JPH0317263B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0317263B2 JPH0317263B2 JP58152470A JP15247083A JPH0317263B2 JP H0317263 B2 JPH0317263 B2 JP H0317263B2 JP 58152470 A JP58152470 A JP 58152470A JP 15247083 A JP15247083 A JP 15247083A JP H0317263 B2 JPH0317263 B2 JP H0317263B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- electric field
- phase jitter
- value
- field level
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/20—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G3/00—Gain control in amplifiers or frequency changers
- H03G3/20—Automatic control
- H03G3/30—Automatic control in amplifiers having semiconductor devices
- H03G3/34—Muting amplifier when no signal is present
- H03G3/341—Muting when no signals or only weak signals are present
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Radio Transmission System (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、デジタル信号を受信する無線受信機
において、受信電界がある値より下つたことを判
断してスケルチ信号を発生するスケルチ信号発生
回路に関する。
において、受信電界がある値より下つたことを判
断してスケルチ信号を発生するスケルチ信号発生
回路に関する。
従来のスケルチ信号発生回路においては、受信
電界について、高周波アンプ、ミキサ、フイル
タ、中間周波アンプ等を経て、測定容易なレベル
にしてから、レベル測定回路により対応する電圧
値に変換し、さらに、一定の基準と比較して出力
する方法を用いていた。
電界について、高周波アンプ、ミキサ、フイル
タ、中間周波アンプ等を経て、測定容易なレベル
にしてから、レベル測定回路により対応する電圧
値に変換し、さらに、一定の基準と比較して出力
する方法を用いていた。
しかしながら、この方法では、高周波部から、
中間周波部、そして、レベル測定回路までの各回
路のバラツキばかりでなく、温度等の環境条件に
よる変化が重複して重なるので、受信電界の測定
値には、非常に大きな誤差が生じることになる。
従つて、この測定値を一定の基準と比較する方法
では、正確にスケルチ信号が得られないという欠
点があつた。
中間周波部、そして、レベル測定回路までの各回
路のバラツキばかりでなく、温度等の環境条件に
よる変化が重複して重なるので、受信電界の測定
値には、非常に大きな誤差が生じることになる。
従つて、この測定値を一定の基準と比較する方法
では、正確にスケルチ信号が得られないという欠
点があつた。
また、受信したデータの誤り率とは独立して、
単に電界強度のみに対応して、スケルチ判定を行
なつていたため、必ずしもスケルチ応答のあつた
時点が所定の誤り率に対応するとは限らず、受信
したデータの品質が良い場合にもスケルチ信号が
出されたり、あるいは、悪すぎる場合にも、スケ
ルチ信号が発せられない不具合が生じる事があつ
た。
単に電界強度のみに対応して、スケルチ判定を行
なつていたため、必ずしもスケルチ応答のあつた
時点が所定の誤り率に対応するとは限らず、受信
したデータの品質が良い場合にもスケルチ信号が
出されたり、あるいは、悪すぎる場合にも、スケ
ルチ信号が発せられない不具合が生じる事があつ
た。
本発明の目的は、以上述べた従来の欠点を除去
し、精度の良いスケルチ信号を得る事ができるス
ケルチ信号発生回路を提供することにある。
し、精度の良いスケルチ信号を得る事ができるス
ケルチ信号発生回路を提供することにある。
本発明では測定した電界強度を、受信したデー
タの位相ジツタ量に換算した値に対応させ、位相
ジツタがある値以上となる様な電界強度に対して
スケルチ信号を発生する方法を用いる。
タの位相ジツタ量に換算した値に対応させ、位相
ジツタがある値以上となる様な電界強度に対して
スケルチ信号を発生する方法を用いる。
本発明によれば、受信信号の電界のレベルを測
定する電界レベル測定回路、前記受信信号からベ
ースバンド信号を復調する復調器、前記復調器出
力のベースバンド信号に含まれる位相ジツタを測
定する位相ジツタ測定回路、前記位相ジツタ測定
回路によつて測定された位相ジツタが指定の値に
達したか否かを判断する判断回路、前記測定され
た位相ジツタが前記指定の値に達したと、前記判
断回路が判断した時、前記電界レベル測定回路に
よつて測定された電界レベルを記憶する記憶回路
を有し、前記電界レベル測定回路によつて測定さ
れた電界レベルが、前記記憶回路の内容に比べて
低いときに、スケルチ信号を発生する事を特徴と
するスケルチ信号発生回路が得られる。
定する電界レベル測定回路、前記受信信号からベ
ースバンド信号を復調する復調器、前記復調器出
力のベースバンド信号に含まれる位相ジツタを測
定する位相ジツタ測定回路、前記位相ジツタ測定
回路によつて測定された位相ジツタが指定の値に
達したか否かを判断する判断回路、前記測定され
た位相ジツタが前記指定の値に達したと、前記判
断回路が判断した時、前記電界レベル測定回路に
よつて測定された電界レベルを記憶する記憶回路
を有し、前記電界レベル測定回路によつて測定さ
れた電界レベルが、前記記憶回路の内容に比べて
低いときに、スケルチ信号を発生する事を特徴と
するスケルチ信号発生回路が得られる。
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明の一実施例に係るスケルチ信号
発生回路を示す図である。第１図において、１は
受信信号の電界Ｅの強さを測定する電界レベル測
定回路で、受信電界Ｅに比例した電圧x1を出力す
る。２は受信信号の中間周波IFよりベースバン
ド信号x2を得る復調器、３はベースバンド信号x2
より位相ジツタを測定する位相ジツタ測定回路、
４は位相ジツタが指定の値に達したか否か判断す
る判断回路である。
発生回路を示す図である。第１図において、１は
受信信号の電界Ｅの強さを測定する電界レベル測
定回路で、受信電界Ｅに比例した電圧x1を出力す
る。２は受信信号の中間周波IFよりベースバン
ド信号x2を得る復調器、３はベースバンド信号x2
より位相ジツタを測定する位相ジツタ測定回路、
４は位相ジツタが指定の値に達したか否か判断す
る判断回路である。
５は判断回路４の出力x4に従つて、電界情報x1
を記憶する回路であり、記憶された値x5はベース
バンド信号x2の位相ジツタが指定の値に達した時
点でのx1の値に相当する。記憶回路５は、トラン
スフアー・ゲート１４とコンデンサC4とを有す
る。
を記憶する回路であり、記憶された値x5はベース
バンド信号x2の位相ジツタが指定の値に達した時
点でのx1の値に相当する。記憶回路５は、トラン
スフアー・ゲート１４とコンデンサC4とを有す
る。
記憶回路５に値x5が記憶されてからは、比較器
６によりx1をx5と比較してスケルチ信号Ｓを得て
いる。
６によりx1をx5と比較してスケルチ信号Ｓを得て
いる。
ここで、電界情報x1を比較する値x5は受信デー
タのジツタ量と対応しているため、精度の良い結
果が得られる。この事を、第１図の各部の波形の
タイムチヤートを示した第２図をも参照して説明
する。
タのジツタ量と対応しているため、精度の良い結
果が得られる。この事を、第１図の各部の波形の
タイムチヤートを示した第２図をも参照して説明
する。
第２図において、スケルチ信号Ｓは電界情報x1
が比較値x5より下つた時点で発生している。x3は
位相ジツタの測定値である。判断回路４におい
て、x3が、指定の値VDより上がつた時点で、比
較器１２がパルスx12を出力して、排他的論理和
回路１３が、x12の変化する時点で幅の狭いパル
スx4を出力している。すなわち、x4のパルスが発
生するのはx3が指定値VDをクロスする時である。
が比較値x5より下つた時点で発生している。x3は
位相ジツタの測定値である。判断回路４におい
て、x3が、指定の値VDより上がつた時点で、比
較器１２がパルスx12を出力して、排他的論理和
回路１３が、x12の変化する時点で幅の狭いパル
スx4を出力している。すなわち、x4のパルスが発
生するのはx3が指定値VDをクロスする時である。
x5の値はx4のパルスが発生した時点のx1の値で
ある。十分カツトオフの低いx3を得るために、位
相ジツタ測定回路３内にフイルタR2，C2が入つ
ている。このため、x3はゆつくり変動している。
すなわち、フエージング速度が十分遅い時点で、
位相ジツタが指定の値まで大きくなつた時の電界
情報x1が比較基準値x5として読み込まれる。
ある。十分カツトオフの低いx3を得るために、位
相ジツタ測定回路３内にフイルタR2，C2が入つ
ている。このため、x3はゆつくり変動している。
すなわち、フエージング速度が十分遅い時点で、
位相ジツタが指定の値まで大きくなつた時の電界
情報x1が比較基準値x5として読み込まれる。
ここで、x5の値は次の様な性質を持つている。
x1の測定値には、温度変化あるいは、x1を得るた
めのフイルタ、アンプ等回路のバラツキによつ
て、レベル測定誤差xeがあつたとする。また、x5
に対する電界測定の理想値をxEとすると、x1＝xE
＋xeなる関係がある。ここで、x5の値としては理
想値をxEDとしたときに対して、誤差分xeも含ん
で、x5＝xED＋xeの値として読み込まれる。例え
ば、温度が変化したためx1の値がΔx1＝Δxeだけ
ずれたとすると、これを遅いフエージングのとき
に、x5も読み込んでしまうため、x5の値もΔx5＝
Δxeだけずれる。
x1の測定値には、温度変化あるいは、x1を得るた
