JPH03174307A - 酸化物超電導体の製造方法 - Google Patents
酸化物超電導体の製造方法Info
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- JPH03174307A JPH03174307A JP1311739A JP31173989A JPH03174307A JP H03174307 A JPH03174307 A JP H03174307A JP 1311739 A JP1311739 A JP 1311739A JP 31173989 A JP31173989 A JP 31173989A JP H03174307 A JPH03174307 A JP H03174307A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、超電導マグネット、超電導送電、医療用機
4、超電導エネルギー貯蔵、超電導素子用などとして応
用開発が進められている酸化物超電導体の製造方法に関
する。
4、超電導エネルギー貯蔵、超電導素子用などとして応
用開発が進められている酸化物超電導体の製造方法に関
する。
「従来の技術」
従来、酸化物系の超電導体を製造する方法として、真空
蒸着法、スパッタリング法、レーザビーム、MBE法(
分子線エピタキシー法)、CVD法(化学気相成長法)
、IVD法(イオン気相成長法)などの成膜法が知られ
ている。また、これらの各種の成膜方法において、均質
で超電導特性の良好な酸化物超電導膜を製造できる方法
として、真空成膜プロセスを用い、熱あるいは高周波プ
ラズマ、イオンビームなどのエネルギーをターゲットに
照射してターゲットから叩き出された粒子を基板上に堆
積させる技術が主流となっている。
蒸着法、スパッタリング法、レーザビーム、MBE法(
分子線エピタキシー法)、CVD法(化学気相成長法)
、IVD法(イオン気相成長法)などの成膜法が知られ
ている。また、これらの各種の成膜方法において、均質
で超電導特性の良好な酸化物超電導膜を製造できる方法
として、真空成膜プロセスを用い、熱あるいは高周波プ
ラズマ、イオンビームなどのエネルギーをターゲットに
照射してターゲットから叩き出された粒子を基板上に堆
積させる技術が主流となっている。
このような各種の成膜法において、緻密な膜の生成が可
能であって、成膜速度の速い技術として、レーザ蒸着法
が注目されている。このレーザ蒸着法は、目的とする酸
化物超電導体の組成と同一あるいは近似した組成のター
ゲットを用い、このり−ゲットにレーザビームを照射し
てターゲットの表面部分をえぐり取り、この蒸発粒子を
乱打上に堆積させることで酸化物超電導体を製造する方
法であり、他の成膜性に比較して以下に説明する利点か
あることで知られている。
能であって、成膜速度の速い技術として、レーザ蒸着法
が注目されている。このレーザ蒸着法は、目的とする酸
化物超電導体の組成と同一あるいは近似した組成のター
ゲットを用い、このり−ゲットにレーザビームを照射し
てターゲットの表面部分をえぐり取り、この蒸発粒子を
乱打上に堆積させることで酸化物超電導体を製造する方
法であり、他の成膜性に比較して以下に説明する利点か
あることで知られている。
■述常のスパッタリング法ではターゲット組成と生成膜
の組成がかなりずれる傾向があるが、レーザ蒸着法にお
いては、用いたターゲットの組成と生成膜の組成とのず
れが少ないので、目的の組成の酸化物超電導膜を(すや
すい利点がある。
の組成がかなりずれる傾向があるが、レーザ蒸着法にお
いては、用いたターゲットの組成と生成膜の組成とのず
れが少ないので、目的の組成の酸化物超電導膜を(すや
すい利点がある。
■a常のスパッタリング法においては、厚さ1μ−程度
の酸化物超電導膜を製造するためにIO時間程度の処理
時間を必要とするが、レーザ蒸着法においては厚さ数μ
m程度の酸化物超電導膜を1時間程度で製造できる利点
がある。
の酸化物超電導膜を製造するためにIO時間程度の処理
時間を必要とするが、レーザ蒸着法においては厚さ数μ
m程度の酸化物超電導膜を1時間程度で製造できる利点
がある。
■蒸着法やスパッタリング法においては、蒸発源や1!
極などを真空雰囲気中に配置する必要があるが、レーザ
蒸着法では、レーザ光を処理装置の外部から導くことが
でき、レーザ発行装置などを処理装置の外部に設けるこ
とができるので、処理!!2の内部を質の良い真空条件
に保つこと力(容易であって、種々の気相雰囲気で成膜
できる利点がある。
極などを真空雰囲気中に配置する必要があるが、レーザ
蒸着法では、レーザ光を処理装置の外部から導くことが
でき、レーザ発行装置などを処理装置の外部に設けるこ
とができるので、処理!!2の内部を質の良い真空条件
に保つこと力(容易であって、種々の気相雰囲気で成膜
できる利点がある。
「発明が解決しようとする課題J
ところが、前記レーザ蒸着法で乱打上に酸化物超ffi
導体の模を形成する場合、ターゲット表面のレーザビー
ムを照射した部分から構成粒子を叩き出して蒸着を行っ
ている間に、ターゲットの16射部分が順次えぐり取ら
れて消耗し、その結果、放出されるターゲット粒子と、
基板上に蒸着される模の[と、膜厚が成膜中に経時変化
を起こす問題があった。
導体の模を形成する場合、ターゲット表面のレーザビー
ムを照射した部分から構成粒子を叩き出して蒸着を行っ
ている間に、ターゲットの16射部分が順次えぐり取ら
れて消耗し、その結果、放出されるターゲット粒子と、
基板上に蒸着される模の[と、膜厚が成膜中に経時変化
を起こす問題があった。
本発明は前記課題を解決するためになされたしので、膜
質や膜厚に経時変化を起こすことなく、常に安定した膜
質と膜厚を有する酸化物超電導体を製造する方法を提O
(することを目的とする。
質や膜厚に経時変化を起こすことなく、常に安定した膜
質と膜厚を有する酸化物超電導体を製造する方法を提O
(することを目的とする。
rsmを解決するための手段J
本発明は前記課題を解決するために、蒸着処理室内に酸
化物超電導体または酸化物超電導体と近似組成のターゲ
ットを設置し、このターゲットにレーザビームを照射し
てターゲットの表面部分をえぐり取り、発生させた粒子
をターゲットの近傍に設置した乱打上に堆積させて酸化
物超電導体を製造する方法において、レーザビームを集
光レンズと反射ミラーを介してターゲットに照Q(する
とともに1曲射中に反射ミラーと集光レンズの少なくと
も1つを光軸に対し傾斜させてターゲットの表面の)U
l!を部分にレーザビームを照射して蒸着を行うもの
である。
化物超電導体または酸化物超電導体と近似組成のターゲ
ットを設置し、このターゲットにレーザビームを照射し
てターゲットの表面部分をえぐり取り、発生させた粒子
をターゲットの近傍に設置した乱打上に堆積させて酸化
物超電導体を製造する方法において、レーザビームを集
光レンズと反射ミラーを介してターゲットに照Q(する
とともに1曲射中に反射ミラーと集光レンズの少なくと
も1つを光軸に対し傾斜させてターゲットの表面の)U
l!を部分にレーザビームを照射して蒸着を行うもの
である。
「作用」
ターゲット表面の複数部分から粒子を叩き出すのでター
ゲットの局部的な消耗が防止される。また、ターゲット
表面の複数部分から叩き出した粒子を堆積させるので、
組成の整った均質な酸化物超電導体の膜が得られる。更
に、安定したターゲット粒子の放出を長時間維持できる
ので、安定した成膜ができるとともに、品質の安定した
大きな面積の膜が得られる。また、レーザ蒸着法である
ので、成膜時間が短くなるとともに、緻密な酸化物超電
導体の膜が得られる。
ゲットの局部的な消耗が防止される。また、ターゲット
表面の複数部分から叩き出した粒子を堆積させるので、
組成の整った均質な酸化物超電導体の膜が得られる。更
に、安定したターゲット粒子の放出を長時間維持できる
ので、安定した成膜ができるとともに、品質の安定した
大きな面積の膜が得られる。また、レーザ蒸着法である
ので、成膜時間が短くなるとともに、緻密な酸化物超電
導体の膜が得られる。
「実施例j
第1図は本発明方法を実施するために使用する装置の一
例を示すもので、■は処理室4を示し、この処理容器!
の内部の蒸着処理室1aには基板2とターゲット3が設
置されている。
例を示すもので、■は処理室4を示し、この処理容器!
の内部の蒸着処理室1aには基板2とターゲット3が設
置されている。
処理容器1は排気孔1bを介して図示時の真空排気装置
に接続されて内部を真空排気できる上うになっている。
に接続されて内部を真空排気できる上うになっている。
蒸着処理室1aの底部には基台4が設けられ、この基台
4の上面に基板(基材)2が水平に設置されるとともに
、基板2の斜め上方側に、支持板5によって支持された
ターゲット3が傾斜状態で設けられている。
4の上面に基板(基材)2が水平に設置されるとともに
、基板2の斜め上方側に、支持板5によって支持された
ターゲット3が傾斜状態で設けられている。
前記ターゲット3は、形成しようとする酸化物超電導体
の膜と同等または近似した組成、あるいは、成膜中に逃
避しやすい成分を多く含有させた複合酸化物の焼結体、
または、酸化物超電導体のバルクなどから形成されてい
る。現在知られている臨界温度の高い酸化物超電導体と
して具体的には、Y −B a−Cu−0系、B i−
9r−Ca−Cu−0系、T IB a−Ca−Cu−
0系などがあるので、ターゲット3としてこれらの系の
ものなどを用いることができる。なお、酸化物超電導体
を構成する元素の中で蒸気圧が高く、蒸着の際に飛散し
やすい元素らあるので、このような元素を含むターゲッ
ト3を使用する場合は、蒸気圧の高い元素を目的とする
所定の割合よりも多く含むターゲットを用いれば良い。
の膜と同等または近似した組成、あるいは、成膜中に逃
避しやすい成分を多く含有させた複合酸化物の焼結体、
または、酸化物超電導体のバルクなどから形成されてい
る。現在知られている臨界温度の高い酸化物超電導体と
して具体的には、Y −B a−Cu−0系、B i−
9r−Ca−Cu−0系、T IB a−Ca−Cu−
0系などがあるので、ターゲット3としてこれらの系の
ものなどを用いることができる。なお、酸化物超電導体
を構成する元素の中で蒸気圧が高く、蒸着の際に飛散し
やすい元素らあるので、このような元素を含むターゲッ
ト3を使用する場合は、蒸気圧の高い元素を目的とする
所定の割合よりも多く含むターゲットを用いれば良い。
前記基台4は加熱ヒータを内蔵したもので、基板2を所
望の温度に加熱できるようになっている。
望の温度に加熱できるようになっている。
一方、処理容器lの側方には、レーザ発光装置7と第1
反射鏡8と集光レンズ9と第2反射鐙lOが設けられ、
レンズ発光装h!17が発生させたレーザビームを処理
容器1のOpj壁に取り付けられた透明窓11を介して
ターゲット3に集光照射できるようになっている。レー
ザ発光装置7はターゲラ!・3から構成粒子を叩き出す
ことができるものであれば、YAGレーザ、CO,レー
ザ、エキシマレーザなどのいずれのものを使用しても良
い。また、第2反射鏡!0はその中心軸10aを中心に
所定角度上下左右に回動自在に(即ち、第1反射鏡8O
の光軸に対する傾斜角度を変更できるように)図示略の
支持機構により支持されていて、例えば、第2反射鏡!
0を第1図の矢印に示す方向に必要角度傾斜させること
ができるようになっている。
反射鏡8と集光レンズ9と第2反射鐙lOが設けられ、
レンズ発光装h!17が発生させたレーザビームを処理
容器1のOpj壁に取り付けられた透明窓11を介して
ターゲット3に集光照射できるようになっている。レー
ザ発光装置7はターゲラ!・3から構成粒子を叩き出す
ことができるものであれば、YAGレーザ、CO,レー
ザ、エキシマレーザなどのいずれのものを使用しても良
い。また、第2反射鏡!0はその中心軸10aを中心に
所定角度上下左右に回動自在に(即ち、第1反射鏡8O
の光軸に対する傾斜角度を変更できるように)図示略の
支持機構により支持されていて、例えば、第2反射鏡!
0を第1図の矢印に示す方向に必要角度傾斜させること
ができるようになっている。
また、処理容器!の上方にはレーザ発光装置12と集光
レンズ13が設けられ、処理容器Iの天井壁に取り付け
られた透明窓14を介してレーザビームを基板2に集光
照射し、基板2を加熱できるようになっている。
レンズ13が設けられ、処理容器Iの天井壁に取り付け
られた透明窓14を介してレーザビームを基板2に集光
照射し、基板2を加熱できるようになっている。
次に第1図に示す装置を用いて本発明方法を実施する場
合について説明する。
合について説明する。
基板2とターゲット3を蒸着処理室Ia内に第1図に示
すようにセットしたならば、蒸着処理室Iaを真空排気
する。ここで必要に応じて蒸着処理室1aに酸素ガスを
導入して蒸着処理室1aを酸素雰囲気としても良い。ま
た、基台4の加熱ヒータを作動させるか、あるいは、レ
ーザ発光装y112からレーザビームを基板2に照射し
て基板2を所望の温度に加熱する。
すようにセットしたならば、蒸着処理室Iaを真空排気
する。ここで必要に応じて蒸着処理室1aに酸素ガスを
導入して蒸着処理室1aを酸素雰囲気としても良い。ま
た、基台4の加熱ヒータを作動させるか、あるいは、レ
ーザ発光装y112からレーザビームを基板2に照射し
て基板2を所望の温度に加熱する。
次にレーザ発光装置7から発生させたレーザビームを第
1反射鏡8と集光レンズ9と第1反射鏡8Oと透明窓1
1を介して蒸着処理室Ia内に導き、ターゲット3の表
面に集光照射する。この際に、集光レンズ9の位置調節
を行ってターゲット3の表面にレーザビームの焦点を合
わせる。 レーザビームが照射されたターゲット3は表
面部分がえぐり取られるか蒸発されて構成粒子が叩き出
され、その粒子は基板2上に堆積する。粒子が堆積され
る基板2は加熱されているので、堆積層は堆積と同時に
熱処理される。
1反射鏡8と集光レンズ9と第1反射鏡8Oと透明窓1
1を介して蒸着処理室Ia内に導き、ターゲット3の表
面に集光照射する。この際に、集光レンズ9の位置調節
を行ってターゲット3の表面にレーザビームの焦点を合
わせる。 レーザビームが照射されたターゲット3は表
面部分がえぐり取られるか蒸発されて構成粒子が叩き出
され、その粒子は基板2上に堆積する。粒子が堆積され
る基板2は加熱されているので、堆積層は堆積と同時に
熱処理される。
レーザビームの照射を所定時間続行するとターゲット3
の表面部分の1箇所のみが厚さ方向にえぐり取られるの
で、叩き出される粒子の組成に変動を生じるおそれがあ
る。
の表面部分の1箇所のみが厚さ方向にえぐり取られるの
で、叩き出される粒子の組成に変動を生じるおそれがあ
る。
そこで、所定時間、レーザビームの照射を行ったならば
、第2反射鏡10を数°程度動かしてその頷斜角度を変
える。この燥作によりレーザビームはターゲット3の他
の場所にJ+、<1射されるのでターゲット3の他の部
分の表面から再び粒子を叩き出してこの粒子を基板2上
に堆積させることができる。また、この後、所定時間毎
にターゲット3に対するレーザビームの照射位置を変え
て順次粒子の叩き出しを行って基板2上に粒子の堆積を
行う。
、第2反射鏡10を数°程度動かしてその頷斜角度を変
える。この燥作によりレーザビームはターゲット3の他
の場所にJ+、<1射されるのでターゲット3の他の部
分の表面から再び粒子を叩き出してこの粒子を基板2上
に堆積させることができる。また、この後、所定時間毎
にターゲット3に対するレーザビームの照射位置を変え
て順次粒子の叩き出しを行って基板2上に粒子の堆積を
行う。
このようにレーザビームの照射位置を適宜変えることで
ターゲット3の表面の種々の部分の粒子を叩き出すこと
ができるので、ターゲット3の表面部分から常に均一な
組成の粒子を叩き出すことができる。
ターゲット3の表面の種々の部分の粒子を叩き出すこと
ができるので、ターゲット3の表面部分から常に均一な
組成の粒子を叩き出すことができる。
このように叩き出された粒子は、十分に活仕化された状
態であるので、基板2上に緻密に堆積する。堆積された
膜は基台4の加熱ヒータあるいはレーザビームによって
加熱されて熱部p1されるので、緻密で結晶構造の整っ
た優れた酸化物超電導膜が得られる。
態であるので、基板2上に緻密に堆積する。堆積された
膜は基台4の加熱ヒータあるいはレーザビームによって
加熱されて熱部p1されるので、緻密で結晶構造の整っ
た優れた酸化物超電導膜が得られる。
ところで前記実施例では第1反射鏡8Oを傾斜させるこ
とでレーザビームのター゛ゲット3に対する照射位置を
変更したが、第1反射鏡8と集光しンズ9と第2反射鏡
IOの少むくとも1つを光軸に対して傾斜さU゛ること
でレーザビームの1(a対位置を変更することもできる
。また、ターゲット3にレーザビームを照射する場合、
ターゲット3を一定の周期で振動させてターゲット3の
全面に均一にレーザビームを照射するようにして成膜を
行っても良い。
とでレーザビームのター゛ゲット3に対する照射位置を
変更したが、第1反射鏡8と集光しンズ9と第2反射鏡
IOの少むくとも1つを光軸に対して傾斜さU゛ること
でレーザビームの1(a対位置を変更することもできる
。また、ターゲット3にレーザビームを照射する場合、
ターゲット3を一定の周期で振動させてターゲット3の
全面に均一にレーザビームを照射するようにして成膜を
