JPH03173032A - 電子管陰極 - Google Patents
電子管陰極Info
- Publication number
- JPH03173032A JPH03173032A JP1313869A JP31386989A JPH03173032A JP H03173032 A JPH03173032 A JP H03173032A JP 1313869 A JP1313869 A JP 1313869A JP 31386989 A JP31386989 A JP 31386989A JP H03173032 A JPH03173032 A JP H03173032A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cathode
- material layer
- electron
- emitting material
- electron emitting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Solid Thermionic Cathode (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、受像管などの電子管に用いられる陰極に関
し、その電子放射特性の向上を図ったものである。
し、その電子放射特性の向上を図ったものである。
従来、受像管などの電子管に用いられる陰極には、ニッ
ケルを主成分とし、マグネシウム、シリコンなどの還元
性金属を微量含有した基体金属の面上に、Baを含むア
ルカリ土類金属の酸化物層を被着形成した酸化物陰極が
多用されてきた。この酸化物陰極はアルカリ土類金属の
炭酸塩を熱分解して酸化物に変換せしめ、その後、上記
基体金属中の還元性金属と酸化物を反応させながら、上
記酸化物から遊離原子を生成し、この遊離原子を電子放
射のドナー(源)として電子放射をおこなわしめるよう
にしたものである。
ケルを主成分とし、マグネシウム、シリコンなどの還元
性金属を微量含有した基体金属の面上に、Baを含むア
ルカリ土類金属の酸化物層を被着形成した酸化物陰極が
多用されてきた。この酸化物陰極はアルカリ土類金属の
炭酸塩を熱分解して酸化物に変換せしめ、その後、上記
基体金属中の還元性金属と酸化物を反応させながら、上
記酸化物から遊離原子を生成し、この遊離原子を電子放
射のドナー(源)として電子放射をおこなわしめるよう
にしたものである。
上記のように、複雑な手順を経る理由は、Baは電子放
射能力に優れているが、非常に活性であるため、空気中
の水分と反応して水酸化バリウムとなり、この水酸化バ
リウムから遊離バリウムを電子管内に生成することは困
難であるので、化学的に安定な炭酸塩を出発物質にせざ
るをえないからである。炭酸塩には、Bacosのよう
に単元のものと、(Ba、Sr、Ca)COs のよう
な襟元のものがあるが、ドナーを形成する活性化の基本
的な機構は上記いずれの塩の場合でも同じであるから、
以下、単元炭酸塩を例にとって、ドナーを形成する活性
化の基本的な機構を第6図にもとづいて説明する。
射能力に優れているが、非常に活性であるため、空気中
の水分と反応して水酸化バリウムとなり、この水酸化バ
リウムから遊離バリウムを電子管内に生成することは困
難であるので、化学的に安定な炭酸塩を出発物質にせざ
るをえないからである。炭酸塩には、Bacosのよう
に単元のものと、(Ba、Sr、Ca)COs のよう
な襟元のものがあるが、ドナーを形成する活性化の基本
的な機構は上記いずれの塩の場合でも同じであるから、
以下、単元炭酸塩を例にとって、ドナーを形成する活性
化の基本的な機構を第6図にもとづいて説明する。
第6図は従来の酸化物陰極の一例を示す概略構造断面図
であって、同図において、陰極(1)は陰極筒体(la
)と陰極帽体(1b)で構成され5陰極筒体(1a)の
内部にはヒータ(2)が配装され、内部を加熱昇温でき
る構造になっている。陰極帽体(1b)は上記陰極(1
)の基体金属の役割を担い、この陰極帽体(1b)の表
面上には炭酸バリウムからなる電子放射物質層(3)が
被着形成されている。この電子放射物質層(3)は、た
とえば、有機溶剤に溶解したニトロセルロース等の樹脂
溶液の中に炭酸バリウムを混合攪拌したものを陰極帽体
(1b)の面上に吹付け、電着あるいは塗布等の方法で