めのフイルタ、アンプ等回路のバラツキによつ
て、レベル測定誤差xeがあつたとする。また、x5
に対する電界測定の理想値をxEとすると、x1＝xE
＋xeなる関係がある。ここで、x5の値としては理
想値をxEDとしたときに対して、誤差分xeも含ん
で、x5＝xED＋xeの値として読み込まれる。例え
ば、温度が変化したためx1の値がΔx1＝Δxeだけ
ずれたとすると、これを遅いフエージングのとき
に、x5も読み込んでしまうため、x5の値もΔx5＝
Δxeだけずれる。
従つて、x1をx5に対して比較する事はxEをxED
と比較する事を意味するため、得られたスケルチ
信号Ｓには、誤差分xeが打ち消し合つて出力され
る。
と比較する事を意味するため、得られたスケルチ
信号Ｓには、誤差分xeが打ち消し合つて出力され
る。
また、さらに、x5は受信データの位相ジツタ量
に対応している。位相ジツタ量は受信したときの
データの誤り率に強い相関があり、ジツタ量があ
る値に達すれば、誤り率もこの時に、ほぼ定まつ
た値を有する。この事はx5の値が、受信データの
誤り率をほぼ正確に表現している事を意味し、x1
がx5の値に達した時点でスケルチ応答させれば、
正確に受信データの誤り率に対応したスケルチ信
号が得られる事を意味する。また、第２図に示さ
れる様に、x3はゆつくり変化して、低速フエージ
ングに対して測定されるが、これはx3を得るのに
時間をかけて正確に判断している事を意味する。
高速フエージングに対して、瞬時のものであれば
x3は応答しないが、x5が定まつた値に達していれ
ば、x1の速い応答に対してスケルチ信号Ｓを得る
事が出来る。
に対応している。位相ジツタ量は受信したときの
データの誤り率に強い相関があり、ジツタ量があ
る値に達すれば、誤り率もこの時に、ほぼ定まつ
た値を有する。この事はx5の値が、受信データの
誤り率をほぼ正確に表現している事を意味し、x1
がx5の値に達した時点でスケルチ応答させれば、
正確に受信データの誤り率に対応したスケルチ信
号が得られる事を意味する。また、第２図に示さ
れる様に、x3はゆつくり変化して、低速フエージ
ングに対して測定されるが、これはx3を得るのに
時間をかけて正確に判断している事を意味する。
高速フエージングに対して、瞬時のものであれば
x3は応答しないが、x5が定まつた値に達していれ
ば、x1の速い応答に対してスケルチ信号Ｓを得る
事が出来る。
次に、第１図の位相ジツタ測定回路３について
説明する。第３図は位相ジツタ測定回路３の動作
を説明するタイムチヤートである。(a)は受信電界
が十分な場合であり、(b)は不十分な場合である。
説明する。第３図は位相ジツタ測定回路３の動作
を説明するタイムチヤートである。(a)は受信電界
が十分な場合であり、(b)は不十分な場合である。
復調出力x2は、電界が十分なときには、雑音が
含まれないが、不十分なときには雑音により変動
する。x7は比較器７によりx2を比較した結果であ
る。位相面は(a)の場合に安定し、(b)の場合に不安
定になつている。x7の変化について、R1，C1お
よび排他的論理和回路９を用いて幅の狭いパルス
x9を得ている。x9を使つて、高速クロツクfHをカ
ウントしているカウンタ１０をリセツトしてパル
ス列x10を得る。x10としては、x2のデータ速度に
相当するクロツク周波数を選ぶ様にカウンタ１０
の分周比を設定する。x10は受信データの位相ジ
ツタに直接関連している。
含まれないが、不十分なときには雑音により変動
する。x7は比較器７によりx2を比較した結果であ
る。位相面は(a)の場合に安定し、(b)の場合に不安
定になつている。x7の変化について、R1，C1お
よび排他的論理和回路９を用いて幅の狭いパルス
x9を得ている。x9を使つて、高速クロツクfHをカ
ウントしているカウンタ１０をリセツトしてパル
ス列x10を得る。x10としては、x2のデータ速度に
相当するクロツク周波数を選ぶ様にカウンタ１０
の分周比を設定する。x10は受信データの位相ジ
ツタに直接関連している。
他方、x7を、ジツタ分を抑圧したクロツク再生
回路８へ入力し、安定したクロツクx8を得る。x8
とx10を排他的論理和回路１１へ入力すると、出
力x11は両者が一致するとき“０”、不一致のとき
“１”を出力する。x11のパルス幅は受信データの
位相ジツタに比例する。x11をカツトオフの十分
低いフイルタR2，C2へ入力して、x3を得る。x3
の振幅（ΔV）はジツタ量に比例する。
回路８へ入力し、安定したクロツクx8を得る。x8
とx10を排他的論理和回路１１へ入力すると、出
力x11は両者が一致するとき“０”、不一致のとき
“１”を出力する。x11のパルス幅は受信データの
位相ジツタに比例する。x11をカツトオフの十分
低いフイルタR2，C2へ入力して、x3を得る。x3
の振幅（ΔV）はジツタ量に比例する。
以上の第３図において、R1，C1の値はカウン
タ１０をリセツトするのに十分細いパルスx9を得
るために使われ、R1，C1とも約２倍位に大きく
ばらついたとしても波形x10に影響はない。また、
R2，C2の値も、十分遅いフエージング時に動作
すれば良いので、カツトオフの誤差範囲として、
かなり大きな値が許され、部品のバラツキ、ある
いは温度の影響によつて変化しても、静的な状態
