JPH03173405A - 発熱抵抗体の製造方法 - Google Patents
発熱抵抗体の製造方法Info
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- JPH03173405A JPH03173405A JP1312678A JP31267889A JPH03173405A JP H03173405 A JPH03173405 A JP H03173405A JP 1312678 A JP1312678 A JP 1312678A JP 31267889 A JP31267889 A JP 31267889A JP H03173405 A JPH03173405 A JP H03173405A
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Landscapes
- Resistance Heating (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、サーマルヘッド等に用いられる発熱抵抗体の
製造方法に関する。
製造方法に関する。
サーマルヘッドの発熱抵抗体を構成する材料ととしては
主にTa、Nが用いられていた(例えば「金属表面技術
J 34.(6)、1983.第271〜277頁)。
主にTa、Nが用いられていた(例えば「金属表面技術
J 34.(6)、1983.第271〜277頁)。
しかし、このTa!NはハイブリッドIC等の薄膜抵抗
としては問題はないものの、サーマルヘッドの発熱抵抗
体としては耐熱性、特に耐酸化性が十分とは言えなかっ
た。また、Ta、Nの固有抵抗は約300μΩ・唾、実
用膜厚に対する面積抵抗も50〜200Ω/口程度であ
り、消費電力の低減等を目的としてより高抵抗な発熱抵
抗体が要求されている近年の動向を満足するものでない
。
としては問題はないものの、サーマルヘッドの発熱抵抗
体としては耐熱性、特に耐酸化性が十分とは言えなかっ
た。また、Ta、Nの固有抵抗は約300μΩ・唾、実
用膜厚に対する面積抵抗も50〜200Ω/口程度であ
り、消費電力の低減等を目的としてより高抵抗な発熱抵
抗体が要求されている近年の動向を満足するものでない
。
以上の問題点を解消した抵抗体材料として、Ta−5i
−N、あるいはTa−5t−0といったものが開発され
ている(例えば特開昭58−14501号等)。
−N、あるいはTa−5t−0といったものが開発され
ている(例えば特開昭58−14501号等)。
しかし、以上の材料は電気抵抗率に関して温度依存性を
有し、温度上昇に伴い電気抵抗率が低下する傾向がある
。このような材料からなる抵抗体を有するサーマルヘッ
ドを継続駆動すると、抵抗体の温度変動によって電気抵
抗率も変動し、印加電力の制御が必要となる。
有し、温度上昇に伴い電気抵抗率が低下する傾向がある
。このような材料からなる抵抗体を有するサーマルヘッ
ドを継続駆動すると、抵抗体の温度変動によって電気抵
抗率も変動し、印加電力の制御が必要となる。
この問題を解決し高い電気抵抗率を有し、かつ電気抵抗
率に関する温度依存性を低減した発熱抵抗体として金属
または該金属の窒化物よりなる導電体層と、窒化珪素よ
りなる絶縁体層と積層した構造を有する発熱抵抗体が提
案されている(特開昭63−278203号参照)。
率に関する温度依存性を低減した発熱抵抗体として金属
または該金属の窒化物よりなる導電体層と、窒化珪素よ
りなる絶縁体層と積層した構造を有する発熱抵抗体が提
案されている(特開昭63−278203号参照)。
この発熱抵抗体は、前述のTa−3i−N発熱抵抗体以
上の抵抗率(8500〜10,000μΩ・釧)を有し
、かつ抵抗率の温度依存性を半分以下に低減した優れた
特性を有する。
上の抵抗率(8500〜10,000μΩ・釧)を有し
、かつ抵抗率の温度依存性を半分以下に低減した優れた
特性を有する。
しかし、#開閉63−278203号の発熱抵抗体にお
いては以下のような問題点が指摘される。
いては以下のような問題点が指摘される。
すなわち、特開昭63−278203号に開示されてい
るように、この発熱抵抗体は、導電体層を形成するにあ
たっては金属等(Ta、Ti等)よりなるターゲットを
直流(DO)スパッタリングし、絶縁体層を形成するに
あたってはSi、N4よりなるターゲットを交流(RF
)スパッタリングすることを交互に繰り返しているため
、製造が繁雑である。
るように、この発熱抵抗体は、導電体層を形成するにあ
たっては金属等(Ta、Ti等)よりなるターゲットを
直流(DO)スパッタリングし、絶縁体層を形成するに
あたってはSi、N4よりなるターゲットを交流(RF
)スパッタリングすることを交互に繰り返しているため
、製造が繁雑である。
そこで本発明は、高抵抗の発熱抵抗体を容易に製造する
ことができる薄膜抵抗体の提供を課題とする6 〔課題を解決するための手段〕 本発明は前記課題を解決するため、rVa、Va、VI
a族元素の窒化物、炭化物およびこれら化合物から形成
される複化合物、ならびにSiCの1種または2種以上
の導電性化合物と窒化珪素系セラミックスからなる複合
焼結ターゲットを用いてスパッタリングするという手段
を採用した。
ことができる薄膜抵抗体の提供を課題とする6 〔課題を解決するための手段〕 本発明は前記課題を解決するため、rVa、Va、VI
a族元素の窒化物、炭化物およびこれら化合物から形成
される複化合物、ならびにSiCの1種または2種以上
の導電性化合物と窒化珪素系セラミックスからなる複合
焼結ターゲットを用いてスパッタリングするという手段
を採用した。
すなわち本発明は、発熱抵抗体を構成する元素からなる
複合焼結体ターゲットを用いてスパッタリングするため
、発熱抵抗体の製造が容易で−ある。
複合焼結体ターゲットを用いてスパッタリングするため
、発熱抵抗体の製造が容易で−ある。
本発明の複合焼結体ターゲットにおける導電性化合物の
量は、10vo1%末滴ではスパッタリングにより形成
された膜に発熱抵抗体として要求される抵抗値を付与す
ることができないため、10vo1%以上とすることが
要求される。一方、導電性化合物の量が多すぎると、形
成される発熱抵抗体の抵抗率が低下しすぎ、また窒化珪
素系セラミックスの本来の性質であり、発熱体として用
いる場合に重要である耐酸化性が低下してしまうため、
70 vo 1%以下とすることが要求される。
量は、10vo1%末滴ではスパッタリングにより形成
された膜に発熱抵抗体として要求される抵抗値を付与す
ることができないため、10vo1%以上とすることが
要求される。一方、導電性化合物の量が多すぎると、形
成される発熱抵抗体の抵抗率が低下しすぎ、また窒化珪
素系セラミックスの本来の性質であり、発熱体として用
いる場合に重要である耐酸化性が低下してしまうため、
70 vo 1%以下とすることが要求される。
また、導電性化合物としては種々のものを選択すること
ができるが、ターゲット製造時の焼結性、ターゲツト材
の強度の点からT i Nを選択することが望ましい。
ができるが、ターゲット製造時の焼結性、ターゲツト材
の強度の点からT i Nを選択することが望ましい。
また、特に高抵抗が要求される場合には、半導体的な性
質を有するSiCを添加することによって、高抵抗かつ
バラツキの少ない抵抗膜を得ることができる。
質を有するSiCを添加することによって、高抵抗かつ
バラツキの少ない抵抗膜を得ることができる。
なお、窒化物等から形成される複化合物とは炭窒化物を
いう。
いう。
本発明における窒化珪素系セラミックスとしては周知の
種々のセラミックスが適用できる。具体的には αまたはβ51.N4を主成分とする窒化珪素セラミッ
クス、 S Is −z A l□0□N−z(0<Z=4.2
)で示されるβサイアロンセラミックス、 Mx(St、AI)l−(○+ N)+s (x< +
M l;! L t、Mg。
種々のセラミックスが適用できる。具体的には αまたはβ51.N4を主成分とする窒化珪素セラミッ
クス、 S Is −z A l□0□N−z(0<Z=4.2
)で示されるβサイアロンセラミックス、 Mx(St、AI)l−(○+ N)+s (x< +
M l;! L t、Mg。
Ca、 Y 、希土類(La、Ceを除<)]で示され
