JPH03165441A - 電子顕微鏡のレンズ装置 - Google Patents
電子顕微鏡のレンズ装置Info
- Publication number
- JPH03165441A JPH03165441A JP1303570A JP30357089A JPH03165441A JP H03165441 A JPH03165441 A JP H03165441A JP 1303570 A JP1303570 A JP 1303570A JP 30357089 A JP30357089 A JP 30357089A JP H03165441 A JPH03165441 A JP H03165441A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron microscope
- image
- diffraction
- lens
- coil
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、試料の電子顕微鏡像と回折像を観察可能な電
子顕微鏡に係り、特に、そのレンズの構成に関するもの
である。
子顕微鏡に係り、特に、そのレンズの構成に関するもの
である。
[従来の技術]
透過型電子顕微鏡においては、試料の拡大像(以下、電
子顕微鏡像と称す)を観察できるばかりでなく、当該試
料の回折像を観察することができる。電子顕微鏡像およ
び回折像を得る場合の結像系の動作の概略を第2図に示
す。なお、図中、1は試料、2は電子ビーム、3は対物
レンズ(以下、OLと称す)、4は対物絞り、5は視野
制限絞り、6は第1中間レンズ(以下、ILI と称す
)、7は第2中間レンズ(以下、IL2と称す)、8は
投影レンズ(以下、PLと称す)、9はスクリーンを示
す。
子顕微鏡像と称す)を観察できるばかりでなく、当該試
料の回折像を観察することができる。電子顕微鏡像およ
び回折像を得る場合の結像系の動作の概略を第2図に示
す。なお、図中、1は試料、2は電子ビーム、3は対物
レンズ(以下、OLと称す)、4は対物絞り、5は視野
制限絞り、6は第1中間レンズ(以下、ILI と称す
)、7は第2中間レンズ(以下、IL2と称す)、8は
投影レンズ(以下、PLと称す)、9はスクリーンを示
す。
第2図(a)は電子顕微鏡像を得る場合の結像系レンズ
の動作を示す図であり、試料1を透過した電子ビーム2
はOL3により視野制限絞り5の位置に結像する。これ
が電子顕微鏡像である。また、このとき、対物絞り4の
位置には試料1の回折像が形成される。これが対物後焦
点面であり、即ち、対物絞り4は対物後焦点面に配置さ
れているものである。視野制限絞り5の位置に結像され
た電子顕微鏡像はILIEiによりAで示す位置に投影
され、Aで示す位置に結像された電子顕微鏡像はIL2
7によりBで示す位置に投影され、更に、Bで示す位置
に結像された電子顕微鏡像はPL8により拡大されてス
クリーン9上に投影される。このとき、回折像は図中、
Cで示す位置に縮小されて投影されている。
の動作を示す図であり、試料1を透過した電子ビーム2
はOL3により視野制限絞り5の位置に結像する。これ
が電子顕微鏡像である。また、このとき、対物絞り4の
位置には試料1の回折像が形成される。これが対物後焦
点面であり、即ち、対物絞り4は対物後焦点面に配置さ
れているものである。視野制限絞り5の位置に結像され
た電子顕微鏡像はILIEiによりAで示す位置に投影
され、Aで示す位置に結像された電子顕微鏡像はIL2
7によりBで示す位置に投影され、更に、Bで示す位置
に結像された電子顕微鏡像はPL8により拡大されてス
クリーン9上に投影される。このとき、回折像は図中、
Cで示す位置に縮小されて投影されている。
第2図(b)は回折像を得る場合の結像系の動作を示す
図であり、対物絞り4上に形成された回折像は、ILI
6によりDで示す位置に投影され、Dで示す位置に結像
された回折像はIL27によりEで示す位置に投影され
、更に、Eで示す位置に結像された回折像はPL8によ
り拡大されてスクリーン9上に投影される。このとき、
電子顕微鏡像は図中、Fで示す位置に縮小されて投影さ
れている。
図であり、対物絞り4上に形成された回折像は、ILI
6によりDで示す位置に投影され、Dで示す位置に結像
された回折像はIL27によりEで示す位置に投影され
、更に、Eで示す位置に結像された回折像はPL8によ
り拡大されてスクリーン9上に投影される。このとき、
電子顕微鏡像は図中、Fで示す位置に縮小されて投影さ
れている。
[発明が解決しようとする課題]
以上のようにして電子顕微鏡像および回折像の観察を行
うことができるのであるが、しかしながら、電子顕微鏡
像を得る場合と、回折像を得る場合とでは、IL16、
IL27およびPL8の励磁条件が異なるために、電子
顕微鏡像の回転角度と回折像の回転角度とに差が生じ、
それぞれの像の向きが異なってしまうという問題があっ
た。即ち、電子顕微鏡像を得る場合には、ILIE3の
物面は試料1そのものであるのに対して、回折像を得る
場合には対物絞り4の位置に結像している回折像である
ために、両者においてIL1f3から物面までの距離が
異なることになり、そのために、IL16、IL27お
よびPL8の励磁の強さを変えて焦点距離を変化させる
必要がある。その一方、像の回転角度は各レンズにおけ
る励磁の強さ、即ちアンペア−ターンの総和で決定され
ることが知られている。従って、上述したように、電子
顕微鏡像を得る場合と回折像を得る場合とで励磁の強さ
が異なる場合には、アンベアーターンの総和が異なり、
その結果電子顕微鏡像と回折像の回転角度に差が生じる
ことになるのである。
うことができるのであるが、しかしながら、電子顕微鏡
像を得る場合と、回折像を得る場合とでは、IL16、
IL27およびPL8の励磁条件が異なるために、電子
顕微鏡像の回転角度と回折像の回転角度とに差が生じ、
それぞれの像の向きが異なってしまうという問題があっ
た。即ち、電子顕微鏡像を得る場合には、ILIE3の
物面は試料1そのものであるのに対して、回折像を得る
場合には対物絞り4の位置に結像している回折像である
ために、両者においてIL1f3から物面までの距離が
異なることになり、そのために、IL16、IL27お
よびPL8の励磁の強さを変えて焦点距離を変化させる
必要がある。その一方、像の回転角度は各レンズにおけ
る励磁の強さ、即ちアンペア−ターンの総和で決定され
ることが知られている。従って、上述したように、電子
顕微鏡像を得る場合と回折像を得る場合とで励磁の強さ
が異なる場合には、アンベアーターンの総和が異なり、
その結果電子顕微鏡像と回折像の回転角度に差が生じる
ことになるのである。
以上の現象は、特に試料として結晶性の試料等を取り扱
う場合には問題となる。結晶性の試料を取り扱う場合に
は、電子顕微鏡像と回折像とを頻繁に切り換えて比較す
ることが行われるが、電子顕微鏡像の向きと回折像の向
きが異なっている場合には、オペレータは像の切り換え
の度に注目している箇所がどの位置であるのかを経験に
基づいて判断しなければならず、熟練を要するばかりで
なく、時間がかかるものであった。
う場合には問題となる。結晶性の試料を取り扱う場合に
は、電子顕微鏡像と回折像とを頻繁に切り換えて比較す
ることが行われるが、電子顕微鏡像の向きと回折像の向
きが異なっている場合には、オペレータは像の切り換え
の度に注目している箇所がどの位置であるのかを経験に
基づいて判断しなければならず、熟練を要するばかりで
なく、時間がかかるものであった。
以上の事情は結像レンズ系の段数を増やしても基本的に
は変化しないものであり、近年、電子顕微鏡の多くは、
倍率を変化させても像が回転しないような結像レンズ系
の電流値の組合せが見い出されており、電子顕微鏡を用
いた仕事において、像が回転するという事実を問題視す
る必要がない状況になりつつあるにも拘らず、電子顕微
鏡像と回折像との間の向きの違いに関しては解決されな
い問題として残っていた。
は変化しないものであり、近年、電子顕微鏡の多くは、
倍率を変化させても像が回転しないような結像レンズ系
の電流値の組合せが見い出されており、電子顕微鏡を用
いた仕事において、像が回転するという事実を問題視す
る必要がない状況になりつつあるにも拘らず、電子顕微
鏡像と回折像との間の向きの違いに関しては解決されな
い問題として残っていた。
これに対して、OL3の内部に対物ミニレンズ(以下、
OMと称す)を設けることが行われている。その構成を
第3図に示す。第3図(a)に示すように、OL3はO
Lジョーク1にOLコイル12が巻回された構成となさ
れ、OL3で取り囲まれた空間の所定の位置には、0M
ヨーク14と0Mコイル15とで構成される0M13が
設けられている。なお、図中0は光軸を示し、また、対
物絞りは省略されている。
OMと称す)を設けることが行われている。その構成を
第3図に示す。第3図(a)に示すように、OL3はO
Lジョーク1にOLコイル12が巻回された構成となさ
れ、OL3で取り囲まれた空間の所定の位置には、0M
ヨーク14と0Mコイル15とで構成される0M13が
設けられている。なお、図中0は光軸を示し、また、対
物絞りは省略されている。
そして、該0M13に所定の励磁電流を供給することに
よって、第3図(b)に示すように、対物絞り4の位置
に形成されている回折像を対物絞り5の位置、即ち通常
は電子顕微鏡像が形成される位置に投影することができ
る。従って、この場合には、IL16の物面は電子顕微
鏡像を得るときと、回折像を得るときとで同じ位置にあ
ることになり、I L12、I L27およびPL8の
励磁条件は同じでよいことになる。
よって、第3図(b)に示すように、対物絞り4の位置
に形成されている回折像を対物絞り5の位置、即ち通常
は電子顕微鏡像が形成される位置に投影することができ
る。従って、この場合には、IL16の物面は電子顕微
鏡像を得るときと、回折像を得るときとで同じ位置にあ
ることになり、I L12、I L27およびPL8の
励磁条件は同じでよいことになる。
しかしながら、0M13を設けた場合においても、電子
顕微鏡像と回折像の向きが異なるという問題点は依然と
して解決されていないものである。
顕微鏡像と回折像の向きが異なるという問題点は依然と
して解決されていないものである。
なぜなら、確かにI L16、I L27およびPL8
の励磁条件は同じであるからこの部分での回転角度に差
が生じることはないが、0M13によって形成される磁
場の分布は第3図(C)に示すようであるから、回折像
を得る場合のアンペア−ターンの総和は、電子顕微鏡像
を得る場合に比較して、第3図(C)の16で示す0M
13を励磁するためのアンペア−ターンの分だけ多くな
るので、それに応じて回折像は電子顕微鏡像より太き(
回転してしまうからである。
の励磁条件は同じであるからこの部分での回転角度に差
が生じることはないが、0M13によって形成される磁
場の分布は第3図(C)に示すようであるから、回折像
を得る場合のアンペア−ターンの総和は、電子顕微鏡像
を得る場合に比較して、第3図(C)の16で示す0M
13を励磁するためのアンペア−ターンの分だけ多くな
るので、それに応じて回折像は電子顕微鏡像より太き(
回転してしまうからである。
本発明は、上記の課題を解決するものであって、電子顕
微鏡像を得る場合と、回折像を得る場合とで像の回転角
度に差がなく、従って電子顕微鏡像の向きと回折像の向
きを一致させることができる電子顕微鏡のレンズ装置を
提供することを目的とするものである。
微鏡像を得る場合と、回折像を得る場合とで像の回転角
度に差がなく、従って電子顕微鏡像の向きと回折像の向
きを一致させることができる電子顕微鏡のレンズ装置を
提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段]
上記の目的を達成するために、本発明の電子顕微鏡のレ
ンズ装置は、対物レンズと中間レンズとの間に、対物後
焦点面上の回折像を電子顕微鏡像と同じ位置に結像させ
るためのレンズを配置した電子顕微鏡のレンズ装置にお
いて、前記レンズは2つのコイルと3つの磁極を存する
2コイル3磁極型レンズで構成され、前記二つのコイル
には大きさが等しく互いに逆向きの磁場が生成される電
流が供給されることを特徴とする。
ンズ装置は、対物レンズと中間レンズとの間に、対物後
焦点面上の回折像を電子顕微鏡像と同じ位置に結像させ
るためのレンズを配置した電子顕微鏡のレンズ装置にお
いて、前記レンズは2つのコイルと3つの磁極を存する
2コイル3磁極型レンズで構成され、前記二つのコイル
には大きさが等しく互いに逆向きの磁場が生成される電
流が供給されることを特徴とする。
[作用および発明の効果]
本発明においては、oMとして、2コイル3磁極型レン
ズを用い、これらの二つのコイルに流す電流の大きさを
常に等しく、それぞれのコイルにより生成される磁場の
極性が互いに反対になるようにし、且つ、該OMによっ
て、対物後焦点面上に形成された回折像を視野制限絞り
上に投影するようにしたので、通常の電子顕微鏡像を得
るための拡大レンズ系の電流値の組合せにおいて回折像
を得ることができ、カメラ長は倍率の変化によって変え
ることができる。また、OMは像の回転を生じさせない
ので、電子顕微鏡像と回折像との間で向きの違いを生ず
ることがない。
ズを用い、これらの二つのコイルに流す電流の大きさを
常に等しく、それぞれのコイルにより生成される磁場の
極性が互いに反対になるようにし、且つ、該OMによっ
て、対物後焦点面上に形成された回折像を視野制限絞り
上に投影するようにしたので、通常の電子顕微鏡像を得
るための拡大レンズ系の電流値の組合せにおいて回折像
を得ることができ、カメラ長は倍率の変化によって変え
ることができる。また、OMは像の回転を生じさせない
ので、電子顕微鏡像と回折像との間で向きの違いを生ず
ることがない。
従って、本発明に係る電子顕微鏡のレンズ装置を、倍率
を変えても像の回転が生じないようにした結像レンズ系
に適用すれば、全ての倍率において電子顕微鏡像と回折
像との間で向きの違いを生じないようにすることができ
る。
を変えても像の回転が生じないようにした結像レンズ系
に適用すれば、全ての倍率において電子顕微鏡像と回折
像との間で向きの違いを生じないようにすることができ
る。
[実施例]
以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。
第1図は本発明に係る電子顕微鏡のレンズ装置の一実施
例を示す図であり、第1図(a)に示すように、OL3
で取り囲まれた空間の所定の位置には0M20が設けら
れる点では第3図(a)に示す従来のものと同様である
が、0M20の構成は第3図(a)に示すものと異なっ
ている。なお、図中Oは光軸を示し、また、対物絞りは
省略されている。
例を示す図であり、第1図(a)に示すように、OL3
で取り囲まれた空間の所定の位置には0M20が設けら
れる点では第3図(a)に示す従来のものと同様である
が、0M20の構成は第3図(a)に示すものと異なっ
ている。なお、図中Oは光軸を示し、また、対物絞りは
省略されている。
第1図(b)は第1図(a)の0M20の構成を示す拡
大図であるが、該0M20は、第1磁極21、第2@極
22および第3磁極23の3つの磁極と、第1磁極21
と第2磁極22との間に巻回された第1コイル24およ
び第2磁極22と第3磁極23との間に巻回された第2
コイル25とで構成される、いわゆる2コイル31if
f極型レンズとなされている。そして、第1コイル24
および第2コイル25には、第3図(b)に示すと同様
に、対物絞り4の位置に形成された回折像を視野制限絞
り5の位置に投影できるだけの励611i流が供給され
るようになされるが、第1コイル24に供給される励磁
電流と、第2コイル25に供給される励磁電流とは、大
きさが等しく、電流の方向は反対となされる。従って、
第1コイル24により形成される磁場24Bと第2コイ
ル25により形成される磁場25Bは、第1図(C)に
示すように、光軸Oに沿って互いに逆向きとなる。
大図であるが、該0M20は、第1磁極21、第2@極
22および第3磁極23の3つの磁極と、第1磁極21
と第2磁極22との間に巻回された第1コイル24およ
び第2磁極22と第3磁極23との間に巻回された第2
コイル25とで構成される、いわゆる2コイル31if
f極型レンズとなされている。そして、第1コイル24
および第2コイル25には、第3図(b)に示すと同様
に、対物絞り4の位置に形成された回折像を視野制限絞
り5の位置に投影できるだけの励611i流が供給され
るようになされるが、第1コイル24に供給される励磁
電流と、第2コイル25に供給される励磁電流とは、大
きさが等しく、電流の方向は反対となされる。従って、
第1コイル24により形成される磁場24Bと第2コイ
ル25により形成される磁場25Bは、第1図(C)に
示すように、光軸Oに沿って互いに逆向きとなる。
従って、当該0M20におけるアンペア−ターンの総和
は零となるので、0M20の部分において像の回転は生
じないことになる。そして、当該0M20により対物絞
り4の位置に形成された回折像は視野制限絞り5の位置
に投影されるのであるから、上述したと同様に、電子顕
微鏡像を得る場合と回折像を得る場合とで結像系レンズ
の励磁条件は同一でよいことになり、結像系レンズの部
分での像の回転角度は同じになるから、結局、電子顕微
鏡像の向きと回折像の向きは一致することになる。そし
て、このことは倍率掲るいはカメラ長に依存しない。つ
まり、倍率あるいはカメラ長を変更すると電子顕微鏡像
の回転角度は変化するが、回折像も同じ角度だけ回転す
るので、電子顕微鏡像と回折像の向きは一致するのであ
る。
は零となるので、0M20の部分において像の回転は生
じないことになる。そして、当該0M20により対物絞
り4の位置に形成された回折像は視野制限絞り5の位置
に投影されるのであるから、上述したと同様に、電子顕
微鏡像を得る場合と回折像を得る場合とで結像系レンズ
の励磁条件は同一でよいことになり、結像系レンズの部
分での像の回転角度は同じになるから、結局、電子顕微
鏡像の向きと回折像の向きは一致することになる。そし
て、このことは倍率掲るいはカメラ長に依存しない。つ
まり、倍率あるいはカメラ長を変更すると電子顕微鏡像
の回転角度は変化するが、回折像も同じ角度だけ回転す
るので、電子顕微鏡像と回折像の向きは一致するのであ
る。
以上のように本発明によれば、電子顕微鏡像の向きと回
折像の向きは常に一致しているので、電子顕微鏡像と回
折像の比較を容易に行うことができる。
折像の向きは常に一致しているので、電子顕微鏡像と回
折像の比較を容易に行うことができる。
第1図は本発明に係る電子顕微鏡のレンズ装置の一実施
例の構成を示す図、第2図は結像系レンズの動作を説明
するための図、第3図は従来の対物ミニレンズの動作を
説明するための図である。 1・・・試料、2・・・電子ビーム、3・・・対物レン
ズ、4・・・対物絞り、5・・・視野制限絞り、θ・・
・第1中間レンズ、7・・・第2中間レンズ、8・・・
投影レンズ(以下、PLと称す)、9・・・スクリーン
、20・・・対物ミニレンズ。21・・・第1磁極、2
2・・・第2磁極、23・・・第3磁極、24・・・第
1コイル、25・・・第2コイル。 出 願 人 日本電子株式会社
例の構成を示す図、第2図は結像系レンズの動作を説明
するための図、第3図は従来の対物ミニレンズの動作を
説明するための図である。 1・・・試料、2・・・電子ビーム、3・・・対物レン
ズ、4・・・対物絞り、5・・・視野制限絞り、θ・・
・第1中間レンズ、7・・・第2中間レンズ、8・・・
投影レンズ(以下、PLと称す)、9・・・スクリーン
、20・・・対物ミニレンズ。21・・・第1磁極、2
2・・・第2磁極、23・・・第3磁極、24・・・第
1コイル、25・・・第2コイル。 出 願 人 日本電子株式会社
Claims (1)
- (1)対物レンズと中間レンズとの間に、対物後焦点面
上の回折像を電子顕微鏡像と同じ位置に結像させるため
のレンズを配置した電子顕微鏡のレンズ装置において、
前記レンズは2つのコイルと3つの磁極を有する2コイ
ル3磁極型レンズで構成され、前記二つのコイルには大
きさが等しく互いに逆向きの磁場が生成される電流が供
給されることを特徴とする電子顕微鏡のレンズ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1303570A JP2561739B2 (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | 電子顕微鏡のレンズ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1303570A JP2561739B2 (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | 電子顕微鏡のレンズ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03165441A true JPH03165441A (ja) | 1991-07-17 |
| JP2561739B2 JP2561739B2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=17922600
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1303570A Expired - Fee Related JP2561739B2 (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | 電子顕微鏡のレンズ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2561739B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014056765A (ja) * | 2012-09-13 | 2014-03-27 | Hokkaido Univ | 電子線照射装置 |
| JP2016162532A (ja) * | 2015-02-27 | 2016-09-05 | 公立大学法人大阪府立大学 | 電子顕微鏡およびそれを用いた試料の観察方法 |
-
1989
- 1989-11-22 JP JP1303570A patent/JP2561739B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014056765A (ja) * | 2012-09-13 | 2014-03-27 | Hokkaido Univ | 電子線照射装置 |
| JP2016162532A (ja) * | 2015-02-27 | 2016-09-05 | 公立大学法人大阪府立大学 | 電子顕微鏡およびそれを用いた試料の観察方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2561739B2 (ja) | 1996-12-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4306149A (en) | Electron microscope (comprising an auxiliary lens) | |
| JP3914750B2 (ja) | 収差補正装置を備えた荷電粒子線装置 | |
| JP6173862B2 (ja) | 電子顕微鏡 | |
| JP2002516026A (ja) | 粒子−光学装置におけるレンズ欠陥補正用の補正デバイス | |
| JP5307582B2 (ja) | 電子顕微鏡 | |
| US4494000A (en) | Image distortion-free, image rotation-free electron microscope | |
| US4434367A (en) | Electron microscope | |
| US6720558B2 (en) | Transmission electron microscope equipped with energy filter | |
| US6140645A (en) | Transmission electron microscope having energy filter | |
| JPH03165441A (ja) | 電子顕微鏡のレンズ装置 | |
| US6531698B1 (en) | Particle-optic illuminating and imaging system with a condenser-objective single field lens | |
| JP3814149B2 (ja) | エネルギーフィルタを備えた透過型電子顕微鏡 | |
| US4520264A (en) | Electron microscope | |
| JP6817349B2 (ja) | 偏向器および荷電粒子線装置 | |
| JPH05160012A (ja) | 電子線縮小転写装置 | |
| JP3869957B2 (ja) | エネルギーフィルタを備える透過型電子顕微鏡 | |
| JP4365721B2 (ja) | 電子顕微鏡 | |
| US6586737B2 (en) | Transmission electron microscope equipped with energy filter | |
| JPS605503Y2 (ja) | 透過型走査電子顕微鏡 | |
| US6140642A (en) | Imaging energy filter equipped with distortion corrector | |
| TW548664B (en) | Split magnetic lens for controlling a charged particle beam | |
| JP2026043824A (ja) | 電子顕微鏡 | |
| JPH11273605A (ja) | エネルギーフィルタ電子顕微鏡 | |
| JPH0992191A (ja) | 電子顕微鏡 | |
| JPS589545B2 (ja) | デンシケンビキヨウニオケルタイブツレンズノ ヒテンシユウサホセイホウホウ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080919 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090919 Year of fee payment: 13 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |