JPH0316700B2

JPH0316700B2 -

Info

Publication number: JPH0316700B2
Application number: JP58164130A
Authority: JP
Inventors: Kimichika Yamada; Takao Myazaki
Original assignee: Clarion Co Ltd
Current assignee: Faurecia Clarion Electronics Co Ltd
Priority date: 1983-09-08
Filing date: 1983-09-08
Publication date: 1991-03-06
Also published as: JPS6057559A

Description

【発明の詳細な説明】この発明はVTR等の磁気テープ装置における
テープ走行監視装置に関する。

従来のテープ走行監視装置をカセツト式VTR
におけるものを例にとつて説明する。この種
VTRにおいては供給リールおよび巻取リールが
カセツト内に装備されていて、カセツトから引出
されたテープが、テープガイド軸ないしはガイド
ローラにガイドされて回転ヘツドシリンダに装架
され所要の走行径路が形成される。ところでこの
ようなVTRにおいて特にテープローデイングの
際に、テープがテープガイド軸に適正に沿わず、
したがつて回転ヘツドシリンダのリード面にも適
正に沿わない状態となることがある。このような
状態で定常走行モードへ移行させると、走行テー
プに異常張力が発生して、テープがいわゆるワカ
メ状と称される波状に変形することがある。これ
はテープ素材が永久歪を起したことによるもの
で、テープ装置にとつて重大なトラブルである。

しかしながら従来この種のトラブルを発見する
ことは非常に困難なことであつた。その理由は、
テープは破断強度のかなり大きい材料が使用され
ているので、前記のような異常張力で破断するこ
とは極めて少ない。したがつて波状トラブルが生
じてもテープは回転ヘツドシリンダあるいはテー
プガイド軸等から脱落してしまうことなくそのま
ま走行を続ける。このため従来のテープ走行監視
装置の１種である回転検出機構では上記波状トラ
ブルを適切に検出することができなかつた。また
VTR等の磁気テープ装置はテープ走行部が通常
本体ケース内の隠れた場所にある。このためテー
プの波状変形を視覚によつて直接検出することも
困難であつた。さらにVTR装置等において再生
画像または音声等の変化から波状変形トラブルを
見出だそうとしても、波状変形が小さいときに
は、その画像変化がテープの波状変形に原因して
いるか否かを判断することは極めて困難なことで
あつた。またこのような画像等による判断手段
は、記録時にはそのままでは監視することができ
ず、モニター装置がなければこれをなし得なかつ
た。このように従来の機構ないし手段では何れの
ものも波状変形の発生を適切に監視することはで
きないという問題点があつた。

この発明はこのような従来の問題点に着目して
なされたもので、テープの波状変形の発生を光学
手段を適用して非接触的に早期に検出し、テープ
損傷を最小限に食い止めることのできるテープ走
行監視装置を提供することを目的としている。

以下この発明を図面に基づいて説明する。第１
図および第２図はこの発明の実施例を示す図であ
る。

まず構成を説明すると、図中符号Ｔはテープ、
Ｌは光源、１は受光素子（光電変換受光手段）、
２ａ，２ｂはそれぞれレンズ系で、これら光源
Ｌ、受光素子１等により反射式の光電変換検出系
が構成されている。一例として光源Ｌには発光ダ
イオード、受光素子１にはフオトダイオードがそ
れぞれ使用されている。光電変換検出系は、テー
プＴに波状変形が発生し易い機構部分のテープ出
口近傍に配設するのがよく、VTR装置の場合は、
テープガイド軸ないしは回転ヘツドシリンダのテ
ープ出口近傍に配設される。なお光源Ｌからの光
は走行テープＴの表・裏何れの面で反射させるこ
ともできる。

そしてこのような光電変換検出系の後段に、テ
ープＴに発生する主として２種の異常状態をそれ
ぞれ検出できる監視回路系が各別に設けられてい
る。即ちその一つはワカメ状の波状変形を検出す
る監視回路系U_aであり、他の一つは折れ目等の
断続変形を検出する監視回路系U_bである。

ワカメ状の波状変形が生じているとき、そのテ
ープ走行時に受光素子１から得られる出力信号
は、正常テープの走行時に得られる出力信号より
も振動数が高くなるという一元的な振動数変化信
号である。一方、テープの異常状態はワカメ状の
波状変形だけではなく、しわや折れ目等の断続的
な異常変形が生ずることもある。このような折れ
目等の断続変形が生じているときの出力信号は上
記のような一元的な振動数変化信号でではなく振
幅が大となる振幅変化信号で、このような大振幅
のパルス状信号が断続的に出力される。そこでこ
のような断続的な振幅変化信号も適切に処理する
ため、この発明には断続変形検出用の監視回路系
U_bも別途に付設されている。

まず波状変形監視回路系U_aについて述べると、
受光素子１が共通のアンプAMPに接続され、こ
のアンプAMPの後段に波形整形回路U₁、リトリ
ガ可能な単安定マルチバイブレータMM₁、ロー
パスフイルタLPF、およびレベル検出器U₂が順
次接続されている。リトリガ可能な単安定マルチ
バイブレータMM₁は、その回路定数を所定値に
規定することにより、安定状態への復帰時間が所
定時間に設定されている。ここで所定時間とは、
波状変形の生じている異常状態において受光素子
１から出力される信号の振動周期よりも適宜量だ
け大に設定した時間間隔である。そして当初のト
リガ信号で準安定状態に転移したのち、所定時間
内、即ちこの準安定状態にある間に次のトリガ信
号が入力すると、この次のトリガ信号でリトリガ
されて新たな準安定状態に移行し、準安定状態が
そのまま引続いて維持されるというものである。

この発明はこの準安定状態が一定時間継続した
とき、云い換えれば波状変形が一定長さ以上続い
たとき、テープ異常と判断するもので、ローパス
フイルタLPFおよびレベル検出器U₂は、この異
常判断用のために備えられている。レベル検出器
U₂は、例えばトランジスタ素子を内蔵していて
ローパスフイルタLPFからの出力が所定レベル
以上のときに、これがONに転じて“Ｈ”レベル
を出力する。

次に断続変形監視回路系U_bを説明する。この
監視回路系U_bはテープ折れ目等に基づいて断続
的なパルス状の大振幅信号が出力されたとき、所
定レベルを越えた振幅点が所定時間内に何個ある
かでテープを異常、非異常と判断するもので、ア
ンプAMPの出力線路が分岐され、この分岐線路
が第１、第２のレベル比較回路U₃，U₄における
それぞれ一方の入力端子に導びかれている。第１
レベル比較回路U₃は、所定のHigh基準レベル以
上の振幅点が何個あるかを取出し、第２レベル比
較回路U₄は、所定のLow基準レベル以下の振幅
点が何個あるかを取出すもので、第１レベル比較
回路U₃における他方の入力端子にはHigh基準レ
ベルを設定する第１基準電圧発生回路U₅が接続
され、第２レベル比較回路U₄における他方の入
力端子にはLow基準レベルを設定する第２基準
電圧発生回路U₆が接続されている。このように
２個の比較回路U₃，U₄により大振幅信号の絶対
レベル点以上の振幅点を取り出すようにしたの
は、テープ折れ目（異常点）からの反射光量は異
常に多くなるか、少なくなるか不明であるので、
これらの異常点を漏れなく検出するためである。
３はインバータ、OR₁は第１オア回路、MM₂は
単安定マルチバイブレータ、ANDはアンド回路、
U₇はカウンタで、単安定マルチバイブレータ
MM₂は回路定数が所定値に設定されていて、そ
の出力信号でアンド回路ANDを所定時間だけ開
路する。

そして上記両監視回路系U_a，U_bの出力線路が
第２オア回路OR₂に各別に導びかれ、共通の出力
端子４が導出されている。

第３図は光電変換検出系の変形例を示すもの
で、この変形例は透過式としたものである。光源
Ｌおよび受光素子１がテープＴの面方向上下位置
に配設されている。テープＴに波状変形T′の異
常があるとこの波状変形部で光源Ｌからの光が断
続されるので、この方式によつても波状変形部を
これに応じた信号として検出することができる。

次いで作用を説明する。

第４図Ａ〜Ｅも参照して波状変形監視回路系
U_aから説明する。テープＴに第２図T′で示すよ
うに異常状態たるワカメ状の波状変形部が発生
し、この波状変形部T′に光源Ｌからの光が投光
されると、その反射光量がこの波状変形部T′の
変化に追従して変化し、受光素子１からは波状変
形部T′に応じた振動信号が取出され、これがア
ンプAMPで所要レベルまで増幅される（第４図
Ａ）。次いでこの振動信号e₁が波形整形回路U₁で
第４図Ｂのように整形され、これがトリガ信号と
してリトリガ可能な単安定マルチバイブレータ
MM₁に入力する。このとき単安定マルチバイブ
レータMM₁の安定状態への復帰時間は、波状変
形部T′に対応した振動信号e₁の振動周期よりも大
に設定されているので、この振動信号e₁に対応し
た整形信号がトリガ信号として入力している間、
当該マルチバイブレータMM₁は準安定状態とな
つて“Ｈ”レベル信号e₂の連続出力状態となる。
“Ｈ”レベル信号e₂がローパスフイルタLPFに入
力すると、このローパスフイルタLPFの時定数
に規定された所定時間後にその出力（第４図Ｄ）
には所定レベル信号e₃が現われる。この所定レベ
ル信号e₃でレベル検出器U₂内のトランジスタが
ONに転じ、その出力に“Ｈ”レベル信号e₄が生
じ、これが第２オア回路OR₂を介して出力端子４
に現われて波状変形T′によるテープ異常の生じ
ていることが的確に検出される。テープ異常検出
後は機器動作を停止させるなどの処置をしてそれ
以上のテープ損傷を防止する。

次に第５図Ａ〜Ｈも参照して断続変形監視回路
系U_bの動作を説明する。テープＴにしわや折れ
目等の断続的な異常変形が生じていると、受光素
子１からは大振幅のパルス状信号が断続的に生
じ、アンプAMPからは第５図Ａに示すような不
規則な振動信号e₅が出力される。この振動信号e₅
が第１、第２のレベルを比較回路U₃，U₄にそれ
ぞれ入力する。そして第１レベル比較回路U₃で
は第１基準電圧発生回路U₅からのHigh基準レベ
ル電圧e₆と比較されてHigh比較出力e₈が得られ
る。一方、第２レベル比較回路U₄では、第２基
準電圧発生回路U₆からのLow基準レベル電圧e₇
と比較されて、この基準レベル電圧e₇以下の振幅
点に対応したLow比較出力e₉が得られる。この
Low比較出力e₉はインバータ３で反されて反転信
号e₉′となつたのち、High比較出力e₈と第１オア
回路OR₁においてオアがとられ、OR出力e₁₀とな
る。このOR出力e₁₀は、一方はアンド回路AND
に直接入力し、他方は単安定マルチバイブレータ
MM₂に入力する。単安定マルチバイブレータ
MM₂はOR出力e₁₀における当初のパルス信号で
トリガされて準安定状態に転じ、回路定数で規定
された所定時間だけ“Ｈ”レベル信号e₁₁を出力
してアンド回路ANDを開路する。したがつてカ
ウンタU₇には所定時間の間だけOR出力e₁₀が入力
しこれがカウントされる。そしてこの所定時間内
におけるカウント数（第５図Ｇ）が所定数を越え
たとき、カウンタU₇から出力e₁₂が得られ、これ
が第２オア回路OR₂を介して出力端子４に現わ
れ、しわ等の断続変形によるテープ異常の生じて
いることが検出される。

以上詳述したようにこの発明によれば、テープ
変形検知用の光を走行テープに投射する光源と、
光学的検知信号を導入してテープの波状変形に応
じた振動信号を出力する光電変換受光手段と、復
帰時間が所定時間に設定されこの所定時間内のト
リガ信号でリトリガ動作する単安定マルチバイブ
レータとを配設し、前記の振動信号に関連した信
号をトリガ信号として単安定マルチバイブレータ
に導入してその出力パルス信号の時間幅が所定幅
以上のとき、この信号によりテープ異常と判断す
るようにしたから、非接触状態で記録時、再生時
に拘らずテープの走行状態において波状変形によ
るテープ異常を的確に検出することができ、テー
プ損傷を最小限に食い止めることができるという
効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第５図Ａ〜Ｈはこの発明に係るテープ
走行監視装置の実施例を示すもので、第１図はブ
ロツク線図、第２図は光電変換検出系の部分を拡
大して示す斜視図、第３図は光電変換検出系の変
形例を示す斜視図、第４図Ａ〜Ｅは波状変形監視
回路系の動作を説明するための信号波形図、第５
図Ａ〜Ｈは断続変形監視回路系の動作を説明する
ための信号波形図である。１：受光素子（光電変換受光手段）、２ａ，２
ｂ：レンズ系、３：インバータ、４：出力端子、
AMP：アンプ、AND：アンド回路、Ｌ：光源、
LPF：ローパスフイルタ、MM₁：リトリガ可能
な単安定マルチバイブレータ、MM₂：単安定マ
ルチバイブレータ、OR₁，OR₂：第１、第２のオ
ア回路、Ｔ：テープ、T′：波状変形部、U₁：波
形整形回路、U₂：レベル検出器、U₃，U₄：第
１、第２のレベル比較回路、U₅，U₆：第１、第
２の基準電圧発生回路、U₇：カウンタ、U_a：波
状変形監視回路系、U_b：断続変形監視回路系。

Claims

【特許請求の範囲】１テープ変形検知用の光を走行テープに投射す
る光源と、光学的な検知信号を導入してテープの波状変形
に応じた振動信号を出力する光電変換受光手段
と、安定状態への復帰時間が所定時間に設定され、
この所定時間内のトリガ信号でリトリガ動作し、
前記振動信号に関連した信号をトリガ信号として
導入して出力パルス信号の時間幅が所定幅以上の
ときテープ異常と判断する信号を出力する単安定
マルチバイブレータとを具備してなることを特徴
とするテープ走行監視装置。