るαサイアロンセラミックス、 および上記セラミックスの複合セラミックスである。
るαサイアロンセラミックス、 および上記セラミックスの複合セラミックスである。
上記の本発明にかかるターゲツト材は、次のような製造
方法により得ることができる。
方法により得ることができる。
すなわちSi、N4粉末、Al、○、粉末、AIN粉末
、ma族元素(希土類元素を含む)の酸化物粉末、Mg
O粉末等を所定の窒化珪素および/またはサイアロンと
なるように配合し、これらに対しIVa、VaおよびV
Ia族の遷移金属元素の炭化物、窒化物およびこれら化
合物から形成される複化合物の粉末、ならびにSiC粉
末の1種または2種以上とを所定量添加し、混合、成形
の後、非酸化性雰囲気中で焼結する。ここで焼結は、常
圧焼結、ガス圧焼結、HIP焼結(熱間静水圧プレス)
、ホットプレス等の各種方法を選ぶことができる。焼結
の雰囲気は非酸化性雰囲気で行なうことが好ましく、N
2ガス雰囲気、N、を含む不活性ガス雰囲気等必要に応
じ各種の条件で焼結を行なうことが可能である。
、ma族元素(希土類元素を含む)の酸化物粉末、Mg
O粉末等を所定の窒化珪素および/またはサイアロンと
なるように配合し、これらに対しIVa、VaおよびV
Ia族の遷移金属元素の炭化物、窒化物およびこれら化
合物から形成される複化合物の粉末、ならびにSiC粉
末の1種または2種以上とを所定量添加し、混合、成形
の後、非酸化性雰囲気中で焼結する。ここで焼結は、常
圧焼結、ガス圧焼結、HIP焼結(熱間静水圧プレス)
、ホットプレス等の各種方法を選ぶことができる。焼結
の雰囲気は非酸化性雰囲気で行なうことが好ましく、N
2ガス雰囲気、N、を含む不活性ガス雰囲気等必要に応
じ各種の条件で焼結を行なうことが可能である。
なお、IVa、VaおよびVIa族の遷移金属元素の炭
化物、窒化物およびこれら化合物から形成される複化合
物は、焼結中にそれぞれそれらの化合物に変化するもの
を原料として用いることもできる。
化物、窒化物およびこれら化合物から形成される複化合
物は、焼結中にそれぞれそれらの化合物に変化するもの
を原料として用いることもできる。
また、焼結後にHIP(熱間静水圧プレス)処理により
さらに特性の向上を図ったり、熱処理を行ない粒界相を
結晶化させたりすることも可能である。
さらに特性の向上を図ったり、熱処理を行ない粒界相を
結晶化させたりすることも可能である。
スパッタ条件としてはDCスパッタの場合、500V、
Arガス圧5 X 1O−3Torr、 RFスパ
ッタの場合400−程度の一般によく使われている条件
にてスパッタを行なうことができる。
Arガス圧5 X 1O−3Torr、 RFスパ
ッタの場合400−程度の一般によく使われている条件
にてスパッタを行なうことができる。
実施例1
si!NAy末(粒度0.7μm、α化率93%)、Y
803粉末(粒度1μm、純度99.99%)、AIN
粉末(粒度1μの)、AI、O,粉末(粒度0.5 μ
m、純度99.5%)を用い、Zの値が0.4のβサイ
アロンとなるような組成に配合した(Y、O,量は6w
t%)。これに対し、TiN粉末を22.5vo1%と
SiC粉末を10vo1%添加したものを原料粉末とし
、混合、成形の後、1気圧窒素雰囲気中で1750℃×
3時間焼結した。
803粉末(粒度1μm、純度99.99%)、AIN
粉末(粒度1μの)、AI、O,粉末(粒度0.5 μ
m、純度99.5%)を用い、Zの値が0.4のβサイ
アロンとなるような組成に配合した(Y、O,量は6w
t%)。これに対し、TiN粉末を22.5vo1%と
SiC粉末を10vo1%添加したものを原料粉末とし
、混合、成形の後、1気圧窒素雰囲気中で1750℃×
3時間焼結した。
得られた焼結体を直径4インチ、厚さ5膿に加工し、バ
ッキングプレートに接合し、スパッタ用ターゲットとし
た。ターゲットの電気抵抗率は、8×10°2Ω口であ
った。これを用いてRFスパッタ400W、 A rガ
ス圧5 X 10’ Torrにて、厚さ2000Aの
薄膜を形成し、シート抵抗を測定したところ、6000
Ω/口の値が得られた。またこの薄膜の抵抗温度係数(
室温〜200℃)は11000pp/ ’C以下であっ
た。
ッキングプレートに接合し、スパッタ用ターゲットとし
た。ターゲットの電気抵抗率は、8×10°2Ω口であ
った。これを用いてRFスパッタ400W、 A rガ
ス圧5 X 10’ Torrにて、厚さ2000Aの
薄膜を形成し、シート抵抗を測定したところ、6000
Ω/口の値が得られた。またこの薄膜の抵抗温度係数(
室温〜200℃)は11000pp/ ’C以下であっ
た。
実施例2
Si、N4粉末(粒度0.7μm、α化率93%)、Y
、 O。
、 O。
粉末(粒度1μm、純度99.99%)、AIN粉末(
粒度1μm)、AI、○、粉末(粒度0.5μn+、純
度99.5%)を用い、Zの値が0.4のβサイアロン
となるような組成に配合した(y、o、量は6wt%)
。これに対し、TiN粉末を35vo1%添加したもの
を原料粉末とし、混合、成形の後、1気圧窒素雰囲気中
で1750℃×3時間焼結した。
粒度1μm)、AI、○、粉末(粒度0.5μn+、純
度99.5%)を用い、Zの値が0.4のβサイアロン
となるような組成に配合した(y、o、量は6wt%)
。これに対し、TiN粉末を35vo1%添加したもの
を原料粉末とし、混合、成形の後、1気圧窒素雰囲気中
で1750℃×3時間焼結した。
得られた焼結体を直径5インチ、厚さ6mmに加工し、
バッキングプレートに接合し、スパッタ用ターゲットと
した。ターゲットの電気抵抗率は、2.5 X 10°
2Ω唾であった。これを用いてRFスパッタ500W、
A rガス圧4 X 10’ 1orrにて、厚さ2
000人の薄膜を形成し、シート抵抗を測定したところ
、4000Ω/口の値が得られた。またこの薄膜の抵抗
温度係数(室温〜200℃)は11000pp/ ’C
以下であった。
バッキングプレートに接合し、スパッタ用ターゲットと
した。ターゲットの電気抵抗率は、2.5 X 10°
2Ω唾であった。これを用いてRFスパッタ500W、
A rガス圧4 X 10’ 1orrにて、厚さ2
000人の薄膜を形成し、シート抵抗を測定したところ
、4000Ω/口の値が得られた。またこの薄膜の抵抗
温度係数(室温〜200℃)は11000pp/ ’C
以下であった。
本発明によれば、高抵抗体の発熱抵抗体を容易25
Claims (1)
- 1 IVa、Va、VIa族元素の窒化物、炭化物およびこ
れら化合物から形成される複化合物、ならびにSiCの
1種または2種以上の導電性化合物と窒化珪素系セラミ
ックスからなる複合焼結ターゲットを用いてスパッタリ
ングすることを特徴とする発熱抵抗体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1312678A JPH03173405A (ja) | 1989-12-01 | 1989-12-01 | 発熱抵抗体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1312678A JPH03173405A (ja) | 1989-12-01 | 1989-12-01 | 発熱抵抗体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03173405A true JPH03173405A (ja) | 1991-07-26 |
Family
ID=18032111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1312678A Pending JPH03173405A (ja) | 1989-12-01 | 1989-12-01 | 発熱抵抗体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03173405A (ja) |
-
1989
- 1989-12-01 JP JP1312678A patent/JPH03173405A/ja active Pending
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