被着形成することによって得る。なお、(111は上記
陰極帽体(1b)と電子放射物質層(3)との界面であ
る。
であって、同図において、陰極(1)は陰極筒体(la
)と陰極帽体(1b)で構成され5陰極筒体(1a)の
内部にはヒータ(2)が配装され、内部を加熱昇温でき
る構造になっている。陰極帽体(1b)は上記陰極(1
)の基体金属の役割を担い、この陰極帽体(1b)の表
面上には炭酸バリウムからなる電子放射物質層(3)が
被着形成されている。この電子放射物質層(3)は、た
とえば、有機溶剤に溶解したニトロセルロース等の樹脂
溶液の中に炭酸バリウムを混合攪拌したものを陰極帽体
(1b)の面上に吹付け、電着あるいは塗布等の方法で
被着形成することによって得る。なお、(111は上記
陰極帽体(1b)と電子放射物質層(3)との界面であ
る。
このように構成された酸化物陰極は、電子管内に組み込
まれ、電子管内を真空にするための排気工程でヒータ(
2)によって約1000℃に加熱昇温されると、上記電
子放射物質層(3)の炭酸バリウムは次式(1)のよう
に熱分解され、酸化バリウムに変換される。
まれ、電子管内を真空にするための排気工程でヒータ(
2)によって約1000℃に加熱昇温されると、上記電
子放射物質層(3)の炭酸バリウムは次式(1)のよう
に熱分解され、酸化バリウムに変換される。
BaC0z →BaO+ COz −(1)上記の反
応によって生成した炭酸ガスは電子管外へ排出されるが
、これと同時にニトロセルロース等の樹脂も熱分解され
てガス状となり、上記炭酸ガスとともに管外に排出され
る。
応によって生成した炭酸ガスは電子管外へ排出されるが
、これと同時にニトロセルロース等の樹脂も熱分解され
てガス状となり、上記炭酸ガスとともに管外に排出され
る。
しかし、上記(1)式による反応時に、従来の陰極では
、管内の一酸化炭素、酸素等の酸化性雰囲気のもとで、
陰極帽体(lb)の表面でニッケルとともに、還元反応
における重要な役割を担う還元性金属のSiやMgも同
時に酸化されるという欠点があった。
、管内の一酸化炭素、酸素等の酸化性雰囲気のもとで、
陰極帽体(lb)の表面でニッケルとともに、還元反応
における重要な役割を担う還元性金属のSiやMgも同
時に酸化されるという欠点があった。
つぎに、上記(I)式の反応を経た電子放射物質層(3
)と陰極帽体(lb)との界面は第7図に示すような状
態となっている。すなわち、第7図は陰極帽体(lb)
と電子放射物質層(3)の界面0υ近傍を詳細に説明す
るための部分拡大断面図であって、一般に酸化バリウム
は棒状の微小な結晶(8)が凝集して数ミクロン−数十
ミクロンの大きさの結晶粒(9)となり、これらの結晶
粒間に適度の間隙Q[11を形成した多孔質の電子放射
物質層(3)を形成するように配慮されている。この電
子放射物質層(3)の酸化バリウムは陰極帽体(]b)
と接触する界面01部分にて上記陰極帽体(lb)に含
まれる還元性金属のSiやMgと反応し、遊離バリウム
となる。つまり、上記還元性金属は陰極帽体(Ib)の
ニッケルの結晶粒(6)の結晶粒界(7)間を拡散移動
し、上記界面αD近傍で次式(U)および(III)に
示すような還元反応をおこなう。
)と陰極帽体(lb)との界面は第7図に示すような状
態となっている。すなわち、第7図は陰極帽体(lb)
と電子放射物質層(3)の界面0υ近傍を詳細に説明す
るための部分拡大断面図であって、一般に酸化バリウム
は棒状の微小な結晶(8)が凝集して数ミクロン−数十
ミクロンの大きさの結晶粒(9)となり、これらの結晶
粒間に適度の間隙Q[11を形成した多孔質の電子放射
物質層(3)を形成するように配慮されている。この電
子放射物質層(3)の酸化バリウムは陰極帽体(]b)
と接触する界面01部分にて上記陰極帽体(lb)に含
まれる還元性金属のSiやMgと反応し、遊離バリウム
となる。つまり、上記還元性金属は陰極帽体(Ib)の
ニッケルの結晶粒(6)の結晶粒界(7)間を拡散移動
し、上記界面αD近傍で次式(U)および(III)に
示すような還元反応をおこなう。
2BaO+S i →2Ba十S i(L −(II)
BaO+Mg 4Ba+MgO−=−Cm)上記の反応
式(n)と(II)から明らかなように、酸化バリウム
の還元反応の結果、得られる遊離バリウム(B a)が
電子放射のドナーとして作用する。
