メモリチップ、l5・・・配線、l6・・・
ボンディングワイヤ、l7・・・拡張用接続端子。 9 ぐuH\
Claims (1)
- (1)絶縁基板の一側表面に凹部を形成し、該凹部内に
メモリチップを収納、配設すると共に、前記絶縁基板の
表面の周縁部に拡張用接続端子を複数設け、該端子と前
記メモリチップの電極とを夫々接続してなることを特徴
とするメモリモジュール。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1303963A JP2737322B2 (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | メモリモジュール |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1303963A JP2737322B2 (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | メモリモジュール |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03163861A true JPH03163861A (ja) | 1991-07-15 |
| JP2737322B2 JP2737322B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=17927383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1303963A Expired - Fee Related JP2737322B2 (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | メモリモジュール |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2737322B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998049726A1 (en) * | 1997-04-30 | 1998-11-05 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Board for mounting semiconductor element, method for manufacturing the same, and semiconductor device |
| WO2001099189A1 (en) * | 2000-06-19 | 2001-12-27 | Advantest Corporation | Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit |
| US6340842B1 (en) * | 1998-04-02 | 2002-01-22 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device in a recess of a semiconductor plate |
| US6369445B1 (en) | 2000-06-19 | 2002-04-09 | Advantest Corporation | Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit |
| US6492203B1 (en) | 1997-04-30 | 2002-12-10 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Semiconductor device and method of fabrication thereof |
| US6617193B1 (en) | 1997-04-30 | 2003-09-09 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Semiconductor device, semiconductor device substrate, and methods of fabricating the same |
-
1989
- 1989-11-22 JP JP1303963A patent/JP2737322B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998049726A1 (en) * | 1997-04-30 | 1998-11-05 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Board for mounting semiconductor element, method for manufacturing the same, and semiconductor device |
| US6268648B1 (en) | 1997-04-30 | 2001-07-31 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | Board for mounting semiconductor element, method for manufacturing the same, and semiconductor device |
| US6492203B1 (en) | 1997-04-30 | 2002-12-10 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Semiconductor device and method of fabrication thereof |
| US6617193B1 (en) | 1997-04-30 | 2003-09-09 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Semiconductor device, semiconductor device substrate, and methods of fabricating the same |
| CN100370602C (zh) * | 1997-04-30 | 2008-02-20 | 日立化成工业株式会社 | 半导体元件装配用基板及其制造方法和半导体器件 |
| US6340842B1 (en) * | 1998-04-02 | 2002-01-22 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device in a recess of a semiconductor plate |
| US6538322B2 (en) * | 1998-04-02 | 2003-03-25 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device in a recess of a semiconductor plate |
| US7183132B2 (en) | 1998-04-02 | 2007-02-27 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor device in a recess of a semiconductor plate |
| WO2001099189A1 (en) * | 2000-06-19 | 2001-12-27 | Advantest Corporation | Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit |
| US6369445B1 (en) | 2000-06-19 | 2002-04-09 | Advantest Corporation | Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit |
| US6440775B2 (en) | 2000-06-19 | 2002-08-27 | Advantest Corporation | Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit |
| CN1305181C (zh) * | 2000-06-19 | 2007-03-14 | 株式会社鼎新 | 接触构件 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2737322B2 (ja) | 1998-04-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |