JPH0316603B2 - - Google Patents
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- JPH0316603B2 JPH0316603B2 JP59223652A JP22365284A JPH0316603B2 JP H0316603 B2 JPH0316603 B2 JP H0316603B2 JP 59223652 A JP59223652 A JP 59223652A JP 22365284 A JP22365284 A JP 22365284A JP H0316603 B2 JPH0316603 B2 JP H0316603B2
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- Japan
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- inspected
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- pulse signal
- signal
- image sensor
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- Expired - Lifetime
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/3404—Sorting according to other particular properties according to properties of containers or receptacles, e.g. rigidity, leaks, fill-level
- B07C5/3408—Sorting according to other particular properties according to properties of containers or receptacles, e.g. rigidity, leaks, fill-level for bottles, jars or other glassware
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N2021/845—Objects on a conveyor
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S209/00—Classifying, separating, and assorting solids
- Y10S209/939—Video scanning
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は表面検査装置、特に、例えばベルトコ
ンベヤ上を連続して流れて来る被検査物の表面の
良否を光イメージセンサ等を用いて自動的に検査
する表面検査装置に関するものである。
ンベヤ上を連続して流れて来る被検査物の表面の
良否を光イメージセンサ等を用いて自動的に検査
する表面検査装置に関するものである。
近年、物体の外観や表面の良否を、人の目視に
よる検査に代えて、光イメージセンサ、例えばビ
デオカメラを用いて撮映し、画像（ビデオ）信号
を得、このビデオ信号を電子回路等によりい処理
して、物体の良否の判定を自動的に行う検査装置
が、種々提供されている。
よる検査に代えて、光イメージセンサ、例えばビ
デオカメラを用いて撮映し、画像（ビデオ）信号
を得、このビデオ信号を電子回路等によりい処理
して、物体の良否の判定を自動的に行う検査装置
が、種々提供されている。
しかしながら、上述した如き従来の検査装置に
於いては、ビデオカメラは、通常固定され、その
視野は一方向に限定されている。従つて、被検査
物が例えばコツプの如き立体的物体の場合は、一
度にその全周を検査できない欠点がある。
於いては、ビデオカメラは、通常固定され、その
視野は一方向に限定されている。従つて、被検査
物が例えばコツプの如き立体的物体の場合は、一
度にその全周を検査できない欠点がある。
一方、１個の被検査物に対して、数台のビデオ
カメラを用い、夫々異なる多方向面から被検査物
を同時に検査することも考えられているが、これ
は、多数のビデオカメラ及び関連する多数の処理
回路等を必要とするので、高価になり、且つ広い
検査場を必要とする欠点がある。
カメラを用い、夫々異なる多方向面から被検査物
を同時に検査することも考えられているが、これ
は、多数のビデオカメラ及び関連する多数の処理
回路等を必要とするので、高価になり、且つ広い
検査場を必要とする欠点がある。
更に、１個のビデオカメラを用い、その検査位
置で、コツプの如き立体的被検査物を一旦停止、
回転させ、被検査領域を変えて、数回の検査を繰
り返して、全周を検査することも考えられている
が、この検査方法は、１個の被検査物の検査に長
い時間がかゝり、ベルトコンベヤ上を流れて来る
コツプ等の被検査物の検査に適用することは、不
可能である。
置で、コツプの如き立体的被検査物を一旦停止、
回転させ、被検査領域を変えて、数回の検査を繰
り返して、全周を検査することも考えられている
が、この検査方法は、１個の被検査物の検査に長
い時間がかゝり、ベルトコンベヤ上を流れて来る
コツプ等の被検査物の検査に適用することは、不
可能である。
本発明は、コンベヤ１により連続して一方向ａ
に送られて来る被検査物２の表面を照明装置６に
より照明し、１台の光イメージセンサ３を用いて
撮映し、それよりの画像信号を処理して被検査物
の表面の良否の検査を行う装置に於いて、上記光
イメージセンサ３を連続する複数個の被検査物２
を同時撮映するように配置すると共に、上記コン
ベヤ１を、上記連続する被検査物２が上記光イメ
ージセンサ３の視界内を一方向に通過する間に、
その個々の全ての被検査面が上記光イメージセン
サ３により撮映されるように上記連続する被検査
物を回転させるように構成し、上記光イメージセ
ンサ３の出力画像信号を検査装置５に供給し、そ
こで上記撮映された複数個の被検査物２の画像信
号を該被検査物の移動に同期して検査を行い、
夫々の判定信号をシフトレジスタ８の互に隣接し
上記被検査物の数と同数のパラレル入力端子に供
給すると共に、該シフトレジスタに上記連続する
被検査の移動に同期したシフトパルスを供給し、
上記判定信号をシフトして出力するようになした
表面検査装置を提供したものである。
に送られて来る被検査物２の表面を照明装置６に
より照明し、１台の光イメージセンサ３を用いて
撮映し、それよりの画像信号を処理して被検査物
の表面の良否の検査を行う装置に於いて、上記光
イメージセンサ３を連続する複数個の被検査物２
を同時撮映するように配置すると共に、上記コン
ベヤ１を、上記連続する被検査物２が上記光イメ
ージセンサ３の視界内を一方向に通過する間に、
その個々の全ての被検査面が上記光イメージセン
サ３により撮映されるように上記連続する被検査
物を回転させるように構成し、上記光イメージセ
ンサ３の出力画像信号を検査装置５に供給し、そ
こで上記撮映された複数個の被検査物２の画像信
号を該被検査物の移動に同期して検査を行い、
夫々の判定信号をシフトレジスタ８の互に隣接し
上記被検査物の数と同数のパラレル入力端子に供
給すると共に、該シフトレジスタに上記連続する
被検査の移動に同期したシフトパルスを供給し、
上記判定信号をシフトして出力するようになした
表面検査装置を提供したものである。
又、更に本発明は、コンベヤ１により連続して
一方向ａに送られて来る被検査物２の表面を照明
装置６により照明し、１台の光イメージセンサ３
を用いて撮映し、それよりの画像信号を処理して
被検査物の表面の良否の検査を行う装置に於い
て、上記光イメージセンサ３を連続する複数個の
被検査物２を同時撮映するように配置すると共
に、上記コンベヤ１を、上記連続する被検査物２
が上記光イメージセンサ３の視界内を一方向に通
過する間に、その個々の全ての被検査面が上記光
イメージセンサ３により撮映されるように上記連
続する被検査物を回転させるように構成し、上記
光イメージセンサ３の出力画像信号を検査装置５
に供給し、そこで上記撮映された複数個の被検査
物２の画像信号を該被検査物の移動に同期して検
査を行い、夫々の判定信号をシフトレジスタ８の
互に隣接し上記被検査物の数と同数のパラレル入
力端子に供給すると共に、該シフトレジスタに上
記連続する被検査物の移動に同期したシフトパル
スを供給して上記判定信号をシフトし、上記シフ
トレジスタの出力信号を排除装置９に供給し、不
良被検査物を排除するようになした表面検査装置
を提供したものである。
一方向ａに送られて来る被検査物２の表面を照明
装置６により照明し、１台の光イメージセンサ３
を用いて撮映し、それよりの画像信号を処理して
被検査物の表面の良否の検査を行う装置に於い
て、上記光イメージセンサ３を連続する複数個の
被検査物２を同時撮映するように配置すると共
に、上記コンベヤ１を、上記連続する被検査物２
が上記光イメージセンサ３の視界内を一方向に通
過する間に、その個々の全ての被検査面が上記光
イメージセンサ３により撮映されるように上記連
続する被検査物を回転させるように構成し、上記
光イメージセンサ３の出力画像信号を検査装置５
に供給し、そこで上記撮映された複数個の被検査
物２の画像信号を該被検査物の移動に同期して検
査を行い、夫々の判定信号をシフトレジスタ８の
互に隣接し上記被検査物の数と同数のパラレル入
力端子に供給すると共に、該シフトレジスタに上
記連続する被検査物の移動に同期したシフトパル
スを供給して上記判定信号をシフトし、上記シフ
トレジスタの出力信号を排除装置９に供給し、不
良被検査物を排除するようになした表面検査装置
を提供したものである。
上述した本発明による表面検査装置は、１台の
光イメージセンサが、コンベヤにより搬送されて
来る複数個の被検査物を同時に撮映し、その画像
信号を被検査物の移動に同期して検査装置で検査
処理して判定信号を出力し、この判定信号をシフ
トレジスタで被検査物の移動に同期して所定時間
遅らせて出力し、この出力信号で排除装置を駆動
し、不良被検査物をコンベヤより排除するように
なす。
光イメージセンサが、コンベヤにより搬送されて
来る複数個の被検査物を同時に撮映し、その画像
信号を被検査物の移動に同期して検査装置で検査
処理して判定信号を出力し、この判定信号をシフ
トレジスタで被検査物の移動に同期して所定時間
遅らせて出力し、この出力信号で排除装置を駆動
し、不良被検査物をコンベヤより排除するように
なす。
以下、本発明の一例を添付図面を参照して説明
する。
する。
第１図は本発明による物体の表面検査装置の一
例の全体を示す略線的ブロツク図で、同図に於い
て、１はベルトコンベヤの如きコンベヤで、その
上に、コツプ、ビン等の被検査物２が、矢印ａ方
向に、所定の間隔を以て連続して略々一定速度で
搬送される。３はビデオカメラの如き光イメージ
センサで、これは、コンベヤ１上を連続して流れ
て来る被検査物、例えばコツプ２を複数個、この
例では続く３個を同時に撮映する如き位置に配置
されている。４はビデオカメラ３よりの画像（ビ
デオ）信号を受け、その画面上に３個のコツプ２
の像を再生するビデオモニタであり、５は電子処
理回路を有し、ビデオカメラ３よりのビデオ信号
を処理して、コツプ２の表面の良否を判定し、良
否の判定信号（良の場合は“０”否の場合は
“１”なる判定信号）を出力する検査装置。６は
照明装置の光源で、この例では透明なコツプ２を
照明し、それを通過した光がビデオカメラ３に入
射し得るように配置される。６Ａは透過拡散板
で、コツプ２と光源６との間に配置され、光源６
よりの光が広範囲に亘り、均一に複数個、この例
では３個のコツプ２を照明し得るように光源３と
共に照明装置を構成する。
例の全体を示す略線的ブロツク図で、同図に於い
て、１はベルトコンベヤの如きコンベヤで、その
上に、コツプ、ビン等の被検査物２が、矢印ａ方
向に、所定の間隔を以て連続して略々一定速度で
搬送される。３はビデオカメラの如き光イメージ
センサで、これは、コンベヤ１上を連続して流れ
て来る被検査物、例えばコツプ２を複数個、この
例では続く３個を同時に撮映する如き位置に配置
されている。４はビデオカメラ３よりの画像（ビ
デオ）信号を受け、その画面上に３個のコツプ２
の像を再生するビデオモニタであり、５は電子処
理回路を有し、ビデオカメラ３よりのビデオ信号
を処理して、コツプ２の表面の良否を判定し、良
否の判定信号（良の場合は“０”否の場合は
“１”なる判定信号）を出力する検査装置。６は
照明装置の光源で、この例では透明なコツプ２を
照明し、それを通過した光がビデオカメラ３に入
射し得るように配置される。６Ａは透過拡散板
で、コツプ２と光源６との間に配置され、光源６
よりの光が広範囲に亘り、均一に複数個、この例
では３個のコツプ２を照明し得るように光源３と
共に照明装置を構成する。
第１図の例では、被検査物であるコツプ２は、
上述の如く、透明な、例えばガラスコツプと仮定
しているので、光源６はコツプ２に関して、ビデ
オカメラ３と反対側に配置され、コツプ２を通過
した光源６よりの光が、ビデオカメラ３に入射す
る。
上述の如く、透明な、例えばガラスコツプと仮定
しているので、光源６はコツプ２に関して、ビデ
オカメラ３と反対側に配置され、コツプ２を通過
した光源６よりの光が、ビデオカメラ３に入射す
る。
又、第１図に於いて、７Ａ及び７Ｂは、コンベ
ヤ１の両側で、且つビデオカメラ３のコツプ２の
流れに対し、上流に配されたパルス信号発生装置
７を構成するもので、例えば７Ａは光ビーム発生
器であり、７Ｂはその受光器で、この受光器７Ｂ
は光ビーム発生器７Ａよりの光ビームを受けてい
る時は信号を発生しないが、両者間にコツプ２が
通過し、光ビームが遮ぎられる（又は弱められ
る）毎に、換言すれば、両者間をコツプ２が通過
する毎に、１個のパルス信号を発生し、このパル
ス信号を検査装置５に供給する。この検査装置５
は、受光器７Ｂよりのパルス信号を受ける毎に、
ビデオカメラ３よりの画像信号、この例の場合、
連続する３個のコツプ２の画像信号を同時に判定
処理し、夫々に就き、別々の判定信号を、その出
力端子５1，５2，５3に発生する。又、８はシフ
トレジスタで、その連続する複数個、この例では
３個のパラレル入力端子８P1，８P2，８P3に、
検査装置５の３個の出力端子５1，５2，５3より
の３個の判定信号が夫々同時に入力される。又、
受光器７Ｂよりのパルス信号をシフトレジスタ８
の入力端子８Ｉに、シフトパルスとして供給し、
それに供給されている上述の判定信号を、シフト
パルスが１個入力される毎に、シフトレジスタ８
の出力端子８Ｏに向かつて１ステツプ順次シフト
する。９は、コンベヤ１のビデオカメラ３に対
し、下流の所定位置に配置された不良品用の排除
装置で、シフトレジスタ８の出力端子８Ｏの出力
信号により駆動され、（信号“１”により駆動さ
れるも、信号“０”では駆動されない）不良コツ
プ２を、コンベヤ１に隣接して設けた不良品の排
除用コンベヤ１０上に送る。矢印a1は排除用コン
ベヤ１０の移動方向を示す。
ヤ１の両側で、且つビデオカメラ３のコツプ２の
流れに対し、上流に配されたパルス信号発生装置
７を構成するもので、例えば７Ａは光ビーム発生
器であり、７Ｂはその受光器で、この受光器７Ｂ
は光ビーム発生器７Ａよりの光ビームを受けてい
る時は信号を発生しないが、両者間にコツプ２が
通過し、光ビームが遮ぎられる（又は弱められ
る）毎に、換言すれば、両者間をコツプ２が通過
する毎に、１個のパルス信号を発生し、このパル
ス信号を検査装置５に供給する。この検査装置５
は、受光器７Ｂよりのパルス信号を受ける毎に、
ビデオカメラ３よりの画像信号、この例の場合、
連続する３個のコツプ２の画像信号を同時に判定
処理し、夫々に就き、別々の判定信号を、その出
力端子５1，５2，５3に発生する。又、８はシフ
トレジスタで、その連続する複数個、この例では
３個のパラレル入力端子８P1，８P2，８P3に、
検査装置５の３個の出力端子５1，５2，５3より
の３個の判定信号が夫々同時に入力される。又、
受光器７Ｂよりのパルス信号をシフトレジスタ８
の入力端子８Ｉに、シフトパルスとして供給し、
それに供給されている上述の判定信号を、シフト
パルスが１個入力される毎に、シフトレジスタ８
の出力端子８Ｏに向かつて１ステツプ順次シフト
する。９は、コンベヤ１のビデオカメラ３に対
し、下流の所定位置に配置された不良品用の排除
装置で、シフトレジスタ８の出力端子８Ｏの出力
信号により駆動され、（信号“１”により駆動さ
れるも、信号“０”では駆動されない）不良コツ
プ２を、コンベヤ１に隣接して設けた不良品の排
除用コンベヤ１０上に送る。矢印a1は排除用コン
ベヤ１０の移動方向を示す。
次に、上述した本発明による物体の表面検査装
置の動作を、連続する複数個、例えば３個の被検
査物２、例えば透明ガラスより成るコツプを同時
に検査する場合を例に挙げ説明しよう。
置の動作を、連続する複数個、例えば３個の被検
査物２、例えば透明ガラスより成るコツプを同時
に検査する場合を例に挙げ説明しよう。
第２図は、或る時点に於けるビデオモニタ４の
画面４Ａを示し。この時点に於いては、連続する
３個の位置２ｎ，２n+1，２n+2に在るコツプ２の
画像が再生されているものとする。尚、位置２
n-1，２n+3のコツプ２は、ビデオカメラ３の視界
内になく、従つてビデオモニタ４の画面４Ａ上に
は再生されていない。
画面４Ａを示し。この時点に於いては、連続する
３個の位置２ｎ，２n+1，２n+2に在るコツプ２の
画像が再生されているものとする。尚、位置２
n-1，２n+3のコツプ２は、ビデオカメラ３の視界
内になく、従つてビデオモニタ４の画面４Ａ上に
は再生されていない。
扨て、本発明に於いては、夫々のコツプ２がビ
デオカメラ３の視界内を通過する間に、その検査
されるべき（被検査）表面をずべてがビデオカメ
ラ３により撮映されるようにするため、各コツプ
２を、ビデオカメラ３の視界内を通過する間に、
略々１回転させる。このため、本発明に於いて
は、第１図の一部を拡大して示す第３図の如く、
コンベヤ、例えばベルトコンベヤ１を、夫々互に
平行な４本のベルトコンベヤ１１，１２，１３，
１４に分割し、夫々の矢印ａ方向の移動速度を、
分割したベルト１１から１４に行くに従つて、順
次遅くなり、各コツプ２がビデオカメラ３の視界
内、例えば第３図のコンベヤ１の距離VFを通過
する間に、略々矢印ｂ方向に一回転するようにな
し、その被検査表面の全てが、ビデオカメラ３に
より撮映されるようになす。
デオカメラ３の視界内を通過する間に、その検査
されるべき（被検査）表面をずべてがビデオカメ
ラ３により撮映されるようにするため、各コツプ
２を、ビデオカメラ３の視界内を通過する間に、
略々１回転させる。このため、本発明に於いて
は、第１図の一部を拡大して示す第３図の如く、
コンベヤ、例えばベルトコンベヤ１を、夫々互に
平行な４本のベルトコンベヤ１１，１２，１３，
１４に分割し、夫々の矢印ａ方向の移動速度を、
分割したベルト１１から１４に行くに従つて、順
次遅くなり、各コツプ２がビデオカメラ３の視界
内、例えば第３図のコンベヤ１の距離VFを通過
する間に、略々矢印ｂ方向に一回転するようにな
し、その被検査表面の全てが、ビデオカメラ３に
より撮映されるようになす。
扨て、第２図に示す如く、続く３個の位置２
ｎ，２n+1，２n+2に在るコツプ２が１個のビデオ
カメラ３によつて同時に撮映される場合、連続す
る位置２ｎ，２n+1，２n+2に在る３個のコツプ２
の相互の回転位相差は、約120°である。今、例え
ば位置２ｎにあるコツプ２の全周面の検査を１個
のビデオカメラ３により行なう場合、位置２ｎの
コツプ２が第２図の位置２ｎ，２n+1及び２n+2の
３個所で検査されれば、その全周面の検査が行わ
れることになる。従つて、本発明に於いては、ビ
デオカメラ３よりのビデオ信号を、検査装置５で
常に検査又は判定するのではなく、１個のコツプ
２が３つの位置２ｎ，２n+1，２n+2に在る際に、
ビデオカメラ３よりのビデオ信号を、検査装置５
で検査処理するものである。勿論、あるコツプ２
が位置２ｎに在る時は、前の２個のコツプは、位
置２n+1及び２n+2にあり、これ等のコツプ２のビ
デオ信号も、２ｎの位置にあるコツプ２のビデオ
信号と同時に処理され、それ等の判定信号が、検
査装置５より、別々且つ同時にシフトレジスタ８
のパラレル入力端子８P1，８P2，８P3に供給さ
れることは、上述の如くである。
ｎ，２n+1，２n+2に在るコツプ２が１個のビデオ
カメラ３によつて同時に撮映される場合、連続す
る位置２ｎ，２n+1，２n+2に在る３個のコツプ２
の相互の回転位相差は、約120°である。今、例え
ば位置２ｎにあるコツプ２の全周面の検査を１個
のビデオカメラ３により行なう場合、位置２ｎの
コツプ２が第２図の位置２ｎ，２n+1及び２n+2の
３個所で検査されれば、その全周面の検査が行わ
れることになる。従つて、本発明に於いては、ビ
デオカメラ３よりのビデオ信号を、検査装置５で
常に検査又は判定するのではなく、１個のコツプ
２が３つの位置２ｎ，２n+1，２n+2に在る際に、
ビデオカメラ３よりのビデオ信号を、検査装置５
で検査処理するものである。勿論、あるコツプ２
が位置２ｎに在る時は、前の２個のコツプは、位
置２n+1及び２n+2にあり、これ等のコツプ２のビ
デオ信号も、２ｎの位置にあるコツプ２のビデオ
信号と同時に処理され、それ等の判定信号が、検
査装置５より、別々且つ同時にシフトレジスタ８
のパラレル入力端子８P1，８P2，８P3に供給さ
れることは、上述の如くである。
各コツプが２ｎ，２n+1及び２n+2の位置にある
時のビデオカメラ３よりのビデオ信号を処理する
ため、本発明に於いては、受光器７Ｂよりのパル
ス信号を検査装置５へ供給し、このパルス信号が
供給された時のみ、検査装置５がビデオカメラ３
よりのビデオ信号の処理を行い、判定信号をシフ
トレジスタ８へ出力するようになす。
時のビデオカメラ３よりのビデオ信号を処理する
ため、本発明に於いては、受光器７Ｂよりのパル
ス信号を検査装置５へ供給し、このパルス信号が
供給された時のみ、検査装置５がビデオカメラ３
よりのビデオ信号の処理を行い、判定信号をシフ
トレジスタ８へ出力するようになす。
上述の如く、コツプ２を１回転させ、その間、
回転位相の異なる３つの位置でその外周面を検査
する場合、コツプ２の上面を３等分（120°角間
隔）Ａ，Ｂ，Ｃに分けて示す第４図に関連して、
第２図の撮映状態を説明する。この場合、位置２
n+2にあるコツプの撮映されている領域は、第４
図の部分Ａであるとすれば、位置２n+1及び２ｎ
にあるコツプの撮映されている領域は、第４図の
部分Ｂ及びＣである。換言すれば、各１個のコツ
プは、ビデオカメラ３の視界内を１回転しながら
通過する間に、３個の位置２ｎ，２n+1，２n+2に
於いて、３等分された部分Ａ，Ｂ，Ｃのビデオカ
メラ３よりのビデオ信号が、検査装置５で検査処
理される。
回転位相の異なる３つの位置でその外周面を検査
する場合、コツプ２の上面を３等分（120°角間
隔）Ａ，Ｂ，Ｃに分けて示す第４図に関連して、
第２図の撮映状態を説明する。この場合、位置２
n+2にあるコツプの撮映されている領域は、第４
図の部分Ａであるとすれば、位置２n+1及び２ｎ
にあるコツプの撮映されている領域は、第４図の
部分Ｂ及びＣである。換言すれば、各１個のコツ
プは、ビデオカメラ３の視界内を１回転しながら
通過する間に、３個の位置２ｎ，２n+1，２n+2に
於いて、３等分された部分Ａ，Ｂ，Ｃのビデオカ
メラ３よりのビデオ信号が、検査装置５で検査処
理される。
今、或るコツプ２が、例えばその部分Ｂのみ
に、例えば「割れ」の如き欠陥２Ａがあつたとす
る。この場合を、第２図のビデオモニタ４の画面
４Ａで説明する。このコツプ２は、位置２ｎでは
その部分Ａが撮映されているので、検査装置５は
その位置に対応したビデオ信号に対しては、信号
を出力しない（信号“０”を出力する）が、次の
位置２n+1では、欠陥２Ａを含んだ部分Ｂが撮映
されるので、欠陥２Ａを含むビデオ信号がビデオ
カメラ３から検査装置５に送られることになるの
で、検査装置５は、この位置２n+1に対応しては
信号を出力する（信号“１”を出力する）。更に、
その次の位置２n+2に進んだ時は、コツプ２の部
分Ｃが撮映されるので、部分Ａの撮映時と同様、
検査装置５は、この位置２n+2に対応したヒデオ
信号に対しては、信号を出力しない（信号“０”
を出力する）。
に、例えば「割れ」の如き欠陥２Ａがあつたとす
る。この場合を、第２図のビデオモニタ４の画面
４Ａで説明する。このコツプ２は、位置２ｎでは
その部分Ａが撮映されているので、検査装置５は
その位置に対応したビデオ信号に対しては、信号
を出力しない（信号“０”を出力する）が、次の
位置２n+1では、欠陥２Ａを含んだ部分Ｂが撮映
されるので、欠陥２Ａを含むビデオ信号がビデオ
カメラ３から検査装置５に送られることになるの
で、検査装置５は、この位置２n+1に対応しては
信号を出力する（信号“１”を出力する）。更に、
その次の位置２n+2に進んだ時は、コツプ２の部
分Ｃが撮映されるので、部分Ａの撮映時と同様、
検査装置５は、この位置２n+2に対応したヒデオ
信号に対しては、信号を出力しない（信号“０”
を出力する）。
上述の信号処理は、連続して、次々と、所定の
時間間隔でビデオカメラ３の視界内に入つて来る
各コツプ２に対して行なわれるものである。
時間間隔でビデオカメラ３の視界内に入つて来る
各コツプ２に対して行なわれるものである。
尚、検査装置５としては、例えば、ビデオカメ
ラ３よりのアナログビデオ信号を、Ａ／Ｄコンバ
ータによりデジタル信号に変換し、このデジタル
信号をマイクロプロセツサ等により電気的に処理
し、入力されるビデオ信号に欠陥等に対応する異
常が含まれている時は、デジタル出力を発生する
ものであれば、どのようなものでもよい。
ラ３よりのアナログビデオ信号を、Ａ／Ｄコンバ
ータによりデジタル信号に変換し、このデジタル
信号をマイクロプロセツサ等により電気的に処理
し、入力されるビデオ信号に欠陥等に対応する異
常が含まれている時は、デジタル出力を発生する
ものであれば、どのようなものでもよい。
上述の例では、検査装置５は、第１図に示す如
く、３個の出力端子５1，５2，５3を有し、これ
等出力端子は第２図の位置２ｎ，２n+1，２n+2に
対応し、それ等の位置でのビデオ信号の処理結果
の出力（判定出力）が、３個の出力端子５1，５
２，５3に夫々現われる。
く、３個の出力端子５1，５2，５3を有し、これ
等出力端子は第２図の位置２ｎ，２n+1，２n+2に
対応し、それ等の位置でのビデオ信号の処理結果
の出力（判定出力）が、３個の出力端子５1，５
２，５3に夫々現われる。
シフトレジスタ８は、第１図に示す如く、複数
個、この例てでは順次配列された10個のメモリセ
ル８1，８2…８9，８10より成り、第１、第２、第
３のメモリセル８1，８2，８3即ちそれ等に設け
たパラレル入力端子８P1，８P2，８P3に検査装
置５の出力端子５1，５2，５3が夫々接続されて
いる。又、このシフトレジスタ８の入力端子８Ｉ
には、前述の如く、コツプ２が１個分矢印ａ方向
に進む毎に１個のシフトパルスが受光器７Ｂから
供給されるので、各メモリセル８1，８2，８3に
入力された検査装置５の出力端子５1，５2，５3
よりの判定出力信号は、シフトパルスに同期し
て、出力端子８Ｏに向かつて、１メモリセル分だ
けづつシフトされる。
個、この例てでは順次配列された10個のメモリセ
ル８1，８2…８9，８10より成り、第１、第２、第
３のメモリセル８1，８2，８3即ちそれ等に設け
たパラレル入力端子８P1，８P2，８P3に検査装
置５の出力端子５1，５2，５3が夫々接続されて
いる。又、このシフトレジスタ８の入力端子８Ｉ
には、前述の如く、コツプ２が１個分矢印ａ方向
に進む毎に１個のシフトパルスが受光器７Ｂから
供給されるので、各メモリセル８1，８2，８3に
入力された検査装置５の出力端子５1，５2，５3
よりの判定出力信号は、シフトパルスに同期し
て、出力端子８Ｏに向かつて、１メモリセル分だ
けづつシフトされる。
第１図に示す実施例では、シフトレジスタ８は
10個のメモリセル８1…８10から成つているので、
第１のメモリセル８1に入力された判定出力信号
がシフトレジスタ８の出力端子８Ｏに現われるの
は、コツプ２が10個分下流へ搬送された時点であ
るので、排除装置９を、ビデオカメラ３の視野の
最初のコツプ２から数えて、下流へ、即ち矢印ａ
方向に関して下流の第10番目のコツプ２の位置に
配置し、この排除装置９をシフトレジスタ８の出
力端子８Ｏに現われる信号により駆動すれば、不
良コツプの排除タイミングは、シフトレジスタ８
のシフトタイミングと一致して、不良コツプのみ
を確実に排除し、排除用コンベヤ１０に排出する
ことができる。尚、排除装置９としては、例えば
プランジヤの如きもので、信号（信号“１”）を
受けると駆動され、そのロツド９Ａが突出し、不
良コツプを排除用コンベヤ１０に押し出し、然る
後、自動的に後退し、元の位置（第１図の状態）
に戻り、次の信号“１”を受ける迄、その状態を
保持する。
10個のメモリセル８1…８10から成つているので、
第１のメモリセル８1に入力された判定出力信号
がシフトレジスタ８の出力端子８Ｏに現われるの
は、コツプ２が10個分下流へ搬送された時点であ
るので、排除装置９を、ビデオカメラ３の視野の
最初のコツプ２から数えて、下流へ、即ち矢印ａ
方向に関して下流の第10番目のコツプ２の位置に
配置し、この排除装置９をシフトレジスタ８の出
力端子８Ｏに現われる信号により駆動すれば、不
良コツプの排除タイミングは、シフトレジスタ８
のシフトタイミングと一致して、不良コツプのみ
を確実に排除し、排除用コンベヤ１０に排出する
ことができる。尚、排除装置９としては、例えば
プランジヤの如きもので、信号（信号“１”）を
受けると駆動され、そのロツド９Ａが突出し、不
良コツプを排除用コンベヤ１０に押し出し、然る
後、自動的に後退し、元の位置（第１図の状態）
に戻り、次の信号“１”を受ける迄、その状態を
保持する。
次に、欠陥コツプ２の排除に就いて具体的に説
明しよう。今、或るコツプ２Ｆが、第４図で示し
た部分Ｂのみに欠陥２Ａがなあり、前の部分Ａか
らビデオカメラ３により最初に（第２図の位置２
ｎとする）撮映されのものとする。この位置での
ビデオカメラ３よりのビデオ信号には何等異常信
号は含まれていない。従つて、検査装置５の出力
端子５1には、信号“０”が出力され、これは、
シフトレジスタ８の第１のメモリセル８1に入力
端子８P1を介して入力される。コツプ２Ｆが次
の位置２n+1に来ると、その欠陥２Ａが在る部分
Ｂが撮映されるので、検査装置５の出力端子５2
には、信号“１”が出力され、これは第２のメモ
リセル８2に、入力端子８P2を介して供給される。
次の位置２n+2に於いては、コツプ２Ｆの部分Ｃ
が撮映されるが、この部分には欠陥がないので、
検査装置５の入力端子５3には、信号“０”が出
力され、これが第３のメモリセル８3に、入力端
子８P3を介して供給される。このコツプ２Ｆが
矢印ａ方向にコンベヤ１上を搬送され、最初の位
置２ｎから、排除装置９が配置されているコツプ
10個分（欠陥２Ａが撮映された位置２n+1からコ
ツプ９個分）下流の位置２n+9に到達したとする。
この時、シフトレジスタ８の第２のメモリセル８
２に入力された信号“１”は、丁度シフトレジス
タ８の出力端子８Ｏに到達しているので、この信
号“１”により排除装置９が駆動され、コツプ２
Ｆはコンベヤ１より排除用コンベヤ１０に排出さ
れるものである。
明しよう。今、或るコツプ２Ｆが、第４図で示し
た部分Ｂのみに欠陥２Ａがなあり、前の部分Ａか
らビデオカメラ３により最初に（第２図の位置２
ｎとする）撮映されのものとする。この位置での
ビデオカメラ３よりのビデオ信号には何等異常信
号は含まれていない。従つて、検査装置５の出力
端子５1には、信号“０”が出力され、これは、
シフトレジスタ８の第１のメモリセル８1に入力
端子８P1を介して入力される。コツプ２Ｆが次
の位置２n+1に来ると、その欠陥２Ａが在る部分
Ｂが撮映されるので、検査装置５の出力端子５2
には、信号“１”が出力され、これは第２のメモ
リセル８2に、入力端子８P2を介して供給される。
次の位置２n+2に於いては、コツプ２Ｆの部分Ｃ
が撮映されるが、この部分には欠陥がないので、
検査装置５の入力端子５3には、信号“０”が出
力され、これが第３のメモリセル８3に、入力端
子８P3を介して供給される。このコツプ２Ｆが
矢印ａ方向にコンベヤ１上を搬送され、最初の位
置２ｎから、排除装置９が配置されているコツプ
10個分（欠陥２Ａが撮映された位置２n+1からコ
ツプ９個分）下流の位置２n+9に到達したとする。
この時、シフトレジスタ８の第２のメモリセル８
２に入力された信号“１”は、丁度シフトレジス
タ８の出力端子８Ｏに到達しているので、この信
号“１”により排除装置９が駆動され、コツプ２
Ｆはコンベヤ１より排除用コンベヤ１０に排出さ
れるものである。
シフトレジスタ８は、欠陥コツプ２の排除タイ
ミングを調節するに供するもので、排除装置９の
設置位置に応じて、シフトレジスタ８のメモリセ
ルの個数を増減させ得るものである。
ミングを調節するに供するもので、排除装置９の
設置位置に応じて、シフトレジスタ８のメモリセ
ルの個数を増減させ得るものである。
尚、上述の実施例では、コツプ２をビデオカメ
ラ３の視野内で１回転させ、その間、夫々120°回
転した３位置で表面の欠陥検査を行つたが、コツ
プによつては、例えば上述の如く透明材より成る
コツプの場合、第１図の如き配置であれは、光源
６よりの光はコツプを通過してビデオカメラ３に
入るので、ビデオカメラ３は、コツプの対向する
２つの部分を撮映し得るので、ヒデオカメラ３の
視野内でコツプを上述の如く１回転（360°）しな
くとも良い。即ち、例えば２ｎ位置で撮映されな
い両側縁部が撮映されるように、僅か回転させれ
ば良い。この場合、コンベヤ１の構造は簡単とな
る。
ラ３の視野内で１回転させ、その間、夫々120°回
転した３位置で表面の欠陥検査を行つたが、コツ
プによつては、例えば上述の如く透明材より成る
コツプの場合、第１図の如き配置であれは、光源
６よりの光はコツプを通過してビデオカメラ３に
入るので、ビデオカメラ３は、コツプの対向する
２つの部分を撮映し得るので、ヒデオカメラ３の
視野内でコツプを上述の如く１回転（360°）しな
くとも良い。即ち、例えば２ｎ位置で撮映されな
い両側縁部が撮映されるように、僅か回転させれ
ば良い。この場合、コンベヤ１の構造は簡単とな
る。
又、ビデオカメラ３が同時に撮映するコツプ、
即ち被検査物２の数は３に限定する必要はなく、
ビデオカメラの精度、コツプと寸法によつては２
或いは４以上であつてもよい。
即ち被検査物２の数は３に限定する必要はなく、
ビデオカメラの精度、コツプと寸法によつては２
或いは４以上であつてもよい。
又、上述の本発明の実施例では、光源６を被検
査物２に関して、ビデオカメラ３と反対側に配置
したが、被検査物２が不透明材より成る場合は、
被検査物に関してビデオカメラ３と同一側に配置
する。
査物２に関して、ビデオカメラ３と反対側に配置
したが、被検査物２が不透明材より成る場合は、
被検査物に関してビデオカメラ３と同一側に配置
する。
上述の如く、本発明に於いては、ビデオカメラ
の如き光イメージセンサを１個用いるのみで通常
１個の光イメージセンサでは、そのまゝでは全て
の被検査表面が検査できないコツプの如き立体的
被検査物の全表面を、光イメージセンサの１視界
内の複数個所で検査することにより被検査物の搬
送を何等妨げることなく、検査し、不良品は検査
後、コンベヤより排除するもので、上述の検査及
び不良品排除動作は、全て自動的に行れると云う
大なる効果がある。
の如き光イメージセンサを１個用いるのみで通常
１個の光イメージセンサでは、そのまゝでは全て
の被検査表面が検査できないコツプの如き立体的
被検査物の全表面を、光イメージセンサの１視界
内の複数個所で検査することにより被検査物の搬
送を何等妨げることなく、検査し、不良品は検査
後、コンベヤより排除するもので、上述の検査及
び不良品排除動作は、全て自動的に行れると云う
大なる効果がある。
第１図は本発明による物体の表面検査装置の一
例の全体を示す略線的ブロツク図、第２図はビデ
オモニタの画面の平面図、第３図は第１図の一部
の拡大図、第４図は被検査物を上方から見た略線
図である。 図に於いて、１はコンベヤ、２は被検査物、３
は光イメージセンサ、４はビデオモニタ、５は検
査装置、６は光源、６Ａは透過拡散板、７はパル
ス信号発生装置、７Ａは光ビーム発生器、７Ｂは
受光器、８はシフトレジスタ、９は排除装置、１
０は排除用コンベヤを夫々示す。
例の全体を示す略線的ブロツク図、第２図はビデ
オモニタの画面の平面図、第３図は第１図の一部
の拡大図、第４図は被検査物を上方から見た略線
図である。 図に於いて、１はコンベヤ、２は被検査物、３
は光イメージセンサ、４はビデオモニタ、５は検
査装置、６は光源、６Ａは透過拡散板、７はパル
ス信号発生装置、７Ａは光ビーム発生器、７Ｂは
受光器、８はシフトレジスタ、９は排除装置、１
０は排除用コンベヤを夫々示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ コンベヤにより連続して一方向に送られて来
る被検査物の表面を照明装置により照明し、１台
の光イメージセンサを用いて該被検査物を撮映
し、それよりの画像信号を１個の被検査物が通過
する毎に１個のパルスを発生するパルス信号発生
装置よりのパルス信号に応じて処理して被検査物
の表面の良否の検査を行う際に、上記光イメージ
センサを連続する複数個の被検査物を同時撮映す
るように配置すると共に、上記コンベヤを上記連
続する被検査物が上記光イメージセンサの視界内
を一方向に通過する間に、その個々の全ての被検
査面が上記光イメージセンサにより撮映されるよ
うに上記連続する被検査物を回転させるように構
成した装置に於て、上記光イメージセンサの出力
画像信号及び上記パルス信号発生装置よりのパル
ス信号を検査装置に供給し、該検査装置により上
記撮映された複数個の被検査物の画像信号を該被
検査物の移動に同期して検査を行い、夫々の判定
信号をシフトレジスタの互に隣接し上記被検査物
の数と同数のパラレル入力端子に供給すると共
に、該シフトレジスタに上記パルス信号発生装置
よりのパルス信号を供給して、上記判定信号を上
記被検査物の移動に同期してシフトして出力する
ようになしたことを特徴とする表面検査装置。 ２ コンベヤにより連続して一方向に送られて来
る被検査物の表面を照明装置により照明し、１台
の光イメージセンサを用いて該被検査物を撮映
し、それよりの画像信号を１個の被検査物が通過
する毎に１個のパルスを発生するパルス信号発生
装置よりのパルス信号に応じて処理して被検査物
の表面の良否の検査を行う際に、上記光イメージ
センサを連続する複数個の被検査物を同時撮映す
るように配置すると共に、上記コンベヤを上記連
続する被検査物が上記光イメージセンサの視界内
を一方向に通過する間に、その個々の全ての被検
査面が上記光イメージセンサにより撮映されるよ
うに上記連続する被検査物を回転させるように構
成した装置に於て、上記光イメージセンサの出力
画像信号及び上記パルス信号発生装置よりのパル
ス信号を検査装置に供給し、該検査装置により上
記撮映された複数個の被検査物の画像信号を該被
検査物の移動に同期して検査を行い、夫々の判定
信号をシフトレジスタの互に隣接し上記被検査物
の数と同数のパラレル入力端子に供給すると共
に、該シフトレジスタの他の入力端子に上記パル
ス信号発生装置よりのシフトパルス信号を供給し
て、上記判定信号を上記被検査物の移動に同期し
てシフトし、上記シフトレジスタの出力信号を排
除装置に供給し、不良被検査物を排除するように
なしたことを特徴とする表面検査装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59223652A JPS61100604A (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | 表面検査装置 |
| CA000489996A CA1228136A (en) | 1984-10-24 | 1985-09-04 | Surface inspection apparatus |
| DE19853532068 DE3532068A1 (de) | 1984-10-24 | 1985-09-09 | Pruefvorrichtung |
| AU48137/85A AU566994B2 (en) | 1984-10-24 | 1985-09-30 | Optical sorter |
| GB08524089A GB2165942B (en) | 1984-10-24 | 1985-09-30 | Surface inspection apparatus |
| FR8514464A FR2572181B1 (fr) | 1984-10-24 | 1985-09-30 | Appareil d'inspection, notamment pour le controle de la qualite des surfaces d'objets divers |
| US07/086,249 US4776466A (en) | 1984-10-24 | 1987-08-13 | Surface inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59223652A JPS61100604A (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | 表面検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61100604A JPS61100604A (ja) | 1986-05-19 |
| JPH0316603B2 true JPH0316603B2 (ja) | 1991-03-06 |
Family
ID=16801536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59223652A Granted JPS61100604A (ja) | 1984-10-24 | 1984-10-24 | 表面検査装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4776466A (ja) |
| JP (1) | JPS61100604A (ja) |
| AU (1) | AU566994B2 (ja) |
| CA (1) | CA1228136A (ja) |
| DE (1) | DE3532068A1 (ja) |
| FR (1) | FR2572181B1 (ja) |
| GB (1) | GB2165942B (ja) |