BaO+Mg 4Ba+MgO−=−Cm)上記の反応
式(n)と(II)から明らかなように、酸化バリウム
の還元反応の結果、得られる遊離バリウム(B a)が
電子放射のドナーとして作用する。
この際、次式(IV)に示すような珪酸バリウム(Bl
ISI04 )の生成反応も同時におこる。
ISI04 )の生成反応も同時におこる。
Stow +2BaO→Bat 5i04−(IV)以
上説明したように、ドナーとなるBaは電子放射物質層
(3)と陰極帽体(lb)の接合面である界面αυで生
成され、電子放射物質層(3)の間隙OI中を移動し、
その表面に出て電子放射の役割を担うが、蒸発したり、
あるいは電子管内の残留ガスであるCO,CO2、Ox
、H* O等と反応して消滅するので、継続的に、上
記(n)および(III)のような還元反応をおこなっ
て、ドナーとなるBaを補給する必要があり、陰極の動
作中、常時、上記のような還元反応が生じている。この
ドナーとなるBaの補給と消滅のバランスを取るために
、この種の陰極は通常、約800℃の高温域で使用され
る。陰極の使用中、上記の式(II)と式(IV )中
のSiOx 、Bat 5ift等の反応生成物O2が
電子放射物質層(3)と陰極帽体(lb)の界面0υに
おいて生成され、上記界面aυや結晶粒界(7)に継続
的に蓄積される。
上説明したように、ドナーとなるBaは電子放射物質層
(3)と陰極帽体(lb)の接合面である界面αυで生
成され、電子放射物質層(3)の間隙OI中を移動し、
その表面に出て電子放射の役割を担うが、蒸発したり、
あるいは電子管内の残留ガスであるCO,CO2、Ox
、H* O等と反応して消滅するので、継続的に、上
記(n)および(III)のような還元反応をおこなっ
て、ドナーとなるBaを補給する必要があり、陰極の動
作中、常時、上記のような還元反応が生じている。この
ドナーとなるBaの補給と消滅のバランスを取るために
、この種の陰極は通常、約800℃の高温域で使用され
る。陰極の使用中、上記の式(II)と式(IV )中
のSiOx 、Bat 5ift等の反応生成物O2が
電子放射物質層(3)と陰極帽体(lb)の界面0υに
おいて生成され、上記界面aυや結晶粒界(7)に継続
的に蓄積される。
このように、上記反応生成物Ozが界面00部分に蓄積
されると、上記電子放射物質層[3Jと上記陰極帽体(
lb)はその界面aυにて接合する傾向を示し、結果的
に、上記反応生成物α2は81等の還元性金属の通過す
る障壁(一般に中間層といわれる)となるので、上記式
(If)および(I[[)などの反応は次第に遅れ気味
となり、ドナーとなるBaの生成が困難となる。また、
上記中間層は高抵抗値を有し、放射電子電流の円滑な流
れが妨げられる。
されると、上記電子放射物質層[3Jと上記陰極帽体(
lb)はその界面aυにて接合する傾向を示し、結果的
に、上記反応生成物α2は81等の還元性金属の通過す
る障壁(一般に中間層といわれる)となるので、上記式
(If)および(I[[)などの反応は次第に遅れ気味
となり、ドナーとなるBaの生成が困難となる。また、
上記中間層は高抵抗値を有し、放射電子電流の円滑な流
れが妨げられる。
このように、従来の電子管陰極においては、電子放射源
のドナーを形成するための炭酸塩の分解、還元の反応作
用中に還元性金属の酸化と反応生成物Ozの蓄積が起こ
り、また、上記電子管陰極の動作中に陰極帽体(lb)
と電子放射物質層(3)の界面(Iυ近傍、特に、陰極
帽体(1b)表面近傍の結晶粒界(7)に反応生成物(
2)が蓄積されてSi等の通過障害となる中間層が形成
され、この中間層は高抵抗値を有するので、放射電子電
流の流れを妨げ、電子放射物質層(3)への還元性金属
の拡散補給も次第に妨げられることになり、高電流密度
下の十分な電子放射特性が長時間にわたって得られない
。
のドナーを形成するための炭酸塩の分解、還元の反応作
用中に還元性金属の酸化と反応生成物Ozの蓄積が起こ
り、また、上記電子管陰極の動作中に陰極帽体(lb)
と電子放射物質層(3)の界面(Iυ近傍、特に、陰極
帽体(1b)表面近傍の結晶粒界(7)に反応生成物(
2)が蓄積されてSi等の通過障害となる中間層が形成
され、この中間層は高抵抗値を有するので、放射電子電
流の流れを妨げ、電子放射物質層(3)への還元性金属
の拡散補給も次第に妨げられることになり、高電流密度