でのx3の値には悪影響がない。以上の様にして、
位相ジツタに対応する電圧は正確に得られる。
タ１０をリセツトするのに十分細いパルスx9を得
るために使われ、R1，C1とも約２倍位に大きく
ばらついたとしても波形x10に影響はない。また、
R2，C2の値も、十分遅いフエージング時に動作
すれば良いので、カツトオフの誤差範囲として、
かなり大きな値が許され、部品のバラツキ、ある
いは温度の影響によつて変化しても、静的な状態
でのx3の値には悪影響がない。以上の様にして、
位相ジツタに対応する電圧は正確に得られる。
以上説明した様に、本発明のスケルチ信号発生
回路を用いれば、受信データの誤り率に対応する
スケルチ信号を正確に得る事が出来る。
回路を用いれば、受信データの誤り率に対応する
スケルチ信号を正確に得る事が出来る。
第１図は本発明のスケルチ信号発生回路の一実
施例を示す図、第２図は第１図の動作原理を説明
するためのタイムチヤート、第３図は第１図中に
使われている位相ジツタ測定回路３のタイムチヤ
ートである。 １……電界レベル測定回路、２……復調器、３
……位相ジツタ測定回路、４……判断回路、５…
…記憶回路、６，７及び１２……比較器、８……
クロツク再生回路、９，１１及び１３……排他的
論理和回路、１０……カウンタ、１４……トラン
スフアー・ゲート。
施例を示す図、第２図は第１図の動作原理を説明
するためのタイムチヤート、第３図は第１図中に
使われている位相ジツタ測定回路３のタイムチヤ
ートである。 １……電界レベル測定回路、２……復調器、３
……位相ジツタ測定回路、４……判断回路、５…
…記憶回路、６，７及び１２……比較器、８……
クロツク再生回路、９，１１及び１３……排他的
論理和回路、１０……カウンタ、１４……トラン
スフアー・ゲート。
Claims (1)
- １ 受信信号の電界のレベルを測定する電界レベ
ル測定回路、前記受信信号からベースバンド信号
を復調する復調器、前記復調器出力のベースバン
ド信号に含まれる位相ジツタを測定する位相ジツ
タ測定回路、前記位相ジツタ測定回路によつて測
定された位相ジツタが指定の値に達したか否かを
判断する判断回路、前記測定された位相ジツタが
前記指定の値に達したと、前記判断回路が判断し
た時、前記電界レベル測定回路によつて測定され
た電界レベルを記憶する記憶回路を有し、前記電
界レベル測定回路によつて測定された電界レベル
が、前記記憶回路の内容に比べて低いときに、ス
ケルチ信号を発生する事を特徴とするスケルチ信
号発生回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58152470A JPS6046155A (ja) | 1983-08-23 | 1983-08-23 | スケルチ信号発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58152470A JPS6046155A (ja) | 1983-08-23 | 1983-08-23 | スケルチ信号発生回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6046155A JPS6046155A (ja) | 1985-03-12 |
| JPH0317263B2 true JPH0317263B2 (ja) | 1991-03-07 |
Family
ID=15541215
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58152470A Granted JPS6046155A (ja) | 1983-08-23 | 1983-08-23 | スケルチ信号発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6046155A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5408693A (en) * | 1991-12-24 | 1995-04-18 | Motorola, Inc. | Muting of radio-transmitter digital audio based on received signal strength |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5497311A (en) * | 1978-01-19 | 1979-08-01 | Nec Corp | Rodio transmitter-receiver |
| JPS55145461A (en) * | 1979-04-27 | 1980-11-13 | Nec Corp | Digital signal/noise ratio monitoring device |
-
1983
- 1983-08-23 JP JP58152470A patent/JPS6046155A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6046155A (ja) | 1985-03-12 |
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