行っても良い。
なお、第1図の2点鎖線に示すように基台4の左右に送
出ローラ20と巻取ローラ21を設け、送出ローラ20
から送り出したテープ状の基材を基台4に送り、巻取ロ
ーラ2Iで巻き取りっつレー9′蒸着を行うようにする
ならば、長尺の基材上に酸化物超電導体の膜を有する超
電導導体を製造することができる。
出ローラ20と巻取ローラ21を設け、送出ローラ20
から送り出したテープ状の基材を基台4に送り、巻取ロ
ーラ2Iで巻き取りっつレー9′蒸着を行うようにする
ならば、長尺の基材上に酸化物超電導体の膜を有する超
電導導体を製造することができる。
前記長尺の超電導導体を製造する場合、前述の場合と同
様に第2反射鏡IOを傾斜させて蒸着することで長尺の
基材の全長にわたり厚さと質の均一な酸化物超電導体の
膜を有する超電導導体を製造することができる。
様に第2反射鏡IOを傾斜させて蒸着することで長尺の
基材の全長にわたり厚さと質の均一な酸化物超電導体の
膜を有する超電導導体を製造することができる。
「製造例」
第1図に示す構成の蒸着装置を用い、基板として5rT
iOs製の縦10II+m、 fl 10111厚さ0
.51の基板を用いるとともに、ターゲットとしてY
o、s13 a+、mc uso t−6なる組成の酸
化物超電導体からなる円板状ターゲットを用いた。また
、蒸着処理室の内部を10″’Torr1.:排気し、
基板を640℃に加熱しつつレーザ蒸着を行った。ター
ゲット熱射用のレーザビームには波長193nmのAr
l;’レーザを用いた。
iOs製の縦10II+m、 fl 10111厚さ0
.51の基板を用いるとともに、ターゲットとしてY
o、s13 a+、mc uso t−6なる組成の酸
化物超電導体からなる円板状ターゲットを用いた。また
、蒸着処理室の内部を10″’Torr1.:排気し、
基板を640℃に加熱しつつレーザ蒸着を行った。ター
ゲット熱射用のレーザビームには波長193nmのAr
l;’レーザを用いた。
得られた酸化物超電導体について、臨界温度を測定する
とともに、液体窒素で冷却して臨界電流密度を測定した
。
とともに、液体窒素で冷却して臨界電流密度を測定した
。
臨界温度 88 K
臨界電流密度 2 X 10 ’A/am”(77K、
0 ’l’)以上のようjこ本発明方法を実施すること
で優れた臨界温度と臨界電流密度を示す酸化物超電導体
を得ることができた。
0 ’l’)以上のようjこ本発明方法を実施すること
で優れた臨界温度と臨界電流密度を示す酸化物超電導体
を得ることができた。
「発明の効果」
以上説明したように本発明は、レーザビームをターゲッ
ト表面の複数部分に照射してターゲットの表面の複数部
分の粒子の叩き出しを行って基材上に酸化物超電導体の
膜の堆積を行うので、ターゲット表面の局部的な消耗を
防止しつつ均一で緻密な酸化物超電導体の膜を形成する
ことができる。
ト表面の複数部分に照射してターゲットの表面の複数部
分の粒子の叩き出しを行って基材上に酸化物超電導体の
膜の堆積を行うので、ターゲット表面の局部的な消耗を
防止しつつ均一で緻密な酸化物超電導体の膜を形成する
ことができる。
また、ターゲットの複数部分にレーザビームを朋Q(す
るので常に安定的にターゲット粒子を放出させることが
でき、長時間にわたり、安定した成膜処理ができる効果
がある。
るので常に安定的にターゲット粒子を放出させることが
でき、長時間にわたり、安定した成膜処理ができる効果
がある。
第1図は本発明方法の実施に用いて好適なレーザ蒸着装
置の一例を示す構成図である。 ■・・・処地容4、Ia・・・蒸着処理室、!b・・・
排気孔、2・・・基板、3・・・ターゲット、4・・・
基台、5・・・支持板、7.12・・・レーザ発光装置
、8・・・第1反月(鎧、9.13・・・集光レンズ、
10・・・第2反射境、It。 +4・・・透明窓。
置の一例を示す構成図である。 ■・・・処地容4、Ia・・・蒸着処理室、!b・・・
排気孔、2・・・基板、3・・・ターゲット、4・・・
基台、5・・・支持板、7.12・・・レーザ発光装置
、8・・・第1反月(鎧、9.13・・・集光レンズ、
10・・・第2反射境、It。 +4・・・透明窓。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 蒸着処理室内に酸化物超電導体または酸化物超電導体と
近似組成のターゲットを設置し、このターゲットにレー
ザビームを照射してターゲットの表面部分をえぐり取り
、発生させた粒子をターゲットの近傍に設置した基材上
に堆積させて酸化物超電導体を製造する方法において、 レーザビームを集光レンズと反射ミラーを介してターゲ
ットに照射するとともに、照射中に反射ミラーと集光レ
ンズの少なくとも1つを光軸に対し傾斜させてターゲッ
トの表面の複数部分にレーザビームを照射して蒸着を行
うことを特徴とする酸化物超電導体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1311739A JPH03174307A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1311739A JPH03174307A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03174307A true JPH03174307A (ja) | 1991-07-29 |
Family
ID=18020894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1311739A Pending JPH03174307A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | 酸化物超電導体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03174307A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5478398A (en) * | 1990-08-01 | 1995-12-26 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Device for forming a compound oxide superconductor thin film |
| EP0702416A1 (en) * | 1994-09-16 | 1996-03-20 | Sumitomo Electric Industries, Ltd | Method and apparatus for depositing superconducting layer onto the substrate surface via off-axis laser ablation |
| US5607899A (en) * | 1994-02-25 | 1997-03-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of forming single-crystalline thin film |
| US5952271A (en) * | 1994-08-26 | 1999-09-14 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method for manufacturing oxide superconducting films via laser ablation followed by laser material processing |
| JP2013122065A (ja) * | 2011-12-09 | 2013-06-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 機能性薄膜の成膜方法および成膜装置 |
| CN107884918A (zh) * | 2017-11-13 | 2018-04-06 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种强磁场下高能紫外激光导入装置 |
-
1989
- 1989-11-30 JP JP1311739A patent/JPH03174307A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5478398A (en) * | 1990-08-01 | 1995-12-26 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Device for forming a compound oxide superconductor thin film |
| US5607899A (en) * | 1994-02-25 | 1997-03-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of forming single-crystalline thin film |
| US5952271A (en) * | 1994-08-26 | 1999-09-14 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method for manufacturing oxide superconducting films via laser ablation followed by laser material processing |
| EP0702416A1 (en) * | 1994-09-16 | 1996-03-20 | Sumitomo Electric Industries, Ltd | Method and apparatus for depositing superconducting layer onto the substrate surface via off-axis laser ablation |
| JP2013122065A (ja) * | 2011-12-09 | 2013-06-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 機能性薄膜の成膜方法および成膜装置 |
| CN107884918A (zh) * | 2017-11-13 | 2018-04-06 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种强磁场下高能紫外激光导入装置 |
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