下の十分な電子放射特性が長時間にわたって得られない
。
上記のような問題を解決する提案として特開昭6127
1732号(以下、先行技術という)が提案されている
が、この先行技術は上記電子放射物質層に酸化スカンジ
ウム粉末を分散含有させ、この酸化スカンジウムによる
Bat S IOa 等の反応生成物に対する解離作用
によって、上記中間層を脆弱破壊し、結果的に、上記S
i等の還元性金属がニッケルの結晶粒界(7)を通過し
やすいようにすることにより、上記(n)および(II
I)式などの反応を促進せしめ、ドナーとなるBaが生
成しやすいようにしたものである。
1732号(以下、先行技術という)が提案されている
が、この先行技術は上記電子放射物質層に酸化スカンジ
ウム粉末を分散含有させ、この酸化スカンジウムによる
Bat S IOa 等の反応生成物に対する解離作用
によって、上記中間層を脆弱破壊し、結果的に、上記S
i等の還元性金属がニッケルの結晶粒界(7)を通過し
やすいようにすることにより、上記(n)および(II
I)式などの反応を促進せしめ、ドナーとなるBaが生
成しやすいようにしたものである。
上記先行技術にかかる酸化スカンジウム分散型陰極によ
れば、ドナーとなるBaの生成を促進して電子放射特性
の向上をはかることができるが、電子放射物質層の密度
が高いので、受像管の動作のオンオフ時に電子放射物質
層と陰極帽体の熱膨張係数の差から受ける応力が大きく
なって、上記陰極帽体との界面上から電子放射物質層が
局部的に水ぶくれ状に浮上がる浮き上がり現象を呈した
り、ひどい場合には剥離脱落したりするという問題があ
った。
れば、ドナーとなるBaの生成を促進して電子放射特性
の向上をはかることができるが、電子放射物質層の密度
が高いので、受像管の動作のオンオフ時に電子放射物質
層と陰極帽体の熱膨張係数の差から受ける応力が大きく
なって、上記陰極帽体との界面上から電子放射物質層が
局部的に水ぶくれ状に浮上がる浮き上がり現象を呈した
り、ひどい場合には剥離脱落したりするという問題があ
った。
ここで、上記の電子放射物質層の浮上がり現象を第5図
にもとづいて説明する。すなわち、第5図は、寿命試験
後の陰極の電子放射物質層を丁寧に剥がした後の陰極帽
体の表面を模式的に示した拡大平面図であって、同図に
おいて、周辺部(A)は上記反応生成物a邊である珪酸
バリウムに相当する部分を示し、中心部近傍(B)はニ
ッケル部分を示しており、上記珪酸バリウムおよびニッ
ケルはX線回折によっても確認できた。
にもとづいて説明する。すなわち、第5図は、寿命試験
後の陰極の電子放射物質層を丁寧に剥がした後の陰極帽
体の表面を模式的に示した拡大平面図であって、同図に
おいて、周辺部(A)は上記反応生成物a邊である珪酸
バリウムに相当する部分を示し、中心部近傍(B)はニ
ッケル部分を示しており、上記珪酸バリウムおよびニッ
ケルはX線回折によっても確認できた。
このような現象は、周辺部(A)では陰極帽体の基体金
属と電子放射物質層とがその界面で上記(IV)式の反
応が起こったことを示し、中心部近傍(B)では基体金
属が電子放射物質層と接することなく、したがって、こ
れら両者間で反応がなかったものを示している。つまり
、上記中心部近傍にて電子放射物質層が局部的にて浮上
がっていたものと推定される。
属と電子放射物質層とがその界面で上記(IV)式の反
応が起こったことを示し、中心部近傍(B)では基体金
属が電子放射物質層と接することなく、したがって、こ
れら両者間で反応がなかったものを示している。つまり
、上記中心部近傍にて電子放射物質層が局部的にて浮上
がっていたものと推定される。
この発明は上述の問題に鑑みて発明されたものであって
、陰極帽体との界面からの電子放射物質層の浮上がりゃ
剥離脱落のない電子管陰極を提供することを目的とする
。
、陰極帽体との界面からの電子放射物質層の浮上がりゃ
剥離脱落のない電子管陰極を提供することを目的とする
。
この発明にかかる電子管陰極は、ニッケル基体金属の面
上に、バリウムを含むアルカリ土類金属酸化物に酸化ス
カンジウムを分散させた電子放射物質層が被着形成され
た陰極において、上記基体金属表面の中心部近傍が粗面
に形成されたことを特徴とする。
上に、バリウムを含むアルカリ土類金属酸化物に酸化ス
カンジウムを分散させた電子放射物質層が被着形成され