Families Citing this family (62)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1207600B (it) * | 1987-01-20 | 1989-05-25 | Gd Spa | Metodo per il controllo elettricoottico di pacchetti |
| DE3715815C2 (de) * | 1987-05-12 | 1996-02-15 | Em Geraetebau Ruecknahmesystem | Vorrichtung zur maschinellen Rücknahme von Leergut |
| JP2597370B2 (ja) * | 1987-10-14 | 1997-04-02 | 株式会社ヒューテック | シート状被検材の有意差検出方法 |
| US4910411A (en) * | 1988-02-12 | 1990-03-20 | Sumitumo Rubber Industries | Apparatus for inspecting a side wall of a tire |
| US4953841A (en) * | 1988-10-07 | 1990-09-04 | World Color Press, Inc. | Machine and process for separating signatures |
| JPH02275435A (ja) * | 1989-04-18 | 1990-11-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 放射線画像の分割パターン認識方法 |
| JPH0336949U (ja) * | 1989-08-21 | 1991-04-10 | ||
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| US5261285A (en) * | 1990-08-02 | 1993-11-16 | Hajime Industries Ltd. | Powder granule sample inspection apparatus |
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| IT1246008B (it) * | 1991-06-06 | 1994-11-07 | Gd Spa | Metodo e dispositivo per il controllo dell'integrita' esteriore di sigarette. |
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| US5375722A (en) * | 1992-03-11 | 1994-12-27 | W. H. Leary Co., Inc. | Carton monitoring system |
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| JP3265003B2 (ja) * | 1992-10-28 | 2002-03-11 | 株式会社東芝 | ブラウン管パネルの欠陥の検査装置およびブラウン管パネルの欠陥の検査修正装置 |
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| AUPN657995A0 (en) * | 1995-11-15 | 1995-12-07 | Rosebay Terrace Pty Ltd | Automated sorting apparatus and system |
| DE29600902U1 (de) * | 1996-01-19 | 1997-05-15 | Heuft Systemtechnik Gmbh, 56659 Burgbrohl | Vorrichtung zur Inspektion von Gegenständen, insbesondere Getränkeflaschen |
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| US5752436A (en) * | 1996-10-24 | 1998-05-19 | Utz Quality Foods, Inc. | Potato peeling apparatus |
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| DE19701618A1 (de) * | 1997-01-17 | 1998-07-23 | Focke & Co | Vorrichtung zum Herstellen von Zigaretten-Packungen |
| IT1294080B1 (it) * | 1997-03-18 | 1999-03-22 | Logics & Controls S N C Di Lot | Procedimento ed apparato per l'ispezione esterna di contenitori. |
| EP0941775B1 (de) * | 1998-03-02 | 2005-10-26 | Focke & Co. (GmbH & Co. KG) | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Packungen |
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| DE10017126C1 (de) * | 2000-04-06 | 2001-06-13 | Krones Ag | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Überprüfen transparenter Behälter |
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