た陰極において、上記基体金属表面の中心部近傍が粗面
に形成されたことを特徴とする。
この発明によれば、電子放射物質層が被着形成される基
体金属面の中心部近傍が粗面に形成されているので、上
記中心部近傍における基体金属に対する電子放射物質層
の被着面積が増大し、全体として上記基体金属と電子放
射物質層との密着性が向上し、電子放射物質層の浮上が
り現象や剥離脱落現象が抑制されるものと考えられ、信
頼性の高い電子管陰極を得ることができる。
体金属面の中心部近傍が粗面に形成されているので、上
記中心部近傍における基体金属に対する電子放射物質層
の被着面積が増大し、全体として上記基体金属と電子放
射物質層との密着性が向上し、電子放射物質層の浮上が
り現象や剥離脱落現象が抑制されるものと考えられ、信
頼性の高い電子管陰極を得ることができる。
以下、この発明の一実施例を図面によって説明する。
第1図は、この発明の電子管陰極の一実施例を示す概略
構造断面図であり、同図において、第6図で示す従来例
と同一の構成には同一の符号を付して、それらの詳しい
説明を省略する。
構造断面図であり、同図において、第6図で示す従来例
と同一の構成には同一の符号を付して、それらの詳しい
説明を省略する。
第1図において、(30) は電子放射物質層であって
、これは基体金属の陰極帽体(lb)の面上に被着形成
されている。この電子放射物質層(30)は少なくとも
Baを含有するとともに、他にSrあるいはCaを含む
アルカリ土類金属 を主成分とし、0.1〜20重量%の酸化スカンジウム
を分散させたものである。なお、陰極筒体(lb)はニ
クロム(Ni−Cr)で構成され、陰極帽体(lb)は
ニッケルを主成分とし、少なくともシリコン(Sl)を
還元性金属とした含有した基体金属から構成されている
。
、これは基体金属の陰極帽体(lb)の面上に被着形成
されている。この電子放射物質層(30)は少なくとも
Baを含有するとともに、他にSrあるいはCaを含む
アルカリ土類金属 を主成分とし、0.1〜20重量%の酸化スカンジウム
を分散させたものである。なお、陰極筒体(lb)はニ
クロム(Ni−Cr)で構成され、陰極帽体(lb)は
ニッケルを主成分とし、少なくともシリコン(Sl)を
還元性金属とした含有した基体金属から構成されている
。
上記のように構成される電子管陰極の電子放射物質層の
形成方法は、従来のものと同様であってよく、たとえば
、有機溶剤に溶解したニトロセルロースの溶液に炭酸バ
リウムと酸化スカンジウムを所望の重量%(上記の三元
炭酸塩が酸化物となるとして求めた重量%)混合して懸
濁液とし、ボウルミル等の方法によって粉砕粒度調節を
おこなって、吹付は法によって被着形成する。電子放射
物質層の形成方法は、上記吹付は法以外に、電着あるい
は塗布等の方法によってよく、形成方法に別設制約はな
いが、多孔質の層膜に形成することが良好な電子放射性
能を得るために重要であり、望ましくは、吹付は法を用
いる。
形成方法は、従来のものと同様であってよく、たとえば
、有機溶剤に溶解したニトロセルロースの溶液に炭酸バ
リウムと酸化スカンジウムを所望の重量%(上記の三元
炭酸塩が酸化物となるとして求めた重量%)混合して懸
濁液とし、ボウルミル等の方法によって粉砕粒度調節を
おこなって、吹付は法によって被着形成する。電子放射
物質層の形成方法は、上記吹付は法以外に、電着あるい
は塗布等の方法によってよく、形成方法に別設制約はな
いが、多孔質の層膜に形成することが良好な電子放射性
能を得るために重要であり、望ましくは、吹付は法を用
いる。
また、基体金属である陰極帽体(1b》表面の中心部近
傍には第2図(alに示す拡大平面図ならびに同図(b
lの拡大断面図に示すように、凹凸状の粗面部(20a
)が形成されている。この粗面部(20a)の大きさは
直径0.9mmとしたが、特に、円形状に限定されるも
のではなく、正方形あるいは多角形状であってもよい。
傍には第2図(alに示す拡大平面図ならびに同図(b
lの拡大断面図に示すように、凹凸状の粗面部(20a
)が形成されている。この粗面部(20a)の大きさは
直径0.9mmとしたが、特に、円形状に限定されるも
のではなく、正方形あるいは多角形状であってもよい。
この凹凸状の粗面部( 20g )は陰極帽体(lb)
をプレス成形する際の金型に凹凸状の突起部を設けるこ
とによって簡単に形成することができる。なお、この粗
面部(20i)の表面粗さは5μlとした。
をプレス成形する際の金型に凹凸状の突起部を設けるこ
とによって簡単に形成することができる。なお、この粗
面部(20i)の表面粗さは5μlとした。
つぎに、陰極帽体の基体金属の面上に塗布する電子放射
物質層の塗布密度を種々に設定した陰極を製造して受像
管に組込み、動作試験をおこなった。なお、上記電子放
射物質層の膜厚は約100ミクロンとした。
物質層の塗布密度を種々に設定した陰極を製造して受像
管に組込み、動作試験をおこなった。なお、上記電子放
射物質層の膜厚は約100ミクロンとした。
上記の動作試験を開始してから約2000時間を経過し
た後、陰極(1)と制御電極間隔で規定されるカットオ
フ電圧を測定したところ、カットオフ電圧の異常は全く
認められなかった。また、試験受像管を破壊し、陰極《
υを取り出し、電子放射物質層(30)を観察した結果
、異常は認められなかった。
た後、陰極(1)と制御電極間隔で規定されるカットオ
フ電圧を測定したところ、カットオフ電圧の異常は全く
認められなかった。また、試験受像管を破壊し、陰極《
υを取り出し、電子放射物質層(30)を観察した結果
、異常は認められなかった。
一方、従来の陰極帽体(lb)のものは電子放射物質層
《3》が浮き上がった兆候とみられるカットオフ電圧の
異常値を示すものがあった。試験受像管を破壊し、陰極
(1)を取出して電子放射物質層《3》を観察すると、
放射電子電流を取出している部分、すなわち、陰極帽体
(lb)の中央部分に電子放射物質層(31の浮上がり
が認められた。
《3》が浮き上がった兆候とみられるカットオフ電圧の
異常値を示すものがあった。試験受像管を破壊し、陰極
(1)を取出して電子放射物質層《3》を観察すると、
放射電子電流を取出している部分、すなわち、陰極帽体
(lb)の中央部分に電子放射物質層(31の浮上がり
が認められた。
上記に示す結果から、カットオフ電圧の異常が発生する
理由はつぎのように推定できる。
理由はつぎのように推定できる。
すなわち、陰極(11は動作中にも、前述の(IV)式
で示される反応が起こっており、中間層に形成される反
応生成物αタの珪酸バリウム(lla.sioa>は次
式(V)および(VI)の反応によって、酸化スカンジ
ウム(SczOs )とニッケルを介して分解される。
で示される反応が起こっており、中間層に形成される反
応生成物αタの珪酸バリウム(lla.sioa>は次
式(V)および(VI)の反応によって、酸化スカンジ
ウム(SczOs )とニッケルを介して分解される。
SC20s +10旧= 2 ScNii + 3
0 − ( V )98ats10a + 16S
cNis →48aiSe40g + 6Ba +9
Si + 80旧−(VI)上記式(V)および式(
Vl)による反応によって、電子放射物質層《3》と陰
極帽体(1b)の界面00部分において反応生成物(自
)が形成されなくなるので、上記電子放射物質層(3)
と陰極帽体(1b)の接合作用が弱くなる。ここで、受
像管の動作のオンオフ時に、電子放射物質層(3)と陰
極帽体(lb)の熱膨張係数の差から受けるストレスが
大きく、次第に浮き上がるものと推定される。一方、基
体金属である陰極帽体(1b》に粗面部(20a)を設
ける場合には、電子放射物質層(3ロ)の接着性が高く
なるため、浮き上がりが起こらないと考えられる。
0 − ( V )98ats10a + 16S
cNis →48aiSe40g + 6Ba +9
Si + 80旧−(VI)上記式(V)および式(
Vl)による反応によって、電子放射物質層《3》と陰
極帽体(1b)の界面00部分において反応生成物(自
)が形成されなくなるので、上記電子放射物質層(3)
と陰極帽体(1b)の接合作用が弱くなる。ここで、受
像管の動作のオンオフ時に、電子放射物質層(3)と陰
極帽体(lb)の熱膨張係数の差から受けるストレスが
大きく、次第に浮き上がるものと推定される。一方、基
体金属である陰極帽体(1b》に粗面部(20a)を設
ける場合には、電子放射物質層(3ロ)の接着性が高く
なるため、浮き上がりが起こらないと考えられる。
また、珪酸バリウム等の反応生成物Qカが電子放射物質
層(3)キ陰極帽体{1b}との界面αυや結晶粒界(
7)に蓄積されても、電子放射物質層(3)に分散含有
した酸化スカンジウムによる解離作用によってすみやか
に脆弱破壊されるので、Si等の還元性金属の通る間隙
は確保され、電子放射のドナーとなるBaの生成が促進
される。
層(3)キ陰極帽体{1b}との界面αυや結晶粒界(
7)に蓄積されても、電子放射物質層(3)に分散含有
した酸化スカンジウムによる解離作用によってすみやか
に脆弱破壊されるので、Si等の還元性金属の通る間隙
は確保され、電子放射のドナーとなるBaの生成が促進
される。
第3図は他の実施例を示すもので、陰極線帽体(1b)
の表面を旋盤等を用いて円形状の溝を形成して粗面部(
20b)としたものであり、第4図は陰極帽体(1b)
の表面中心部に平均粒径が数ミクロンのニッケル粉末を
塗布した後、還元性雰囲気中で熱処理をおこなって焼結
して粗面部(20c)を形成したものである。いずれの
場合のものも、動作試験後、カットオフ電圧の異常を示
すものは存在しなかった。
の表面を旋盤等を用いて円形状の溝を形成して粗面部(
20b)としたものであり、第4図は陰極帽体(1b)
の表面中心部に平均粒径が数ミクロンのニッケル粉末を
塗布した後、還元性雰囲気中で熱処理をおこなって焼結
して粗面部(20c)を形成したものである。いずれの
場合のものも、動作試験後、カットオフ電圧の異常を示
すものは存在しなかった。
このように、上記実施例による電子管陰極によれば、動
作時になんらのトラブルの発生なく使用でき、高抵抗値
の中間層となる反応生成物が形成されにくいので、電子
放射電流を妨げることなく、高い電流密度で使用するこ
とができる。
作時になんらのトラブルの発生なく使用でき、高抵抗値
の中間層となる反応生成物が形成されにくいので、電子
放射電流を妨げることなく、高い電流密度で使用するこ
とができる。
以上説明したように、この発明にかかる電子管陰極は、
長期間動作させても電子放射物質層の浮上がりゃ剥離脱
落がなく、陰極帽体と電子放射物質層との界面近傍で高
抵抗値の中間層が形成されることもないので、電子放射
のドナーとなるBaの生成が促進され、かつ電子放射電
流の流れが妨げることもなく、高い電流密度で使用する
ことができ、常に安定した電子放射性能が得られる効果
がある。
長期間動作させても電子放射物質層の浮上がりゃ剥離脱
落がなく、陰極帽体と電子放射物質層との界面近傍で高
抵抗値の中間層が形成されることもないので、電子放射
のドナーとなるBaの生成が促進され、かつ電子放射電
流の流れが妨げることもなく、高い電流密度で使用する
ことができ、常に安定した電子放射性能が得られる効果
がある。
第1図はこの発明の電子管陰極の一実施例を示す概略構
造断面図、第2図(a)はこの発明による基体金属であ
る陰極帽体の拡大平面図、第2図(b)は同じく拡大断
面図、第3図および第4図はいずれもこの発明による他
の実施例による陰極帽体の拡大平面図、第5図は電子放
射物質層の一部が浮き上がった陰極の陰極帽体の表面を
模式的に示す拡大平面図、第6図は従来の酸化物陰極の
一実施例を示す概略構造断面図、第7図は基体金属と電
子放射物質層との界面近傍を詳細に説明するための部分
拡大断面図である。 (1)・・・陰極、(1a)・・・陰極筒体、(lb)
・・・陰極帽体、(Ill−・・電子放射物質層、(2
0a)、(20b)、(20c) −粗面部。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 第1図
造断面図、第2図(a)はこの発明による基体金属であ
る陰極帽体の拡大平面図、第2図(b)は同じく拡大断
面図、第3図および第4図はいずれもこの発明による他
の実施例による陰極帽体の拡大平面図、第5図は電子放
射物質層の一部が浮き上がった陰極の陰極帽体の表面を
模式的に示す拡大平面図、第6図は従来の酸化物陰極の
一実施例を示す概略構造断面図、第7図は基体金属と電
子放射物質層との界面近傍を詳細に説明するための部分
拡大断面図である。 (1)・・・陰極、(1a)・・・陰極筒体、(lb)
・・・陰極帽体、(Ill−・・電子放射物質層、(2
0a)、(20b)、(20c) −粗面部。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 第1図
Claims (1)
- (1)ニッケル基体金属の面上に、バリウムを含むアル
カリ土類金属酸化物に酸化スカンジウムを分散させた電
子放射物質層が被着形成されてなる陰極において、上記
基体金属表面の中心部近傍が粗面に形成されたことを特
徴とする電子管陰極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1313869A JPH03173032A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 電子管陰極 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1313869A JPH03173032A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 電子管陰極 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03173032A true JPH03173032A (ja) | 1991-07-26 |
Family
ID=18046485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1313869A Pending JPH03173032A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 電子管陰極 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03173032A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2818437A1 (fr) * | 2000-12-15 | 2002-06-21 | Thomson Tubes & Displays | Structure de cathode a oxydes |
-
1989
- 1989-11-30 JP JP1313869A patent/JPH03173032A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2818437A1 (fr) * | 2000-12-15 | 2002-06-21 | Thomson Tubes & Displays | Structure de cathode a oxydes |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH01197934A (ja) | 電子管用陰極 | |
| US4980603A (en) | Cathode for an electron tube | |
| JPH03173032A (ja) | 電子管陰極 | |
| US4626470A (en) | Impregnated cathode | |
| KR970007292B1 (ko) | 방전광원용 전극 | |
| JPH0828183B2 (ja) | 電子管陰極 | |
| JPH0690906B2 (ja) | 電子管陰極 | |
| JPH0734345B2 (ja) | 電子管用陰極の製造方法 | |
| JPH01109631A (ja) | 酸化物陰極 | |
| JPH0782800B2 (ja) | 電子管陰極 | |
| JPH05182580A (ja) | 電子管用酸化物陰極 | |
| JPS5949131A (ja) | 電子管陰極 | |
| JPS63257153A (ja) | 電子管用陰極 | |
| JPH0821308B2 (ja) | 電子管陰極 | |
| JPS6290819A (ja) | 電子管用陰極 | |
| JPS63285839A (ja) | 電子管陰極 | |
| JP2891209B2 (ja) | 電子管用陰極 | |
| JP2730260B2 (ja) | 電子管用陰極 | |
| JP2650638B2 (ja) | 陰極線管 | |
| JPH03289022A (ja) | 酸化物陰極 | |
| JPS63285838A (ja) | 電子管陰極 | |
| JPH0696661A (ja) | 電子管陰極 | |
| JPH0963471A (ja) | 酸化物陰極の製造方法 | |
| JPH0787069B2 (ja) | 電子管陰極 | |
| JPH08321250A (ja) | 電子放射物質層を有する陰極を備えた電子管 |